TWI291047B - Method and apparatus for inspection flexible display medium layer - Google Patents

Description

1291047 17108twf.doc/006 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明S ”軟性顯示元件的__軟_示介質 層的檢測技術。 【先前技術】 ^軟性顯示器具有輕薄、耐衝擊及可換曲之特性，使 面，示器應用=且可以在新興市場取得機會 為疋下-代顯不器。軟性顯示器的特性使得其製程有機會 從張頁批次製程(sheet-fbd batch processing)轉換成捲軸式 製程(r〇ll_t〇_r〇ll manufacturing)，可以大量降低製作成本。 * 又，把驅動的電極層與顯示介質層分開製作是捲軸式製程 衍生的另一種生產概念，再依顯示器應用需求於顧示介質 層的上下面黏貼用以驅動的電極層。 圖1A〜1B繪示軟性顯示器的結構示意圖。在被檢測的 軟性顯示器104，其結構基本上包括一軟性顯赤介質層 110。接著’一或一層黏著層(adhesive)108、112塗佈在軟 性顯示介質層110上下或其中一面。又，一驅動電極結構， 包括一上電極層114與一下電極層1〇6，分別藉由黏著層 108、112黏貼於軟性顯示介質層ι1〇的上下面或其中一 面。上述軟性顯示器的實際的結構應為一般熟此技藝者能 了解，不於此詳述。 先前技藝所提出軟性顯示器製作完成後的效能檢測流 *1291047 17108twf.doc/006 知’例如圖2所示。檢測流程中，軟性顯示器132，藉由 -傳動系統，例如滾輪⑽，先通過配向處理單元134，做 配向處理’其包括利用已製作好的電極，施加一電場給顯 示器132。而後送到檢測部136、切割部137、分類命麗 收納部139，進行對應處理。 於上述的檢測流程，其電極結構已製造完成，且需要 利用此電極結構產生所需要的電場。被切割掉的部分，& • 含已製作完成的電極結構，浪費製作成本。因此，這樣的 檢測流程有必要改進。 【發明内容】 本發明提出軟性顯示介質層的檢測方法與裝置，可直 接先對顯示介質層進行一些效能等的檢測，而後才進行電 極層的黏合。如此可以做到產品分類並提高成品良率。 本發明提出一種軟性顯示介質層的檢測方法，包括提 供要被檢測的一軟性顯示介質層，其中預定形成於該軟性 ® 顯示介質層的一驅動電極結構尚未完成製作或是淥有該驅 動電極結構。軟性顯示介質層通過一檢測部域。接著進行 效能檢測，以檢測該軟性顯示介質層在通過檢測部域的一 對應區域上的一效能。將檢測結果記錄或顯示，其中包括 效能的程度與不良區域資訊。 依照本發明的一較佳實施例，於上述檢測方法中，可 以對該軟性顯示介質層施加一檢測電場或一檢測磁場，以 進行一效能檢測。 I291Q4Z ;twf.doc/006 本發明又提出一種軟性顯示介質層的檢測裝置，用於 檢測一軟性顯示介質層。此檢測裝置包括一檢洌箪元、一 傳動系統與一記錄或顯示單元。該傳動系統用以傳動該軟 性顯示介質層或檢測系統，使該檢測單元檢測該漱性顯示 介質層所通過的一對應區域。該軟性顯示介質層上尚未完 成^成一驅動電極結構，或是沒有該驅動電極結構。該記 ^單元，耦接於該檢測單元，根據該檢測單元的結果，以 • 標記該軟性顯示介質層的一不良區域資訊或記錄效能資 訊。該檢測單元對軟性顯示介質層施加一檢測電場或一輪 測磁場以檢測一效能。 依照本發明的一較佳實施例，於上述檢測裝置中，該 軟性顯示介質層沒有該驅動電極結構時，該檢測單元可以 包括對電極板或是一對磁極，以施加該檢測電場或該檢 測磁場於該軟性顯示介質層的該對應區域。一光源，以照 射於该對應區域。一偵測器，以接收該光源通過或反射該 軟性顯示介質層的一光信號，經處理分析後得效能的程度 與不良區域資訊。 依照本發明的一較佳實施例，於上述檢測裝置中，該 軟性顯不介質層沒有該驅動電極結構時，該檢測單元也寸 以包括一電極板。一滾輪，可以參與或不參與傳動該軟性 顯示介質層。一滾輪電極層，設置於該滚輪的一表面上， 與該電極板|馬合以施加該檢測電場給該軟性顯示介質層的 該對應區域。一光源，照射於該對應區域。一倩測器，接 收該光源通過或反射該軟性顯示介質層的一光信號，經處 .1291047 17108twf.doc/006 理分析後得到效能的程度與不良區域資訊。

依照本發明的一較佳實施例，於上述檢測裝置中，兮 軟性顯不介質層沒有該驅動電極結構時，該檢測單元輿該 傳動系統可以結合成一整合(integratecl)單元，使該傳動系 統與該軟性顯示介質層接觸的一傳動表面也是二電極^ 面’以施加該檢測電場給該軟性顯示介質層的該對應區域。 ^又，依照本發明的一較佳實施例，於上述撿測^置^， 該軟性顯示介質層上的該驅動電極結構僅有一電極層時， 該檢測單元可以包括一個外部電極單元，與該電極^輛^ 以施加該檢測電場或該檢測磁場於該軟性顯示介質層的^ 對應區域。一光源，照射於該對應區域，以及一 接收該光源通過或反射該軟性顯示介質層的一光信號^麵 處理分析後得到效能的程度與不良區域資訊。^/n 該 該 依照本發明的一較佳實施例，於上述檢測裝置中， 軟性，示介質層上的該驅動電極結構僅有一電極層時，= 系統與該軟性顯示介質層接觸的至少一部份表面有^電輕 表面’與該電極層耦合以施加該檢測電場給該軟性顧^入 質層的該對應區域。 ~ '乂1 依妝本發明的一較佳實施例，於上述檢測裝置中，兮 軟性，㈣層上的該驅動電極結構僅有-電極層❹ 整ii元包括—第—滾輪，其參與或不參與傳動該軟性i 不彡丨貝層。一滾輪電極層，設置於該第一滾輪之一表面。 至少-個第二滾輪，其中該第—滾輪配合該第二滚輪傳動 U9mL. 'doc/006 =—雜上的該滾輪電極層，_施加該檢測電 琢於该對應區域。一光源，照射於該對應區域。一债測牙， 接收該光源通過或反射該軟性顯示介質層的一光信 分析處理後得到效能的程度與不良區域資訊。

—、依照本發明，該軟性顯示介質層在電極層還沒有製作 疋成時，或是製作電極層前的軟性顯示介質層，可以進行 相關的效能測試。如此可以有效節省製作成本。 ▲為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯 易懂’下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說 明如下。 【實施方式】 先前提出的軟性顯示器的製作流程中，其檢測方法仍 有進一步改進，以達到檢測的同時，也可以降低製造成本。 本發明以下提出對軟性顯示元件的一軟性顯示介質層的檢

測方法與裝置，舉一些實施例做為說明，但是本發明不受 限於所舉的實施例。 本發明所提出的軟性顯示介質層的檢測裝置，可用於 檢測一軟性顯示介質層。此檢測裝置可包括一檢測單元、 一傳動系統與一記錄或顯示單元。傳動系統用以傳動此軟 性顯示介質層’使其一平面通過檢測單元，以使檢測單元 檢測此軟性顯示介質層所通過的一對應區域。 要注意的是，檢測單元進行檢測時，此軟性顯示介質 層上尚未完成形成一驅動電極結構，或是沒有該驅動電極 1291047 17l08twf.doc/006 f構。因此，如果有部分軟性顯示介質層未達到聲求的致 能，可以先將此不良區域(malfunction regi〇n)切除或是依 據其不良程度，於後續製作驅動電極時，可做一些修正處 理，以使達到較大的產品良率(yield)，或是產品 時不浪費驅動電極。 該檢測單元對軟性顯示介質層施加一檢測電場或一檢 測，以制-效能。經檢測後，上述記鮮軸接於檢 測早70，且根據該檢測單元的結果，以標記該軟性頻示介 質層的效能程度與不良區域資訊。這裡的標記動作，可以 是直接在該軟性顯示介質層上標出一不良區域或在料 儲存臬置中纪錄不良區域的座樣，或也可顯未。、 以下舉-較具體的結構描述本發明。圖3綠示根太 备明-實施例的軟性顯示介f層的檢裝侧面_ ^於圖3,檢測單元與傳動系統是整合在一起U = 合單元(integratedunit)。 （成為整 以下先描述圖3所示的檢測裝置。一軟顧+八所也 ⑽，完成，而尚未製作轉電極於其屬 ===性顯示介質層上，虞 其需要：對電極以產生電場，在軟性顯= = =，， 對要被檢測的—對應區域142施加此+尸々^ 士上’ 動軟性顯示介#層14G㈣形下，可^^使傳 3輪:下滾輪，以夾著軟性顯示介質層·，以-以 "了解地’實際的傳械械結淑有全轉示於ς ^291042.,oc/006 3中。於此實施例，下滾輪的表面設置有—滾輪電極層 144a，而上滾輪的表面設置有一滾輪電極層14你。藉由對 二滾輪電極層144a、144b施加適當電壓，可以在對^區域 142產生檢測電場。 另外，為了檢測軟性顯示介質層14〇的對應區域142的效 能(perfbrmance)，還例如包括一光源146，輿一攸緣 (detector)148，其中效能例如光學特性，光電特性，或是甚 • 至在磁場下的物理特性等。此處，效能是指依照實際需要， 所必須檢_-些雜。光騎或反射於賴繼介質層 140的對應區域M2後，可由檢測器148接收與信號處理。 圖3例如是光穿過軟性顯示介質層α4〇，由檢測器148進 行偵測處理。讓滾輪上部分區域鏤空或是透明及電極透 明，故光可以通過。於此，偵測器148例如揍收光信號， 經必要的信號處理與分析，可以得知在敕性顧示介質層 140的對應區域Η2的效能程度。檢測器148的信藏處心 部份可以内部功能或是藉由外部的處理單元，例如電腦的 ’輔助進行處理。這是可了解的設計及一般變化。 根據檢測出的效能程度，可以決定出不良區域資訊。 此不良區域資訊可以例如包括一不良區域的位置或是對應 此不良區域的效此等級。這些資訊有助於後續處理，於 圖8會有較詳細說明。又，這些檢測結果，可以直接在該 軟性顯示介質層上標出一不良區域或在一資料儲存裝置Ρ 記錄不良區域的座標或效能資訊或直接顯示出來。資料儲 存裝置，顯示或是記錄單元，可以例如整合設置於偵測器 11 1291047 17108twf.doc/006 口圖3所表達的原貝g，可依實際設計做變化，本發明並不 必限，於定安排。換句話說，檢測單元與傳動系統以整· 成-早7L，而記錄單元則也可以整合於其中，或是設置與 外部。 /、 另外，在檢測時，對光源或光信號，熟此技藝者可以 • 了解，也可以包括使用至少一偏光片（未示於圖式)於軟性 顯不介質層140的上或下，以產生所要的偏光開關作. 上述衣置僅纟會示本發明相關的部分，而實際裝置 〜構還包括些電路與構件等未示於圖式。然而一般熟此 技藝者應可以了解於實施。 一，著以下描述圖4的設計安排。圖4繪示根據本發明 另一貝施例的軟性顯示介質層的檢測裝置之侧面示意圖。 於，4，軟性顯示介質層的檢測裝置的傳·統與檢測單 ，傳動一軟性顯示介質層15〇之用。此時，檢測單元包括 、板156a、156b，用以產生一檢測電場158。此檢 包場158在檢測部域154，對軟性顯示介質層15〇施加 屯場。基於’電場與磁場的共通性，若是必要，此對電極 板也可以置換成一對磁極線圈，以產生檢測磁場。圖4是 以檢測電場158為例，而光是通過軟性顯示介質層15〇後 被檢測為例。光源152與偵測器153可以如前述爵3的安 排，於此不再詳述。於此實施例，傳動系統是安排成獨立 12 doc/006 運作。 接著’對於圖3或圖4中的軟性顧示介質層丄撕 圖5A所不’例如是沒有顯示元件的驅動電極結構被形成 於上’其僅是包含顯示介質層的部分。然而，基於圖3或 圖4所描述的技術思想(aspect)，也可應用於一軟性顯示介 負層150 ’但是僅完成單一電極層的|作。如圖5B所示 例如在軟性顯示介質層150的一面，已形戍一電極層2〇〇 φ 構成僅有一電極層的軟性顯示介質層202。此軟性顧示介 質層202可利用與圖4類似的設計，而安排成如圖’从办 結構。於圖6A，由於軟性顯示介質層2〇2已製戍有 斧 2+00,可以利用此電極層2〇〇直接做為檢測用的電極。^ ^，僅需另外設置一個電極板2〇4即可。傳動漱性顧示介 質層202的動力，可以例如由滚輪提供。 &又，依照圖3的整合安排原則，也可變化如圖· π汁此時，一滾輪206、208可做傳動軟性顯示介質層 202之用，而由於軟性顯示介質層2〇2已製成灰嘗 200 ’僅在滾輪208的表面設置一滾輪電極層21〇。如此，

所要的彳欢’則黾％可以籍由施加適當電壓給滾輪電極層HO 與電極層200而獲得。其他偵測與記錄的部分則相同，不 再描述。 然而本發明也不限制於上述的描述，例如，也可以利 用上述的描述做結合安排，例如將於後述的圖丨^丨丨就是 其他的變化設計。 以下先就軟性顯示介質層的檢測方法的觀點來描述。 13 1291047 17108twf.doc/006

或是如果必要的話就淘汰172。分級後的裁切部分，可依 產品分級。 如圖7的檢測流程，首先，要被檢測的一軟性顯示介質層 160被提供’其中預定形成於該軟性顯示介質層的一驅動 電極結構尚未完成製作或是没有該驅動電極結構。此軟性 顯不介質層，藉由傳動系統162被傳動，以使該軟性顯示 介質層沿著一行進方向，通過一檢測部域164、接著進持 效能檢測’以檢測該軟性顯示介質層在通過檢測部域的— 對應區域上的一效能。將檢測結果記錄166，其中儀被犧 該效能的程度，以記錄該軟性顯示介質層的一不良區域資 訊。接著’可以後續依照效能的程度的等級裁切168。針 對裁切後的軟性顯示介質層的每一裁切部分做分級17〇， 又，檢測後的不良區域，如前述可以例如直接標記 212、214於軟性顯示介質層15〇上，或是儲存一記憶體内。 又’、針對檢測部域的有效區域，其例如可以如圖8的線狀 區域220、222，或是如圖9的面狀區域224 ,或是點陣狀 226 ’含有多個檢測點2施。上述的區域形狀結構是一些 = Γ實際設計變化’其仍是在纏 ，在裝置的安排上’基於圖3、圖4、圖6Α、圖6Β 所提出的設計原則，也可以上適當結合變化。如圖10所 傳動权性顯讀質層184。此時可採用—個電極板⑽以 ^ I291Q47twf.doc/006 及有滾輪電極層的滾輪180。此滾輪180 ,可以來於僂勤会 統的滾輪I8 2，一却少担处满n 一、系 H 、 起也&供傳動力。然而，滾輪180也可 以，广轉動的狀態’因此，滾輪ΐ8σ僅接觸軟性顯 不介貝層184而轉動。 另外’如圖Π所示，其繪示本發明的另一結合變化。 此時，在軟性顯示介質層192上已如圖50所示形成有一 5 190*

曰所如供。又，傳動軟性顯示介質層192的動力是由，於 182提供。滾輪190則與圖1〇的滾輪18〇類似，可以 傳動系統的滾輪18 2，一起也提供傳動力，或是也可以^ 可以自由轉動的狀態，不參於傳動系統提供傳動力。疋 又根據上述的檢測機制，本發明也可遁用於已裁切後 的軟性顯^介質切片。例如圖12所示，軟性顧示介質切片 1004可以單獨在一檢測機台(machine)進行_。對於檢測 機台的設置，根據前述的檢測機制可以有多種設計，圖^ 疋其中一實施例。在圖12中，軟性顯示介質切片】被 置放於一基座(base stage) 1000上。如果軟性顧示介質切片 1004上沒電極層，則基座1000上可增加設置一電植層 1002，例如是接地的電極層。另外，如果配合光穿洗午^ 檢測，在基座麵-邊可設置—光源I 可允井光牙過权性顯不介質切片1004。在基座1⑽〇的另 一邊另則設置一檢測單元1008。又，為了提供所需要的檢 測電場，於檢測單元1008的一端可設置另一電極層1〇〇6。 在圖12的設計，由於軟性顯示介質切片1〇〇4不是由滾輪 15 i29m twf.doc/006 二⑽8 或是基座 域。'至於，欢測在軟性顯示介質切片1004上的檢測區 而不詳述。 技術達成，應為一般熟此技藝者可了解 示介在本發明提出檢測方法與裝置，對軟性顧 結王=完成電極結構的製作前，甚至沒有_ “率二二就進行檢測’可以節省製作成本，可以提 G盘於、敕ί測裝置的安排上’依實際需要，可以採取 傳動糾_合_計，或是分_料。 發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非甩以 /:fi:日丄任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神 當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護 乾圍§視後附之申請專利範圍所界定者為準。 【圖式簡單說明】 圖1Α〜m繪示傳統的軟性顯示器的剖面結構示意· 圖2繪不傳統的軟性液晶顯示器，其配向特性檢測流 程示意圖。 圖3繪示根據本發明—實施例的軟性顯示介質層的檢 測裝置之側面示意圖。 圖4繪示根據本發明另-實施例的敕性顯示介質層的 檢測裝置之側面示意圖。 圖5A〜5B繪示根據本發明，軟性顯示介質層的剖面 16 1291047 17108twf.doc/006 結構不意圖。 圖6A〜6B繪示根據本發明另一實施例的軟性顯示介 質層的檢測裝置之侧面示意圖。 圖7繪示根據本發明軟性顯示介質層的檢測方法流程 示意圖。 圖8〜9繪示根據本發明軟性顯示介質層的檢測部域形 狀。 _ 圖10〜12繪示根據本發明又另一些實施例的軟性顯示

P 介質層的檢測裝置之側面示意圖。 【主要元件符號說明】 104 ： 軟性顯示器結構 106 、 114 : 電極層 108 、 112 : 黏著層 110 : 軟性顯示介質層 130: 滾輪 132: 軟性顯示器 134 : 配向處理 136 : 檢測部 137: 切割部 138 : 分類部 139 : 收納部 140: 檢測軟性顯示介質層 142: 對應區域 17 .1291047 17108twf.doc/006 144a、144b ·.滾輪電極層 146: 光源 148: 檢測器 150 : 軟性顯示介質層 152 : 光源 153 : 偵測器 154 : 檢測部域 156a、156b :電極板 158 : 檢測電場 160 ： 軟性顯示介質層（沒有或未完的驅動電極) 162 : 傳動系統 164 : 檢測單元 166 : 標示單元 168 : 裁切單元 170 : 分級 172 : 淘汰 174 : 電極黏合 180、182、190 :滾輪 184、192 : 軟性顯示介質層 186 : 電極板 200 : 電極層 202 : 未完成電極的軟性顯示介質層 204 : 電極板 200、208: 滾輪 18 I291〇47£d〇c/〇〇6 210 : 滾輪電極層 212、214: 標記 220、222、224、226 :檢測部域的形狀 1000: 基座(base stage) 1002: 電極層 1004: 軟性顯示介質切片 1006: 電極層 1008: 偵測單元 1010: 光源 19

Claims (1)

1291 亂 f.doc/006 十、申請專利範面： 1.一種軟性顯示介質層的檢測方法，包括： 提供要被檢測的-軟性顯示介質層，^中預定來靜 該^性^科質層的—轉電極結構尚未1_|·沒 有該驅動電極結構； 使該軟性顯示介質層相對通過—檢测部域.

，行效能檢測，以檢測該軟性顯示介魏在通過麟 部域的一對應區域上的一效能；以及 記錄、標記或顯示檢測結果，以獲得該軟性顧示介質 層的一效能資訊。 2. 如申請專利範圍帛1項所述之軟性顯示介質層的 檢測方法，其中之進行效能檢測之該步驟，包括: 於雜性顯示介質層上，施加—檢戦場或—檢測磁 場；以及 對該對應區域進行一效能檢測。

3. 如申請專利範圍第2項所述之軟性顯示介質層的 檢測方法’更包括使用至少一偏光片，以產生所要的偏光 開關作用。 4·如申明專利範圍第1項所述之軟性顳示介質層的 檢測方法，其中效能資訊包含一不良區域的位置、與對應 該區域的效能等級二者之中至少其一。 5·如申請專利範圍第1項所述之軟性顯示介質層的 檢測方法，其中在記錄檢測結果的步驟中，包括直接在該 軟性顯示介質層上標出一不良區域或在一資料儲存裝置中 20 1291047 17108twf.doc/006 記錄不良區域的座標或效能資訊或直接顯示出來。 八6·如申請專利範圍第丨項所述之軟性_示介質層的 h測方法其中該檢測部域是一線形區域、一點陣狀區域、 或疋 面形區域。 顧示7介質一層種=示介細檢測裝置’用於檢測-軟性 一檢測單元； 元二3 ΐ統’以傳動該軟性騎介質層或是該檢測單 二示介質層的一平面通過該檢測單元，使該 中通過的一封應區域，其 是沒有該=4=成形成-躯動電極結構，或 測述之軟性顯示介質層的檢 檢㈣置，申其==所述之軟性顯示介質層的 測磁場’ μ*1錄卿場或該檢 :季人[生顯不介質層的該對應區域； 先源，照射於該對應區域；以及 1291047 17108twf.doc/006 器，接收該光源通過或反射該教性顯示介質層 的一先經處理分析後得到該錢的效能資訊，^ 祆測衣置，其中該檢測單元包括： 一電極板； 質層 滾輪，其中該滾輪參與或不參與傳動該軟，丨 性顯不介

=輪電極層，設置於該滚輪的一表面上，與該電極 板耦曰以施加該檢測電場給該軟性顯示介質層的該對灰 區域； 〜 一光源’照射於該對應區域；以及 ，偵測為，接收遠光源通過或反射該漱性顯示介質層 的一光信號，經處理分析後得到該區域的效能資訊。、曰 I2·如申請專利範圍第9項所述之軟性顯示介質廣的 檢測裝置，其中該檢測單元與談像動系統結合成合 (integrated)單元，使該傳動系統與該軟性顳示介質層接二 的一傳動表面也是一電極表面，以施加該檢測電場給該軟 性顯示介質層的該對應區域。 13·如申請專利範圍第12述之軟性觀示介質層的檢測 裝置’其中該整合單元包括： 一第一滾輪； 一第一電極層，設置於該第一滾輪之一表面; 一弟二滾輪； 一第二電極層，設置於該第二滾輪之一表面，其中該 22 1291047 17108twf.doc/006 ，=輪與該第二滾輪夾著該軟性顯示介實層r麵 加忒核測電場於該對應區域； 一光源，照射於該對應區域； ’接收該光源通過或反射該軟性_介_ 的一先仏旒，經分析處理後得到該區域的效能資幫。、^ 14.如申請專利範圍第7述之軟性顯示介^声的於、目丨 部域是-線形區域、-點陣職 敦置^^專^範圍/^述之軟性顯示介質層的檢測 不声^ °、彔直接在錄性顯示介質層上標出- ’7述之軟性顯示介質層的檢測 1極i中在軟性顯示介質層上的該驅動電極結構僅有 hit·/7 利範圍第16項所述之軟性顯示介質層的 払测裝置，其中該檢測單元包括： 部電極單元，與該電極層耦合以施加該檢測電 每或糾測磁場於該軟性顯示介質層的該對應區域; 一光源’照射於該對應區域;以及 接收該域通過或反射該軟性顯示介質層 、、心號，經處理分析後得到該區域的效能資訊。 A、二如t睛專利範園第16項所述之軟性顯示介質層的 仏測裝置，其t該檢測單讀該傳動系統結合成一整合單 23 1291047 17108twf.doc/006 元 使汶傳動系統與該軟性顯示介質層接觸的至少一部份 有電極表面，與该電極層搞合以施加該檢測電場仏 • Μ权性顯示介質層的該對應區域。 19:中請專利範圍第18述之軟性顯示介質署的 凌置，其中該整合單元包括： • 一滚輪電極層，設置於該第一滾輪之一表面； 得動該軟性顯示介質声，拉入 衣獅 測電場於該的雜輪電極層，_施加該檢 一光源，照射於該對應區域；以及 的〜光光源通過或反射該軟性顯示介質層 ㈣析處理後得到該區域賴能資訊。 示介質層。 /、^弟—滾輪央者且傳動該軟性顧 ，，其二以性^_謂 介質層。 丨口艰輪，以傳動該軟性顯示 袭复，其中該軟性』顯示介質層的檢測 以可以與該_單元做抑’置放於—基座上， m 24