TW317037B - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
TW317037B
TW317037B TW085106133A TW85106133A TW317037B TW 317037 B TW317037 B TW 317037B TW 085106133 A TW085106133 A TW 085106133A TW 85106133 A TW85106133 A TW 85106133A TW 317037 B TW317037 B TW 317037B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
reflective
layers
stack
layer
reflective stack
Prior art date
Application number
TW085106133A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Motorola Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Motorola Inc filed Critical Motorola Inc
Application granted granted Critical
Publication of TW317037B publication Critical patent/TW317037B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/34Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
    • H01S5/3403Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers having a strained layer structure in which the strain performs a special function, e.g. general strain effects, strain versus polarisation
    • H01S5/3406Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers having a strained layer structure in which the strain performs a special function, e.g. general strain effects, strain versus polarisation including strain compensation
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y20/00Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/18Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
    • H01S5/183Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/34Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
    • H01S5/343Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser
    • H01S5/34326Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser with a well layer based on InGa(Al)P, e.g. red laser
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/34Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
    • H01S5/343Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser
    • H01S5/3434Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser with a well layer comprising at least both As and P as V-compounds

Description

經濟部中央梯準局員工消費合作社印裝. A7 ___B7 五、發明説明() ^ ~S—------- 1 先前技術應用之朱老 此應用已於1995年8月28日歸檔爲美國專利應用號碼第 08/520,061 號。 發明簌_ 本發明屬於垂直空賤表面發射雷射並且更特別地是屬於 短波長垂直空腔表面發射雷射及製造的改I方法。 發明背景 在先如技術的半導體電射’如一般揭露於美國專利第 5,172,384號,標題爲"低門檻電流雷射”,於1992年12月15 日發表的,很普遍會形成一個1銦砷化鎵量予井的活動區 域’在其上的二端有鋁砷化鎵的間隔層及包層。再者,其 一般在包層兩側形成布拉格反射器或反射堆疊,反射堆叠 一般包含鋁。雖然重直空腔表面發射雷射的該取向附生結 構.已被定義完整,仍可使用各種處理方案。 短波長(約低於800毫微米,並且更特別地,780毫微米') 垂直2腔表面發射雷射二極體對於高密度雷射唱盤應用有 絕大的好處。在砷化鎵系統中爲了獲得短波長發射,並且 爲了維持對砷化鎵基體的點$匹配,雷射空腔應有鋁砷化 鎵做爲活動層。然而,在活動區域中鋁的導入導致雷射效 率的損失,由於鋁對氧的反應性很高,並且氧在大多數的 III V材料中作爲非放射的重組合中心。氧組織可在材料成 長或設備處理期間内發生。 因此’將前述及其他存在於先前技術中的缺陷加以去除 本纸張尺度適用國家揉準(CNS)八4祕(21()><297公4) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
經濟部中央標隼局員工消費合作社印笨 317037 at ----___B7 五、發明説明(1 ~~~~~~ - 2 會是十分有利的。 據此,本發明的目標是提供—種有無鋁活動區域的短波 長垂直空腔表面發射雷射二極體。 本發月的另一個目標是提供—種在高電流發射及高溫情 /兄下彳°賴性及穩定彳生增加的短波長垂直空腔表面發射雷 射二極體。 然而本發明的另一個目標是提供在門檻電流方面有實質 減低的短波長垂直空腔表面發射雷射二極體。 並且本發明的另一目標是提供一種本質上適合凹型波導 處理的短波長垂直空腔表面發射雷射二極體。 發明概.沭 簡要地’爲達成本發明的所要的目標,根據較佳具體實 例’所提供是一種短波長垂直空腔表面發射雷射二極體包 括一基體,一個位於基體上的第一導通型的第一反射堆 疊,該第一反射堆疊是由多數的成組的相當高和低指數的 反射層所形成,一個第二導通型的第二反射堆疊,該第二 反射堆叠是由多數的成組的相當高和低指數的反射層所形 成。以及一個夾在第一反射每疊及第二反射堆疊之間的活 動區域。該活動區域是由多數的應變層所形成。替代的應 變層有相等且相反的晶體學應_變。 進一步提供的是一種製造短波長垂直空腔表面發射雷射 二極體的方法,包括形成第一導通型的第一反射堆疊的步 驟· ’該第一反射堆疊是由多數的成组的相當高和低指數的 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
A7 _____ B7 五、發明说明() 3 反射層所形成的,在第一反射堆疊上形成一第一約束層, 在第一約束層上形成一活動區域,該活動區域是由多數的 應變層所形成,替代的應變層有相等及相反的晶體學應 變,在活動區域上形成一個第二約束層,並且在第二約束 層上形成一第二導通犁的葶二反射堆疊,該第二反射堆疊 是由多數的成組的相當高和低指數的反射層所形成。 附圖之簡要説明 參考附圖: — 圖1是根據本發明在製造短夜長垂直空腔表面發射雷射 二極體的第一階段的簡化斷面圖; 圖2是圖1結構的部份放大斷面圖;— 圖3是在圖2圖示的結構中描寫所使用的材料的頻帶隙的 能帶圖; 圖4是根據本發明在製造短波長垂直空腔表面發射雷射 二極體的第二階段的簡化斷面圖;並且 經濟部中央梯準局貝工消費合作社印裝 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 圖5是根據本發明在製造短波長垂直空腔表面發射雷射 二極體的最後階段的簡化斷面圖。 較佳具體實例之敘诫 參考圖1,所描述的是根據-本發明所使用各種不同步驟 的製造方法所實現的中間結構簡化斷面圖。特別地,圖工 圖π在基體II上的第一反射堆疊1〇是由,例如,將多數的 半導體材料層以交錯的折射率來取向附生成長所形成。可
317037 A7 B7 經濟部中央標华局貝工消費合作社印簟 五、發明説明( 用於:種目的的材料的例子是坤化銘及銘為As交錯 層人錯層的每—組都成長的厚度爲在層中傳播Μ放射波 長,並JL選擇组的數目以便當將堆疊限制際可行數 目時提供盡可能多的光線反射。 活動區域12被夹在第—約束層或區域13以及第二約束層 或區域14之間。約束區域13位於第一反射堆叠犯上,並且 第二反射堆疊15形成於約束層14的較上層表面。第二反射 堆疊15是由,例如,將成組半導體層以如與反射堆疊丨〇連 接的所述的取向附生成長方式所形成。一般而言,成组的 層會以類似於反射堆疊1Q所用的材料來形成,並且厚度也 會類似,以便對所選擇的波長或_波長的光譜提供適當的反 射性。同樣地,第一及第二反射堆疊1〇,15是摻雜以相反 導通類型以形成一個兩個終端(二極體)的結構供流經的電 流流動。在此特殊的具體實例中,例如,反射堆疊1〇是摻 雜η-型導通而反射堆疊$是摻雜p—型導通。 活動區域一般包括一個或更多量子井,或量子井層,由 有約束層13和14在兩邊的障礙層所分隔。該量子井,障礙 層’及約束層同樣也是取向附生地成長。當被流經該處的 電流適當地能源化時’該量子井根據已知的現象而產生光 子(光線)。一般而言’施加在活動區域乜的電流愈大,產 .生的光子數目愈多。光子是由反射堆疊和15折射並且產 生最終產生雷射光的已知的雷射效果。光線的波長是由在 活動區域12内的量子井所使用的材料以及在反射堆疊1〇及 15内的層的交錯組的厚度來決定。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明( 活動區域12是以選擇用來提供短波長光線放射的材料系 統來形成’例如波長在8〇〇毫微米以下以及最好是78〇毫微 米的材料系統來形成。一般而言,使用銘合金可達短波 長。然而,鋁對氧很脆弱,並且實質上造成活動品域12信 賴性差’最後導致短我長垂直空腔表面發射雷射二極體的 失敗。因此,形成活動區域12的材料系統並不包括鋁。約 束層14是以不同於反射堆疊15的材料系統來形成,有了所 選擇的不同的材料系統,若需要的話,反射堆疊15可被選 擇性地蝕刻以形成圖像的反射,或凹型類型,的短波長垂 直空腔表面發射雷射二極體。透過選擇活動區域12的材料 系統以便其中不包括鋁,並且透過選擇約束層14的不同材 料系統以便其晶體學地與活動區域丨2材料系統可相容,而 改良了短波長垂直空腔表面發射雷射二極體的信賴性及壽 命0 特別參考圖2 ’圖示了活動區12被夾在約束層13和14之 間的放大簡要斷面圏。在此特殊具體實例中,活動區域U 包括由夹在其中的障礙層25和25所形成的三個量子井2〇, 21和22。由障礙層25和26分隔的量子井2〇,被夾在 間隔或導引層30和31之間、間隔或導引層3〇和31又被夾 在包層33及34之間。一般間隔層3〇和31及包層幻和災被分 層以提供導引活動,如在美國-專利第5,172,384號中更詳細 敘述的,在以上加以描述並且在此用作參考。 爲了在活動區域12中使用無鋁材料,加入一坤化鎵ι磷 χ。然而,砷化鎵⑴4磷<對砷化鎵並非點陣匹配,並應 衣紙張尺度適用中國ϋ標f(l:NS ) Α4規格(210X297公左) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 ^1. A7 B7 五、發明説明( 請· 閲 讀· 背 面 之 注 意 事 項 再 寫、 本衣 頁 到張力應變。在一多量子井結構中,肖了要將此應變容纳 而不產生錯合位錯,砷化鎵層的厚度保持儘量地小並且需 要個與此種應變相等且相反的補償。供活動區域12使用 的較佳材料系統是鎵銦磷/坤化鎵磷應變層超點陣。使用 在張力應變之下的量子井層2Q,21和以以及在實質相等壓 縮力的應變之下的散佈障礙層扔及26。 1 丁 在特殊範例下,量子井層2〇,21和22是由每一個約1〇〇埃 厚的坤化鎵82_18(Eg=i_57eV)所形成。障礙層25和26是由每 一個約1〇〇埃厚的銦μ鎵4^(Eg=176eV)所形成。量子井層 20,21和22及障礙層25和26有:約爲砷化鎵基體11的〇.65%的 大約相等且相反點陣匹配。考慮量子井大小及在能量帶的 應變效果’在砷化鎵中選擇&的組合以便在室溫下產生 一 780毫微米的放射波長。間隔層別和31 鎵η磷
經濟部中央標準局員工消費合作社印I (E『l.9eV)所形成並且包層33和34是由(^3) 51銦49磷 (Eg=2.08eV)所形成。點陣匹配到砷化鎵基將活動區 域12及約束層13和μ的總厚度選擇爲一 波長的光學厚 度。圖3圖示所使用的材料的頻帶隙的能帶圖。在此範例 中,布拉格反射(第一和第二反射堆疊1〇和15)是由砷化鋁 和鎵75铭^As的1/4波長交錯層—所組成。- 以如在圖1中所圖示的基體止上的第一反射堆疊1〇,約 束層13 ’活動區域12,約束層—14和第二反射堆疊15並且包 括以上所述的材料’第二反射堆疊15被選擇性地蝕刻,如 在圖4中所示。使用以雙氧水:水:硫酸/氣化氫:磷酸 爲基礎的钱刻液,可執行濕或乾蝕刻技術。由於蝕刻的選 本紙張尺度適用中國國豕標準(CNS ) Α4規格(21〇乂297公楚;) 317037 A7 B7 五、發明説明( 擇性’圖像的反射’或凹型波導,透過將上層或第二反射 堆#15 ’下至包層34上層表面蝕刻穿透,來形成短波長垂 直空腔表面發射雷射二極體結構。由於蝕刻是正確並且不 會損害活動區域12或約束層13和14,而達成良好的電流及 光學限制以獲得低門蟬,而仍能維持良好的信賴性(與平 面短波長垂直空腔表面發射雷射二極體有關)。 如圖5所示,爲完成在圖4中所圖示的結構,透過任何已 知的方法在反射堆疊丨5的較上層的暴露表面上形成一 p型 敷金屬40。至少p型敷金屬4Q覆蓋在台式較上層表面的部 份可能是一透明金屬,如IT〇岑類似物。形成一 n型敷金屬 45與反射堆疊接觸’以提供短波長垂直空腔表面發射雷 射二極體另一個電接觸。一 ϋ言,在基體丨丨提供—層有 重度捧雜質的半導體材料的層46,以提供與短波長垂直空 腔表面發射雷射二極體的反射堆疊IQ較佳的低阻抗接觸。 可了解地是,若需要的話,可在與基體12表面相對的反射 堆疊10所在的表面上形成一電接觸。 因此揭露了一種新的及改良的製造短波長垂直空腔表面 發射雷射二極體的方法,包括揭露了一種供製造短波長垂 直空腔表面發射雷射二極體蛴使用的模反射的改良方法。 因爲較上的反射堆疊是正確的且選擇性蝕刻的信賴性實質 地增加。同樣地,因爲短波長—垂直空腔表面發射雷射二極 體的活動區域是無鋁的,短波長垂直空腔表面發射雷射二 極aa的彳&賴性及壽命實質地增加。 然而在已顯示並描述本發明之特殊具體實例之時,對這 表紙張从適用中國國家揉)从胁(21〇χ297公^ ) 請 先 閲 讀 背 ίι i 事 項 再 填 妾 經濟部中央梂準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明( 些己知的先前技術會產生進一步修正及改良。因此,希望 能了解到,本發明並非僅限於所示的特別的形式並且意圖 在所附的專利申請範圍中涵蓋所有的修正而不偏離本發明 之精神及範疇。 請 先 閲 讀 背 冬 i 事 項 再 填a , 頁 訂 經濟部中央標準局負工消费合作社印裝 44- 本紙張^度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨0X297公釐)

Claims (1)

  1. 經濟部中央標準局貞工消費合作社印褽 A8 B8 C8 ____D8 六、申請專利範圍 1. 一種短波長垂直空腔表面發射雷射二極體,包括: 一基體; 一位於基體上的第一導通型的第一反射堆疊,該第一 反射堆疊是由多數的成組相對高和低指數.的反射層所形 成; 一第二導通型的第二反射堆叁,該第二反射堆疊是由 多數的成組相對高和低指數的反射層所形成;並且 一夾在第一反射堆疊及第二反射堆疊之間的活動區 域’該活動區域是由多數的應變層所形成,替代的應變 層有相等且相反的晶體學應變。 2. —種短波長垂直空腔表面發射、雷射二極體,包括: ·~基體; - 一位於基體上的第一導通型的第一反射堆疊,該第一 反射堆疊是由多數的成組相對高和低指數的反射層所形 成; 一第二導通型的第二反射堆疊,該第二反射堆疊是由 多數的成組相對高和低指數的反射層所形成;並且 一活動區域夾在第一反射堆疊及第二反射堆疊之間, 該活動區域是由多數的砷化·鎵磷量子井-層所形成。該層 有鎵銦磷的障礙層夾在其間,該量子井層及該障礙層有 實質地相等且相反的點陣誤配; - 該活動區域被爽在一組約束層中。 · 3· —種製造短波長垂直空腔表面發射雷射二極體之方法, 包括以下步驟: ___ - 12- 本紙張適用中關家橾準(CNS ) Α規4$· ( 21GX297公釐)'' (請先閲讀背面之注意事項再本頁) •裝- .1T 317037 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 形成第一導通型的第一反射堆疊,該第一反射堆疊是 由多數的成組相對高和低指數的反射層所形成; 在第一反射堆疊上形成一第一約束層; 在第一約束層上形成一活動區域,該活動區域是由多 數的應變層所形成,替代的應變層有相等及相反的晶體 學應變; 在活動區域上形成一個第二約束層;並且 在第二约束層上形成一第二導通型的第二反射堆疊’ 該第二反射堆疊是由多數的成組相對高和低指數的反射 層所形成。 (請先閲讀背面之注意事項再hi本頁) 裝· 線 經濟部中央揉準局貞工消費合作社印褽 -13 - 本紙張尺度逍用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨0X297公釐)
TW085106133A 1995-08-28 1996-05-23 TW317037B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/520,061 US5633886A (en) 1995-08-28 1995-08-28 Short wavelength VCSEL with Al-free active region

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW317037B true TW317037B (zh) 1997-10-01

Family

ID=24071042

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW085106133A TW317037B (zh) 1995-08-28 1996-05-23

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5633886A (zh)
EP (1) EP0760545B1 (zh)
JP (1) JPH09107153A (zh)
KR (1) KR100440650B1 (zh)
DE (1) DE69621719T2 (zh)
TW (1) TW317037B (zh)

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5912913A (en) * 1995-12-27 1999-06-15 Hitachi, Ltd. Vertical cavity surface emitting laser, optical transmitter-receiver module using the laser, and parallel processing system using the laser
US5953362A (en) * 1997-12-15 1999-09-14 Pamulapati; Jagadeesh Strain induce control of polarization states in vertical cavity surface emitting lasers and method of making same
GB2333895B (en) * 1998-01-31 2003-02-26 Mitel Semiconductor Ab Pre-fusion oxidized and wafer-bonded vertical cavity laser
US6556553B1 (en) * 1999-04-12 2003-04-29 Intermec Ip Corp. Method for determining when a communication device should rate shift or roam in a wireless environment
GB2353899A (en) * 1999-09-01 2001-03-07 Sharp Kk A quantum well semiconductor device with strained barrier layer
JP2003283056A (ja) * 2002-01-15 2003-10-03 Sharp Corp 半導体レーザ装置および光ディスク再生記録装置
JP3846367B2 (ja) * 2002-05-30 2006-11-15 セイコーエプソン株式会社 半導体素子部材及び半導体装置並びにそれらの製造方法、電気光学装置、電子機器
JP2004281968A (ja) * 2003-03-19 2004-10-07 Fuji Photo Film Co Ltd 面発光型半導体レーザ素子
WO2005122350A1 (ja) * 2004-06-11 2005-12-22 Ricoh Company, Ltd. 面発光レーザダイオードおよびその製造方法
US7693204B2 (en) 2006-02-03 2010-04-06 Ricoh Company, Ltd. Surface-emitting laser device and surface-emitting laser array including same
JP5224155B2 (ja) * 2006-02-03 2013-07-03 株式会社リコー 面発光レーザ素子、それを備えた面発光レーザアレイ、面発光レーザアレイを備えた画像形成装置、面発光レーザ素子または面発光レーザアレイを備えた光ピックアップ装置、面発光レーザ素子または面発光レーザアレイを備えた光送信モジュール、面発光レーザ素子または面発光レーザアレイを備えた光送受信モジュールおよび面発光レーザ素子または面発光レーザアレイを備えた光通信システム。
CN101741015B (zh) * 2006-02-03 2012-05-23 株式会社理光 表面发射激光器装置及包含其的表面发射激光器阵列
JP2008053353A (ja) * 2006-08-23 2008-03-06 Ricoh Co Ltd 面発光レーザアレイ、それに用いられる面発光レーザ素子および面発光レーザアレイの製造方法
KR100990702B1 (ko) * 2006-08-23 2010-10-29 가부시키가이샤 리코 면 발광 레이저 어레이, 광학 주사 장치 및 화상 형성 장치
US7627017B2 (en) 2006-08-25 2009-12-01 Stc. Unm Laser amplifier and method of making the same
JP5748949B2 (ja) 2008-11-20 2015-07-15 株式会社リコー 面発光レーザ素子、面発光レーザアレイ、光走査装置及び画像形成装置
JP2012209534A (ja) * 2011-03-17 2012-10-25 Ricoh Co Ltd 面発光レーザ素子、原子発振器及び面発光レーザ素子の検査方法
JP2016208049A (ja) * 2011-03-17 2016-12-08 株式会社リコー 面発光レーザ素子、原子発振器及び面発光レーザ素子の検査方法
JP5300996B2 (ja) * 2012-02-10 2013-09-25 ローム株式会社 半導体レーザ素子
JP2013165275A (ja) * 2013-03-12 2013-08-22 Rohm Co Ltd 半導体レーザ素子

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5012486A (en) * 1990-04-06 1991-04-30 At&T Bell Laboratories Vertical cavity semiconductor laser with lattice-mismatched mirror stack
US5237581A (en) * 1990-11-14 1993-08-17 Nec Corporation Semiconductor multilayer reflector and light emitting device with the same
US5172384A (en) * 1991-05-03 1992-12-15 Motorola, Inc. Low threshold current laser
JP3080831B2 (ja) * 1994-02-03 2000-08-28 日本電気株式会社 多重量子井戸半導体レーザ
US5513202A (en) * 1994-02-25 1996-04-30 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Vertical-cavity surface-emitting semiconductor laser
US5412680A (en) * 1994-03-18 1995-05-02 Photonics Research Incorporated Linear polarization of semiconductor laser
US5559818A (en) * 1994-03-24 1996-09-24 Sanyo Electric Co., Ltd. Semiconductor laser device
US5491710A (en) * 1994-05-05 1996-02-13 Cornell Research Foundation, Inc. Strain-compensated multiple quantum well laser structures
US5432809A (en) * 1994-06-15 1995-07-11 Motorola, Inc. VCSEL with Al-free cavity region

Also Published As

Publication number Publication date
KR970013541A (ko) 1997-03-29
EP0760545A1 (en) 1997-03-05
DE69621719T2 (de) 2002-10-31
KR100440650B1 (ko) 2004-10-14
EP0760545B1 (en) 2002-06-12
US5633886A (en) 1997-05-27
JPH09107153A (ja) 1997-04-22
DE69621719D1 (de) 2002-07-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW317037B (zh)
JP2572143B2 (ja) 量子井戸垂直空胴レーザー
US6879615B2 (en) FCSEL that frequency doubles its output emissions using sum-frequency generation
TW379475B (en) Long wavelength light emitting vertical cavity surface emitting laser and method of fabrication
JP5057354B2 (ja) 面発光レーザの製造方法
US5838706A (en) Low-strain laser structures with group III nitride active layers
EP0566267B1 (en) Surface emitting second harmonic generating device
JP4950432B2 (ja) 面発光型半導体レーザ、面発光型半導体レーザアレイ、画像形成装置、光ピックアップ、光送信モジュール、光送受信モジュール及び光通信システム
TW200812180A (en) Surface-emitting laser array, optical scanning device, and image forming device
WO2005122350A1 (ja) 面発光レーザダイオードおよびその製造方法
TWI515984B (zh) Vertical resonant surface luminous lasers
US20100271690A1 (en) Vertical cavity surface emitting laser element, vertical cavity surface emitting laser array element, vertical cavity surface emitting laser device, light source device, and optical module
US5832017A (en) Reliable near IR VCSEL
JP4273431B2 (ja) 垂直共振器型発光ダイオード
JPWO2008075692A1 (ja) 面発光レーザーおよびその製造方法
EP0785601B1 (en) Visible VCSEL with hybrid mirrors
US6577661B1 (en) Semiconductor laser with lateral light confinement by polygonal surface optical grating resonator
JP5224155B2 (ja) 面発光レーザ素子、それを備えた面発光レーザアレイ、面発光レーザアレイを備えた画像形成装置、面発光レーザ素子または面発光レーザアレイを備えた光ピックアップ装置、面発光レーザ素子または面発光レーザアレイを備えた光送信モジュール、面発光レーザ素子または面発光レーザアレイを備えた光送受信モジュールおよび面発光レーザ素子または面発光レーザアレイを備えた光通信システム。
JPH10200202A (ja) 可視波長の垂直空洞面発光レーザー
CN112582877B (zh) 一种650nm垂直腔面激光器及其制备方法
JP2007227861A (ja) 半導体発光素子
JPH10303493A (ja) 窒化物半導体レーザ素子
US6587492B2 (en) Bipolar cascade arrow laser
JPH08340146A (ja) 面発光型半導体レーザ
JP5429242B2 (ja) 面発光型半導体レーザ、面発光型半導体レーザアレイ、画像形成装置、光ピックアップ、光送信モジュール、光送受信モジュール及び光通信システム