TWI399682B - 光學式觸控裝置及其運作方法 - Google Patents

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Description

光學式觸控裝置及其運作方法
本發明係與觸控裝置有關，特別是關於一種能夠使得光源發射器在有限的旋轉角度下即可有效覆蓋整片可能的觸控點落點區域之光學式觸控裝置及其運作方法。
一般而言，目前較為常見的觸控式裝置包含有電阻式觸控裝置、電容式觸控裝置以及光學式觸控裝置等類型，透過不同偵測原理及方式進行單一或多重觸控點的偵測。於上述各種不同類型的觸控式裝置中，光學式觸控裝置由於具有透光性佳之特性，已成為有別於傳統的電阻式觸控裝置與電容式觸控裝置之外的另一常用技術。
然而，傳統的光學式觸控裝置必須在面板的四周設置許多光源發射器及光接收器以進行觸控點的偵測，將造成整個面板裝置額外的空間需求，使得其體積無法進一步縮小，加上其生產成本相當可觀，也無法達到高解析度的觸控偵測。近來，雖有人將三角定位量測法應用於光學觸控技術中，以進行觸控點的偵測。透過此一方式雖提升觸控輸入的解析度，並可減少光源發射器及光接收器的數量，但仍無法解決額外的空間需求之問題，且反而隨之帶來繁複計算及邊框反射條需精確定位等問題。
目前雖有光學式觸控裝置能夠透過旋轉光源發射器、導光器及光電感測器等光學元件實現高解析度之觸控點偵測，以有效解決上述問題。然而，該光學式觸控裝置除了需要額外增加設置導光器的成本之外，其旋轉光源發射器仍需旋轉相當大範圍的角度以使得掃瞄光能夠完全涵蓋面板上可能的觸控點落點區域之整個面積，導致該光學式觸控裝置實際進行觸控點判讀時的操作頻率並不夠理想，亟待克服。
因此，本發明提出一種光學式觸控裝置及其運作方法，以解決上述問題。
本發明提出一種光學式觸控裝置及其運作方法。根據本發明之第一具體實施例為一種光學式觸控裝置。於此實施例中，光學式觸控裝置包含光源發射模組、光學模組、光感測模組及處理模組。光學模組及光感測模組分別設置於光學式觸控裝置之一表面周圍。光源發射模組依照一時序循序式地發射均勻地分佈於該表面之直接掃瞄區域上方的掃瞄光。當一物體於該表面上形成一觸控點時，物體將會擋住掃瞄光及光學模組反射掃瞄光所形成之反射光。光感測模組將會根據其接收掃瞄光及反射光的接收情形產生一感測結果。處理模組根據時序及感測結果判定觸控點的位置。
根據本發明之第二具體實施例為一種光學式觸控裝置運作方法。該光學式觸控裝置包含光源發射模組、光學模組、光感測模組及處理模組，並且光學模組及光感測模組分別設置於光學式觸控裝置之一表面的周圍。於此實施例中，首先，光源發射模組依照一時序循序式地發射均勻地分佈於該表面之直接掃瞄區域上方的掃瞄光。當一物體於該表面上形成一觸控點時，該物體將會擋住掃瞄光及光學模組反射掃瞄光所形成之反射 光。接著，光感測模組將會根據其接收掃瞄光及反射光的接收情形產生一感測結果。最後，該處理模組即根據該時序及該感測結果判定該觸控點的位置。
關於本發明之優點與精神可以藉由以下的發明詳述及所附圖式得到進一步的瞭解。
本發明所提出之光學式觸控裝置及其運作方法能夠在光源發射器有限的旋轉角度下即可有效覆蓋整片可能的觸控點落點區域，故能夠增加操作頻率並提升判讀觸控點落點位置之準確度。
根據本發明之第一具體實施例為一種光學式觸控裝置。於此實施例中，該光學式觸控裝置係用以透過光學的方式進行觸控點之落點位置的感測及判讀工作。請參照圖一，圖一係繪示該光學式觸控裝置之功能方塊圖。
如圖一所示，光學式觸控裝置1包含光源發射模組10、第一光學模組12、第一光感測模組14、第二光學模組16、第二光感測模組18及處理模組20。其中第一光學模組12、第一光感測模組14、第二光學模組16及第二光感測模組18係分別設置於光學式觸控裝置1的一表面周圍之相異的第一側、第二側、第三側及第四側，但不以此為限；處理模組20耦接至光源發射模組10、第一光感測模組14及第二光感測模組18。
於實際應用中，第一光學模組12及第二光學模組16並非如同先前技術一樣是導光器，而是採用具有反射光功能的裝置。舉例而言，如圖二(A)至圖二(D)所示，第二光學模組16可以是單一的光反射器、單一的可旋轉光反射器、複數個微型可旋轉光反射器、單一可移動的旋轉光反射器、或是同時具有反射及感測功能的光反射/感測器，並無一定之限制。第一光學模組12之情形亦同，故不另行贅述。
於此實施例中，光源發射模組10係一旋轉式光源發射器，用以透過旋轉之方式依照一時序循序式地發射出複數道掃瞄光。實際上，該時序係與光源發射模組10發射該複數道掃瞄光之先後順序有關。舉例而言，於該時序中，假設光源發射模組10分別於第一時間T1、第二時間T2及第三時間T3發射第一掃瞄光、第二掃瞄光及第三掃瞄光，其中第一時間T1係早於第二時間T2並且第二時間T2係早於第三時間T3。若第一時間T1與第二時間T2之間以及第二時間T2與第三時間T3之間均具有相等的時間間隔△t，並且該時間間隔△t可以是預設值或由使用者設定。也就是說，光源發射模組10係根據該時序從第一時間T1開始每隔時間間隔△t依序發射出第一掃瞄光、第二掃瞄光及第三掃瞄光。因此，於此實施例中，該時序所包含之掃瞄光發射順序的確是光學式觸控裝置1進行觸控點落點判讀時的一項重要依據。
接下來，將先就光學式觸控裝置1判讀單一觸控點的情形進行說明。請參照圖三(A)，圖三(A)係繪示當光源發射模組10由0°開始旋轉至θ1 並依序發射掃瞄光時，物體於其掃瞄區域II內形成觸控點P1 之示意圖。於此實施例中，由於光源發射模組10係由0°旋轉至θ1 ，故光源發射模組10所依序發射之複數條掃瞄光將會均勻地分佈於掃瞄區域II上方。如圖三(A)所示，當光源發射模組10發射掃瞄光L1 時，雖然掃瞄光L1 不會直接被位於觸控點P1 的物體擋住，但第一光學模組12反射掃瞄光L1 所形成的第一次反射光RL1 即會被該物體所阻擋而無法被第一光感測模組14所接收。
之後，當光源發射模組10發射掃瞄光L2 時，掃瞄光L2 將會直接被該物體所阻擋住，因此，掃瞄光L2 無法發射至第一光學模組12，當然也無法被反射至第一光感測模組14。至於光源發射模組10在0°至θ1 範圍內所發射的其他掃瞄光，由於這些掃瞄光不會被該物體所阻擋，故均可被第一光學模組12所反射而被第一光感測模組14所接收。
於此實施例中，由於光源發射模組10在0°至θ1 範圍內依照該時序所依序發射的多條掃瞄光中，僅有掃瞄光L1 及L2 的反射光無法被第一光感測模組14所接收，第一光感測模組14即根據此接收情形產生感測結果並將感測結果傳送至處理模組20。由於光源發射模組10係由0°掃瞄至θ1 並且第一光感測模組14無法接收到兩條對應於掃瞄光L1 及L2 的反射光，因此，處理模組20即可據以判定觸控點P應位於掃瞄區域II內，並且其確切位置位於圖三(A)中之P1 點處。實際上，處理模組20可透過查詢預設對照表求得掃瞄光發射的時序與觸控點位置之對應關係，但不以此為限。
接著，請參照圖三(B)，圖三(B)係繪示當光源發射模組10由0°開始旋轉至θ1 並依序發射掃瞄光時，物體於其掃瞄區域I內形成觸控點P2 之示意圖。如圖三(B)所示，由於光源發射模組10僅由0°旋轉至θ1 ，故形成觸控點P2 之 該物體並無法直接阻擋住光源發射模組10所發射出的任何一條掃瞄光，該物體僅能阻擋住第一光學模組12反射掃瞄光L3 所形成之第一次反射光RL3 。
也就是說，光源發射模組10在0°至θ1 範圍內依照該時序所依序發射的多條掃瞄光中，僅有掃瞄光L3 的反射光RL3 無法被第一光感測模組14所接收，第一光感測模組14即根據此接收情形產生感測結果並將感測結果傳送至處理模組20。由於光源發射模組10係由0°掃瞄至θ1 並且第一光感測模組14僅無法接收到一條對應於掃瞄光L3 的反射光RL3 ，因此，處理模組20即可據以判定觸控點P2 應位於掃瞄區域I內，並且其確切位置應位於圖三(B)中之P2 點處。
同理，圖四(A)至(D)係分別繪示當光源發射模組10由θ1 掃瞄至θ2 時，物體形成不同的觸控點P3 、P4 、P5 及P6 之示意圖。其中，形成觸控點P3 的物體除了直接阻擋住光源發射模組10所發出之掃瞄光L1 外，還會阻擋住第一光學模組12反射掃瞄光L2 所形成之反射光RL2 。至於形成觸控點P4 及P5 的物體，由於並未位於光源發射模組10進行掃瞄之範圍內，故無法直接阻擋住光源發射模組10所發出之任一道掃瞄光，而僅能阻擋住第一光學模組12或第二光學模組16反射形成之反射光。此外，形成觸控點P6 的物體則僅會直接阻擋住光源發射模組10所發出之一道掃瞄光，而不會阻擋住第一光學模組12或第二光學模組16所反射之反射光。由於其觸控點判讀原理與上述之內容相似，可依此類推，故於此不另行贅述。值得注意的是，當光源發射模組10由0°旋轉至θ2 為止，即可涵蓋所有可能的觸控點落點區域，而其掃 瞄的角度不及先前技術中之一半，亦即在同樣的掃瞄速率下，本發明之光源發射模組10掃瞄一次所需時間不及先前技術中之一半，故可大幅提昇單位時間內的掃瞄次數(亦即掃瞄頻率)。
請參照圖五，圖五係繪示當光源發射模組10由0°旋轉至θ1 時，分辨同樣位於掃瞄區域II的不同觸控點PA 及PB 之示意圖。如圖五所示，當光源發射模組10由0°旋轉至θ1 時，假設物體A與物體B分別於不同時間下形成觸控點PA 與觸控點PB ，雖然形成觸控點PA 物體A與形成觸控點及PB 物體B所直接阻擋的掃瞄光均為掃瞄光LC ，但物體A與物體B所阻擋住的反射光並不相同，分別是反射光RA 與RB 。其中，反射光RA 係第一光學模組12反射掃瞄光LA 而得；反射光RB 係第一光學模組12反射掃瞄光LB 而得。於光源發射模組10發射掃瞄光的時序中，由於掃瞄光LA 的發射順序早於掃瞄光LB 。因此，處理模組20即可根據此一時序分別判定同樣位於掃瞄區域II的不同觸控點PA 及PB 之確切位置。上述為不同的觸控點共線於同一道掃瞄光之情形，至於不同的觸控點共線於同一道反射光之情形，由於這些觸控點所分別直接阻擋住之掃瞄光不同，處理模組20即可依照光源發射模組10發射掃瞄光的時序中，這些掃瞄光之發射順序先後分辨出這些觸控點之間的位置差異。
在探討完單一觸控點的判讀情形後，接下來，將進一步探討多觸控點的判讀情形。如圖五所示，即使物體A與物體B分別於不同時間下形成觸控點PA 與觸控點PB ，雖然 物體A與物體B均位於掃瞄光LC 發射至第一光學模組12之路徑上，但由於物體A與物體B所阻擋住之反射光並不同，分別是反射光RA 與RB ，故處理模組20仍可據以分辨出觸控點PA 與觸控點PB 之間的位置差異，而不至於有觸控點誤判之情事發生。
請參照圖六(A)及圖六(B)，圖六(A)及圖六(B)係繪示先前技術中之光學式觸控裝置所遭遇到無法判讀雙觸控點之情形。對於光學式觸控裝置7而言，無論是圖六(A)所示之觸控點PD1 及PD2 或圖六(B)所示之觸控點P'D1 及P'D2 均會造成光接收器75~78各自接收不到光發射器71~74所發射出的光，因而產生相同的感測結果，導致傳統的光學式觸控裝置7並無法分辨實際觸控點的落點情形究竟是觸控點PD1 及PD2 ，還是觸控點P'D1 及P'D2 。
透過本發明所提出的光學式觸控裝置1即可有效地解決先前技術所面臨的此一難題。如圖七(A)所示，當物體所形成的兩個觸控點分別為PD1 及PD2 時，形成觸控點PD2 的物體將會阻擋住第一光學模組12反射掃瞄光LD1 所形成的第一次反射光RLD1 並且直接阻擋住光源發射模組10所發射的掃瞄光LD1 。至於形成觸控點PD1 的物體則僅會阻擋住第一光學模組12反射掃瞄光LD3 所形成的第一次反射光RLD3 。
另一方面，如圖七(B)所示，若物體形成兩個觸控點P'D1 及P'D2 ，形成觸控點P'D2 的物體將會阻擋住第一光學模組12反射掃瞄光LD4 所形成的第一次反射光RLD4 並且直接阻擋住光源發射模組10所發射的掃瞄光LD5 。至於形 成觸控點P'D1 的物體則僅會阻擋住第一光學模組12反射掃瞄光LD6 所形成的第一次反射光RLD6 。
比較圖七(A)及圖七(B)可知，很明顯地，由於掃瞄光LD1 並不等於掃瞄光LD4 ，亦即第一次反射光RLD1 並不等於第一次反射光RLD4 ，還有掃瞄光LD2 亦不等於掃瞄光LD5 ，故光學式觸控裝置1可根據光源發射模組10發射這些掃瞄光的時序有效地分辨出觸控點PD2 與P'D2 。同理，由於掃瞄光LD3 並不等於掃瞄光LD6 ，亦即第一次反射光RLD3 並不等於第一次反射光RLD6 ，故光學式觸控裝置1可根據光源發射模組10發射這些掃瞄光的時序有效地分辨出觸控點PD1 與P'D1 。因此，本發明提出的光學式觸控裝置1能夠有效地改善傳統的光學式觸控裝置7無法分辨實際觸控點的落點之現象發生。
根據本發明之第二具體實施例為一種光學式觸控裝置運作方法。於此實施例中，該光學式觸控裝置包含一光源發射模組、一第一光學模組、一第一光感測模組、一第二光學模組、一第二光感測模組及一處理模組。其中，該第一光學模組、該第一光感測模組、該第二光學模組及該第二光感測模組分別設置於該表面上之第一側、第二側、第三側及第四側，但不以此為限。請參照圖八，圖八係繪示該光學式觸控裝置運作方法之流程圖。
如圖八所示，於步驟S10中，該光源發射模組依照一時序循序式地發射出複數道掃瞄光，以使得該複數道掃瞄光均勻地分佈於該表面的至少一直接掃瞄區域上方。於實際應用中，該光源發射模組係一旋轉光源發射器，該表面係根據該光源發射 模組發射該複數道掃瞄光之旋轉角度涵蓋範圍的大小被劃分為該至少一直接掃瞄區域及至少一間接掃瞄區域(例如第一次反射掃瞄區域或第二次反射掃瞄區域)。此外，該時序係與該光源發射模組發射該複數道掃瞄光之先後順序有關。
接著，於步驟S12中，當一物體於該表面上形成一觸控點時，該物體於不同時間下分別擋住該複數道掃瞄光中之至少一掃瞄光、複數道第一次反射光中之至少一第一次反射光以及複數道第二次反射光中之至少一第二次反射光，其中該複數道第一次反射光及第二次反射光係分別由該第一光學模組及該第二光學模組反射該複數道掃瞄光而形成。然後，於步驟S14中，該第一光感測模組根據其接收該複數道掃瞄光、該複數道第一次反射光及該複數道第二次反射光的接收情形產生一感測結果。最後，於步驟S16中，該處理模組根據該時序及該感測結果判定該觸控點於該表面上的位置。
相較於先前技術，由於根據本發明之光學式觸控裝置能夠透過設置於面板周圍的具有反射功能的光學單元之協助，使得其旋轉光源模組並不需如同先前技術一樣旋轉相當大的角度範圍來涵蓋面板上所有可能的觸控點之落點區域，而僅需旋轉不到原先一半的角度範圍即可涵蓋面板上可能的觸控點落點區域之整個面積，故該光學式觸控裝置能夠在單位時間內提供更多次的來回掃瞄，以增加其操作頻率並提升其判讀觸控點落點位置之準確度。
藉由以上較佳具體實施例之詳述，係希望能更加清楚描述本發明之特徵與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本發明之範疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排於本發明所欲申請之專利範圍的範疇內。
S10~S16‧‧‧流程步驟
75~78‧‧‧光接收器
1、7‧‧‧光學式觸控裝置
10‧‧‧光源發射模組
12‧‧‧第一光學模組
14‧‧‧第一光感測模組
16‧‧‧第二光學模組
18‧‧‧第二光感測模組
20‧‧‧處理模組
θ1 、θ2 ‧‧‧旋轉角度
I、II‧‧‧掃瞄區域
71~74‧‧‧光發射器
P1 ~P6 、PA ~PC 、PD1 ~PD2 、P'D1 ~P'D2 ‧‧‧觸控點
L1 ~L3 、LA ~LC 、LD1 ~LD6 ‧‧‧掃瞄光
RL1 、RL3 、RLD1 、RLD3 、RLD4 、RLD6 ‧‧‧第一次反射光
RA 、RB ‧‧‧反射光
圖一係繪示根據本發明之第一具體實施例的光學式觸控裝置之功能方塊圖。
圖二(A)~(D)係繪示不同形式之第二光學模組的示意圖。
圖三(A)係繪示當光源發射模組由0°開始旋轉至θ1 並依序發射掃瞄光時，物體於其掃瞄區域II內形成觸控點P1 之示意圖；圖三(B)係繪示當光源發射模組由0°開始旋轉至θ1 並依序發射掃瞄光時，物體於其掃瞄區域I內形成觸控點P2 之示意圖。
圖四(A)~(D)係分別繪示當光源發射模組由θ1 掃瞄至θ2 時，物體形成不同的觸控點P3 、P4 、P5 及P6 之示意圖。
圖五係繪示當光源發射模組由0°旋轉至θ1 時，分辨同樣位於掃瞄區域II的不同觸控點PA 及PB 之示意圖。
圖六(A)及(B)係繪示先前技術中之光學式觸控裝置所遭遇到無法判讀雙觸控點之情形。
圖七(A)及(B)係繪示本發明之光學式觸控裝置有效解決圖六(A)及(B)中無法判讀雙觸控點之難題。
圖八係繪示根據本發明之第二具體實施例的光學式觸控裝置運作方法之流程圖。
1．．．光學式觸控裝置
10．．．光源發射模組
12．．．第一光學模組
14．．．第一光感測模組
16．．．第二光學模組
18．．．第二光感測模組
20．．．處理模組

Claims (16)

  1. 一種光學式觸控裝置，包含：一光源發射模組，用以依照一時序(time sequence)循序式地發射出複數道掃瞄光，以使得該複數道掃瞄光均勻地分佈於該光學式觸控裝置之一表面的至少一直接掃瞄區域上方；一第一光學模組，設置於該表面之周圍，用以反射該複數道掃瞄光以形成複數道第一次反射光；一第一光感測模組，設置於該表面之周圍，當一物體於該表面上形成一觸控點時，該物體將會於不同時間下分別擋住該複數道掃瞄光中之至少一掃瞄光以及該複數道第一次反射光中之至少一第一次反射光，該第一光感測模組根據其接收該複數道掃瞄光及該複數道第一次反射光的接收情形產生一感測結果；以及一處理模組，耦接至該光源發射模組及該第一光感測模組，用以根據該時序及該感測結果判定該觸控點於該表面上的位置。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之光學式觸控裝置，其中該光源發射模組係一旋轉光源發射器，該表面係根據該光源發射模組發射該複數道掃瞄光之旋轉角度涵蓋範圍的大小被劃分為該至少一直接掃瞄區域及至少一間接掃瞄區域。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之光學式觸控裝置，其中該時序係與該光源發射模組發射該複數道掃瞄光之先後順序有關。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之光學式觸控裝置，其中於該時序中，該光源發射模組分別於一第一時間、一第二時間及一 第三時間發射該複數道掃瞄光中之一第一掃瞄光、一第二掃瞄光及一第三掃瞄光，該第一時間早於該第二時間且該第二時間早於該第三時間。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之光學式觸控裝置，其中該第一時間與該第二時間之間以及該第二時間與該第三時間之間具有相同長度的一時間間隔，該時間間隔為預設值或由使用者設定。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之光學式觸控裝置，其中該第一光學模組係選自由一光反射器、一光反射/感測器、一可旋轉光反射器、複數個微型可旋轉光反射器及一可移動旋轉光反射器所組成之群組中之其一。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之光學式觸控裝置，其中該第一光學模組及該第一光感測模組係分別設置於該表面之一第一側及一第二側，該第一側與該第二側彼此相對且該第二側較該第一側接近該光源發射模組。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之光學式觸控裝置，進一步包含：一第二光學模組，設置於該表面上相異於該第一側及該第二側之一第三側，用以反射該複數道第一次反射光以形成複數道第二次反射光；以及一第二光感測模組，設置於該表面上相異於該第一側、該第二側及該第三側之一第四側，當該物體於該表面上形成該觸控點時，該物體將會於不同時間下分別擋住該至少一掃瞄光、該至少一第一次反射光及該複數道第二次反射光中之至少一第二次反射光，該第一光感測模組及該第二光感測模組根據其接收該複數道掃瞄光、該複數道第一次反射光及該複數道第二次反射 光的接收情形產生該感測結果。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之光學式觸控裝置，其中該第二光學模組係選自由一光反射器、一光反射/感測器、一可旋轉光反射器、複數個微型可旋轉光反射器及一可移動旋轉光反射器所組成之群組中之其一。
  10. 如申請專利範圍第7項所述之光學式觸控裝置，進一步包含一第二光學模組及一第三光學模組，分別設置於該表面上相異於該第一側及該第二側之一第三側及一第四側，用以反射該複數道第一次反射光以形成複數道第二次反射光，當該物體於該表面上形成該觸控點時，該物體擋住該至少一掃瞄光、該至少一第一次反射光及該複數道第二次反射光中之至少一第二次反射光，該第一光感測模組根據其接收該複數道掃瞄光、該複數道第一次反射光及該複數道第二次反射光的接收情形產生該感測結果。
  11. 如申請專利範圍第10項所述之光學式觸控裝置，其中該第二光學模組及該第三光學模組係分別選自由一光反射器、一光反射/感測器、一可旋轉光反射器、複數個微型可旋轉光反射器及一可移動旋轉光反射器所組成之群組中之其一。
  12. 一種運作一光學式觸控裝置的方法，該光學式觸控裝置包含一光源發射模組、一第一光學模組、一第一光感測模組及一處理模組，該第一光學模組及該第一光感測模組分別設置於該表面之周圍，該方法包含下列步驟：該光源發射模組依照一時序循序式地發射出複數道掃瞄光，以使得該複數道掃瞄光均勻地分佈於該光學式觸控裝置之一表面的至少一直接掃瞄區域上方； 當一物體於該表面上形成一觸控點時，該物體於不同時間下分別擋住該複數道掃瞄光中之至少一掃瞄光以及複數道第一次反射光中之至少一第一次反射光，其中該複數道第一次反射光係由該第一光學模組反射該複數道掃瞄光而形成；該第一光感測模組根據其接收該複數道掃瞄光及該複數道第一次反射光的接收情形產生一感測結果；以及該處理模組根據該時序及該感測結果判定該觸控點於該表面上的位置。
  13. 如申請專利範圍第12項所述之方法，其中該光源發射模組係一旋轉光源發射器，該表面係根據該光源發射模組發射該複數道掃瞄光之旋轉角度涵蓋範圍的大小被劃分為該至少一直接掃瞄區域及至少一間接掃瞄區域。
  14. 如申請專利範圍第12項所述之方法，其中該時序係與該光源發射模組發射該複數道掃瞄光之先後順序有關。
  15. 如申請專利範圍第12項所述之方法，其中該光學式觸控裝置進一步包含一第二光學模組及一第二光感測模組，該第一光學模組、該第一光感測模組、該第二光學模組及該第二光感測模組分別設置於該表面之一第一側、一第二側、一第三側及一第四側，該方法進一步包含下列步驟：該第二光學模組反射該複數道第一次反射光以形成複數道第二次反射光；當該物體於該表面上形成該觸控點時，該物體於不同時間下分別擋住該至少一掃瞄光、該至少一第一次反射光及該複數道第二次反射光中之至少一第二次反射 光；以及該第一光感測模組及該第二光感測模組根據其接收該複數道掃瞄光、該複數道第一次反射光及該複數道第二次反射光的接收情形產生該感測結果。
  16. 如申請專利範圍第12項所述之方法，其中該光學式觸控裝置進一步包含一第二光學模組及一第三光學模組，該第一光學模組、該第一光感測模組、該第二光學模組及該第三光學模組分別設置於該表面之一第一側、一第二側、一第三側及一第四側，該方法進一步包含下列步驟：該第二光學模組及該第三光學模組反射該複數道第一次反射光以形成複數道第二次反射光；當該物體於該表面上形成該觸控點時，該物體擋住該至少一掃瞄光、該至少一第一次反射光及該複數道第二次反射光中之至少一第二次反射光；以及該第一光感測模組根據其接收該複數道掃瞄光、該複數道第一次反射光及該複數道第二次反射光的接收情形產生該感測結果。
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