TWI426284B - Sas通訊埠測試系統及方法 - Google Patents

Description

SAS通訊埠測試系統及方法

本發明涉及一種通訊埠量測系統及方法，尤其係關於一種SAS通訊埠測試系統及方法。

目前，市面企業所廣泛使用的儲存器通訊埠一般以串列連接埠(Serial Attached SCSI，SAS通訊埠)為主。為了確保SATA硬碟之SATA-TX信號的信號完整性需要對SATA硬碟的驅動IC的參數進行設置。通常，由於SATA硬碟類別不同需要對SATA-TX信號做調整。現階段都是使用人工去做重覆性的設定及量測，再依據測試結果挑選適合的量測參數，其測試繁瑣並耗時，並且測試結果的準確度不高。

鑒於以上內容，有必要提供一種SAS通訊埠測試系統及方法，藉由測試每一個SAS通訊埠的SAS信號自動分析出具有最優信號完整性的SAS信號參數，從而找出驅動SAS通訊埠的參量設定值。

所述之SAS通訊埠測試系統運行於主控電腦中，該主控電腦與示波器及機械手臂連接，該機械手臂安裝有測試治具。該系統包括：參數設置模組，用於設置一組評價SAS信號完整性的待測參數，及設定SAS信號強度等級及待測項目次數；手臂控制模組，用 於控制機械手臂將測試治具移動至所需測量的SAS通訊埠上；信號量測模組，用於藉由SAS通訊埠調節SAS信號強度等級，控制SAS通訊埠產生相應強度等級的SAS信號，利用測試治具量測SAS通訊埠產生的SAS信號，及利用示波器分析SAS信號的待測參數對應之實際測量值；信號分析模組，用於分析SAS信號的實際測量值找出具有最優信號完整性的SAS信號對應之強度等級，將該強度等級作為SAS通訊埠的驅動參量設定值，並產生SAS通訊埠的測試報表。

所述之SAS通訊埠測試方法包括步驟：設置一組評價SAS信號完整性的待測參數，並設定SAS信號強度等級及待測項目次數；控制機械手臂將測試治具移動至所需測量的SAS通訊埠上；藉由SAS通訊埠調節SAS信號強度等級，並控制SAS通訊埠產生相應強度等級的SAS信號；利用測試治具量測SAS通訊埠產生的SAS信號，並利用示波器分析SAS信號的待測參數對應之實際測量值；藉由分析SAS信號的實際測量值找出具有最優信號完整性的SAS信號對應之強度等級；將最優信號完整性的SAS信號對應之強度等級作為SAS通訊埠的驅動參量設定值並產生SAS通訊埠的測試報表。

相較於習知技術，本發明所述之SAS通訊埠測試系統及方法能夠從控制機械手臂將測試治具移動至每一個SAS通訊埠上獲取SAS信號，利用示波器量測並分析出具有最優信號完整性的SAS信號所對應之信號完整性參數，從而找出最適合每一個SAS通訊埠的驅動參量設定值。

1‧‧‧主控電腦

10‧‧‧SAS通訊埠測試系統

101‧‧‧參數設置模組

102‧‧‧手臂控制模組

103‧‧‧信號量測模組

104‧‧‧信號分析模組

11‧‧‧微處理器

12‧‧‧儲存器

2‧‧‧待測電子產品

20‧‧‧SAS通訊埠

3‧‧‧示波器

4‧‧‧機械手臂

5‧‧‧測試治具

圖1係本發明SAS通訊埠測試系統較佳實施例之架構圖。

圖2係本發明SAS通訊埠測試方法較佳實施例之流程圖。

如圖1所示，係本發明SAS通訊埠測試系統10較佳實施例之架構圖。所述之SAS通訊埠係為一種串列連接通訊埠(Serial Attached SCSI，簡稱SAS通訊埠)。於本實施例中，所述之SAS通訊埠測試系統10安裝並運行於主控電腦1中，該主控電腦1藉由COM埠與待測電子產品2相連接，並藉由通用介面匯流排(General-Purpose Interface Bus，GPIB介面)與示波器3相連接。所述之待測電子產品2是一種包括複數SAS通訊埠20的主機板或計算裝置，例如，個人電腦、伺服器等。

主控電腦1相接有機械手臂4，該機械手臂4前端安裝有測試治具5，該測試治具5藉由GPIB介面與示波器3相連接。主控電腦1控制機械手臂4將測試治具5移動至每一個SAS通訊埠20上，測試治具5獲取SAS通訊埠20產生的SAS信號，並將SAS信號發送至示波器3。

所述之主控電腦1包括SAS通訊埠測試系統10、微處理器(Microprocessor)11及儲存器12。所述之SAS通訊埠測試系統10用於從每一個SAS通訊埠20獲取SAS信號，利用示波器3量測並分析出具有最優信號完整性的SAS信號所對應之信號完整性參數，從而找出最適合每一個SAS通訊埠20的驅動參量設定值。所述之信號完整性參數包括，但不僅限於，信號平均振幅、抖動量、週期、頻率、上升沿時間及下升沿時間等。

於本實施例中，所述之SAS通訊埠測試系統10包括參數設置模組101、手臂控制模組102、信號量測模組103及信號分析模組104。本發明所稱之模組係指一種能夠被主控電腦1之微處理器11所執 行並且能夠完成固定功能之一系列電腦程式段，其儲存於主控電腦1之儲存器12中。

所述之參數設置模組101用於設置一組評價SAS信號完整性的待測參數，例如信號平均振幅、抖動量、週期、頻率、上升沿時間以及下升沿時間等。該參數設置模組101還用於設定SAS信號的強度等級及待測項目次數(記為X)。於本實施例中，所述之信號強度等級包括信號振幅(Swing)等級、信號上升沿/下升沿(Rise/Fall)等級及信號增強(Emphasis)等級。例如，若每一信號強度等級分別定義為1至3等級，待測項目次數則為X=3×3×3=27次。若每一信號強度等級分別定義為1至5等級，則待測項目次數為X=5×5×5=125次。

所述之手臂控制模組102用於控制機械手臂4將測試治具5移動至待測電子產品2的每一個SAS通訊埠20上。於本實施例中，手臂控制模組102藉由控制指令來控制機械手臂4進行移動，從而使得測試治具5移動至每一個SAS通訊埠20上進行測試。

所述之信號量測模組103用於藉由待測電子產品2的SAS通訊埠20調節SAS信號的強度等級，並控制SAS通訊埠20產生相應強度等級的SAS信號。若需增強SAS信號強度，信號量測模組103則增強SAS通訊埠20輸出的SAS信號強度，例如從第1等級調節到第2等級；若需減弱SAS信號強度，信號量測模組103則降低SAS通訊埠20輸出的SAS信號強度，例如從第5等級調節到第4等級。

所述之信號量測模組103還用於利用測試治具5量測SAS通訊埠20產生的SAS信號，利用示波器3分析SAS信號的待測參數，將SAS信號的每一待測參數對應之實際測量值記錄在檔案中，並將該檔案 保存至儲存器12中。該信號量測模組103還用於將當前測試SAS信號的測試次數(記為Y)加一，即Y=Y+1，並判斷測試次數Y是否等於待測項目次數X。

所述之信號分析模組104用於當測試次數Y等於待測項目次數X時，分析每一SAS信號的實際測量值找出具有最優信號完整性的SAS信號。例如，信號分析模組104將信號抖動量最少的SAS信號作為最優信號完整性的SAS信號。該信號分析模組104還用於根據信號完整性分析結果找出最優SAS信號對應之強度等級，將該強度等級作為該SAS通訊埠20的驅動參量設定值。該信號分析模組104還用於根據每一個SAS通訊埠20的驅動參量設定值產生SAS通訊埠20的測試報表，並將該測試報表保存在儲存器12中。

如圖2所示，係本發明SAS通訊埠測試方法較佳實施例之流程圖。於本實施例中，本發明所述之方法能夠用於從待測電子產品2之SAS通訊埠20獲取SAS信號，利用示波器3量測並分析出具有最優信號完整性的SAS信號所對應之信號完整性參數，從而找出最適合每一個SAS通訊埠20的驅動參量設定值。

步驟S21，測試人員將主控電腦1與待測電子產品2及機械手臂4相連接，並將示波器3與主控電腦1及測試治具5相連接。於本實施例中，主控電腦1藉由COM埠與待測電子產品2相連接，並藉由GPIB介面與示波器3相連接，示波器3藉由GPIB介面與測試治具5相連接。

步驟S22，參數設置模組101設置一組評價SAS信號完整性的待測參數，並設定SAS信號的信號強度等級及待測項目次數(記為X)。於本實施例中，所述之待測參數信號平均振幅、抖動量、週期 、頻率、上升沿時間以及下升沿時間等。所述之信號強度等級包括信號振幅(Swing)等級、信號上升沿/下升沿(Rise/Fall)等級及信號增強(Emphasis)等級。例如，若每一信號強度等級分別定義為1至3等級，待測項目次數則為X=3×3×3=27次。若每一信號強度等級分別定義為1至5等級，則待測項目次數為X=5×5×5=125次。

步驟S23，手臂控制模組102控制機械手臂4將測試治具5移動至待測電子產品2的一個SAS通訊埠20上。於本實施例中，手臂控制模組102藉由控制指令來控制機械手臂4進行移動，從而使得測試治具5移動至所需測試的SAS通訊埠20上。

步驟S24，信號量測模組103藉由待測電子產品2的SAS通訊埠20調節SAS信號的強度等級，並控制SAS通訊埠20產生相應強度等級的SAS信號。於本實施例中，若需增強SAS信號強度，信號量測模組103則增強SAS通訊埠20輸出的SAS信號強度，例如從第1等級調節到第2等級；若需減弱SAS信號強度，信號量測模組103則降低SAS通訊埠20輸出的SAS信號強度，例如從第5等級調節到第4等級。

步驟S25，信號量測模組103利用測試治具5量測SAS通訊埠20產生的SAS信號，並利用示波器3分析SAS信號的待測參數。

步驟S26，信號量測模組103將SAS信號的每一待測參數對應之實際測量值記錄至檔案中，並將該檔案保存在儲存器12中，同時信號量測模組103將當前測試SAS信號的測試次數(記為Y)加一，即Y=Y+1。

步驟S27，信號量測模組103判斷測試次數Y是否等於待測項目次 數X。若測試次數Y小於待測項目次數X，流程則轉向步驟S24；若測試次數Y等於待測項目次數X，流程則執行步驟S28。

步驟S28，信號分析模組104分析每一SAS信號的實際測量值找出具有最優信號完整性的SAS信號，根據信號完整性分析結果找出最優SAS信號對應之強度等級，並將該強度等級作為SAS通訊埠20的驅動參量設定值。於本實施例中，信號分析模組104將信號抖動量最少的SAS信號作為最優信號完整性的SAS信號。

步驟S29，信號量測模組103檢查待測電子產品2上的所有SAS通訊埠20是否測試完畢。若還有SAS通訊埠20未測試完畢，流程則轉向步驟S23，控制機械手臂4將測試治具5移動至下一個SAS通訊埠20上進行測試。若所有SAS通訊埠20已測試完畢，則流程則轉向步驟S30。

步驟S30，信號分析模組104根據每一個SAS通訊埠20的驅動參量設定值產生SAS通訊埠20的測試報表，並將該測試報表保存在儲存器12中。

以上所述僅為本發明之較佳實施例而已，且已達廣泛之使用功效，凡其他未脫離本發明所揭示之精神下所完成之均等變化或修飾，均應包含於下述之申請專利範圍內。

1‧‧‧主控電腦

10‧‧‧SAS通訊埠測試系統

101‧‧‧參數設置模組

102‧‧‧手臂控制模組

103‧‧‧信號量測模組

104‧‧‧信號分析模組

11‧‧‧微處理器

12‧‧‧儲存器

2‧‧‧待測電子產品

20‧‧‧SAS通訊埠

3‧‧‧示波器

4‧‧‧機械手臂

5‧‧‧測試治具

Claims (10)

1. 一種SAS通訊埠測試系統，該系統運行於主控電腦中，該主控電腦與示波器及機械手臂連接，該機械手臂安裝有測試治具，該系統包括：參數設置模組，用於設置一組評價SAS信號完整性的待測參數，及設定SAS信號強度等級及待測項目次數，所述之信號強度等級包括信號振幅等級、信號上升沿\下升沿等級及信號增強等級；手臂控制模組，用於控制機械手臂將測試治具移動至所需測量的SAS通訊埠上；信號量測模組，用於藉由SAS通訊埠調節SAS信號強度等級，控制SAS通訊埠產生相應強度等級的SAS信號，利用測試治具量測SAS通訊埠產生的SAS信號，及利用示波器分析SAS信號的待測參數對應之實際測量值；及信號分析模組，用於藉由分析SAS信號的實際測量值找出具有最優信號完整性的SAS信號對應之強度等級，及將該強度等級作為SAS通訊埠的驅動參量設定值並產生SAS通訊埠的測試報表。
2. 如申請專利範圍第1項所述之SAS通訊埠測試系統，其中，所述之主控電腦藉由COM埠與待測電子產品相連接，及所述之示波器藉由GPIB介面與主控電腦及測試治具相連接。
3. 如申請專利範圍第1項所述之SAS通訊埠測試系統，其中，所述之信號量測模組還用於記錄測試SAS信號的當前測試次數，當測試次數小於待測項目次數時調節SAS信號的強度等級繼續量測SAS通訊埠產生的SAS信號。
4. 如申請專利範圍第1項所述之SAS通訊埠測試系統，所述之信號量測模組還用於檢查待測電子產品上所有SAS通訊埠是否測試完畢，若還有SAS通訊埠未測試完畢，則控制機械手臂將測試治具移動至下一個SAS通訊埠上 進行測試。
5. 如申請專利範圍第1項所述之SAS通訊埠測試系統，其中，所述之待測參數包括信號平均振幅、抖動量、週期、頻率、上升沿時間及下升沿時間。
6. 一種SAS通訊埠測試方法，應用於主控電腦中，該主控電腦與示波器及機械手臂連接，該機械手臂安裝有測試治具，該方法包括步驟：設置一組評價SAS信號完整性的待測參數，並設定SAS信號強度等級及待測項目次數，所述之信號強度等級包括信號振幅等級、信號上升沿\下升沿等級及信號增強等級；控制機械手臂將測試治具移動至所需測量的SAS通訊埠上；藉由SAS通訊埠調節SAS信號強度等級，並控制SAS通訊埠產生相應強度等級的SAS信號；利用測試治具量測SAS通訊埠產生的SAS信號，並利用示波器分析SAS信號的待測參數對應之實際測量值；藉由分析SAS信號的實際測量值找出具有最優信號完整性的SAS信號對應之強度等級；將最優信號完整性的SAS信號對應之強度等級作為SAS通訊埠的驅動參量設定值並產生SAS通訊埠的測試報表。
7. 如申請專利範圍第6項所述之SAS通訊埠測試方法，其中，所述之主控電腦藉由COM埠與待測電子產品相連接，及所述之示波器藉由GPIB介面與主控電腦及測試治具相連接。
8. 如申請專利範圍第6項所述之SAS通訊埠測試方法，該方法還包括：記錄測試SAS信號的當前測試次數；當測試次數小於待測項目次數時，返回藉由SAS通訊埠調節SAS信號的強度等級之步驟，以便繼續量測SAS通訊埠產生的SAS信號。
9. 如申請專利範圍第6項所述之SAS通訊埠測試方法，該方法還包括：檢查待測電子產品上所有SAS通訊埠是否測試完畢；若還有SAS通訊埠未測試完畢，則控制機械手臂將測試治具移動至下一個SAS通訊埠上進行測試。
10. 如申請專利範圍第6項所述之SAS通訊埠測試方法，其中，所述之待測參數包括信號平均振幅、抖動量、週期、頻率、上升沿時間及下升沿時間。