TWI298572B - Method and circuit for testing motor - Google Patents
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- TWI298572B TWI298572B TW095122839A TW95122839A TWI298572B TW I298572 B TWI298572 B TW I298572B TW 095122839 A TW095122839 A TW 095122839A TW 95122839 A TW95122839 A TW 95122839A TW I298572 B TWI298572 B TW I298572B
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Description
1298572 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本案係指一種馬達之測試方法及測試電路,尤指 一種藉由偵測及分析反電動勢(BEMF)而實施的馬達 之測試方法及測試電路。 【先前技術】 永磁馬達中永磁體的充磁品質決定了馬達的運行 性能特性,其中,經常用來檢測永磁體之充磁品質的 是基於霍爾感測器(Hall sensor)的磁性分析儀。如第一 圖1所示,其為習用以磁性分析儀針對馬達之永磁體 進行檢測之示意圖,圖中,係藉由探針111及霍爾感 測器112所構成的磁性分析儀11對永磁體進行檢測, 利用探針111在轉子12中旋轉一周便能夠得到永磁體 表面的磁密分佈。 然而,這種習用設備至少具有下列缺點: (1) 檢測過程中需要多次調整永磁體與探針Π1的 相對位置,耗費大量時間; (2) 探針相對來說較為脆弱,不適用於生產線; (3) 探針具有一定的體積,因此當用以測試微小型 馬達時,因為探針本身的體積所造成的位置誤差對於 測量結果的影響將讓使用者難以忍受;及 (4) 進行檢測時需要將定子鐵心去除,所以測量結 果並不是馬達正常工作時的氣隙磁密分佈,無法基於 其結果對馬達的運行性能進行精密分析。 5 -1298572 檢測= 體品質也可以通過 測試方法的優點在於 ==:Γ貢獻’可藉以精密分析電機 位問題二:=測器與轉子之永磁體的定 但是,這種測試方法有兩個要求:
(1) 轉子必須是轉動的;及 (2) 測試繞組中的電流不具驅動電流。 通¥這種方法需要一個驅動設備以驅動被 測馬達之轉子的轉動,然後制試馬達定子繞組中的 電壓…亦即反電動勢。如第二圖所示,其為習用以驅 動2備驅動馬達轉子針對馬達之反電動勢進行檢測之 ’、μ Η圖中,係利用與驅動器21相連的驅動設備 22以驅動馬_子23,再藉由測試器 24對馬達的反 電動勢進仃檢測。其中,驅動設備22的存在使得測試 系統變彳于非常複雜,此外,欲完成驅動設備22之轉子 與待測馬達之轉子的對心連軸(如圖中的耦合處)也會 耗費大量的時間,不利於生產線的要求。 因此有必要改進傳統對於馬達之反電動勢的檢測 f法’去除前述第二圖中的驅動設備22,開發出一種 n精度、方便、易用且省時的基於反電動勢測試之藉 由備測及分析反電動勢而實施的馬達之測試方法及測 試電路,以下為本案之簡要說明。 6 1298572 【發明内容】 -、ίί之構想本案之主要目的為提出-種結構簡 : 、易用且省時的基於反電動勢測試之藉由偵 2》析反電動勢而實施的馬達之賴方法及測試電 路0 以下說明本案之構想。 她!ί,:用馬達的自身繞組來起動馬達,此時繞 驅動元件’由於繞組中具有驅動電流, 因^、、法直接翁反電動勢,必須等到馬達轉子達到 刀斷、ΐ組的外部電源,此時馬達會失 :繞組作為-感測元件,藉由測量該感測=之;電 壓即可得到反電動勢。 电 …明參閱第二圖’其為馬達在測試過程中、繞组之 電壓與電流的波形圖,其中第三K(b 形框選部分的放大圖。 CU π矩 從第三圖可以看出,測試過程分為三個階段: (51) 利用馬達自身的繞組起動馬達, =的Γ壓即為所施加的外部電壓,繞組中有驅動 “的存在,但當轉子達到高於測試所需轉速的一定 轉速之後’便停止對馬達繞組供電, 流會經過一段續流時間而衰減到零; '、、中勺電 (52) 在此階段中’繞組中不具電流 :動=,,達轉子會由於慣性的作用而繼續: 動,利用測I糸統量出繞組的端電壓,由於此時繞组 7 • 1298572 中沒有驅動電流,因此所測量到的電壓值即為反電動 勢;及 < (S3)在測量完成後,利用馬達繞組對轉子進行制 動,讓轉子快速停下,可以提高生產效率。當然,這 個步驟並不是必須實施不可的。 值得一提的是,當馬達失去驅動轉矩而在慣性的 作用下旋轉時,由於摩擦轉矩的存在,因此轉子的轉 速會下降,特別是對於某些帶有負載的馬達(例如散熱 風扇馬達等)來說,在測試過程中,因為負載一直存 在,當馬達失去驅動轉矩後,轉子轉速下降會很明顯, 又由=反電動勢係正比於轉子轉速,所以反電動勢也 會隨著轉速的下降而下降,如第四圖所示,其為第三 圖中的反電動勢以及補償後之反電動勢的波形'圖。一 在第四圖中,曲線I係為測量所得反電動勢的波 瓜Pi(i 1,2,3···)為反電動勢每半個週期的時間。由圖 中可以看出,反電動勢隨著時間的推移而衰減,而pi 卻隨著時間的推移而增加。由於這樣的測量結果並不 對應於同一轉速,因此無法直接用來判斷充磁品質的 好壞;因此,本案所提出的解決方法為針對所測量之 反電動勢的結果進行修正。 如果在進行測量時,每一時刻的轉速是可以得到 的,那麼就可以將測量所得之反電動勢修正到一個統 、一的轉速下進行比較判斷。因為反電動勢正比於轉 速:所以如果電機轉子在A角度位置、電機轉速為〇、 測量得到的反電動勢e,將其折算到統一的轉速〇〇之 8 1298572 下’此時電機轉子在々角度位置的反電動勢則為 ^ m ω 當然,時間軸也需要修正到統一的速度ω〇下。在 t時刻取一時間增量,在At内轉子轉過△冷角度, 因此 Αβ = 〇) At
如果轉子轉速為,則轉動△^角度所需要的時 間為
Atm =~At ωο ,達從初始時刻tG開始到t _轉過的角度為 沒’右電機在轉速(^下^^ P弓 時刻則為 、 疋ω〇卜從to開始轉動到冷角度後的 it^L· 圖中線速度:正後之反電動勢的波形如第四 ατ的曲線Π所不,纟圖中 經對應於同-個轉速。 $㈣反电動勢已 馬達轉速的下降是有規律的, 土 是利用轉速下降的規律,通 本案所採用的方法 來计异以得到任意時刻的轉子速’反:動: I,每個半週期中心點時刻ti㈣ j四圖之曲線 似為 ’,···)的暫態轉速可近 9 1298572
A 下式決定 相應的暫悲週期為2Pi。馬達轉速的變化由 άω 其中J為轉子轉動慣量,tl為負載轉矩。 根據被測馬達之負載的不同,速 :=律。可以證明的是,當負載為風機負= =的暫態週期與時間t係呈線性遞增關係,如第五 任,固關係以及測量得到的序列便 了求付任思蚪刻的瞬態週期2P和瞬態速度 對於其他的負載特性,馬達 的關你如锺丄面〜 1堤又瞀態週期與時間t / “圖所示。對於這些負载特性如果能夠準 確可知的情況下,亦可以得到智能、^生如果月匕夠準 砝關在彳, 仟至1暫恶週期與時間t的明 確關係式。但現實狀況是,有 知,目古力于貞戟特性报難明確可 變化的,這樣就报難得到暫態週期盘:疋逐步 式。所以,更為方便而有效的=:_關係 知的靳能,η如产 八疋對於第六圖中已 知的暫恶週期序列進行插值 τ匕 轉子的暫態週期㈣速。 #恥意時刻下馬達 對於某些轉子慣量很大、 來說,由於測量時轉速之下降:負载很小的馬達 忽略對於其測量結果的轉速修正^顯’因此也可以 1298572 將修正後的反電動勢與反電動勢期望值進行比較 即可判斷永磁體的充磁是否合格。首先,可以提取修 正後的反f動勢的特徵值’錢與反電動勢期望值的 特徵值進行比較。當然,反電動勢的特徵值有很多, 因此可以提取其中一個或幾個來進行比較,正如熟習 本項技術者所知,參與比較的特徵值越多,比較所得 的可靠性便越高,而資料分析量也就越大。如果所選 取的η個特徵值都在誤差範圍内,如下式所示(其中, EGi、EGbi和EGti為對應於第i個特徵值的測量值、 期望值和容許誤差), \EGi-EGbi\<EGti / = 則可遇定所測得之反電動勢為合格;亦即,被測 轉子永磁的充磁是合格的。 請參閱第七圖,其為反電動勢之波形以及反電動 勢期望值之波形比較圖。圖中,cl為反電動勢期望值 之波形’ c2為測量後並經過速度修正的反電動勢之波 形’圖中提取了特徵值最大誤差Mmax。 再請參閱第八圖,其為第七圖中反電動勢之各處 諧波分量幅值以及反電動勢期望值之各處諧波分量幅 值的比較圖。圖中,Ai、Abi和从(卜1,2··.)分別為反電 動勢各處諧波分量幅值的測量值、期望值和誤差,所 提取的特徵值是各處諧波的幅值Ai。 最後,對於特徵值、期望值和容許誤差的給定, 可以利用人工根據經驗或理論給定,也可以通過對合 格轉子進行測量及統計的方法得到。容許誤差的設置 11 1298572 就是為了考慮測量、充磁的離散性。而這些離散性是 可以通過測量統計的方法得到的。常用的方法是,選 定一批合格的轉子,然後對這批轉子相應的反電動勢 進行測量,接著對這批轉子的反電動勢進行統計分 析,統計各特徵值的期望值EGbi和方差&,則各特徵 值的容許誤差EGti便可定為^選取不同的k值即可 控制反電動勢校驗的精密程度。 本案得藉由下列圖式及詳細說明,俾得更深入之 了解: 【實施方式】 請參閱第九圖,其為本案之測試方法應用於單相 無刷直流馬達一實施例的電路圖。主要的測試電路係 由控制器31以及信號調理電路32所構成,此外圖中 還包括了啟動鍵37、繼電器36、電源Vcc、由驅動電 路33及馬達繞組34所構成的馬達35、以及其他元件 (如電阻Rl、R2)等。 在第九圖中,數位型的控制器31係用於檢測控 制、採樣反電動勢以及資料分析等工作,信號調理電 路32則可對反電動勢執行放大、縮小、平移等功能。 數位控制器31發送控制信號TK以控制繼電器36的 線包得電與否,從而控制繼電器的閉合與斷開。在未 執行本案之測試方法時,啟動鍵37為常態,啟動信號 ST為低電位。 當欲執行本案之測試方法並按下啟動鍵37時,啟 12
的電壓k號來判斷馬達轉子是否已經達到測試需求的 轉速,明參閱第十圖,其為馬達起動過程中繞組端電壓 及^其濾波波形圖,圖中,Vab為採樣得到的繞組電壓 L遽’由於一般馬達專用的控制器係採用脈寬調變 -1298572 動信號ST變為高電位,此時,數位控制琴3 命電位的啟動信號ST後便先閉合繼電器 2得驅動電路33獲得電力而工作,繞組%在獲得合 適的驅動電壓後’馬達35即開始起動而旋轉。 31通過計時器延時合適的時間(保 =馬達轉子已經獲得反電動勢測試所需要的足夠速度) 後’即斷開繼電器36的觸點’使得驅動電路%失電 、=:作。此時繞組34失去外部電流後便一 接著數位控制器31再通過計時器延時合適的時 保證馬達繞組34中的電流下降為零)後,即啟動數 模轉換對調理後的反電動勢信號進行採樣,當採樣到 足夠的資料後,數位控制II 31便停止數模轉換,接著 對採樣所得到的諸進行分析以及速度修正。根據修 正後所得的資料,數位控制器31制用預先設定的期 望反電動勢和谷許誤差判斷被測試之轉子的反電動勢 是否合格,以決定其永磁充磁是否合格。 上述實施中係利用計時器的計時延遲技術來保證 2達轉子加速到足夠的速度。此外,因為起動過程中 、v〇組34上的端電壓也反應了電機的轉速,因此也可以 在起動過程中,利用叙位控制器31採樣繞組34兩端 13 -1298572 (PWM)軟啟龍術,所叫樣轉到的電 :土列==。數位控制器31對這一 波ς :-人數位濾波’濾波後的圖形為V 的過零點便可以得到馬達的週期2基=^ :馬達的轉速是否達到所需求的轉速。另外:㈡ 波:吏的電壓信號v-相對於原始信號Vab通常:; 一相位延遲,但這一相位延 曰
試系統而言,即時性要求=時間並不長’對於測 的。 h要求並不面,所以是可以被容許 因為反電動勢是有明顯的規律的,所以可以利用 2控制器3!斷開繼電器3 6之後繞組3 4 來確定繞組34中的雷、、六a : J而电/土 々電"IL疋為零。請參閱第十一圖, 八為馬達起動過程中繞組端電㈣波形圖,圖中 ^寺^數位控制器31斷開繼電器36,使得繞組34 〆、電源Vcc斷開,、繞組處於續流狀態,從化時刻開始 $繞組;4之端電壓的過零點之間的時間間隔,當確 疋滿足關係 二1㈠其巾S為-正整數時,則可以 確疋繞組34中的電流已經為零。在上述兩式中,s越 大’判斷條件越嚴格,但—般來說取丨或2便已經 夠。 、、工 請參《十二圖,其為本案之測試方法應用於三 相水磁馬達-實施例的電路圖。由圖中可以看出,除 了馬達3 5改成由三相繞組3 4和三相驅動電路3 3所構 14 -1298572 成之外,其餘皆與第九圖之構造相同。在三相馬達35 中,二相繞組U、V、w係採星形連接,信號調理電 路32則連接於繞組u和中性•點N,所以數位控制器 31所得到的是馬達的u相繞組相反電動勢,至於其他 的控制方法亦與第九圖相同’故省略其說明。
、"月參閱第十二圖,其為本案之測試方法應用於三 相水磁馬達另—實施例的電路圖,與第十二圖相比, 其差異在於此例巾信號調理電路32接的是繞組UV, 戶^以數位控㈣31採樣得制是繞組的線反電動 以’至於其他的控制方法亦與第九圖相同,故省略其 說明。 夕η阃,丹局本業之測試方法應用於單 :無:直,一實施例的電路圖,與前述數個實施 體)=(^、决差異在於此例中係使用多個開關(例如電晶 ^)G1〜G4來取代繼電器36及驅動電路33, 雈爾感測器38來獲取馬達轉子的位置㈣。 開關 Gl、G2、G3、/μ 、、、σ 此 G4’從而可以控制馬達的運行妝 :置==37時,數位控制器31將根據轉: 34施二:==該等開關’藉此對繞組 根據霍爾感測器38的位置^^加速’數位控制器31 -^ ^ 的位置^遽而判斷馬達轉子县不 轉速,當相預定 = 轉·^否 閉該等開關管開始採集繞組= 1298572 資訊’並進行後續的反電動勢補償 以及反電動勢比較等工作。 刀析、 以上述所述之諸多實施例僅為用以實現 =Γ口?,,並非用以限制本案的電路結構 電路32來實Γ:用本案的控制器31以及信號調理 m方法者,皆落人本案所㈣ 明專利觀園所欲保護的範圍内,以 才甲
之流程圖對本案之測試方法進行一詳細說明。五圖 (步驟一)首先,按下啟動鍵; 子旋$驟二)此時’電源會提供電流至馬達繞纽使得轉 2驟三)接著’等候轉子達到預定轉速; 济,步與驟四)當^亥轉子達到預定轉速時停止提供該電 l牛曰使待該繞組中的該電流持續衰減; =驟五)等候該繞組中的該電流衰減至零; (步驟六)在該繞組中 ’ 量該繞組之踹p甲的°亥電机哀減至零的時刻測 〜壓’即得到一未補償反電動勢; 至少—m據測量繞組之端電壓過程中、該轉子的 一反電動^以補償該未補償反電動勢而得出 少-信m分析該反電動勢並選取該反電動勢之至 反電€動步勢將該反電動勢之至少—特徵值與一期望 (步驟+ 2特徵值進行比較,麟到—結果;及 ^十)輪出該結構以決定該馬達之充磁是否合 16 上298572 同程序 袼,並接著移至下一轉子進行相 【圖式簡單說明】 第—圖··習用以磁性分析儀斜 挪之示意圖;刀析儀針對馬達之永磁體進行檢 習用㈣動設備_馬達轉子針對馬達之反 電動勢進行檢測之示意圖; 这汉 ⑷:馬達在測試過程中、繞組之與電流的 =三圖(b)··第三圖⑷中矩形框選部分的放大圖; 弟四圖··第三圖中的反電 的波形圖; 0反電動勢以及補償後之反電動勢 馬達的反電動勢、暫態 馬達的反電動勢、暫態 第五圖··負载為風機負載時 週期與時間t的關係圖; 第六圖:負载為其他負载時 週期與時間t的關係圖; 5=·反電動勢之波形以及反電動勢期望值之波形 比較圖; 七圖中反電動勢之各處諧波分量幅值以及 广’月堇值之各處諧波分量幅值的比較圖; 之測試方法應用於單相無刷直流馬達-實此例的電路圖; 馬達起動過程中繞組端電壓及其濾波波形圖; ^ 圖·馬達起動過程中繞組端電壓的波形圖; 弟 圖·本案之測試方法應用於三相永磁馬達一實 1298572 施例的電路圖; 第十二圖:本案之測試方法應用於三 實施例的電路圖; 祁求磁馬達另一 第十四圖··本案之測試方法應 一實施例的電路圖;及 ^ ;早相…、刷直流馬達 第十五圖:本_提馬達之•方法的流程 【主要元件符號說明】 11磁性分析儀 111探針 112霍爾感測器 12轉子 21驅動器 2 2驅動设備 2 3待測轉子 24測試器 31控制器 32信號調理電路 3 3驅動電路 34繞組 35馬達 36繼電器 37啟動鍵 3 8霍爾感測器 圖
Claims (1)
- •1298572 十、申請專利範園·· l 一種馬達之測試方法,該 子,該定子具有—繞 匕括—定子及一轉 產生-反電動勢,二試; 流,使得兮1二達到一預定轉速時停止提供該電 定亥繞組中的該電流持續衰減;捉仏》亥電 (幻田„亥繞組中的該電流衰減至跫 之端電璧即為—未補償反電動勢; 測1該繞組 -表繞量過程中、該轉子的至少 稭以補償該未補償反雷細 電動勢; 1貝汉雷動勢而得出該反 徵值ΓΓ斤該反電動勢並選取該反電動勢之至少一特 (f)將該反電動勢之至少一特徵值鱼 ::相應特徵值進行比較,以決定該馬達= 2·如申凊專利範圍第】 為一單相無刷直流馬達方法,其中該馬達係 =申二,第1項之測試方法,其中該馬達係 為二相或多相永磁馬達。 ㈣ t申包圍第1項之職方法,其中步驟⑷之 停止旋轉。ν 利用該繞組制動該轉子使得該轉子 申月專#】$&圍第丨項之測試方法,其中步驟⑷之 19 • 1298572 • 該表現數值包括經過時間、該轉子之位置、該轉子之 轉速。 ? 口申t專利範圍第5項之測試方法,其中步驟_ 藉由計异出該轉子在任意時刻的暫態週期與轉 將該未補償反電動勢藉此修正至統一的轉速之下 得出該反電動勢。 7.如申請專利範圍第1項之測試方法,其中步驟⑴係 • „勢之至少-特徵值與-期望反電動勢之相 ^特徵值進行比較’以衫其結果衫小於—誤差範 = 7項之賴方法,其中該特徵值 匕括忒反電動勢之各處諧波分量幅值。 專利範圍第7項之測試方法,其中該特徵值 二决車巳圍之決定係藉由經驗、理論、及統計測量 而疋。 齡 種^叙測試魅,料達包括—定子及一轉 :该定子具有—繞組,該轉子轉動時會於該繞組中 一反電動勢,該測試電路包括: 該㈣&制為’用以接收一啟動信號以驅動一電流至 二::μ使侍:亥轉子旋轉,並於該轉子達到-預定轉 減動该電流,使得該繞組中的該電流持續衰 之端電=^中的該電流衰減至零時,測量該繞組 中未補償反電動勢,並根據測量該繞組 該轉子的至少-表現數值,藉以補 亥未補償反電動勢而得出該反電動勢;及 20 1298572 、上一k號調理電路,耦接於該馬達及該控制器,用 以調理繞組電壓信號; “其中’利用該控制器分析該反電動勢並選取該反 電動勢之至少一特徵值,並將該反電動勢之至少一特 ,值與一期望反電動勢之相應特徵值進行比較,以決 定該馬達之充磁是否合格。 u·如申請專利範圍第10項之測試電路,其中該馬達 係為一單相無刷直流馬達。 ^ 12·如申睛專利範圍第1〇項之測試電路,其中該馬達 係為一三相或多相永磁馬達。 =·如申請專利範圍第10項之測試電路,其中該控制 更連接於繼電為,並根據該啟動信號控制該繼電 器之閉合或斷開以驅動該電流至該繞組。 =·如申請專利範圍第10項之測試電路,其中該控制 器更連接於至少一開關,並根據該啟動信號控制該等 開關之閉合或斷開以驅動該電流至該繞組。 ^5·如申請專利範圍第10項之測試電路,其中該控制 器係藉由計時延遲以判定該轉子是否達到該預定轉 速。 =·如申請專利範圍第10項之測試電路,其中該控制 器係藉由採樣該繞組之端電壓以判定該轉子是 該預定轉速。 疋運, 青專,第10項之測試電路,其中該控制 裔更連接於一隹爾感測器,藉由該霍爾感测器以 該轉子是否達到該預定轉速。 21
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