TWI251676B - System and method to test transmitted signal integrity - Google Patents

Description

1251676 九、發明說明： 【發明所屬之技彳軒領域】 發明領域 本發明是有關於一種用於測試發射信號完整性之技 5 術。 【才支冬好]1 發明背景 通苇使用S員動(j itter)此名同以描述：在通信系統中由於 信號對其參考時間位置之變化所造成之失真。在理想之系 統中，此等位元以位元重複時間整數倍之遞增時間抵達。 10 15 =而’在作業祕中，此等脈衝典魏以偏離此位元重複 時間整數倍之時間抵達。此賴離會造成資㈣收中之誤 差，尤其當此資料是以高速傳送時更是如此。此項偏離可 匈此貢料之：振幅 、 ~ 〜一只朗切Μ =由多種現象造成，其包括：符號間干擾、發射器與接收 益時脈間鮮差異、雜訊、以及接㈣與發射器時 電路之非理想行為。 生 此項顫動由於數種原因在數位通信系統中是尤其重 之問題。首先，顫動造成所接收之信號在非最適取樣= 20取樣。此種現象發生導致在接收器之信號對雜訊比降低: 二及因此限制其資訊速率。第二，在實際系統中，各接 為必須從輪人之資料信號擷取所接收之取樣時脈說收 得此任務更加相當困難。第三，在長距離傳輪系統;、 "連接中存在多個重複器，因此顫動累積。 1251676 在本說明書結尾部份中所特別指出且明確主張之本發 明標的。然而，本發明之組織與操作方法可以藉由參考以 下詳細說明並參考所附圖式而獲得最佳之瞭解。 請注意在不同之圖中使用相同之參考號碼以表示相同 5 或類似之元件。 【發明内容】 發明概要 本發明係有關於一種系統，包括：第一發射器，發射 測試信號給網路；第一接收器，接收來自網路之第一信號； 10 第二接收器，接收來自網路之測試信號；第二發射器，使 用1-位元通信線接收來自第二接收器之測試信號，其中此 第二發射器清除在測試信號中之顫動，且提供此已清除顫 動之測試信號作為第一信號。 圖式簡單說明 15 第1A至1D圖說明可以使用本發明實施例之系統； 第2圖說明根據本發明實施例之系統執行，此系統可使 用於時脈與資料回收；以及 第3圖說明根據本發明實施例之回路接收系統之可能 實施方式。 20 【方方式】 較佳實施例之詳細說明 第1A圖說明可使用本發明實施例之發射系統10之實施 。系統10可以包括：介面11、處理器]2、時脈與資料回收 裝置（CDR)14、以及電氣-至-光學信號轉換器(E/0)16。 1251676 介面11可以提供介於處理器12與下列其他裝置間之通 k，例如·記憶體裝置（未圖示）、封包處理器（未圖示）、微 處理為'(未圖示）、及/或開關結構（未圖示）。介面丨丨可以遵守 一或多個以下標準：10 Giga(109)位元裝附單元介面

5 (XAUI)(在IEEE 802,3、IEEE 802,3ae、以及相關標準中說 明）、串聯周邊介面（SPI)、I2C、通用串聯匯流排(USB)、IEEE 1394、Giga位元媒體獨立介面（GMII)(在IEEE 802.3、IEEE

802.3ae、以及相關標準中說明）、周邊介面連接（pc〗）、十 位兀介面（TBI)、及/或銷售商特定多來源協議(MSA)協定。 10 處理态I2可以：遵守例如乙太網路（如同例如在IEEE 802.3、與相關標準中說明）實施媒體存取控制（MAC)編碼； 遵守例如ITU-T G.709而設計與包裝、及/或根據例如 ITU-T G.905實施向前誤差修正(FEC)編碼。CDR 14可以將 由處理器12所提供信號去除顫動。例如，CDR 14可以使用 15本發明之一些實施例。E/0 16可以將電器信號轉換成穩定 光學信號，用於傳輸至光學網路。在一些實施例中並未使 用E/0 16，而將電氣信號傳送至網路(在銅上之以辟位元乙 太網路）。 在一實施例中，可以在相同之積體電路中執行發射系 20統1〇之元件。在其他實施例中，可以在數個積體電路間執 行發射系統10之元件，其使用例如匯流排或印刷電路板之 導線傳輸。 第1B圖說明可使用本發明實施例之接收系統20之實施 。系統20可以包括··光學_至_電氣信號轉換器（〇/e)22、接 1251676 收杰（RX)CDR24、處理器26、以及介面28。（〇/E)22可以將 來自光學網路之光學信號轉換成穩定之電氣信號。在一些 貝施例巾並未使用£/q 16，而從網路(例如，在銅上之細& 位元乙太網路)接收電氣信號。（RX)CDR 24可以從所接收信 5號去除顫動，以及提供電氣格式信號。（RX)CDR24可以使 用本毛明之些貫施例。處理器26可以遵守例如乙太網路 以實施媒體存取控制(MAC)處理；光學傳輸網路(〇TN)遵守 例如ITU-T G.709去除圖框與去除包裝，·及/或遵守例如 ITU-T G.905實施向前誤差修正(FEC)編碼處理。介面以可 1〇以提供介於處理器26與下列其他裝置間之通信，例如··記 憶體裝置（未圖示）、封包處理器（未圖示）、微處理器（未圖示 )、及/或開關結構（未圖示）。介面28可以使用如同介面η之 類似通信技術。 在一實施例中，可以在相同之積體電路中執行接收系 15統20之元件。在其他實施例中，可以在數個積體電路間執 行接收系統20之元件，其使用例如匯流排或印刷電路板之 導線傳輸。 第1 c圖說明可以使用本發明一些實施例之系統。第工c 圖之結構可以使用於，，線路回饋模式，，中。接收發射器7〇與 20 第二接收發射器72可以使用網路交換信號。 例如，接收發射器70可以使用發射器系統75-A (發射器 系統75-A可以使用發射器系統1〇)將測試信號傳送至第二 接收發射器72。第二接收發射器72可以使用接收器”^(接 收器77-B可以使用接收系統20)接收信號，然後使用發射器 收、（發射器系統75财以類似於發射器系統Μ)將所接 7之以傳送回接收發射器，。接收發射器70之接收哭 接收器77-Α可以類似於接收器77叫可以接收從發 声-75 Β所傳达之信號。例如··此由接收器續使用之 处里时可以在線路回饋(linel卿bwk)模式，，期間使用：以 接收測試信號或以測試信號程式控制，以致於此處理器可 X確定此7L件測試及/或網路通路測試是否通過。 。第1D圖說明根據本發明實施例之系統。第糊之結構 σ 乂使用於系、、统回饋模式”期間（即，測試信號並不經由網 路(例如’網際網路)傳輸，而是經㈣域通信通路直接傳輸 至·接收發射器之接收器部份、或區域接收器）。例如，第 1D圖之結構可以包括：來自在相同接收發射器裝置中所設 置發射器系統10與接收器2〇之元件。不將信號傳送至網路 ，此實施例可將從發射系統10所發射信號直接回饋至接收 荔20。在此例中，在回饋期間，處理器26可以接收信號， 或以所使用信號程式控制，以致於處理器26可以確定此元 件測試及/或網路通路測試是否通過。 某些習知技術接收發射器提供，，線路回饋，，能力。在，，線 路回饋”之習知技術實施例中，並未提供重新發射信號之顫 動去除。此種實施例之缺點為··此所傳送回之顫動具有過 大之顫動，其導致表現不良與錯誤結論之可能性。此，，線路 回饋”之另一習知技術實施例，使用·多資料線之匯流排將信 號回饋。此種實施例須要過大之電路板空間，其在非常小 之模組中難以貫施。 工251676 第2圖說明根據本發明實施例之發射㈣統iqq 、以執行時脈與資料回收。系統ΗΚ)可以將輸人信號 :信號DATA或信號L00P BACK ΙΝΡυτ)中之顫動清除， 且提供用於發射之顫動已清除信號。系統1〇〇之一實施例可 5以包括：多工器150、多工器155、串化器16〇、回饋接收器 1〇1、時脈與乘法單元(“〇^1；，，)17〇、以及重新計時器18()。 系統100可以在至少兩種模式中操作：‘‘回饋，，與，，傳送，，。 回饋模式可以與元件測試及/或網路通路測試相關使 用。回饋模式可以包括：，，線路，，與，，系統，，次·模式。請參考 ίο第1C圖以說明：線路回饋模式結構。請參考第1〇圖以說明 :系統回饋模式結構。 在一實施例中，可以在相同之積體電路中執行系統100 之元件。在其他實施例中，可以在數個積體電路間執行系統 100之元件，其使用例如匯流排或印刷電路板之導線傳輸。 15 回饋接收器101可以包括：相位偵測器102、解調變器 103、分割器104、充電幫浦105、回路濾波器106、以及相 位内插器107。相位偵測器102可以輸出被時間控制之輸入

資料信號(信號LOOK BACK INPUT)之樣本至時脈LCLK 。信號LOOK BACK INPUT可以為先前由系統1〇〇提供用於 20 傳輸之測試信號之版本。相位偵測器102可以輸出相位差異 信號（顯示為DELTA)，其代表信號LOOK BACK INPUT之 傳輸是領先或落後信號LCLK之傳輸。相位偵測器i〇2可以 作為亞力山大(bang-bang)式相位偵測器實施。

充電幫浦105可以輸出信號PH，其大小與信號DELTA 10 1251676 之大小成正比。 回路濾波器106可以將信號PH之頻率在回路濾波器 106通帶範圍中之部份傳送。可以將回路濾波器1〇6之通帶 設定以傳送來自信號L〇OK BACK INPUT之中頻與高頻 5顫動。在一實施例中，當此信號LOOK BACK INPUT之頻 率為大約lOgiga赫茲時，回路濾波器1〇6之通帶可以具有大 約8mega(l〇6)赫茲之頻率上限。 相位内插器1〇7可以提供時脈信號LCLK，其頻率類似 於信號TXCLK(來自CMU 170)之頻率，但可能根據信號 10 DELTA而相位移。相位内插器ι〇7可以提供信號LCLK至相 位偵測器102與頻率分割器104。 頻率分割器104可以接收信號LCLK。頻率分割器104 可以提供信號LCLK/N、其可以為LCLK頻率版本除以整數 N，至多工為150與解多工器1〇3。在一實施例中，變數]sf可 15以為16，雖然可以使用其他值。 解多工器103可以接收信號LOOK BACK INPU丁樣本 之序列輸入流，且根據時脈信號LCLK/N之計時，將此等樣 本轉換至並聯格式。解多工器103可以提供並聯之樣本流作 為至多工器155之輸入。 20 多工器15〇可以接收時脈信號DCLK(來自例如處理器 12之裝置）與時脈信號LCLK/N(來自回饋接收器1〇1)。在回 饋模式中，多工器150可以將時脈信號LCLK/N傳輸至pFD 110，而在傳輸模式中，多工器15〇可以將時脈信號dclk 傳輸至PFD110。此由多工器】50所傳輸之時脈信號稱為 1251676 RCLK 〇 PFD 110可以接收信號TXCLK/K與RCLKcPFD 110可 以顯示信號TXCLK/K與RCLK間之相位關係（例如：領先或 落後)(此種相位關係信號顯示為信號pH1)。充電幫浦丨12可 5以輸出信號（其顯示為CNTRL1)，其大小與信號PH1之大小 成正比。回路濾波器114可以將信號CNTRL1之頻率在回路 濾波器114通帶範圍中之部份傳送。可以設定回路濾波器 114之通帶’以避免將高頻顫動從RCLK傳輸至CLK1。例如 ，在一實施例中，當此時脈信號LCLK之頻率為大約i〇giga 10赫茲時，回路濾波器114之通帶可以具有大約12〇kil〇(i〇3) 赫兹之頻率上限。 時脈源116可以接收信號CNTRL1之傳輸部份。時脈源 116可以可以輸出時脈信號CLK1。信號CLK1可以具有與信 號TXCLK/K大致相同之頻率。時脈源116可以根據信號 15 CNTRL1之傳輸部份，調整時脈信號(31^(：1之相位。例如根 據#號〇^1〇^1，時脈源116可以將時脈信號(：1^1之相位改 變至大約與信號RCLK之相位匹配。例如，時脈源116可以 貫施作為電壓控制之晶體振盪器（vcx〇)。雖然，在此提供 充電幫浦與回路濾波器之組合作為例子，在當CNTRL1之頻 20率是在通帶頻率範圍中時，可以使用其他裝置將由信號 CNTRL1所代表之相位關係選擇性地傳送至時脈源116。 CMU 170可以提供時脈信號TXCLK與TXCLK/K。CMU 170可以包括：相位與頻率偵測器（“pFD”)n8、頻率分割器 119、時脈源120、充電幫浦122、以及回路濾波器124。頻 12 1251676 率分割器119可以接收時脈信號TXCLK。頻率分割器119可 以提供時脈信號TXCLK/K，其可以為信號LCLK頻率版本 除以整數K。在一實施例中，變數N可以為16，雖然可以使 用其他值。 5 PF〇 118可以接收信號CLK1 與TXCLK/K。PFD 118可 以表示信號CLK1與TXCLK/K間之相位關係（例如：領先或 落後），以及提供此相位關係至充電幫浦122(此相位關係顯 示為信號PH2)。根據信號PH2，充電幫浦122可以輸出信號 以改變時脈信號TXCLK/K之相位與信號CLK1 (此種相位改 10 變信號標示為CNTRL2)之相位匹配。如果此相位改變信號 是在回路濾波器124之通帶寬度内，則回路濾波器124可以 傳輸來自充電幫浦122之信號CNTRL2。 此回路濾波器124之頻帶寬度可以足夠大，以確保非常 低之顫動從信號CLK1傳輸至TXCLK與TXCLK/K。 15 時脈源120可以提供時脈信號TXCLK。時脈源120可以 根據·由回路濾波器124所選擇地傳輸之相位改變信號 CNTRL2，而改變信號TXCLK之相位。例如：時脈源12〇可 作為電壓控制振盪器（VCO)實施。 夕工态155可以接收：來自回饋接收器1 〇丨之信號lb 2〇 INPUT，與來自來源例如處理器12(未圖示）之信號DATA。 在回饋模式中，多工器丨55可以傳輸信號LB INPUT至串化 器而在傳輸模式中，多工器155可以傳輸信號DATA至 串化器160。串化器160可以將來自多工器155信號之格式， 轉換成時間控制之序列袼式。在傳 13 1251676 輸模式中可以藉由使用時脈信號RCLK將信號dATA中之顫 動清除’以重新產生信號DATA。 重新計時裝置180可以請求且以由時脈信號1^(^1^：所 決疋之頻率從串化器160輸出樣本。重新計時裝置丨8〇可以 5提供用於傳輸之輸出流至網路（此種輸出流顯示為data OUT，且可被使用於線路回饋模式中），以及在系統回饋模 式中可以提供其拷貝至區域接收器（此種拷貝顯示為 SYSTEM LOOP BACK OUTPUT)。 弟3圖說明此根據本發明實施例回饋接收系統mo之可 10能實施方式。接收系統200可以包括：多工器2〇2、相位债 測器204、以及接收器時脈信號源206。接收系統200可以使 用於通信接收裝置中，例如：光學信號接收發射器。接收 系統200可以在至少”回饋”與”接收，，模式中操作。 在一實施例中，可以在相同之積體電路中執行系統2〇〇 15之元件。在其他實施例中，可以在數個積體電路間執行系統 200之元件，其使用例如匯流排或印刷電路板之導線傳輸。 多工器202可以接收信號LOOP BACK與信號Rx DATA。信號LOOP BACK可以為在線或系統回饋模式中所 k供之#號。在回饋模式中’多工器202傳輸信號L〇〇p 20 BACK;而在”接收”模式中，多工器204傳輸信號RXData 。此後由多工器202傳輸之信號稱為tr SIGNAL。 相位彳貞測器204可以根據來自時脈信號源2〇6之時脈信 號RX CLOCK之時間控制，提供信號TR SIGNAL之樣本。 此樣本可供使用由來自系統200例如處理器之裝置下游處 ]4 1251676 理，以實施元件測試及/或網路通路測試。可以使此樣本可 供使用作為信號LOOP BACK OUTPUT而使用於線路回饋 模式中。 相位偵測器204可以輸出相位差異信號（顯示為Diff) 5 ，其代表信號TR SIGNAL之傳輸是否領先或落後時脈信號 RX CLOCK之傳輸。相位偵測器204可以作為亞力山大 (bang-bang)式相位偵測器實施。時脈信號源2〇6可以提供時 脈L號RX CLOCK。時脈信號源206可以根據信號DIFF調整 曰π脈彳§號11乂 CLOCK之相位。時脈信號源2〇6可以相位鎖定 10回路方式設計，以傳輸在接收信號中幾乎所有顫動。 以上之說明與圖式提供本發明之例。然而本發明之範 圍並不受限於此等特定之例子。各種變化不論是否在此說 明書中明確提及均為可能，例如：結構、尺寸、以及使用 材料之差異。本發明之範圍至少如同所附申請專利範圍所 15 設定者。 I：圖式簡單說明】 第1A至1D圖說明可以使用本發明實施例之系統； 第2圖說明根據本發明實施例之系統執行，此系統可使 用於時脈與資料回收；以及 2〇 ㈣說明根據本發明實施例之回路接收系統之可能 貫施方式。 【主要元件符號說明】 12…處理器 14···資料回收裝置 1〇···系統 1]···介面 15 1251676 16…電氣-至-光學信號轉換器 20···系統 22…光學-至-電氣信號轉換器 24…接收器(RX)資料回收裝置 26…處理器 28···介面 70···接收發射器 72···第二接收發射器 75-A…發射器系統 75-B…發射器/發射器系統 77-A···接收器 77-B···接收器 100···發射器系統 101···回饋接收器 102···相位偵測器 103···解多工器 104···分割器/頻率分割器 105···充電幫浦 106···回路處理器 107···相位内插器 110···相位頻率偵測器 112···充電幫浦 114···回路濾波器 116···時脈源 118···相位頻率偵測器 119···頻率分割器 120···時脈源 122···充電幫浦 124···回路濾波器 150···多工器 155···多工器 160···串化器 170···時脈與乘法單元 180···重新計時器 200···回饋接收系統 202···多工器 204···相位偵測器 206···接收器時脈信號源 16

Claims (1)

1251676 十、申請專利範圍： 第93126030號申請案申請專利範圍修正本 94.09.29. 1· 一種系統，包括： 一第一發射器，用以接收一輸入信號、及依據該輸 5 入信號發射一測試信號給一網路； 一第一接收器，用以接收來自該網路之一回傳信號 一第二接收器，用以接收來自該網路之該測試信號 ;以及 10 一第二發射器，用以使用一串列通信線來接收來自 該第二接收器之該測試信號，其中該第二發射器係用以 減少該測試信號中之顫動，且提供此已減少顫動之測試 k號作為該回傳信號給該第一接收器，且其中該第二發 射為係依據多個時脈來源提供之時脈信號來減少該測 15 試信號中之顫動。 2·如申請專利範圍第丨項之系統，其更包括 資料處理為，用來提供該輸入信號給該第一發射器，以 及接收來自該第一接收器之該回傳信號，其中該第-接收 器將實質上未作額外顫動修正之回傳信號傳輸至該資料處 20理器’以及其中此資料處理器根據該輸入信號與該回傳信 號確定路徑完整性特性。 3·如申請專利範圍第2項之系統，其更包括用以與該資料 處理器交換信號之一介面。 、 4.如申請專利範圍第3項之系統，其中此介面與百億位元 17 1251676 (Ten Gigabit)附接單元介面(XAUI)相容。 5. 如申請專利範圍第3項之系統，其中此介面與IEEE 1394 相容。 6. 如申請專利範圍第3項之系統，其中此介面與周邊構件 5 互連(PCI)規格相容。 7. 如申請專利範圍第3項之系統，更包括連接至此介面之 交換器組織結構。 8. 如申請專利範圍第3項之系統，更包括連接至此介面之 封包處理器。 10 9.如申請專利範圍第3項之系統，更包括連接至此介面之 記憶體裝置。 10. 如申請專利範圍第2項之系統，其中此資料處理器遵守 IEEE 802.3實施媒體存取控制。 11. 如申請專利範圍第2項之系統，其中此資料處理器遵守 15 ITU-T G.709實施光學傳輸網路解訊框處理。 12. 如申請專利範圍第2項之系統，其中此資料處理器遵守 ITU-TG.975實施前向錯誤校正處理。 13. 如申請專利範圍第1項之系統，更包括 一資料處理器，用來將該輸入信號提供給該第一發 20 射器，且其中此第一接收器使用一串列通信線接收來自 該第一發射器之該測試信號，且其中此第一接收器將實 質上不具有額外顫動修正之該測試信號傳輸至該資料 處理器，以及其中此資料處理器根據此測試信號及該輸 入信號決定路徑完整性特性。 18 1251676 14·如申請專利範圍第1項之系統，其中此網路包括光學網 路。 15·如申請專利第丨項之系統，其中此網路包括具有以 至少每秒十億⑽位元傳送與接收之能力1符合乙太 網路規格之一銅質網路。 16’如申請專利範圍第丨項之系統，其中該第一發射器包含 用來提供-第-時脈信號之_時脈與乘法單元，其 中。亥第-時脈信號係依據一第二時脈信號和該第一時 脈信號之—向下分割部份的相位比較結果而定； θ相位檢測器，用以選擇性地依據一第三時脈信號 提供該輸人信號之多個樣本，其㈣第三時脈信號係依 據該第一時脈信號； 、一解多工器，用以依據該第三時脈信號之一向下分 卩伤將該等樣本轉化成並列袼式；以及 …用來提供該第二時脈信號之一第二時脈來源，其中 ^亥第—日守脈彳§號係依據該第一時脈信號之該向下分割 精與該第三時脈信號之該向下分割部份的一相位比 較結果而定。 17·如申請專利範圍第1項之系統，其中該第-發射器更包 含： — 串列化器’用以依據該第-時脈信號之該向下分 •"伤等並列格式樣本轉換成串列袼式樣本；以及 重新叶時器’用以依據該第—時脈信號提供來自 19 Ϊ251676 5亥串列化器之該等串列格式樣本作為該测試传號 18.如申請專利顧第1項之純，其中該第__器更包 含： 動校正之該回傳信 用來轉換實質上不具有額外顫 號的邏輯裝置。 ^申請專利範圍第！項之系統，其中該等多個時 包含： 10 ▲用—來提供—第—時脈信號之—時脈與乘法單元，其 中该弟-時脈信號係依據—第二時脈信號和該第一時 脈信號之—向下分割部份的相位比較結果而定； 一相位檢測器，用以選擇性地依據—第三時脈信號 提供該測試信號之多個樣本，其中該第三時脈信號係依。 據該第一時脈信號； 5 一解多工器，用以依據該第三時脈信號之一向下分 15 割部份將該等樣本轉化成並列格式；以及 …用來提供該第二時脈信號之_第二時脈來源，其中 δ玄弟—時脈信號係依據該第一時脈信號之該向下分割 部份與該第三時脈信號之該向下分割部份的一相位^ 幸父結果而定。 -·士 U利I巳圍第19項之系統，其中該第二發射器包含 一串列化H，用以依據該第—時脈信號之該向下分 割部份將該等並列格式樣本轉化成串列袼式樣本；以及 一重新計時器，用以依據該第—時脈信號把來自該 20 1251676 串列化ϋ之該㈣列格式樣本提供為該回傳信號。 l如申請專利範圍第丨項之系統，其中該第二接收 以傳送實質上沒有額外顏動校正之該测試信驗該第 二發射器。 22· 一種方法，其包含下列步驟： 於一第一收發器： 接收一輸入信號，以及 傳送-測試㈣至-網路，其中朗試信號係 依據該輸入信號； 於一第二收發器： 接收來自該網路之該測試信號， 把貝貝上/又有頜外頸動校正之該測試信號串 列式地傳送作為一第一信號， 減少該第-信號中之顫動，其中該減少顫動之 步驟包括利用來自多個時脈來源之時脈信號， 傳送該顫動減少的第一信號做為一第二信號 給一網路；以及 於該第一收發器： 接收來自該網路之該第二信號。 技如申請專職圍扣項之料，其更包含下列步驟：於 該第-收發器’依據該輸人錢與該第二信號來判斷路 徑完整性特性。 24·如申請專利範圍第22項之方法，其中於該第—收發器傳 送該測試信號至該網路之步驟包含·· 21 1251676 減少該輸入信號之顫動；以及 提供該顫動減少之輸入信號作為該測試信號。 25·如申請專利範圍第22項之方法，其更包含下列步驟： 於該第一收發器，依據該輸入信號與該測試信號間 5 之比較結果判斷路徑完整性特性。 22 1251676 件 铖ία a

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