JP2000241107A - 磁性層厚みの測定方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】磁性層の厚みの測定を正確かつ短時間に行うこ
とが可能な磁性層厚みの測定装置を得る。 【解決手段】測定装置１０は、試料１２の磁性層を磁化
させるための着磁ヘッド６４と、該着磁ヘッド６４によ
って着磁した着磁部６８における磁化量を検出する検出
センサ６６とを有する。検出センサ６６で検出された磁
化量は、センサアンプ８４を介してコントローラ８０に
供給される。コントローラ８０では、磁化量に基づい
て、磁化量・磁性層厚み換算テーブルまたは換算式から
磁性層の厚みが求められる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、磁気記録媒体等に
おける磁性層の厚みを測定するための磁性層厚みの測定
方法および装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】磁気テープ等の磁気記録媒体に含まれる
磁性層の厚みを測定するためには、従来、該磁性層の厚
みをマイクロメータを用いて測定する手法（第１の測定
手法）が用いられていた。具体的には、まず、磁気記録
媒体の全体の厚みをマイクロメータを用いて計り、次
に、前記磁気記録媒体から、磁性層、バックコート層等
を適当な溶剤を用いて除去した残りの部分の厚みを同じ
くマイクロメータを用いて計り、前記全体の厚みから前
記残りの部分の厚みを減算することによって磁性層の厚
みを測定するようにしていた。

【０００３】しかしながら、近時、磁気記録媒体の薄層
化の傾向が著しいため、上記の第１の測定手法を用いた
場合、磁性層の厚みを十分な精度で測定することは困難
となっていた。また、第１の測定手法では、磁性層、バ
ックコート層等を溶剤で除去する破壊方式が採用されて
いるため、測定に長時間を要するという不都合が生じて
いた。

【０００４】磁気記録媒体における磁性層の厚みを測定
するための他の手法（第２の測定手法）としては、放射
線（β線、γ線、Ｘ線等）を用いた非破壊による手法が
採用されている。この第２の手法には、透過型、蛍光Ｘ
線型、後方散乱型等の方式があるが、いずれの方式も、
放射線と、磁性層を構成する物質との相互作用を利用し
て前記物質の単位面積当たりの質量を計り、この質量を
前記物質の密度で除算することによって、磁性層の厚み
を求めるように構成されている。

【０００５】しかしながら、上記の第２の測定手法にお
いては、磁性層を構成する物質の単位面積当たりの質量
を計る際に、ある程度大きなサンプルが必要となるた
め、得られる磁性層の厚みは平均化されたものとなって
しまう。従って、近年における磁気記録密度の増大に対
応した十分な分解能（空間分解能）を得ることが困難と
なっていた。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】本発明は、前記の不都
合を克服するためになされたものであり、磁気記録媒体
の磁性層の厚みを正確かつ短時間に測定することが可能
な磁性層厚みの測定方法および装置を提供することを目
的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明に係る磁性層厚み
の測定方法においては、飽和状態まで磁気記録媒体を磁
化させ、この磁化された磁気記録媒体の磁性層における
磁化量を検出し、検出された磁化量から前記磁性層の厚
みを求め（請求項１記載の発明）、さらに、求められた
前記磁性層の厚みを表示する（請求項２記載の発明）。
また、磁化量から磁性層の厚みを求める際には、磁化量
・磁性層厚み換算式、または、磁化量・磁性層厚み換算
テーブルが用いられる（請求項３記載の発明）。この場
合、前記磁化量・磁性層厚み換算式は、前記磁化量と前
記磁性層の厚みとの関係を表す一次関数式である（請求
項４記載の発明）。

【０００８】このため、磁気記録媒体の磁性層の厚みを
正確かつ短時間に測定することが可能である。

【０００９】本発明に係る磁性層厚みの測定装置におい
ては、着磁手段によって磁気記録媒体の磁性層を飽和状
態まで磁化させ、磁化された部分の磁化量を検出手段に
よって検出し、検出された前記磁化量から、演算手段に
より前記磁性層の厚みを求める（請求項５記載の発
明）。

【００１０】また、磁気記録媒体は、搬送手段によって
搬送される（請求項６記載の発明）。

【００１１】この場合、前記着磁手段は位置決め固定さ
れ、かつ、前記検出手段は前記磁気記録媒体の搬送方向
と直交する方向に変位駆動されるように構成してもよく
（請求項７記載の発明）、または、前記着磁手段および
前記検出手段は前記磁気記録媒体の搬送方向と直交する
方向に変位駆動されるように構成してもよい（請求項８
記載の発明）。

【００１２】また、前記着磁手段は前記磁気記録媒体の
搬送方向に沿って搬送速度と同期して変位駆動されるよ
うに構成し、かつ、前記検出手段は前記磁気記録媒体の
搬送方向に対して位置決め固定されるように構成しても
よい（請求項９記載の発明）。

【００１３】この場合、前記着磁手段は、前記磁気記録
媒体の搬送速度と同期して回転駆動される回転体に取り
付けられている（請求項１０記載の発明）。このため、
前記磁気記録媒体の搬送／非搬送を切り換える処理を行
わずに磁性層の厚みを測定することができ、従って、前
記測定処理をさらに短時間で行うことができる。

【００１４】また、前記着磁手段および前記検出手段は
前記磁気記録媒体の搬送方向と直交する方向に沿って変
位駆動されるため（請求項１１記載の発明）、任意の幅
を有する磁気記録媒体の全幅に対して磁性層の厚みを測
定することができる。

【００１５】なお、演算手段で求められた前記磁性層の
厚みは表示手段に表示される（請求項１２記載の発
明）。

【００１６】また、演算手段においては、磁化量から磁
性層の厚みを求める際に、磁化量・磁性層厚み換算式、
または、磁化量・磁性層厚み換算テーブルが用いられる
（請求項１３記載の発明）。この場合、前記磁化量・磁
性層厚み換算式は、前記磁化量と前記磁性層の厚みとの
関係を表す一次関数式である（請求項１４記載の発
明）。このため、磁気記録媒体の磁性層の厚みを正確か
つ短時間に測定することが可能となる。

【００１７】

【発明の実施の形態】本発明に係る磁性層厚みの測定方
法について、それを実施する装置との関係において好適
な実施の形態を挙げ、添付の図面を参照しながら以下詳
細に説明する。

【００１８】まず、本発明の第１の実施の形態が適用さ
れた磁性層厚みの測定装置について説明する。

【００１９】図１は、第１の実施の形態に係る磁性層厚
みの測定装置（単に、測定装置とも記す。）１０の概略
的な構成を示しており、図２は、磁気記録媒体の一種で
ある磁気テープ１２の概略的な構成を示している。

【００２０】図２に示すように、オーディオテープ、ビ
デオテープ等の磁気テープ１２は、ポリエチレンテレフ
タレート（ＰＥＴ）フイルム、ポリエチレンナフタレー
ト（ＰＥＮ）フイルム等で形成されたベースフイルム１
４を備える。ベースフイルム１４の下層には、バックコ
ート層１６が設けられている。また、ベースフイルム１
４の上層には、下塗り層１８を介して磁性層２０が設け
られ、さらに、該磁性層２０の上層には、保護・潤滑層
２２が設けられている。この場合、磁性層２０の角形比
（配向の均一性）は、磁気テープ１２全体において一定
であることが好ましい。なお、測定装置１０による測定
対象である磁気記録媒体には、上記の磁気テープ１２の
他、ＦＤ（フロッピー（登録商標）ディスク）等が含ま
れる。

【００２１】測定装置１０は、図２に示した磁気テープ
１２に設けられている磁性層２０の厚みｄを測定するた
めの装置であり、図１に示すように、搬送部（搬送手
段）３０、検出部３２、制御部３４および表示部（表示
手段）３６により構成されている。

【００２２】この場合、磁気テープ（以下、試料とも記
す。）１２は、例えば、裁断前の幅広な磁気シート、す
なわち、裁断して製品（または、中間製造品）としての
幅狭な磁気テープを得る前の磁気シートを幅方向におい
て所定の幅で切断して得られたサンプルである。

【００２３】搬送部３０は、試料１２の搬送方向に対し
て、検出部３２の上流側に配されたパスロール４０、４
２と、前記検出部３２の下流側に配されたパスロール４
４および駆動ロール４６とを有する。駆動ロール４６に
は、該駆動ロール４６との間に試料１２を挟むように、
押さえロール４８が押し当てられている。また、搬送部
３０には、検出部３２を構成している後述する検査台６
２の上面に試料１２を押さえ付けるための押さえロール
５０、５２が設けられている。

【００２４】駆動ロール４６には、図示しない駆動装置
（例えば、電動モータ）の駆動軸が連結されている。こ
の駆動装置と、該駆動装置と駆動ロール４６とを連結す
る装置（減速機等）とにより、ロール駆動機構６０が構
成されている（図３参照）。この場合、ロール駆動機構
６０を付勢し、駆動ロール４６を回転させることによっ
て、試料１２が、パスロール４０、４２、押さえロール
５０、５２およびパスロール４４によるガイド作用のも
とに、検査台６２と摺接しながら搬送される（図１およ
び図３参照）。なお、他のロール（パスロール４０等）
を前記駆動装置と連結させるようにしてもよい。

【００２５】図１に示すように、試料１２の後端部に
は、所定の重さの錘Ｗが取り付けられている。この錘Ｗ
の荷重によって、試料１２には所定の強さのテンション
が加えられる。このように試料１２にテンションを加え
ることによって、後述する磁化量Ｍの検出を行う際に、
前記試料１２の後述する検査台６２に対する浮き沈み等
が生じず、正確な検出結果が得られる。なお、錘Ｗに代
えて、試料１２にテンションを加えるためのロールを搬
送部３０に設けるようにしてもよい。

【００２６】検出部３２は、検査台６２、並びに該検査
台６２と対向するように配されている着磁ヘッド（着磁
手段）６４および検出センサ（検出手段）６６を有す
る。図３に示すように、着磁ヘッド６４は位置決め固定
されており、検出センサ６６は試料１２の搬送方向と直
交する方向に変位自在である。

【００２７】着磁ヘッド６４は、検査台６２上にセット
されている試料１２の磁性層２０（図２参照）を磁化さ
せるための装置であり、制御部３４を構成している後述
するパルス着磁器８２（図３参照）からのパルス信号Ｓ
ｐに基づいて所定の強さの磁界を発生する。この磁界の
強さとしては、試料１２の保磁力の３倍程度の値が望ま
しい。このように、試料１２に対して保磁力の３倍の強
さの磁界を加えることによって、該試料１２の磁性層２
０を飽和状態まで磁化させることができる。

【００２８】なお、磁性層２０の保磁力は、該磁性層２
０を構成する物質の種類（組成）毎に異なるため、測定
装置１０によって測定を行うことが可能な種々の試料１
２における保磁力のうち、値が最大のものに基づいて、
着磁ヘッド６４から発生させる磁界の強さを定めるよう
にすることが好ましい。

【００２９】着磁ヘッド６４としては、試料１２に対し
て非接触で磁化処理を行う非接触方式のヘッドを採用す
るようにしてもよく、前記試料１２と接触しながら磁化
処理を行う接触方式のヘッドを採用するようにしてもよ
い。なお、着磁ヘッド６４として、非接触方式のヘッド
を採用した場合には、試料１２に対する磁化処理の際
に、前記着磁ヘッド６４と前記試料１２とが接触しない
ため、試料１２の表面が劣化することが回避される。

【００３０】図３に示すように、着磁ヘッド６４によっ
て磁化された試料１２の着磁部６８においては、一対の
線状の部分が、それぞれ、Ｎ極、Ｓ極に着磁しており、
この線状の部分は、試料１２の長手方向に沿って互いに
平行している。

【００３１】図１に示すように、検出センサ６６は、試
料１２の搬送方向に対する着磁ヘッド６４の下流側であ
り、かつ、押さえロール５０、５２に挟まれた位置に配
されている。図３に示すように、この検出センサ６６に
は、該検出センサ６６を試料１２の搬送方向と直交する
方向に移動させるためのセンサ走査機構７０が連結され
ている。このように、検出センサ６６を試料１２の搬送
方向と直交する方向に移動させることによって、前記検
出センサ６６による着磁部６８の走査が行われる。

【００３２】また、検出センサ６６は、試料１２の着磁
部６８に対して磁化量Ｍの検出を行い、検出した磁化量
Ｍに対応する検出信号Ｓｇを制御部３４の後述するセン
サアンプ８４に供給する。この場合、検出信号Ｓｇに
は、前記着磁部６８の、それぞれ、Ｎ極、Ｓ極に着磁し
た線状の部分を検出センサ６６が走査した際に出力され
る、プラス（＋）およびマイナス（−）の両極のピーク
が含まれる。そして、後述する制御部３４においては、
これらピーク間の値に基づいて磁性層２０の厚みｄが求
められる。

【００３３】制御部３４は、コントローラ（演算手段）
８０と、パルス着磁器８２と、センサアンプ８４とによ
って構成されている。

【００３４】コントローラ８０は、ロール駆動機構６０
およびセンサ走査機構７０と、それぞれ、電気的に接続
されている。ロール駆動機構６０は、コントローラ８０
からの駆動指示信号Ｓｄ１に従って付勢され、これに伴
って試料１２が搬送される。一方、センサ走査機構７０
は、コントローラ８０からの駆動指示信号Ｓｄ２に従っ
て付勢され、これに伴って検出センサ６６が移動され
る。

【００３５】前記パルス着磁器８２は、コントローラ８
０から磁化指示信号Ｓａが供給されると、この磁化指示
信号Ｓａに基づいて、着磁ヘッド６４にパルス信号Ｓｐ
を供給する。このとき、着磁ヘッド６４は、パルス信号
Ｓｐに基づいて所定の強さの磁界を発生する。

【００３６】前記センサアンプ８４は、検出センサ６６
から、試料１２の着磁部６８の磁化量Ｍに対応する検出
信号Ｓｇが供給されると、この検出信号Ｓｇを増幅して
コントローラ８０に供給する。そして、コントローラ８
０は、センサアンプ８４からの検出信号Ｓｇに含まれる
着磁部６８の磁化量Ｍに基づいて、試料１２の磁性層２
０の厚みｄを求める。

【００３７】具体的には、コントローラ８０において
は、図４に模式的に示すＭ・ｄテーブル（磁化量・磁性
層厚み換算テーブル）９０を検索することによって、磁
性層２０の厚みｄの値が求められる。図５に示すよう
に、このＭ・ｄテーブル９０は、実際には、実験等によ
って求められた磁性層２０の推定磁性層厚みｄ′と測定
磁化量Ｍ′との関係に基づいて構成されている。なお、
図４中の■印の位置は、図５中の数値に対応している。

【００３８】また、コントローラ８０においては、図４
および図５に示したＭ・ｄテーブル９０から導き出され
る次の（１）式（磁化量・磁性層厚み換算式）から磁性
層２０の厚みｄの値を求めるようにしてもよい。

【００３９】ｄ＝Ａ×Ｍ＋Ｂ …（１） ここで、前記（１）式中、ＡおよびＢは係数である。

【００４０】なお、図４および図５中の数値は、一例と
して示したものであり、磁性層２０を構成する物質の種
類（組成）によって異なる。前記（１）式中の係数Ａお
よびＢの値についても同様である。

【００４１】図３に示すように、コントローラ８０は、
Ｍ・ｄテーブル９０（図４および図５参照）または前記
（１）式から求められた磁性層２０の厚みｄの値を含む
画像データＤｄを表示部３６に供給する。そして、表示
部３６の画面９４上には、前記厚みｄの情報が表示され
る（図１参照）。

【００４２】図６は、画面９４上に表示される前記厚み
ｄの情報の一例を示している。画面９４上には、横軸を
試料１２の搬送距離とし、縦軸を磁性層２０の厚みｄ
（図６中では、磁性層厚みと記す。）として、前記試料
１２を搬送しながら複数の点において求められた前記磁
性層２０の厚みｄが、例えば、□印で表示される。この
ように表示を行うことによって、試料１２の長手方向
（例えば、幅広な磁気シートの幅方向）に沿った厚みｄ
の分布を容易に確認することができる。

【００４３】次に、測定装置１０の、主に、コントロー
ラ８０における、磁性層２０の厚みｄを求めるための制
御処理について、図７に示すフローチャートを参照しな
がら説明する。

【００４４】まず、ステップＳ１０１において、試料１
２が測定装置１０にセットされると、ステップＳ１０２
（着磁工程）において、試料１２の磁性層２０が着磁ヘ
ッド６４によって磁化される。

【００４５】次いで、ステップＳ１０３において、試料
１２が所定距離Ｄ（例えば、Ｄ＝６ｍｍ）だけ搬送され
た後、停止される。この場合、前記所定距離Ｄは、図示
しない入力装置からコントローラ８０に対して設定する
ようにしてもよい。

【００４６】試料１２が所定距離Ｄだけ搬送されること
によって、数回前の処理においてステップＳ１０２で磁
化された試料１２の着磁部６８が、検出センサ６６の位
置に到達する。そして、ステップＳ１０４（検出工程）
において、検出センサ６６が着磁部６８を走査すること
によって、該着磁部６８の磁化量Ｍが検出される。

【００４７】続くステップＳ１０５（演算工程）におい
て、コントローラ８０では、前記磁化量Ｍに基づいてＭ
・ｄテーブル９０（図４参照）を検索することにより、
または、前記（１）式の計算処理を行うことにより、磁
性層２０の厚みｄが求められる。その後、ステップＳ１
０６において、前記ステップＳ１０２〜Ｓ１０５の処理
を繰り返す必要があるかどうかの判断が行われる。この
場合、処理の繰り返し回数を図示しない入力装置からコ
ントローラ８０に対して設定するようにしてもよい。

【００４８】前記ステップＳ１０６で、処理を繰り返す
必要がある（ＹＥＳ）と判断された場合、ステップＳ１
０２の処理に戻る。一方、前記ステップＳ１０６で、処
理を繰り返す必要がない （ＮＯ）と判断された場合、
続くステップＳ１０７の処理に移行する。

【００４９】ステップＳ１０７（表示工程）において
は、ステップＳ１０５で求められた磁性層２０の厚みｄ
に基づいて、表示部３６の画面９４上に前記厚みｄの情
報が表示される（図６参照）。

【００５０】このように、本発明の第１の実施の形態に
よれば、着磁ヘッド６４によって試料１２の磁性層２０
を磁化させ、磁化された着磁部６８を検出センサ６６で
走査することによって得られた前記着磁部６８の磁化量
Ｍに基づいて、前記磁性層２０の厚みｄを求めるように
している。このため、前記磁性層２０の厚みｄを正確に
求めることができる。

【００５１】また、試料１２に対する磁性層２０の厚み
ｄの測定を所定距離（間隔）Ｄ毎に行うようにしている
ため、前記磁性層２０の厚みｄを高い分解能で得ること
ができるとともに、該磁性層２０の厚みｄの分布を容易
に知ることができる。

【００５２】さらに、磁性層２０の厚みｄを求めるため
の処理は、非破壊の検査方式として構成されているた
め、前記処理を短時間で行うことができる。

【００５３】なお、本発明の第１の実施の形態において
は、図６に示した表示部３６の画面９４上に表示される
磁性層２０の厚みｄのばらつきに基づいて、磁性層２０
の角形比が一定でない状態（配向の不均一状態）を検出
することもできる。

【００５４】次に、本発明の第１の実施の形態の変形例
について説明する。

【００５５】図８に示すように、変形例に係る測定装置
１００においては、着磁ヘッド６４および検出センサ６
６はセンサ走査機構７０（図３参照）に一体的に連結さ
れた１つのユニット１０２（図８中、破線で示す。）と
して構成されている。

【００５６】この場合、着磁ヘッド６４によって試料１
２を磁化させ、検出センサ６６によって前記試料１２の
着磁部６８を走査する作業を、前記着磁ヘッド６４およ
び前記検出センサ６６を試料１２の搬送方向と直交する
方向に移動させる一連の動作において行うことができ
る。このように、着磁ヘッド６４による磁化処理後に試
料１２が搬送されないようにすることによって、検出セ
ンサ６６による着磁部６８の走査を正確に行うことがで
きる。

【００５７】次に、本発明の第２の実施の形態が適用さ
れた磁性層厚みの測定装置について説明する。

【００５８】図９は、第２の実施の形態に係る磁性層厚
みの測定装置（単に、測定装置とも記す。）１１０の概
略的な構成を示している。

【００５９】この測定装置１１０は、試料１１２として
の幅広な磁気シート（例えば、裁断して製品としての幅
狭な磁気テープを得る前の磁気シート）に対して磁性層
２０の厚みｄを測定することができるように構成されて
いる。なお、試料１１２の構成は、図２に示す磁気テー
プ（試料）１２と同じである。

【００６０】図９および図１０に示すように、測定装置
１１０は、円柱状のドラム（回転体）１１４の外周面に
複数（例えば、４つ）の着磁ヘッド（着磁手段）１１６
が等間隔に取り付けられて構成されたヘッドユニット１
１８を備えている。

【００６１】ドラム１１４は支持部材１２０に支持され
ており、試料１１２の搬送方向と直交し、かつ、試料１
１２の幅方向と平行する軸線を中心として回転自在であ
る。

【００６２】また、ドラム１１４の図示しない回転軸に
は、モータ等で構成されたヘッド回転機構１２２が連結
されている。ヘッド回転機構１２２は、コントローラ８
０と電気的に接続されており、コントローラ８０から供
給される駆動指示信号Ｓｄ３に従って駆動され、これに
伴ってドラム１１４が回転する。この場合、ドラム１１
４の回転速度は、該ドラム１１４に設けられた着磁ヘッ
ド１１６外面の周速度が、ロール駆動機構６０による試
料１１２の搬送速度と同期するように調節される。

【００６３】着磁ヘッド１１６には、制御部３４を構成
するパルス着磁器８２からパルス信号Ｓｐが供給され
る。この場合、パルス着磁器８２からは、ドラム１１４
に設けられた着磁ヘッド１１６が試料１１２と対向する
位置（図１０中、最下位置）に到達するタイミングでパ
ルス信号Ｓｐが出力されている。

【００６４】図９に示すように、着磁ヘッド１１６は、
パルス信号Ｓｐの供給に基づいて、試料１１２の磁性層
２０を飽和状態まで磁化させる。この場合、試料１１２
の着磁部１２３においては、一対の線状の部分が、それ
ぞれ、Ｎ極、Ｓ極に着磁しており、この線状の部分は、
試料１１２の幅方向（試料１１２の搬送方向と直交する
方向）に沿って互いに平行である。また、着磁部１２３
は、ドラム１１４上における着磁ヘッド１１６の配置間
隔に応じて、所定の数（例えば、４つ）ずつ連続して形
成される。

【００６５】支持部材１２０におけるヘッドユニット１
１８の下流側には、検出センサ（検出手段）１２４が固
定されている。検出センサ１２４は、図３に示す検出セ
ンサ６６と同様に、着磁ヘッド１１６によって磁化され
た着磁部１２３における磁化量Ｍを検出し、この磁化量
Ｍに対応する検出信号Ｓｇをセンサアンプ８４に供給す
るように構成されている。

【００６６】図９に示すように、支持部材１２０には、
ヘッド・センサ走査機構１３０が連結されている。ヘッ
ド・センサ走査機構１３０は、コントローラ８０と電気
的に接続されており、コントローラ８０から供給される
駆動指示信号Ｓｄ４に従って駆動され、これに伴って支
持部材１２０（すなわち、ヘッドユニット１１８および
検出センサ１２４）が試料１１２の幅方向に沿って移動
する。

【００６７】この場合、コントローラ８０からは、試料
１１２の幅方向における所定の位置（検査位置）におい
て、着磁ヘッド１１６による試料１１２の磁化、および
検出センサ１２４による着磁部１２３の磁化量Ｍの検出
が終了するタイミングで駆動指示信号Ｓｄ４が出力され
る。また、駆動指示信号Ｓｄ４によって、ヘッドユニッ
ト１１８および検出センサ１２４を変位させるべき次の
検査位置が指示される。すなわち、着磁部１２３は、試
料１１２の搬送方向および幅方向に段状にずれた位置
に、所定の数（例えば、４つ）ずつ順次形成される。こ
の場合、試料１１２の幅方向に沿った検査位置の数（段
数）は、例えば、４つである。

【００６８】なお、搬送部３０（ロール駆動機構６
０）、表示部３６、コントローラ８０、パルス着磁器８
２およびセンサアンプ８４等の構成は、図１および図３
に示す測定装置１０とほぼ同じであるため、同じ符号を
付して詳細な説明を省略する。

【００６９】このように、本発明の第２の実施の形態に
よれば、試料１１２を磁化する作業は、試料１１２の搬
送速度と同期して回転されるドラム１１４に設けられた
着磁ヘッド１１６によって、試料１１２を搬送しながら
行われる。また、試料１１２の着磁部１２３におけるＮ
極およびＳ極に磁化された線状部分は、試料１１２の搬
送方向と直交するように形成されているため、磁化量Ｍ
を検出する作業は、試料１１２を搬送しながら行われ
る。

【００７０】このため、試料１１２を磁化し、磁化量Ｍ
を検出する作業を行う際に、試料１１２の搬送／非搬送
を切り換える処理を行う必要がない。従って、試料１１
２の磁性層２０の厚みｄを測定するための処理をさらに
短時間で行うことができる。

【００７１】また、ヘッドユニット１１８および検出セ
ンサ１２４は、試料１１２の幅方向に沿って変位駆動さ
れるため、測定装置１１０においては、任意の幅を有す
る試料１１２の全幅範囲に対して磁性層２０の厚みｄの
測定を行うことができる。

【００７２】この場合、測定装置１１０は、磁気テープ
の製造装置（試料１１２を裁断して製品としての幅狭な
磁気テープを得る装置）に組み込むことが可能である。

【００７３】次に、本発明の第２の実施の形態の変形例
について説明する。

【００７４】図１１に示すように、変形例に係る測定装
置１５０においては、着磁ヘッド１５２は、支持部材１
５４に対して、試料１１２の搬送方向に沿って進退自在
に取り付けられている。具体的には、着磁ヘッド１５２
は、支持部材１５４に設けられたレール部材（図示せ
ず）に装着されるとともに、このレール部材に沿って着
磁ヘッド１５２を変位させるためのヘッド変位機構（図
示せず）に連結されている。この場合、着磁ヘッド１５
２は、試料１１２の搬送速度と同期するように変位駆動
される。

【００７５】

【発明の効果】本発明に係る磁性層厚みの測定方法およ
び装置によれば、磁性層を磁化させ、着磁した部分の磁
化量に基づいて前記磁性層の厚みを求めるようにしてい
るため、前記厚みの測定を正確かつ短時間に行うことが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態が適用された磁性層
厚みの測定装置を概略的に示す正面図である。

【図２】磁気記録媒体の一種である磁気テープの概略的
な構成を示す一部省略斜視図である。

【図３】図１に示した磁性層厚みの測定装置の制御手段
を示すブロック図である。

【図４】磁化量に基づいて試料の磁性層の厚みを求める
ための磁化量・磁性層厚み換算テーブルを示す図であ
る。

【図５】図４に示した磁化量・磁性層厚み換算テーブル
を示す表である。

【図６】図１に示した磁性層厚みの測定装置を構成する
表示部の画面を示す図である。

【図７】図１に示した磁性層厚みの測定装置の、主に、
コントローラにおける、磁性層の厚みを求めるための制
御処理を示すフローチャートである。

【図８】第１の実施の形態の変形例に係る磁性層厚みの
測定装置を示す平面図である。

【図９】本発明の第２の実施の形態が適用された磁性層
厚みの測定装置を概略的に示すブロック図である。

【図１０】図９の磁性層厚みの測定装置を示す一部省略
正面図である。

【図１１】第２の実施の形態の変形例に係る磁性層厚み
の測定装置を示す一部省略平面図である。

【符号の説明】

１０、１００、１１０、１５０…磁性層厚みの測定装置 １２、１１２…磁気テープ（試料） ２０…磁性層 ３０…搬送部 ３２…検出部 ３４…制御部 ３６…表示部 ６０…ロール駆動機構 ６４、１１６、１５２…着磁ヘッド（着磁手段） ６６、１２４…検出センサ（検出手段） ６８、１２３…着磁部 ７０…センサ走査機構 ８０…コントローラ（演算手段） ８２…パルス着磁器 ８４…センサアンプ ９０…Ｍ・ｄテーブル（磁化量・磁性層厚み換算テーブ
ル） １１４…ドラム（回転体） １１８…ヘッドユニッ
ト １２２…ヘッド回転機構 １３０…ヘッド・セン
サ走査機構 ｄ…厚み Ｍ…磁化量

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2F063 AA16 BB01 BB03 BC05 BC09 BD20 CA09 CA11 DB04 DD02 GA00 LA07 LA11 LA29 MA00 2G017 AA01 BA03 BA18 CA01 CA04 CB27 CB28 5D112 AA05 JJ01

Claims (14)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】磁気記録媒体の磁性層を飽和状態まで磁化
   させる着磁工程と、 前記磁気記録媒体における磁化された部分の磁化量を検
   出する検出工程と、 前記磁化量から前記磁性層の厚みを求める演算工程と、 を含むことを特徴とする磁性層厚みの測定方法。
2. 【請求項２】請求項１記載の方法において、 さらに、前記演算工程で求められた前記磁性層の厚みを
   表示する表示工程を含むことを特徴とする磁性層厚みの
   測定方法。
3. 【請求項３】請求項１または２記載の方法において、 前記演算工程では、磁化量・磁性層厚み換算式、また
   は、磁化量・磁性層厚み換算テーブルに基づいて、前記
   磁性層の厚みが求められることを特徴とする磁性層厚み
   の測定方法。
4. 【請求項４】請求項３記載の方法において、 前記磁化量・磁性層厚み換算式は、前記磁化量と前記磁
   性層の厚みとの関係を表す一次関数式であることを特徴
   とする磁性層厚みの測定方法。
5. 【請求項５】磁気記録媒体の磁性層を飽和状態まで磁化
   させる着磁手段と、 前記磁気記録媒体における磁化された部分の磁化量を検
   出する検出手段と、 前記磁化量から前記磁性層の厚みを求める演算手段と、 を有することを特徴とする磁性層厚みの測定装置。
6. 【請求項６】請求項５記載の装置において、 さらに、前記磁気記録媒体を搬送する搬送手段を有する
   ことを特徴とする磁性層厚みの測定装置。
7. 【請求項７】請求項６記載の装置において、 前記着磁手段は位置決め固定されており、 前記検出手段は前記磁気記録媒体の搬送方向と直交する
   方向に変位駆動されることを特徴とする磁性層厚みの測
   定装置。
8. 【請求項８】請求項６記載の装置において、 前記着磁手段および前記検出手段は前記磁気記録媒体の
   搬送方向と直交する方向に変位駆動されることを特徴と
   する磁性層厚みの測定装置。
9. 【請求項９】請求項６記載の装置において、 前記着磁手段は前記磁気記録媒体の搬送方向に沿って搬
   送速度と同期して変位駆動され、 前記検出手段は前記磁気記録媒体の搬送方向に対して位
   置決め固定されていることを特徴とする磁性層厚みの測
   定装置。
10. 【請求項１０】請求項９記載の装置において、 前記着磁手段は前記磁気記録媒体の搬送速度と同期して
    回転駆動される回転体に取り付けられていることを特徴
    とする磁性層厚みの測定装置。
11. 【請求項１１】請求項９または１０記載の装置におい
    て、 前記着磁手段および前記検出手段は前記磁気記録媒体の
    搬送方向と直交する方向に沿って変位駆動されることを
    特徴とする磁性層厚みの測定装置。
12. 【請求項１２】請求項５〜１１のいずれか１項に記載の
    装置において、 さらに、前記演算手段で求められた前記磁性層の厚みを
    表示する表示手段を有することを特徴とする磁性層厚み
    の測定装置。
13. 【請求項１３】請求項５〜１２のいずれか１項に記載の
    装置において、 前記演算手段は、磁化量・磁性層厚み換算式、または、
    磁化量・磁性層厚み換算テーブルに基づいて、前記磁性
    層の厚みを求めることを特徴とする磁性層厚みの測定装
    置。
14. 【請求項１４】請求項１３記載の装置において、 前記磁化量・磁性層厚み換算式は、前記磁化量と前記磁
    性層の厚みとの関係を表す一次関数式であることを特徴
    とする磁性層厚みの測定装置。