TWI233535B - Motion feed-through into a vacuum chamber and its application in lithographic projection apparatuses - Google Patents
Motion feed-through into a vacuum chamber and its application in lithographic projection apparatuses Download PDFInfo
- Publication number
- TWI233535B TWI233535B TW088108963A TW88108963A TWI233535B TW I233535 B TWI233535 B TW I233535B TW 088108963 A TW088108963 A TW 088108963A TW 88108963 A TW88108963 A TW 88108963A TW I233535 B TWI233535 B TW I233535B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- vacuum chamber
- sliding seal
- patent application
- support
- sliding
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/027—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/70766—Reaction force control means, e.g. countermass
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/70716—Stages
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/70758—Drive means, e.g. actuators, motors for long- or short-stroke modules or fine or coarse driving
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70808—Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70808—Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
- G03F7/70816—Bearings
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70808—Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
- G03F7/70841—Constructional issues related to vacuum environment, e.g. load-lock chamber
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70991—Connection with other apparatus, e.g. multiple exposure stations, particular arrangement of exposure apparatus and pre-exposure and/or post-exposure apparatus; Shared apparatus, e.g. having shared radiation source, shared mask or workpiece stage, shared base-plate; Utilities, e.g. cable, pipe or wireless arrangements for data, power, fluids or vacuum
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Epidemiology (AREA)
- Public Health (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Description
1233535 _案號 88108963 ,/ 年义月 7 曰_Ifi_;_ 五、發明說明(1) # 本發明係關於從外面移動饋入裝置進入真空者。特別言 之,本發明係關於該等裝置於微影蝕刻投影裝置之應用, 該等裝置包括: 一供應輻射投影光束之照射系統; 一第一可移動物件台(object table),其附有一光罩支 架可支撐一光罩; 一第二可移動物件台(object table),其附有一基材支 架可支撐一基材;及 一將該光罩的照亮部份顯影於該基材目標區之投影系統 〇 為簡潔之故,該投影系統以下均稱為「鏡頭」;然而此 名詞應廣泛解釋為包含各類的投影系統,例如包括折射光 學、反射光學、反屈光系統及高能粒子光學。該照射系統 亦可包括依據指向、成型或控制投影照射光束該等原理而 操作的元件,而該等元件亦可於以下共同地或單獨地被稱 為「鏡頭」。另外,該第一及第二物件台(object table) 可分別被稱為「光罩台(mask table)」及「基材台 (subsrate table)」。再者,該微影#刻裝置可以是一種 具有兩個或更多個「光罩台(mask table)」及/或兩個或 更多個「基材台(subsrate table)」的型態。在此種「多 級」裝置中,其餘的平台可並列使用,或可在一或多個平 台中實施準備步驟,同時其他一或多個平台則用於曝光。 例如,在W0 9 8 / 28 6 6 5及W0 98 / 4 0 7 9 1國際專利申請案中 所描述的雙級微影蝕刻裝置。 微影蝕刻投影裝置可用於積體電路的製造。在此例中,
O:\58\58390-910509.ptc 第5頁 1233535 q _案號88108963 //年义月7日 修正_ 五、發明說明(2) 該光罩(掩膜)可包括相當於該積體電路一單獨層的一電路 型態,而此型態可顯影在一基材(矽晶圓)上的目標區( 晶粒),該基材曾覆蓋一層感光物質(光阻劑)。一般而言 ,一片晶圓將包括鄰近晶粒的整個網路,該晶粒經由該掩 膜一次一地連續照射。在微影蝕刻投影裝置的一種型態 中,每一晶粒藉著將整個掩膜圖案一次曝露於該晶粒上而 得以照射;此類裝置通常稱為一晶圓步級。在一通常稱為 步驟及掃描裝置的替代裝置中,每一晶粒藉著在一所賦予 之參考方向(「掃描」方向)的投影光束下逐次掃描該掩膜 圖案’同時同步掃描該平行或非平行該方向的晶圓級而得 以照射;一般而言,由於該投影系統將具有一放大向量 Μ (通常< 1 ),該晶圓級的掃描速度v將是一向量的Μ倍’該 向量即該掩膜被掃描的速度。有關此處所描述之微影蝕刻 投影裝置更詳細的資料可參考WO 9 7 / 3 3 2 0 5國際專利申 請。 在一種微影蝕刻投影裝置中,該可被顯影在晶圓上之圖 案的尺寸受限於該投影照射的波長。希望能夠顯影出較小 的圖案,以便製造較高裝置密度的積體電路並因而達到較 高的作業速度。雖然目前大部份微影蝕刻投影裝置使用水 銀燈或激發雷射所產生的紫外光,但其曾被建議使用約十 三奈公尺之較短波長之照射光。此類照射光被稱為極紫外 光或軟X光,而可能的來源包括雷射離子源或蓄電環同步 加速器照射。使用同步加速器照射之微影蝕刻投影裝置的 概述請參閱J B M u r p h y e t a 1之「同步加速器照射源及微 影蝕刻投影聚光鏡」,應用光學3 2卷2 4冊6 9 2 0至6 9 2 9頁
O:\58\58390-910509.ptc 第6頁 1233535 _案號88108963 力年Γ月7日 修正_ 五、發明說明(3) (1993) ° 其他所建議之照射類型包括電光束及離子光束。該等類 型的光束與極紫外光分擔該光束路徑需保持高度真空的需 求,包括光罩、基材及光學組件。此係避免光束的吸收及 /或散射,對於此類高能粒子光束的典型需求為總壓力約 低於1 0_6毫巴。經由表面碳層的沉澱,晶圓可能被污染, 而極紫外光照射光學元件可能被破壞,此造成了額外的需 求,即碳氫化合物的局部壓力一般而言應保持在1 〇_8至1 〇_9 毫巴以下。否則,對於使用極紫外光照射的裝置而言,所 需要的總真空壓力僅為1 〇_3至1 〇_4毫巴,其傳統上視為一粗 糙的真空。 有關電光束在微影蝕刻中的用途可予以擷取,例如自 US 5,079,122 及US 5, 260,151 ,以及自ΕΡ-Α 98201997. 8 (Ρ- 0 1 1 3 - 0 0 0 -ΕΡ) 〇 在如此高度真空下作業,形成該元件上極麻煩的狀況, 其必須置入該真空並位於該真空室密封墊上,特別是於該 裝置的週遭,自外部饋入該真空室内元件的動作。對該真 空室内元件而言,應使用將污染降至最低甚或排除的材料 ,並需將其所有的氣體排出,即材料本身及其表面所吸收 的氣體皆需排出。很希望能夠降低或避免此類限制。 本發明的一目標是備置一改良的移動饋入,以便能夠自 一真空室外控制一置於該真空室中的物體。 依據本發明,此目的及其他的目標將在一遠端的操控裝 置中達成,以便將一外部的移動穿過一真空室牆上之孔而 送達該真空室中的一物體,該操控裝置的特徵描述如下,
O:\58\58390-9l0509.ptc 第7頁 1233535 案號 88108963 曰 修正 五、發明說明(4) 其包括: 一密封該孔的滑動密封墊,其可在至少一平行於該真空 室牆的方向移動同時可保持該密封墊; 一連接該滑動密封墊及該物體的機械連接,以便將該滑 動密封墊的移動傳送給該物體,使得該真空室的該滑動密 封墊可得以進行外部的移動。 該滑動密封墊裝置讓一相當大的移動(例如,與傳統風 箱相比)以大量循環之兩次失敗間的平均時間饋入該真空 室,並可予以建構以抗拒重複而快速的移動。 目前的微影蝕刻投影裝置皆設計於清潔的場所環境中使 用,因而該裝置通常採取一些步驟以降低晶圓的可能污染 源。然而,晶圓、光罩及轉換級的傳統設計非常地複雜, 並使用大量的檢測器及驅動元件。該級亦需備置大量的信 號及控制電纜及其他的設施。本發明藉由採取將許多元件 及功能儘可能地置於該真空室的外側之原則,以避免進行 此類大量真空相容元件之困難而複雜的工作,或以真空相 容的同等元件將其替換。本發明藉由備置創新的密封裝置 之機械饋入,因而避免了許多或大部份各式元件真空保證 的需要。同樣地,本發明藉由將震動敏感元件儘量的隔離 於該真空室牆,因而避免了降低真空裝置中必然發生之震 動的困難,特別是對於所備置之電力泵而言。 在本發明的一較佳的具體實施例中,該滑動密封墊包括 一薄板,該薄板係靠著該真空室膽而由一差動抽氣的空氣 軸承所支撐。 依據本發明的另一觀點,備置了一種微影蝕刻投影裝置
O:\58\58390-9i0509.ptc 第8頁 1233535 _案號 88108963 V 年·Γ月〒日_^_ 五、發明說明(5) ,其中包括: 一供應輻射投影光束之照射系統; 一第一可移動物件台(object table),其附有一光罩支 架可支撐一光罩; 一第二可移動物件台(object table),其附有一基材支 架可支撐一基材;及 一將該光罩的照亮部份顯影於該基材目標區之投影系統 ,其特徵為: 一具有一面封入至少一該第一及第二物件台(object table)之牆的真空室,其中該真空室牆内具有至少一孔; 一密封該孔的滑動密封塾,其可在至少一平行於該真空 室牆的方向以預設的範圍移動同時可保持該孔的該密封墊 一機械連接,以便將該滑動密封墊的移動傳送給該真空 室内的該物件台(object table),以便因而造成相關的移 動;及 移動該滑動密封塾的定位裝置,藉此可於該真空室内移 動該物件台(object table)。 依據本發明的一進一步的觀點,備置了一種微影蝕刻投 影裝置,其中包括: 一供應輻射投影光束之照射系統; 一第一可移動物件台(object table),其附有一光罩支 架可支撐一光罩; 一第二可移動物件台(object table),其附有一基材支 架可支撐一基材;及
O:\58\58390-910509.ptc 第9頁 1233535 _案號88108963 夕/年欠月嗲日__ 五、發明說明(6) 一將該光罩的照亮部份顯影於該基材目標區之投影系統 ,其特徵為: 一容納至少一該第一真空室第一及第二物件台(ob ject table)的第一真空室; .一·該第一真空室鄰近的第二真空室; 一支柱,其自該第二真空室延伸至該第一真空室,並可 移動地支撐該第一真空室中所容納的該物件台(〇 b j e c t table); 一連接至該支柱的滑動密封板,以便分隔該第一真空室 及該第二真空室,該滑動密封板可在其平面上以至少一方 向移動並向外延伸該第一真空室及該第二真空室;及 位於該第一真空室及該第二真空室外部的定位裝置,以便 移動該滑動密封板,因而可移動該第一真空室中的該物件 台(object table) 〇 另依據本發明的一進一步的觀點,備置了 一種微影蝕刻 投影裝置,其中包括: 一供應輻射投影光束之照射系統; 一第一可移動物件台(object table),其附有一光罩支 架可支撐一光罩; 一第二可移動物件台(object table),其附有一基材支 架可支撐一基材;及 一將該光罩的照亮部份顯影於該基材目標區之投影系統 ,其特徵為: 一容納至少一該第一及第二物件台(object table)的第 一真空室;
O:\58\58390-910509.ptc 第10頁 1233535 ^ _:_案號88108963 0/ 年f月夕日 修正_ 五、發明說明(7) 一該第一真空室鄰近的第二真空室並被一具有一孔的真 空室牆自此處分隔; 該第二真空室所備置之一第一平台,其可在一第一平面 上移動一第一範圍; 該第一平台所支撐的一第二平台,其可在一第二平面上 移動一第二範圍,該第一及第二平面實質上相平行,而該 第一移動範圍大於該第二移動範圍,該第二平台穿過該孔 支撐第一真空室中的該物件台(object table);及 一連接至該第一平台的一環狀滑動密封板,該滑動密封 板相對於部份的該真空室牆及該第二平台,以便在整個該 第一及第二移動範圍中分隔該第一及第二真空室。 仍依據本發明的一進一步的觀點,備置了 一使用微影蝕 刻投影裝置以製造一裝置的方法,該微影蝕刻投影裝置包 括: 一供應輻射投影光束之照射系統; 一第一可移動物件台(object table),其附有一光罩支 架可支撐一光罩; 一第二可移動物件台(object table),其附有一基材支 架可支撐一基材;及 一將該光罩的照亮部份顯影於該基材目標區之投影系統 ,其特徵為: 一具有一面封入至少一該第一及第二物件台(object table)之牆的真空室,其中該真空室牆内具有至少一孔; 一密封該孔的滑動密封墊,其可在至少一平行於該真空 室牆的方向以預設的範圍移動同時可保持該孔的該密封墊
O:\58\58390-910509.ptc 第11頁 1233535 _案號 88108963 五、發明說明(8) 曰 修正 一機械連接,以便將該滑動密封墊的移動傳送給該真空 室内的該物件台(〇b j e c t t a b 1 e ),以便因而造成相關的移 動:及 移動該滑動密封墊的定位裝置,藉此可於該真空室内移 動該物件台(〇 b j e c t t a b 1 e );該方法包括下述步驟: 於該第一物件台(object table)上安裝一光罩; 於該第二物件台(object table)上安裝一基材; 將該基材曝露於該光罩的一影像中。 依據本發明,在一使用微影蝕刻投影裝置的製造過程中 ,光罩中的一圖案被顯影在一基材上,而該基材至少部份 被能量感光物質層(光阻劑)所遮蓋。在此顯影步驟前,該 基材可能經過各種程序,例如塗底漆、包覆光阻劑及溫和 地烘烤。曝光之後,該基材可進行其他的程序,例如曝光 後烘烤、顯影、劇烈地烘烤及測量/檢查所顯影的圖案。 這一連串的程序用於做為一基礎以便形成一裝置的單獨一 層,例如一積體電路。該所形成的一層之後可進行各式的 程序,例如蝕刻、金屬離子注入(添加劑)、化學機械拋光 等等,所有程序皆是為了形成單獨的一層。若需要許多層 ,那麼所有的程序在形成每一新層時將需重複一次。最後 ,一堆的裝置將呈現於該基材上(晶圓)。之後該等裝置將 以一種技術分離,諸如切塊或鋸塊,因而該單獨的裝置可 安裝於一載體上,再連接至接腳等等。有關此類程序的進 一步資料可自例如McGraw Hill出版公司,Peter van Zant所著一九九七年第三版「微晶本製造:半導體處理實
O:\58\58390-910509.ptc 第12頁 1233535 〇 _案號88108963 年f月Y日 修正_ 五、發明說明(9) 務指南」乙書(ISBN 0 - 0 7 - 0 6 7 2 5 0 - 4 )中獲得。 雖然依據本發明,該裝置的用途在文中有特定的參考, 用於積體電路的製造,但很明確地理解是該裝置有許多其 他的可能應用。例如,其可用於積體光學系統的製造、磁 域記憶的導引及偵測型態、液晶顯示面板、薄膜磁頭等 等。熟習此項技藝之人將察覺到,在此類替代應用的上下 文中,文中所使用的名詞「掩膜」、「晶圓」及「晶粒 」,應考慮分別以更普遍的名詞「光罩」、「基材」及「 目標區」予以取代。 本發明及其伴隨的優點將以下列具體實施例及圖示予以 說明,其中: 圖1依據本發明的第一具體實施例描述一種微影蝕刻投 影裝置; 圖2是依據本發明的第二個具體實施例之微影蝕刻投影 裝置的晶圓級的一斷面檢視; 圖3是圖2中該晶圓級之驅動裝置的一計晝檢視; 圖4是用於圖2中該晶圓級之差動抽氣的空氣軸承的一斷 面檢視; 圖5是可用於本發明的一替代的差動抽氣之空氣軸承的 一計晝檢視; 圖5 A是圖5中該差動抽氣的空氣軸承之一部份的擴大斷 面; 圖6是可用於本發明的一替代的滑動密封板的一斷面檢 視; 圖6 A及6 B是圖6中該滑動密封板之替代填充物的一斷面
O:\58\58390-910509.ptc 第13頁 1233535 q ____案號88108963 义/年f月7日 修!_ 五、發明說明(10) 檢視; 圖7是依據本發明的第三個具體實施例之微影钱刻投影 裝置的晶圓級的一斷面檢視; 圖8是依據本發明的第四個具體實施例之微影鍅刻投影 裝置的晶圓級的一斷面檢視; 圖9是依據本發明的第五個具體實施例之微影钱刻投影 裝置的晶圓級的一斷面檢視; 圖1 0是依據本發明的第三個具體實施例之微影餘刻投影 裝置的晶圓級的一斷面檢視; 在不同的圖示中,相同的零件用相同的符號表示。 具體實施例1 圖1描述了依據本發明的一種微影姓刻投影裝置1。該裝 置包括: •一照射系統LA,IL供應照射的投影光束PB(例如,UV或 E U V照射,電子或離子); • 一第一物件台(object table)(光罩台(mask table)) MT,其附有一光罩支架可支撐一光罩ΜΑ(例如,一掩膜 ),並連接至第一定位裝置ΡΜ以便正確地定出有關物件PL 的光罩位置; • 一 第二物件台(object table)(基材台(subsrate table))WT,其附有一基材支架可支撐一基材例如,一 包覆防蝕劑的矽晶圓),並連接至第二定位裝置p w以便正 確地定出有關物件P L的基材位置;
1233535 ^ __ 案號88108963 f/年女^月^日 修正 __ 五、發明說明(11) 份顯影於該基材W的目標區C (晶粒)。 該照射系統包括一照射源LA(例如,一蓄電環或同步加 速器中電子光束路徑週邊所備置之一波動器或擺動器,或 是一電子或離子光束源),其可產生一條照射光束。該光 束沿著照明系統I L中所包括的各式光學元件傳送,例如, 為了引導及/或視準該合成光束PB的目的,及/或使其張 力一致地遍及整個斷面。 該光束PB隨後顯影在一光罩台(mask table)MT上由一光 罩支架所支撐的該光罩MA上。該光罩MA選擇性地反射(或 照射),該光束P B通過該鏡頭P L,其將光束P B聚焦於該基 材W的目標區C上。經由該干涉量度的位移及測量裝置I f的 支撐,該基材台(subsrate table)WT可正確地移動,例 如,以便定出該光束PB的路徑中不同目標區C的位置。同 樣地 ,該定位裝置PM可用於正確地定出相對於該光束PB的路徑 之該光罩Μ A的位置,例如,該光罩Μ A自一光罩庫或掃描作 業間的機械回復之後。一般而言,該物件台(〇 b j e c t t a b 1 e ) Μ T的移動,W T將以長行程模式(路線定位)及短擊模 式(微調定位)予以支撐,其在圖1中並未詳述。 所描述的裝置可用於兩種不同的模式: •在級模式中,該光罩台(mask table)MT實質上保持不 動,而整個光罩影像一次(即單一 「閃光」)便投影到一目 標區C上。該基材台(subsrate table)WT接著在X及/或Y 方向漂移,如此一不同的目標區C便可由該光束PB予以照 亮;
O:\58\58390-910509.ptc 第15頁 1233535 _案號88108963 f/年Γ月7日 倏^ 五、發明說明(12) •在掃描模式中,除了所給予的一目標區c並非在單一 「 閃光」中曝光外’貫質上處於相同的狀態。與上述級模式 不同的是,該光罩台(mask table )ΜΤ是以速度ν在所給予> 的方向(即所謂「掃描方向」,例如,X方向)上移動,如 此該投影光束ΡΒ便在一光罩影像上掃描;同時,該基材台 (subsrate table)WT同步地以速度V = Μν在相同或相反^ 方向上移動,其中Μ是該鏡頭PL的倍數(典型上,m = 1/ 4s 1 / 5 )。以此方法,在不損及解析度的狀況下,可曝光一相 當大的目標區C。 ^ 具體實施例2 依據本發明的第二個具體實施例之一種微影钱刻裝置以 圖示及斷面顯示於圖2。該真空室V被牆11所包圍,該牆η 界定了一位於該室地板上的一孔1 1 a。於該裝備的使用期 間,該真空室V藉著適當型式的抽氣唧筒(未顯示)保持所 需的壓力。該孔1 1 a是由滑動密封板1 2所形成的一滑動密 封墊所密封,在其中間是所備置之晶圓支撐柱1 3。柱1 3支 撐該微調級(或短擊晶圓支撐墊塊)1 4,其依次支撐該晶圓 W。 該晶圓W的長行程移動是藉著移動該整個滑動密封板1 2 而完成,經長行程移動,該晶圓W的不同區域於該微影餘 刻投影裝置的鏡頭下(未顯示)定位以進行曝光。其完成後 ,該孔1 1 a成形並切割尺寸以容納該長行程級及該柱1 3所 需的移動範圍。例如,在一打算進行直徑3 0 0毫米晶圓曝 光並具有一根直徑100至150毫米之柱的裝置中,該孔iia 可能為一邊長4 8 0毫米的正方形,以便於該晶圓的邊緣週
O:\58\58390-9l0509.ptc 第16頁 1233535 案號 88108963 f/年夂月7 曰 修正 五、發明說明(13) 邊備置檢測器等物件的空間。該滑動密封板1 2必須有一定 的形狀及大小,以便在整個移動範圍中可維持該孔的密封 ,例如,在上例中,其因而亦必須為直徑1 2 0 0毫米的正方 形。此大小使的一密封墊的每邊寬度為1 2 0毫米。一圓形 的孔及岔封板亦可用於圓形的晶圓。 經由馬達區間Μ中所備置之傳動桿1 5及驅動器1 6,滑動 密封板1 2被驅使於矩形X軸、Υ軸,以及Ζ軸的旋轉單位φ ζ 中轉換。該驅動裝置進一步說明如下,並請參閱圖3。 將察知的是,在使用中,該滑動密封板1 2上的主要負載 將是該真空室V及該馬達區間Μ之間不同的壓力,此是正常 地保持著一大氣壓力(或在淨空的空間環境中一稍微不同 的壓力)。該向上的力量(向内)通常將遠超過該長行程級 及其所支撐的其他區間的重量。本發明備置差動抽氣的氣 體(空氣)軸承2 1 ,其預先承載該孔1 1 a週邊之壓力間的差 異以及該密封板及其所支撐區間的重量。該等空氣軸承2 1 進一步說明如下,並請參閱圖4,以及同時進行的專業申 請,其標題為「用於真空室中的空氣軸承及其在微影蝕刻 裝置中的應用」(申請案號·· P- 0 1 3 3- 0 0 0 -EP),其在此提 出以供參考。當該真空室並未抽空時,例如,進行維修, 那麼將備置支撐及安裝於基材1 7上的軸承1 9以便支撐該滑 動密封板1 2。 用於信號控制及測量以及其他用途的電纜2 0,係經該滑 動密封板12中的一洞12a及該中空柱13備置給該短擊級14 〇 為備置該孔1 1 a整個週邊的足夠密封,需要確定該滑動
O:\58\58390-910509.ptc 第17頁 1233535 ^ _案號88108963 f/年f月彳曰 修正_ 五、發明說明(14) 密封板1 2的形變保持在可接受的限度内。依據本發明之本 具體實施例,此係由備置一厚度1 0 0毫米之燒結的三氧化 二紹(p 二 3 7 0 0 kg/m3 ,Ε = 3· 5 x 1 011 N/m2 ,v (抑制率)=Ο · 2 2 ) 薄板所影響。其他的適當材料,例如矽化碳發泡材料亦可 使用。假定為了計算簡單,該空氣軸承是環狀的,其半徑 r為3 7 0毫米,該薄板上的均勻負載q為大氣壓力為105 N/m2 ,而圓周上的斜角0可由下列方程式求得: 8Z).(l -l· υ) 其中: ι D - Ε; — ................................... [2] 12.(1-02) 對厚度1 0 0毫米的三氧化二鋁薄板而言,該薄板常數 D = 3.1xl07 Nm ,其導出一斜角0 1 6. 6 x 10_6徑,於是於 該空氣軸承區中有一約1微米的偏斜。 該滑動密封板1 2的一可能的驅動機制顯示於圖3中。如 圖所示,四部驅動器1 6各自作用於傳動桿1 5,該傳動桿1 5 自該薄板1 2的每一邊的中間點垂直地向外延伸。每一部該 驅動器1 6包括一執道1 6 a,其支撐一部線性馬達的定子以 及一支撐該線圈的滑動級架1 6 b。該驅動的力量轉移至該 傳動桿1 5,並藉著推動空氣軸承1 6 c因而將上述力量轉移
O:\58\58390-910509.ptc 第18頁 1233535 _案號88108963 //年JT月7日 修正_ 五、發明說明(15) 至該薄板1 2,該空氣軸承1 6 c允許橫向移動及一限制之角 的移動量P z,以便容納微調的調整。僅使用三部馬達便 可達成X、Y和P z的移動,因而在此具體實施例中,一對 平行的馬達可視為一部而進行控制。一部水冷式線性馬達 可輕易地備置1 1 0 0 N的力量,所以即使當該薄板及相關的 零件重量達5 0 0公斤時,四部此類馬達即可備置足夠的加 速。 該執道1 6 a可予以固定,例如固定至該裝置的基板上, 如此該力量便施用於一靜態的反應訊框。另一方面,例 如,該執道1 6 a亦可以由空氣軸承所支撐而無束缚地縱向 移動,並且是相當大的以便平衡該驅動力量。 在此具體實施例中,該傳動桿1 5被定位以至於該力量作 用在通過該滑動密封板1 2之重心1 2 b的線上,如圖示於該 水平平面上而垂直的亦然。此降低了該薄板1 2的彎曲力矩 及該馬達朝向該驅動質量總重心之力量的其他部份。於該 第一具體實施例(未顯示)的一變化中,該長行程級所佔用 的總空間可藉於該級薄板1 2下安裝該傳動桿1 5而減少。 如圖4所示,其是通過該真空室牆1 1的部份及該滑動密 封板1 2的一斷面,該薄板1 2藉著空氣轴承2 1而與該真空室 牆1 1隔開,該空氣軸承2 1可保持5微米的固定間隙g。儘管 該軸承附近的該真空室踏1 1的表面,以及該軸承所移動區 域上方所支撐之物件1 2的表面不需要滿足RMS平面粗糙度 0 . 4微米,但由於此間隙,使得上述二平面的RMS平面粗糙 度均小於0 . 8微米。此可很容易地以已知的機械磨光技術 達成。在一些應用中,5微米至1 0微米的間隙可能是合適
O:\58\58390-910509.ptc 第19頁 1233535 _案號 88108963 9/ 年 月 7 日_iMz_ 五、發明說明(16) 的,而且該表面不需達到如此高的容差。持續經由空氣饋 入器2 1 1供應乾淨的空氣(或其他氣體,例如氮氣)數個大 氣壓,以產生高壓區2 1 4。所供應的空氣將流向該馬達區 間Μ ,亦流至該真空室V,當然其壓力即非所需。經由槽 2 1 2備置了一條大氣壓力洩漏的路徑,或該馬達室。為避 免該空氣進一步形成空氣軸承,成為一無法接受的:¾漏至 該真空室V,便經由真空導管2 1 3進行抽氣。若有需要,該 洩漏路徑2 1 2亦可用於抽氣。以此方法,使該殘餘的洩漏1 流入該真空室V中,可使其維持可接受的程度。 在本具體實施例中,該空氣饋入器2 1 1的較低部份、該 真空導管2 1 3及該洩漏路徑2 1 2皆為細長的槽,其順著延伸 至該密封墊週邊的整個長度。沿著這些槽,處處備置著空 氣饋入管211a及真空管213a。 圖5所顯示的是於該第一具體實施例的一變化中,一自 該真空室牆1 1之一部份下方的檢視,該空氣軸承所備置之 該空氣饋入器211’是分離的。在每一空氣饋入管的末端, 有一擴大的圓柱體211b顯示在圖5A的斷面中,其以一透氣 塞2 1 1 c塞住。該透氣塞2 1 1 c較佳的以石墨製成,如此於該 真空室牆11之較低平面lib以機器完成後,其可置於該擴 大物件2 1 1 b中,之後削平。 在上述該空氣軸承的一變體中,在空氣軸承2 1 1及該真 空室V之間備置了單獨一條真空槽。在其他的變化中可備 置二條或更多條真空槽,經此可將該真空室V抽氣成為更 高程度的真空。 於該第二具體實施例的另一變化中,其可與上述變化相
O:\58\58390-910509.ptc 第20頁 1233535 _案號88108963 分/年太月夕日 修正_ 五、發明說明(17) 結合,該滑動密封板的重量經一中間插入組建而減輕。此 顯示於圖6 ,其係穿過該滑動密封板的一垂直平面的斷 面。該上部及下部表面1 2 1,1 2 3各由例如燒結的三氧化二 鋁之固體薄板所組成,其厚度分別為I及1:3。該厚度為t2 的中間插入填充物1 2 2可為各式的材料,諸如圖6 A中所顯 示的三氧化二鋁牆1 2 2 a之網栅結構,或圖6 b中所顯示的緊 密包裝之中空玻璃圓柱1 2 2 b。其他的替代材料包括例如玻 璃製或陶製發泡材料。在每一變化中,該中間插入填充物 的功用是在兩表面1 2 1 ,1 2 3間傳送剪切的力量,所以所選 取的材料及結構必須具有一高的彈性係數E。 對於一燒結的三氧化二铭之網柵結構的填充物,該薄板 的力量及質量取決於該空間因數△,其界定為由該薄板總 斷面區域所劃分之該網栅結構的總斷面區域,其係用於修 正剪切及彎曲形變之方程式。對一總厚度(1 + 1:2 + 1:3)為200 毫米的薄板,經計算,該最輕的薄板質量可由上下薄板厚 度(t i,t3)為1 5毫米,及該栅網的空間因數0 · 1 5而獲得, 例如,一柵網牆的厚度為1 5毫米,傾斜1 1 0毫米。 依據本發明,該中間插入薄板1 2 0具有持續的邊牆1 24, 而該中間插入填充物1 2 2的邊緣被密封以便為内部形成一 密封塾。在内部實施密封之前,進行排氣以成為一適合的 真空程度。預加壓力於該夾層結構並避免表層薄板上的不 同壓力(當該薄板當作一種真空室的一部份時),其將導致 該夾層結構分層。該薄板可予以組建以確保該内部真空的 程度足以支撐預訂的時間,或可備置一汽門定時地進行内 部排氣。
O:\58\58390-910509.ptc 第21頁 1233535 -_iL^m 修正 五、發明說明(18) ~·_ -- f察t的是該排氣的夾層結構較本發明的該滑動密封板 具Θ更g泛的應用,特別是其可作為任何真空室的牆或該 牆的一部份,不論該牆是滑動的或固定的。 具體實施例3 依據本舍明的一種微影蝕刻裝置3之第三個具體實施例 顯不於圖7。在此裝置中藉著安裝於一環狀訊框33〇上的一 反向的半球體或球型物312而形成該滑動密封墊。該球型 物3 1 2相當地薄,其如此成形以便以該球型物中平面的張 力抗衡έ玄垂直負載於外表的壓力。負載的變化之後造成幾 舍的度量而非局部的形變。一寬度D為丨2 〇 〇毫米的球型物 ’其將適合於該第二具體實施例中所描述之尺寸及移動範 圍的微影姓刻裝置,該中央曲率的半徑r將為〇 · 8 X d。其 將逐步地減少至邊緣曲率的半徑r為〇 . 1 5 X D。該球型物的 高度Η之後將為〇 · 2 5 X D。該球型物的表面物質垂直地連接 至該訊框3 3 0 ’因而避免於該軸承環上形成不需要的負載 。該球型物的其他特性為避免已知在橋狀結構上的彎曲動 量。 在第三具體實施例中,該球型物的滑動動量經該訊框 330中所備置之差動抽氣的空氣轴承“I而啟動,並作用於 該真空室牆11底部所備置之一軸承表面32ia上。該空氣軸 承3 2 1與該第二具體實施例中所描述的類似。 雖然該球型物3 1 2抗衡該馬達室Μ及該真空室V之間的壓 力差異’但該微調級丨4及該支撐柱丨3的重量則由一複數之 幸I射緩衝器331所支撐,其支撐該訊框330的該支撐柱13及 該微調級。該支撐柱丨3亦靠一複數的輻射緩衝器3 3 2所保
O:\58\58390-9l0509.ptc 第22頁 1233535 ^ _案號 88108963 外年t月彳日__ 五、發明說明(19) 持穩定,因而該微調級保持移動間的穩定,如該第二具體 實施例相同,受驅動器1 6所影響。來自該驅動器1 6的推力 再次經由傳動桿1 5轉移給該微調級,該傳動桿1 5在本具體 實施例中依附於該訊框3 3 0。 具體實施例4 依據本發明的一種微影蝕刻裝置4之第四個具體實施例 顯示於圖8。在本具體實施例中遍及該滑動密封板4 1 2的壓 力差異藉著在其下備置一第二真空室V2而降低或消除。因 該滑動密封板4 1 2僅需支撐移動該微調級1 3所需的加速力 量,所以該滑動密封板4 1 2可因而做成較薄,壓力較小甚 或沒有。藉著確定該驅動力施用於該滑動密封板4 1 2的平 面上,以及確定該總移動質量的重心亦落於該滑動密封板 4 1 2的平面上,則可減少扭力。 該滑動密封板經作用在傳動桿1 5的驅動器1 6而在X、Y及 p z方向上移動,在本例中,該傳動桿1 5連接至該滑動密 封板4 1 2的邊緣上。該滑動密封板4 1 2在兩個相對之差動抽 氣空氣軸承42 la及42 lb之間移動。空氣軸承42 la類似於該 第二具體實施例中所描述者,亦由該真空室V的牆1 1所備 置。空氣軸承421b亦類似但反向,由該第二真空室V2的牆 4 1 1所備置。由於於該滑動密封板4 1 2上幾乎沒有垂直的淨 力,所以空氣軸承4 2 1 a及4 2 1 b不需行使很大的推力,僅需 維持該密封間隙及使其能於X、Y及φ z方向上移動。為避 免過份壓制該滑動密封板4 1 2,Z方向上的軸承是固定的, 其他的則是預先承載的。 該第二真空室V2容納該底部4 4 0,其經由柱1 3支撐該微
O:\58\58390-9l0509.ptc 第23頁 1233535 _案號 88108963 五、發明說明(20) 曰 修正 調級1 4。所備置之該底部4 4 0備有其自身的軸承,亦即上 述差動抽氣空氣軸承,以便讓該微調級1 4移動。由於該第 二真空室¥2隔離於該主要真空室V,所以其内部的真空要 求程度較低。該第二真空室V2因而可容納該主要真空室V 中所無法接受之材料做成的饋入線及電纜。 具體實施例5 本發明的一包括微影蝕刻裝置5之第五個具體實施例顯 示於圖9。本具體實施例另外併入一個三級的觀念,其進 一步說明在同時進行的專利申請中,其名稱為「多級驅動 裝置及其在微影蝕刻裝置中的應用」(申請案號: P - 0132-000-ΕΡ),其在此提出以供參考。本發明之第五個 具體實施例特別適應於步驟及掃描作業。 微影蝕刻裝置5包括一長行程滑動密封板5 1 2,其類似於 該第二個具體實施例中的該滑動密封板1 2,該滑動密封板 5 1 2被容納於第二真空室V2中。微調級5 1 4被容納於該主要 真空室V中,並為使用驅動器514a的該晶圓W備置微調定位 。在此二級中備置了一中間級5 5 0。在本具體實施例的步 驟及掃描作業中,該長行程滑動密封板5 1 2係沿著將被曝 光之晶粒的整行或整列被一固定的速度所驅動。該中間級 5 5 0之後以動量八相對於該長行程滑動密封板5 1 2進行驅動 ,如此於該曝光點之下之該晶圓的總動量市一適於該步驟 及掃描作業之迂迴的進程。此裝置降低了需施加於該機械 基礎訊框之上的加速力。該長行程滑動密封板5 1 2的作用 如同該中間級5 5 1的平衡質量,但因為其加速低,故該長 行程滑動密封板5 1 2本身不需要平衡質量。
O:\58\58390-910509.ptc 第24頁 1233535 案號 88108963 曰 修正 五、發明說明(21) 該主要真空室V保持低於1 0_6毫巴的氣壓,較佳的範圍是 1 0_7至1 0_8毫巴;而該第二真空室V2則處於1 0_5至1 0_6毫巴的 氣壓。為達到該等真空的程度,該長行程滑動密封板5 1 2 則被差動抽氣的空氣軸承521a所支撐,而空氣軸承52 la與 該第二具體實施例中的物件相似,並保持5至1 0毫米範圍 的固定間隙。該掃描級5 5 1亦由類似的空氣軸承5 2 1 b所支 撐。 該第二真空室▽2經一滑動密封墊裝置與該主要真空室V 相隔離,該滑動密封塾裝置係由下列二物件所組成:安裝 於該長行程滑動密封板5 1 2上的上部滑動密封板5 5 2及安裝 於該掃描級5 5 0上的下部滑動密封板5 5 3。該上部滑動密封 板5 5 2通常與一中央孔的大小一致,足夠容納該掃描級550 及其相對於該長行程級的移動範圍。該上部滑動密封板 5 5 2較該真空室牆5 1 1中的孔5 1 1 a為大,所以不論該長行程 級的位置在何處,該上部滑動密封板有一大部份直接與該 真空室牆5 1 1的該下部表面5 1 1 b相對。該下部滑動密封板 5 5 3亦與填滿該掃描級5 5 0的一中央孔一致。該下部滑動密 封板5 5 3同樣地較該上部滑動密封板55 1中的孔為大,所以 不論該掃描級5 5 0相對於該長行程級5 1 2的位置如何,該下 部滑動密封板5 5 3的整個球體有一大部份直接與該上部滑 動密封板552的底部表面相對。因為由該主要及第二真空 室之間的壓力差異所產生的力量可以忽略,以及該上部及 下部滑動密封板並不負載軸承,所以在它們之間,或是於 該上部滑動密封板及該真空室牆5 1 1之間並不需要一空氣 軸承。反而是該兩薄板之間以及該上部滑動密封板及該真
O:\58\58390-910509.ptc 第25頁 1233535 _案號 881Q8963 五、發明說明(22) 曰 修正 空室牆之間的間隙做成約5 0 0微米或更小,以及該重疊部 份做成夠寬以便將洩漏降至可接受的程度。該不同的密封 板及孔亦可為圓形的,以便容納一圓形的晶圓及墊塊。 該長行程級薄板5 1 2可被一 Η驅動裝置所驅動,該裝置包 括一部線性馬達5 1 6,其橫向地移動橫向傳動桿5 1 5以便備 置例如Υ及ρ ζ方向的動量;以及另一部縱向安裝在作用於 柱5 1 3之橫向傳動桿5 1 5上的線性馬達(未顯示),以便備置 例如X方向的動量。該容納該長行程驅動裝置的馬達室Μ保 持例如0 . 1毫巴以下的氣壓,但該室與該主要真空室V隔 離,所以該長行程驅動裝置不需要相容的高度真空。適合 於該長行程級薄板軸承5 2 1 a的一預先負載是由來自該孔區 域上的壓力負載及該長行程級薄板5 1 2的重量所產生之淨 力所備置。該長行程級的驅動裝置經底座5 5 4而作用於該 基座517上。因為該長行程級以實質固定的速度移動,所 以可避免平衡質量的需要。該中間級550的驅動裝置551可 以是一經由傳動桿上推動空氣軸承而作用的線性馬達裝 置,與圖3中所述者類似。該長行程級的大質量,大部份 是該長行程滑動密封板5 1 2,其作用如同該掃描級5 5 0的一 平衡質量。 該掃描級5 5 0及微調級5 1 4的電纜及供應線(未顯示)可予 以安排貫穿該馬達區間Μ及及該中空柱5 1 3的内部。該微調 級5 1 4的位置可經由位置檢測裝置5 5 5予以監視,該位置檢 測裝置可以是例如干涉計塑式。 具體實施例6 依據本發明的一種微影蝕刻裝置6之第六個具體實施例
O:\58\58390-910509.ptc 第26頁 1233535 _案號88108963 《/年f月f日 修正_ 五、發明說明(23) 顯示於圖1 0。該第六個具體實施例是該第五個具體實施例 的變化,同時一般具有多個微調級及掃描級,大部份以相 同的符號顯示。為簡潔之故,相同部份的說明省略。 於該第六個具體實施例中,該主要真空室V由一複雜的 滑動密封墊裝置予以密封,該裝置組成了中間真空室V2至 V5,其由各別的真空泵(未顯示)抽氣以降低真空程度。如 同先前的狀況,該主要真空室可維持1 0_7至1 0_8毫巴的真空 程度,同時該中間真空室v2至v5所維持的真空程度如下 ,例如: ν2 —— 2· 5x1 0_6 毫巴 V3 — 5xl0_4 毫巴 V4--0. 1 毫巴 V 5 — 1毫巴。 該複雜的滑動密封墊包括第一至第五滑動密封板6 6 1至 6 6 5,其共同位於該長行程級薄板6 6 0之上部表面所備置之 密封表面6 6 0 a上。在其他具體實施例中,較少的級便已足 夠。該第一、第三及第五滑動密封板6 6 1 、6 6 3及6 6 5自該 真空室牆向内投影,而且均具有一大小足以容納該長行程 級薄板6 6 0移動範圍的中央孔,以及該長行程級薄板在此 程度上的斷面。該第二及第四滑動密封板6 6 2及6 6 4自該長 行程級向外投影,並具有足夠大的外緣,於該長行程級薄 板的正常移動範圍中,不論其位置何在,皆將與上述奇數 的滑動密封板相重疊。同樣地,於該長行程級薄板6 6 0上 的該密封表面6 6 0 a被安排在一位置上,如此於該長行程級 薄板的所有位置中,其均直接相對於該第五滑動密封板
O:\58\58390-910509.ptc 第27頁 1233535 案號 88108963 曰 修正 五、發明說明(24) 6 6 5。 該第一及第二滑動密封板6 6 1及6 6 2共同隔離該第一中間 真空室V2及該第二中間真空室V3,該第三及第四滑動密封 板6 6 3及6 6 4共同隔離該第二中間真空室V3及該第三中間真 空室V4,而該第五滑動密封板6 6 5及密封表面6 6 0 a共同隔 離該第三中間真空室V4及該第四中間真空室V5。在每一狀 況中,選擇各相對薄板間的間隙以及重疊的範圍,以便確 定自較高壓力的室流向較低壓力的室之洩漏限制在各室泵 可容許的程度内。該第一及第二滑動密封板之間的間隙, 以及該第三及第四滑動密封板之間的間隙可為5 0 0毫米, 同時該第五滑動密封板6 6 5及密封表面6 6 0 a之間的間隙可 為1 0 0毫米。 於該第六個具體實施例中,該長行程級薄板6 6 0是在基 材6 1 7上由底部6 6 6所備置之(傳統的)空氣軸承所支撐。該 驅動裝置(未顯示)可與該第六個具體實施例中所述者相 同。 本發明以較佳的具體實施例描述如上;然而應瞭解的是 本發明並不侷限於以上描述。實際上,本發明曾以關於一 種微影蝕刻裝置的該晶圓級描述如上,但其亦適用於此類 裝置的光罩台(mask table)或任何其中一長行程操控器必 須饋入一種真空室的裝置。 元件符號說明 1 微影蝕刻投影裝置 2 微影蝕刻裝置 3 微影蝕刻裝置 4 微影蝕刻裝置 5 微影蝕刻裝置 6 微影蝕刻裝置
O:\58\58390-910509.ptc 第28頁 1233535 _案號88108963_?/年Jr月?曰 修正 五、發明說明(25) 1 1 牆 1 1 a 孔 12 滑動密封板 12 a 洞 1 2 b 重心
14 短擊晶圓支撐墊塊 16 驅動器 1 6 b 滑動級架 1 7 基材 1 2 1 上部表面 1 2 2 a三氧化二鋁牆 1 2 3 下部表面 2 1 空氣軸承 2 1 1 a空氣饋入管 2 1 1 c透氣塞 213 真空導管 2 1 4 南壓區 3 2 1 空氣軸承 3 3 0 訊框 3 3 2 輻射緩衝器 4 1 2 滑動密封板 4 1 2 b差動抽氣空氣軸承 4 2 1 a空氣軸承 4 4 0 底部 5 1 1 a 孔 5 1 2 長行程滑動密封板 13 支撐柱 15 傳動桿 1 6 a 軌道 1 6 c 空氣軸承 1 2 0 中間插入薄板 1 2 2 中間插入填充物 122b中空玻璃圓柱 1 2 4 持續的邊牆 21 1 空氣饋入器 21 lb擴大的圓柱體 2 1 2 洩露路徑 21 3a真空管 3 1 2 球型物 321a軸承表面 3 3 1 輻射緩衝器 411牆 4 1 2 a差動抽氣空氣軸承 421 滑動密封板 4 2 1 b空氣軸承 5 1 1 真空室牆 5 1 1 b下部表面 5 1 4 微調級 5 1 5 橫向傳動桿 O:\58\58390-9l0509.ptc 第29頁 1233535 _案號 88108963 五、發明說明(26) 5 1 6 線性馬達 5 2 1 長行程滑動密封板 5 2 1 b空氣軸承 5 5 1 掃描級 5 5 3 下部滑動密封板 5 5 5 位置檢測裝置 6 6 0 長行程級薄板 6 6 1 第一滑動密封板 6 6 3 第三滑動密封板 6 6 5 第五滑動密封板 修正 51 7 基座 5 2 1 a空氣軸承 5 5 0 中間級 5 5 2 上部滑動密封板 5 5 4 底座 6 1 7 基材 6 6 0 a密封表面 6 6 2 第二滑動密封板 6 6 4 第四滑動密封板
O:\58\58390-910509.ptc 第30頁 1233535 _案號88108963 ^)(年f月f日 修正 圖式簡單說明 第31頁 O:\58\58390-9l0509.ptc
Claims (1)
1233535 ——— — iv : _案號 ^8108963 Ή )年 r j月 1 日 ::^7¾正_ 六、申請專利範圍 I ’ ...紀命, 1 · 一種遠距操控裝置,用以部動穿過一真空 室牆上孔而饋入該真空室中的一物體,該操控裝置的特徵 包括: 一密封該孔的滑動密封墊,其可在至少一平行於該真空 室牆的方向移動,同時可保持該密封墊; 一機械性連接及物體支撐,其自該滑動密封之一可移動 部分延伸,並可被調適以支撐該物體,用以將該滑動密封 墊的移動傳送至該物體,使該外部的移動可施加於該真空 室之滑動密封墊之外部。 2. 如申請專利範圍第1項之裝置,其中該滑動密封墊包 括一大小足以覆蓋該操控裝置所需移動範圍中該孔之所有 位置的一滑動密封板。 3. 如申請專利範圍第2項之裝置,其中該滑動密封板包 括一夾層結構。 4. 如申請專利範圍第3項之裝置,其中該夾層結構具有 一密封的外罩及一個透氣的内層,該内層的空氣被排除。 5 .如申請專利範圍第4項之裝置,其中該透氣内層係選 自下述物件,包括:一格狀橫牆框架、一列中空圓柱、陶 瓷發泡材料及玻璃發泡材料。 6 .如申請專利範圍第1項之裝置,其中該滑動密封墊包 括一安裝於一環狀軸承環周圍的球型物,其大小足以覆蓋 該操控裝置所需移動範圍中該孔之所有位置。 7.如申請專利範圍第6項之裝置,其中該球型物作成使 其上之淨負載實質僅需該球形物之中張力或壓力足以阻擋
O:\58\58390-940307.ptc 第32頁 1233535 _案號88108963_年月日__ 六、申請專利範圍 之。 8 .如申請專利範圍第2項之裝置,除了該包含該物體的 真空室外,尚包括於該滑動密封板另一側所備置之一第二 真空室,因而降低了橫跨該滑動密封板的不同壓力。 9 .如申請專利範圍第8項之裝置,其尚包括所備置之至 少一第二滑動密封墊,以便密封該第二真空室牆上的一 孔,並以至少一平行於該第二真空室牆的方向移動,以及 一第二連接,以便將該第二滑動密封墊的移動傳送給該滑 動密封墊,使該第二真空室的該第二滑動密封墊得以進行 外部的移動。 1 0.如申請專利範圍第1項至第9項裝置中之任一項裝置 ,其尚包括該滑動密封墊與該真空室牆之間所備置之一軸 承。 1 1 .如申請專利範圍第9項之裝置,其中該軸承包括一氣 體軸承,以便於該滑動密封墊與該真空室牆之間維持一預 定的分離,及該氣體軸承與該真空室之間所備置之抽空裝 置,以便減少自該氣體軸承流至該真空室的氣體洩漏。 1 2. —種微影蝕刻投影裝置,包括: 一供應輻射投影光束之照射系統; 一第一可移動物件台(object table),其附有一光罩 支架可支撐一光罩; 一第二可移動物件台(object table),其附有一基材 支架可支撐一基材;及 一將該光罩的照亮部份顯影於該基材目標區之投影系
O:\58\58390-940307.ptc 第33頁 1233535 _案號88108963_年月曰 修正_ 六、申請專利範圍 統;其特徵為: 一具有一面圈住至少一該第一及第二物件台(object table)之牆的真空室,其中該真空室牆内具有一孔; 一密封該孔的滑動密封墊,其可在至少一平行於該真 空室牆的方向移動同時可保持該孔的密封; 一機械連接,以便將該滑動密封墊的移動傳送給該真 空室内的該物件台(〇 b j e c t t a b 1 e ),以便形成相關的移 動;及 移動該滑動密封墊的定位裝置,藉此可於該真空室内 移動該物件台(〇 b j e c t t a b 1 e )。 1 3 .如申請專利範圍第1 2項之裝置,其中該孔位於該真 空室的地板,而該機械連接包括一自該滑動密封塾向上投 影的柱子,並支撑該真空室中的該物件台(〇 b j e c t t a b 1 e ) 〇 1 4 .如申請專利範圍第1 3項之裝置,其中該滑動密封墊 包括一滑動密封板及該滑動密封板與該真空室地板之間所 備置之一軸承,以便讓該滑動密封板移動。 1 5 .如申請專利範圍第1 3項之裝置,其中該滑動密封墊 包括一安裝於一環狀訊框周圍的球型物;該環狀訊框至少 安裝一抑制器以支撐該柱子,以及該環狀訊框與該真空室 地板之間所備置之一軸承,以便讓該環狀訊框移動。 1 6.如申請專利範圍第1 4項或第1 5項之裝置,其中該軸 承包括一氣體軸承以便維持該真空室地板預定的淨空,及 該氣體軸承與該真空室之間所備置之抽空裝置,以便減少
O:\58\58390-940307.ptc 第34頁 1233535 _案號88108963_年月日_ί±^_ 六、申請專利範圍 自該氣體軸承流至該真空室的氣體洩漏。 1 7. —種微影蝕刻投影裝置,包括: 一供應輻射投影光束之照射系統; 一第一可移動物件台(object table),其附有一光罩 支架可支撐一光罩; 一第二可移動物件台(object table),其附有一基材 支架可支撐一基材;及 一將該光罩的照亮部份顯影於該基材目標區之投影系 統;其特徵為: 一容納至少一該第一及第二物件台(object table)的 第一真空室; 一該第一真空室鄰近的第二真空室; 一支柱,其自該第二真空室延伸至該第一真空室,並 可移動地支撐該第一真空室中所容納的該物件台(object table); 一連接至該支柱的滑動密封板,以便分隔該第一真空 室及該第二真空室,該滑動密封板可在其平面上以至少一 方向移動並向外延伸該第一真空室及該第二真空室;及 位於該第一真空室及該第二真空室外部的定位裝置, 以便移動該滑動密封板,因而可移動該第一真空室中的該 物件台(object table) 〇 1 8. —種微影蝕刻投影裝置,包括: 一供應輻射投影光束之照射系統; 一第一可移動物件台(object table),其附有一光罩
O:\58\58390-940307.ptc 第35頁 1233535 _案號88108963_年月日__ 六、申請專利範圍 支架可支撐一光罩; 一第二可移動物件台(object table),其附有一基材 支架可支撐一基材;及 一將該光罩的照亮部份顯影於該基材目標區之投影系 統;其特徵為: 一容納至少一該第一及第二物件台(object table)的 第一真空室; 一該第一真空室鄰近的第二真空室,其被一具有一孔 的真空室牆自此處分隔; 該第二真空室所備置之一第一平台,其可在一第一平 面上移動一第一範圍; 該第一平台所支撐的一第二平台,其可在一第二平面 上移動一第二範圍,該第一及第二平面實質上相平行,而 該第一移動範圍大於該第二移動範圍,該第二平台穿過該 孔支撐第一真空室中的該物件台(object table);及 一連接至該第一平台的一環狀滑動密封板,該滑動密 封板相對於部份的該真空室牆及該第二平台,以便在整個 該第一及第二移動範圍中分隔該第一及第二真空室。 1 9 .如申請專利範圍第1 8項之裝置,其中該第一真空室 中的該物件台(object table)包括一具有第三移動範圍的 第三平台,該第三移動範圍大於該第二移動範圍。 2 0 .如申請專利範圍第1 8項或第1 9項之裝置,其尚包括 移動該第一平台的定位裝置,該定位裝置係在一區間中所 備置;及一第二滑動密封墊,以便在該第一平台的第一移
Q:\58\58390-940307.ptc 第36頁 1233535 _案號88108963_年月日__ 六、申請專利範圍 動範圍中將該區間與該第二真空室分離。 2 1 .如申請專利範圍第2 0項之裝置,其中·· 該第二真空室藉著具有一第二孔的第二真空室牆與該 區間分離, 該第一平台跨越該第二孔並具有與環繞該第二孔之該 第二真空室牆相對之一第一表面;及 該第二滑動密封墊包括該第一表面及該第一表面與該 第二真空室牆之間所提供的一軸承。 2 2.如申請專利範圍第2 0項之裝置,其中該第二滑動密 封墊包括一第一多重環狀薄板,其自該第二真空室的内牆 向内延伸,及一第二多重環狀薄板,其自該第一平台向外 延伸;該第一及第二多重環狀薄板相互平行、互插及重 疊,以便於該第一平台的第一移動範圍中於該第二真空室 與該區間之間備置一迷宮式密封件。 2 3 . —種製造一基材之方法,包括: 一供應輻射投影光束之照射系統; 一第一可移動物件台(object table),其附有一光罩 支架可支撐一光罩; 一第二可移動物件台(object table),其附有一基材 支架可支撐一基材;及 一將該光罩的照亮部份顯影於該基材目標區之投影系 統,其特徵為: 一具有一面封入至少一該第一及第二物件台(object table)之牆的真空室,其中該真空室牆内具有至少一孔;
O:\58\58390-940307.ptc 第37頁 1233535 案號 88108963 A_ 曰 修正 六、申請專利範圍 一密封該孔的滑動密封墊,其可在至少一平行於該真 空室牆的方向以預設的範圍移動同時可保持該孔的該密封 墊; 一機械性連接,用以將該滑動密封墊的移動傳送給該 真空室内的該物件台(〇 b j e c t t a b 1 e ),以便造成相對應的 移動;及 移動該滑動密封墊的定位裝置,藉此可於該真空室内 移動該物件台(〇 b j e c t t a b 1 e );該方法包括下述步驟: 於該第一物件台(object table)上安裝一光罩; 於該第二物件台(object table)上安裝一基材;及 將該基材曝露於該光罩的一影像中。
O:\58\58390-940307.ptc 第38頁
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP99201220 | 1999-04-19 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TWI233535B true TWI233535B (en) | 2005-06-01 |
Family
ID=8240116
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW088108963A TWI233535B (en) | 1999-04-19 | 1999-05-31 | Motion feed-through into a vacuum chamber and its application in lithographic projection apparatuses |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US6445440B1 (zh) |
JP (1) | JP3688181B2 (zh) |
KR (1) | KR100554885B1 (zh) |
TW (1) | TWI233535B (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103238112A (zh) * | 2010-09-07 | 2013-08-07 | 株式会社尼康 | 曝光装置、移动体装置、平板显示器的制造方法、及元件制造方法 |
TWI693481B (zh) * | 2010-09-07 | 2020-05-11 | 日商尼康股份有限公司 | 曝光裝置、曝光方法、平板顯示器之製造方法、及元件製造方法 |
Families Citing this family (37)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI242111B (en) * | 1999-04-19 | 2005-10-21 | Asml Netherlands Bv | Gas bearings for use in vacuum chambers and their application in lithographic projection apparatus |
TWI233535B (en) * | 1999-04-19 | 2005-06-01 | Asml Netherlands Bv | Motion feed-through into a vacuum chamber and its application in lithographic projection apparatuses |
US6734947B2 (en) * | 2000-11-17 | 2004-05-11 | Nikon Corporation | Quick chamber seals |
TW591342B (en) * | 2000-11-30 | 2004-06-11 | Asml Netherlands Bv | Lithographic projection apparatus and integrated circuit manufacturing method using a lithographic projection apparatus |
EP1256844A1 (en) * | 2001-05-09 | 2002-11-13 | ASML Netherlands B.V. | Lithographic apparatus |
JP4496678B2 (ja) * | 2001-06-29 | 2010-07-07 | 日本精工株式会社 | 位置決め装置 |
US7059607B2 (en) * | 2001-07-25 | 2006-06-13 | Nsk Ltd. | Positioning apparatus |
US6765650B2 (en) * | 2001-08-09 | 2004-07-20 | Nikon Corporation | Vacuum compatible air bearing stage |
DE60332681D1 (de) * | 2002-01-22 | 2010-07-08 | Ebara Corp | Trägerplattevorrichtung |
JP2004146492A (ja) * | 2002-10-23 | 2004-05-20 | Canon Inc | Euv露光装置 |
US7282821B2 (en) * | 2002-01-28 | 2007-10-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Linear motor, stage apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing apparatus |
US20030155882A1 (en) * | 2002-02-19 | 2003-08-21 | Nikon Corporation | Anti-gravity mount with air and magnets |
DE60317407T2 (de) * | 2002-06-13 | 2008-09-18 | Asml Netherlands B.V. | Lithographischer Apparat und Verfahren zur Herstellung eines Artikels |
JP4175086B2 (ja) * | 2002-10-29 | 2008-11-05 | 日本電気株式会社 | 検査用ウエハ支持装置及び検査用ウエハ支持方法 |
WO2005047979A2 (en) * | 2003-11-06 | 2005-05-26 | Carl Zeiss Smt Ag | Optical system |
US7034924B2 (en) * | 2004-01-12 | 2006-04-25 | Aslm Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
KR101119814B1 (ko) * | 2004-06-07 | 2012-03-06 | 가부시키가이샤 니콘 | 스테이지 장치, 노광 장치 및 노광 방법 |
US7394076B2 (en) | 2004-08-18 | 2008-07-01 | New Way Machine Components, Inc. | Moving vacuum chamber stage with air bearing and differentially pumped grooves |
US7292317B2 (en) * | 2005-06-08 | 2007-11-06 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method utilizing substrate stage compensating |
TWI457193B (zh) * | 2006-03-02 | 2014-10-21 | Sumitomo Heavy Industries | Stage device |
US7642523B1 (en) * | 2006-05-02 | 2010-01-05 | New Way Machine Components, Inc. | Vacuum chamber stage with application of vacuum from below |
CN101461026B (zh) * | 2006-06-07 | 2012-01-18 | Fei公司 | 与包含真空室的装置一起使用的滑动轴承 |
US8598524B2 (en) * | 2006-06-07 | 2013-12-03 | Fei Company | Slider bearing for use with an apparatus comprising a vacuum chamber |
JP5141979B2 (ja) * | 2006-09-29 | 2013-02-13 | 株式会社ニコン | ステージ装置および露光装置 |
TW200907597A (en) * | 2007-06-04 | 2009-02-16 | Nikon Corp | Environmental control apparatus, stage apparatus, exposure apparatus and device manufacturing method |
FR2923946A1 (fr) * | 2007-11-21 | 2009-05-22 | Alcatel Lucent Sas | Equipement pour la fabrication de semi-conducteurs, dispositif de pompage et porte-substrat correspondant |
US8598538B2 (en) * | 2010-09-07 | 2013-12-03 | Nikon Corporation | Movable body apparatus, object processing device, exposure apparatus, flat-panel display manufacturing method, and device manufacturing method |
US20120064460A1 (en) * | 2010-09-07 | 2012-03-15 | Nikon Corporation | Movable body apparatus, object processing device, exposure apparatus, flat-panel display manufacturing method, and device manufacturing method |
NL2008186A (en) * | 2011-03-14 | 2012-09-17 | Asml Netherlands Bv | Projection system, lithographic apparatus and device manufacturing method. |
WO2013035025A1 (en) | 2011-09-06 | 2013-03-14 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Device for moving objects in a vacuum environment |
CN104880911B (zh) * | 2014-02-28 | 2018-01-30 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 一种光刻机工件台及其垂向位置初始化方法 |
US9449805B2 (en) * | 2014-09-23 | 2016-09-20 | Agilent Technologies Inc. | Isolation of charged particle optics from vacuum chamber deformations |
JP6707964B2 (ja) * | 2016-04-12 | 2020-06-10 | 日本精工株式会社 | 位置決め装置及び回転機構 |
JP6707963B2 (ja) * | 2016-04-12 | 2020-06-10 | 日本精工株式会社 | 位置決め装置 |
CN110892333B (zh) * | 2017-07-28 | 2023-05-16 | Asml荷兰有限公司 | 颗粒抑制系统和方法 |
NL2021336A (en) | 2017-07-28 | 2019-02-01 | Asml Netherlands Bv | Particle suppression systems and methods |
CN111344638B (zh) * | 2017-11-14 | 2023-04-18 | Asml荷兰有限公司 | 用于光刻设备的载物台轴承 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4191385A (en) | 1979-05-15 | 1980-03-04 | Fox Wayne L | Vacuum-sealed gas-bearing assembly |
JPS5953659B2 (ja) | 1980-04-11 | 1984-12-26 | 株式会社日立製作所 | 真空室中回転体の往復動機構 |
US4993696A (en) | 1986-12-01 | 1991-02-19 | Canon Kabushiki Kaisha | Movable stage mechanism |
DE4117639A1 (de) | 1990-05-31 | 1991-12-05 | Toshiba Kawasaki Kk | Synchrotronstrahlungsgeraet |
US5301013A (en) * | 1991-07-30 | 1994-04-05 | U.S. Philips Corporation | Positioning device having two manipulators operating in parallel, and optical lithographic device provided with such a positioning device |
US5677758A (en) * | 1995-02-09 | 1997-10-14 | Mrs Technology, Inc. | Lithography System using dual substrate stages |
US5825470A (en) * | 1995-03-14 | 1998-10-20 | Nikon Corporation | Exposure apparatus |
US6317479B1 (en) * | 1996-05-17 | 2001-11-13 | Canon Kabushiki Kaisha | X-ray mask, and exposure method and apparatus using the same |
TWI233535B (en) * | 1999-04-19 | 2005-06-01 | Asml Netherlands Bv | Motion feed-through into a vacuum chamber and its application in lithographic projection apparatuses |
EP1052551A3 (en) | 1999-04-19 | 2003-06-25 | ASML Netherlands B.V. | Motion feed-through into a vacuum chamber and its application in lithographic projection apparatus |
EP1098225A3 (en) | 1999-11-05 | 2002-04-10 | Asm Lithography B.V. | Lithographic projection apparatus with purge gas system and method using the same |
US6639650B2 (en) * | 1999-12-21 | 2003-10-28 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Light exposure method, light exposure apparatus, pellicle and method for relieving warpage of pellicle membrane |
JP2001267200A (ja) * | 2000-03-14 | 2001-09-28 | Nikon Corp | ガス置換方法及び装置、並びに露光方法及び装置 |
WO2001084241A1 (en) | 2000-05-03 | 2001-11-08 | Silicon Valley Group, Inc. | Non-contact seal using purge gas |
-
1999
- 1999-05-31 TW TW088108963A patent/TWI233535B/zh not_active IP Right Cessation
-
2000
- 2000-04-17 KR KR1020000020026A patent/KR100554885B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2000-04-17 US US09/551,229 patent/US6445440B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2000-04-17 JP JP2000114656A patent/JP3688181B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2002
- 2002-07-17 US US10/196,712 patent/US6816238B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-11-06 US US10/288,566 patent/US6903805B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103238112A (zh) * | 2010-09-07 | 2013-08-07 | 株式会社尼康 | 曝光装置、移动体装置、平板显示器的制造方法、及元件制造方法 |
US8988655B2 (en) | 2010-09-07 | 2015-03-24 | Nikon Corporation | Exposure apparatus, movable body apparatus, flat-panel display manufacturing method, and device manufacturing method |
US9250543B2 (en) | 2010-09-07 | 2016-02-02 | Nikon Corporation | Exposure apparatus, movable body apparatus, flat-panel display manufacturing method, and device manufacturing method |
CN103238112B (zh) * | 2010-09-07 | 2016-05-25 | 株式会社尼康 | 曝光装置、移动体装置、平板显示器的制造方法、及元件制造方法 |
US9921496B2 (en) | 2010-09-07 | 2018-03-20 | Nikon Corporation | Exposure apparatus, movable body apparatus, flat-panel display manufacturing method, and device manufacturing method |
US10409176B2 (en) | 2010-09-07 | 2019-09-10 | Nikon Corporation | Exposure apparatus, movable body apparatus, flat-panel display manufacturing method, and device manufacturing method |
TWI693481B (zh) * | 2010-09-07 | 2020-05-11 | 日商尼康股份有限公司 | 曝光裝置、曝光方法、平板顯示器之製造方法、及元件製造方法 |
US10725389B2 (en) | 2010-09-07 | 2020-07-28 | Nikon Corporation | Exposure apparatus, movable body apparatus, flat-panel display manufacturing method, and device manufacturing method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3688181B2 (ja) | 2005-08-24 |
KR100554885B1 (ko) | 2006-02-24 |
JP2000331930A (ja) | 2000-11-30 |
US6816238B2 (en) | 2004-11-09 |
KR20010014745A (ko) | 2001-02-26 |
US20020180946A1 (en) | 2002-12-05 |
US6903805B2 (en) | 2005-06-07 |
US20030098960A1 (en) | 2003-05-29 |
US6445440B1 (en) | 2002-09-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI233535B (en) | Motion feed-through into a vacuum chamber and its application in lithographic projection apparatuses | |
US6603130B1 (en) | Gas bearings for use with vacuum chambers and their application in lithographic projection apparatuses | |
US6421112B1 (en) | Movable support in a vacuum chamber and its application in lithographic projection apparatuses | |
TWI658332B (zh) | 移動體裝置、曝光裝置、計測裝置及裝置製造方法 | |
JP5141979B2 (ja) | ステージ装置および露光装置 | |
US8749753B2 (en) | Movable body apparatus, exposure apparatus and optical system unit, and device manufacturing method | |
TWI536111B (zh) | 曝光裝置、曝光方法及裝置製造方法 | |
EP1052551A2 (en) | Motion feed-through into a vacuum chamber and its application in lithographic projection apparatus | |
KR102130964B1 (ko) | 노광 장치 및 디바이스 제조 방법 | |
KR100535207B1 (ko) | 다중-스테이지 구동 장치 및 리소그래피 투영 장치에서의 그 적용 | |
TW559688B (en) | Lithographic projection apparatus, vacuum apparatus, low-stiffness seal for sealing between vacuum chamber wall and elongate rod, device manufacturing method and integrated circuit manufactured thereof | |
JP2005012009A (ja) | 基板保持装置、ステージ装置及び露光装置 | |
EP1052550A2 (en) | Multi-stage drive arrangements and their application in lithographic projection apparatus | |
EP1052552A2 (en) | Gas bearings for use with vacuum chambers and their application in lithographic projection apparatus | |
EP1052549A2 (en) | Moveable support in a vacuum chamber and its application in lithographic projection apparatus | |
EP1052553A2 (en) | Isolation mounts for use with vacuum chambers and their application in lithographic projection apparatus | |
US10761435B2 (en) | Reticle clamping device | |
JP3713479B2 (ja) | 平板投影装置および素子製造方法 | |
EP1310828A1 (en) | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |