TWI439071B - 用以測試射頻接收器以提供功率校正資料之方法 - Google Patents

Description

用以測試射頻接收器以提供功率校正資料之方法 發明領域

本發明係關於射頻(RF)接收器之測試，並且尤其是，關於測試射頻接收器以進行更快之功率量測及校正之技術。

發明背景

多數射頻接收器，包括無線射頻接收器，使用一輸入濾波器，一般是一帶通濾波器，以提供頻帶選擇性。這濾波器使將另外在接收器之內被接收和被處理的頻帶外信號衰減，且因而使用接收器資源於非所需信號，並可能阻止所需的頻帶內信號之適當的處理。這些濾波器一般具有在所需頻率範圍之外的相對急劇下降的高品質係數(高Q)，亦即，相對於頻率之頻率衰減。但是，如在本技術中所習知，如此高Q的濾波器一般在整體的頻率通帶中具有衰減漣波紋。此漣波紋通常在所需之頻帶可能是超過一分貝(dB)或是更多。

參看第1圖，其是利用兩條響應曲線1、2表示此一濾波器之一典型的頻率響應。上方響應曲線1展示相關於左方垂直軸之衰減，而下方曲線2是相關於右方垂直軸之“上方曲線1放大”之圖示。此變化將影響接收器之操作，因為在差量頻率所接收之信號在輸入(例如，天線)以及基頻信號處理器之間將具有不同的接收路線損失。因此，其通常需要進行系統校正以確保所接收之功率在相關頻帶之上是固定的。這在使用功率控制並且同時支援多數個使用者之數位信號系統中尤其是重要的。於此系統中，所接收之功率必須精確地被報告以使系統可靠地作用。

傳統上，這校正型式包括提供一習知的信號至接收器前端並且量測在一所給予的頻率所接收之功率。例如，一習知的功率位準將自以連續波形(CW)信號或一封包為基礎之信號型式的一信號源(例如，一測試儀器)被發送。被接收之信號將針對功率被分析，並且一增益偏移係數將被施加且被儲存在該系統中，因而在該頻率之功率可在未來正確地被報告。有利地，尤其是，藉由現代數位接收器，此些功率計算可在待測裝置(DUT)內部被執行，因而允許該待測裝置不必進一步地與該測試儀器互動而進行所需的校準補償，而不是改變輸入頻率。因此，測試時間一般是受制於測試儀器之控制，以便確保輸入信號功率(如由測試儀器所提供)是穩定的且是在正確的頻率，例如，就信號功率和頻率而論，允許足夠的時間用於穩定。

另外地，在一分時雙工(TDD)系統中，對於濾波器漣波紋之補償可藉由從待測裝置之發送器發送出功率以及量測此發送功率而被校準。於一分頻雙工(FDD)系統中，例如，一行動電話系統中，其一般必須對於發送和接收功能兩者皆進行校準。

除了頻帶選擇濾波器的校準之外(其一般是可以單一功率位準被完成)，通常也是需要校準所接收的信號強度指示(RSSI)操作。這將同時也涉及頻帶選擇濾波器校準，因為其將需要補償因頻帶選擇濾波器所引介之損失變異，而同時也校準接收器增益線性以確保在頻率(由於該頻帶選擇濾波器漣波紋)以及輸入功率位準兩者之上所報告之接收信號強度指示(RSSI)是正確的。一般，其製作是相似於上面所述，其中一已知的功率藉由一參考源(例如，一測試儀器)被提供並且該待測裝置將依據該已知的輸入功率位準而產生一校正係數。如前所述，因為多數接收量測可在待測裝置內部被執行，對於這校準型式之測試時間一般也是受制於測試設備之速率。

於習見的測試技術中，一信號產生器被使用而以每次一頻率之方式，提供一已知功率位準之信號至待測裝置。雖然這一般因為複製正常系統操作而被完成，其同時也依據傳統射頻測試設備機構。對於快速測試時間，此儀器安裝必須能夠快速地改變頻率，其涉及在穩定時間以及系統相位雜訊性能之間的折衷。一般，相位雜訊性能可因穩定時間之花費而被改進。於現代數位通訊系統中，例如，依高調變精確度需求，這可能是不確定的且需要更昂貴的測試設備。

發明概要

依據本發明，提供一種藉由一個或多個測試儀器以測試作為一待測裝置之一射頻接收器而提供多數個相對功率校正係數、多數個接收信號強度指示(RSSI)校正係數、或其兩者之方法。

依據本發明之一實施例，一種藉由一個或多個測試儀器以測試作為一待測裝置(DUT)之一射頻(RF)接收器而提供多數個相對功率校正係數之方法，該方法包括下列步驟：藉由該等一個或多個測試儀器，發送包含多數個副載波信號之一寬頻信號，該等副載波信號各具有一個或多個預定功率位準之一個別的位準且以多數個頻率之一個別的一者為中心；以該待測裝置接收該寬頻信號；選擇該等多數個副載波信號之個別的一者；量測該等多數個副載波信號之各該等被選擇之個別的一者之一功率位準，以提供多數個功率位準量測之一對應的一者；比較各該等多數個功率位準量測與該等一個或多個預定功率位準之一對應的一者，以提供該等多數個相對功率校正係數之一對應的一者；並且儲存供該待測裝置使用之該等多數個相對功率校正係數。

依據本發明另一實施例，一種藉由一個或多個測試儀器以測試作為一待測裝置(DUT)之一射頻(RF)接收器而提供多數個接收信號強度指示(RSSI)校正係數之方法，該方法包括下列步驟：藉由該等一個或多個測試儀器，發送包含多數個副載波信號之一寬頻信號，該等副載波信號各具有多數個預定功率位準之一個別的位準且以多數個頻率之一個別的一者為中心；以該待測裝置接收該寬頻信號；選擇該等多數個副載波信號之個別的一者；量測該等多數個副載波信號之各該等被選擇之個別的一者之一功率位準，以提供多數個功率位準量測之一對應的一者；比較各該等多數個功率位準量測與該等多數個預定功率位準之一對應的一者，以提供該等多數個接收信號強度指示校正係數之一對應的一者；以及儲存供該待測裝置使用之該等多數個接收信號強度指示校正係數。

依據本發明另一實施例，一種藉由一個或多個測試儀器以測試作為一待測裝置之一射頻接收器以提供多數個相對功率校正係數以及多數個接收信號強度指示(RSSI)校正係數之方法，該方法包括下列步驟：藉由該等一個或多個測試儀器，發送包含多數個副載波信號之一寬頻信號，該等副載波信號各具有多數個預定功率位準之一個別的位準且以多數個頻率之一個別的一者為中心；以該待測裝置接收該寬頻信號；選擇該等多數個副載波信號之個別的一者；量測該等多數個副載波信號之各該等被選擇之個別的一者之一功率位準，以提供多數個功率位準量測之一對應的一者；比較各該等多數個功率位準量測與該等一個或多個預定功率位準之一對應的一者，以提供該等多數個相對功率校正係數之一對應的一者以及該等多數個接收信號強度指示校正係數之一對應的一者；以及儲存供該待測裝置使用之該等多數個相對功率校正係數以及接收信號強度指示校正係數。

圖式簡單說明

第1圖是表面聲波(SAW)濾波器之一頻率響應範例圖形。

第2圖是依據本發明一實施範例之測試實作的功能方塊圖。

第3圖是依據本發明一實施範例用以測試一般待測裝置(DUT)之功能方塊圖。

第4-8圖展示依據本發明實施範例用以測試一待測裝置之各種輸入信號頻譜。

較佳實施例之詳細說明

下面的詳細說明是參考附圖之本發明實施範例。本說明將作為展示而不是限定本發明之相關範疇。此些實施例詳盡地被說明以使熟習本技術者能夠實施本發明，且應了解，本發明可具有一些變化的其他實施例被實施而不脫離本發明之精神或範疇。

本發明整體揭示，並不存在與本文對立的明確指示，可了解的是，如所述之個別的電路元件可以是單數的或多數的。例如，用詞“電路”和“電路系統”可包括單一構件或多數個構件，其可以是主動式及/或被動式並且可被連接或以不同的方式被耦合在一起(例如，一個或多個積體電路晶片)以提供所述之功能。另外地，用詞“信號”可以是相關於一個或多個電流、一個或多個電壓、或一資料信號。在圖形之內，相似或相關元件將具有相似或相關的字母、數字或文數字構成的指示符號。進一步地，雖然本發明在使用離散電子電路(最好是以一個或多個積體電路晶片形式)之實作文脈中被討論，此電路任何部份之功能可取決於將被處理之信號頻率或資料率，而選擇性地使用一個或多個適當地被規劃之處理器而被實作。

依據本發明，近代的數位-至-類比轉換器(DAC)以及向量信號產生器(VSG)之精密位準可以有利地被使用以實作具有大的基頻帶寬、以及寬的射頻調變帶寬之測試信號。因此，頻率改變可以基頻被實作，而不是以如傳統射頻合成器中之射頻被實作。因為此帶寬是比測試時所必需的較寬，其可能以單一固定射頻頻率而操作測試設備並且利用改變所產生的基頻頻率而改變所產生之頻率。在待測裝置之內的測試而論，這允許更快之頻率改變。

另外地，此寬基頻帶寬允許多數個-頻調基頻信號被產生。因此，具有在特定頻率之多數個頻調的寬頻信號可被產生。進一步地，可能控制這些頻調之個別的功率位準。因此，可能產生同時地在一所給予的頻帶之內提供所有必需的頻道(頻調)的功率之一寬頻信號。如果所有頻調具有相同功率位準，則不再需要提供在待測裝置以及測試儀器之間的同步化，因為其可能僅使待測裝置改變至所需頻道之其所選擇的輸入頻率、量測所接收的功率並且，在確認一有效功率量測之後，以另一個所需的頻率選擇而繼續。因此，測試和校準時間現在僅受限於待測裝置並且不再受限於測試儀器。

參看第2圖，依據本發明一實施範例之一測試以及校準實作例10包括待測裝置12、一個或多個測試儀器14以及一測試控制器(例如，一個人電腦)16。待測裝置12將在來自測試控制器16之一個或多個控制信號17a的控制之下自測試儀器14接收測試信號15，該測試控制器16同時也提供一個或多個控制信號17b至測試儀器14。雖該待測裝置12一般是一無線裝置，亦即，在正常操作期間以無線方式接收其之信號，來自測試儀器之測試信號15最好是有線的，亦即，經由一電纜線，以在測試期間確保以一已知的功率位準接收測試信號。用於待測裝置12之控制信號17a一般也是有線的，例如，經由通用串列匯流排(USB)或通用異步接收發送器(UART)。同樣地，用於測試儀器14之控制信號17b一般也是有線的，例如，經由USB、乙太網絡或一般用途之界面匯流排(GPIB)。

參看第3圖，依據本發明一實施範例，待測裝置12一般包括進行頻帶選擇操作之一輸入帶通濾波器22、一可變增益放大器24、一混頻器26以及用於執行降頻轉換之本地震盪器28、用於中間頻率(IF)過濾之另一帶通濾波器30、一ADC 32以及一基頻信號處理器34。(可容易了解，許多目前系統使用正交信號I、Q，其藉由混頻器26以及使用同相位及正交相位LO信號29的本地震盪器28被解調變，其中第二濾波器30將是供用於基頻正交信號I、Q並且可包括一些增益控制，其在接收信號通道中，於全部接收器雜訊圖形上將具有少量的衝擊)。控制器38自控制器16接收一個或多個控制信號17a，並且提供適當的控制信號38a、38b、38c、38d、38e，以供用於頻帶選擇濾波器22、放大器24、本地震盪器28、IF/基頻濾波器30(其中依據一個或多個控制信號38d使副載波選擇被進行)以及基頻信號處理器34。另外地，也包括記憶體36以供經由一界面37傳達待測裝置測試部份所產生的補償以及校準係數。

參看第4圖，依據本發明一實施範例，測試儀器14(第2圖)使用正交分頻多工(OFDM)調變而提供其之寬頻信號15以提供具有一預定頻率間隔之多數個頻調(或副載波)100、101、102、…、147。為這討論之目的，測試信號15是一GSM(移動式廣域系統)信號，應了解的是，依據本發明，其他型式的信號也可被使用。因此，頻道間隔，亦即，在該等頻調之間的頻率差量，是200千赫(kHz)，因而產生200千赫之頻網。各個副載波100、101、102、…、147具有相同的功率位準且各相鄰頻調之組對具有相同的200千赫頻率間隔，而以寬頻信號15展開至9.6兆赫(MHz)。個別副載波100、101、102、…、147的調變可以是簡單的CW調變或，如果需要的話，為遵循一GSM封包定義之調變，以及其兩者之組合。如上面所討論，待測裝置12具有能力以利用其之頻帶選擇濾波器22(第3圖)而選擇任何之副載波100、101、102、…、147，並且量測該等對應的副載波信號功率。因此，因為所有的副載波100、101、102、…、147是可同時地供用於選擇和量測，如果有的話也是極微地，在測試儀器14和待測裝置16之間需要同步化。一個小的程式或指令序列可在待測裝置12之內(例如，在控制器38之內)被執行以選擇一所需的副載波、量測其之功率、並且接著繼續選擇另一副載波以量測其之功率，等等。知曉各個被發送的副載波100、101、102、…、147之功率則能夠使待測裝置12計算適當的增益偏移、或校正，以使得待測裝置12報告任何量測副載波頻率之正確功率。應了解的是，對於那些不被選擇作為量測的副載波，適當的增益補償係數可依據習知技術取決於被量測者而被插補。

如果其需要在多數個功率位準而校準功率時，當已完成其目前功率位準之量測以及備妥以新的功率位準量測時，待測裝置12則通訊至測試控制器16。控制器16指示測試儀器14以改變其之測試信號15的功率位準，隨後接著控制器16將指示待測裝置12以新的功率位準開始量測。或者，在以目前功率位準發送經一預定時間之後，測試儀器14可改變其之測試信號15的功率位準。待測裝置12知曉到這時間區間，在開始以預期的新功率位準量測之前，將完成其之功率量測並且等待時間區間之結束，而允許有作為適於功率穩定之時間。

所有測試副載波100、101、102、…、147以相等之功率位準被發送後，由頻帶選擇濾波器22所提供的頻道選擇性於一些情況可能被關心。為這討論之目的，使用GSM說明，對於同頻干擾之參考干擾位準是+9dB，對於即時相鄰(200kHz)頻道干擾則是-9dB，而對於下一個相鄰(400kHz)頻道干擾則是-41dB，等等。因此，接收器將能夠使一個頻道之遠(200kHz)之一信號以18dB(+9dB-(-9dB)=18dB)而衰減。因此，即使所有頻調100、101、102、…、147具有相同功率位準，即時相鄰頻道之功率將僅提供最小的額外功率(例如，對於一相鄰的頻調是大約為0.07dB，或當考慮兩側上的相鄰頻調時則是大約為0.14dB)。此另外的功率，因此，一般可被忽視為非顯著的，尤其是，由於接收器將通常提供超出指定最低限度的頻道選擇性。在較遠的頻道上，抑制性甚至是較佳的(例如，50dB及更多)，因此應被檢測的功率差不多將是沒有改變。進一步地，如果CW頻調被使用，另外的衰減將是可預期的(因為由於調變而發生之延伸越過頻率的功率是不出現，並且，雖然相對窄的頻帶，也無法容易地被過濾)，因而進一步地改善其精確度。

參看第4圖，如果關心相鄰頻道影響，則使用OFDM之測試信號15的調變可被修改以降低相鄰頻道之功率。熟習本技術者可了解，一OFDM信號中之個別的副載波可被控制，以至於每個另一的副載波功率被降低，因而確保接收器於最接近的副載波有50dB或更多之衰減，並且其餘副載波甚至也有更大的衰減。依展示範例中之這調變型式，偶數副載波200、202、204、…、246保持最大功率位準，而奇數副載波201、203、205、…、247則顯著地被衰減，因而確保實際上不因奇數副載波201、203、205、…、247之功率而影響到偶數副載波200、202、204、…、246之量測功率。

雖然可能實際上移除奇數副載波201、203、205、…、247上的所有功率，可能仍然有一些功率將被引入，例如，來自如數位信號處理部份之量化誤差，或可能是來自在副載波以及IQ調變器中的IQ不符之間的相互調變。雖然使每個另一副載波失效應該防止自衰減的副載波被引介之直接相互調變產物，一些較高階的相互調變產物仍然可能被引入。另外地，寬頻信號15可被產生，以至於副載波可進一步地被分隔，例如，以400kHz分隔而不是前述的GSM標準之200kHz。

參考第5圖，其通常也需要在多數個輸入功率位準之上校準接收信號強度指示。利用習見的測試技術，當改變測試信號15之功率位準時，其將必須在待測裝置12和測試儀器14之間提供同步化。但是，依據本發明之實施範例，測試信號15包括具有不同功率位準的頻調。例如，奇數副載波301、303、305、…、347可被衰減，而偶數副載波300、302、304、…、347仍保持在高位準，但是可變更其功率位準。例如，副載波300、308等等可具有一第一功率位準(例如，最高的)，副載波302、310等等可具有一第二功率位準，副載波304、312等等可具有一第三功率位準，並且副載波306、314等等可具有一第四功率位準。待測裝置12可藉由量測具有一特定功率位準之對應的副載波而針對一所給予的功率位準進行其之功率校準。於這範例中，這將允許分開1.6MHz(8*200kHz)之副載波的功率量測，其仍可允許這增益變化量測之足夠的解析度。藉由進行各組對應的副載波之這校準，待測裝置12可完成其之量測以及校準而不需要如在改變用於依序量測的測試信號15之功率位準之前所必需與測試儀器14之同步或通訊。

參看第7圖，其不需要衰減所有的奇數副載波，並且一最佳功率分配可包括使跨越頻率測試頻帶之功率位準下降的重複序列。於這範例中，每7個副載波之中的一副載波不被使用，例如，副載波406、413等等實際上不具有功率。如果在相鄰副載波之間的功率變化是5dB，並且接收器可使相鄰頻率衰減18dB(如上面之討論)，這將導致正被測試之副載波之左邊信號有一最小為13dB之衰減，以及右邊信號有23dB的衰減。利用這些位準被引介之最差情況的誤差大約是0.23dB。對於許多RSSI校準需求，這是令人滿意的，因為RSSI報告之精確度通常是在2dB之內。進一步地，接收器將通常比指定的最小性能更佳地執行，尤其是使用CW副載波。更進一步地，對於最高的功率副載波(400、407、414等等)，利用自一相鄰副載波之功率被引入的誤差僅是0.02dB，因為左方之副載波實際上不具有功率並且右方之副載波已具有較低5dB的功率。這允許30dB的功率範圍僅延展越過7個副載波。當然，其他的功率分配亦可依所需被使用。

如上所提到的，相互調變和IQ不符可限制測試儀器14之可能的動態範圍，以及因此，一信號測試信號15可產生的動態範圍。如果一較大的動態範圍是所需的，則在一測試期間改變測試信號15之功率可能是必需的。雖然在此功率改變之前與之後可能使測試同步化，一另外的方法是使用一預定時間和功率關係。

參看第8圖，例如，測試儀器14可使用相似於第7圖之副載波分佈發送其之測試信號15，而在一第一時間區間T1-T2期間具有一第一峰值功率位準500，接在T1-T2之後的一時間區間T2-T3之期間，其中測試儀器14自第一峰值功率位準500改變其之測試信號15的峰值功率至一較低的峰值功率位準510。如在時間T3，這峰值功率位準510將穩定且可開始待測裝置12之測試。在第一時間區間T1-T2期間，待測裝置12將量測個別的副載波之功率(如上面之討論)，其後將等待直至時間T3再次以較低的峰值功率位準510開始測試。(功率位準520和530指示在它們個別的時間區間T1-T2、T3-T4期間的那些功率位準，其中由於測試儀器14中之相互調變、雜訊或IQ不符，精確功率量測可能是不容易的)。利用這型式的量測情節，在待測裝置12和測試儀器14之間可能是所需之僅有的同步化，將是當測試在時間T1首先開始時，在待測裝置12部份上之知識，在時間T1之後待測裝置12可保持著時間追蹤以及時地確保於時間T2前完成測試，之後接著在時間T3的測試以及在時間T4的測試完成，而避免在時間區間T2-T3期間之測試。

雖然CW副載波在上面所討論的範例(第4-8圖形)中被表示，應了解的是，各副載波可包括如待測裝置12所需的資料之封包形式的調變，以依據其之標準操作而量測功率。如所習知，使用一VSG提供複雜信號之產生，並且，因為用於測試目的之信號一般將是靜態的，測試信號之產生不需要即時地發生，但是可早些地被產生，而被儲存在記憶體中並且當需要時則簡易地自記憶體中被重放。

熟習本技術者應明白，本發明操作之結構和方法可有各種修改和變換，而不脫離本發明之範疇和精神。雖然本發明已配合特定較佳實施例被說明，應了解，本發明將不會不當地受限於此些特定實施例。下面的申請專利範圍將定義本發明之範疇以及在這些申請專利範圍之範疇內之結構與方法以及因此所涵蓋的它們等效者。

1、2．．．響應曲線

10．．．校準實作例

12．．．待測裝置

14．．．測試儀器

15．．．測試信號

16．．．測試控制器

17a、17b．．．控制信號

22．．．帶通濾波器

24．．．增益放大器

26．．．混頻器

28．．．本地震盪器

29．．．信號

30．．．帶通濾波器

32．．．ADC

34．．．基頻信號處理器

36．．．記憶體

37．．．界面

38．．．控制器

38a．．．控制信號

38b．．．控制信號

38c．．．控制信號

38d．．．控制信號

38e．．．控制信號

第1圖是表面聲波(SAW)濾波器之一頻率響應範例圖形。

第2圖是依據本發明一實施範例之測試實作的功能方塊圖。

第3圖是依據本發明一實施範例用以測試一般待測裝置(DUT)之功能方塊圖。

第4-8圖展示依據本發明實施範例用以測試一待測裝置之各種輸入信號頻譜。

10．．．校準實作例

12．．．待測裝置

14．．．測試儀器

15．．．測試信號

16．．．測試控制器

17a、17b．．．控制信號

Claims (17)

1. 一種藉由一個或多個測試儀器以測試作為一待測裝置之一射頻接收器而提供多數個相對功率校正係數之方法，該方法包括下列步驟：藉由該等一個或多個測試儀器，發送包含多數個副載波信號之一寬頻信號，該等副載波信號各具有一個或多個預定功率位準之一個別的位準且以多數個頻率之一個別的一者為中心頻率；以該待測裝置接收該寬頻信號；選擇該等多數個副載波信號之個別的一者；量測該等多數個副載波信號之各該等被選擇之個別的一者之一功率位準，以提供多數個功率位準量測之一對應的一者；比較各該等多數個功率位準量測與該等一個或多個預定功率位準之一對應的一者，以提供該等多數個相對功率校正係數之一對應的一者；並且儲存供該待測裝置使用之該等多數個相對功率校正係數。
2. 如申請專利範圍第1項之方法，其中該藉由該等一個或多個測試儀器，發送包含多數個副載波信號之一寬頻信號，該等副載波信號各具有一個或多個預定功率位準之一個別的一位準且以多數個頻率之一個別的一者為中心頻率之步驟，包括發送一寬頻信號，該寬頻信號含具有大致彼此相等的功率位準之多數個副載波信號。
3. 如申請專利範圍第1項之方法，其中該藉由該等一個或多個測試儀器，發送包含多數個副載波信號之一寬頻信號，該等副載波信號各具有一個或多個預定功率位準之一個別的一位準且以多數個頻率之一個別的一者為中心頻率之步驟，包括發送一寬頻信號，該寬頻信號含具有彼此不相等的功率位準之彼此相鄰者的多數個副載波信號。
4. 如申請專利範圍第1項之方法，其中該藉由該等一個或多個測試儀器，發送包含多數個副載波信號之一寬頻信號，該等副載波信號各具有一個或多個預定功率位準之一個別的一位準且以多數個頻率之一個別的一者為中心頻率之步驟，包括發送一寬頻信號，該寬頻信號含具有個別的多數個彼此不相等的功率位準之彼此相鄰部份的多數個副載波信號。
5. 如申請專利範圍第1項之方法，其中該藉由該等一個或多個測試儀器，發送包含多數個副載波信號之一寬頻信號，該等副載波信號各具有一個或多個預定功率位準之一個別的一位準且以多數個頻率之一個別的一者為中心頻率之步驟，包括發送一寬頻信號，該寬頻信號含具有彼此相鄰部份之多數個副載波信號，該等部份各包括一其次多數個副載波信號，該等其次多數個副載波信號則具有一最大功率位準、一最小功率位準、以及在該等最大與最小功率位準之中及之間的一個或多個功率位準。
6. 如申請專利範圍第1項之方法，其中該藉由該等一個或多個測試儀器，發送包含多數個副載波信號之一寬頻信號，該等副載波信號各具有一個或多個預定功率位準之一個別的一位準且以多數個頻率之一個別的一者為中心頻率之步驟，包括藉由該等一個或多個測試儀器發送一寬頻信號，該寬頻信號含有各以大致相等的頻率差量被分開之彼此相鄰的多數個副載波信號。
7. 一種藉由一個或多個測試儀器以測試作為一待測裝置之一射頻接收器而提供多數個接收信號強度指示校正係數之方法，該方法包括下列步驟：藉由該等一個或多個測試儀器，發送包含多數個副載波信號之一寬頻信號，該等副載波信號各具有多數個預定功率位準之一個別的一位準且以多數個頻率之一個別的一者為中心頻率；以該待測裝置接收該寬頻信號；選擇該等多數個副載波信號之個別的一者；量測該等多數個副載波信號之各該等被選擇之個別的一者之一功率位準，以提供多數個功率位準量測之一對應的一者；比較各該等多數個功率位準量測與該等多數個預定功率位準之一對應的一者，以提供該等多數個接收信號強度指示校正係數之一對應的一者；以及儲存供該待測裝置使用之該等多數個接收信號強度指示校正係數。
8. 如申請專利範圍第7項之方法，其中該藉由該等一個或多個測試儀器，發送包含多數個副載波信號之一寬頻信號，該等副載波信號各具有一個或多個預定功率位準之一個別的一位準且以多數個頻率之一個別的一者為中心頻率之步驟，包括發送一寬頻信號，該寬頻信號含具有彼此不相等的功率位準之彼此相鄰者的多數個副載波信號。
9. 如申請專利範圍第7項之方法，其中該藉由該等一個或多個測試儀器，發送包含多數個副載波信號之一寬頻信號，該等副載波信號各具有一個或多個預定功率位準之一個別的一位準且以多數個頻率之一個別的一者為中心頻率之步驟，包括發送一寬頻信號，該寬頻信號含具有個別的多數個彼此不相等的功率位準之彼此相鄰部份的多數個副載波信號。
10. 如申請專利範圍第7項之方法，其中該藉由該等一個或多個測試儀器，發送包含多數個副載波信號之一寬頻信號，該等副載波信號各具有一個或多個預定功率位準之一個別的一位準且以多數個頻率之一個別的一者為中心頻率之步驟，包括發送一寬頻信號，該寬頻信號含具有彼此相鄰部份之多數個副載波信號，該等部份各包括一其次多數個副載波信號，該等其次多數個副載波信號則具有一最大功率位準、一最小功率位準、以及在該等最大與最小功率位準之中及之間的一個或多個功率位準。
11. 如申請專利範圍第7項之方法，其中該藉由該等一個或多個測試儀器，發送包含多數個副載波信號之一寬頻信號，該等副載波信號各具有一個或多個預定功率位準之一個別的一位準且以多數個頻率之一個別的一者為中心頻率之步驟，包括藉由該等一個或多個測試儀器發送一寬頻信號，該寬頻信號含有各以大致相等的頻率差量被分開之彼此相鄰的多數個副載波信號。
12. 一種藉由一個或多個測試儀器以測試作為一待測裝置之一射頻接收器以提供多數個相對功率校正係數以及多數個接收信號強度指示校正係數之方法，該方法包括下列步驟：藉由該等一個或多個測試儀器，發送包含多數個副載波信號之一寬頻信號，該等副載波信號各具有多數個預定功率位準之一個別的一位準且以多數個頻率之一個別的一者為中心頻率；以該待測裝置接收該寬頻信號；選擇該等多數個副載波信號之個別的一者；量測該等多數個副載波信號之各該等被選擇之個別的一者之一功率位準，以提供多數個功率位準量測之一對應的一者；比較各該等多數個功率位準量測與該等一個或多個預定功率位準之一對應的一者，以提供該等多數個相對功率校正係數之一對應的一者以及該等多數個接收信號強度指示校正係數之一對應的一者；以及 儲存供該待測裝置使用之該等多數個相對功率校正係數以及接收信號強度指示校正係數。
13. 如申請專利範圍第12項之方法，其中該藉由該等一個或多個測試儀器，發送包含多數個副載波信號之一寬頻信號，該等副載波信號各具有一個或多個預定功率位準之一個別的一位準且以多數個頻率之一個別的一者為中心頻率之步驟，包括發送含有第一和第二其次多數個副載波信號的一寬頻信號，其中各該等第一其次多數個副載波信號具有大致地等於一第一功率位準之一個別的功率位準，各該等第二其次多數個副載波信號具有大致地等於一第二功率位準之一個別的功率位準，且該等第一和第二功率位準是不相等的。
14. 如申請專利範圍第12項之方法，其中該藉由該等一個或多個測試儀器，發送包含多數個副載波信號之一寬頻信號，該等副載波信號各具有一個或多個預定功率位準之一個別的一位準且以多數個頻率之一個別的一者為中心頻率之步驟，包括發送一寬頻信號，該寬頻信號含具有彼此不相等的功率位準之彼此相鄰者的多數個副載波信號。
15. 如申請專利範圍第12項之方法，其中該藉由該等一個或多個測試儀器，發送包含多數個副載波信號之一寬頻信號，該等副載波信號各具有一個或多個預定功率位準之一個別的一位準且以多數個頻率之一個別的一者為中心頻率之步驟，包括發送一寬頻信號，該寬頻信號含具 有個別的多數個彼此不相等的功率位準之彼此相鄰部份的多數個副載波信號。
16. 如申請專利範圍第12項之方法，其中該藉由該等一個或多個測試儀器，發送包含多數個副載波信號之一寬頻信號，該等副載波信號各具有一個或多個預定功率位準之一個別的一位準且以多數個頻率之一個別的一者為中心頻率之步驟，包括發送一寬頻信號，該寬頻信號含具有彼此相鄰部份之多數個副載波信號，該等部份各包括一其次多數個副載波信號，該等其次多數個副載波信號則具有一最大功率位準、一最小功率位準、以及在該等最大與最小功率位準之中及之間的一個或多個功率位準。
17. 如申請專利範圍第12項之方法，其中該藉由該等一個或多個測試儀器，發送包含多數個副載波信號之一寬頻信號，該等副載波信號各具有一個或多個預定功率位準之一個別的一位準且以多數個頻率之一個別的一者為中心頻率之步驟，包括藉由該等一個或多個測試儀器發送一寬頻信號，該寬頻信號含有各以大致相等的頻率差量被分開之彼此相鄰的多數個副載波信號。