TWI431269B - 三軸磁力測試座與三軸磁力測試系統 - Google Patents

Description

三軸磁力測試座與三軸磁力測試系統

本發明相關於一種三軸磁力測試座與三軸測試系統，特別是有關一種可以提供三個軸向的磁力進行測試的三軸磁力測試座以及應用此三軸磁力測試座之測試系統。

隨著微機電元件系統的發展，各種具有不同功能的小型且高性能的感應器被研發出來，例如加速度感應器、壓力感應器(或壓力計)、磁力感應器(或磁力計)等。這些感應器除了一般的電性測試之外，往往還需要對其感測性能進行測試，例如磁力感測、加速度感測等，所以傳統用於電性測試的測試機台往往需要加載一些外加裝置才能進行感測性能的測試。由於磁力感應器之測試需要在一測試磁場，因此，往往需要在一般的測試機台上加裝螺線管(solenoid)而產生外加磁場，以進行磁力測試。

然而，由於螺線管採用多重纏繞導線，所以其不但結構複雜、體積龐大、功率消耗亦較大，並且往往需要外掛電源來提供螺線管產生磁場所需的電力，因此，造成測試成本上升。其次，螺線管所產生的外加磁場範圍較大而籠罩測試機台的測試區內的所有待測元件，所以僅能對測試區內所有的磁力感應器(或磁力計)提供同一磁力測試環境進行測試，而無法對測試區內的個別磁力感應器(或磁力計)提供個別的磁力測試環境進行測試，因此，在測試上彈性較小。再者，由於外加磁場範圍大所以其磁場分佈不夠均勻，使得磁力感應器(或磁力計)測試的結果受到其在外加磁場內的位置所影響，所以容易造成測試誤差或是誤判，而影響測試的良率與可靠性。

另外，由於外加電源往往無法精確地提供小電流(micro級電流)，而無法精確地產生測試所需的磁場大小，因此，往往無法對磁力感應器(或磁力計)特性進行精密與精確的測試，而獲得其確切的磁力特性。由於螺線管的體積龐大，因此，往往無法在測試機台上同時加裝多組螺線管以提供多個軸向(例如雙軸、三軸)的磁力測試，而僅能提供單軸的磁力測試，而不符合日新月異的測試需求。

有鑑於此，因此亟需要提出一種結構簡單、體積小、消耗功率低、成本低、可以精確且均勻地產生測試測試所需的磁場大小、以及可以提供多軸向磁力測試的磁力感應器(或磁力計)的測試裝置，使其可以整合於傳統的測試機台，不但可以降低成本、簡化設計，且可以增加測試彈性，以利測試產能與可靠性的提高。

本發明之一目的為提供一種結構簡單、體積小、消耗功率低、成本低的三軸向磁力測試座，可以精確且均勻地產生測試所需的磁場大小與不同軸向的磁場，而對待測元件進行單軸、雙軸、以及三軸的磁力測試，以對個別待測元件提供個別的磁力測試環境，且可以增加測試彈性，以利測試產能與可靠性的提高。

本發明之另一目的為提供一種三軸向磁力測試系統，藉由整合結構簡單、體積小、消耗功率低、成本低的三軸向磁力測試座，可以精確且均勻地產生測試所需的磁場大小與不同軸向的磁場，而對個別待測元件提供個別的磁力測試環境，並對待測元件進行單軸、雙軸、以及三軸的磁力測試，進而降低成本、簡化設計，且可以增加測試彈性，以利測試產能與可靠性的提高。

根據本發明之一目的，本發明提供一種三軸向磁力測試座，其包含一用以容置一待測元件進行磁力測試的承載座、一設置於承載座中而用以提供第一軸向磁力第一軸向線圈、一用以容置承載座並用以將三軸磁力測試座固定於一測試機台上的固定裝置、一對纏繞於固定裝置上而用以提供第二軸向磁力的第二軸向線圈、一對纏繞於固定裝置上而用以提供第三軸向磁力的第三軸向線圈、以及一設置於承載座下方而用以做為承載座與測試機台之間的電性連接的電路板。此三軸向磁力測試座藉由三組不同的磁力線圈提供不同軸向的磁力。由於此三組磁力線圈僅需環繞或嵌設於單一測試座，所以其所使用的磁力線圈遠小於傳統測試機台內產生外加磁場的螺線管，而具有結構簡單、體積小、消耗功率低、成本低、磁場均勻，以及可以精確地反應電流而產生不同大小的磁場等優點。其次，此三軸向磁力測試座所需電流不大，所以裝設於測試機台上的時候，可以直接以本身即可精確控制電流的測試機台來控制供給磁力線圈的電流大小，而不需要無法精確控制微電流的外載電源。因此，此三組磁力線圈可以精確且均勻地產生測試所需的磁場大小與不同軸向的磁場，而可以增加測試彈性，以利測試產能與可靠性的提高。

根據本發明之另一目的，本發明提供一種三軸向磁力測試系統，其包含至少一用以容置一待測元件並提供不同軸向磁場的進行測試的本發明之三軸磁力測試座、一用以拾取與放置放待測元件於三軸磁力測試座進行測試的檢選分類裝置(handler)、以及一用以分別控制三軸磁力測試座及檢選分類裝置的測試機台。此三軸向磁力測試系統藉由將本發明之三軸磁力測試座整合於傳統的測試機台，而可以對個別待測元件提供個別的磁力測試環境，並對待測元件進行單軸、雙軸、以及三軸的磁力測試，進而降低成本、簡化設計，且可以增加測試彈性，以利測試產能與可靠性的提高。

請同時參照第一A圖、第一B圖、第二圖與第三圖，其分別為本發明之一實施例之三軸磁力測試座10的立體示意圖、俯視圖、爆炸圖、以及立體剖面圖。三軸磁力測試座10包含一用以容置一待測元件123進行磁力測試的承載座100、一設置於承載座100中而用以提供第一軸向磁力第一軸向線圈118、一用以容置承載座100並用以將三軸磁力測試座10固定於一測試機台上的固定裝置200、一對纏繞於固定裝置200上而用以提供第二軸向磁力的第二軸向線圈228、230、一對纏繞於固定裝置200上而用以提供第三軸向磁力的第三軸向線圈232、234、以及一設置於承載座100下方而用以做為承載座100與測試機台之間的電性連接的電路板128，而由這些元件組合而成。

請再次參照第二圖及第四A圖與第四B圖，其分別為三軸向磁力測試座10中的承載座100的立體圖與剖面圖。承載座100包含一底座110、一待測元件容置座120、一第一軸向線圈118、以及一蓋板102，而由這些元件組合而成。底座110的頂部表面上具有一固定部112，用以供待測元件容置座120套設於底座110的頂部表面上，而將該待測元件容置座120固設於底座110上。固定部112為一突起結構，例如柱狀結構、插銷結構、或其他可以插入待測元件容置座120底部的結構。底座110的底部具有一容置固定底座134的凹槽133，而探針135可以通過固定底座134、底座110與待測元件容置座120，而電性連接待測元件容置座120(或其上待測元件123)與電路板128，以做為待測元件容置座120上放置的待測元件123與電路板128之間的測試訊號傳遞。另外，底座110具有一第三連結孔114與一第四連結孔116，並且第三連結孔114與第四連結孔116皆貫穿底座110。

請同時參照第一圖、第二圖、第四A圖、第四B圖、以及第四C圖，其中，第四C圖為三軸向磁力測試座10中的待測元件容置座120的示意圖。待測元件容置座120用以容置待測元件123進行測試，其設置於底座110上並突出於底座110，而用以承載待測元件123以將其支撐於各個不同軸向線圈(第一軸向線圈118、第二軸向線圈228、230、與第三軸向線圈232、234)所產生的磁場的中心位置，而可對待測元件123施加最均勻的不同軸向的磁場。待測元件容置座120包含一容置頂座122、一支撐底座126、以及一介於支撐底座126與容置頂座122之間而連接支撐底座126與容置頂座122的柱狀連結124。

容置頂座122上具有一以容置待測元件的容置槽121，容置槽121上具有對應探針135的孔洞125，可供探針135通過而接觸容置槽121內的待測元件123，而傳遞測試訊號給待測元件123。柱狀連結124為一中空的柱體或圓柱體，使得探針135通過其內部而進入容置槽121與待測元件123接觸。第一軸向線圈118纏繞於柱狀連結124的外部，而在第一軸向線圈118通電流時產生第一軸向的磁場，對待測元件容置座120中放置的待測元件123施加第一軸向的磁場。支撐底座126的底部具有一固定槽127，藉由固定槽127套於底座110的固定部112上，而將待測元件容置座120套設並固定於底座110上。

請同時參照第二圖、參照第四A圖、第四B圖、以及第四D圖，其中，第四D圖為三軸向磁力測試座10中的蓋板102的背面立體圖。蓋板102覆蓋於底座110上，而將待測元件容置座120與第一軸向線圈118容置於蓋板102與底座110之間。蓋板102具有一開口104，而待測元件容置座120(或容置槽121)則藉由開口104而裸露出來，以供進行待測元件123的取放。另外，蓋板102具有一第一連結孔106與一第二連結孔108，第一連結孔106與第二連結孔108皆貫穿蓋板102。第一連結孔106與底座110上的第三連結孔114相對應，而在蓋板102與底座110組合於承載座100，第一連結孔106與第三連結孔114由上往下排列成一直線。第二連結孔108與底座110上的第四連結孔116相對應，而在蓋板102與底座110組合於承載座100，第二連結孔108與第四連結孔116由上往下排列成一直線。其次，在蓋板102的一側面(例如背面)具有一具有一第一固定孔136與一第二固定孔138，用做將承載座100固定於固定裝置200中之用。

參照第二圖，電路板128具有一第五連結孔130與一第六連結孔132。第五連結孔130分別與蓋板102的第一連結孔106以及底座110的第三連結孔114對應，而在電路板128組合於承載座100下方時，第一連結孔106、第三連結孔114、以及第五連結孔130由上往下排列成一直線，而可以藉由一固定件(圖中未示)貫穿第一連結孔106、第三連結孔114、以及第五連結孔130，而將承載座100鎖固於該電路板128上。第六連結孔132分別與蓋板102的第二連結孔108以及底座110的第四連結孔116對應，而在電路板128組合於承載座100下方時，第二連結孔108、第四連結孔116、以及第六連結孔132由上往下排列成一直線，而可以藉由一固定件(圖中未示)貫穿第二連結孔108、第四連結孔116、以及第六連結孔132，而將承載座100鎖固於該電路板128上。

請同時參照第二圖與第三圖，固定裝置200包含一用以將三軸磁力測試座10固定於測試機台上的固定座202、以及一罩於固定座202上而用以支撐或承載第二軸向線圈228、230與第三軸線圈232、234的外罩210，其中，外罩210內部具有一承載座容置空間214，用以容置承載座100。承載座容置空間214最好包含不同軸向線圈(第一軸向線圈118、第二軸向線圈228、230、與第三軸向線圈232、234)所產生的磁場的中心位置，使得待測元件可以在各軸向最均勻的磁場中進行測試。固定座202上具有一支撐柱204，用以承載承載座100與電路板128，而將其支撐於承載座容置空間214中，並固定於其中，特別是使得承載座100內容置的待測元件123可以位於各個不同軸向線圈(第一軸向線圈118、第二軸向線圈228、230、與第三軸向線圈232、234)所產生的磁場的中心位置，而被施加以最均勻的磁場進行磁力測試。另外，固定座202上具有一或數個穿孔206，用以供固定件(圖中未示)，以將三軸磁力測試座10(或固定座202)鎖固於測試機台上。

請同時參照第二圖、第三圖、與第五圖，其中，第五圖為三軸向磁力測試座10中的外罩210的背面立體圖。外罩210除了於內部具有一承載座容置空間214之外，在外罩210的底部具有一支撐柱孔212，支撐柱孔212貫穿外罩210的底部而到該承載座容置空間214的底部，用以供支撐柱204通過支撐柱孔212進入承載座容置空間214以承載與支撐承載座100與電路板128。在外罩210的頂部則具有一待測元件取放孔218，待測元件取放孔218貫穿外罩210的頂部而到達該承載座容置空間214的頂部，而裸露出整個承載座100的頂部或容置頂座122(包含其上的容置槽121)，使得測試機台的拾取裝置或吸嘴可以通過待測元件取放孔218而進行待測元件的取放。另外，在外罩的一側(通常為前側)具有一電路板延伸孔216，電路板延伸孔216貫穿外罩210的一側(通常為前側)而到達承載座容置空間214的一側，電路板128可以通過電路板延伸孔216而向外延伸，以與測試機台連接，做為訊號與電流的傳遞。再者，在外罩210的另一側(通常為背面)，即外罩210對應蓋板102上設置有第一固定孔136與第二固定孔138的側面(例如背面)的一側，具有一第三固定孔240與一第四固定孔242。第三固定孔240對應第一固定孔136，在承載座100與固定裝置200組裝而將承載座100置於承載座容置空間214時，第三固定孔240與第一固定孔136由外而內排列成一直線，而可以藉由一固定件236貫穿第三固定孔240與第一固定孔136，而將承載座100鎖固於固定裝置200(或承載座容置空間214)中。第四固定孔242對應第二固定孔138，在承載座100與固定裝置200組裝而將承載座100置於承載座容置空間214時，第四固定孔242與第二固定孔138由外而內排列成一直線，而可以藉由一固定件238貫穿第四固定孔242與第二固定孔138，而將承載座100鎖固於固定裝置200(或承載座容置空間214)中。

外罩210的外部具有一對第二軸向線圈凹槽220、222，其中，第二軸向線圈凹槽220與222分別用以容置與支撐第二軸向線圈228與230，而使第二軸向線圈228、230纏繞與固定於外罩210的外部。另外，外罩210的外部還具有一對第三軸向線圈凹槽224、226，其中，第三軸向線圈凹槽224與226分別用以容置與支撐第三軸向線圈232與234，而使第三軸向線圈232、234纏繞與固定於外罩210的外部。第二軸向線圈凹槽220、222與第三軸向線圈凹槽224、226彼此垂直而設置於外罩210上，所以第二軸向線圈228、230與第三軸向線圈232、234也是彼此垂直而設置於外罩210上。

雖然第一A圖、第一B圖、第二圖、第三圖、以及第五圖所示之外罩210為一圓形球體或類似圓形的球體，但是，在本發明其他實施例中，外罩也可以是其他任何能有效支撐成對的第二軸向線圈與成對的第三軸向線圈的幾何形狀，例如外罩為一鏤空的圓形球體或類似圓形的鏤空球體，或是環狀支架。

另外，三軸磁力測試座10的上的第一軸向線圈118、第二軸向線圈228、230、以及第三軸向線圈232、234皆與電路板128(電性)連接，並經由電路板128與測試機台，例如自動化測試設備(ATE)，電性連接。因此，測試機台可以通過電路板128而提供電流給第一軸向線圈118、第二軸向線圈228、230、以及第三軸向線圈232、234，而產生不同軸向的磁場與控制不同軸向磁場的產生，並且經由控制所提供的電流大小，而控制第一軸向線圈118、第二軸向線圈228、230、以及第三軸向線圈232、234所產生的磁場大小。

由於嵌入或環繞承載座100的第一軸向線圈118、第二軸向線圈228、230、以及第三軸向線圈232、234遠小於傳統測試機台內產生外加磁場的螺線管，並且結構較簡單、體積較小，因此，其產生磁場所需的電流較小，消耗功率也較低，所以測試機台本身所提供的電力即足夠使第一軸向線圈118、第二軸向線圈228、230、以及第三軸向線圈232、234產生不同軸向的磁場進行測試，而不需要外掛額外的電源。再者，由於第一軸向線圈118、第二軸向線圈228、230、以及第三軸向線圈232、234體積小，對於電流較為敏感，而能精確地反應將電流的變化反應到磁場(或磁力)大小的變化，因此，可以直接藉由測試機台的可程式化的電力單元(power unit)精確地產生微(micro)安培級的電流，而精確地產生待測元件所需的磁場大小，以利測試產能與可靠性的提高。另外，由於第一軸向線圈118、第二軸向線圈228、230、以及第三軸向線圈232、234體積小，所以其所產生的磁場範圍也比較小，所以磁場比較均勻且集中，而不會影響到放置於周邊的其他三軸磁力測試座內的待測元件，所以可以對個別三軸磁力測試座內的待測元件提供個別磁力測試環境，而可以增加測試彈性，以利測試產能與可靠性的提高。

另外，由於本發明的三軸向磁力測試座中的各個零件不但結構簡單、便於製造、所使用的材料成本低廉，因此，相較於需外掛額外電源與外加螺線管於傳統測試機台且僅能提供單軸磁場的設計，不但成本較為低廉且可以提供單軸、雙軸、以及三軸的磁力測試。值得注意的是，為了避免磁力干擾，所以本發明之三軸向磁力測試座中的各個零件，例如承載座、固定裝置等，都需要以非導磁材質製作。

參照第二圖，在三軸向磁力測試座10中，第一軸向線圈118為一螺線管線圈，第一軸向為Z軸，而該第一軸向線圈則為Z軸線圈，用以產生Z軸磁場。第二軸向線圈228、230為一霍姆赫茲線圈，第二軸向為X軸，而第二軸向線圈228、230則為X軸線圈，用以產生X軸磁場。第三軸向線圈232、234為一霍姆赫茲線圈，第三軸向為Y軸，而第三軸向線圈232、234則為Y軸線圈，用以產生Y軸磁場。

另外，本發明更提供一種三軸磁力測試系統，其由一或多個前述的本發明三軸磁力測試座10、搭配目前市面上的一般檢選分類裝置(handler)與測試機台所組成。在此三軸磁力測試系統，測試機台分別與三軸磁力測試座以及檢選分類裝置(電性)連接，而控制三軸磁力測試座及檢選分類裝置運作，而檢選分類裝置則用以拾取與放置放待測元件於三軸磁力測試座進行測試。此三軸磁力測試系統藉由本發明之三軸磁力測試座，而對個別的待測元件施加不同軸向的磁場，與提供不同的磁力測試環境，以對待測元件施加精確且均勻的磁場，而進行單軸、雙軸、與三軸磁力測試。

本發明三軸磁力測試座可以搭配不同的檢選分類裝置而組成不同形式的三軸磁力測試系統。參照第六圖，三軸磁力測試座10可以搭配轉盤式檢選分類裝置(turrethandler)20，而組成一以轉盤式吸嘴22進行待測元件取放的三軸磁力測試系統30。參照第七圖，三軸磁力測試座10可以搭配直線式檢選分類裝置(pick & placehandler)20’，而組成一以機械手臂或單一吸嘴22’進行待測元件取放的三軸磁力測試系統30’。

有鑑於上述實施例，本發明提供一種具有結構簡單、體積小、消耗功率低、成本低、磁場均勻，以及可以精確地反應電流而產生不同大小的磁場等優點的三軸向磁力測試座與三軸向磁力測試系統，進而降低成本、簡化設計，且可以增加測試彈性，以利測試產能與可靠性的提高。

10‧‧‧三軸磁力測試座

20‧‧‧轉盤式檢選分類裝置

20’‧‧‧直線式檢選分類裝置

22‧‧‧轉盤式吸嘴

22’‧‧‧機械手臂或單一吸嘴

30、30’‧‧‧三軸磁力測試系統

100‧‧‧承載座

102‧‧‧蓋板

104‧‧‧開口

106‧‧‧第一連結孔

108‧‧‧第二連結孔

110‧‧‧底座

112‧‧‧固定部

114‧‧‧第三連結孔

116‧‧‧第四連結孔

118‧‧‧第一軸向線圈

120‧‧‧待測元件容置座

121‧‧‧容置槽

122‧‧‧容置頂座

123‧‧‧待測元件

124‧‧‧柱狀連結

125‧‧‧孔洞

126‧‧‧支撐底座

127‧‧‧固定槽

128‧‧‧電路板

130‧‧‧第五連結孔

132‧‧‧第六連結孔

133‧‧‧凹槽

134‧‧‧固定底座

135‧‧‧探針

136‧‧‧第一固定孔

138‧‧‧第二固定孔

200‧‧‧固定裝置

202‧‧‧固定座

204‧‧‧支撐柱

206‧‧‧穿孔

210、210’‧‧‧外罩

212‧‧‧支撐柱孔

214‧‧‧承載座容置空間

216‧‧‧電路板延伸孔

218‧‧‧待測元件取放孔

220、222‧‧‧第二軸向線圈凹槽

224、226‧‧‧第三軸向線圈凹槽

228、230‧‧‧第二軸向線圈

232、234‧‧‧第三軸向線圈

236、238‧‧‧固定件

240‧‧‧第三固定孔

242‧‧‧第四固定孔

[第一A圖]與[第一B圖]分別為本發明之一實施例之三軸向磁力測試座的立體示意圖與俯視圖。[第二圖]為本發明之一實施例之三軸向磁力測試座的爆炸圖。[第三圖]為本發明之一實施例之三軸向磁力測試座的立體剖面圖。[第四A圖]與[第四B圖]為本發明之一實施例之三軸向磁力測試座中的承載座的立體圖與剖面圖。[第四C圖]為本發明之一實施例之三軸向磁力測試座中的待測元件容置座的示意圖。[第四D圖]為本發明之一實施例之三軸向磁力測試座中的蓋板的背面立體圖。[第五圖]為本發明之一實施例之三軸向磁力測試座中的外罩的背面立體圖。[第六圖]為本發明之一實施例之三軸向磁力測試的示意圖。[第七圖]為本發明之另一實施例之三軸向磁力測試的示意圖。

10‧‧‧三軸磁力測試座

100‧‧‧承載座

102‧‧‧蓋板

104‧‧‧開口

106‧‧‧第一連結孔

108‧‧‧第二連結孔

110‧‧‧底座

112‧‧‧固定部

114‧‧‧第三連結孔

116‧‧‧第四連結孔

118‧‧‧第一軸向線圈

120‧‧‧待測元件容置座

121‧‧‧容置槽

122‧‧‧容置頂座

124‧‧‧柱狀連結

126‧‧‧支撐底座

128‧‧‧電路板

130‧‧‧第五連結孔

132‧‧‧第六連結孔

134‧‧‧固定底座

200‧‧‧固定裝置

202‧‧‧固定座

204‧‧‧支撐柱

206‧‧‧穿孔

210‧‧‧外罩

216‧‧‧電路板延伸孔

218‧‧‧待測元件取放孔

220、222‧‧‧第二軸向線圈凹槽

224、226‧‧‧第三軸向線圈凹槽

228、230‧‧‧第二軸向線圈

232、234‧‧‧第三軸向線圈

Claims (26)

1. 一種三軸磁力測試座，包含: 一承載座，用以容置一待測元件進行磁力測試; 一第一軸向線圈設置於該承載座中用以提供第一軸向磁場; 一固定裝置，用以容置該承載座並將該三軸磁力測試座固定於一測試機台上; 一對第二軸向線圈，纏繞於該固定裝置上，用以提供第二軸向磁場; 一對第三軸向線圈，纏繞於該固定裝置上，用以提供第三軸向磁場;以及一電路板，設置於該承載座下方，用以做為該承載座與該測試機台之間的電性連接。
2. 如[請求項1]所述之三軸磁力測試座，其中該承載座包含: 一底座;一待測元件容置座，設置於該底座上並突出於該底座，用以容置待測元件; 該第一軸向線圈，纏繞於該待測元件容置座，用以對該待測元件容置座中放置的待測元件提供第一軸向的磁場;以及一蓋板，覆蓋於該底座上，而將該待測元件容置座與該第一軸向線圈容置於該蓋板與該底座之間，該蓋板具有一開口，而該待測元件容置座藉由該開口而裸露出來。
3. 如[請求項2]所述之三軸磁力測試座，其中該底座的頂部表面上具有一固定部，用以供該待測元件容置座套設於該底座的頂部表面上，而將該待測元件容置座固設於該底座上。
4. 如[請求項2]所述之三軸磁力測試座，其中該底座底部具有一凹槽，用以容置一固定底座。
5. 如[請求項3]所述之三軸磁力測試座，其中該待測元件容置座包含: 一容置頂座，該容置頂座上具有一以容置待測元件的容置槽; 一支撐底座，該支撐底座底部具有一固定槽，藉由將該固定槽套於該底座的該固定部上，而將該待測元件容置座套設於該底座上;以及 一介於該支撐底座與該容置頂座之間的柱狀連結，用以連接該支撐底座與該容置頂座，該第一軸向線圈纏繞於該柱狀連結上。
6. 如[請求項2]所述之三軸磁力測試座，其中該蓋板具有一第一連結孔與一第二連結孔，其中，該第一連結孔與該第二連結孔貫穿該蓋板。
7. 如[請求項6]所述之三軸磁力測試座，其中該底座具有一第三連結孔與一第四連結孔，其中，該第三連結孔與該第四連結孔貫穿該底座，並且該第三連結孔對應該第一連結孔，而該第四連結孔對應該第二連結孔。
8. 如[請求項7]所述之三軸磁力測試座，其中該電路板具有一第五連結孔與一第六連結孔，其中，該第五連結孔對應該第一連結孔與該第三連結孔，而該第六連結孔對應該第二連結孔與該第四連結孔。
9. 如[請求項8]所述之三軸磁力測試座，其中藉由固定件貫穿排成一線的該第一連結孔、該第三連結孔與該第五連結孔，以及藉由固定件貫穿排成一線的該第二連結孔該第四連結孔與該第六連結孔，而將該承載座鎖固於該電路板上。
10. 如[請求項2]所述之三軸磁力測試座，其中該固定裝置包含： 一固定座，用以將該三軸磁力測試座固定於該測試機台上;以及 一外罩，罩於該固定座上用以支撐或承載該第二軸向線圈與該第三軸線圈，並且該外罩內部具有一容置該承載座的承載座容置空間。
11. 如[請求項10]所述之三軸磁力測試座，其中該固定座上具有一支撐柱，用以承載該承載座與該電路板而將其支撐於該承載座容置空間中，並固定於其中。
12. 如[請求項11]所述之三軸磁力測試座，其中該外罩底部具有一支撐柱孔，該支撐柱孔貫穿該外罩底部到達該承載座容置空間的底部，該支撐柱通過該支撐柱孔而承載與支撐該承載座與電路板。
13. 如[請求項10]所述之三軸磁力測試座，其中該外罩頂部具有一待測元件取放孔，該待測元件取放孔貫穿該外罩頂部到達該承載座容置空間的頂部，用以進行待測元件的取放。
14. 如[請求項10]所述之三軸磁力測試座，其中該外罩一側具有一電路板延伸孔，該電路板延伸孔貫穿該外罩的一側到達該承載座容置空間的一側，用以供該電路板通過而與該測試機台連接。
15. 如[請求項10]所述之三軸磁力測試座，其中該蓋板的一側具有一第一固定孔與一第二固定孔。
16. 如[請求項15]所述之三軸磁力測試座，其中該外罩一側具有對應該第一固定孔的第三固定孔，以及對應該第二固定孔的第四固定孔。
17. 如[請求項16]所述之三軸磁力測試座，其中藉由一固定件貫穿該第一固定孔與該第三固定孔，以及藉由一固定件貫穿該第二固定孔與該第四固定孔，而將該承載座鎖固於該承載座容置空間中。
18. 如[請求項10]所述之三軸磁力測試座，其中該外罩的外部具有一對第二軸向線圈凹槽及一對第三軸向線圈凹槽，用以分別將該對第二軸向線圈及該對第三軸向線圈纏繞於該外罩的外部。
19. 如[請求項10]所述之三軸磁力測試座，其中該外罩為圓形球體、類似圓形的球體、鏤空的圓形球體或類似圓形的鏤空球體。
20. 一種三軸磁力測試系統，包含： 至少一三軸磁力測試座，用以容置一待測元件並提供不同軸向磁場的進行測試，該三軸磁力測試座包含： 一承載座，用以容置一待測元件進行磁力測試; 一第一軸向線圈設置於該承載座中用以提供第一軸向的磁力; 一固定裝置，用以容置該承載座並將該三軸磁力測試座固定於該測試機台上; 一對第二軸向線圈，纏繞於該固定裝置上，用以提供第二軸向磁場; 一對第三軸向線圈，纏繞於該固定裝置上，用以提供第三軸向磁場; 一電路板，設置於該承載座下方，用以做為該承載座與該測試機台之間的電性連接; 一檢選分類裝置(handler)，用以拾取與放置該放待測元件於該三軸磁力測試座進行測試;以及 一測試機台，用以分別控制該三軸磁力測試座及該檢選分類裝置。
21. 如[請求項20]所述之三軸磁力測試系統，其中該承載座包含: 一底座;一待測元件容置座，設置於該底座上並突出於該底座，用以容置待測元件; 該第一軸向線圈，纏繞於該待測元件容置座，用以對該待測元件容置座中放置的待測元件提供第一軸向磁場;以及一蓋板，覆蓋於該底座上，而將該待測元件容置座與該第一軸向線圈容置於該蓋板與該底座之間，該蓋板具有一開口，而該待測元件容置座藉由該開口而裸露出來。
22. 如[請求項21]所述之三軸磁力測試系統，其中該待測元件容置座包含: 一容置頂座，該容置頂座上具有一以容置待測元件的容置槽; 一支撐底座，該支撐底座底部具有一固定槽，藉由將該固定槽套於該底座的該固定部上，而將該待測元件容置座套設於該底座上;以及 一介於該支撐底座與該容置頂座之間的柱狀連結，用以連接該支撐底座與該容置頂座，該第一軸向線圈纏繞於該柱狀連結上。
23. 如[請求項22]所述之三軸磁力測試系統，其中該固定裝置包含： 一固定座，用以將該三軸磁力測試座固定於該測試機台上;以及 一外罩，罩於該固定座上用以支撐或承載該第二軸向線圈與該第三軸線圈，並且該外罩內部具有一容置該承載座的承載座容置空間。
24. 如[請求項23]所述之三軸磁力測試系統，其中該外罩頂部具有一待測元件取放孔，該待測元件取放孔貫穿該外罩頂部到達該承載座容置空間的頂部，用以進行待測元件的取放。
25. 如[請求項23]所述之三軸磁力測試系統，其中該外罩一側具有一電路板延伸孔，該電路板延伸孔貫穿該外罩的一側到達該承載座容置空間的一側，用以供該電路板通過而與該測試機台連接。
26. 如[請求項20]所述之三軸磁力測試系統，其中該檢選分類裝置為一轉盤式檢選分類裝置或一直線式檢選分類裝置。