TWI410633B - 電子組件之直立式測試設備 - Google Patents

Description

電子組件之直立式測試設備

本發明係關於一種測試設備，尤其關於一種電子組件之直立式測試設備。

傳統的記憶體模組的測試方法，都是透過專業的測試設備，利用人工的方式執行測試。舉例而言，可以將記憶體模組插在主機板上，主機板連接至顯示卡，顯示卡連接至螢幕，記憶體模組插在主機板的記憶體插槽中，再對主機板進行開機測試，由人工的方式觀看測試結果，再依據測試結果對測試過的記憶體模組進行分類。

雖然可以透過機器手臂來對記憶體模組進行插拔的動作，但是主機板必須水平置放，以讓機器手臂可以將記憶體模組插入至主機板上的記憶體插槽。然而，主機板佔了相當大的水平區域。若要對眾多記憶體模組進行測試，則必須利用眾多的主機板，而這些主機板只能水平置放，這樣佔據了相當大的空間，不利測試場所的小型化，因而增加了測試成本。

因此，本發明之一個目的係提供一種電子組件之直立式測試設備，藉以達到自動化測試的目的、節省測試空間並減少測試成本。

為達上述目的，本發明提供一種電子組件之直立式 測試設備，其包含一箱體組件、數個第一主機板組件及一處理機。第一主機板組件設置於箱體組件中。各第一主機板組件包含一主機板、一第一主插座、一轉接板、一第一副插座及一中央處理器。主機板直立地設置於箱體組件中。第一主插座設置於主機板上，並電連接至主機板。轉接板電連接至第一主插座，並實質上垂直於主機板。第一副插座設置於轉接板上。中央處理器設置於主機板上，並電連接至主機板。處理機用以將數個電子組件分別沿著一鉛直方向插入至此等第一副插座中以進行測試，並於測試完畢後將此等電子組件拔出。

藉由上述之直立式測試設備，可以在有限的空間下創造出更多的測試產能，並有效降低測試成本。

為讓本發明之上述內容能更明顯易懂，下文特舉一較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。

圖1顯示依據本發明第一實施例之直立式測試設備之整體示意圖。圖2顯示圖1之直立式測試設備之局部示意圖。圖3顯示圖1之直立式測試設備之局部立體示意圖。

如圖1至3所示，本實施例之電子組件之直立式測試設備1包含一箱體組件10、數個第一主機板組件20以及一處理機(Handler)30。當然，電子組件之直立式測試設備1亦可更包含數個附加箱體組件10'。附加箱體組件10'的功能類似於箱體組件10，這樣可以增加測試的 產能。以下僅以單一箱體組件10的內部構造來做說明。

第一主機板組件20係設置於箱體組件10中。各第一主機板組件20包含一主機板21、一第一主插座22、一轉接板24、一第一副插座26及一中央處理器28。主機板21譬如是從市面上可購得之各廠牌的主機板，其係直立地設置於箱體組件10中。如此一來，可依據客戶的需要購買特定主機板來進行記憶體模組的測試，當然亦可使用特製的主機板來進行測試。第一主插座22係設置於主機板21上，並電連接至主機板21。轉接板24係電連接至第一主插座22，並實質上垂直於主機板21。第一副插座26係設置於轉接板24上。中央處理器28係設置於主機板21上，並電連接至主機板21。

處理機30用以將數個電子組件100分別沿著一鉛直方向DV插入至此等第一副插座26中以進行測試，並於測試完畢後將此等電子組件100拔出。電子組件100譬如是記憶體模組，譬如是DIMM記憶體模組，其上安裝有複數個積體電路(IC)200。處理機30包含一懸吊支架31及一機器手臂32，亦可更包含用以進行資料處理及管控分類程序之相關模組。機器手臂32可以沿著懸吊支架31移動(X軸向移動)，懸吊支架31亦可被移動(Y軸向移動)，而處理機30之機器手臂32可以一次抓取一個或多個電子組件100來進行Z軸向移動。

此外，前述測試設備1可以更包含一測試前暫存區50、一測試前儲存區51、一測試後粗分類區55及一測試後細分類區56。處理機30將電子組件100從此測試 前暫存區50取出後插入至第一副插座26中。處理機30依據數個測試結果(譬如是正常或不正常)分別將測試完畢之此等電子組件100移至測試後粗分類區55。此等電子組件100在測試前可以先存放在測試前儲存區51，而在測試後可以被存放在測試後細分類區56。

值得注意的是，可以提供另一處理機(未顯示)以將此等電子組件100從測試前儲存區51移動至測試前暫存區50，或從測試後粗分類區55移動至測試後細分類區56。當然，亦可由處理機30來執行前述動作。

此外，各第一主機板組件20可以更包含一第二主插座23、一第二副插座27、一連接線25、一散熱風扇29A以及一顯示卡29B。第二主插座23設置於主機板21上，並電連接至主機板21。第二副插座27設置於轉接板24上，用以接收插入之其中一個電子組件100以供測試用。連接線25係電連接第二副插座27及轉接板24。散熱風扇29A設置於中央處理器28上。顯示卡29B設置於主機板21上。使用者可以將顯示螢幕(未顯示)連接至顯示卡29B以讓測試人員觀測測試狀況及結果。然而，顯示卡29B並非是必要元件，因為所有測試過程的資料都可以由處理機30監控並處理。

圖4顯示依據本發明第二實施例之直立式測試設備之局部示意圖。如圖4所示，本實施例之測試設備係類似於第一實施例，不同之處在於測試設備更包含數個第二主機板組件60，其係設置於箱體組件10中，並堆疊於此等第一主機板組件20之上方，此等第二主機板組件 60之結構及功用係相同於此等第一主機板組件20之結構及功能。於此實施例中，處理機30可行經此等第二主機板組件60及此等第一主機板組件20之間，並將此等電子組件100分別向下插入至此等第一主機板組件20中及向上插入至此等第二主機板組件60中，只要機器手臂32可以繞著懸吊支架31翻轉即可。值得注意的是，對於位於上方的箱體組件10而言，處理機30將電子組件100插入至第一副插座26中以進行測試之鉛直方向DV，係與電子組件100所受的重力方向同向；而對於位於下方的箱體組件10而言，處理機30將電子組件100插入至第一副插座26中以進行測試之鉛直方向DV，係與電子組件100所受的重力方向反向。上方的箱體組件10與下方的箱體組件10可以單獨存在或一起存在。

圖5顯示依據本發明第三實施例之直立式測試設備之局部示意圖。如圖5所示，本實施例係類似於第一實施例，不同之處在於箱體組件10及附加箱體組件10'係設置一機台80中，且箱體組件10及此等附加箱體組件10'可被抽出機台80以便進行維修。

圖6與7顯示依據本發明第三實施例之直立式測試設備之局部示意圖。如圖6與7所示，本實施例之測試設備之箱體組件10包含一底座12、一上蓋14以及一溫控模組16。此等第一主機板組件20係固定於底座12中。上蓋14係可被移動以覆蓋底座12及此等第一主機板組件20。溫控模組16係設置於上蓋14及底座12所形成之一空間18中，用以控制空間18之溫度。於一例子中， 溫控模組16包含一加熱器17。於另一例子中，溫控模組可以包含氣體提供裝置，用以提供氣體至空間18中以控制溫度。在處理機30插置完電子組件100以後，處理機30移走，然後一油壓缸懸吊支架95上的油壓缸90將上蓋14往下推以與底座12閉合，進而可以依據客戶的需要執行某些特定溫度的測試。

圖8顯示依據本發明之處理機、電源供應器及主機板之連接關係。如圖8所示，本發明之測試設備可以更包含一電源供應器40，電連接至處理機30，處理機30係電連接至主機板21，處理機30在將電子組件100插入至第一副插座26中後導通電源供應器40及主機板21以進行測試，並於測試完畢後斷開電源供應器40及主機板21以移除主機板21。因此，所有測試過程都可以由處理機30來執行或監控，測試人員的需求數可以大幅降低。

以下詳細說明測試流程。首先，處理機30從測試前暫存區50抓取電子組件100插入至第一副插座26及/或第二副插座27中，然後將主機板21通電(開機)，讀取主機板21的訊號是否正常，若發現異常，則對主機板21斷電(關機)，更換新的電子組件100進行測試。若主機板21的訊號正常，則重複上述程序，以繼續對箱體組件10中之其他主機板21插入電子組件100。主機板開機測試的時間通常很長，譬如是1500秒至3000秒或更長。所以處理機30可以繼續利用其他附加箱體組件10'的主機板21來進行其他電子組件100的測試，同樣是重複上 述步驟。等到所有箱體組件10'都已經插滿電子組件100後，判斷測試時間是否已經到達，若否則繼續等待，若是則讀取各主機板21的訊號，以判斷電子組件100的測試結果是否正常，並依據測試結果將電子組件100拔出送至測試後粗分類區55。另外，可以透過另一處理機來將電子組件100從測試後粗分類區55搬運至測試後細分類區56。

圖9顯示依據本發明第四實施例之第一主機板組件之示意圖。如圖9所示，本實施例之第一主機板組件20'係類似於第一實施例，不同之處在於第一主機板組件20'更包含一第二主插座23、一第二轉接板24A及一第二副插座27。第二主插座23設置於主機板21上，並電連接至主機板21。第二轉接板24A電連接至第二主插座23，並實質上垂直於主機板21。第二副插座27設置於第二轉接板24A上，用以接收插入之其中一個電子組件100以供測試用。第二副插座27及第一副插座26位於同一水平面上。如此可以使處理機30的定位更加方便。第二轉接板24A可以具有如圖所示的舉升結構，也就是由一第一水平延伸板24A1、一第二水平延伸板24A3及一垂直延伸板24A2所構成，垂直延伸板24A2連接第一水平延伸板24A1及第二水平延伸板24A3，而第二副插座27係設置於第二水平延伸板24A3。值得注意的是，第一水平延伸板24A1、第二水平延伸板24A3及垂直延伸板24A2可以分開形成或一體形成。此外，這種第一主機板組件20'係可應用於上述的所有實施例中以供測試用。

藉由上述之直立式測試設備，由於轉接板24的作用，使得處理機30可以將電子組件100沿著垂直方向插至第一副插座26/第二副插座27中，而轉接板24的水平延伸尺寸很小，所以直立式主機板21之間的間距可以有效縮小。因此，可以在有限的空間下創造出更多的測試產能，並有效降低測試成本。

在較佳實施例之詳細說明中所提出之具體實施例僅用以方便說明本發明之技術內容，而非將本發明狹義地限制於上述實施例，在不超出本發明之精神及以下申請專利範圍之情況，所做之種種變化實施，皆屬於本發明之範圍。

DV‧‧‧鉛直方向

1‧‧‧測試設備

10‧‧‧箱體組件

10'‧‧‧附加箱體組件

12‧‧‧底座

14‧‧‧上蓋

16‧‧‧溫控模組

17‧‧‧加熱器

18‧‧‧空間

20、20'‧‧‧第一主機板組件

21‧‧‧主機板

22‧‧‧第一主插座

23‧‧‧第二主插座

24‧‧‧轉接板

24A‧‧‧第二轉接板

25‧‧‧連接線

26‧‧‧第一副插座

27‧‧‧第二副插座

28‧‧‧中央處理器

29A‧‧‧散熱風扇

29B‧‧‧顯示卡

30‧‧‧處理機

31‧‧‧懸吊支架

32‧‧‧機器手臂

40‧‧‧電源供應器

50‧‧‧測試前暫存區

51‧‧‧測試前儲存區

55‧‧‧測試後粗分類區

56‧‧‧測試後細分類區

60‧‧‧第二主機板組件

80‧‧‧機台

90‧‧‧油壓缸

95‧‧‧油壓缸懸吊支架

100‧‧‧電子組件

200‧‧‧積體電路

圖1顯示依據本發明第一實施例之直立式測試設備之整體示意圖。

圖2顯示圖1之直立式測試設備之局部示意圖。

圖3顯示圖1之直立式測試設備之局部立體示意圖。

圖4顯示依據本發明第二實施例之直立式測試設備之局部示意圖。

圖5顯示依據本發明第三實施例之直立式測試設備之局部示意圖。

圖6與7顯示依據本發明第三實施例之直立式測試設備之局部示意圖。

圖8顯示依據本發明之處理機、電源供應器及主機板之連接關係。

圖9顯示依據本發明第四實施例之第一主機板組件之示意圖。

DV‧‧‧鉛直方向

1‧‧‧測試設備

10‧‧‧箱體組件

20‧‧‧第一主機板組件

21‧‧‧主機板

22‧‧‧第一主插座

23‧‧‧第二主插座

24‧‧‧轉接板

25‧‧‧連接線

26‧‧‧第一副插座

27‧‧‧第二副插座

28‧‧‧中央處理器

29A‧‧‧散熱風扇

29B‧‧‧顯示卡

30‧‧‧處理機

100‧‧‧電子組件

Claims (11)

1. 一種電子組件之直立式測試設備，包含：一箱體組件；數個第一主機板組件，設置於該箱體組件中，各該第一主機板組件包含：一主機板，直立地設置於該箱體組件中；一第一主插座，設置於該主機板上，並電連接至該主機板；一轉接板，電連接至該第一主插座，並實質上垂直於該主機板；一第一副插座，設置於該轉接板上；及一中央處理器，設置於該主機板上，並電連接至該主機板；一處理機(Handler)，用以將數個電子組件分別沿著一鉛直方向插入至該等第一副插座中以進行測試，並於測試完畢後將該等電子組件拔出，其中該鉛直方向與該電子組件所受的重力方向同向或反向；以及一電源供應器，電連接至該處理機，該處理機係電連接至該主機板，該處理機在將該電子組件插入至該第一副插座中後導通該電源供應器及該主機板以進行測試，並於測試完畢後斷開該電源供應器及該主機板。
2. 如申請專利範圍第1項所述之測試設備，更包含：一測試後粗分類區，該處理機依據數個測試結果分別將測試完畢之該等電子組件移至該測試後粗分類區。
3. 如申請專利範圍第1項所述之測試設備，更包含：一測試前暫存區，該處理機將該電子組件從該測試前暫存區取出後插入至該第一副插座中。
4. 如申請專利範圍第1項所述之測試設備，其中各該第一主機板組件更包含：一第二主插座，設置於該主機板上，並電連接至該主機板；一第二副插座，設置於該轉接板上，用以接收插入之其中一個電子組件以供測試用；及一連接線，電連接該第二副插座及該轉接板。
5. 如申請專利範圍第1項所述之測試設備，更包含：數個第二主機板組件，設置於該箱體組件中，並堆疊於該等第一主機板組件之上方，該等第二主機板組件之結構及功用係相同於該等第一主機板組件之結構及功能，該處理機可行經該等第二主機板組件及該等第一主機板組件之間，並將該等電子組件分別向下插入至該等第一主機板組件中及向上插入至該等第二主機板組件中。
6. 如申請專利範圍第1項所述之測試設備，其中該箱體組件包含：一底座，該等第一主機板組件係固定於該底座中；一上蓋，其可被移動以覆蓋該底座及該等第一主機板組件；以及 一溫控模組，設置於該上蓋及該底座所形成之一空間中，用以控制該空間之溫度。
7. 如申請專利範圍第6項所述之測試設備，其中該溫控模組包含一加熱器。
8. 如申請專利範圍第1項所述之測試設備，其中該處理機一次抓取該等電子組件之多個。
9. 如申請專利範圍第1項所述之測試設備，其中各該第一主機板組件更包含：一散熱風扇，設置於該中央處理器上；以及一顯示卡，設置於該主機板上。
10. 如申請專利範圍第1項所述之測試設備，更包含數個附加箱體組件，該箱體組件及該等附加箱體組件係設置一機台中，且該箱體組件及該等附加箱體組件可被抽出該機台以便進行維修。
11. 如申請專利範圍第1項所述之測試設備，其中各該第一主機板組件更包含：一第二主插座，設置於該主機板上，並電連接至該主機板；一第二轉接板，電連接至該第二主插座，並實質上垂直於該主機板；及一第二副插座，設置於該第二轉接板上，用以接收插入之其中一個電子組件以供測試用，其中該第二副插座及該第一副插座位於同一水平面上。