TWI302339B - Manufacturing method of microstructure - Google Patents

Manufacturing method of microstructure Download PDF

Info

Publication number
TWI302339B
TWI302339B TW094141108A TW94141108A TWI302339B TW I302339 B TWI302339 B TW I302339B TW 094141108 A TW094141108 A TW 094141108A TW 94141108 A TW94141108 A TW 94141108A TW I302339 B TWI302339 B TW I302339B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
manufacturing
photoresist layer
microstructure according
lens
microstructure
Prior art date
Application number
TW094141108A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200721250A (en
Inventor
Hsin Chang Tsai
Yu Ru Chang
Tai Kang Shing
Original Assignee
Delta Electronics Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Delta Electronics Inc filed Critical Delta Electronics Inc
Priority to TW094141108A priority Critical patent/TWI302339B/zh
Priority to US11/594,116 priority patent/US20070117247A1/en
Publication of TW200721250A publication Critical patent/TW200721250A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI302339B publication Critical patent/TWI302339B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70375Multiphoton lithography or multiphoton photopolymerization; Imaging systems comprising means for converting one type of radiation into another type of radiation
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70275Multiple projection paths, e.g. array of projection systems, microlens projection systems or tandem projection systems

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Micromachines (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)

Description

1302339 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種微結構之製造方法,特別是關於一種具有 高深寬比的微結構之製造方法。 • 【先前技術】 傾斜側壁結構在微機電系統(Micro Electr〇mechanical System, MEMS)中係為常見的一種結構體,其係可用來作為接觸窗插塞、’ 魯’丨層自插基或係應用於精微成型模具。習知的傾斜側壁結構之掣 造方法一般係以機械加工,例如鉋削、研磨、雷射加工或放電加 工等方式來完成。 明參知、弟1A圖至弟1C圖所示,其係顯示一種習知微機電系 統中傾斜侧壁結構的製造流程之示意圖。如第1A圖所示,首先係 提供一具有一表面101之工件(workpiece) 10,並選定一具有一 傾斜面111之工具11 ;接著如第1B圖所示,利用該工具n對該 • 工件10之該表面101例如係利用切削、研磨、鉋削等加工方式進 仃加工;最後如第lc圖,待加工完成後,即於該工件10上形成 • 一具有傾斜側壁之凹部C1。 然而,上述加工方法受限於工具本身的尺寸與精密度,不易 於微機電系統巾形成高精密度、高騎度及絲面祕度的傾斜 側壁結構,其技術’與成本相當高。因此,提供在微機電系統 中能夠製作出〶精密度、高解析度及低表面粗糙度之微結構之製 造方法’能夠批次生產以降低成本,實屬當前重要課題之一。 【發明内容】 142〇5-CP-TW-051123-發明專利說明書-DlF.doc 1302339 有鑑於上述課題,本發明之目的為提供一種具有资 高解析度及低表面粗糙度的微結構之製造方法,能^二被度、 減少製造工時並降低成本。 -人生產以 為達上述目的,依據本發明之一種微結構之 列步驟··首先提供-基板;接著於該基板上形成一、光阻== 於該光阻層之上提供-第一光罩,該第一光罩具有至少二’接耆 區與至少—第—透鏡;接著提供—光源透過該第—林 光阻層;最後去除部分該光阻層,使該光阻層形成至少 且該凹部具有一側壁、一深度與一寬度,其中該側壁:傾:= 不小於5度,且該深度與該寬度之比值不小於2。 …角又 為達上述目的,依據本發明之另一種微結構之 :列步驟:首先提供-具有—表面之透光基板,該二具 、不透光區與至少一第一透鏡;接著於該透光基板之該 1 二L接著提供一光源透過該透光基板而照射“阻層形 取後去除部分該光阻層,使該光阻層形成至少1部 曰 具有一侧壁、一深命危^, 且遠凹部 *度見度’其中該側壁之傾斜角度 度,且该深度與該寬度之比值不小於2。 、 板上妓係於該基 成^Γ 糊半導體製程(例如黃光微影製程)形 成尤、、。構,因此其解析度、精密度及表面粗糙度皆較y 械加工方土 又白罕乂自知利用機 二土 ’且依據半導體製程的優勢’使得微結構能夠批 生產,以減少製造工時並降低成本。 【實施方式】 -6- 142〇5-CP_TW-〇51123_發明專利_月書七 lF.doc 1302339 以下將參照相關圖式,說明依據本發明較佳實施例之一種微 結構之製造方法。 請參閱第2A圖至第2E圖所示’為本發明第一較佳實施例之 -種微結構之製造方法。該觀構之製造方法係包括以下步驟: 如第2A圖所不,首先係提供一基板21,其係具有一表面Μ卜本 實施例中’該絲21係可為-透絲板、—錢光級或一不透 光基板。 接著’如第2B圖所示,於該基板21之該表面2ιι上形成一 光阻層22。本實施例中,該光阻層22之材㈣為—正型感光材 料’且該光阻層22之厚度不小於〇.〇3 mm。須注意者,該光阻層 22之材質並不蚊為正型感光材料,其係亦可為—負型感光材 料、-單層感光材料或-多層感光材料,該光阻層22之材料選用 可視實際需要而選用適合之感光材料與層數。 接著,如第2C圖所示,係於該光阻層22之上提供一光 罩23,該第-光罩23具有一不透光區231與—第_透鏡说,並 =者交錯排列設置於該第一光罩23之一表面。於本實施例中, 该弟一透鏡232係為一聚焦透鏡。 、 接著,再如第2D圖所示,提供—綠24透 而照射該光阻層22。 尤皁 最後’如第2E圖所示,去除部分該光阻層22,使該光 22形成一凹部221,該凹部221 曰 寬度W卜且該側壁222之-傾斜角产=深度m與一 1只针角度0 1不小於5度, 與該寬度W1之比值不小於2。 又 娜術狗51123«__書猶如 ⑧ 1302339 该凹部221係經由一頁光微影製程而形成,由於該光阻層π 係為正型感光材料,因此受該光源24所照射之部分在經由該黃光 微影製程之後則形成該凹部221,由於黃光微影製程係為一般半導 體製程常用技術,去除部分光阻層22可以顯影的方式進行,亦為 一般半導體製程常用技術,故於此不多加贅述。 於本實施例中’該凹部221之該深度D1係不小於〇 〇3 mm, 在此由於該凹部221之該深度D1係與該光阻層22之厚度相同, • 其係為0.03 mm,而在該深度D1與該寬度W1之比值不小於2之 定義下,該凹部221之該寬度W1係不大於〇 〇15 mm,以及該凹 部221之特徵尺寸係不大於〇.5咖,且其加工精度係不大於〇 〇ι mm ° 該凹部221之該傾斜角度θ 1係藉由該光源24透過該第一透 鏡232照射該光阻層22時,產生之一聚焦(f〇cusing)現象而形 成。本實施例之該第一透鏡232為聚焦透鏡,因此光源24之光線 通過該第-透鏡232後產生聚焦的效果(如f2D騎示),即可 • 以控制去除部分該光阻層22時的該側壁222之傾斜角度,以 形成該凹部221。 藉由上述之製造方法,即可產生一微結構2 (如# 2E圖所 示)’其係可應用於一微機電系統’該微結構2包括一基板21以 及光阻層22。其中’該基板21係具有該表面211,該光阻層 係設置於該基板21之該表面211上,光阻層22具有該凹部切, 且該凹部221具有該侧壁222、該深度D1與該寬度谓。此外, 該凹部221之該側壁222之傾斜角度μ係可為對稱式或為非對稱 8 142〇5<:Ρ'Τ_1123-翻專麵明書-DlF.doc •1302339 今 ♦ ί者交錯排般鄕二林45之—絲。在財施例中,該 弟二透鏡452係為一散焦透鏡。 接著再如第4F圖所不,提供該光源44透過該第二光罩 而照射該光阻層42。 • 最後’如第4G圖所不,去除部分該光阻層42,使該光阻層 42形成-凹部42卜以形成_微結構4,於本實施例中,該凹部 似係經由兩次曝光後而形成,由於該光阻層42係為正型感光材 _ 料,因此受該統44所’之部分在經由該黃級影製程之後則 形成該凹部421,即可產生一微結構4。 本發明第二較佳實施例之_種微結構之製造方法係包括以下 步驟:請參照第5Α圖所示,首先係提供—基板51,絲板具有 _ 一表面511,並且該表面511具有一不透光區512與一第一透鏡 5^3。於本實關巾,絲板Μ可域光基板或半透光基板,該 第一透鏡513係為一聚焦透鏡。 如第5B圖所示,接著係於該基板51之該表面511上形成一 眷光阻層52。本實施例中’該光阻層52之材質係為正型感光材料, 且該光阻層52之厚度不小於〇.〇3 mm。 接著,再如第5C圖所示,提供一光源53透過該基板51而照 射該光阻層52。 最後,如第5D圖所示,去除部分該光阻層52,使該光阻層 52形成至少一凹部521,以形成—微結構5。此外,該凹部521 具有一側壁522、一深度D1與一寬度W1,且該側壁522之一傾 斜角度Θ1不小於5度,該深度D1與該寬度wi之比值不小於2。 -10- l42〇5-CP-TW-051123-發明專利說明書 _DlF.doc 1302339 本實施例中’該凹部521係經由—黃光微影製程而形成,由於該 光阻層52係為正型感光材料,因此受該光源53所照射之部分^ 經由該黃光微影製程之後則形成該凹部521。 "刀 為凹口p 521之該深度D1係不小於〇 〇3咖,於本實施例中, 該凹部521之該深度D1係與該光阻層52之厚度相同係為_ 腿,而在該深度m與該寬度W1之比值不小於2之定義下,該 凹部521之該寬度W1係不大於⑽15麵。本實施例中,該凹: 521之特徵尺寸係不大於〇.5咖,且其加工精度係不大於⑽ mm ° 該凹部52】之該傾斜角度θ !係藉由該光源%透過 鏡5U照射該絲層料,產生之—聚焦縣而形成。本實施例 之該第-透鏡5U為聚焦透鏡,因此光源53之光線通過該第 鏡513後產生聚焦的效果(如第5C圖所示),即可控制去除部分 該光阻層52時的該側壁522之傾斜角細,以形成該凹部切。 當然’在-實施例中’該第一透鏡S13亦可為一散焦透鏡。 請參閱第6A 0至第6F _*,為本發明細健實施例之 -種Μ結構之製造方法。職結構之製造方祕包括以下步驟: 其中’第6Α圖至第6C圖之步驟如同前述第从圖至第冗圖之步 驟,故在此不加以贅述。 如第6D圖所示,本實施例與前述之第三實施例不同 於,執行第W _示之步驟後,係於光阻層62之上提供 64,該光罩64具有具有—不透光請與—第二透鏡⑽,並且 兩者交錯賴設置_鮮64之—絲。在財施射,該第二 1伽你TW_0S1 發明專利說明書①iF.d〇c 1302339 透鏡642係為一聚焦透鏡。 接著,再如第6E圖所示, 射該光阻層62。 該先源63透過該光軍64而照 /取後’如S 6F睛示,去除部分該組層 形成1部621,以形成—微結構6,於本實施例/光阻層 ⑵係經由兩次曝光後而形成,由於該光阻層幻係為正^亥凹部 枓,因此受該光源63所照射之部分在經由該黃光=光材 形成該凹部62卜即可產生—微結構6。 之後則 4上所!4,因雜本發明之—觀結構之製造妓係 ,設置該光阻層,再利用半導體製程(例如黃光微鄉程= ::結構,因此其解析度、精密度及表面粗_習二: 生產,以減少衣造工時並降低成本。 以上所述僅為舉例性,而非為限制性者。任何未脫離本發明 之精神與齡,而對其進行之等效修改或變更,均應包含於後附 <申請專利範圍中。 【圖式簡單說明】 —第1 ®為-種習知微機電纽巾傾斜側壁結構的製造流程之 示意圖; 第2A圖至# 2E圖為依據本發明第一較佳實施例之一種微結 構之製造方法之流程示意圖; 第3A圖至第3B圖為依據本發明另一較佳實施例之一種微結 構之製造方法之流程示意圖; 12 14205-CP-TW-051123-發明專利說明書-DlF.doc 1*302339 第4A圖至第4G圖為依據本發明 構之製造方法之流程示意圖; 第二較佳實施例之一種微結 第5A圖至第5D圖為依據本發明 構之製造方法之流程示意圖;以及 第三較佳實施例之一種微結
第6A圖至第6F圖為依據 構之製造方法之流程示意圖。 【主要元件符號說明】 10 工件 本發明第四較佳實施例之一種微結 1〇1 表面 π 工具 111 傾斜面
2、3、4、5、6微結構 21、 3卜41、5卜61 基板 21卜31卜41卜51卜611表面 22、 32、42、52、62 光阻層 221、321、421、521、621 凹部 23、 33、43第一光罩 23卜33卜43卜45卜512、612、641 不透光區 232、332、432、513、613 第一透鏡 24、34 、44、53、63 光源 45 第二光罩 64 光罩 452、642 第二透鏡
-13- 14205-CP-TW-051123-發明專利說明書-DlEd〇C •1302339 θι 傾斜角度 D1 深度 W1 寬度 Cl 凹部
-14 - 14205-CP-TW-051123-發明專利說明書-DIF.doc

Claims (1)

1302339 十、申請專利範圍: 1 種彳政結構之製造方法,其步驟包括: 提供一基板; 於該基板上形成一光阻層; 於該光阻層之上提供-第—光罩,該第一光罩包括至少4透 光區與至少一第一透鏡; 提供一光源透過該第-光罩而照射該光阻層;以及 去除部分該光阻層,使該光阻層形成至少1部。 2、 如申轉利範圍第丨項所述之微結構之製造方法,其中該第/ 透鏡係為-聚焦透鏡或是一散焦透鏡。 3、 如申請專利範圍第丨項所述之微結構之製造方法,其中該四部 具有一側壁、—深度與—寬度,該側壁之傾斜角度不小於5度, 且该深度與該寬度之比值不小於2。 4、 如申請專·圍第3項所述之微結構之製造方法,其中該四部 之傾斜角度係由該絲透職第—透鏡產生之—聚焦現象成 一散焦現象而形成。 5、 如申4專她邮丨項所述之微結構之製造方法,其中於去除 部分該光阻層之前,更包括下列步驟·· 於"亥光阻層之上提供一第二光罩,該第二光罩包含至少〆不遂 光區與至少—第二透鏡;以及 提供該光源透過該第二光罩而照射該光阻層。 -15- 14205-CP-TW-051123-發明專利說明昏:D1F.夢 •1302339 6、 如申請專利範圍第5項所述之微結構之製造方法,其中該第二 透鏡係為一聚焦透鏡或一散焦透鏡。 7、 如申請專利範圍第2項所述之微結構之製造方法,其中該凹部 之特被尺寸係不大於0.5 mm。 8、 如申請專利範圍第2項所述之微結構之製造方法,其中該凹部 之加工精度係不大於0.01 mm。 9、 如申請專利範圍第2項所述之微結構之製造方法,其中該深度 _ 係不小於0.()3 mm。 10、 如申請專利範圍第i項所述之微結構之製造方法,其中該光 阻層之材質係為—正型感光材料或—負型感光材料。 、如申請專利範圍帛1項所述之微結構之製造方法,其中該光 阻層之材質係為—單層感光材料或—多層感光材料。 12 、如申請專利範圍第丨項所述之微結構之製造方法,其中該凹 φ 邻具有兩側壁,該等側壁係為對稱式或是非對稱式。 如申睛專利範圍第丨項所述之微結構之製造方法,其中該基 14板係為—透光基板、-半透光基板或-不透光基板。 申明專利範圍第丨項所述之微結構之製造方法,其中所形 15成該光阻層之厚度係不小於0.03 mm。 立'申明專利範圍第1項所述之微結構之製造方法,其中該凹 16 F係t由—黃賴影製程而形成。 申明專利fen第15所述之微結構之製造方法,其中該去除 -16- 14205-CP-TW-051123-發明專利說明書-DlF.doc 1302339 部分該光阻層係以顯影的方式進行。 17、一種微結構之製造方法,其步驟包括·· 提供一基板,該基板具有一表面,該表面包括至少一不透光區 與至少一第一透鏡; 於该基板之該表面上形成一光阻層; 提供一光源透過該基板而照射該光阻層;以及 去除部分該光阻層,使該光阻層形成至少一凹部。 μ、如申請專利制第17項所述之微結構之製造方法,其中該第 一透鏡係為一聚焦透鏡或一散焦透鏡。 ^如申請專利範圍第17項所述之微結構之製造方法,其中該凹 #具有一罐、與—寬度,賴壁之傾斜角度不小於$ 度’且該深度與該寬度之比值不小於2。 2〇、如申請專利範圍第18項所述之微結構之製造方法,其中該凹 部之傾斜肖⑽由該統透過該第-魏產生之—聚焦現象 或散焦現象而形成。 21、 如申請專利範圍第17項所述之微結構之製造方法,其中於去 除部分該光阻層之前,更包括下列步驟: 於該光阻層之上提供一光罩,該光罩包含至少一不透光區與至 少一第二透鏡;以及 提供該光源透過該光罩而照射該光阻層。 22、 如中請專利範圍第21項所述之微結構之製造方法,其中該第 -17- l42〇5_CP_TW_〇51123•翻翻麵書 -DlF.doc 1302339 一透鏡係為一聚焦透鏡或一散焦透鏡。 23 如申凊專利範圍第18項所述之微結構之製造方法,其中該凹 4之特徵尺寸係不大於 0.5 mm ° 如申請專利範圍第18項所述之微結構之製造方法,其中該凹 部之加工精度係不大於0.01 mm 〇 、如申請專利範圍第18項所述之微結構之製造方法,其中該深 度係不小於0.03 mm。 26如申請專利範圍第17項所述之微結構之製造方法,其中該光 阻層之材質係為一正型感光材料或一負型感光材料。 如申叫專利範圍第17項所述之微結構之製造方法,其中該光 阻層之材質係為-單層感光材料或—多層感光材料。 28 :如中請專娜圍第n項所述之微結構之製造方法 ,其中該凹 $具有兩_ ’該物魏為對稱式或是非對稱式。 士申。月專利|已圍第17項所述之微結構之製造方法,其中絲 板係為—透祕板或-半透光基板。 士申明專利feu第17項所述之微結構之製造方法,其中所形 成該光阻層之厚度係不小於0.03 mm。 i申π專利fell第π項所述之微結構之製造方法,其中該凹 部係經由—黃光微影製程而形成。 321如申料概_丨所敎微結狀製造錢,其中該去除 分遠光阻層細顯影的方式進行。 -18- l42〇5-CP-TW-〇5li23_ 發明專利說明書 _D1Rdoc
TW094141108A 2005-11-23 2005-11-23 Manufacturing method of microstructure TWI302339B (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW094141108A TWI302339B (en) 2005-11-23 2005-11-23 Manufacturing method of microstructure
US11/594,116 US20070117247A1 (en) 2005-11-23 2006-11-08 Manufacturing method of microstructure

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW094141108A TWI302339B (en) 2005-11-23 2005-11-23 Manufacturing method of microstructure

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200721250A TW200721250A (en) 2007-06-01
TWI302339B true TWI302339B (en) 2008-10-21

Family

ID=38054053

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW094141108A TWI302339B (en) 2005-11-23 2005-11-23 Manufacturing method of microstructure

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20070117247A1 (zh)
TW (1) TWI302339B (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102183817B (zh) * 2010-04-29 2013-01-30 上海圭光科技有限公司 多层脊型光波导的制备方法
FR2966940B1 (fr) * 2010-10-27 2013-08-16 Commissariat Energie Atomique Banc d'ecriture laser directe de structures mesa comportant des flancs a pentes negatives
JP5668488B2 (ja) * 2011-01-20 2015-02-12 凸版印刷株式会社 フォトマスクおよびそれを用いた視差クロストークフィルタの製造方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4402571A (en) * 1981-02-17 1983-09-06 Polaroid Corporation Method for producing a surface relief pattern
US5753417A (en) * 1996-06-10 1998-05-19 Sharp Microelectronics Technology, Inc. Multiple exposure masking system for forming multi-level resist profiles
US6016185A (en) * 1997-10-23 2000-01-18 Hugle Lithography Lens array photolithography

Also Published As

Publication number Publication date
US20070117247A1 (en) 2007-05-24
TW200721250A (en) 2007-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4422774B2 (ja) マーカ構造、位置合わせ方法、超小型電子デバイス用の基板、およびリソグラフィ投影機器
JP6232731B2 (ja) インプリントモールドの製造方法
JP7017196B2 (ja) マスタープレートの製造方法及びマスタープレート
JP2014211474A (ja) ペリクル及びペリクルの製造方法
US8048354B2 (en) Method of forming supports bearing features, such as lithography masks
US9261792B2 (en) Reflective lithography masks and systems and methods
TWI302339B (en) Manufacturing method of microstructure
CN107490815A (zh) 截断型镜片、截断型镜片对及相应装置的制造
TWI278903B (en) Microstructure and manufacturing method thereof
JP2007110106A (ja) マイクロデバイスへの接続
US8908149B2 (en) Projection exposure system and use thereof
KR20150100610A (ko) 나노임프린트 몰드의 제조 방법
KR20060092548A (ko) 반사 포토마스크의 제조 방법
TW201831981A (zh) 一種極紫外線光罩
JP4761934B2 (ja) アライメントマーク付き半導体基板及びアライメントマークの製造方法
CN1978309A (zh) 微结构的制造方法
KR102048056B1 (ko) 동적 리소그래픽 노출 방법 및 장치
TWI249184B (en) Method for manufacturing mask for focus monitoring, and method for manufacturing semiconductor device
JP2019113714A (ja) フォトマスク、並びにインプリントモールド用ブランクス及びその製造方法
JP5428401B2 (ja) 凸状パターン形成体の製造方法
JP6950224B2 (ja) インプリントモールド及びインプリントモールドの製造方法
JP5770479B2 (ja) Uv支援ナノインプリントリソグラフィー用モールド及びその製造方法
JP2008026384A (ja) フォトマスク及びこれを用いた感光体の露光方法
JP2020043279A (ja) レプリカモールドの製造方法
JP7192409B2 (ja) インプリントモールド用基板及びインプリントモールド、並びにそれらの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees