TWI258564B - Method for validating the scan precision of laser measure machine - Google Patents

Description

1258564 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明涉及-種量漏度驗證方法，尤指—種鐳射制機纟掃描精度 驗證方法。 【先前技術】 量測是生産過程中的重要環節，其與産品的品質息息相關。對於bga (BaUGddArray)球俯車列封裝，三維曲^ (3D)及透明件的量測，傳統 倾法是獅t餘合it件影像_(〇^ ，^吻和賴

式量測方式。隨著鐳射技術在量_域的顧，各種鐳 世丄大大解決了接觸式量測方式中存在的易損傷工件表面及存在 力等問題’且鐳射制機台具有量職率高、制準轉優點，備受各生 産型企業的鋪。在使用各健射量測機台前，使用者須瞭解該機台的量 測精度，不然無法相信其制結果。賴鐳射量_纟的製造軸提供了 該種機台的掃描精度，但量顺台從製造工廠運輸到目的地進行安裝後， 可^達不到f造顧所提供的掃描精度鮮，所以需要對其掃描精度進行 驗迅（或者况是校正）’以決定是否需要對該制機纟進行職。只有校正 合格之後該量顺㈣制絲才可以被侧。但量職台的製造廠商不 能提供鐳射掃描精度的驗證方法和相應標準。 查相關精度校正領域方面的倾，知存在許多技術和方法麟進 描精度的校正或者說是驗證。如： 旦1994年7月21日申請的申請號爲941屢9·2，名稱爲“用於檢測運動 向里到半像素精度的裝置和方法”的中國大陸發明專利； 列月6號申請的申請號爲95115組.1，名稱爲“由預定符號序 J凋衣的脈衝串的頻率誤差精度檢測，，的中國大陸發明專利； 2001年10月15號申請的申請號爲〇1136399 1，名稱爲“面積 測微儀精度的自校正方法及測試裝置，，的中國大陸發明專利申請案； 二2〇氾年4月10號申請的申請號爲03110572.6,名稱爲“偏振計的高 度校正”的中國大陸發明專利申請案。 〜月 然而上述專利申請案及專利沒有涉及量測機台掃描精度驗證（校正） 6 1258564 =的技術，目此有必要提供—種鐳射制機台掃描精度驗證方法，用以 1定鐳射量顺台的掃描精度，提高量_可靠性及信服力。 【發明内容】 本發明的較佳實施例提供—種鐳射制機纟掃描精度驗證方法。該方 1包括如下㈣··（a)根據鐳射量_台適合制的產品㈣製作標準治 …（b) 習知方法及儀器多次量測標準治具尺寸，確定每種治具被測 =寸的名義真值，（e)選取適合量測參數，利祕射量測機台掃描上述標 :冶具獲取量測倾；⑷將上述鐳射機台量㈣料與鮮治具的名義真 進行比對並進行準確性及重複性評估以驗證錄量測機纟的掃描精 度。 本發明較佳實施例所提供的鐳射量顺台掃減度驗證方法，可對該 鐳射量測機台所量測的產品類型如球柵陣列封裝（BGA)、三維曲面形狀 (3D)及透明件的掃描精度進行驗證。 其中驗證鐳射量測機台的制BGA的掃描精度的方法包括下列步驟： j作-個BGA標準治具；用分針多次量測每個球的最高點高度，即^ j ’輪每個球最南點⑧度的平均值，作爲最高點高度的名義真值；用 電荷耦合元件（Charge C_ed Device，CCD)影像_多次制每個球中 二的X ’ Y座標值，取多次制的平均值作爲每個球球心、的X，Y座標值； 仗上述=測結果巾獅三雜高的馳成—個包含該bga重^的共面度平 ，，計算及確定該共面度的名義真值；鐳射量測機台選擇螺旋形（邱㈣ 方式’人里暮彡BGA標準;^具上每個球的最高點，每次均獲得每個球 取南點的X，Y，Z座標值’透過量測機台附帶程式計算出該多個共面度值，· 對上述多讀描量測所獲取的每個球的最高點的χ，γ，ζ座標值的量測結 果進行重複性比較，確定麟值的重複性；將各_ ζ向座標健持不變， f點的X，Υ座標值分職化，靖共面度值的變化；將上述各個球錯射 掃描多次得出的最高_ Z座標值與名義真值相比對，得出每個點z向偏 差’根據偏差大小判斷Z向座標值的準確性；將上述多次量測所得的多個 共面度值計算標準差，及該多個共面度值分別與名義真值相比對計算偏 差，根據計算所得偏差及鮮差大小對共面度準確性及掃财複性進行評 7 Ϊ258564 估，確定該量測設備量測BGA共面度的量 驗證鐳射量測機台的量挪3D的掃描精 個有球面形狀的3D標準治具，·在該治具上:万去包括下列步驟··製作一 描測頭按照該基準掃描該治具莖 中、，基準，利用高精密接觸式掃 想曲面，將該理想曲面作爲名^占雲=丄將上述點雲資料擬合成-理 描該治具，獲取點雲:賴；計算上述基^ :撕機台按照上述相同基準掃 曲面的最大偏差作爲評解確戶齡^基準㈣射掃描點雲與理想 件下，重複量測多次，判斷每ί掃i點雲與理目===掃描參數的條 致程度，以進行重複性評估。 ^面的联大偏差之間的一 驗證鐳射量測機台的量測透明件 用透明平晶作爲透明件的標準件，=====括下列步驟：採 的名義真值；鐳射_種射度評定時 平均值與名義真值的偏差，撕二 疋鐳射量測機台在上述掃描方式下各種參數的值，在每^夫數=，f別設 值下對該透明平晶進行多-欠掃# ®在母種參數的-個設定 準差及平均值盘名義直值⑽:/夕:人知描所得平面度取平均值、標 ,.〜林真值的偏I ’根據標準差及平均值*名ϋ直信·μ 大小確認該鐳射量顯.台掃描透縣 義真值的偏差 ί雜量測透明件的掃描方式和掃描參數下田;次掃描該忍的f 每種掃描方式下的多個平面度，計 :κ 、’曰曰，獲仔 標準差、平均齡名羞彳“方式下平面度值的平均值、 義真值的偏差判斷準ί性的偏差，從標準差判斷重複性，從平均值與名 標準發，射量測機台掃描精度驗證方法’能夠以掃描 對不同量物掃描精度，糊單_且能夠針 【實施方式] bga ' 里貝城。。所述鐳射量測機台配備有—用戶端電腦，該用戶端電 1258564 腦安裝有量測BGA、三維曲面及透明件及計算量測資料的量測軟體。其中 BGA (BallGridArray)即球栅陣列封裝。本發明的實施例分別以二八、、三 維曲面形狀⑼）及透明件的量測爲例描述錯射量測機台掃描精度驗證方 法。 、參閱第所示，係本發明較佳實施例之歸制機台掃描精度驗證 方法的作業絲圖。首先’根據鐳·測機台適合量測的産品類型製作標 準治具，如標準BGA治具、三維曲面治具及透明件標準件，其中針對不同 ，測物件’具體製作標準治具之標準不同（步驟S1QQ)。彻f知方法及儀 器多次量測標準治具尺寸，確定每種治具被測尺寸的名義真值（步驟 φ S1〇2)。選取適合量測參數，掃描上述標準治具獲取量測資料（步驟S1〇4)。 將上述量測資料與標準治具的名義真值進行比對，並進行準確性及重複性 評估以確定該鐳射量測機台的掃描精度（步驟sl〇6)。針對不同標準治呈的 量測掃描精度驗證，詳見以下對第二圖、第三圖、第四圖的描述丁。 、，參閱第二圖所示，係本發明較佳實施例之BGA掃描精度驗證流程圖。 首先，根據治具要求製作-個BGA的標準治具，該治具要求參考如下：外 形和大小要和BGA—致；相關平面的平面度達到2um•，平行度、垂直度要 達到3um ·’有三個較高的且可組成包含BGA重心的共面度平面 (Seating-Plane)的球，以便計算共面度值（步驟S2〇〇)。用分釐卡多次量 測每個球（如9個球）最高點的高度，以得到每個球最高點的z座標值， 取得每個球最高點高度的平均值，作爲最高點高度的名義真值（步驟 S202)。在该步驟中，爲了確疋该治具的穩定性及增加驗證方法的可靠性， 可以隔段時間，如隔-個月再對該治具的每個球進行多次最高點高度量 測，取每個料次制的最高點高度的平均值，與先前每個球最高點高度 ^均健行輯，如果每姆的高度偏錄小，如社謝疆〜議2匪 範圍内，則驗證該治具是穩定的。用電荷輕合元件（Charge c〇upled Device， CCD) I像測頭多二欠置測每個球心❸χ，γ座標值，取每個球多次量測的 平均值作爲每個球球心的χ，γ座標值（步驟S2〇4)。找出其中最高點較高 的一個球最鬲點組成一個共面度平面（Seatin^pi⑽C)。利用習知專門軟體 计异该BGA標準治具的共面度，作爲的標準治具的共面度名義真值，其中 9 1258564 該軟體需從上述量測的9個點中選擇三個 組成該⑽㈣槪；然後計算其他6個點到^，且^職重心的點 ；(Splrai)^； (Circle)、Z予形（Zlgzag)、限定一個長方形的 " 形（Area)等掃描方式分別掃描該標準治具， 二二於少二二區塊 高點的機率的大小判_倾該標準治 掃=及哥到最 數最多、尋到最高點的機率最大，因此選擇螺二二 ί二該最佳掃描方式下，設林同掃描參數對各點進行多-欠‘ ί對=掃，數下ζ向座標值的最大偏差大小確定最佳掃描速度^ 測結果的比對得知採用較小速度掃描量測該bga標準治且 日寸，如掃描速度爲3mm/s，可避免粗大|、、ρι@| & # & 描\ ㈣魅，目此在該最佳掃 ^ ^速度下多次（如⑷掃描該 ??獲侍母個雜高點的χ，γ，z座標值，同時透過量測機台附 —到該多次掃描所得到的多個共面度的值（步驟咖）。對上述在最佳掃 描方式及最佳掃描參數下？次掃描制所獲取的每個球的最高點的χ，Y， Ζ座標值的量測結果進行重複性比較，較座標值的重複性（步驟咖）。 再將，點的Ζ鋪健持不變，各闕χ , γ座標值分別變化，判斷共面 度的舰’其有二種情況出現：其一爲當該Seating_pl獄仍由原來的三點 構成，則X，γ座標制誤差只能微小改變該共面度的值；其二爲當該 Se_g-Piane不再由原來的三點構成，則χ，γ座標值的微小誤差也能較大 改變共面度的值（步驟S212)。將上述鐳射掃描多次得出的每個球最高點的 Z座標值與名義真值概對，得出每個點z向偏差，根據偏差大小判斷χ 向座標值的準確性（步驟S2i4)。對上述在步驟S2〇8中用鐳射量測機台所 附程式計算得到的多個共面度值計算標準差，及將各個共面度與名義真值 相比對計算偏差，根據所計算的標準差及偏差大小，判斷共面度值的準確 性及重複性’如共面度的重複性及準確性均小於2um (步驟S2i6)。其中所 述多次量測爲至少量測三次。 參閱第三圖所示，係本發明較佳實施例之3D形狀掃描精度驗證流程 10 1258564 圖。;根據産品雜製作-個球面雜的鮮治具，該純要求如下：設計 成％形的-部分’球徑要大’如12〇mm左右；相關平面的平面度要達到 -um平行度及垂直度要達到3_;球面的表面粗链度要小(抛光後小於 O.lum)(步驟S300)。在該治具上建立掃描量測基準，透過高精密接觸式掃 描測頭掃描該治具獲得點雲資料，該點雲資料包括掃描點的X，γ，z座標 ，，上^掃描點形成點雲圖，再將上述點雲資料擬合成一個理想曲面，計 了擬^的掃描點到该理想曲面的最大偏差，以驗證該3d標準治具的精度 是否滿足要求’並將該理想曲面作爲3〇形狀的名義真值（步驟s3〇2)。在 该3D標準治具拋光前，錯射量測機台在上述基準下择描該犯標準治豆， $點雲麟，計算上述騎掃描點與上述理想曲面的最大偏差；在該3D =治具抛光後’鐳射量測機台在上述基準下掃描該治具，獲取點雲資料， 2异健與上賴想曲_最大偏差；料種粒下的最大偏差比 對，付知由於鐳射光束的直徑只有工、，治具表面 ==_4)。將上述_—基準的鐳射掃描抛光彳_二獲Ϊ 理想曲面《人到Metris軟體中，計算所述點雲與該理想曲面的 =偏差，觸最大偏差作軸辞確度醇數（步驟伽6> 用到顧s軟體，是-種可以將點雲擬合成理想 想曲面偏差的軟體。然後再在相同掃枳太★^ 乂汁#點云到理 進、Λ目夕W丄 门^描式及知描參數的條件下，重複掃 =二，具多次(如三次)，分別與理想曲面作cav比對，判斷每次 偏差之間的-致程度’即進行靖_ (步驟纖）。職掃描方= 職、_ (Circle)、z挪⑵㈣）、輸彡㈤a，即限 疋-個長方_掃描區域的方式）。所述掃描參數 ^ 〇CAV (C〇raputerAlded Venf^on) 第-時間能夠即時且快速確認物件變形程度、 =$ (首件全尺寸檢測）把關的必要性。 心過私中 參閱第四圖所示，係本發明較佳實施例之 圖。首先採用透明平晶作爲透明件的標 牛g精度驗⑽私 直徑(D45mm，平面度aQ57um作爲 ^ =晶_關參數如下： 驟s_。鐳射量測機台利用各種^度寺的平面度的名義真值（步 種知“方式如：螺旋形（S_)、圓形 11 1258564 ;^==Zfzag)、輸^(Area)義透9胖晶進行多次掃描， 準差的大小及平均面真值的偏差（步驟s4〇2)。根據標 適合方式爲_ (SP1===^^^^ =:?:，兩種掃-式下各種參數的值=化=: 準差’並對該多次掃描所得平面度計算平均值:標 红兰^:'、名義真值的偏差，根據標準差及平均值盥名義直信沾 ^ (}' ^ί； )如在確5忍取點率時，分別在取點率在低（如取點數爲 a 5T'^3'873)' " 196〇91) 二偏差、平均值與名義真 是否影響量測結果旦Γ偏差，判斷取點率 碹切槁Μ㈣取率的大柯影響制絲。再如，在 1Q ，參數時’分财雜速度設定爲5Gmm/see、3Gmm/see、 3;; 5次’罐峨爾晴料計算平面 == 根據每種速度下標準差及與名義真值偏差的大小:ί 〉σ=件的知描速度’判斷結論是當掃描速度小於施m/弧時較合適。 適合掃描量測透明件的掃描方式和掃描參數下，多次掃 ._下革差平均值與名義真值的偏差，從標準差判斷重 複性’攸平均雜名義真_偏差判斷準雜（步驟S408)。 =明鐳=量測機台掃描精度驗證方法軸較佳實施繼露如上，然 二鬥肉$限疋本电明。任何熟悉此項技藝者，在不脫離本發明之精神和 二所界動與潤飾’因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利 【圖式簡單說明】 12 1258564 第一圖係本發明較佳實施例之鐳射量測機台掃描精度驗證方法之作業 流程圖。 第二圖係本發明較佳實施例之BGA掃描精度驗證流程圖。 第三圖係本發明較佳實施例之3D形狀掃描精度驗證流程圖。 第四圖係本發明較佳實施例之透明件掃描精度驗證流程圖。 【主要元件符號說明】 鉦

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Claims (1)

1258564 -、申請專利範圍： 唯U種=量顯_精度驗證方法，用於驗證㈣日、_ ^曰 具 ; 城°翻"_産品_製作-財球面形狀的標準治 治具:基準’利用高精密接觸式掃描測頭按照該基準掃描該 貝料擬合成-理想曲面，將該理想曲面作爲名羞直佶· 台按照上述相同基準掃描該治具，獲真值’ 鮮=ϊ於Γ基單的賴描點雲與理想‘二細 在相同掃描方式及掃描參數的條件下 點雲ttr最大偏差之_-絲度，錢行 外占利範圍第1項所述之錯射量測機台掃描精度驗證方法，直中 Γ/t括掃描點的χ，γ，z座標值，所述掃描點形成點雲圖。 中％人^5*梅&圍第1項所述之鐳射制機台掃描精度驗證方法，其 以撻5點雲資料成一理想曲面的步驟還包括： '、 =算擬合前的掃描點_理想曲_最大偏差，以驗證該標準治 猾度疋否滿足要求。 〃 4·如申凊專利範圍第1項所述之鐳射量測機台掃描精度驗證方法，其 中边銳射畺測機台按照相同基準掃描該治具獲得點雲資料的步驟還包括： ^在该標準治具拋光前，鐳射量測機台在相同基準下掃描該標準治具， 獲取點雲資料，計算掃描點與上述理想曲面的最大偏差； ^在該標準治具拋光後，鐳射量測機台在上述基準下掃描該標準治具， 獲取點雲資料，計算掃描點與上述理想曲面的最大偏差；及 將兩種情況下的最大偏差比對，判斷標準治具表面的粗糙程产 影響到量測結果。 & 曰 14