TWI354502B - Miniature transducer - Google Patents

Miniature transducer Download PDF

Info

Publication number
TWI354502B
TWI354502B TW96146342A TW96146342A TWI354502B TW I354502 B TWI354502 B TW I354502B TW 96146342 A TW96146342 A TW 96146342A TW 96146342 A TW96146342 A TW 96146342A TW I354502 B TWI354502 B TW I354502B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
film
cantilever
pressure
variable capacitance
back plate
Prior art date
Application number
TW96146342A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200926865A (en
Inventor
Hsin Tang Chien
Chiung I Lee
Ping Ting Liu
Original Assignee
Ind Tech Res Inst
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ind Tech Res Inst filed Critical Ind Tech Res Inst
Priority to TW96146342A priority Critical patent/TWI354502B/zh
Publication of TW200926865A publication Critical patent/TW200926865A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI354502B publication Critical patent/TWI354502B/zh

Links

Landscapes

  • Micromachines (AREA)
  • Electrostatic, Electromagnetic, Magneto- Strictive, And Variable-Resistance Transducers (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)

Description

1354502 P27950013TW 2l433twf.doc/p 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 且特別是有關於 ’其具有高靈敏 本發明疋有關於一種屡變電容裝置, 一種具有低彈簧係數結構之壓變電容裝置 度與變形量的效能》 t 【先前技術】 電容式麥克風晶片㈣微細加卫技 製程技術整合而成之壓變電容穿、積署體電路(IC) τ麵,),具有質量輕、體積小、訊號品、質佳 在民生豕電產品應用上,由於手機的需求 磬 品質要求日益增高,加上助聽器之市場 曰^且f音 ,展電谷式麥克風晶片已經漸漸成為麥克風 k。就市場的角度而言’根據公司市場趨勢^止 中關於行動電話手機部分,預估顺年北美 ^ (Microphone Chips)市場,將達五億個之水準,而從二⑽ 年到2009年每年將以2〇%朝向市場穩定成長。手機上之 籲克風之應-用屬於目前市場上之主流。 由於以矽為基材的積體電路製程較便宜大量地使用於 電子產品中,及其應用領域不斷的向外擴張,將來更有大 量的應用會以矽為基材的製程製作,並搭配(:]^〇!5製程將 讀取電路直接整合於一顆晶片上,加上台灣已成為全球第 一大半導體代工廠約為目前市場之6〇〜7〇%的代工率,將來 勢必可量產並加速其商品化時程。因此若在麥克風的佈局 上’要避開與區隔各家大廠的元件設計,必須先取得元件 1354502 P27950013TW 21433twf.doc/p 端的新穎設計與製造先機,才能贏得在麥克風元件市場上 的優勢,與瓜分佔有率的能力。 目前麥克風元件結構之應用在產品的量產上,僅限於 少許幾種的結構’這也是由於目前踏入 MEMS(Microelectromechanical Systems)麥克風的薇商只有 少許數幾家廠商之故’如Knowles公司、lnfineon公司或是 Sonion公司等,而市面上大部分的封裝方式仍以Kn〇wles 開發的設計為主。 請參照圖1到圖3,其繪示Knowles公司之麥克風結構 設計。此壓變電容裝置(Acoustic Transducer)l〇包括導電薄 膜(Conductive Diagram) 12 與具有穿孔之構件(Perf〇rated Member)40,由基底30所支撐’而藉由空氣間隙(AirGap)2〇 所隔離。而一個非常薄的空氣間隙22則存在導電薄膜12與 基底30之間,以便讓此薄膜12能夠自由地上下移動,以便 減輕薄膜材質内在之應力(Intrinsic Stress),並且使薄膜12 從基底30減少震動(Decouple)。而許多的突起 (Indentation)13則形成於薄膜12之下,以避免薄膜與基底 30之間的碰撞。 薄膜12的橫向移動被構件40之支持部41所限制,而此 可當成是薄膜12與構件40之間適當的啟始空間,而此支持 部41可以是圓環(Ring)構造或是許多凸塊(Bump)構造。若 支持部41是圓環構造’則當薄膜12靠在支持部41上時,則 會形成緊密的聲音密封空間’會導致壓變電容裝置具有控 制非常好的低頻下降率(RoU-off)。薄臈12與基底30之間具 6 1354502 P27950013TW 21433twf.doc/p 有一個介電層31。而導電電極(Conducting Electrode)42是固 定在不導電之構件40下。而此構件40具有數個孔洞21,而 薄膜12也有數個孔洞,用以與構件40之孔洞21形成聲音流 動之通路14。
Knowles公司之麥克風結構設計主要是針對背板(back plate)的指撐式結構設計,來增加背板的強度,以減少背板 阻抗。而薄膜(Membrane)採減少殘留應力(residual stress) 的設計方式,採取一般的圓形薄膜設計。薄膜僅做於簡單 的支撐’其結構雖能避免殘留應力的問題與較高之自然頻 率響應,但是其設計的有效變形量與靈敏度仍尚嫌不足。 請參照圖4,其繪示Knowles公司之另一麥克風結構設 計。基本上與圖1-3之結構雷同,唯一的差異是此薄膜12 是藉由數個彈簧結構(Spring)l 1連接到基底30之上,以便減 輕薄膜内在應力(Intrinsic Stress),以及從基底3〇或是裝置 封裝後所產生的應力。 傳統麥克風元件設計採用簡單固定的薄膜設計,雖然 有增加薄膜靈敏度的設計方法,如指撐式(Finger)結構,請 參照圖5所示,其中薄膜510具有指撐之結構。或者是皺摺 式(comigated)結構,請參照圖6所示,其中薄膜61〇具有皺 摺之結構。但是大部分的設計皆有其缺點,指撐式的薄膜, 其薄膜較軟較為靈敏,但是卻是具較低的共振頻率響應', 而且易於斷裂。皺摺式薄膜設計,雖可以有效降低應 力的影響,使薄膜靈敏度變的較大,但是其製程較複雜了 加工不易,且增加靈敏度有限。 7 1354502 P27950013TW 21433twf.doc/p 【發明内容】 - 本發明提出一種具有壓變電容裝置,其具有創新的薄 膜設計圖形與結構’可藉由支撐結構(Support Structure)即 可製作出類似彈簧般的結構效應,而增加薄膜的靈敏度。 本發明提出一種具有壓變電容裝置,利用彈簧結構概 念,在感測基板上製作特殊的結構可與薄膜的突起結構當 支樓’架構出類似懸臂(Cantilever Beam)彈簧的結構,以提 ^ 升麥克風的性能。 本發明提出之壓變電容裝置,包括薄膜與背板◎在薄 膜與背板之間至少具有一突起結構,而背板則為挖空之結 構,此薄膜與背板相互平行,而挖空之結構具至少一懸臂 結構。此突起結構與懸臂結構形成支撐體,當一壓力傳輸 至薄膜時,突起結構會與懸臂結構接觸,而因突起結構的 下壓而產生形變,薄膜因此而有位移之變形量,電容之電 ,分佈於薄膜與背板四周之間。此突起結構可形成於上述 薄膜表面或是懸臂結構之表面上。 # I為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯 易懂,下文特舉較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說 明如下。 【實施方式】 ^發明提出—種具有壓變電容裝置,其具有創新的薄 二ί!圖形與結構,可藉由支撐結構(Supp⑽s_㈣即 °氟作出類似彈簧般的結構效應,而增加薄膜的靈敏度。 而利用彈簧結構概念,在感測基板上製作特殊的結構可與 1354502 • P27950013TW 21433twf.doc/p 薄膜的突起結構當支# ’架構丨類蝴臂Β_) - 彈簧的結構,以提升麥克風的性能。 利用基板層製造出彈簧支撐結構的概念,在突起支撐 與彈性體結構的部分’皆與習知财之技術,例如.以 .Stark DraPer Lab.與Knowles公司所提出之結構不同。
Charles Stark Draper Lab.所提出是具有拉撐式的彈簧結構 設計Knowles公司所提出的是不具有支樓彈簧的結構 φ 設計。另外,本發明所提出具有壓變電容裝置,基板中間 具有一挖空結構,如此不需要傳統之多個孔徑面積相當小 的音孔(Acoustic hole),因此可大幅降低製程上的困難度, 並減少感測時震度阻尼(Damping)所產生的干擾讲〇1叱)問 題。此新型的彈簧結構設計,將會有效地增加薄膜的靈敏 度,有助於達到結構簡易,低干擾且低殘留應力的目的。 而本發明所提出的壓變電容裝置,目的在於提供一個創新 且結構簡易的聲音傳送感測器,同時有效的增加薄膜位移 量的大小,並且電容感測的訊號輸出有更大的效能。' • 本發明所提出之一種壓變電容裝置結構組成,包括基 板(Substrate)與其上之背板(Black咖叫與薄^ (Diaphragm)。其中基板與背板之平板結構上不需要' 多個音 孔(Acoustic hole),只需要一個挖空結構,挖空結構的四; 為電容感測的表面。在背板的挖空結構上具有背板所延伸 特殊的懸臂(Cantilever Beam)結構設計。而在薄膜與背板之 間具有單一或多個突起(Indentation)結構,作為薄膜支撐 之用。而每一個懸臂結構與突起結構形成一組類似彈箬二 1354502 P27950013TW 21433twf.doc/p 應的彈性體,於薄膜與背板之間將有多組類似彈簧效應的 彈性體結構,稱之為懸臂彈性體。 當壓力傳送薄膜時,薄膜會產生變形,而薄膜與背板 之間的突起結構以及懸臂結構之間,會因為突起結構的壓 力影響而大幅變形’此時薄膜平板會因此而產生上下位移 的變形,如此將會增加兩平板間的變形與位移量,也增加 了平板間的電容變化值’此設計將大大增加薄膜的靈敏度 與線性度。而麥克風的薄膜與背板間的電容變化,是利用 薄膜與基板挖空結構四周平板感測其間的電容值,電容訊 號將藉由導電設計將感測之訊號傳送出去。 本發明所提出之一種壓變電容裝置,可應用於壓力感 測器、加速度感測器或超聲波感測器之封裝等等裝置上。 而上述之形變薄膜傳感單元以及背板結構可以使用 一個或多個材料所組成,包括以碳為基質之聚合物 (Carbon-based polymers)、矽(Silicon)、氮化矽(Silicon nitride),複晶碎(Polycrystalline silicon)、非晶石夕 (Amorphous silicon)、二氧化矽(Silicon dioxide)、碳化矽 (Silicon carbide)、錯(Germanium)、鎵(Gallium)、砷化物 (Arsenide)、碳(Carbon)、鈦(Titanium)、金(Gold)、鐵(Iron)、 銅(Copper)、鉻(Chromium)、鎢(Tungsten)、鋁(Aluminum)、 链(Platinum)、鎳(Nickel)、组(tantalum)或其合金等等。 本發明所提出由懸臂結構與突起結構形成類似彈簧 效應的懸臂彈性體之壓變電容裝置,其架構在一實施例中 請參照圖7所示。在基板(substrate)710上具有兩層平行板 1354502 P27950013TW 21433twf.doc/p 的結構…為雜(backPlate)72G,而另以―祕測之薄膜 (Memb職)73〇。基板710之平板結構上不需要多個音孔 (Acoustic hole),只需要一個挖空結構712,挖空結構712 的四周為電容感測的表面。在基板71〇的挖空結構712上 具有背板720所延伸特殊的懸臂(Camilever Beam)結構724 设什。此懸臂結構724可以是任何形式的延伸構造,只要 能提供上下形變的結構皆適用於本發明懸臂之結構,例如 橋狀結構等等。 而薄膜730表面上具有單一或多數個突起(Indemati〇n) 結構732,將作為薄膜730支撐之用,以便在薄膜73〇變 形時能與背板結構720接觸而產生更大的變形量。如前所 述’在另外選擇實施例中,此單一或多數個突起(Indentati〇n) 結構732也可形成於懸臂結構724上,並非受限於此。此 突起結構732高度係決定背板結構720與薄膜730之平行 間距。在圖7之實施例中’突起結構732與背板結構720 相連接是當壓力傳送薄膜730時,薄膜730會產生變形, 而薄膜730的突起結構732將與背板720所延伸的懸臂結 構724相接觸後,懸臂結構724會因為突起結構的壓力影 響而大幅變形,而此時薄膜730也會因應施以的壓力而變 形,如圖7所示,此時薄膜730會因此而產生上下位移的 變形,而將增加薄膜730與背板結構720之間的變形與位 移量’也增加了兩平板間的電容變化值。 前述提及基板710之挖空結構712四周為電容感測的 表面’如圖7所示,一導電層722鋪設於挖空結構712的 1354502 P27950013TW 21433twf.doc/p 四周’也就是背板結構72〇之表面而面對薄膜73〇之一面 734,以形成壓變電容裝置内電容之電場區域。 本發明所提出結構與突起 ==體之壓變電容裝置,其架構在另」二 中明參關8所不。此結構與圖7之差異在於基板71〇上 =層平打板的位置。圖7的背板72〇相對於垂直基板710 向上的方向位於下方,而薄膜73〇位於上方。為方便說明, 相同元件則以相同之標絲示。圖8的實施例中薄膜 730面對背板720的表面上具有—個或多數個 瓜,將作為薄膜730支樓之用,以便在薄膜頂變形時能 與背板結構720接觸而產生更大的變形量。 在圖8之實施例十,突起結構732與背板結構72〇相 連接^壓力傳送薄膜73G時,薄膜73G的突起結構732 將與背板72G所延伸的懸臂結構?24相接觸後,懸臂結構 724會因為突起結構的壓力影響而大幅變形,而此時薄膜 730也會因應施以的壓力而變形,如此將增加薄膜bo與 背,結構720之間的變形與位移量,也增加了兩平板間的 電容變化值。在此實施例中,導電層722鋪設於背板結構 720之表面而面對薄膜730之一面734,以形成壓變電容裝 置内電容之電場區域。如前所述,在另外選擇實施例中, 此單一或多數個突起(Indentation)結構732也可形成於懸 臂結構724上,並非受限於此。 在又一實施例中’請參考圖9所示,主要是說明本發 明所提出由懸臂結構與突起結構形成類似彈簧效應的懸臂
12 1354502 P27950013TW 21433twf.d〇c/p 彈性體之壓變電容m構側視圖。在基板91G上具有兩 層平行板的結構為背板92〇,而另以一為感測之薄膜 930。基板910之平板結構上至少具有一個挖空結構挖空 結構^四周為電容❹彳的表面。在基板910的挖空結構上 八有月板所延伸特殊的懸臂(Cantnever Beam)結構設計。此 懸臂結構可以是任何形式的延伸構造,只要能提供上下形 ,的結構皆適用於本發明懸臂之結構,例如橋狀結構等 等。而,膜930則具橋狀之彈性結構圖案932,如圖9所 :,而薄膜930面對背板92〇之表面上具有單一或多數個 突起(Indentation)結構,將作為薄膜支撐之用,以便在薄 膜變形時能與背板結構920接觸而產生更大的變形量。 〜雖然本發明已以較佳實施例揭露如上,然其並非用以 限^本發明,任何熟習此技藝者,料麟本發明之精神 和範,内^可作些許之更動與潤飾,因此本發明之保護 範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。 【圖式簡單說明】 圖1〜圖3是習知之麥克風結構設計。 圖4是另一種習知之麥克風結構設計。 圖5是習知麥克風結構中一種具有指撐式(Finger)结 構之薄膜設計。 圖6是習知麥克風結構中一種具有皺摺式 結構之薄膜設計。 圖7是說明本發明較佳實施例之由懸臂結構與突起結 構形成彈簧效應的懸臂彈性體之壓變電容裝置結構示意 13 i S ) 1354502 P27950013TW 21433twf.doc/p 圖。 圖8是說明本發明另一較佳實施例之由懸臂結構與突 起結構形成彈簧效應的懸臂彈性體之壓變電容裝置結構示 *' 意圖。 ·· 圖9是說明本發明另一較佳實施例之由懸臂結構與突 起結構形成彈簧效應的懸臂彈性體之壓變電容裝置結構側 視圖。 【主要元件符號說明】 * 10:壓變電容裝置 12:導電薄膜(Conductive Diagram) 40 :具有穿孔之構件(Perforated Member) 30 :基底 20、22 :空氣間隙(Air Gap) 41 :支持部 31 :介電層 11 :彈簧結構(Spring) • 510、610 :薄膜 710 ··基板(substrate) 712 :挖空結構 720 :背板(back plate) 722 :導電層 724 :懸臂結構 730 :薄膜(Membrane) 732 :突起結構 /' ^ \ ·, ·*'· 14 1354502 P27950013TW 21433twf.doc/p 910 :基板(substrate) 920 :背板(back plate) 930 :薄膜(Membrane) 932 :彈性結構圖案
15

Claims (1)

1354502 ㈣換頁 100-8-23 十、申請專利範圍: 1. 一種壓變電容裝置,包含: 一薄膜; 一背板,具挖空之結構,該薄膜與該背板相互平行, 該挖空之結構具至少一懸臂結構;以及 至少一突起結構,位於該薄膜與該背板之間,其中, 該突起結構與該懸臂結構形成支撐體,當一壓力傳輸至薄 膜時,該突起結構會與該該懸臂結構接觸,而因該突起結 構的下壓而產生形變,該薄膜因此而有位移之變形量,電 容之電場分佈於該薄膜與該背板四周之間。 2. 如申請專利範圍第1項所述之壓變電容裝置,其中該 懸臂結構係橋狀結構。 3. 如申請專利範圍第1項所述之壓變電容裝置,其中該 薄膜係具橋狀之彈性結構圖案。 4. 如申請專利範圍第1項所述之壓變電容裝置,其中該 突起結構高度係決定該背板與該薄膜間之平行間距。 5. 如申請專利範圍第1項所述之壓變電容裝置,其中該 背板係位於該薄膜之上。 6. 如申請專利範圍第1項所述之壓變電容裝置,其中該 薄膜係位於該背板之上。 7. 如申請專利範圍第1項所述之壓變電容裝置,其中該 突起結構形成於該薄膜之上。 8. 如申請專利範圍第1項所述之壓變電容裝置,其中該 突起結構形成於該背板的該懸臂結構上。 16 1354502 修正替換頁 100-8-23 9. 如申請專利範圍第1項所述之壓變電容裝置,其中更 包括一基板,邊薄膜與該背板之一製作於該基板上。 10. 如申請專利範圍第1項所述之壓變電容裝置,其中 δ亥懸臂結構、δ亥基板與該薄膜,係包括以碳為基質之聚合 物(Carbon-based polymers) ' 矽(Silicon)、氮化矽(Silicon nitride),複晶石夕(Polycrystalline silicon)、非晶石夕 (Amorphous silicon)、二氧化矽(Silicon dioxide)、碳化石夕 (Silicon carbide)、鍺(Germanium)、鎵(Gallium)、石申化物 (Arsenide)、碳(Carbon)、鈦(Titanium)、金(Gold)、鐵(Iron)、 銅(Copper)、鉻(Chromium)、鎢(Tungsten)、!呂(Aluminum)、 鉑(Platinum)、鎳(Nickel)、钽(tantalum)或其合金。 11·如申請專利範圍第1項所述之壓變電容裝置,係應 用於壓力感測器、加速度感測器與超聲波感測器之封裴。 12. 如申請專利範圍第1項所述之壓變電容裝置,其中 該壓力係聲壓。 13. 如申請專利範圍第1項所述之壓變電容裝置,其中 該薄膜位移之變形量,與該懸臂突起結構之形變, 容量之改變。 14. 一種薄膜支撐結構,包含: 一薄膜; 一背板,具挖空之結構,該薄膜與該背板相互平行, 該挖空之結構具至少一懸臂結構;以及 至少一突起結構,位於該薄膜與該背板之間,其中, 該突起結構與該懸臂結構形成支撐體,當一壓力傳輸至薄 17 1354502 ___ 盔正替換頁 ----^ 100-8-23 該懸臂結構會因該突起結構的下壓而產生形變,該 潯膜因此而有位移之變形量。 15. 如申請專利範圍第14項所述之薄膜支撐結構,豆中 該懸臂結構係橋狀結構。 一 16. 如申請專利範圍第14項所述之薄膜支撐結構,其令 ~缚膜係具橋狀之彈性結構圖案。 二々17.如申請專利範圍第14項所述之薄膜支撐結構,其中 5玄大起結構高度係決定該背板與該薄膜間之平行間距。 北18.如申請專利範圍第14項所述之薄膜支撐結構,其中 該背板係位於該薄膜之上。 _ 19.如申請專利範圍第14項所述之薄膜支撐結構,其中 該突起結構形成於該薄膜之上。 * 20.如申請專利範圍第14項所述之薄膜支撐結構,其中 該突起結構形成於該背板的該懸臂結構上。 21.如申請專利範圍第14項所述之薄膜支撐結構,其中 該薄膜係位於該背板之上。 22.如申請專利範圍第14項所述之薄膜支撐結構,其十 更包括一基板,該薄膜與該背板之一製作於該基板上。 2 3 ·如申請專利範圍第丨4項所述之薄膜支撐結構,其中 該懸臂結構、該基板與該薄膜,係包括以碳為基質之聚合 物(Carbon-based polymers)、矽(Silicon)、氮化矽(Silic〇n nitride),複晶石夕(Polycrystalline silicon)、非晶石夕 (Amorphous silicon)、二氧化矽(Silicon dioxide)、碳化矽 (Silicon carbide)、鍺(Germanium)、鎵(Gallium)、砷化物 18 1354502 森J. #纖頁 100-8-23 (Arsenide)、碳(Carbon)、鈦(Titanium)、金(Gold)、鐵(Iron)、 銅(Copper)、鉻(Chromium)、鶴(Tungsten)、銘(Aluminum)、 鉑(Platinum)、鎳(Nickel)、鈕(tantalum)或其合金。 24. 如申請專利範圍第14項所述之薄膜支撐結構,係應 用於壓力感測器、加速度感測器與超聲波感測器之封裴。 25. 如申請專利範圍第14項所述之薄膜支撐結構,^ 該壓力係聲壓。 “ 26.如申請專利範圍第14項所述之洱膜叉撐結構,係一 電容結構,電容之電場分佈於該薄膜與該背板四周之間。 > 一 27·如申請專利範圍第26項所述之薄膜支撐結構,二二 該溥膜位移之變形量,與職臂突起結構 = 電容電容量之改變。 &肜成遠 19
TW96146342A 2007-12-05 2007-12-05 Miniature transducer TWI354502B (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW96146342A TWI354502B (en) 2007-12-05 2007-12-05 Miniature transducer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW96146342A TWI354502B (en) 2007-12-05 2007-12-05 Miniature transducer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200926865A TW200926865A (en) 2009-06-16
TWI354502B true TWI354502B (en) 2011-12-11

Family

ID=44729818

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW96146342A TWI354502B (en) 2007-12-05 2007-12-05 Miniature transducer

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWI354502B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI472002B (zh) * 2013-01-09 2015-02-01 微機電裝置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI472002B (zh) * 2013-01-09 2015-02-01 微機電裝置

Also Published As

Publication number Publication date
TW200926865A (en) 2009-06-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI334734B (en) Miniature acoustic transducer
US8081783B2 (en) Miniature acoustic transducer
CN107666645B (zh) 具有双振膜的差分电容式麦克风
CN108370474B (zh) 声感测设备及麦克风
EP2103173B1 (en) Microphone with pressure relief
JP6894719B2 (ja) 圧電素子
JP4338395B2 (ja) 小型ブロードバンド変換器
CN109511067B (zh) 电容式麦克风
CN104918169B (zh) 静电电容型转换器、音响传感器及传声器
CN111148000B (zh) 一种mems麦克风及阵列结构
JP2009148880A (ja) センシング膜及びそれを用いるマイクロエレクトロメカニカルシステムデバイス
TW201123927A (en) Capacitive sensor and manufacturing method thereof
US11310606B2 (en) MEMS microphone
WO2016180262A1 (zh) Mems麦克风
WO2018040259A1 (zh) 一种敏感膜及mems麦克风
TW201808783A (zh) Mems裝置與製程
US7305096B2 (en) Dynamic pressure sensing structure
JP4811035B2 (ja) 音響センサ
CN101494814B (zh) 压变电容装置
TWI354502B (en) Miniature transducer
CN109565634B (zh) Mems麦克风以及电子设备
CN216649989U (zh) 梳状电容式麦克风
WO2022193131A1 (zh) 振动传感器以及麦克风
TWM304866U (en) Silicon condenser microphones
US20230312335A1 (en) Mems transducer

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees