TWI426231B - 箱體槽位檢驗裝置及箱體槽位檢驗方法 - Google Patents

Description

箱體槽位檢驗裝置及箱體槽位檢驗方法

本發明關於一種箱體槽位檢驗裝置及方法，尤指一種以多個探針同時檢驗箱體之多個槽位之裝置及方法。

許多部件在組合成最終產品之前，均有保存與搬移的問題。對於易脆的部件，其保存與搬移的要求更加嚴苛。例如在TFT、LCD面板的製程中，玻璃基板的保存與搬移通常借助包裝箱來完成。此種包裝箱於其內部相對的兩側壁上形成多個對應的溝槽，玻璃即可插入對應的溝槽，以達到固定的效果。

在大多數的情況中，前述包裝箱均可多次利用。但在一再重覆使用的情形下，包裝箱中溝槽即有變形之虞。無論是包裝箱材質的老化，或是實際使用所造成的變形，包裝箱中溝槽的變形顯然難以避免。故於實作上，在包裝箱使用之前，需先對其溝槽的尺寸進行確認，符合要求者始能重覆使用，否則貿然將玻璃置入溝槽中，極可能造成玻璃碎裂，或使玻璃承受較大的應力而於搬移過程中造成碎裂。

目前習知的作法是先將包裝箱放置於平台上，再以一重物置於包裝箱之內部底部，以使包裝箱之外部底面能與平台之基準平面貼齊。然後，以直角規量測包裝箱整體之傾斜情況，可得到包裝箱於鉛垂面之傾斜的程度及於水平面之平行變形的程度。另外，以游標卡尺對溝槽位置進行量測，為便於量測，可先置一板狀治具於溝槽中，再以游標卡尺對板狀治具進行量測，以間接得到所需檢驗值。

很明顯地，此種檢驗方式，即使對單一包裝箱進行檢驗也必然需花費不少時間。若對一批包裝箱僅進行抽樣檢驗，則必承擔較高的因未檢出而造成不必要的玻璃碎裂的風險。此外，前述繁鎖的檢驗方式難以自動化實施，多以人工進行。除了量測、記錄手續的繁複外，量測的操作及判讀亦將牽涉人為誤差，均使得整個檢驗工作相當不具效率。因此，改變檢驗方式以減少檢驗花費並提高檢驗可靠度，實有其必要。

本發明目的之一即在於提供一種箱體槽位檢驗裝置，能同時檢驗具有一開口之一箱體內之複數個槽位，大幅降低檢驗時間、排除人為檢驗誤差並提升檢驗可靠度。

本發明之箱體槽位檢驗裝置包含一底座、一探針檢驗機構及一昇降機構。該底座用以承載該箱體。該探針檢驗機構包含一支架及複數個探針，該支架上形成複數個通孔，該複數個探針係對應地設置於該複數個通孔中，每一個探針係能獨立地滑動於該對應的通孔中。該昇降機構連接該底座及該探針檢驗機構，以使該探針檢驗機構能相對於該底座上下移動。

因此，本發明之箱體槽位檢驗裝置提供整合的量測環境，使用者可藉由探針的昇降，輕鬆判讀每一個槽位之量測結果，一次性地完成所需的檢驗工作，大幅縮短檢驗時間並提高檢驗可靠度。

本發明之另一目的在於提供一種箱體槽位檢驗方法，其利用本發明之箱體槽位檢驗裝置以對該箱體內之槽位進行檢驗，量測結果可被迅速判讀，以大幅降低檢驗時間、排除人為檢驗誤差並提升檢驗可靠度。

本發明之箱體槽位檢驗方法包含：將該箱體放置於該底座上，並使該開口朝上；以及操作該昇降機構以使該探針檢驗機構朝下移動，以使該複數個探針能對應地伸入該複數個槽位中。當該探針被該對應的槽位之槽壁擋止時，該探針朝上突出於該支架，此即表示該槽位有位移或變形之情形。因此，使用者可輕易地藉由該探針突出的程度判讀該槽位不符合規格的程度。

因此，本發明之箱體槽位檢驗裝置及箱體槽位檢驗方法提供檢驗該箱體之完整解決方案，使得該箱體可一次性地被檢驗並迅速判讀，有效解決先前技術中記錄手續的繁複、量測操作的繁鎖、量測操作及判讀的人為誤差等問題，進而能減少檢驗花費且能提高檢驗可靠度。

關於本發明之優點與精神可以藉由以下的發明詳述及所附圖式得到進一步的瞭解。

請參閱第1圖及第2圖，第1圖為根據本發明之一較佳實施例之箱體槽位檢驗裝置1之示意圖，第2圖為一待檢驗的箱體3之示意圖。箱體3具有一開口32及形成於相對內壁上的複數個槽位34(僅標示其一)。箱體槽位檢驗裝置1包含一底座12、一探針檢驗機構14及一昇降機構16。底座12用以承載該箱體。昇降機構16連接底座12及探針檢驗機構14，以使探針檢驗機構14能相對於底座12上下移動，以便進行量測。

進一步來說，底座12包含一底板122及設置於底板122上之擋板124及滾輪126，滾輪126及擋板124係分別相對設置。當箱體3放置於底板122上時，箱體3之底部能被滾輪126及擋板124夾持。於第1圖中，箱體3以虛線繪示，以表示箱體3相對於箱體槽位檢驗裝置1之位置。

昇降機構16包含二導軌162、一昇降平台164及一驅動氣缸166。導軌162相對且垂直固定於底座12上，此二導軌162間另以一橫樑連接，其上固定設置驅動氣缸166。昇降平台164呈一矩形框架，大致與箱體3之開口32吻合。昇降平台164其兩側以可滑動的方式銜接至導軌162。驅動氣缸166之氣缸桿連接昇降平台164，藉由控制驅動氣缸166之作動以使昇降平台164能相對於底座12上下滑動於導軌162上。驅動氣缸166之控制可由一般習知技術實現，且驅動氣缸166亦得以液壓缸取代，故不再贅述。

探針檢驗機構14則設置於昇降機構16之昇降平台164上，藉由昇降平台164的昇降來達到能相對於底座12上下移動的目的。請參閱第3圖及第4圖，第3圖為探針檢驗機構14之示意圖，第4圖為探針檢驗機構14之局部剖面圖。探針檢驗機構14包含一支架142、複數個探針144(僅標示其一)及一探針保護器146。支架142包含一固定板1422及一定位板1424。固定板1422固定在昇降機構16之昇降平台164上，定位板1424以螺絲鎖固在固定板1422上。支架142上形成複數個通孔1426，此通孔1426係由分別形成在固定板1422及定位板1424之通孔1428、1430連通來實現。

探針檢驗機構14尚包含複數個滾珠軸承148，對應地設置於通孔1430中。探針144對應地設置於通孔1426中，每一個探針144係能獨立地滑動於對應的通孔1426中。探針144包含一柱頭1442、一柱身1444及一柱狀端部1446。柱頭1442容置於通孔1428中，當探針144向上滑動時，露出的柱頭1442有助於辨識探針144之昇降狀況。若柱頭1442塗上顏色，其辨識效果更佳。柱身1444滑動於滾珠軸承148中，主要用以支撐探針144的滑動。柱狀端部1446係用以於檢驗箱體3時，伸入槽位34中，柱狀端部1446具有一外徑1448，其小於槽位34之寬度，外徑1448較佳係接近槽位34之寬度以模擬實際放置玻璃基板之狀況，但不限於此。此外徑1448可依不同的槽位34寬度或不同要求的容許誤差而設定，例如外徑1448與槽位34之寬度之差即為容許槽位34變形之量，通常與產品容許的變形量有關。另外，於第4圖中，以虛線繪示探針144相對於支架142向上滑動之情形。

補充說明的是，於本實施例中，支架142由固定板1422及定位板1424組成，其通孔1426由連接的通孔1428、1430來實現，但本發明不以此為限。於實作上，支架142可由單一板件製成，通孔1426直接於該板件上鑽孔形成，滾珠軸承148置入通孔1426之下部，通孔1426之上部即可作為容置柱頭1442之用。此時，滾珠軸承148亦有擋止探針144脫落的功能。或是在該板件上直接形成一沈頭孔，孔身部分設置滾珠軸承148，沈頭部分用以容置柱頭1442。另外，本發明亦不以柱頭1442埋入支架142表面為必要，且探針144不以圓形截面為必要。

探針保護器146係以一可滑動的方式連接至支架142。探針保護器146包含一遮板1462及複數個導柱1464(僅標示其一)。導柱1464之一端部固定於遮板1462，導柱1464之另一端以該可滑動的方式連接至固定板1422，例如導柱1464之柱身滑動於形成固定板1422之通孔中，並且固定板1422利用控制前述通孔孔徑大小來擋止導柱1464之柱頭，以防止導柱1464脫落，例如，導柱1464之頂端即柱頭部分之直徑可設計成大於通孔之孔徑。藉此，遮板1462連同導柱1464能相對於固定板1422上下滑動。遮板1462具有一鏤空1466，探針144係正對於鏤空1466且設置於支架142及遮板1462之間。因此，當遮板1462朝向固定板1422移動時，探針144之柱狀端部1446不會被遮板1462遮蔽而能露出。於本實施例中，遮板1462大致呈L形，且遮板1462之其中一側壁設置於探針133外側，如第1圖~第3圖所示，遮板1462之其中一側壁設置於探針133遠離槽位34之一側，此彎折設計可防止外物從側面方向對探針144的不當觸碰，達到保護探針144的目的。

請參閱第5圖，其為根據本發明之一較佳實施例之箱體槽位檢驗方法之流程圖。根據該較佳實施例之箱體槽位檢驗方法係直接利用前述箱體槽位檢驗裝置1以同時檢驗箱體3之槽位34。原則上，該箱體槽位檢驗方法係首先將箱體3放置於底座12上，並使開口32朝上，如步驟S100所示；接著，操作昇降機構16以使探針檢驗機構14朝下移動，以使探針144能對應地伸入槽位34中，如步驟S120所示。

於本實施例中，該箱體槽位檢驗方法之細部流程圖如第6圖，其為根據第5圖之箱體槽位檢驗方法之細部流程圖。該箱體槽位檢驗方法係先將箱體3置於底板122上，以使箱體3之底部夾持在擋板124及滾輪126之間，並使開口32朝上，如步驟S102所示；請併參閱第1圖，放置後的箱體3以虛線繪示。

請併參閱第7圖，其為探針檢驗機構14相對箱體3移動之剖面示意圖。接著，該箱體槽位檢驗方法係操作昇降機構16以使探針檢驗機構14朝下底座12移動，如步驟S122及第7圖所示；探針檢驗機構14之初始位置以虛線繪示。此操作為控制驅動氣缸166之作動來達成(請逕參酌第1圖)，但本發明不以此為限；例如單純以徒手拉持昇降機構16之昇降平台164亦可達到前述操作要求，或是改用電機構件以取代前述驅動氣缸166之驅動方式。

請併參閱第8圖，其為探針檢驗機構14於其遮板1462被箱體3擋止後持續移動之剖面示意圖。當探針檢驗機構14持續朝下移動時，遮板1462將被箱體3擋止，即遮板1462被擋止於箱體3之開口32處，但支架142仍持續朝向遮板1462移動，以使探針144穿過鏤空1466而能對應地伸入槽位34中，如步驟S124及第8圖所示。此時，當探針144被對應的槽位34之槽壁擋止時，探針144朝上突出於支架142，如步驟S126所示。

請參閱第9圖，其為探針檢驗機構14於停止移動後之剖面示意圖；此時，固定板1422已被箱體3擋止，故探針144已無法再向下移動。如第9圖所示，若槽位34有變形、偏移等情形時，將造成探針144之柱狀端部1446被槽壁擋止，使得探針144之柱頭1442突出於支架142之定位板1424之，而易於被操作人員觀察到。補充說明的是，由於每個槽位34變形程度不一，故對應的探針144之柱頭1442突出的程度亦有所差異。於實際應用上，此程度上的差異亦得作為判定箱體3是否可再重覆利用的標準。

相較於先前技術，本發明之箱體槽位檢驗裝置及箱體槽位檢驗方法提供檢驗該箱體之完整解決方案，檢驗人員能輕易地操作以使探針檢驗機構向下移動，並藉由觀察探針突出的狀況，即可一次性迅速地判讀出箱體之槽位偏離規格的程度，有效解決先前技術中記錄手續的繁複、量測操作的繁鎖、量測操作及判讀的人為誤差等問題，進而能減少檢驗花費且能提高檢驗可靠度。

以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。

1．．．箱體槽位檢驗裝置

3．．．箱體

12．．．底座

14．．．探針檢驗機構

16．．．昇降機構

32．．．開口

34．．．槽位

122．．．底板

124．．．擋板

126．．．滾輪

142．．．支架

144．．．探針

146．．．探針保護器

148．．．滾珠軸承

162．．．導軌

164．．．昇降平台

166．．．驅動氣缸

1422．．．固定板

1424．．．定位板

1426．．．通孔

1428．．．通孔

1430．．．通孔

1442．．．柱頭

1444．．．柱身

1446．．．柱狀端部

1448．．．外徑

1462．．．遮板

1464．．．導柱

1466．．．鏤空

S100、S120、S102、S122、S124、S126．．．實施步驟

第1圖為根據本發明之一較佳實施例之箱體槽位檢驗裝置之示意圖。

第2圖為一待檢驗的箱體之示意圖。

第3圖為第1圖中探針檢驗機構之示意圖。

第4圖為第3圖中探針檢驗機構之局部剖面圖。

第5圖為根據本發明之一較佳實施例之箱體槽位檢驗方法之流程圖。

第6圖為根據第5圖之箱體槽位檢驗方法之細部流程圖。

第7圖為探針檢驗機構相對箱體移動之剖面示意圖。

第8圖為探針檢驗機構於其遮板被箱體擋止後持續移動之剖面示意圖。

第9圖為探針檢驗機構於停止移動後之剖面示意圖。

1．．．箱體槽位檢驗裝置

3．．．箱體

12．．．底座

14．．．探針檢驗機構

16．．．昇降機構

122．．．底板

124．．．擋板

126．．．滾輪

162．．．導軌

164．．．昇降平台

166．．．驅動氣缸

Claims (11)

1. 一種箱體槽位檢驗裝置，用於同時檢驗具有一開口之一箱體內之複數個槽位，該箱體槽位檢驗裝置包含有：一底座，用以承載該箱體；一探針檢驗機構，其包含一支架及複數個探針，該支架上形成複數個通孔，該複數個探針係對應地設置於該複數個通孔中，每一個探針係能獨立地滑動於該對應的通孔中；以及一昇降機構，其連接該底座及該探針檢驗機構，以使該探針檢驗機構能相對於該底座上下移動。
2. 如請求項1所述之箱體槽位檢驗裝置，其中該探針檢驗機構更包含一探針保護器，其係以一可滑動的方式連接至該支架，該探針保護器包含一遮板，該遮板具有一鏤空，該複數個探針係正對於該鏤空且設置於該支架及該遮板之間。
3. 如請求項2所述之箱體槽位檢驗裝置，其中該探針保護器包含複數個導柱，該導柱之一端部固定於該遮板，該導柱之另一端以該可滑動的方式連接至該支架。
4. 如請求項2所述之箱體槽位檢驗裝置，其中該遮板大致呈L形，且該遮板之其中一側壁係設置於該探針遠離槽位之一側。
5. 如請求項1所述之箱體槽位檢驗裝置，其中該探針包含一柱狀端部，用以伸入該槽位中，該柱狀端部具有一外徑，其小於該槽位之寬度。
6. 如請求項1所述之箱體槽位檢驗裝置，其中該探針檢驗機構包含複數個滾珠軸承，其對應地設置於該複數個通孔中。
7. 如請求項1所述之箱體槽位檢驗裝置，其中該底座包含一底板及設置於該底板上之一擋板及一滾輪，該滾輪及該擋板係相對設置，該箱體能被該滾輪及該擋板夾持。
8. 一種箱體槽位檢驗方法，利用一箱體槽位檢驗裝置以同時檢驗具有一開口之一箱體內之複數個槽位，該箱體槽位檢驗裝置包含一底座、一探針檢驗機構及一昇降機構，該探針檢驗機構包含一支架及複數個探針，該支架上形成複數個通孔，該複數個探針係對應地設置於該複數個通孔中，每一個探針係能獨立地滑動於該對應的通孔中，該昇降機構連接該底座及該探針檢驗機構，以使該探針檢驗機構能相對於該底座上下移動，該箱體槽位檢驗方法包含下列步驟：(a)　將該箱體放置於該底座上，並使該開口朝上；以及(b)　操作該昇降機構以使該探針檢驗機構朝下移動，以使該複數個探針能對應地伸入該複數個槽位中。
9. 如請求項8所述之箱體槽位檢驗方法，其中該探針檢驗機構更包含一探針保護器，其係以一可滑動的方式連接至該支架，該探針保護器包含一遮板，該遮板具有一鏤空，步驟(b)係由下列步驟實施：操作該昇降機構以使該探針檢驗機構朝下移動；以及該遮板被該箱體擋止，該支架持續朝向該遮板移動，以使該複數個探針穿過該鏤空以能對應地伸入該複數個槽位中。
10. 如請求項8所述之箱體槽位檢驗方法，更包含下列步驟：當該探針被該對應的槽位之槽壁擋止時，該探針朝上突出於該支架。
11. 如請求項8所述之箱體槽位檢驗方法，其中該底座包含一底板及設置於該底板上之一擋板及一滾輪，該滾輪及該擋板係相對設置，步驟(a)係由下列步驟實施：將該箱體之底部夾持在該擋板及該滾輪之間，並使該開口朝上。