TW583401B - Open circuit and short circuit test for fine pitch circuits - Google Patents

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583401 案號 90126109 年月日 曰 五、發明說明（1) Μ 本專利所發明是對細間距電路板之開路及短路測試提出測 試機制。因細間距（f i n e p i t c h )電路板，其線寬（1 i n e width)及線與線的距離（line space) 一定也細，所以利用 |探針來測試開路及短路已不太可行，尤其對軟性電路板會 h有接觸不佳的現象。 軟性電路板應用於晶片在膠層上（C0F，chipon F 11 m )目前很普遍，特別是無膠的軟性電路板。傳統的軟 「性電路板膠層與銅落之間須黏膠層（Adhesive 來 結合，然而無膠的軟性電路板是指膠層與銅箔之間無黏膠 層（Adhesive layers)，如此除了減少材料成本、增加柔 軟·性及製程無溢膠現象，可以設計更細及更密的電路。因 為扃頻訊號需要阻抗匹配，亦既，為了維持相同的阻抗， 當線寬變小則厚度也要變小。所以除了細間距的電路外， ，有高密度線路的問題，若應用傳統探針來測試開路及短 路，除了耗時外，其測試可靠性有待商榷。 晶片在膠層上（C0F)的架構是將晶片直接裝置 電路板上，除了利用軟性電路板的柔軟性外，另一邛 二所佔的空間及晶片腳位封裝。因晶片的有 =夕:位’所以軟性電路板相對的有相同細間 多腳 液晶顯不器的破璃上或電腦影像處理相， 膠層的細間距’其它電路的間距則比 本專利所發明是利甩一具有適當 一 觸軟性電路板相對於晶片要:黏接位置： = ==接

位’因其腳位有相同的細間' 距的T 一~__1— 1 ^ 所以^I腳位間有相同的 第6頁 2003. 08.29.〇06 58134轵ρ· ^修正 90126109 Λ__η 曰 修正 五、發明說明（2) 電阻值。軟板另一端是將銜接其它電路較寬間距的腳位， 選擇一對鄰近兩腳位，其中一腳位送一定電壓，並量測與 另一鄰近腳位間的電阻值，就可以判別兩線路間的情形。 例如，適當電阻的物質造成每細間距的腳位之間有5 0 0歐 姆，則較粗間距鄰近兩腳位，因經過電路及細間距的腳位 間的5 0 0歐姆， 若兩線路正常可量出接近500歐姆的電阻值， % ，: ? 月 I R Ή. 若兩線路有短路則量出接近〇歐姆的電阻值， 若兩線路有開路則量出接近無限大歐姆的電阻值， 利用這三個電阻值就可以判別兩線路間的情形。 -本專利所發明之電阻計，亦可用兩階段移動電阻計掃 描式來測試，首先測兩線路是否有不正常短路，電阻計其 f 一腳位送一固定電壓，電阻計至少有另一腳位量測其電 壓，也就是若兩線路有不正常短路，則量出接近〇歐姆的 電阻值，也就是另一腳位量測其電壓接近所送之電壓，若 m正常短路’正常開路則量出接近無限大歐姆 的電阻值，也就是另一腳位晉 m ^ ^ IV ^ 里測其電壓接近零，如此依序 掃描就可以付到一電壓時戾固 二階段則利用一具有適當電“的二成不正常短路測試。第 同時接觸軟性電路板相對於1 最好接近◦歐姆）， 零，如此依序掃描就可以得另一腳位量測其電壓接近 77mm_____________士--^電壓時序圖，完成不正常

2003. 08. 29. 007 的腳位，相同電阻計依序掃^片，黏接位置的所有細間距 路，則量出接近0歐姆的電阻田信，右兩線路沒有不正常開 電壓接近所送之電壓，若兩’也就是另一腳位量測其 过無限大歐姆的電阻值，〈、不正常開路’則量出接 5Β^01 “ 7修i 補鳥 號 90126109 _ 年月 日 修正 五、發明說明（3) 開路測試。 本專利所發明亦可只對其中一腳位送一定電壓，可時 量測與其他腳位間的情形。例如，腳位丨丨送一定電壓，量 測腳位1 2、腳位1 3、腳位1 4與腳位1 1之間的電阻值， 若四個腳位線路正常可量出，

¥ 腳位11與腳位12間有接近500歐姆的電阻值， 腳位11與腳位13間有接近1〇〇〇歐姆的電阻值， 腳位11與腳位1 4間有接近1 5 0 0歐姆的電阻值。 若腳位1 2與腳位1 3間有短路可量出， 腳位11與腳位1 2間有接近5 0 0歐姆的電阻值， 丨腳位11與腳位1 3間有接近5 0 〇歐姆的電阻值， 腳，位11與腳位1 4間有接近1 〇 〇 〇歐姆的電阻值。 :若腳位1 3與腳位1 4間有短路可量出， ^腳位11與腳位12間有接近500歐姆的電阻值， 脚位11與腳位1 3間有接近1 〇 〇 〇歐姆的電阻值， 腳位11與腳位14間有接近1〇〇〇歐姆的電阻值。 若腳位1 2開路可量出，

腳位11與腳位1 2間有接近無限大歐姆的電阻值 腳位11與腳位1 3間有接近1 0 0 0歐姆的電阻值， 腳位11與腳位1 4間有接近1 5 0 0歐姆的電阻值。 若腳位1 3開路可量出， 腳位11與腳位1 2間有接近5 0 0歐姆的電阻值， 腳位11與腳位13間有接近無限大歐姆的電阻值， 脚位11與腳位1 4間有接近1 5 :0 0歐姆的電阻值。 若腳位1 4開路可量出， Λ

第8頁 2003. 08.29. 008 583401 修正

五、發明說明（4) 腳位11與腳位12間有接近5〇〇歐姆的電阻值， 腳位11與腳位13間有接近1〇〇〇歐姆的電阻值， 腳位1 1與腳位1 4間有接近無限大歐姆的電阻值。 這是一個很簡單的串聯電阻電路的問題。 軟板另一端將銜接其它電路較寬間距的腳位，若其 距仍然太細，本專利所發明亦可利用一具有適當異方ς二 電的物質，同時接觸軟性電路板較寬間距的腳位， 位有相同的間距，所以每個腳位間有非常大相同的^且 值，其電阻值最好遠大於細間距腳位間的電阻值。此 ::ΐ Π :距的腳位直接設計一個接頭(connect。:） 阻1測計。i述的適當異方性導電的物質 ) 畜異方性壓力導電橡膠（pressure c〇nd α 串聯小電阻並聯大電阻電路的問題。 疋個很間早 依據傳導線路最細的間距設計適當的大 用在此電壓是否發生崩潰，來：傳= ?阻值的變化情形，可以測試該對傳導；：「對傳導線路 疋否—致，也就是製程的品質。 、、友路細間距的間距 觸兩：利用一具有適當電阻的物胃，同時接 :短路情形，傳輸線組的另一端，；，來測量其開路 異方性導電的物質來測試。 亦可用一具有適當

90126109 曰 修正 五、發明說明（5) 圖示之簡單說明 ·!;：[ 圖一顯不出一 圖二顯示依據 41，同時接觸 圖三顯示依據 是由具有適當 的。其測試方 圖四顯示依據 的物質4 2，同 $位，有相同的間 1遠大於具有適 成的電阻值。 .Λ 4 2，設計一個 組傳輸線並編號11至15平.面圖。 本發明實施例，利用一具有適當電阻的物質 編號11至15傳輸線。 貝 本發明實施例圖二的等效電路，其中電阻值 電阻的物質41在編號1 1至15傳輸線間所造成 法如前述腳位11至14的測試情形。 本發明實施例，利用一具有適當異方性導電 時接觸編號11至15傳輸線的另一端，因其腳 距，加上異方性導電的特性，其電阻值最好 當電阻的物質41在編號11至15傳輸線間所造 此架構則可以將具有適當異方性導電的物質 接頭（connector)經由導線編號21至25銜接 電阻量 圖五顯 21 至 25 圖六顯 圖七顯 導電或 3 5及編 具有適 其開路 有適當 測計。 不出依 間的電 示兩組 示出依 適當電 號51至 當電阻 與短路 異方性 據本發明實施例圖四的等效電路，導 阻是由異方性導電42所造成。傳輪線編號31至35及編號51至55。 據本發明實施例，利用另一具有適當 阻的物質4 3，同時接觸兩組傳輸線編 5 5來組成一組新的傳輪線。可再利用 的物質41接觸新的傳輸線組的一端， 情形。新的傳；·輪線組的另一端，亦可 導電的物質4 2來k試。 線編號 異方性 號3 1至 上述一 來測量 用一具

第10頁 2003. 08. 29.010 5 护，f日修:正——…補 90126109 _η 曰 修正 五、發明說明（6) 圖式中之參考數號 11至15，21至25，31至35，51至55 傳輸線 41 一具有適當電阻的物質 42 —具有適當異方性導電的物質 43 —具有適當電阻或異方性導電的物質 rrl τη -Vi

第11頁 2003.08.29.011

90126109 年月曰 修正 圖式簡單說明 圖7顯示出一組傳輸線並編號11至1 5平面圖。 圖二顯示依據本發明實施例，一組傳輸線利用 電阻的物質41，同時接觸編號11至15傳輸線。 圖三顯示依據本發明實施例圖二的等效電路， 是由具有適當電阻的物質41在編號11至15傳輪 的0 圖四顯示依據本發明實施例，利用一具有適當異方性導帝 的物質42，同時接觸編號11至15傳輸線的另一端。 包 圖五顯示出依據本發明實施例圖四的等效電路，導線編號 2 1至2 5間的電阻是由異方性導電4 2所造成。 圖六顯示兩組傳輸線編號31至35及編號51至55。 圖;七顯示出依據本發明實施例，利用另一具有適當異方性 導電或適當電阻的物質43，同時接觸兩組傳輸線:號3丨至 3 5及編遗5 1至5 5來組成一組新的傳輸線。 圖式中之參考數號 rr .相_ ~具有適當 $中電阻值 ^間所造成 11至15 ’ 21至25，31至35 ’ 51至55傳輸線 41 一具有適當電阻的物質 42 —具有適當異方性導電的物質 43 —具有適當電阻或異方性導電的物質

Claims (1)

1. f驚、f正丨 修正 a Hk 90126109 六、申請專利範圍 軟性電路板開路及短路測試架構 夕包含一組傳導線路；一適當雷 電路板至 線路的-端，使得該組傳導線路 & 接觸該組傳導 有—相對應電阻值，·在該組傳導線、母一對傳導線路間 路銜接-電阻計，來量測每對傳每-對傳導線 每-對傳導線路的開路及短路傳v線路的電阻值，以測試 2·如申請專利範圍第1項之一稽 試架構，該組傳導線路一端是細人門電路板開路及短路測 t 距；該適當電阻性的物質接觸該二是較粗間 端。 x、、且傳導線路的細間距一 3.如申請專利範圍第2項之一種 老t試架構，該組傳導線路較粗性電路板開路及短路測 J；導線，量測該適當的傳導線：其餘擇-適當的傳 q可以同時測試每一傳導線路 、、傳V線間的電阻值， 如申請專利範圍第！項之—種汗及短路。 5·如申請專利範圍第丨項之一籀 試架構，該每對傳導線路的電人#生電路板開路及短路測 情形，可以測試該組傳導值，依據該電阻值的變化 也就是製程的品質。 、、、田間距一端的間距一致性， 6· —種軟性電路板開路及短 g包含一組傳導線路；一 、u式架構，該軟性電路板至 ’备Λ電阻性的物質接觸該組傳導 試架構，該電阻計，依攄人/電路板開路及短路測 ||大電壓，可以利用崩潰電壓測試，，路細間距設計適當的 。間距，也就是製程的品質。母一對傳導線路間的最小 第13頁 2003. 08. 29.013 9咖， 六、申請專利範圍 -----2:-这-絛疋― 一相對應電阻^該f f導線路一 #的每一對傳導線路間有 導線路另-端，該適= :電的物質接觸在該組傳 電阻計，來量制—田、、方性導電的物質的另一端銜接一 導線路的開路及ί路傳導線路的電阻值，以測試每一對傳 試架構，該組傳^ :6路項之:θ種軟性電路板開路及短路测 距；該適當電广端是較粗間 端，該適者異方道ϊ質接觸傳導線路的細間距一 距另一端Γ 導電的物質接觸在該組傳導線路較粗間 8 ·.如申睛專利範圍第7頊 試架構，該適電路板開路及短路測 、登埋'異 導電的物質的另-端銜接電阻計， 、 k當的傳導線，量測該適當的傳導線 線間的電阻值，可以同時測2線與其餘的傳導 路。 』吋而5式母一傳導線路的開路及短 9 · 一種軟性電路板開路及短路測試架 .it 傳=路;用兩階段掃描式來測 =短路阻計其中一腳位送一固定電壓， 至 腳ΪΓ測其電μ ’如&依序掃描就可以得到一電 ^序圖’元成不正常短路測試；第二階段則利用一具有 適‘電阻的物質，同時接觸所有細間距的腳位，該電阻計 ^序掃描，可以得到另-電麗時序圖，完成不正常開路測 —種軟性電路板開路及蟑，測試架構，該軟性電路板 i^l ΙΗΒ 第14頁 2003. 08. 29.014 Γ k 糸： η :1 :5 :户/ •摘 至少包含二組傳導綾踗·_ $ a_ ^ . 、 ’ I畜導電物質接觸該二缸傳導 ϊ=ί;;ΓΓ線；用兩階段掃描式來測試、 吊短路，電阻計其中一腳位送一固定電 阻 一雷壓蚌庠R — h、電£，如此依序掃描就可以得到 且：ΐ:: 不正常短路測試；第二階段則利用- 的物質1時接觸所有細間距的腳位：電 阻计依序知描，可以得到一 人 路測試。 f J另電屋時序圖，完成不正常開 路及短^彻構，㈣性電路板 傳導線路也忐 拓，適虽電阻性的物質接觸該二組 傳輸線，胃組新的傳輸線，另-適 新的傳導線路一端的每一 射使得該組 值；在該組新的傳導線路另于傳：：路間有-相對應電阻 電阻計，來量測每對新的傳導線=對傳導線路銜接一 對新的傳導線路的開路及短路二、電阻值’以測試每一 1 2 · —種軟性電路板開路及短 至少包含：組傳導線路；—適/1構’該/性電路板 該二組傳導線路組成一組新i;::異質接觸 另一適當電阻性的物質接觸該^、，、該、，且新的傳輸線， 得該組新的傳導線路-端的二對使 .接-電阻計，▲量測每對新的傳：：母：對：導線路銜 每一對新的傳導線路的開路:‘及=線路的電阻值，以測試