TWI388847B - 檢測方法 - Google Patents

Description

檢測方法

本發明是有關於一種電阻變異量的檢測方法，且特別是有關於一種可針對阻值較小之電阻進行製程變異檢測的方法。

液晶顯示器具有消耗功率低、體積小、重量輕、解析度高、色彩飽和度高及產品壽命長等優點，因而廣泛地應用在各種電子產品中。為了確保液晶顯示器能夠正常動作，液晶顯示器在進行測試時，測試人員會針對液晶顯示器之源極驅動電路(source driver)所輸出的類比訊號進行檢測，以作為顯示器缺陷的判斷標準。

一般而言，液晶顯示器是利用源極驅動電路來提供驅動畫素(pixel)所需的類比訊號。其中，源極驅動電路的每一輸出通道都電性連接至一數位類比轉換器。圖1為傳統8位元之數位類比轉換器的電路架構圖，參照圖1，數位類比轉換器100包括一分壓電阻串110以及一控制單元120。在此，分壓電阻串110由相互串接的多個分段電阻R₀ ~R₂₅₄ 組合而成，並透過分段電阻R₀ ~R₂₅₄ 來產生多個分段電壓V₀ ~V₂₅₅ 。另一方面，控制單元120會參照8位元的數位訊號S11來控制其內部開關的導通狀態。藉此，控制單元120將從多個分段電壓V₀ ~V₂₅₅ 擇一輸出，以做為驅動畫素所需的類比訊號。

值得注意的是，由於製程技術上的限制，分段電阻R₀ ~R₂₅₄ 會產生製程上的變異(process variation)。此時，分段電壓V₀ ~V₂₅₅ 將相對地偏離原先的設定值，進而導致液晶顯示器產生顏色不均勻(mura)等現象。為了避免上述情況的發生，習知之檢測方法會針對分壓電阻串110設定多個聯結點P11~P14，並將連結點P11~P14外拉至數位類比轉換器100的多個測試端TM11~TM14。

藉此，習知之檢測方法將可透過分別量測測試端TM11~TM14的輸出電壓，進而與原先的初始設定值做比對，以檢測分壓電阻串是否符合測試規格。換言之，習知之檢測方法無法具體量測出每一分段電阻R₀ ~R₂₅₄ 的電阻值，而只能大致地藉由測試端TM11~TM14的輸出電壓推測分壓電阻串110中的分段電阻是否偏離原先的設定值。

然而，此種方式並不精確。因為，電阻串或是電阻的阻值在製程上所產生的些微變化都可能影響電子元件的性能。但是，阻值的些微變化卻不易單從輸出電壓的比對來觀察到，尤其是針對阻值較小的電阻串或是電阻而言，其往往是習知之檢測方法無法檢測出來的死角。

本發明提供一種檢測方法，可針對待測電阻串中的每一分段電阻進行檢測，並且可以測試出阻值較小的電阻在製程上所產生的變異。

本發明提出一種檢測方法，用以檢測一待測電阻串中多個分段電阻的電阻值，並包括下列步驟。首先，提供一電源以產生對應這些分段電阻的多個分段電壓。接著，參照這些分段電壓以取得這些分段電阻的電阻值，並藉由這些分段電阻的電阻值與多個預設電阻值以產生多個變異比值。藉此，將依據這些變異比值以判別待測電阻串是否符合檢測標準。

在本發明之一實施例中，上述之依據這些變異比值以判別待測電阻串是否符合檢測標準的步驟包括：提供一參考電阻串以產生多個參考比值；以及，提供這些參考比值與這些變異比值作比較，以判別這些分段電阻的電阻值是否符合檢測標準。

在本發明之一實施例中，上述之提供這些參考比值與這些變異比值作比較，以判別這些分段電阻的電阻值是否符合檢測標準的步驟包括：將這些變異比值與這些參考比值一對一對應；分別比較這些變異比值與所對應之參考比值是否於一容許之誤差範圍；以及，當變異比值超出容許之誤差範圍時，則判別對應變異比值的分段電阻不符合檢測標準。

基於上述，本發明是以已完成實際佈局且通過測試之參考電阻串為基準，來進行各分段電阻之電阻值的判定。此外，在判定電阻偏移量的過程中，本發明是針對參考電阻串的參考比值與待測電阻串的變異比值進行比較。藉此，與習知技術相較之下，本發明除了可以針對待測電阻串中的每一分段電阻進行檢測，還可輕易地檢測出阻值較小的電阻在製程上所產生的變異，進而有效地提高檢測方法的精確度。

為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

在以實施例說明本發明的精神之前，首先假設以下實施例所列舉之檢測方法，其所檢測的待測電阻串為設置在如圖1所繪示之數位類比轉換器100內部之分壓電阻串110。然而，上述假設並非用以限定本發明，本領域具有通常知識者可依照本發明之精神，將所述檢測方法應用在任何電子元件之內部分壓電阻串的檢測，例如：偏壓產生器，或是單一待測電阻串的檢測。

圖2為依據本發明一實施例之檢測方法流程圖。參照圖2，首先，於步驟S210，提供一電源以產生對應待測電阻串中多個分段電阻的多個分段電壓。舉例來說，如圖1所示，於步驟S210中，提供電源至數位類比轉換器100的測試端TM11與TM14。由於分壓電阻串110之兩端分別電性連接至測試端TM11與TM14，故電源將壓降在分段電阻R₀ ~R₂₅₄ 上而產生分段電壓V₀ ~V₂₅₅ 。

值得一提的是，本實施例是可以透過數位類比轉換器100來取得分段電壓V₀ ~V₂₅₅ 。其中，透過數位訊號S11的控制，數位類比轉換器100將可依序輸出分段電壓V₀ ~V₂₅₅ 。換而言之，本實施例只需透過電子元件的兩測試端就可取得所述的多個分段電壓。

當產生分段電壓之後，將於步驟S220，參照這些分段電壓以取得這些分段電阻的電阻值。就步驟S220細部流程來看，首先，透過電子元件的兩測試端，量測出流經待測電阻串的電流。舉例來說：由於本實例是將分壓電阻串110的兩端外接至數位類比轉換器100的測試端TM11與TM14，相對地，也可透過測試端TM11與TM14來量測出流經分壓電阻串110的電流。

接著，將這些分段電壓中兩相鄰分段電壓之間的電壓差，分別除以流經待測電阻串的電流，以取得這些分段電阻的電阻值。舉例來說：假設此時流經分壓電阻串110的電流表示為I1，則透過步驟S220，分段電阻R₀ ~R₂₅₄ 的電阻值VR₀ ~VR₂₅₄ 將可分別表示成如下所示：VR₀ =(V₀ -V₁ )/I1；VR₁ =(V₁ -V₂ )/I1；VR₂ =(V₂ -V₃ )/I1；．．．VR₂₅₄ =(V₂₅₄ -V₂₅₅ )/I1；當取得所述多個分段電阻的電阻值之後，將於步驟S230，藉由這些分段電阻的電阻值與多個預設電阻值以產生多個變異比值。值得注意的是，在此所述的預設電阻值指的是，分段電阻在原先電路設計上所必須達到的預定值。因此，倘若原先電路設計所需的多個預設電阻值分別表示為VTR₀ ~VTR₂₅₄ ，則圖1之分段電阻R₀ ~R₂₅₄ 透過步 驟S230所延伸出的多個變異比值T₀ ~T₂₅₄ 將可分別表示成如下所示：T₀ =VR₀ /VTR₀ =((V₀ -V₁ )/I1)/VTR₀ ；T₁ =VR₁ /VTR₁ =((V₁ -V₂ )/I1)/VTR₁ ；T₂ =VR₂ /VTR₂ =((V₂ -V₃ )/I1)/VTR₂ ；‧‧‧T₂₅₄ =VR₂₅₄ /VTR₂₅₄ =((V₂₅₄ -V₂₅₅ )/I1)/VTR₂₅₄ ；接著，將可於步驟S240，依據這些變異比值以判別待測電阻串是否符合檢測標準。值得注意的是，為了有效地檢測待測電阻串是否因製程漂移而影響電路之正常運作，本實施例是以已完成實際佈局且通過測試之參考電阻串的實驗數據為基準來進行判定。因此，針對待測電阻串的判定，會先透過步驟S241，提供一參考電阻串以產生多個參考比值。之後，再透過步驟S242，提供這些參考比值與這些變異比值作比較，以判別待測電阻串之分段電阻的電阻值是否符合檢測標準。為了致使本領域具有通常知識者更了解本實施例，以下將針對步驟S241與步驟S242的細部流程，作更進一步地說明。

圖3繪示為用以說明圖2實施例之參考電阻串的電路架構圖，其中參考電阻串300是由相互串接的多個分段電阻R’₀ ~R’₂₅₄ 組合而成。請參照圖3，來看步驟S241的細部流程。

在此，提供電源至參考電阻串的兩端，以利用參考電阻串中的多個分段電阻來形成多個標準電壓。舉例來說，如圖3所示，此時的電源將壓降在分段電阻R’₀ ~R’₂₅₄ 上而形成標準電壓V’₀ ~V’₂₅₅ 。當取得標準電壓之後，將這些標準電壓中兩相鄰標準電壓之間的電壓差，分別除以流經參考電阻串的電流，以取得參考電阻串中多個分段電阻的電阻值。舉例來說：假設此時流經參考電阻串300的電流表示為I3，則分段電阻R’₀ ~R’₂₅₄ 的電阻值VR’₀ ~VR’₂₅₄ 將可分別表示成如下所示：

接著，將這些分段電阻的電阻值除以所述多個預設電阻值，以取得由參考電阻串中多個分段電阻所延伸出的多個參考比值。舉例來說：以之前所述的預設電阻值VTR₀ ~VTR₂₅₄ 為基準來看，則圖3之分段電阻R’₀ ~R’₂₅₄ 透過步驟S241所延伸出的多個參考比值T’₀ ~T’₂₅₄ 將可分別表示成如下所示：

圖4繪示為依據本發明一實施例之步驟S242的細部流程圖，請參照圖4來看分段電阻之變異量的判斷流程。首先，於步驟S410，將所述多個變異比值與所述多個參考比值相互一對一對應。舉例來說，圖1之分段電阻R₀ 的變異比值T₀ 將對應於圖3之分段電阻R’₀ 的參考比值T’₀ 。相似地，分段電阻R₁ 的變異比值T₁ 對應分段電阻R’₁ 的參考比值T’₁ ，以此類推，變異比值T₂ ~T₂₅₄ 與參考比值T’₂ ~T’₂₅₄ 相應關係。

接著，於步驟S420，分別比較這些變異比值與所對應之參考比值是否於一容許之誤差範圍。舉例來說，於步驟S420中，會將變異比值T₀ 與其所對應的參考比值T’₀ 進行比較。此外，本實施例所述的容許之誤差範圍例如是百分之六(6%)，然本領域具有通常知識者可依測試所需任意更改容許之誤差範圍的實際應用值。

之後，於步驟S430，當變異比值超出容許之誤差範圍時，則判別對應變異比值的分段電阻不符合檢測標準。舉例來說，倘若步驟S430判定變異比值T₀ 超出參考比值T’₀ 的6%時，則對應變異比值T₀ 的分段電阻R₀ 會被判定為不符合測試標準的電阻。值得一提的是，所述的多個變異比值會逐一地與其對應的參考比值進行比對，並透過步驟S430完成各個分段電阻的檢測。

圖5為依據本發明一實施例之各個電阻與其相應比值的對照圖示。在此，圖5包括參考電阻串300之分段電阻R’₀ ~R’₂₅₄ 與參考比值T’₀ ~T’₂₅₄ 的對照圖，分壓電阻串110之分段電阻R₀ ~R₂₅₄ 與變異比值T₀ ~T₂₅₄ 的對照圖。此外，圖5更繪示出各個分段電阻R₀ ~R₂₅₄ 的變異比值T₀ ~T₂₅₄ 在與參考比值T’₀ ~T’₂₅₄ 相較之下，兩者之間所形成的差值。參照圖5，可以得知，由於本實施例是針對參考電阻串與待測電阻串(分壓電阻串)相對於預設電阻值所形成的偏移量進行比較，也就是針對參考電阻串的參考比值與待測電阻串的變異比值進行比較。因此，本實施例可以從數據或是圖示中輕易地檢測出電阻在製程上所產生的變異。

綜上所述，本發明是以已完成實際佈局且通過測試之參考電阻串為基準，來進行判定各分段電阻的電阻值。此外，在判定電阻偏移量的過程中，本發明是針對參考電阻串的參考比值與待測電阻串的變異比值進行比較，故可輕易地檢測出電阻在製程上所產生的變異。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100．．．數位類比轉換器

110．．．分壓電阻串

120．．．控制單元

R₀ ~R₂₅₄ ．．．分壓電阻串110的分段電阻

V₀ ~V₂₅₅ ．．．分段電壓

P11~P14．．．連結點

TM11~TM14．．．測試端

S11．．．數位訊號

S210~S240、S241、S242．．．用以說明圖2實施例的各步驟流程

300．．．參考電阻串

R’₀ ~R’₂₅₄ ．．．參考電阻串300的分段電阻

V’₀ ~V’₂₅₅ ．．．標準電壓

S410~S430．．．用以說明圖4實施例的各步驟流程

圖1為傳統8位元之數位類比轉換器的電路架構圖。

圖2為依據本發明一實施例之檢測方法流程圖。

圖3繪示為用以說明圖2實施例之參考電阻串的電路架構圖。

圖4繪示為依據本發明一實施例之步驟S242的細部流程圖。

圖5為依據本發明一實施例之各個電阻與其相應比值的對照圖示。

S210~S240、S241、S242．．．用以說明圖2實施例的各步驟流程

Claims (8)

1. 一種檢測方法，用以檢測一待測電阻串中多個分段電阻的電阻值，該檢測方法包括：提供一電源以產生對應該些分段電阻的多個分段電壓；參照該些分段電壓以取得該些分段電阻的電阻值；藉由該些分段電阻的電阻值與多個預設電阻值以產生多個變異比值；以及依據該些變異比值以判別該待測電阻串是否符合檢測標準。
2. 如申請專利範圍第1項所述之檢測方法，其中依據該些變異比值以判別該待測電阻串是否符合檢測標準的步驟，包括：提供多個參考比值與該些變異比值作比較，以判別該些分段電阻的電阻值是否符合檢測標準。
3. 如申請專利範圍第2項所述之檢測方法，其中依據該些變異比值以判別該待測電阻串是否符合檢測標準的步驟，更包括：提供一參考電阻串以產生該些參考比值。
4. 如申請專利範圍第3項所述之檢測方法，其中產生該些參考比值的步驟，包括：藉由該參考電阻串中多個分段電阻的電阻值與該些預設電阻值以產生該些參考比值。
5. 如申請專利範圍第2項所述之檢測方法，其中提供該些參考比值與該些變異比值作比較，以判別該些分段電阻的電阻值是否符合檢測標準的步驟，包括：將該些變異比值與該些參考比值一對一對應；以及分別比較該些變異比值與所對應之參考比值是否於一容許之誤差範圍。
6. 如申請專利範圍第5項所述之檢測方法，更包括：當該變異比值超出該容許之誤差範圍時，則判別對應該變異比值的該分段電阻不符合檢測標準。
7. 如申請專利範圍第1項所述之檢測方法，其中參照該些分段電壓以取得該些分段電阻的電阻值的步驟，更包括：量測流經該些分段電阻之電流。
8. 如申請專利範圍第1項所述之檢測方法，其中該待測電阻串係為一數位類比轉換器之分壓電阻串。