TWI439705B - 用於診斷格柵式數位器之系統與方法 - Google Patents

用於診斷格柵式數位器之系統與方法 Download PDF

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Description

用於診斷格柵式數位器之系統與方法 相關申請案
本申請案主張依據專利法35 U.S.C.第119條第(e)項之規定享有美國臨時申請案60/935,115(於2007年7月26日提出申請)以及美國臨時申請案61/006,272(於2008年1月4日提出申請)的利益，這兩個申請案於此整體併入參考。
發明領域
本發明與一觸敏數位器有關，更加特別地，與一觸敏數位器的診斷有關。
 發明背景
觸摸技術已被普遍地用於各種產品的輸入裝置。由於諸如個人數位處理(PDA)、輸入板個人電腦以及無線平板顯示器(FPD)螢幕顯示器等新型行動裝置的出現，各種觸摸裝置的使用正在迅速地增長。這些新型裝置通常不被連接到標準鍵盤、滑鼠或類似的輸入裝置，因為其被認為是限制這些裝置的移動性。相反，有使用一類或其他種類的觸敏數位器的趨勢。尖筆和/或指尖可被用作使用者互動。
由於一些系統和環境原因，諸如裝置的操作和中斷，隨著時間的逝去，觸摸檢測的準確性可能會改變以及/或者觸敏數位器可能會而發生故障。數位器的監控和測試典型地涉及現場技術員對裝置的手動評估，以及典型地需要專用設備。這種評估通常成本較較高且時間效率較低。
標題為“Physical Object Location Apparatus and Method and a Platform using the same”的美國專利6,690,156以及標題為“Transparent Digitizer”的美國專利7,292,229都被受讓給N－trig Ltd.，於此併入參考的這兩個專利的內容描述了一種用於將實體物件放在一FPD上的電磁方法以及可被併入到一電子裝置中且典型地位於主動顯示器螢幕上方的一通透數位器。該數位器感測器包括一用來感測電信號的垂直和水平導線矩陣。將實體物件放在數位器上的一特定位置激發了原始位置可被檢測的信號。
於此被整體併入參考的被受讓給N－trig Ltd的標題為“Touch Detection for a Digitizer”的美國專利7,372,455描述了能夠使用相同的感測導線檢測實體物件及指尖觸摸位置的一數位輸入板系統。典型地，該系統包括平鋪在FPD上的一通透感測器。數位器的感測器包括用來感測電信號的一垂直和水平導線矩陣。在一特定位置觸摸感測器激發原始位置可被檢測的信號。
於此被整體併入參考的被受讓給N－trig Ltd的標題為“Variable Capacitor Array”的美國專利申請公開案20070268272描述了包括被耦接到檢測差信號的差動放大器的成對導線的一數位器感測器，以及適於平衡導線之間的寄生電容差的電容器。
於此被整體併入參考的標題為“Remote Touch Simulation Systems and Methods”的美國專利申請公開案20040183787描述了用於遠端模擬人在觸摸螢幕感測器上 的觸摸，以及用於基於該被模擬的人的觸摸遠端地執行診斷、校準及修理程序的系統與方法。在一主體觸摸螢幕系統與一遠端系統之間藉由一通訊鏈路或網路鏈路的協同工作被實施，以模擬人的觸摸以及執行診斷、校準及修理程序。
 發明概要
本發明的一些實施例的一個層面提供了用於於裝配後成本有效地監控及測試觸敏數位器的系統與方法。根據本發明的一些實施例，提供了一種觸摸裝置的監控及測試被自主地執行的方法，例如被數位器自動地執行，並且不需要專用的硬體、外部測試工具以及/或者使用者的介入。
本發明的一些實施例的一個層面是提供了一種用於測試包括一感測器格柵的一數位器以決定該數位器的操作特性的方法，其包含以下步驟：在感測器格柵的一第一部分上提供一輸入信號；根據在該第一部分中的輸入信號檢測在該感測器格柵的一第二部分中的至少一個輸出信號；以及基於該至少一個輸出信號決定感測器的至少一個操作特性，其中至少該傳送、檢測及決定被該數位器自主地執行。
選擇性地，用於測試數位器以決定該數位器之操作特性的方法在使用者沒有與數位器互動的情況下被執行。
選擇性地，該方法被數位器的韌體執行。
選擇性地，該感測器格柵包括一第一組平行導電格柵線，以及一第二組平行導電格柵線，其中該第二組平行導 電格柵線被與該第一組平行導電格柵線成正交地放置以形成感測器格柵。
選擇性地，輸入信號通過一或多平行格柵線被提供。
選擇性地，該至少一個輸出信號從與提供輸入信號的一或多平行格柵線正交的至少一格柵線被檢測。
選擇性地，該至少一個輸出信號從與提供該輸入信號的一或多平行格柵線平行的至少一格柵線被提供。
選擇性地，輸出信號受到感測器格柵的第一部分與第二部分間的電容耦合的影響。
選擇性地，輸出信號受到在第一組與第二組平行格柵線之間形成的格柵接面處的電容耦合的影響。
選擇性地，成對的平行格柵線被輸入到一差動放大器，其中該差動放大器的輸出被取樣以從感測器產生輸出。
選擇性地，該方法包含將至少一差動放大器的一第一輸入接地，以檢測在該至少一差動放大器的一第二輸入上傳播的信號。
選擇性地，該方法包含在沿格柵的一第一軸的所有格柵線上提供輸入信號；以及檢測沿格柵的一第二軸的至少一格柵線的輸出。
選擇性地，輸入信號是一交流(AC)信號。
選擇性地，以在使用者與數位器手指檢測互動中所使用的頻率提供輸入信號。
選擇性地，檢測包括比較感測器格柵的輸出的振幅與一預定義臨界值。
選擇性地，檢測包括比較該感測器格柵的輸出在一預定義頻帶中的能量與一預定義臨界值。
選擇性地，檢測包括比較感測器格柵的輸出與輸入信號的特性。
選擇性地，該方法包含檢測第二部分的多數個輸出信號，以及比較來自該多數個輸出信號的每一輸出的振幅與該多數個輸出信號的平均輸出。
選擇性地，該方法包含比較該多數個輸出信號的每一輸出的振幅與一平均輸出及該平均的標準差。
選擇性地，該方法包含決定感測器格柵的格柵線與數位器的電路間的連接。
選擇性地，該方法包含在感測器格柵的至少一第一格柵線上提供一AC輸入信號；利用該至少一第二格柵線的輸出電路取樣與該至少一第一格柵線交叉的至少一第二格柵線的輸出信號；比較該輸出信號與一臨界值；以及根據大於該臨界值的輸出信號決定至少一第二格柵線被連接到數位器的輸出電路。
選擇性地，該方法包含檢測在感測器格柵的格柵線中的電氣中斷(electrical break)。
選擇性地，該方法包含在感測器格柵的一第一格柵線的一第一端上提供一AC輸入信號，該第一格柵線包括一第一端及一第二端；取樣與該第二端非常接近的至少一第一格柵線交叉的至少一第二格柵線的輸出信號；比較該輸出信號與一臨界值；以及根據小於該臨界值的輸出信號決定 該第一格柵線包括一中斷。
選擇性地，該方法包含決定感測器格柵的格柵線間的串音。
選擇性地，該方法包含在感測器格柵的一格柵線上提供一AC輸入信號；取樣與該第一格柵線平行的至少相鄰格柵線的輸出信號；以及比較該輸出信號與一臨界值；以及根據被取樣的大於該臨界值的輸出信號的至少一輸出信號，決定在提供輸入信號的格柵線與相鄰格柵線之間存在串音。
選擇性地，該方法包含決定在感測器格柵的格柵線間的短路。
選擇性地，該方法包含在感測器格柵的一格柵線上提供一AC輸入信號；取樣與該第一格柵線平行的相鄰格柵線的輸出信號；比較該輸出信號與一臨界值；以及根據來相鄰格柵線且大於該臨界值的輸出信號，決定傳送輸入信號的格柵線與相鄰格柵線間存在短路。
選擇性地，該方法包含決定在感測器格柵的格柵線間的不平衡。
選擇性地，該方法包含在感測器格柵的至少一第一格柵線上提供一AC輸入信號；取樣至少一差動放大器的輸出信號，該差動放大器具有兩條與該至少一第一格柵線交叉的平行格柵線輸入；比較該輸出信號與一臨界值；以及根據大於該臨界值的輸出信號決定作為該差動放大器的輸入的這兩條格柵線間存在不平衡。
選擇性地，該方法包含向與數位器相關連的主機報告所決定的至少一個操作特性。
選擇性地，該方法包含向與該主機互動的使用者報告所決定的至少一個操作特性。
選擇性地，該方法包含決定感測器格柵是否是可操作的，以及報告該感測器格柵的操作性。
選擇性地，該方法包含補償數位器的至少一個故障特性。
本發明的一些實施例的一個層面提供了一種用於決定一感測器格柵之操作特性的方法，其包含以下步驟：在該感測器格柵的至少一第一格柵線上提供一AC信號，該至少一第一格柵線與該格柵的一第一軸相關連；取樣該感測器格柵的至少一第二格柵線的輸出，該至少一第二格柵線與該格柵的一第二軸相關連，其中該第一軸與該第二軸交叉形成該格柵；分析該輸出以根據在該至少一第一格柵線與該至少一第二格柵線之間的電容耦合決定信號；以及根據該被檢測的信號決定該感測器格柵的操作特性。
選擇性地，該取樣在使用者沒有與數位器互動的情況下被執行。
選擇性地，該方法被數位器自主地執行。
選擇性地，該方法包含基於該至少一第二格柵線的被取樣輸出決定該至少一第一格柵線的操作特性。
選擇性地，該方法包含根據該至少一第一格柵線的輸入決定該至少一第二格柵線的操作特性。
選擇性地，至少一對平行導電格柵線被輸入到一差動放大器，其中該差動放大器的輸出被取樣以獲取格柵線的輸出。
選擇性地，該方法包含將至少一差動放大器的輸入之一接地，以檢測在該至少一差動放大器的其他輸入上傳播的信號。
選擇性地，輸入信號被以使用者與數位器手指檢測互動中所使用的頻率被傳送。
選擇性地，該第一軸與該第二軸彼此正交。
選擇性地，該方法包含決定感測器格柵的格柵線與數位器的電路間的連接。
選擇性地，該方法包含根據對輸出中回應該至少一第一格柵線與該至少一第二格柵線間的電容耦合的信號的檢測，決定該至少一第二格柵線間被連接。
選擇性地，該方法包含檢測在格柵的格柵線中的電氣中斷。
選擇性地，該方法包含經由與格柵的一第一軸相關連的感測器格柵的一輸入格柵線的一第一端傳播一AC信號，該格柵線包括一第一端及一第二端；以及根據對輸出中回應來自最接近該第二端的格柵線的電容耦合的信號的檢測，決定該輸入格柵線不包括中斷。
選擇性地，該方法包含向與數位器相關連的主機報告所決定的至少一個操作特性。
選擇性地，該方法包含向與該主機互動的使用者報告 所決定的至少一個操作特性。
選擇性地，該方法包含決定感測器格柵是否是可操作的，以及報告該感測器格柵的操作性。
選擇性地，該方法包含補償數位器的至少一個故障特性。
本發明的一些實施例的一個層面提供了一種用於測試包括一被組配用於觸發被使用者用於與該數位器互動的物件的電路的激勵線圈的一數位器的方法以自決定激勵線圈的操作特性，其中該數位器包括一感測器格柵，其包含以下步驟：在激勵線圈中提供一AC信號，該激勵線圈至少部分地環繞該感測器格柵，該激勵線圈被組配用於在至少一激勵頻率傳送激勵信號；取樣該感測器格柵的至少一格柵線的輸出；以及根據來自該至少一格柵線且大於一第一臨界值的輸出，決定該激勵線圈至少在一端被連接到連接電路。
選擇性地，該方法包含根據來自該至少一格柵線且大於一第二臨界值的輸出決定激勵線圈在兩端被連接到連接電路，以及在該激勵線圈的至少一激勵頻率處顯示出一峰值。
本發明的一些實施例的一個層面提供了一種用於診斷一格柵式數位器感測器的方法，其包含以下步驟：傳送一AC信號到一探針；當該探針被放在格柵的一第一區域中的至少一格柵線上時，根據格柵線間的電容耦合在至少一格柵線上引發耦合信號；檢測來自該格柵的一第二區域的輸 出信號；以及基於該輸出信號決定該感測器的操作特性。
除非明確定義，所有被用在這裡的技術和/或科學術語都具有相同的如在本發明所涉及技術領域中具有通常知識者普遍被理解的含義。儘管類似於或等效於在這裡所描述那些的方法與材料可被用於實施或測試本發明的實施例，示範性的方法和/或材料以下將被描述。在有矛盾發生的情況下，包括定義的專利說明書將起支配作用。此外，材料、方法以及例子僅是說明性的，而不意欲成為必然的限制。
本發明的實施例的方法和/或系統的實施可涉及手動地、自動地或以其組合形式執行或完成所選定的任務。此外，根據本發明的方法和/或系統的實施例的實際裝置及設備，若干所選定的任務可透過硬體、軟體或韌體或其組合使用一作業系統被實施。
例如，用於執行根據本發明的實施例的選定任務的硬體可被實施為一晶片或一電路。作為軟體，根據本發明的實施例的選定任務可被實施為多數條被使用任何合適作業系統的電腦執行的軟體指令。在本發明的一示範性實施例中，根據於此所述的方法和/或系統之示範性實施例的一或多工被諸如用於執行多數條指令的計算平台的一資料處理器執行。選擇性地，該資料處理器包括用於儲存指令和/或資料的一易失性記憶體和/或一非易失性儲存器，例如，用於儲存指令和/或資料的一磁性硬碟和/或可移動媒體。選擇性地，也提供了一網路連接。也選擇性地提供了顯示器和/或諸如鍵盤或滑鼠的使用者輸入裝置。
圖式簡單說明
本發明的一些實施例於此僅透過舉例方式參考所附圖式被描述。現具體詳細地參考圖式，值得強調的是，所顯示的特例僅是舉例，以及為了達到說明性討論本發明實施例的目的。在這一個層面中，結合圖式的描述使本發明的實施例可如何被實施對於在本技術領域的那些通常知識者來說顯而易見，在該等圖式中：第1圖說明根據本發明的一些實施例的一數位器系統的一示範性簡化方塊圖；第2圖說明根據本發明的一些實施例的一被簡化的數位器的感測器格柵的一俯視圖；第3圖說明根據本發明的一些實施例的被平鋪在一顯示器上的數位器的一簡化截面圖；第4A－4D圖根據本發明的一些實施例說明在感測器格柵與周圍電路之間的電氣連接的自診斷期間至一感測器格柵的樣本輸入信號和一感測器格柵的樣本輸出信號；第5圖顯示根據本發明的一些實施例的用於一數位器在一感測器格柵上自診斷被斷開連接的格柵線的一示範性方法的一簡化流程圖；第6A－6B圖根據本發明的一些實施例說明在一或多感測器格柵線中的中斷的自診斷期間至一感測器格柵的樣本輸入信號和一感測器格柵的樣本輸出信號；第7圖顯示根據本發明的一些實施例的用於檢測在一感測器格柵線中的中斷的一示範性方法的一簡化流程圖； 第8A－8B圖根據本發明的一些實施例說明在一感測器格柵中的相鄰格柵線間的短路和/或串音診斷期間至一感測器格柵的樣本輸入信號和一感測器格柵的樣本輸出信號；第9圖顯示根據本發明的一些實施例的用於檢測在一感測器格柵中的相鄰格柵線間的短路和/或串音的一示範性方法的一簡化流程圖；第10圖顯示根據本發明的一些實施例的包括成對被輸入到差動放大器的感測器格柵線的一被簡化的示範性感測器格柵；第11A－11B圖根據本發明的一些實施例說明在感測器格柵與周圍電路間的電氣連接的自診斷期間與該感測器格柵相關連的差動放大器的樣本輸出信號；第12圖顯示根據本發明的一些實施例的用於檢測在一感測器格柵上且被輸入到差動放大器的格柵線的操作特性的一示範性方法的一簡化流程圖；第13圖顯示根據本發明的一些實施例的用於檢測圍繞一感測器格柵的一激勵線圈的操作特性的一示範性方法的一簡化流程圖；第14圖顯示根據本發明的一些實施例的一示範性自診斷方法的一簡化流程圖；第15A－15C圖說明根據本發明的一些實施例的示範性的被簡化的測試平台；第16圖說明根據本發明的一些實施例的被放在一示範 性的被簡化的測試平台上的一示範性的被簡化的數位器的一截面圖；第17圖顯示根據本發明的一些實施例的用於使用一測試平台診斷一數位器感測器的操作特性的一示範性方法的一簡化流程圖；以及第18圖說明根據本發明的一些實施例的用於診斷一數位器感測器的一示範性的被簡化的機械測試裝置。
 較佳實施例之詳細說明
本發明與一數位器有關，更加特別地，與一數位器的診斷有關。在其中一個感測器導體和/或線圈連接中的瑕疵都可能導致被錯誤檢測的物件位置，從而降低了系統的準確性。產生了對一種適於診斷數位器系統中存在的問題的自診斷方法的需求，例如透過在感測器導體中測量是否存在瑕疵。
本發明的一些實施例的一個層面提供了用於一格柵式數位器在不需要使用者介入，例如在不與數位器互動或與外部診斷裝置接觸的情況下自主地執行診斷、監控和/或決定其操作特性的方法。根據本發明的一些實施例，數位器操作特性的自監控和/或自決定被根據使用者命令和/或根據預定事件以預定的時間間隔初始化。例如，當系統被打開時，操作特性的自監控可被執行。在一些示範性實施例中，診斷程序被韌體和/或軟體控制。
根據本發明的一些實施例，數位器執行其感測格柵的 操作特性的自診斷、自監控和/或自決定。在一些示範性實施例中，在格柵線與裝置電氣元件之間的完好無損的電氣連接被測試。在一些示範性實施例中，格柵線上的短路被決定。在一些示範性實施例中，格柵線間的串音被測試。典型地，在格柵式感測器中，僅每一格柵線的一端包括IO終端並且被連接到電子元件，格柵線的輸入及該格柵線的輸出經由其被實現。由於該組態，透過測試信號沿線長度的傳播決定導線中的障礙的典型方法，在不為裝置增加額外元件，例如在格柵線相對一端上的額外的I/O終端及電子原件的情況下不能被容易地實施。通常不期望增加額外的元件，因為這不僅增加了成本而且在感測器上還需要額外的接觸點，從而導致不被期望的雜訊被引入到系統中。此外，這些元件可能作為所不期望的線上負載。
典型地，數位器的輸入透過被放在感測器格柵上面或上方的使用者互動被提供。使用者互動於此被定義為一物件，其透過將該物件放置和/或移動到感測器格柵的上方和/或上面被用來為數位器提供輸入。使用者互動的例子包括尖筆和指尖。例如，一被啟動的尖筆在數位器的一或多格柵線上施加輸入信號。透過手指觸摸改變了在一交叉線上被檢測的在數位器感測器的一或多格柵線上的觸發信號。透過使用者互動(例如尖筆和/或手指觸摸)產生的輸入信號基於感測器格柵的被取樣的輸出被檢測。根據本發明的一些實施例，感測器格柵的操作特性在不存在使用者互動輸入的情況下被決定。在一些示範性實施例中，感測器格柵 的操作特性透過使用觸發信號和/或類似於觸發信號的信號作為數位器的輸入以及根據該輸入檢測備選線上的輸出被決定。
根據本發明的一些實施例，感測格柵的操作特性透過在感測格柵的一第一部分中傳送輸入信號及分析根據該等輸入信號在該感測格柵的一第二部分中被產生的輸出信號被決定。在一些示範性實施例中，該第一部分相對應於一或多格柵線和/或被一或多格柵線界定，以及該第二部分相對應於一或更多其他的格柵線和/或被一或更多其他的格柵線界定。
本發明的發明者已經發現在格柵接面上的格柵線間發生的電容耦合效應可被實現以間接地感測沿導電格柵線長度傳播的信號。根據本發明的一些實施例，感測器格柵的操作特性透過在一或多格柵線上傳送輸入信號以及分析由於在輸入信號的格柵接面上的電容耦合而在交叉格柵線上被產生的輸出信號被決定。典型地，用於實施診斷的輸入信號包括一交流(AC)信號。在一些示範性實施例中，輸入信號經由格柵線被以一預定順序傳送。輸入信號可每次經由一格柵線被傳送或經由多數格柵線被實質上同時地傳送。一些或所有交叉格柵線可被取樣以決定每一格柵線的狀態。在一些示範性實施例中，交叉格柵線上的輸出信號的振幅頻率和/或相位被檢測和/或被分析。在一些示範性實施例中，全部格柵被診斷。在其他示範性實施例中，被指定的格柵線和/或格柵區域被診斷。基於在輸出信號中被檢 測的振幅、相位和/或頻率，每一格柵線的電氣連接、格柵線間的短路和/或串音被決定。
根據一些實施例，數位器執行環繞感測格柵的激勵線圈的操作特性的自決定。典型地，激勵線圈被用來觸發在尖筆或其他用於使用者互動的物件中的電路，以產生實質上可被感測格柵檢測的響應。根據本發明的一些實施例，數位器檢測激勵線圈與裝置間的正確電氣連接。根據本發明的一些實施例，激勵線圈的操作特性透過傳送輸入信號到該激勵線圈以及檢測和/或分析在數位器的一或多格柵線上被產生的輸出信號被決定。典型地，激勵線圈包括一被連接到一電容器的線圈以形成一共振電路。根據例如激勵信號的一輸入信號，激勵線圈在激勵頻率處發生共振產生了一電磁場。輸出信號根據周圍激勵線圈與格柵線間的耦合被檢測。根據本發明的一些實施例，格柵的輸出信號的振幅和頻率特性被決定和/或分析。
本發明的發明者已發現在格柵線上被檢測的輸出信號將相對應於激勵線圈的輸入信號，當激勵線圈在兩端的電氣連接完好無損時。例如，在格柵上被檢測的輸出信號在激勵線圈的激勵頻率處將包括一峰值。發明者已發現當激勵線圈僅在一單一端被連接時，線圈可被視為發射電場的天線。在這樣一種情況下，在格柵上被檢測的輸出信號將不包括在激勵線圈的激勵頻率處的峰值以及/或者在該激勵頻率處的峰值將不太明顯。
根據本發明的一些實施例，一被檢測故障的指示被傳 送至主機。例如，該與數位器相關連的主機可藉由指示故障的圖形顯示向使用者轉播訊息。在一些示範性實施例中，根據在一或多格柵線中被檢測的電氣障礙，被阻礙的格柵線被使無效，例如在數位器操作期間不被取樣。在一些示範性實施例中，基於相鄰格柵線的輸出的資料分析補償無效的特定格柵線。在一些示範性實施例中，根據在一特定格柵區域中的微小電氣障礙，該區域的輸出在運算元位元器期間被忽略。例如，主機可能向使用者轉播數位器的一特定區域已經由於故障被使無效的這樣一條訊息。
本發明的一些實施例的一個層面提供了用於手動地決定一格柵式數位器的操作特性的系統與方法，該格柵式數位器在例如導電格柵線的每一格柵線上僅包括I/O終端。根據本發明的一些實施例，在測試一格柵式數位器的操作中，輸入信號藉由格柵線的導電墊片被傳送，而輸出信號在被連接到該數位器感測器的交叉格柵線的一個或多個I/O終端上被檢測。
本發明的一些實施例的一個層面提供了用於決定一格柵式數位器的操作特性的系統與方法。在一些示範性實施例中，格柵式數位器被預裝配，例如被預裝配在一架構中或被部分地裝配。在一些示範性實施例中，格柵式數位器被預裝配在一顯示器螢幕上。根據本發明的一些實施例，提供了一種用於在藉由電容耦合而不需要與格柵線直接電氣接觸的情況下產生通過數位器的格柵線的信號的系統與方法。根據本發明的一些實施例，提供了一種用於在藉由 電容耦合而不需要與格柵線直接電氣接觸的情況下檢測經由數位器的格柵線傳播的信號。
根據本發明的一些實施例，本系統包括至少兩個被放在數位化表面上的導電探針。選擇性地，導電探針的尖端是金。選擇性地，探針的長度大約是30mm。在一些示範性實施例中，其中的一個探針具有傳送AC信號(例如一脈衝AC信號)的作用，該信號可藉由電容耦合在一或多格柵線上被拾取，而其他探針具有藉由電容耦合拾取在其中一格柵線上傳播的信號的作用。
在操作中，探針被沿格柵線的長度放在數位化表面上且彼此之間相距一段距離。在一些示範性實施例中，具有拾取在其中一格柵線上傳播的信號的作用的探針被放在該數位器感測器的其中一個I/O終端上的導電墊片取代，以提高拾取能力。在一些示範性實施例中，測試器的導電墊片與該數位器感測器的I/O終端電氣接觸。在一些示範性實施例中，一機械(robotic)臂控制探針的放置，以使不同的格柵區域以及不同的格柵線可被測試。
在一些示範性實施例中，可被放在數位器感測表面上的多數個探針被預佈置在一表面上。典型地，探針被佈置以使探針之間的距離與具有相對應的I/O終端的數位器的格柵線之間的距離相對應，其中該I/O終端以與格柵大小相對應的距離面向每一探針。對準可被手動地實現或用一個或多個對稱環繞數位器架構的對準元件實現。
在操作期間，輸入信號被一或多個探針傳送。典型地， 輸入信號是在一預定振幅和頻率的AC信號。典型地，探針與格柵線之間的電容耦合產生經由格柵線傳播的信號。同樣地，格柵線與測試導電墊片之間的電容耦合將促促使信號在測試導電墊片上的拾取。根據本發明的一些實施例，在測試導電墊片上被拾取的信號被檢測和被分析以如上所述那樣決定感測器格柵的操作特性。
現參考第1-3圖。第1圖說明根據本發明的一些實施例的一數位器系統的一示範性簡化方塊圖。第2圖說明根據本發明的一些實施例的被簡化的感測器格柵的一俯視圖。第3圖說明根據本發明的一些實施例的被平鋪在一FPD(或其他)顯示器上的一數位器的一簡化橫截面圖。典型地，在第1圖中所示的數位器系統100包括被平鋪在一顯示器上的一數位器50、一主機22以及在該數位器50與該主機22之間的介面24。數位器50可適於能夠使使用者與裝置之間互動的任何計算裝置，該裝置包括例如FPD螢幕的行動計算裝置。這些裝置的例子包括輸入板PC、筆致能膝上型輕便電腦、桌上型電腦、PDA或諸如掌上型電腦及行動電話的任何手持裝置或易於打電子遊戲的其他裝置。根據本發明的一些實施例，該數位器50包含包括導線的圖案式配置的一格柵式感測器12，其是選擇性通透的且被典型地平鋪在一FPD 350上(請見第3圖)。典型地，格柵式感測器12包括彼此正交放置的水平和垂直格柵線。
根據本發明的一些實施例，在被環繞感測器12放置，例如沿其邊緣放置的一或多個PCB 30(例如一L型PCB)上 提供電路。典型地，PCB 30被沿感測器12的兩個邊緣放置，並且到PCB 30上的電路的連接是藉由被包括在感測器12的邊緣上的導電墊片和/或I/O終端221的(第2圖)。在一些示範性實施例中，PCB被安裝在一架構320上。選擇性地，PCB 30被安裝在感測器12上。根據本發明的一些實施例，PCB 30包括一或多個特定應用積體電路(ASIC)16，其包含取樣感測器的輸出並且將其處理為一數位表示。在一些示範性實施例中，數位輸出信號被轉傳給一個額外的ASIC一用於進一步數位處理的數位單元20。根據本發明的一些實施例，數位單元20連同ASIC 16作為數位器系統的控制器，以及/或者具有控制器和/或處理器的功能。數位器感測器的輸出藉由一介面24被轉傳給用於透過操作任何目前應用程式的作業系統進行處理的主機22。
根據本發明的一些實施例，數位單元20連同ASIC 16包括記憶體和/或記憶體能力。記憶體能力可包括易失性和/或非易失記憶，例如FLASH記憶體。在本發明的一些實施例中，例如FLASH記憶體的記憶體單元和/或記憶體能力是與數位單元20相分離但與其通訊的單元。典型地，ASIC 16具有在一第一處理階段處理所接收到的信號的作用。
根據本發明的一些實施例，數位器50包括被平鋪在一玻璃基體330上的一感測器12、一或多個PCB 30、架構320以及環繞該感測器架構的一周邊線圈26。選擇性地，架構320為感測器12提供機械穩定性；將周邊線圈26固定到一固定位置；以及保持數位器與FPD或液晶顯示器(LCD)350對 準。在一些示範性實施例中，不包括架構320以及線圈是數位器50的一個子組合。選擇性地，線圈是不需要環繞一核心被纏繞的一自支撐線圈。硬表層340作為一保護層，使用者使用一或多種類型的使用者互動，例如指尖46、尖筆44以及遊戲標記(game token)在該保護層上與數位器50互動。
根據本發明的一些實施例，感測器12包含在箔或玻璃基體上被由導電材料(選擇性地為銦錫氧化物(ITO))製成的導線刻圖案的格柵。導線和箔是選擇性通透的或足夠薄以使其實質上不與觀察格柵線後面的電子顯示器發生干擾。典型地，該格柵由彼此電氣絕緣的兩層製成。典型地，其中的一層包含一組被均等間隔的平行導體，另一層包含與該第一層的那組平行導體正交且被均等間隔的一組平行導體。典型地，該等平行導體是被包括在ASIC 16中的放大器的輸入。選擇性地，該放大器是差動放大器。
典型地，平行導體被以大約在2-8mm範圍內的一距離(例如4mm)間隔，取決於FPD的大小以及所期望的解析度。選擇性地，格柵線之間的區域被一種具有類似於(通透)導線之特性的光學特性的非導電材料填充，以遮蔽導線的存在。選擇性地，格柵線在遠離PCB 30的那端沒有被連接，以不使格柵線形成迴路。在這種情況下，格柵線作為高阻抗電場接收天線。選擇性地，僅在格柵線接近PCB 30的那端包括I/O終端。
典型地，ASIC 16被連接到在格柵中的各種導體的輸 出，以及具有在一第一處理階段處理所接收到的信號的作用。如以上所指示，ASIC 16典型地包括用來放大感測器的信號一放大器(例如差動放大器)陣列。此外，ASIC 16選擇性地包括一或多個濾波器，以移除不與被用於激勵和/或從被用於使用者互動的物件獲取的頻率範圍相對應的頻率。選擇性地，濾波在取樣之前被執行。然後信號被一A/D取樣而後被一數位濾波器濾波，然後被轉傳給數位單元20用於進一步的數位處理。選擇性地，可取捨濾波是完全數位的或完全類比的。在一些示範性實施例中，在4-125KHz範圍中的信號可被數位器感測器感測。
根據本發明的一些實施例，數位單元20從ASIC 16接收被取樣的資料、讀取該被取樣的資料、處理該資料以及/或者從接收到和被處理的信號決定和/或追蹤實體物件(諸如尖筆44和/或指尖46)接觸數位器感測器和/或接近地位於其上方的位置。計算所得的位置藉由介面24被發送到主機22。根據本發明的一些實施例，數位單元20決定隨著時間的逝去存在和/或不存在諸如尖筆44和/或指尖46的實體物件。
在一些示範性實施例中，例如一脈衝AC信號的一AC觸發信號被施加到在格柵中的一或多平行導電格柵線。當一手指觸摸包括該觸發信號的格柵線時，提供觸發信號的導線與至少接近該觸摸位置的相對應正交格柵線之間的電容發生改變，以及輸出信號由於該改變在該等正交格柵線上被檢測。該方法能夠在同一時間檢測一個以上的手指觸 摸(多觸摸)。典型地，存在手指使被耦合信號減小了20-30%，因為手指典型地使電流從線中排出。
根據一些實施例，數位單元20產生並控制被提供給環繞感測器配置及顯示器螢幕之周邊線圈26的觸發脈衝的時序和發送。在本發明的一些示範性實施例中，激勵線圈被連接到一電容器，該激勵線圈連同該電容器一起形成一共振電路。在一些示範性實施例中，激勵線圈被組配以在多個預定頻率處發生共振。在本發明的一些示範性實施例中，周邊線圈26的兩端被連接到電路，以使一AC信號可被傳送到該激勵線圈以(以一電場或磁場的形式)產生一觸發脈衝，該觸發脈衝刺激尖筆44或其他被用於使用者互動之物件中的被動電路，以從尖筆產生一隨後可被檢測的響應。
根據一些實施例，數位單元20產生一觸發脈衝並將其發送到至少一條導電格柵線。典型地，該等觸發脈衝和/或信號是類比脈衝和/或信號。根據本發明的一些實施例，該等被實施的觸發脈衝和/或信號可被限制於例如18KHz或20-40KHz範圍中的一或多個預定頻率。
根據本發明的一些實施例，數位單元20促使(例如啟動)並控制自診斷程序以診斷數位器系統100的操作特性，例如正如在這裡將被進一步詳細描述，自診斷數位器的操作條件。在一些示範性實施例中，自診斷在使用者不與數位器互動的情況下被數位單元20執行。
根據本發明的一些實施例，主機22包括至少一個記憶體單元23以及一處理單元25，以儲存並處理從數位單元20 獲取的資訊。根據本發明的一些實施例，記憶和處理功能可在主機22、數位單元20以及ASIC 16之中的任兩個或三個之間被分配，或者可以僅存在於他們之中的一個中以及/或者可以是一個被連接到主機22、數位單元20以及ASIC 16之中至少一個的獨立單元。根據本發明的一些實施例，一或多個表格和/或資料庫可被儲存以記錄一或多個輸出，例如被ASIC 16和/或數位單元20取樣的感測器12的影像或被刻有圖案的輸出。在一些示範性實施例中，被取樣輸出信號的資料庫可被儲存。資料和/或信號的值可被儲存在易失性和非易失性記憶體中。根據本發明的一些實施例，資料和/或信號的值可被儲存為數位器感測器的空間輸出表格和/或數位器感測器的差動放大器輸出表格。根據本發明的一些實施例，輸出在濾波後，例如在低通和/或帶通濾波後被記錄，以從與被用於使用者互動的物件的輸出相對應的頻率範圍選擇輸出，例如從與手指檢測相對應的一頻率範圍選擇輸出。
被用來檢測尖筆和/或指尖位置的數位器系統可以是，例如類似於在被併入的美國專利6,690,156、美國專利申請公開案7,292,229和/或美國專利7,372,455中所描述的數位器系統。本發明的系統與方法也可以根據其構造應用於在本技術領域中所熟知的其他數位化系統。
現參考第4A-4D圖，其根據本發明的一些實施例說明在感測器格柵與周圍電路之間的電氣連接的自診斷期間至一感測器格柵的樣本輸入信號和一感測器格柵的樣本輸出 信號。在一些示範性實施例中，該感測器格柵是一矩形格柵，其包括例如在水平方向的一第一組平行導電格柵線H1 到Hk ，以及例如在垂直方向的一第二組平行導電格柵線V1 到Vj ，其中該第二組平行導電格柵線被與該第一組平行導電格柵線正交放置且與其電氣絕緣。沿矩形格柵的兩個邊緣被連接的電路具有沿格柵線傳送信號以及取樣在格柵線上傳播的信號的作用。在兩條交叉格柵線間的每一接面490處存在某一微小數量的電容。由於交叉格柵線之間的電容耦合，橫跨中其中一格柵線被傳送的信號沿其交叉格柵線(例如正交格柵線)產生耦合信號。根據本發明的一些實施例，與格柵的一個軸(例如水平或垂直軸)相關連的電路沿其中的一格柵線，例如一水平格柵線H1 (第4A圖)或一垂直格柵線Vj (第4C圖)傳送和/或施加一信號430。在一些示範性實施例中，信號430是一脈衝AC信號。由於電容耦合，耦合信號450在正交格柵線上被產生，其在格柵線的取樣期間可被檢測。當正交格柵線被正確地連接到I/O終端和/或輸出電路時，耦合信號450在取樣期間被檢測。在一格柵線沒有被連接的情況下，例如一低振幅信號的一零值信號451被電路檢測。在一些示範性實施例中，ASIC 16取樣每一交叉格柵線。被取樣信號的分析被ASIC 16和/或數位單元20執行，並且被斷開連接的格柵線可被識別和記錄。儘管在第4A圖中的輸入AC信號經由格柵線H1 被傳送，但是值得注意的是，輸入信號可相反地被傳送到其他平行格柵線H2 到Hk 中的任一條，以決定格柵線V1 到Vj 的連接。在一些示範性實 施例中，輸入信號經由與與交叉格柵線相關連的電路相距最遠的導電格柵線(例如H1 )被傳送。
現參考第5圖，其顯示根據本發明的一些實施例的用於檢測在一感測器格柵上被斷開連接的格柵線的一示範性方法的一簡化流程圖。根據本發明的一些實施例，在自診斷期間，一輸入信號沿與例如水平或垂直軸的一第一軸相關連的一第一組格柵線中的一條被傳送(方塊510)，以測試與與該第一軸交叉(例如與該第一組格柵線正交)且與一第二軸相關連的第二組格柵線的連接。該第二組的輸出被取樣(方塊520)，以及被與一臨界值相比較，例如預定臨界值和/或由在多數格柵線上被取樣的一平均信號所決定的一臨界值。與大於該預定臨界值的輸出相關的第二組格柵線被標記為被連接的格柵線(方塊530)。與小於該預定臨界值的輸出相關的第二組格柵線被標記為被斷開連接的格柵線(方塊540)。隨後一輸入信號被沿在該格柵中的該第二組格柵線中的一條傳送，以測試該第一組格柵線的連接(方塊550)。該第一組的輸出被取樣(方塊560)，以及被與例如預定臨界值的一臨界值相比較。與大於該預定臨界值的輸出相對應的第一組格柵線被標記為被連接的格柵線(方塊570)。與小於該預定臨界值的輸出相對應的第一組格柵線被標記為被斷開連接的格柵線(方塊580)。連接測試的結果可被轉播給使用者、數位單元20和/或主機(方塊590)。基於該等結果，可對感測器格柵的可用性做出決定。典型地，該決定在韌體層級上被做出。在一些示範性實施例中，該 決定在軟體層級上被做出，例如基於自數位器50接收到的資料被主機22做出。在一些示範性實施例中，當一格柵線被斷開連接時，整個感測器被診斷為被損壞和/或發生故障。選擇性地，在診斷一感測器是不能再用的之前，被斷開連接的格柵線的位置和/或被數位器使用的應用所需要的準確性被考慮。例如，如果在感測區域邊緣處的一格柵線被斷開連接，則該感測器格柵可被定義為部分發生故障。在一些示範性實施例中，有問題的格柵線被使無效，例如沒有被取樣，或者在分析中沒有包括這些格柵線的輸出，儘管追蹤和/或定位與數位器互動的使用者互動。
根據一些實施例，自診斷例行程序是在韌體上運行的應用程式。選擇性地，自診斷例行程序被使用者初始化且可在手動控制下運行。典型地，診斷首先在地點被執行，然後被週期性地重複。
在一些示範性實施例中，當所有交叉格柵線的輸出被發現小於預定臨界值時，被用於傳送輸入信號的格柵線被標記為被斷開連接，以及診斷使用一用於傳播輸入信號的不同格柵線被重複。在一些示範性實施例中，一條以上的格柵線被用來例如並行或串列地傳送輸入信號。在一些示範性實施例中，在一條以上的格柵線上傳送信號克服了由於輸入格柵線中存在的問題而產生的錯誤檢測，這與交叉格柵線形成對比。在一些示範性實施例中，例如如在第4B及4D圖中所示，輸入信號在第一組格柵線的所有格柵線(例如H1 到Hk )上被並行地傳送，以測試第二組格柵線的連接 (第4B圖)。隨後，輸入信號在第二組中的所有格柵線(V1 到Vj )上被同時地傳送，以測試在第一組中的格柵線的連接(第4D圖)。
根據本發明的一些實施例，在例如自診斷的診斷期間，感測器格柵的輸入信號被以數位器可應用的最大振幅傳送。選擇性地，輸入信號被以一典型地被用於手指觸摸檢測的頻率傳送。選擇性地，被傳送的輸入信號包括多數個頻率。
根據本發明的一些實施例，在感測器格柵的操作特性的診斷期間，一或多種方法被用於分析被取樣的輸出信號。在一些示範性實施例中，一或多種方法被用於臨界化，例如以決定一被檢測的輸出信號是否代表一零值信號和/或一耦合信號。
在一些示範性實施例中，臨界化被以一預定頻率和/或頻率範圍執行。選擇性地，預定臨界值是在一(或多)預定頻率和/或預定頻帶，在被檢測峰值處的輸出信號的能量臨界值。選擇性地，輸出信號被與頻域中的臨界值相比較，例如在執行離散傅立葉轉換(DFT)後。
在一些示範性實施例中，臨界化在多次循環中被檢測的一平均輸出上被執行，和/或在根據在多格柵線上被傳送的輸入檢測的平均輸出上被執行。在一些示範性實施例中，平均多數個信號具有降低雜訊以及避免可能的誤肯定和/或誤否定檢測。
在一些示範性實施例中，臨界值參考在所有感測器格 柵線上被檢測的平均信號被定義。選擇性地，每一軸的臨界值參考在每一軸上被檢測的平均信號被定義。選擇性地，臨界值被定義為被檢測信號的平均值的一個分數，例如平均值的0.3、0.4、0.5、0.6、0.7、0.8、0.9倍。在一些示範性實施例中，一個以上的臨界值被使用，以及格柵線可被標記為被完全連接、被部分斷開連接和/或被斷開連接。在一些示範性實施例中，當輸出信號不超過或大於被檢測的平均信號的標準差時，格柵線被診斷為被連接的格柵線。在本發明的一些示範性實施例中，不是將輸出信號與一預定臨界值相比較，而是將輸出信號與其相鄰輸出信號相比較。選擇性地，相鄰輸出信號的平均值被執行。如果輸出大於相鄰輸出信號的平均值，或者大於一些被定義的多個平均值，則相對應的格柵線被診斷為被連接的格柵線。如果輸出小於該平均，或者小於一些被定義的多個平均值，則相對應的導電格柵線被診斷為被斷開連接的格柵線。在一些示範性實施例中，每一格柵線被進行連接測試。在其他實施例中，例如與一被指定區域相對應的特定格柵線被測試。
在一些示範性實施例中，與於此所述的用於識別被斷開連接的格柵線的方法類似的方法也被用於檢測格柵線中的中斷、格柵線間的短路和/或格柵線間的串音。
在一些示範性實施例中，與於此所述的用於檢測被斷開連接的格柵線的方法類似的方法可被用於檢測當信號自信號來源到格柵線末端傳播時其信號位準的降格。在一些 示範性實施例中，降格透過比較不同交叉格柵線的輸出的信號強度被檢測。典型地，在與輸入信號來源相距最遠的交叉格柵線(例如交叉格柵線Vj )(第4A圖)上的信號強度較與信號來源相距最近的交叉格柵線(例如交叉格柵線V1 )(第4A圖)將導致較低的信號強度。在一些示範性實施例中，降格的位準被檢測且被用一計算所得的補償因子補償。在一些示範性實施例中，降格檢測及補償被數位器自動地執行並且是自診斷程序的一部分。在一些示範性實施例中，補償被實施以調整格柵線上個別格柵線的臨界值，例如減小V1 與Vj 之間的臨界值。在一些示範性實施例中，數位器決定和/或傳達：感測器格柵對於被檢測的大於一預定臨界值的降格位準發生故障，並且“修復”或補償小於一預定臨界值的降格。
現參考第6A－6B圖，其根據本發明的一些實施例顯示在一或多感測器格柵線上的中斷的自診斷期間至一感測器格柵的樣本輸入信號和一感測器格柵的樣本輸出信號。根據本發明的一些實施例，在輸入格柵線HR 中的一切口660可從分析與輸入格柵線相交叉的格柵線中被檢測的耦合信號被檢測。根據本發明的一些實施例，由感測器格柵的電路所產生的輸入信號620被按順序地經由每一格柵線傳播，而在一或多交叉格柵線上的信號被取樣。輸出信號被分析以決定在輸入格柵線中是否有切口。在一些示範性實施例中，切口的存在及其沿輸入格柵線的位置被決定。例如，當取樣交叉格柵線的輸出時，信號650在與完好無損的輸入格柵 線的長度交叉的格柵線上被檢測，而零值信號610在越過格柵線被切斷的點處被檢測。切口的位置被界定在信號650沿輸入格柵線被檢測的點與零值信號610被檢測的點之間。現參考第6B圖，在一些示範性實施例中，僅與信號來源相距最遠的交叉格柵線被取樣，以決定在輸入格柵線中是否有切口。如果零值信號610在與信號來源相距最遠的交叉格柵線上被取樣，則輸入格柵線被決定具有一中斷。在一些示範性實施例中，首先對Vj 進行中斷測試，以確保被檢測的中斷不是Vj 中的中斷。選擇性地，如果耦合信號(例如信號650)在與信號來源相距最遠的交叉格柵線上被取樣，則輸入格柵線被決定是完好無損的。在一些示範性實施例中，與信號來源相距最遠的多數交叉格柵線被取樣。在這些示範性實施例中，僅切口的存在而不是其沿格柵線的長度的位置被檢測。
在一些示範性實施例中，僅一選定數目的交叉格柵線被取樣以決定格柵線中的中斷。例如，每一第二、第三、第五、第十格柵線被取樣以及/或者被分析以決定中斷的存在及位置。
現參考第7圖，其顯示根據本發明的一些實施例的用於檢測在一感測器格柵線中的中斷的一示範性方法的一簡化流程圖。根據一些實施例，一AC信號被沿其中的一格柵線(例如一第一格柵線)傳送(方塊710)，以及交叉格柵線的輸出被取樣(方塊720)。在一些示範性實施例中，對輸出的分析在與輸入信號來源相距最遠的交叉格柵線上開始，以及 該最遠格柵線的輸出被與一臨界值比較(方塊730)。在最遠交叉格柵線上的輸出顯示一耦合信號，例如輸出大於該臨界值的情況下，傳播輸入信號的輸入格柵線被標記為完好無損的格柵線(方塊740)，以及隨後的輸入格柵線被診斷(方塊750)。在最遠交叉格柵線上的輸出顯示一零值信號，例如小於該臨界值的一信號的情況下，相鄰交叉格柵線被按順序地與該臨界值相比較(方塊770)，直到大於該臨界值的信號被檢測。如果在任一交叉格柵線上都沒有檢測大於該臨界值的信號，則輸入格柵線被標記為被斷開連接。中斷或切口在格柵線上的位置被決定為在最後(例如小於該臨界值的)一零值信號與第一耦合信號(例如大於該臨界值的一信號)之間的位置(方塊780)。輸入格柵線被標記為被切斷(方塊790)，以及隨後的輸入格柵線被診斷。在一些示範性實施例中，該流程一直繼續直到所有格柵線已被檢查。選擇性地，診斷在格柵的一特定區域上被執行。
根據本發明的一些實施例，於此以上所述的用於決定一被檢測的輸出信號是否代表一零值信號和/或一耦合信號的不同方法可被施加用於格柵線切口的診斷。在一些示範性實施例中，每一組格柵線都被取樣多數次，以及對輸出的分析基於平均或於此上述的其他方法被執行。
現參考第8A－8B圖，其根據本發明的一些實施例說明在一感測器格柵中的相鄰格柵線間的短路和/或串音診斷期間至一感測器格柵的樣本輸入信號和一感測器格柵的樣本 輸出信號。根據本發明的一些實施例，格柵線間的短路和/或串音透過經由一格柵線HR 傳送一信號820以及取樣在兩條或更多相鄰格柵線，例如格柵線HR-3 到HR-1 以及HR+1 到HR+3 中的輸出被決定。如果信號在相鄰格柵線上被檢測，則柵線間的短路和/或串音被決定。在第8A圖所示的例子中，相鄰格柵線根據信號820產生零值信號850，因此沒有發現短路和/或串音。在第8B圖中，指示在格柵線HR-2 與HR+2 之間存在串音和/或短路的信號860在格柵線HR-2 、HR-1 、HR+1 及HR+2 上被取樣。在一些示範性實施例中，僅與輸入格柵線相鄰的兩條格柵線被分析以決定是否存在短路和/或串音。在一些示範性實施例中，只有當一信號在該兩條相鄰格柵線其中的一條上被檢測時，額外的相鄰格柵線才被分析，直到沒有信號被檢測。在一些示範性實施例中，最初兩條以上的相鄰格柵線被分析，以及額外的格柵線根據在先前被分析的那組格柵線上被檢測的信號被分析。根據本發明的一些實施例，如果一格柵線的輸出大於一預定臨界值，則串音和/或短路被決定。在一些示範性實施例中，類似於於此上述的用於臨界化之方法的方法被實施，以決定輸出信號是否指示格柵線間的串音和/或短路。在一些示範性實施例中，每一組格柵線被取樣多數次，以及對輸出的分析基於平均或於此上述的其他方法被執行。
現參考第9圖，其顯示根據本發明的一些實施例的用於檢測在一感測器格柵中的相鄰格柵線間的短路和/或串音的一示範性方法的一簡化流程圖。根據本發明的一些實施 例，一AC信號在感測器的其中一條格柵線上被傳送和/或被施加在感測器的其中一條格柵線上(方塊905)。典型地，與該格柵線相關連的電路產生例如脈衝AC信號的AC信號並將其傳送至該格柵線。至少相鄰格柵線的輸出被取樣(方塊910)。在一些示範性實施例中，與輸入格柵線平行的所有格柵線被取樣。兩條或更多相鄰格柵線的輸出被相對於一第一臨界值進行檢查(方塊915)。如果在其中一條格柵線上被取樣的輸出大於該臨界值，則短路被決定在該感測器格柵中(方塊920)。在一些示範性實施例中，短路在格柵上被檢測的區域被記錄，並且被報告給主機或藉由主機被報告給使用者。在一些示範性實施例中，如果短路在其中一格柵線上被檢測，則整個感測器格柵被決定發生故障。一些實施例中，產生短路的格柵線被使無效以及/或者在數位器的操作期間不被使用，例如不被用來定位和/或追蹤使用者與數位器的互動。
在一些示範性實施例中，如果所有被分析的信號都小於該第一臨界值，例如短路還沒有被檢測，則串音存在的可能性被決定。在一些示範性實施例中，輸出被相對於小於該第一臨界值的一第二臨界值進行檢查(方塊930)。如果一或多格柵線被發現大於該第二臨界值，則其被決定在格柵線間存在串音(方塊935)。否則輸入格柵線被決定未遭受短路和串音(方塊940)。典型地，步驟905-940對於格柵上的每一格柵線，例如每一水平格柵線及每一垂直格柵線重複，以決定感測器的格柵線間是否存在短路和/或串音。在 一些示範性實施例中，僅特定的格柵線，例如與一被指定區域相對應的格柵線被測試。在一些示範性實施例中，被短路或遭受串音的格柵線被使無效。在一些示範性實施例中，被檢測的任何短路或串音都導致報告該感測器格柵是不可用的。
現參考第10、11A-11B及12圖。第10圖顯示根據本發明的一些實施例的包括被輸入到差動放大器的成對感測器格柵線的一被簡化的示範性感測器格柵。第11A-11B圖根據本發明的一些實施例說明在感測器格柵與周圍電路之間的電氣連接的自診斷期間與該感測器格柵相關連的差動放大器的樣本輸出信號。第12圖顯示根據本發明的一些實施例的用於檢測被輸入到差動放大器的一感測器格柵上的格柵線的操作特性的一示範性方法的一簡化流程圖。
典型地，ASIC 16放大在取樣之前被執行，因此被取樣的輸出是被輸入到差動放大器的兩條格柵線(例如格柵線1050與格柵線1055)之間的差動輸出。根據本發明的一些實施例，ASIC 16包括用來放大感測器的信號的一差動放大器1010陣列。選擇性地，ASIC 16在取樣之前執行濾波。在一些示範性實施例中，格柵線H1 到Hk 和/或V1 到Vj 被成對地連接到差動放大器。本發明不限於所說明的組態。選擇性地，相鄰的格柵線也被成對地連接到差動放大器。
典型地，正如於此所述，為了診斷的感測器格柵的操作特性，個別格柵線的輸出被分析。分析經由差動放大器所獲取的被取樣的輸出來檢測感測器格柵線的操作故障可 能是困難的。例如，具有兩條完好無損的格柵線的輸入的一差動放大器的輸出可能類似於具有兩條被斷開連接的格柵線的輸入的一差動放大器的輸出。這樣，該差動放大器的輸出可能導致模棱兩可的結果。本發明的發明者已經發現個別被連接到差動放大器的格柵線的輸出可透過將每一差動放大器(例如差動放大器1010)的一輸入(例如輸入1050)連接到接地端1111被隔離以避免模棱兩可的情況。在一些示範性實施例中，ASIC 16提供在要被接地的格柵線與PCB接地端之間的電氣連接。儘管差動放大器1010的輸入1050被接地，但是該差動放大器輸出線1090相對應於格柵線1050的輸出，而不與兩條格柵線一格柵線1050與格柵線1055之間的差值相對應。
現參考第11A圖，儘管差動放大器沿一格柵的一第一軸的所有正輸入被接地，但是一信號1020在沿該格柵的一第二軸的一格柵線上被傳播，以及輸出自與該格柵的該第一軸相關連的每一差動放大器(例如差動放大器1010-1014)被檢測。對自差動放大器被獲取的信號1030的分析可被用來診斷作為每一該差動放大器的負輸入的格柵線的連接。
現參考第11B圖，儘管差動放大器沿一格柵的一第一軸的所有負輸入被接地，但是一信號1020在沿該格柵的一第二軸的一格柵線上被傳播，以及輸出自與該格柵的該第一軸相關連的每一差動放大器(例如差動放大器1010-1014)被檢測。對自差動放大器被獲取的信號1035的分析可被用來診斷作為每一該差動放大器的正輸入的格柵線的連接。對 被取樣的輸出的分析於此可被描述。在一些示範性實施例中，每一組格柵線被取樣多數次，並且對輸出的分析基於平均或於此以上所述的其他方法被執行。
現參考第12圖，根據本發明的一些實施例，一AC信號在一或多格柵線上被傳送，例如沿一格柵的一第一(1st )軸的一或多格柵線(方塊1210)。每一差動放大器的其中一輸入，例如與諸如沿一格柵的一第二(2nd )軸的格柵線的交叉格柵線相關連的正或負輸入被接地(方塊1220)。交叉線的差動放大器的輸出被取樣(方塊1230)。被取樣的輸出代表僅來自一部分感測器格柵，例如一半感測器格柵的輸出。隨後，AC信號在一或多格柵線上被傳送(方塊1240)，而與交叉格柵線相關連的每一差動放大器的其他輸入被接地(而第一輸入沒有被接地)(方塊1250)。交叉格柵線的差動放大器的輸出被取樣(方塊1260)。被取樣的輸出代表來自先前沒有被檢測的感測器格柵(例如該感測器格柵的第二半)的其餘格柵線的輸出。在一些示範性實施例中，基於該第一和第二取樣的輸出，整個格柵的診斷可被執行。在一些示範性實施例中，每一組格柵線被取樣多數次，以及對輸出的分析基於平均或於此以上所述的其他方法被執行。
根據本發明的實施例，格柵的操作特性，例如格柵線與連接電路的連接，格柵線中的電中斷，以及於此上述的格柵線間的串音和短路可對輸出自如於此以上所述的差動放大器被取樣的數位器決定。
根據本發明的一些實施例，自診斷包括激勵線圈與電 路之間電氣連接的診斷。本發明的發明者已發現的是，當激勵線圈的電氣連接完好無損且一AC信號經由該線圈被傳送時，在線圈的共振頻率和/或激勵頻率具有一峰值的信號可在感測器格柵線的輸出上被檢測。典型地，當激勵線圈從兩端被斷開連接時和/或當一激勵信號沒有經由該線圈被傳送時，零值信號自格柵線的輸出被檢測。
本發明的發明者也已發現的是，當激勵線圈僅在一端被斷開連接時，自格柵線的輸出被檢測的信號典型地較用兩端都被斷開連接的激勵線圈拾取的信號具有更大的振幅。此外，本發明的發明者已發現的是，當激勵線圈在一端被斷開連接時，自格柵線的輸出被檢測的信號不在線圈的共振頻率處顯示出一峰值。本發明的發明者已發現的是，透過分析一或多格柵線的輸出，當一AC信號被傳送至線圈時，該激勵線圈的操作狀態可被決定，以及完全被斷開連接及被部分斷開連接的激勵線圈的狀態可被區分。
根據本發明的一些實施例，包括多數個頻率的一AC信號在其自診斷期間被傳送到激勵線圈。典型地，該多數個頻率包括激勵線圈的一或多個共振頻率。在一些示範性實施例中，在自診斷期間，激勵線圈的輸入信號被以系統可應用的最大振幅傳送。
現參考第13圖，其顯示根據本發明的一些實施例的用於檢測包圍一感測器格柵的一激勵線圈的操作特性的一示範性方法的一簡化流程圖。根據本發明的實施例，在周邊線圈26的自診斷期間，一AC觸發脈衝被傳送至該激勵線圈 (方塊1310)。一或多格柵線的輸出被取樣(方塊1320)。格柵線的被取樣的輸出的振幅被與一臨界值相比較(方塊1340)。在一些示範性實施例中，每一個格柵線的輸出被與該臨界值相比較。在一些示範性實施例中，所有格柵線或一個單一軸上所有格柵線的一平均輸出被與該臨界值相比較。可選擇性地和/或附加地，其他臨界化方法可如於此所述那樣被使用。在一些示範性實施例中，當輸出被決定小於該臨界值時，激勵線圈被決定在兩端都被完全斷開連接(方塊1350)。在一些示範性實施例中，當輸出被決定大於該臨界值時，DFT被執行以決定被取樣輸出的頻率特性(方塊1360)。根據本發明的實施例，在激勵線圈的一或多共振頻率處和/或在其附近的可能的峰值被檢測和分析(方塊1370)。如果一峰值被發現，則激勵線圈被決定完全被連接(方塊1390)，否則激勵線圈被決定在一端被斷開連接(方塊1380)。在一些示範性實施例中，當信號在一被指定頻率和/或頻帶的能量大於一臨界值時，一峰值被決定。在一些示範性實施例中，信號在頻域中的正規化在臨界化之前被執行。選擇性地，其他用於臨界化的方法可如於此所述被用來決定頻域中的峰值。在一些示範性實施例中，當僅一格柵線的輸出被決定大於臨界值時，激勵線圈被決定為被連接。
在其他示範性實施例中，激勵線圈的診斷包括在周邊線圈26上傳送一激勵信號，以及藉此檢測數位器的電路中所包括的一“測試線圈”中的電流。當大於一所定義的振幅 臨界值的電流在該測試線圈上被檢測時，該激勵線圈被決定為被連接。
根據本發明的一些實施例，自診斷例行程序包括額外的測試，諸如檢測ASIC 16與數位單元20之間的連接，檢測數位單元20與主機22之間的連接。在一些示範性實施例中，自診斷包括檢測格柵線和/或格柵線上的雜訊位準之間的不平衡。
根據本發明的一些實施例，檢測ASIC 16與數位單元20之間的連接包括首先重新設定數位單元20的輸入，然後初始化對格柵線的輸出的取樣。如果一或多個ASIC 16被與數位ASIC斷開連接，則將沒有資料被寫入到與被斷開連接的ASIC 16相對應的數位單元20的輸入。在一些示範性實施例中，根據重新設定及取樣，當從每一ASIC 16到數位單元20的輸入都非零的時候，ASIC 16與數位單元20之間的連接被決定是完好無損的。
根據本發明的一些實施例，數位單元20與主機之間的介面是一通用串列匯流排(USB)介面。在一示範性實施例中，數位單元20與主機22之間的連接透過測試USB通訊被診斷。在一些示範性實施例中，USB通訊測試包括以下步驟：主機請求數位單元20上的韌體發送具有一預定長度P1的資料。作為回應，韌體以該預定長度發送具有檢查和的隨機資料。主機接收該資料並核對檢查和。選擇性地，訊息到達所花費的時間被記錄。在一些示範性實施例中，主機發送具有預定長度P2的韌體隨機資料，並且請求韌體回 應該資料。主機等待韌體的應答並且測試其是否與已發送的資料相匹配。選擇性地，回應流程被重複若干次。
根據本發明的一些實施例，自診斷包括檢測感測器的導線的格柵線間的不平衡。根據所檢測的不平衡，一訊息被傳送到主機以及/或者補償被執行。用於補償不平衡的示範性方法在被併入的標題為“Variable Capacitor Array”的美國專利申請公開案20070268272中被描述。
在一些示範性實施例中，不平衡的自診斷在輸出經由差動放大器被取樣的數位器上被執行。在一些示範性實施例中，一種用於不平衡自診斷的方法包括在沿一第一軸的格柵線上傳送一AC信號，同時取樣自沿一第二軸的格柵線間的電容耦合所獲取的輸出。被取樣的輸出信號使用於此上述的方法被與一臨界值相比較。當輸出信號小於該臨界值時，導電格柵線對被診斷為是平衡對。如果輸出信號大於該臨界值，則導電格柵線對被診斷為是不平衡對。在一示範性實施例中，測試在所有導電格柵線對上及在兩個軸上被執行。
在本發明的一示範性實施例中，自診斷包括檢測格柵線上的雜訊位準。根據本發明的一些實施例，在感測器的導電格柵線上的雜訊測試包括：取樣感測器的導電格柵線。選擇性地，當導電格柵線對被輸入到差動放大器時，差動放大器的輸出被取樣。輸出信號被進一步用一預定臨界值檢查，其中該預定臨界值是系統所允許的雜訊位準。
現參考第14圖，其顯示根據本發明的一些實施例的一 示範性自診斷方法的一簡化流程圖。在一些示範性實施例中，自診斷包括檢測格柵線與I/O終端和/或ASIC 16之間的連接(方塊1405)。在一些示範性實施例中，自診斷包括檢測沿數位器的格柵線的電氣中斷(方塊1410)。在一些示範性實施例中，自診斷包括檢測格柵線間的串音和短路(方塊1415)。在一些示範性實施例中，自診斷包括檢測格柵線和/或格柵線對之間的不平衡(方塊1420)。在一些示範性實施例中，自診斷包括檢測格柵線中的雜訊位準(方塊1425)。在一些示範性實施例中，自診斷包括檢測激勵線圈與所連接電路(例如數位單元20)間的連接(方塊1430)。在一些示範性實施例中，自診斷包括檢測取樣電路與處理電路，例如ASIC 16與數位單元20之間的連接(方塊1435)。在一些示範性實施例中，自診斷包括檢測數位器與主機之間的通訊(方塊1440)。根據本發明的一些實施例，數位器報告發現自診斷(方塊1445)。根據本發明的一些實施例，基於對自診斷輸出的分析，數位器決定數位器和/或感測器是否具有作用(方塊1450)。
根據本發明的一些實施例，提供了一種用於在數位器被裝配、被部分裝配和/或不被裝配後，診斷一感測器格柵的操作特性的測試器。現參考第15A－15C圖，其說明根據本發明的一些實施例的示範性的被簡化的測試平台。在一些示範性實施例中，一測試平台1521包括沿著該測試平台表面1522的一個、兩個或四個邊緣被以陣列佈置的多數個探針1524。在一些示範性實施例中，探針1524由不銹鋼或鎳 製造，以及探針的尖端被鍍有金。根據本發明的實施例，探針被連接到例如一AC信號來源的一信號產生器。在一些示範性實施例中，探針沿其縱軸的長度大約是30mm。在一些示範性實施例中，測試平台1521包括一個或兩個導電墊片1523(例如I/O終端)陣列，典型地面向一個或兩個探針陣列。在一些示範性實施例中，I/O終端或導電墊片由諸如碳、石墨或銀的導電材料製成。
根據本發明的一些實施例，探針和導電墊片被相對應於數位器的格柵線的尺寸以陣列佈置。在一些示範性實施例中，在測試平台的每一邊緣上的探針和/或導電墊片的數目與格柵的一個軸的格柵線的數目相對應，以及探針或導電墊片陣列之間的距離與沿格柵的一個軸的格柵線間的距離相對應。在一些示範性實施例中，測試平台包括一組態，其中對於每一格柵線，例如沿格柵的一個軸的每一格柵線，一探針被放在格柵線的一端上並且被用來經由該格柵線引發一信號，而一導電墊片被放在該格柵線的一第二端，因為其被用來檢測沿該格柵線傳播的信號(第15B圖)。在一些示範性實施例中，當數位器的I/O終端不可使用或不存在時，在第15C圖中所示的組態被使用。
現參考第16圖，其說明根據本發明的一些實施例的被放在一示範性的被簡化的測試平台上的一示範性的被簡化的數位器50的一截面圖。根據本發明的實施例，在測試平台1521的操作期間，一數位器50和/或數位器感測器12被放在該測試平台1521上，因此數位器的互動表面面向該測試 平台。根據本發明的一些實施例，該測試平台包括信標器(maker)和/或對準裝置，以易於以該數位器的格柵線被直接地放在測試平台的探針和/或導電墊片上的方式將數位器放在測試平台上。在一些示範性實施例中，探針包括一彈簧機制，以及該平台包括用於牽制數位器或感測器12的一扣環機制(clasp mechanism)。在一些示範性實施例中，當數位器或感測器12被放在測試平台上且被扣在適當位置時，探針被壓力牽制並且被緊緊地靠在數位器或感測器12上。
現參考第17圖，其顯示根據本發明的一些實施例的用於診斷一數位器感測器的操作特性的一示範性方法的一簡化流程圖。根據本發明的一些實施例，該數位器感測器被放在並且被固定在測試平台上(方塊1710)。一AC信號經由一或多個探針被傳送(方塊1720)。由於探針和感測器的格柵線間的電容耦合在感測器的格柵線上被引發的信號被檢測(方塊1730)以及被分析(方塊1740)。在一些示範性實施例中，檢測透過例如ASIC 16的數位器取樣來自數位器的I/O終端的資料被執行。選擇性地，檢測透過在與格柵線的輸入相對的一端上被連接到感測器的格柵線一測試探針被執行。在一些示範性實施例中，檢測透過取樣自格柵線拾取由於電容耦合所產生的信號的導電墊片和/或探針上的信號被實現。在一些示範性實施例中，信號在格柵線一端上的格柵線上被引發，以及被傳播信號的檢測透過電容耦合該格柵線與被放在該格柵線相對一端的探針或導電墊片被 決定。在一些示範性實施例中，信號在格柵線一端上的格柵線上被引發，以及被傳播信號的檢測如於此所述從交叉格柵線上的輸出被決定。交叉格柵線的輸出可透過取樣交叉格柵線以及/或者拾取被放在該等格柵線下面的探針和/或導電墊片上的電容耦合信號被檢測。被檢測的信號被使用於此上述的任一種方法分析。
現參考第18圖，其說明根據本發明的一些實施例的用於診斷一數位器感測器的一示範性的被簡化的機械測試裝置。根據本發明的一些實施例，測試裝置包括被連接到兩個探針的一機器人1852。在一些示範性實施例中，一探針1853被連接到一AC信號來源，以及被用來在一或多格柵線上引發經由探針與格柵線之間的電容耦合所產生信號。在一些示範性實施例中，其他探針1855被連接到一信號檢測器，以及被用來自格柵線拾取由於探針與格柵線之間的電容耦合所產生的信號。該機器人具有將兩個探針放在數位器感測器上並且控制經由探針的輸入和輸出的作用。在一些示範性實施例中，機器人將探針放在數位器感測器上的不同位置，並且不限於將探針放在導體的邊緣上。在一些示範性實施例中，兩個探針都被放在如第18圖所示的數位器感測器的互動表面上。選擇性地，至少其中的一個探針被放在數位器感測器的下面，在與數位器的互動表面相對的表面上。
在第18圖中，儘管機器人被顯示具有一個被連接到兩個探針的臂，在一些示範性實施例中，各個臂被連接到一 獨立臂並且可被單獨地控制。在一些示範性實施例中，該組態致能如於此所述的短路的檢測，因為檢測探針可被放在相鄰格柵線上。
在一些示範性實施例中，機器人透過沿感測器的導體移動探針連續地掃描整個感測器格柵。選擇性地，測試器包含一個以上的用於檢測在格柵線上被引發的信號的探針，因此若干格柵線的輸出可被同時地檢測。選擇性地，該測試裝置包含一個以上的用於在多數格柵線上同時引發信號的探針1853。選擇性地，該測試裝置包括一導電滾輪，以及該導電滾輪被用來使滾輪在沿感測器的一個軸滾動的同時在一或多格柵線上引發信號。
根據本發明的一些實施例，在數位器和/或數位器感測器上被執行的診斷測試針對不同的操作模式、不同的使用者以及/或者結合數位器運行的不同軟體應用程式被裁剪。在一些示範性實施例中，輸入信號的特性可針對不同的診斷測試被調整。在一些示範性實施例中，被用於診斷的輸入AC信號的振幅可針對特定的使用者被調整。在一些示範性實施例中，輸入信號的頻率被調整以與一特定種類的使用者互動(例如尖筆或手指觸摸)操作相適應。在一些示範性實施例中，在數位器上被執行的診斷測試根據結合數位器運行的特定軟體應用程式所需要的準確性被調整。
儘管本發明的實施例已參考如被概要地顯示在第1－3圖中的示範性格柵式數位器50被描述，但是值得注意的是，於此所述的本發明的實施例可被應用於觸摸螢幕和/或 其他電容格柵感測器。
術語“包含”、“包括”、“具有”以及其詞形變化的意思是“包括但並不限於”。
術語“由...組成”的意思是“包括且限於”。
術語“實質上由...組成”的意思是成分、方法或結構可包括額外的組成部分、步驟和/或部件，但是前提是該額外的組成部分、步驟和/或部件在實質上不改變所請專利範圍的成分、方法或結構的基本和新穎特性。
可理解的是，為清晰起見，在單獨實施例的上下文中所描述的本發明的某些特徵也可以被提供組合在一個單一的實施例中。相反，為簡潔起見，在一個單一實施例的上下文中所描述的本發明的各種特徵也可以單獨地被提供或在任何合適的子組合中或者是如在所描述的本發明的任何其他合適的實施例中被提供。在各種實施例的上下文中被描述的某些特徵不被認為是那些實施例的必要特徵，除非該實施例在缺少那些元件的情況下無法操作。
12‧‧‧感測器
16‧‧‧特定應用積體電路
20‧‧‧數位單元
22‧‧‧主機
23‧‧‧記憶體單元
24‧‧‧介面
25‧‧‧處理單元
26‧‧‧周邊線圈
30‧‧‧PCB
44‧‧‧尖筆
46‧‧‧指尖
50‧‧‧數位器
100‧‧‧數位器系統
221‧‧‧導電墊片和/或I/O終端
320‧‧‧架構
330‧‧‧玻璃基體
340‧‧‧硬表層
350‧‧‧平板顯示器(FPD)或液晶顯示器(LCD)
430‧‧‧信號
450‧‧‧耦合信號
451‧‧‧零值信號
490‧‧‧接面
510~590‧‧‧流程步驟
610‧‧‧零值信號
620‧‧‧輸入信號
650‧‧‧信號
660‧‧‧切口
710~790‧‧‧流程步驟
820‧‧‧信號
850‧‧‧零值信號
860‧‧‧信號
905~940‧‧‧流程步驟
1010~1014‧‧‧差動放大器
1020‧‧‧信號
1030‧‧‧信號
1035‧‧‧信號
1050‧‧‧格柵線
1055‧‧‧格柵線
1090‧‧‧差動放大器輸出線
1111‧‧‧接地端
1210~1260‧‧‧流程步驟
1310~1390‧‧‧流程步驟
1405~1450‧‧‧流程步驟
1521‧‧‧測試平台
1522‧‧‧測試平台表面
1523‧‧‧導電墊片
1524‧‧‧探針
1710~1740‧‧‧流程步驟
1852‧‧‧機器人
1853‧‧‧探針
1855‧‧‧探針
第1圖說明根據本發明的一些實施例的一數位器系統的一示範性簡化方塊圖；第2圖說明根據本發明的一些實施例的一被簡化的數位器的感測器格柵的一俯視圖；第3圖說明根據本發明的一些實施例的被平鋪在一顯示器上的數位器的一簡化截面圖；第4A－4D圖根據本發明的一些實施例說明在感測器格 柵與周圍電路之間的電氣連接的自診斷期間至一感測器格柵的樣本輸入信號和一感測器格柵的樣本輸出信號；第5圖顯示根據本發明的一些實施例的用於一數位器在一感測器格柵上自診斷被斷開連接的格柵線的一示範性方法的一簡化流程圖；第6A－6B圖根據本發明的一些實施例說明在一或多感測器格柵線中的中斷的自診斷期間至一感測器格柵的樣本輸入信號和一感測器格柵的樣本輸出信號；第7圖顯示根據本發明的一些實施例的用於檢測在一感測器格柵線中的中斷的一示範性方法的一簡化流程圖；第8A－8B圖根據本發明的一些實施例說明在一感測器格柵中的相鄰格柵線間的短路和/或串音診斷期間至一感測器格柵的樣本輸入信號和一感測器格柵的樣本輸出信號；第9圖顯示根據本發明的一些實施例的用於檢測在一感測器格柵中的相鄰格柵線間的短路和/或串音的一示範性方法的一簡化流程圖；第10圖顯示根據本發明的一些實施例的包括成對被輸入到差動放大器的感測器格柵線的一被簡化的示範性感測器格柵；第11A－11B圖根據本發明的一些實施例說明在感測器格柵與周圍電路間的電氣連接的自診斷期間與該感測器格柵相關連的差動放大器的樣本輸出信號；第12圖顯示根據本發明的一些實施例的用於檢測在一 感測器格柵上且被輸入到差動放大器的格柵線的操作特性的一示範性方法的一簡化流程圖；第13圖顯示根據本發明的一些實施例的用於檢測圍繞一感測器格柵的一激勵線圈的操作特性的一示範性方法的一簡化流程圖；第14圖顯示根據本發明的一些實施例的一示範性自診斷方法的一簡化流程圖；第15A-15C圖說明根據本發明的一些實施例的示範性的被簡化的測試平台；第16圖說明根據本發明的一些實施例的被放在一示範性的被簡化的測試平台上的一示範性的被簡化的數位器的一截面圖；第17圖顯示根據本發明的一些實施例的用於使用一測試平台診斷一數位器感測器的操作特性的一示範性方法的一簡化流程圖；以及第18圖說明根據本發明的一些實施例的用於診斷一數位器感測器的一示範性的被簡化的機械測試裝置。
12‧‧‧感測器
16‧‧‧特定應用積體電路
20‧‧‧數位單元
22‧‧‧主機
23‧‧‧記憶體單元
24‧‧‧介面
25‧‧‧處理單元
26‧‧‧周邊線圈
30‧‧‧PCB
44‧‧‧尖筆
46‧‧‧指尖
50‧‧‧數位器
100‧‧‧數位器系統

Claims (35)

  1. 一種用於測試電容式數位器以決定該數位器的電氣連接的瑕疵的方法，其中該數位器包括一自一第一組平行導電元件及一第二組平行導電元件形成的感測器格柵，其中該第二組係與該第一組正交地放置以形成該感測器格柵，且其中該等第一及第二組之所有導電元件係彼此電氣絕緣，該方法包含以下步驟：在該感測器格柵的一或多個第一導電元件上提供一輸入信號；根據在該一或多個第一導電元件中的該輸入信號，檢測在該感測器格柵的多個導電元件中的輸出信號；以及基於該等輸出信號決定該感測器的電氣連接的一瑕疵，其中至少該提供、檢測及決定係藉由該數位器自主地執行；以及基於該等輸出信號識別具有電氣連接之該瑕疵的該感測器的一導電元件。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中用於測試一數位器以決定該數位器的電氣連接的一瑕疵的該方法係在使用者沒有與該數位器互動的情況下執行。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中該方法係藉由該數位器的韌體執行。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中該等輸出信號係從與提供該輸入信號的該一或多個第一導電元件正 交地放置的導電元件檢測。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中該等輸出信號係從與提供該輸入信號的該一或多個第一導電元件平行的導電元件檢測。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中該等輸出信號係受到該感測器格柵的該一或多個第一導電元件與該等多個第二導電元件間的電容耦合的影響。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中該等輸出信號係受到在該第一組平行導電元件與該第二組平行導電元件之間形成的格柵接面處的電容耦合的影響。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中成對的平行導電元件係輸入到差動放大器且其中來自該等差動放大器的輸出係取樣以產生來自該感測器格柵的該等輸出信號。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之方法，其包含將一差動放大器的一第一輸入接地，以檢測在該差動放大器的一第二輸入上傳播的一信號。
  10. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其包含以下步驟：在該第一組平行導電元件上提供一輸入信號；以及檢測來自該第二組平行導電元件的輸出信號。
  11. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中該輸入信號是一交流(AC)信號。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之方法，其中該輸入信號係以使用者在與該數位器手指檢測互動中所使用的一頻 率提供。
  13. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中檢測包括比較來自該感測器格柵的該等輸出信號的振幅與一預定義臨界值。
  14. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中檢測包括比較來自該感測器格柵的該等輸出信號在一預定義頻帶中的能量與一預定義臨界值。
  15. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中檢測包括比較該感測器格柵的該等輸出信號與該輸入信號的特性。
  16. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其包含以下步驟：比較該等輸出信號中的每一者的振幅與該等輸出信號的一平均振幅。
  17. 如申請專利範圍第16項所述之方法，其包含以下步驟：比較該等輸出信號中的每一者的振幅與該等輸出信號的該平均振幅的一標準差。
  18. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其包含以下步驟：決定該感測器格柵的導電元件與該數位器的電路間的連接。
  19. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其包含以下步驟：檢測一在該感測器格柵的導電元件中的電氣中斷。
  20. 如申請專利範圍第19項所述之方法，其包含以下步驟：在該感測器格柵的一第一導電元件的一第一端上提供一AC輸入信號，該第一導電元件包括一第一端及一第二端； 取樣來自與該第二端最接近的該第一導電元件交叉的至少一第二導電元件的一輸出信號；比較該輸出信號與一臨界值；以及根據小於該臨界值的輸出信號決定該第一導電元件包括該電氣中斷。
  21. 如申請專利範圍第19項所述之方法，其包含沿該有瑕疵的導電元件決定該電氣中斷的一位置。
  22. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其包含以下步驟：決定該感測器格柵的格柵線間的串音。
  23. 如申請專利範圍第22項所述之方法，其包含以下步驟：在該感測器格柵的該第一導電元件上提供一AC輸入信號；取樣來自與該第一導電元件平行的一相鄰導電元件的一輸出信號；比較該輸出信號與一臨界值；以及根據經取樣且大於該臨界值的該等輸出信號，決定在提供一輸入信號的該第一導電元件與該相鄰導電元件之間存在串音。
  24. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其包含以下步驟：決定該感測器格柵的導電元件間的短路。
  25. 如申請專利範圍第24項所述之方法，其包含以下步驟：在該感測器格柵的一第一導電元件上提供一AC輸入信號；取樣來自與該第一導電元件平行的相鄰導電元件 的輸出信號；比較該等輸出信號與一臨界值；以及根據來自該等相鄰導電元件中之一者且大於該臨界值的一輸出信號，決定傳送一輸入信號的該第一導電元件與該等相鄰導電元件中之一者間存在一短路。
  26. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其包含以下步驟：決定在該感測器格柵的格柵線間的不平衡。
  27. 如申請專利範圍第26項所述之方法，其包含以下步驟：在該感測器格柵的該第一導電元件上提供一AC輸入信號；取樣來自具有來自與該第一導電元件交叉的二平行導電元件的輸入的至少一差動放大器的一輸出信號；比較該輸出信號與一臨界值；以及根據大於該臨界值的該輸出信號，決定作為對該差動放大器的輸入的該等二平行導電元件間存在不平衡。
  28. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其包含以下步驟：向與該數位器相關連的一主機報告所決定的電氣連接之該瑕疵。
  29. 如申請專利範圍第28項所述之方法，其包含以下步驟：向與該主機互動的一使用者報告所決定的電氣連接之該瑕疵。
  30. 如申請專利範圍第28項所述之方法，其包含以下步驟：決定該感測器格柵是否是可操作的，以及報告該感測器格柵的操作性。
  31. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其包含以下步驟：補償該數位器的至少一故障特性。
  32. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中該等第一及第二組平行導電元件中之每一者之該等導電元件係格柵線。
  33. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中所檢測的電氣連接的該瑕疵包括沿該測器格柵之該導電元件之一中斷，及該感測器格柵之二導電元件間之一短路及該感測器格柵之導電元件間之串音中之至少一者。
  34. 一種用於測試包括激勵線圈之數位器的方法，該激勵線圈係組配來觸發供使用者用於與該數位器互動的一物件的電路以自決定該激勵線圈的一操作特性，其中該數位器包括一感測器格柵，該方法包含以下步驟：在該激勵線圈中提供一AC信號，該激勵線圈至少部分地環繞該感測器格柵，該激勵線圈係組配來用於在至少一激勵頻率傳送一激勵信號；取樣來自該感測器格柵的至少一格柵線的輸出；以及根據來自該至少一格柵線且大於一第一臨界值的輸出，決定該激勵線圈至少在一端係連接到連接電路。
  35. 如申請專利範圍第34項所述之方法，其包含以下步驟：根據來自該至少一格柵線且大於一第二臨界值的輸出，決定該激勵線圈在兩端係連接到連接電路，以及在該激勵線圈的至少一激勵頻率處顯示出一峰值。
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Families Citing this family (63)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1043264C (zh) * 1993-10-08 1999-05-05 太嗔企业有限公司 吊扇叶片
TWI439705B (zh) 2007-07-26 2014-06-01 N trig ltd 用於診斷格柵式數位器之系統與方法
US9367166B1 (en) * 2007-12-21 2016-06-14 Cypress Semiconductor Corporation System and method of visualizing capacitance sensing system operation
US8692777B2 (en) * 2008-02-08 2014-04-08 Apple Inc. Method for rapidly testing capacitance sensing array fault conditions using a floating conductor
US8514203B2 (en) * 2008-04-30 2013-08-20 Apple Inc. Flexible calibration device for touch sensor panel calibration
US20100060592A1 (en) * 2008-09-10 2010-03-11 Jeffrey Traer Bernstein Data Transmission and Reception Using Optical In-LCD Sensing
KR20110067039A (ko) * 2008-09-24 2011-06-20 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 컴파니 상호 정전용량 측정 회로 및 방법
US9417739B2 (en) * 2009-05-29 2016-08-16 3M Innovative Properties Company High speed multi-touch touch device and controller therefor
JP2010286981A (ja) * 2009-06-10 2010-12-24 Sanyo Electric Co Ltd 静電容量型タッチセンサ用の信号処理回路
US8482544B2 (en) * 2009-07-10 2013-07-09 Apple Inc. Negative pixel compensation
US8664548B2 (en) * 2009-09-11 2014-03-04 Apple Inc. Touch controller with improved diagnostics calibration and communications support
US9753586B2 (en) * 2009-10-08 2017-09-05 3M Innovative Properties Company Multi-touch touch device with multiple drive frequencies and maximum likelihood estimation
US8773366B2 (en) * 2009-11-16 2014-07-08 3M Innovative Properties Company Touch sensitive device using threshold voltage signal
US8411066B2 (en) * 2010-01-05 2013-04-02 3M Innovative Properties Company High speed noise tolerant multi-touch touch device and controller therefor
JP2011170616A (ja) * 2010-02-18 2011-09-01 On Semiconductor Trading Ltd 静電容量型タッチセンサ
JP5424209B2 (ja) * 2010-04-22 2014-02-26 株式会社ジャパンディスプレイ タッチパネル、および表示装置
WO2011149750A2 (en) 2010-05-25 2011-12-01 3M Innovative Properties Company High speed low power multi-touch touch device and controller therefor
CN101976161A (zh) * 2010-07-27 2011-02-16 苏州瀚瑞微电子有限公司 电容触摸屏检测方法
US9389724B2 (en) 2010-09-09 2016-07-12 3M Innovative Properties Company Touch sensitive device with stylus support
US10019119B2 (en) 2010-09-09 2018-07-10 3M Innovative Properties Company Touch sensitive device with stylus support
US9823785B2 (en) 2010-09-09 2017-11-21 3M Innovative Properties Company Touch sensitive device with stylus support
US9851849B2 (en) 2010-12-03 2017-12-26 Apple Inc. Touch device communication
US9652077B2 (en) * 2010-12-09 2017-05-16 T-Mobile Usa, Inc. Touch screen testing platform having components for providing conductivity to a tip
US10120474B2 (en) 2010-12-09 2018-11-06 T-Mobile Usa, Inc. Touch screen testing platform for engaging a dynamically positioned target feature
TWI478018B (zh) * 2011-01-21 2015-03-21 Egalax Empia Technology Inc 觸控面板感測器斷線檢測方法及裝置
KR101239103B1 (ko) * 2011-04-19 2013-03-06 주식회사 동부하이텍 차동 신호 처리를 이용한 터치스크린 컨트롤러
US8810532B2 (en) * 2011-04-22 2014-08-19 Pixart Imaging, Inc. In-situ detection of touchscreen panel shorts
CA2776085A1 (en) * 2011-05-16 2012-11-16 Research In Motion Limited Apparatus, and associated method, for testing a touch sensing device
CN108762577A (zh) 2011-10-18 2018-11-06 卡内基梅隆大学 用于分类触敏表面上的触摸事件的方法和设备
CN102508105B (zh) * 2011-11-22 2014-03-05 汕头超声显示器（二厂）有限公司 一种采用近场检测电容触摸屏的方法
TWI599936B (zh) * 2011-12-19 2017-09-21 禾瑞亞科技股份有限公司 電容式書寫裝置
TW201335822A (zh) * 2012-02-24 2013-09-01 Elan Microelectronics Corp 可排除充電雜訊的觸控面板驅動方法
CN102760020B (zh) * 2012-06-29 2015-12-02 华为终端有限公司 一种检测电容式触摸屏的方法、装置和移动终端
KR101628724B1 (ko) * 2012-11-13 2016-06-09 엘지디스플레이 주식회사 터치스크린 일체형 표시장치
US8890841B2 (en) 2013-03-13 2014-11-18 3M Innovative Properties Company Capacitive-based touch apparatus and method therefor, with reduced interference
KR20140114766A (ko) 2013-03-19 2014-09-29 퀵소 코 터치 입력을 감지하기 위한 방법 및 장치
US9612689B2 (en) 2015-02-02 2017-04-04 Qeexo, Co. Method and apparatus for classifying a touch event on a touchscreen as related to one of multiple function generating interaction layers and activating a function in the selected interaction layer
US9013452B2 (en) 2013-03-25 2015-04-21 Qeexo, Co. Method and system for activating different interactive functions using different types of finger contacts
US9323358B2 (en) * 2013-04-30 2016-04-26 Google Inc. Correcting location errors in tactile input device
KR102111032B1 (ko) 2013-08-14 2020-05-15 삼성디스플레이 주식회사 터치 감지 표시 장치
US9486713B2 (en) * 2013-08-23 2016-11-08 Evollve, Inc. Robotic activity system using position sensing
WO2015047357A1 (en) * 2013-09-28 2015-04-02 Rinand Solutions Llc Compensation for nonlinear variation of gap capacitance with displacement
US9164136B2 (en) * 2013-12-02 2015-10-20 Atmel Corporation Capacitive measurement circuit for a touch sensor device
WO2015200025A1 (en) * 2014-06-25 2015-12-30 T-Mobile Usa, Inc. Touch screen testing platform having components for providing conductivity to a tip
US9329715B2 (en) 2014-09-11 2016-05-03 Qeexo, Co. Method and apparatus for differentiating touch screen users based on touch event analysis
US11619983B2 (en) 2014-09-15 2023-04-04 Qeexo, Co. Method and apparatus for resolving touch screen ambiguities
US10606417B2 (en) 2014-09-24 2020-03-31 Qeexo, Co. Method for improving accuracy of touch screen event analysis by use of spatiotemporal touch patterns
US10712858B2 (en) * 2014-09-25 2020-07-14 Qeexo, Co. Method and apparatus for classifying contacts with a touch sensitive device
US10282024B2 (en) 2014-09-25 2019-05-07 Qeexo, Co. Classifying contacts or associations with a touch sensitive device
US9465478B2 (en) * 2014-10-17 2016-10-11 Inputek Co., Ltd. Driving algorithm on projected capacitance touch
CN105093025B (zh) * 2015-08-18 2019-01-22 深圳市华星光电技术有限公司 In Cell触控显示面板的检测电路及检测方法
US10642404B2 (en) 2015-08-24 2020-05-05 Qeexo, Co. Touch sensitive device with multi-sensor stream synchronized data
CN105116276B (zh) * 2015-09-15 2019-03-01 深圳市华星光电技术有限公司 一种电容屏的检测装置
JP7156893B2 (ja) * 2018-02-22 2022-10-19 株式会社ワコム 位置検出回路及び位置検出方法
US11009989B2 (en) 2018-08-21 2021-05-18 Qeexo, Co. Recognizing and rejecting unintentional touch events associated with a touch sensitive device
US10921943B2 (en) 2019-04-30 2021-02-16 Apple Inc. Compliant material for protecting capacitive force sensors and increasing capacitive sensitivity
US10942603B2 (en) 2019-05-06 2021-03-09 Qeexo, Co. Managing activity states of an application processor in relation to touch or hover interactions with a touch sensitive device
US11231815B2 (en) 2019-06-28 2022-01-25 Qeexo, Co. Detecting object proximity using touch sensitive surface sensing and ultrasonic sensing
US11856678B2 (en) 2019-10-29 2023-12-26 Senic Inc. Method of measuring a graphite article, apparatus for a measurement, and ingot growing system
US11592423B2 (en) 2020-01-29 2023-02-28 Qeexo, Co. Adaptive ultrasonic sensing techniques and systems to mitigate interference
JP7266906B2 (ja) * 2020-08-31 2023-05-01 セニック・インコーポレイテッド 黒鉛含有物品の測定方法、測定装置及びインゴット成長システム
US11592946B1 (en) 2021-09-21 2023-02-28 Apple Inc. Capacitive gap force sensor with multi-layer fill
WO2023151787A1 (en) * 2022-02-09 2023-08-17 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Method and apparatus for adapting operation of a device to touch-sensor malfunctions

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5880411A (en) * 1992-06-08 1999-03-09 Synaptics, Incorporated Object position detector with edge motion feature and gesture recognition
US5420500A (en) * 1992-11-25 1995-05-30 Hewlett-Packard Company Pacitive electrode system for detecting open solder joints in printed circuit assemblies
US5956020A (en) * 1995-07-27 1999-09-21 Microtouch Systems, Inc. Touchscreen controller with pen and/or finger inputs
US6690156B1 (en) * 2000-07-28 2004-02-10 N-Trig Ltd. Physical object location apparatus and method and a graphic display device using the same
US20020091493A1 (en) * 2001-01-05 2002-07-11 Christopher Gary L. Apparatus and a method for determining an electrical state of a pushbutton switch in an electronic system
EP1382937A4 (en) * 2001-04-27 2009-11-11 Panasonic Corp METHOD FOR EXTRACTING SIGNIFICANT SIGNAL, RECORDING MEDIUM AND PROGRAM THEREOF
JP3800984B2 (ja) 2001-05-21 2006-07-26 ソニー株式会社 ユーザ入力装置
US7463246B2 (en) * 2002-06-25 2008-12-09 Synaptics Incorporated Capacitive sensing device
EP2388770A1 (en) * 2002-08-29 2011-11-23 N-Trig Ltd. Digitizer stylus
US7372455B2 (en) * 2003-02-10 2008-05-13 N-Trig Ltd. Touch detection for a digitizer
US7236161B2 (en) * 2003-03-21 2007-06-26 3M Innovative Properties Company Remote touch simulation systems and methods
JP4186961B2 (ja) * 2004-10-26 2008-11-26 セイコーエプソン株式会社 自発光装置、その駆動方法、画素回路および電子機器
DE102005035746B4 (de) * 2005-07-29 2010-02-18 Siemens Ag Verfahren zur Bestimmung einer Relativposition einer mobilen Einheit durch Vergleich von Scans einer Umgebung und mobile Einheit
US7916127B2 (en) * 2006-02-27 2011-03-29 Texas Instruments Incorporated Method and circuitry for self testing of connectivity of touch screen panel
WO2007135663A1 (en) * 2006-05-19 2007-11-29 N-Trig Ltd. Variable capacitor array
US7920129B2 (en) * 2007-01-03 2011-04-05 Apple Inc. Double-sided touch-sensitive panel with shield and drive combined layer
US8253425B2 (en) * 2007-05-08 2012-08-28 Synaptics Incorporated Production testing of a capacitive touch sensing device
TWI439705B (zh) 2007-07-26 2014-06-01 N trig ltd 用於診斷格柵式數位器之系統與方法

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