TWI399678B - 光學式觸控裝置及其運作方法 - Google Patents

Description

光學式觸控裝置及其運作方法

本發明係與觸控裝置有關，特別是關於一種能夠藉由旋轉光源發射器循序發出之掃瞄光線避免觸控點無法判讀的情況發生之光學式觸控裝置及其運作方法。

近年來，隨著影像顯示相關之科技不斷地發展，觸控式液晶顯示裝置不僅省電且不佔空間，還同時具有可直接透過接觸方式進行輸入之優點，故廣受一般消費者的喜愛，已成為顯示器市場上的主流，並且廣泛應用於各類電子產品。於各種不同類型的觸控式裝置中，光學式觸控裝置由於具有透光性佳之特性，已成為有別於傳統的電阻式觸控裝置與電容式觸控裝置之外的另一常用技術。

目前雖有光學式觸控裝置僅需透過導光器及光電感測器等簡單的光學元件即能夠實現高解析度之觸控點偵測，除了不必設置大量的光源發射器及光接收器之外，亦不需採用三角定位量測法進行繁複的計算。然而，當該光學式觸控裝置應用至多點觸控的範疇時，由於其發射的光線均為垂直方向或水平方向，導致在某些特殊的多點觸控情況下，該光學式觸控裝置會出現無法判斷這些觸控點甚至判斷錯誤之現象，嚴重侷限光學式觸控裝置的應用範圍，亟待克服。

因此，本發明提出一種光學式觸控裝置及其運作方法，以解決上述問題。

本發明提出一種能夠藉由旋轉光源發射器循序發出之掃瞄光線避免多重觸控點無法判斷的情況之光學式觸控裝置及其運作方法。根據本發明之第一具體實施例為一種光學式觸控裝置。於此實施例中，該光學式觸控裝置包含光源發射模組、光學模組、光感測模組及處理模組。其中，光學模組及光感測模組係分別設置於光學式觸控裝置之一表面的第一側與相對於第一側之第二側；光感測模組耦接至處理模組。

光源發射模組循序式地發射出第一光源及第二光源，其中第二光源之複數道掃瞄光線均勻地分佈於該表面上方。光學模組接收第一光源並均勻地發射出複數道光線。光感測模組分別根據其接收該複數道光線及該複數道掃瞄光線的接收情形產生第一感測結果及第二感測結果，其中第一感測結果與第二感測結果分別與該複數道光線與該複數道掃瞄光線是否於該表面上方被至少一物體阻擋有關。處理模組根據第一感測結果與第二感測結果於該表面上判定對應於該至少一物體之至少一觸控點位置。

根據本發明之第二具體實施例為一種光學式觸控裝置運作方法。於此實施例中，該光學式觸控裝置包含光源發射模組、光學模組、光感測模組及處理模組，光學模組與光感測模組分別設置於光學式觸控裝置之一表面的第一側與相對於第一側之第二側。該方法包含下列步驟：(a)光源發射模組循序式地發射出第一光源及第二光源，其中第二光源之複數 道掃瞄光線係均勻地分佈於該表面上方；(b)光學模組接收第一光源並均勻地發射出複數道光線；(c)光感測模組分別根據其接收該複數道光線及該複數道掃瞄光線的接收情形產生第一感測結果及第二感測結果；(d)處理模組根據第一感測結果與第二感測結果判定至少一觸控點位置。

關於本發明之優點與精神可以藉由以下的發明詳述及所附圖式得到進一步的瞭解。

根據本發明之第一具體實施例為一種光學式觸控裝置。於此實施例中，該光學式觸控裝置可應用於液晶顯示裝置或其他顯示裝置，同時具有顯示畫面與觸控輸入之功能。請參照圖一及圖二，圖一及圖二係分別繪示該光學式觸控裝置之功能方塊圖及示意圖。

如圖一及圖二所示，光學式觸控裝置1包含第一旋轉光源發射模組10a、第二旋轉光源發射模組10b、第一光學模組11、第二光學模組12、第一光感測模組13、第二光感測模組14、模式切換模組15、處理模組16及顯示模組18。其中，第一光學模組11與第一光感測模組13係分別設置於顯示模組18之一表面的第一側及第二側，第一側與第二側彼此相對；第二光學模組12與第二光感測模組14係分別設置於顯示模組18之該表面的第三側及第四側，第三側與第四側彼此相對；第一光感測模組13及第二光感測模組14均耦接至處理模組16；模式切換模組15耦接至第一旋轉光源發射模組10a及第二旋轉光源發射模組10b；處理模組16耦接 至顯示模組18。

於實際應用中，第一旋轉光源發射模組10a及第二旋轉光源發射模組10b係可透過適當的機構設計整合為同一個光源發射模組。舉例而言，若將旋轉光源發射模組10a與一移動基座結合，旋轉光源發射模組10a即可透過該移動基座移動至該表面周圍任何欲發射掃瞄光線之處，故可省去第二旋轉光源發射模組10b之設置。

接下來，將就光學式觸控裝置1所包含之各模組進行介紹。首先，第一旋轉光源發射模組10a及第二旋轉光源發射模組10b分別提供光學式觸控裝置1於不同觸控模式下進行觸控點偵測時所需之光源。實際上，使用者可透過模式切換模組15切換不同的觸控模式，藉以控制第一旋轉光源發射模組10a及第二旋轉光源發射模組10b之啟動或關閉。

於此實施例中，第一旋轉光源發射模組10a係透過旋轉的方式循序地分別發出第一光源、第二光源及第三光源，其中，第一光源係發射至第一光學模組11，第二光源所包含的複數道掃瞄光線均勻地散佈於該表面上方並為第一光感測模組13及第二光感測模組14所接收，第三光源則係發射至第二光學模組12。至於第二旋轉光源發射模組10b係透過旋轉的方式循序地發射出輔助光源，該輔助光源所包含的複數道輔助掃瞄光線均勻地散佈於該表面上方並為第一光感測模組13及第二光感測模組14所接收。實際上，第一旋轉光源發射模組10a及第二旋轉光源發射模組10b所發射出之光源的種類則無一定的限制，可以是任何型式的光源。

當第一光學模組11接收到第一光源時，第一光學模組11將會均勻地發射出複數道彼此平行的第一方向光線。同樣地，當第二光學模組12接收到第三光源時，第二光學模組12將會均勻地發射出複數道彼此平行的第二方向光線。實際上，該複數道第一方向光線係與該複數道第二方向光線彼此垂直。於此實施例中，第一光學模組11與第二光學模組12均為具有導光(light-guiding)功能的導光裝置(例如導光板)，並分別包含有複數個導光單元。

請參照圖三(A)，圖三(A)係繪示光學式觸控裝置1於無觸控點之情況下實際運作的示意圖。如圖三(A)所示，第一光學模組11及第二光學模組12分別包含四個第一導光單元E5~E8及四個第二導光單元E1~E4。其中，第一導光單元E5~E8分別發出彼此平行的第一方向光線L_x1~L_x4；第二導光單元E1~E4分別發出彼此平行的第二方向光線L_y1~L_y4。第一光感測模組13包含四個第一光電感測單元D5~D8；第二光感測模組14包含四個第二光電感測單元D1~D4。於實際應用中，第一光感測模組13與第二光感測模組14亦可以兩個光學模組(例如導光板)來取代，該兩個光學模組係分別循序式地接收第一方向光線及第二方向光線，此時需於顯示模組18的第二邊及第四邊所交界的角落設置一大角度光電感應器(未顯示於圖中)，以分別根據該兩個光學模組循序式地接收光線之情形產生感測結果給處理模組16進行判斷。

請參照圖三(B)，圖三(B)係繪示光學式觸控裝置1於第一觸控模式下對一觸控點T進行偵測之一範例。值得注意的 是，於第一觸控模式下，僅需由第一旋轉光源發射模組10a分別發出第一光源至第一光學模組11且發出第三光源至第二光學模組12，並不需啟動第二旋轉光源發射模組10b。實際上，觸控點T可以由任何物體所形成，例如手指、觸控筆等，甚至形成觸控點T的物體不一定要碰觸到顯示模組18的表面，只要能夠阻擋住顯示模組18之表面上的光線即可。

接著，第一光感測模組13與第二光感測模組14即分別根據第一光電感測單元D5~D8與第二光電感測單元D1~D4是否接收到第一方向光線及第二方向光線產生第一感測結果及第二感測結果。之後，處理模組16即根據第一感測結果與第二感測結果得到第一光電感測單元D6與第二光電感測單元D2未能接收到光線的資訊，並根據查找表得到第一光電感測單元D6所對應的是第一導光單元E6及水平軸座標X₃，並且第二光電感測單元D2所對應的是第二導光單元E2及垂直軸座標Y₂。因此，處理模組16即可根據上述資訊判定該物體於顯示模組18之表面所形成之觸控點位置的二維座標應為(X₃,Y₂)。

如上所述，第一觸控模式可完全適用於單點觸控之情況，然而，在某些特殊的多點觸控情況之下，第一觸控模式即會有無法判斷或判斷錯誤之現象發生。此時，光學式觸控裝置1即必須採取更精確的第二觸控模式來進行觸控點的判斷。請參照圖四(A)及圖四(B)，圖四(A)及圖四(B)係分別繪示光學式觸控裝置1於第二觸控模式下進行雙觸控點偵測之不同範例。值得注意的是，於第二觸控模式下，第一旋轉光源發射模組20a除了需要分別發出第一光源La至第一光學模組 11且發出第三光源Lb至第二光學模組12外，還需要循序地發出第二光源以形成均勻地散佈於該表面之複數道掃瞄光線Lc1~Lc8，而第二旋轉光源發射模組目前仍不需啟動。

於此實施例中，若採取第一觸控模式對圖四(A)中之觸控點P11、P12以及圖四(B)中之觸控點P21、P22進行偵測，將會得到同樣的感測結果，如圖四(C)所示。此時，處理模組16即難以根據此一感測結果判斷出實際上的觸控情形究竟是如同圖四(A)所示的觸控點P11及P12，抑或如同圖四(B)所示的觸控點P21及P22？於第二觸控模式下，此一困擾可藉由第一旋轉光源發射模組20a所發出之複數道掃瞄光線Lc1~Lc8加以解決。

請參照圖四(A)及圖四(D)，由於形成觸控點P11的物體擋住了掃瞄光線Lc2~Lc7，感測單元D2~D7均無法接收到掃瞄光線，故可得到如同圖四(D)之感測結果。同理，請參照圖四(B)及圖四(E)，由於形成觸控點P21的物體擋住了掃瞄光線Lc1~Lc2且形成觸控點P22的物體擋住了掃瞄光線Lc7~Lc8，感測單元D1~D2及D7~D8均無法接收到掃瞄光線，故可得到如同圖四(E)之感測結果。很明顯地，圖四(D)之感測結果與圖四(E)之感測結果並不相同，因此，處理模組16即可輕易地根據感測結果判斷出實際上的觸控情形究竟是如同圖四(A)所示的觸控點P11及P12或如同圖四(B)所示的觸控點P21及P22，而不會產生觸控點判斷上之混淆。

請參照圖五(A)~圖五(D)，圖五(A)~圖五(D)係分別繪示光學式觸控裝置1於第二觸控模式下進行三觸控點偵測之不同 範例。同樣地，若採取第一觸控模式進行這四種情形之觸控點偵測，均會得到如同圖五(E)之感測結果，故處理模組16無法分辨。但若採取第二觸控模式進行偵測，則可能得到圖五(F)~圖五(I)等四種不同的感測結果，分別對應於圖五(A)~圖五(D)的四種觸控情況，因此，處理模組16即可輕易地根據感測結果判定實際的觸控情形為何。

此外，由於第二觸控模式係採用循序式發射的掃瞄光線進行掃瞄，為了避免光電感測單元不小心接收到除了相對應的第一方向光線之外的其他相鄰的第一方向光線，第一光感測模組13之表面上亦可設置有複數個雜訊排除結構，每一個雜訊排除結構可具有一凹陷部或一孔穴，用以容置一光電感測單元於其內，透過這些雜訊排除結構之設置，使得相鄰的第一方向光線或其他雜訊均被排除於該凹陷部或該孔穴之外，只有相對應的第一方向光線能夠透過該凹陷部或該孔穴射入該光電感測單元，以避免觸控點誤判之情事發生。

如上所述，第二觸控模式確實在絕大部分的情況下均能有效地判斷出多個觸控點之位置，然而，仍有極少數例外的特殊觸控情形無法透過第二觸控模式進行判斷。舉例而言，請參照圖五(A)及圖六，雖然圖五(A)只有三個觸控點而圖六則有四個觸控點，然而，根據第二觸控模式所得到之感測結果均會如同圖五(F)一樣，所有感測單元D1~D8均無法接收到掃瞄光線，因此，處理模組16無法根據此一感測結果判斷實際的觸控情況如同圖五(A)所示抑或和圖六一樣。此時，光學式觸控裝置1即需採取更精確的第三觸控模式進行特殊多觸控點情況之偵測。如圖七(A)及圖七(B)所示，於第三觸控 模式下，除了第一旋轉光源發射模組20a原本發出的光源之外，第二旋轉光源發射模組20b亦需發出複數道輔助掃瞄光線Lc1'~Lc8'以產生輔助感測結果幫助處理模組16進行判斷。

請參照圖七(C)及圖七(D)，圖七(C)及圖七(D)係分別繪示對應於圖七(A)中之三個觸控點P81~P83之輔助感測結果及對應於圖七(B)中之四個觸控點P91~P94之輔助感測結果。如圖七(C)及圖七(D)所示，透過與原本掃瞄光線不同角度之輔助掃瞄光線Lc1'~Lc8'的協助，兩個輔助感測結果明顯地不同，所以處理模組16即可輕易地進行判斷。因此，根據本發明之光學式觸控裝置1能夠透過上述不同的觸控模式完全地適用於任何單點或多點觸控情況，而不會有誤判之情事發生。

根據本發明之第二具體實施例為一種光學式觸控裝置運作方法。於此實施例中，光學式觸控裝置包含第一光源發射模組、第二光源發射模組、第一光學模組、第二光學模組、第一光感測模組、第二光感測模組、模式切換模組及處理模組。其中，第一光學模組與第一光感測模組係分別設置於光學式觸控裝置之一表面的第一側及第二側，該第一側與該第二側係彼此相對；第二光學模組與第二光感測模組係分別設置於該表面的第三側及第四側，該第三側與該第四側係彼此相對。由於光學式觸控裝置於第一觸控模式下之運作方法已為習知，故不另行贅述。

接下來，將就光學式觸控裝置於第二觸控模式下之運作方法進行介紹。如圖八所示，首先，於步驟S10中，模式切 換模式將光學式觸控裝置切換至第二觸控模式。接著，於步驟S11中，第一光源發射模組循序式地發射第一光源、第二光源及第三光源。於步驟S12中，第一光學模組接收第一光源並均勻地發射出複數道第一方向光線；於步驟S13中，第二光源之複數道掃瞄光線均勻地分佈於該表面上方；於步驟S14中，第二光學模組接收第三光源並均勻地發射出複數道第二方向光線。接下來，於步驟S15中，第一光感測模組分別根據其接收該複數道第一方向光線及該複數道掃瞄光線的接收情形產生第一感測結果及第二感測結果，其中第一感測結果與第二感測結果係分別與該複數道第一方向光線與該複數道掃瞄光線是否於該表面上方被至少一物體阻擋有關。

同理，於步驟S16中，第二光感測模組分別根據其接收該複數道第二方向光線及該複數道掃瞄光線的接收情形產生第三感測結果及第四感測結果，其中第三感測結果與第四感測結果係分別與該複數道第二方向光線與該複數道掃瞄光線是否於該表面上方被該至少一物體阻擋有關。之後，於步驟S17中，該處理模組根據第一感測結果、第二感測結果、第三感測結果及第四感測結果於該表面上判定對應於該至少一物體之至少一觸控點位置。

接下來，將就光學式觸控裝置於第三觸控模式下之運作方法進行介紹。如圖九所示，首先，於步驟S20中，模式切換模式將光學式觸控裝置切換至第三觸控模式。接著，於步驟S21中，第一光源發射模組循序式地發射第一光源、第二光源及第三光源且第二光源發射模組發射輔助光源。於步驟S22中，第一光學模組接收第一光源並均勻地發射出複數道 第一方向光線；於步驟S23中，第二光源之複數道掃瞄光線均勻地分佈於該表面上方；於步驟S24中，第二光學模組接收第三光源並均勻地發射出複數道第二方向光線；於步驟S25中，輔助光源之複數道輔助掃瞄光線均勻地分佈於該表面上方。接著，於步驟S26中，第一光感測模組分別根據其接收該複數道第一方向光線及該複數道掃瞄光線的接收情形產生第一感測結果及第二感測結果，其中第一感測結果與第二感測結果係分別與該複數道第一方向光線與該複數道掃瞄光線是否於該表面上方被至少一物體阻擋有關。

同理，於步驟S27中，第二光感測模組分別根據其接收該複數道第二方向光線及該複數道掃瞄光線的接收情形產生第三感測結果及第四感測結果，其中第三感測結果與第四感測結果係分別與該複數道第二方向光線與該複數道掃瞄光線是否於該表面上方被該至少一物體阻擋有關。值得注意的是，於步驟S28中，第一光感測模組及第二光感測模組亦會根據其接收該複數道輔助掃瞄光線的接收情形產生輔助感測結果。之後，於步驟S29中，處理模組根據第一感測結果、第二感測結果、第三感測結果、第四感測結果以及輔助感測結果於該表面上判定對應於該至少一觸控點位置。

相較於先前技術，根據本發明之光學式觸控裝置及其運作方法除了原有之導光器及光電感測器等簡單的設計外，還進一步透過至少一個旋轉光源發射器循序發出均勻地散佈於觸控表面上的掃瞄光線，輔助該光學式觸控裝置進行多個觸控點之判斷，以避免在某些特殊的多點觸控情況下無法判斷觸控點甚至判斷錯誤之現象發生，使得該光學式觸控裝置無 論是在任何的單點及多點觸控情況下均能正確地判斷所有的觸控點。此外，該光學式觸控裝置之模式切換模組亦可讓使用者能夠自由選擇觸控模式，該光學式觸控裝置即會根據使用者所選擇之觸控模式進行觸控點之偵測。

藉由以上較佳具體實施例之詳述，係希望能更加清楚描述本發明之特徵與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本發明之範疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排於本發明所欲申請之專利範圍的範疇內。

S10~S29‧‧‧流程步驟

1‧‧‧光學式觸控裝置

10a、20a‧‧‧第一光源發射模組

11‧‧‧第一光學模組

10b、20b‧‧‧第二光源發射模組

12‧‧‧第二光學模組

13‧‧‧第一光感測模組

14‧‧‧第二光感測模組

15‧‧‧模式切換模組

16‧‧‧處理模組

18‧‧‧顯示模組

E1~E8‧‧‧導光單元

D1~D8‧‧‧感測單元

La‧‧‧第一光源

L_x1~L_x4‧‧‧第一方向光線

Lb‧‧‧第二光源

L_y1~L_y4‧‧‧第二方向光線

Lc1~Lc8‧‧‧掃瞄光線

Lc1'~Lc8'‧‧‧輔助掃瞄光線

P11~P12、P21~P22、P31~P33、P41~P43、P51~P53、P61~P63、P71~P74、P81~P83、P91~P94、T‧‧‧觸控點

圖一及圖二係分別繪示根據本發明之第一具體實施例的光學式觸控裝置之功能方塊圖及示意圖。

圖三(A)係繪示光學式觸控裝置於無觸控點之情況下實際運作的示意圖；圖三(B)係繪示光學式觸控裝置於第一觸控模式下進行單觸控點偵測之一範例。

圖四(A)及圖四(B)係分別繪示光學式觸控裝置於第二觸控模式下進行雙觸控點偵測之不同範例；圖四(C)~圖四(E)係代表不同的感測結果。

圖五(A)~圖五(D)係分別繪示光學式觸控裝置於第二觸控模式下進行三觸控點偵測之不同範例；圖五(E)~圖五(I)係代表不同的感測結果。

圖六係繪示光學式觸控裝置於第二觸控模式下無法判別 之特殊情況。

圖七(A)~圖七(B)係分別繪示光學式觸控裝置於第三觸控模式下進行三觸控點及四觸控點偵測之不同範例；圖七(C)~圖七(D)係代表不同的感測結果。

圖八及圖九係分別繪示根據本發明之第二具體實施例的光學式觸控裝置於第二觸控模式及第三觸控模式下之運作方法的流程圖。

1‧‧‧光學式觸控裝置

10a‧‧‧第一光源發射模組

10b‧‧‧第二光源發射模組

11‧‧‧第一光學模組

12‧‧‧第二光學模組

13‧‧‧第一光感測模組

14‧‧‧第二光感測模組

15‧‧‧模式切換模組

16‧‧‧處理模組

18‧‧‧顯示模組

Claims (24)

1. 一種光學式觸控裝置，包含：一第一光源發射模組，用以循序式地發射出一第一光源及一第二光源，其中該第二光源之複數道掃瞄光線係均勻地分佈於該光學式觸控裝置之一表面上方；一第一光學模組，設置於該表面上的一第一側，用以接收該第一光源並均勻地發射出複數道第一方向光線；一第一光感測模組，設置於該表面上相對於該第一側之一第二側，用以分別接收該複數道第一方向光線及該複數道掃瞄光線並分別根據其接收該複數道第一方向光線及該複數道掃瞄光線的接收情形產生一第一感測結果及一第二感測結果，其中該第一感測結果與該第二感測結果係分別與該複數道第一方向光線與該複數道掃瞄光線是否於該表面上方被至少一物體阻擋有關；以及一處理模組，耦接至該第一光感測模組，用以根據該第一感測結果與該第二感測結果於該表面上判定對應於該至少一物體之至少一觸控點位置；其中該光學式觸控裝置進一步包含一第二光源發射模組，用以循序式地發射出一輔助光源，該輔助光源之複數道輔助掃瞄光線係均勻地分佈於該表面上方，該第一光感測模組接收該複數道輔助掃瞄光線並根據接收該複數道輔助掃瞄光線的接收情形產生一輔助感測結果，該處理模組根據該第一感測結果、該第二感測結果及該輔助感測結果判定該至少一觸控點位置。
2. 如申請專利範圍第1項所述之光學式觸控裝置，其中該第一光學模組係為一導光板。
3. 如申請專利範圍第1項所述之光學式觸控裝置，進一步包含：一模式切換模組，耦接至該第一光源發射模組及該第二光源發射模組，當該模式切換模組被切換至一特定觸控模式時，該模式切換模組根據該特定觸控模式選擇性地啟動或關閉該第一光源發射模組及/或該第二光源發射模組。
4. 如申請專利範圍第1項所述之光學式觸控裝置，其中該第二光源發射模組係相對於該第一光源發射模組而設置，用以提供具有與該第一光源發射模組不同發射角度之輔助光源。
5. 如申請專利範圍第1項所述之光學式觸控裝置，其中該第二光源發射模組係可活動地設置於該光學式觸控裝置四周相異於該第一光源發射模組之任一位置上。
6. 如申請專利範圍第1項所述之光學式觸控裝置，其中該第一光源發射模組與該第二光源發射模組為旋轉式光源發射器。
7. 一種光學式觸控裝置，包含：一第一光源發射模組，用以循序式地發射出一第一光源及一第二光源，其中該第二光源之複數道掃瞄光線係均勻地分佈於該光學式觸控裝置之一表面上方；一第一光學模組，設置於該表面上的一第一側，用以接收該第一光源並均勻地發射出複數道第一方向光線； 一第一光感測模組，設置於該表面上相對於該第一側之一第二側，用以分別接收該複數道第一方向光線及該複數道掃瞄光線並分別根據其接收該複數道第一方向光線及該複數道掃瞄光線的接收情形產生一第一感測結果及一第二感測結果，其中該第一感測結果與該第二感測結果係分別與該複數道第一方向光線與該複數道掃瞄光線是否於該表面上方被至少一物體阻擋有關；以及一處理模組，耦接至該第一光感測模組，用以根據該第一感測結果與該第二感測結果於該表面上判定對應於該至少一物體之至少一觸控點位置；其中該第一光源發射模組係可活動地設置於該光學式觸控裝置之周圍，當該第一光源發射模組移動至該光學式觸控裝置周圍之任一其他位置時，該第一光源發射模組亦可循序式地發射出一輔助光源，該輔助光源之複數道輔助掃瞄光線係均勻地分佈於該表面上方，該第一光感測模組接收該複數道輔助掃瞄光線並根據接收該複數道輔助掃瞄光線的接收情形產生一輔助感測結果，該處理模組根據該第一感測結果、該第二感測結果及該輔助感測結果判定該至少一觸控點位置。
8. 如申請專利範圍第1項所述之光學式觸控裝置，其中該第一光學模組包含複數個導光單元，該第一光感測模組包含複數個光電感測單元，該複數個光電感測單元中之一第一光電感測單元係對應於該複數個導光單元中之一第一導光單元及一第一位置，並係用以接收該第一導光單元所發射出之一第一方向光線。
9. 如申請專利範圍第8項所述之光學式觸控裝置，其中當該第一導光單元所發射出之該第一方向光線被該物體阻擋時，該第一光電感測單元將會發出一未接收訊號，該第一光感測模組根據該未接收訊號及該第一光電感測單元所對應的該第一位置產生該第一感測結果。
10. 如申請專利範圍第8項所述之光學式觸控裝置，其中該第一光感測模組之表面上設置有複數個雜訊排除結構，該複數個雜訊排除結構係分別對應於該複數個光電感測單元，以避免每一個光電感測單元接收到除了相對應之第一方向光線之外的其他相鄰的第一方向光線。
11. 如申請專利範圍第10項所述之光學式觸控裝置，其中該雜訊排除結構具有一凹陷部或一孔穴，用以容置相對應之一光電感測單元於其內，該雜訊排除結構僅能允許相對應之一第一方向光線透過該凹陷部或該孔穴射入該光電感測單元。
12. 如申請專利範圍第1項所述之光學式觸控裝置，進一步包含：一第二光學模組，設置於該表面上的一第三側，用以接收該第一光源發射模組所提供的一第三光源並均勻地發射出複數道第二方向光線；以及一第二光感測模組，設置於該表面上相對於該第三側的一第四側並耦接至該處理模組，用以分別接收該複數道第二方向光線及該複數道掃瞄光線並分別根據其接收該複數道第二方向光線及該複數道掃瞄光線的接收情形產生一第三感測結果及一第四感測結果，其中該 第三感測結果與該第四感測結果係分別與該複數道第二方向光線與該複數道掃瞄光線是否於該表面上方被該至少一物體阻擋有關，該處理模組根據該第一感測結果、該第二感測結果、該第三感測結果及該第四感測結果於該表面上判定該至少一觸控點位置。
13. 如申請專利範圍第12項所述之光學式觸控裝置，其中該第一光感測模組及該第二光感測模組接收該複數道輔助掃瞄光線並根據接收該複數道輔助掃瞄光線的接收情形產生另一輔助感測結果，該處理模組根據該第一感測結果、該第二感測結果、該第三感測結果、該第四感測結果及該另一輔助感測結果判定該至少一觸控點位置。
14. 一種運作一光學式觸控裝置的方法，該光學式觸控裝置包含一第一光源發射模組、一第一光學模組、一第一光感測模組及一處理模組，該第一光學模組與該第一光感測模組分別設置於該光學式觸控裝置之一表面的一第一側與相對於該第一側之一第二側，該方法包含下列步驟：該第一光源發射模組循序式地發射出一第一光源及一第二光源，其中該第二光源之複數道掃瞄光線係均勻地分佈於該表面上方；該第一光學模組接收該第一光源並均勻地發射出複數道第一方向光線；該第一光感測模組分別接收該複數道第一方向光線及該複數道掃瞄光線並分別根據其接收該複數道第一方向光線及該複數道掃瞄光線的接收情形產生一第一感測結果及一第二感測結果，其中該第一感測結果與該第 二感測結果係分別與該複數道第一方向光線與該複數道掃瞄光線是否於該表面上方被至少一物體阻擋有關；以及該處理模組根據該第一感測結果與該第二感測結果於該表面上判定對應於該至少一物體之至少一觸控點位置；其中該光學式觸控裝置進一步包含一第二光源發射模組，該方法進一步包含下列步驟：該第二光源發射模組循序式地發射出一輔助光源，其中該輔助光源之複數道輔助掃瞄光線係均勻地分佈於該表面上方；該第一光感測模組接收該複數道輔助掃瞄光線並根據接收該複數道輔助掃瞄光線的接收情形產生一輔助感測結果；以及該處理模組根據該第一感測結果、該第二感測結果及該輔助感測結果判定該至少一觸控點位置。
15. 如申請專利範圍第14項所述之方法，其中該第一光學模組係為一導光板。
16. 如申請專利範圍第14項所述之方法，其中該光學式觸控裝置進一步包含一模式切換模組，該方法進一步包含下列步驟：當該模式切換模組被切換至一特定觸控模式時，該模式切換模組根據該特定觸控模式選擇性地啟動或關閉該第一光源發射模組及/或該第二光源發射模組。
17. 如申請專利範圍第14項所述之方法，其中該第二光源發射模組係相對於該第一光源發射模組而設置，用以提供具有與該第一光源發射模組不同發射角度之輔助光源。
18. 如申請專利範圍第14項所述之方法，其中該第二光源發射模組係可活動地設置於該光學式觸控裝置四周相異於該第一光源發射模組之任一位置上。
19. 如申請專利範圍第14項所述之方法，其中該第一光源發射模組與該第二光源發射模組均為旋轉式光源發射器。
20. 一種運作一光學式觸控裝置的方法，該光學式觸控裝置包含一第一光源發射模組、一第一光學模組、一第一光感測模組及一處理模組，該第一光學模組與該第一光感測模組分別設置於該光學式觸控裝置之一表面的一第一側與相對於該第一側之一第二側，該方法包含下列步驟：該第一光源發射模組循序式地發射出一第一光源及一第二光源，其中該第二光源之複數道掃瞄光線係均勻地分佈於該表面上方；該第一光學模組接收該第一光源並均勻地發射出複數道第一方向光線；該第一光感測模組分別接收該複數道第一方向光線及該複數道掃瞄光線並分別根據其接收該複數道第一方向光線及該複數道掃瞄光線的接收情形產生一第一感測結果及一第二感測結果，其中該第一感測結果與該第二感測結果係分別與該複數道第一方向光線與該複數道掃瞄光線是否於該表面上方被至少一物體阻擋有 關；以及該處理模組根據該第一感測結果與該第二感測結果於該表面上判定對應於該至少一物體之至少一觸控點位置；其中該第一光源發射模組係可活動地設置於該光學式觸控裝置之周圍，當該第一光源發射模組移動至該光學式觸控裝置周圍之任一其他位置時，該第一光源發射模組亦可循序式地發射出一輔助光源，該輔助光源之複數道輔助掃瞄光線係均勻地分佈於該表面上方，該第一光感測模組接收該複數道輔助掃瞄光線並根據接收該複數道輔助掃瞄光線的接收情形產生一輔助感測結果，該處理模組根據該第一感測結果、該第二感測結果及該輔助感測結果判定該至少一觸控點位置。
21. 如申請專利範圍第14項所述之方法，其中該第一光學模組包含複數個導光單元，該第一光感測模組包含複數個光電感測單元，該複數個光電感測單元中之一第一光電感測單元係對應於該複數個導光單元中之一第一導光單元及一第一位置，並係用以接收該第一導光單元所發射出之一第一方向光線。
22. 如申請專利範圍第21項所述之方法，其中當該第一導光單元所發射出之該第一方向光線被該物體阻擋時，該第一光電感測單元將會發出一未接收訊號，該第一光感測模組根據該未接收訊號及該第一光電感測單元所對應的該第一位置產生該第一感測結果。
23. 如申請專利範圍第14項所述之方法，其中該光學式觸控裝置 進一步包含一第二光學模組及一第二光感測模組，該第二光學模組與該第二光感測模組分別設置於該表面上的一第三側與相對於該第三側的一第四側，該方法進一步包含下列步驟：該第二光學模組接收該第一光源發射模組所提供的一第三光源並均勻地發射出複數道第二方向光線；分別接收該複數道第二方向光線及該複數道掃瞄光線並分別根據其接收該複數道第二方向光線及該複數道掃瞄光線的接收情形產生一第三感測結果及一第四感測結果，其中該第三感測結果與該第四感測結果係分別與該複數道第二方向光線與該複數道掃瞄光線是否於該表面上方被該至少一物體阻擋有關；以及該處理模組根據該第一感測結果、該第二感測結果、該第三感測結果及該第四感測結果於該表面上判定該至少一觸控點位置。
24. 如申請專利範圍第23項所述之方法，其中該方法進一步包含下列步驟：該第一光感測模組及該第二光感測模組接收該複數道輔助掃瞄光線並根據接收該複數道輔助掃瞄光線的接收情形產生另一輔助感測結果；以及該處理模組根據該第一感測結果、該第二感測結果、該第三感測結果、該第四感測結果及該另一輔助感測結果判定該至少一觸控點位置。