TW409420B - The image sensor structure and the manufacture method thereof - Google Patents
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409420 A7
I 4tv\ I'.doc/OOS 五、發明説明(丨) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本發明是有關於一種影像感測器(image sensor)的結構 及其製造方法,且特別是有關於一種提高藍光在影像感測 器(image sensor)穿透率之影像感測器的結構及其製造方 法。 目前使用之影像感測器大多爲電荷耦合元件(Charge Coupled Device ; CCD)。電荷耦合元件已發展多年,技術 成熟且功能極佳。金氧半導體影像感測器相對於電荷耦合 元件發展時間較短,解析度和品質上不如電荷耦合元件, 但金氧半導體影像感測器具有其它優點,例如利用金氧半 導體製程技術可以降低生產成本。 雖然,以金氧半導體做爲影像感測器的技術尙未成 熟1 一切都還處於製作的硏發階段,但因爲金氧半導體與 電荷耦合元件比較,金氧半導體較易於與後段影像處理等 其它晶片整合,使積集度大幅提升,不但降低成本,也可 縮小外型尺寸 '大幅降低耗電量,並可提升產品附加價 値,因此金氧半導體很可能取代電荷耦合元件,成爲影像 感測器的技術主流。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 而在以金氧半導體作爲影像感測器的技術中,較難克 服的問題更包括不同波長的光線在透過保護半導體結構 的保護層(passivation)時,光線是否具有足夠的穿透率入射 到半導體基底的高電場空乏區,而使空乏區因光能的激發 產生電子-電洞對,進而使本質空乏區間發生電流。 請參照第1圖,在一半導體基底1〇〇上已形成有CMOS 感測器(未繪出),而之上形成有金屬銲墊(bonding pad) 102 以將半導體基底100上的元件接出。接著,在銲墊102上 3 本紙張尺度適用中國國家標隼(CNS ) A4規格(2i〇X297公釐> 4Q9420 A7 x B7 五、發明説明(>) ^^^1 ^^^1 ^^^1 —^ϋ ► 士n^^ii (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 形成保護層104,用以保護底下的元件不受損害’而保護 層一般由磷矽玻璃(PSG)和氮化矽(SiNx)組成’厚度分別爲 5000埃與7〇00埃。而由於半導體基底丨〇0上的元件’再 加上銲墊1〇4存在的緣故,使得保護層〗〇4在形成之後具 有起伏的表面,因此往往在保護層104上再形成一平坦層 106,例如爲聚亞胺(polyimide)或壓克力材質之材料’厚度 約爲16000埃,藉以平坦化保護層1〇4的表面°之後’再 於平坦層106表面形成濾光層108,當光線透過濾光層108 時則入射到半導.體基底100。 在入射的光線中,由於藍光的波長較短,約爲460nm 左右’因此當光線通過藍色濾光層108,而穿過保護層1〇4 中的氮化矽層時,藍光的穿透率僅約爲70%,如第2圖所 示’圖中之曲線200爲光線在透過藍色濾光層對氮化矽之 穿透率,而光線在穿透平坦層104的穿透率約爲95%,故 導致此二罾的總穿透率僅約爲66.5%。因此由於藍光對於 氮化矽層的穿透率不佳,將使得半導體基底1〇〇無法接受 到足夠的光,而無法激發足夠的電子,致使顔色變黃。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印®ί 此外,在蝕刻平坦層106與保護層1〇4以暴露出銲墊 102時,由於平坦層1〇6本身爲聚合物材質,因此在蝕刻 時容易產生高分子(polymer),而當咼分子覆蓋在預触刻的 材料上時,蝕刻速率將明顯地減慢,再加上平坦層106厚 達16000埃,因此至少需花費6分鐘才能完成一片晶片的 貪虫刻製程,而其中餓刻1 5片晶片後即需反應室做一次 預防維護(preventive maintenance, PM)’ 以維持蝕刻反應室 的潔淨度。w此蝕刻時間過長,預防維護週期太短,再加 4 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) M洗格(210 X 297公釐) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 409420 at 4 4 1 ι) l w 1 . d o c / 0 0 S By 五、發明説明()) 上蝕刻平坦層106的蝕刻劑價錢昂貴,使得此習知製程在 生產線上進行量產的競爭力薄弱。 因此,本發明就是在提供一種影像感測器的結構及其 製造方法,用以改善藍光在影像感測器的穿透率。 本發明提供之影像感測器的結構及其製造方法,得以 縮短蝕刻時間,延長預防維護週期,因此製造成本可以降 低,而適合應用在生產線的量產製作。 本發明所提供之影像感測器之結構包括具有一銲墊之 一半導體基底;.一氧化物層,位在半導體基底上而覆蓋銲 墊;一旋塗式玻璃層(Spin On glass, SOG),位在氧化物層 之上;一砂氧氮化物層(silicon-oxy-nitride,SiO、Ny),位在 旋塗式玻璃層之上;以及一濾光層,形成在矽氧氮化物之 上c 本發明所提供之影像感測器之製造方法係在至少具有 一銲墊的一半導體基底上形成一氧化物層,接著,在氧化 物層上形成一旋塗式玻璃層,藉以平坦化半導體基底之拓 樸(topography),之後,再於旋塗式玻璃層上形成一砂氧氮 化物層,續再於矽氧氮化物上形成一濾光層。 本發明係利用穿透率較高的矽氧氮化物層與旋塗式玻 璃層取代習知保護層中之氮化矽層與平坦層,不僅可改善 影像感測器之穿透率,達到平坦化的效果,縮短蝕刻時 間,更使預防維護週期延長,使得本發明之影像感測器結 構與製造方法可實際應用在生產線的製造上。 爲讓本發明之上述和其他目的、特徵、和優點能更明 顯易懂,下文特舉一較佳實施例,並配合所附圖式,作詳 5 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) 409420 a7 4 4 1 ι \\ i . ti i> c / 0 t) S gy 五、發明説明(Φ) 細說明如下: 圖式之簡單說明: (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 第1圖係顯示一種習知影像感測器之結構; 第2圖係顯示光線在經過藍色濾光層對氮化矽層的穿 透率; 第3圖係顯示根據本發明較佳實施例之影像感測器之 結構; 第4圖係顯示光線在經過藍色濾光層對旋塗式玻璃層 的穿透率; 第5圖係顯示光線對矽氧氮化物層的穿透率;以及 第6圖係顯示光線在經過藍色濾光層對矽氧氮化物層 的穿透率。 其中,各圖標號之簡單說明如下: 100 :半導體基底 1 0 2 .鲜·塾 104 :保護層 106 :平坦層 108 :濾光層 實施例 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 請參照第3圖,爲根據本發明一較佳實施例之影像感 測器之剖面結構。在一半導體基底300上形成以半導體元 件所構成的感測器(未繪出),例如爲互補式金氧半導體。 接著,在半導體基底300上形成銲墊302,銲墊302係作 爲將半導體基底300上的元件接出之用。接著,在銲墊302 上方形成一氧化物層304,例如以化學氣相沉積法(CVD) 6 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2 i 0 X 297公釐) 409420 A7 4 4 1 9 ΐ u I . d c / Ο Ο N g ~j 五、發明説明U ) 形成多矽氧化矽層(silicon rich oxide, SRO)或是磷矽玻璃 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 等,作爲銲墊302之保護層之一,用以防止後續製程對底 下元件機械性的損害,並防止水氣或鹼性離子的進入,同 時可增加半導體基底300與銲墊302和後續形成的材料之 間的附著力。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 接著,在氧化物層304上塗覆一旋塗式玻璃層306。 旋塗式玻璃層304例如爲矽酸鹽(silicate)與矽氧烷 (siloxane),再搭配以適當的溶劑,而以旋塗式塗蓋(spin coating)進行晶片的塗抹,由於進行旋塗式玻璃層306的塗 佈時,旋塗式玻璃層3 0 6處於流動性極佳的液態,所以利 用此法所覆蓋的二氧化矽,在氧化物層304表面將呈現較 佳的平坦性。而爲使旋塗式玻璃層306的厚度和均勻度達 到所需,通常分爲兩次塗覆步驟,而每次塗覆的厚度約爲 2 000埃左右。接著,在兩次塗覆的步驟後,再對旋塗式玻 璃層306進行回飩刻(etch back)的步驟,而可以得到一表 面平坦的旋塗式玻璃層306。而旋塗式玻璃層306在此除 了扮演平坦化材料的角色外,當光線經由藍色濾光層再透 過旋塗式玻璃層306時,對於藍光具有高達86%的穿透 率,如第4圖之曲線400所示,其較藍光對於氮化矽層200 的穿透率提高近20%,再加上旋塗式玻璃層306亦具有抗 反射(anti-reflection)的功用,且不會造成後續蝕刻製程的 困難,W此取代習知之平坦層1〇6(第1圖)成爲本實施例較 佳的平坦化材料。 仍如第3圖所示,接著,在旋塗式玻璃層308上形成 一氧化物層308,用以提升旋塗式玻璃層306和後續材料 7 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(210 X 297公釐) 44409420 A7 B7 經濟部智慧財產局員X消費合作社印製 五、發明説明(d) 間的附著力3氧化物層3〇1例如以電漿化學氣相沉積法 (plasma enhanced CVD,PECVD),以砂酸四乙醋(tetra_ ethyl-ortho-silicate,TEOS)爲氣體來源,沉積一層 te〇S 氧化物層;之後’在氧化物層308上形成-矽氧氮化物層 3 10,厚度約爲7〇〇〇埃左右,例如以化學氣相沉積法形成, 反應物包括SiH4、N20與N2等,矽氧氮化物層310在此 作爲保護層之一’其對於光線的穿透率高達100%,如第5 圖所示之曲線500,而穿過藍色濾光層之藍光穿透率亦在 84%左右’請參照第6圖曲線600,因此其亦較習知氮化 矽(第6圖曲線200)之藍光穿透率高出許多。此外本發明之 矽氧氮化物層3 1 0會釋放氧氣,因此有助於製程上的一些 淸洗步驟。其中氧化物層308的存在與否視需要而決定。 接著,再於矽氧氮化物層310上形成濾光層312,例 如爲藍色濾光層,而當光線在通過藍色濾光層時僅有藍光 通過,而入射到半導體基底300,如第3圖所示。 在上述取代習知氮化矽與平坦層的結構中,由於旋塗 式玻璃層306的藍光穿透率較習知氮化矽爲高,而矽氧氮 化物層3 10光線穿透率較習知平坦層爲高,因此由矽氧氮 化物層310與旋塗式玻璃層306組成之穿透率約爲86%, 較習知提高許多,故以本發明之結構形成的影像感測器可 增進藍光之穿透率,因此有足夠的光線可到達半導體基底 3 0 0 ’而可引發電流,使正確的訊號得以輸出,顏色能保 持。 而由於矽氧氮化物層310、旋塗式玻璃層306的厚度 較習知之氮化矽層與平坦層爲薄,且沒有聚亞胺在蝕刻時 m· SI —^ϋ I —^ϋ· If 、\5 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS > A4規格(2丨〇X297公釐) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 409420 -ί4 I 9lu i'.d〇L/0()S 五、發明説明(〇 ) 產生高分子的問題,因此飩刻時間縮短至每片晶圓只需2 分鐘,即可完成暴露出銲墊302的步驟,因此預防維護的 週期亦得以延長許多。 由此可知,本發明以旋塗式玻璃層與矽氧氮化物取代 .習知之平坦層與氮化矽層,藉以改善藍光穿透率,而可增 進藍光在影像感測器的穿透率約20%。另外,亦可縮短蝕 刻時間,增長預防維護的週期,使得製程操作時間縮短, 成本降低,因此本發明極適合在線上的量產上。 雖然本發明已以一較佳實施例揭露如上,然其並非用 以限定本發明,任何熟習此技藝者,在不脫離本發明之精 神和範圍內,當可作各種之更動與潤飾,因此本發明之保 護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者爲準。 (請先閱讀背面之注意事項再填{馬本頁) 9 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐)
Claims (1)
- 409420 44 i ^iw 1' d oc/OOS ABCD 申請專利範圍 1. 一種影像感測器的結構,其包括: 一半導體基底,該半導體基底至少具有一銲墊; --氧化物層,位於該半導體基底上,覆蓋該銲墊; 一旋塗式玻璃層,位於該氧化物層上,用以平坦化該 氧化物層; 一矽氧氮化物層,位於該旋塗式玻璃層之上;以及 一濾光層,位於該矽氧氮化物層上。 2. 如申請專利範圍第1項所述之影像感測器的結構, 在該旋塗式玻璃與該矽氧氮化物層間更包括一 TEOS/氧化 物層。 3. 如申請專利範圍第1項所述之影像感測器的_^ \ ···- \ 其中該氧化物層包括一多矽氧化矽 ^ ^ 德 ,乂 咚如申請專利範圍第1項所述之影像感測器的# t其中該濾光層係包括一藍光濾光層 ^ L如申請專利範圍第4項所述之影像感測器的$ 其中光線通過該藍光濾光層對於該旋塗式玻璃隱之~ 穿透率約爲86%。 A論、裝 I" (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標率局員工消費合作社印製 、如申請專利範圍第1項所述之影像感測器的 中該矽氧氮化物之一厚度約爲7000埃左右。 ' 二二 一種影像感測器的製造方法,其包括: 提供一半導體基底,該半導體基底至少具有一銲墊且 該銲墊上覆蓋一層氧化物層; 在該氧化物層上形成一旋塗式玻璃層; 在該旋塗式玻璃層上形成一矽氧氮化物層;以及 在該砂氧氮化物層上形成一濾光層。 10 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 409420 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 8. 如申請專利範圍第7項所述之影像感測器的製造方 法,其中該氧化物層包括一多矽氧化矽層。 9. 如申請專利範圍第7項所述之影像感測器的製造方 法,其中在形成該旋塗式玻璃層後,更包括在該旋塗式玻 璃層上形成一 TEOS氧化物的步驟。 10. 如申請專利範圍第9項所述之影像感測器的製造方 法,其中該TEOS氧化物包括以電漿化學氣相沉積法形 成。 π.如申請專利範圍第7項所述之影像感測器的製造方 法,其中該濾光層係包括一藍光濾光層。 I2.如申請專利範圍第11項所述之影像感測器的製造 方法,其中光線通過該藍光濾光層對於該旋塗式玻璃層之 一藍光穿透率約爲86%。 如申請專利範圍第7項所述之影像感測器的製造方 法,其中在形成該旋塗式玻璃層後更包括一回蝕刻的步 驟。 14.如申請專利範圍第7項所述之影像感測器的製造方 法,其中該矽氧氮化物之一厚度約爲7000埃左右。 ---------衣------訂----- — ^ - (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標车局貝工消费合作社印裝 張 紙 本 JA 率 標 家 讀
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1999
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