TW202318748A - 光子晶體面射型雷射裝置及光學系統 - Google Patents

光子晶體面射型雷射裝置及光學系統 Download PDF

Info

Publication number
TW202318748A
TW202318748A TW110140178A TW110140178A TW202318748A TW 202318748 A TW202318748 A TW 202318748A TW 110140178 A TW110140178 A TW 110140178A TW 110140178 A TW110140178 A TW 110140178A TW 202318748 A TW202318748 A TW 202318748A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
electrode
photonic crystal
layer
emitting laser
laser device
Prior art date
Application number
TW110140178A
Other languages
English (en)
Inventor
郭浩中
洪國彬
陳仕誠
曾國峰
藍子翔
Original Assignee
鴻海精密工業股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 鴻海精密工業股份有限公司 filed Critical 鴻海精密工業股份有限公司
Priority to TW110140178A priority Critical patent/TW202318748A/zh
Priority to CN202210883369.6A priority patent/CN116053928A/zh
Priority to US17/969,906 priority patent/US20230140206A1/en
Priority to EP22202804.5A priority patent/EP4175078A1/en
Publication of TW202318748A publication Critical patent/TW202318748A/zh

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/11—Comprising a photonic bandgap structure
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/062—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
    • H01S5/06203—Transistor-type lasers
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022—Mountings; Housings
    • H01S5/0233—Mounting configuration of laser chips
    • H01S5/02335—Up-side up mountings, e.g. epi-side up mountings or junction up mountings
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022—Mountings; Housings
    • H01S5/0239—Combinations of electrical or optical elements
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/04—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
    • H01S5/042—Electrical excitation ; Circuits therefor
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/04—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
    • H01S5/042—Electrical excitation ; Circuits therefor
    • H01S5/0425—Electrodes, e.g. characterised by the structure
    • H01S5/04252—Electrodes, e.g. characterised by the structure characterised by the material
    • H01S5/04253—Electrodes, e.g. characterised by the structure characterised by the material having specific optical properties, e.g. transparent electrodes
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/04—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
    • H01S5/042—Electrical excitation ; Circuits therefor
    • H01S5/0425—Electrodes, e.g. characterised by the structure
    • H01S5/04256—Electrodes, e.g. characterised by the structure characterised by the configuration
    • H01S5/04257—Electrodes, e.g. characterised by the structure characterised by the configuration having positive and negative electrodes on the same side of the substrate
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/18—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S2301/00—Functional characteristics
    • H01S2301/17—Semiconductor lasers comprising special layers
    • H01S2301/176—Specific passivation layers on surfaces other than the emission facet
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/0206—Substrates, e.g. growth, shape, material, removal or bonding
    • H01S5/0213—Sapphire, quartz or diamond based substrates
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/0206—Substrates, e.g. growth, shape, material, removal or bonding
    • H01S5/0217—Removal of the substrate
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/024—Arrangements for thermal management
    • H01S5/02476—Heat spreaders, i.e. improving heat flow between laser chip and heat dissipating elements
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/04—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
    • H01S5/042—Electrical excitation ; Circuits therefor
    • H01S5/0425—Electrodes, e.g. characterised by the structure
    • H01S5/04254—Electrodes, e.g. characterised by the structure characterised by the shape
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/04—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
    • H01S5/042—Electrical excitation ; Circuits therefor
    • H01S5/0425—Electrodes, e.g. characterised by the structure
    • H01S5/04256—Electrodes, e.g. characterised by the structure characterised by the configuration
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/04—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
    • H01S5/042—Electrical excitation ; Circuits therefor
    • H01S5/0427—Electrical excitation ; Circuits therefor for applying modulation to the laser
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/062—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
    • H01S5/06226—Modulation at ultra-high frequencies
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/18—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
    • H01S5/185—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only horizontal cavities, e.g. horizontal cavity surface-emitting lasers [HCSEL]
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/20—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
    • H01S5/2004—Confining in the direction perpendicular to the layer structure
    • H01S5/2018—Optical confinement, e.g. absorbing-, reflecting- or waveguide-layers
    • H01S5/2027—Reflecting region or layer, parallel to the active layer, e.g. to modify propagation of the mode in the laser or to influence transverse modes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

本申請提供一種光子晶體面射型雷射裝置，包括：光發射模組以及驅動模組。光發射模組包括：光子晶體層；位於所述光子晶體層一側之主動發光層；第一電極，位於所述主動發光層遠離所述光子晶體層之一側；以及第二電極，至少部分位於所述主動發光層遠離所述光子晶體層之一側。驅動模組分別與所述第一電極及所述第二電極遠離所述光子晶體層之表面電接觸，用於輸出驅動訊號至所述第一電極及所述第二電極，以驅動所述主動發光層產生光子，所述光子入射至所述光子晶體層發生布拉格繞射振盪以產生雷射。本申請還提供一種光學系統。

Description

光子晶體面射型雷射裝置及光學系統
本申請涉及光學探測技術領域，尤其涉及一種光子晶體面射型雷射裝置及應用該光子晶體面射型雷射裝置之光學系統。
光子晶體面射型雷射(Photonic Crystal Surface-Emitting Laser, PCSEL)具備光束品質優良、體積小、能耗低、易整合、可靠性高等優點，可被廣泛應用於三維感測系統、消費性電子裝置、汽車光達、智慧裝置、醫療健康裝置等光學系統。
習知PCSEL主體結構包括一至少100微米厚之磊晶基板，用以維持機械強度，以避免PCSEL中晶片破裂。在高電流注入時，PCSEL中之主動發光層在電致發光過程中將產生大量熱量，該熱量藉由該磊晶基板與PCSEL之封裝材料轉移。然，磊晶基板使得散熱路徑較長，散熱效能低落，PCSEL光輸出功率無法獲得提升且壽命減短。習知PCSEL具有發光區，需在發光區周圍預留電極走線區域，該電極打線區域面積為該發光區域面積之數倍，造成該磊晶基板面積浪費，增加該封裝材料成本。該電極打線區域還易衍生出寄生電容與寄生電感，降低PCSEL的響應速度，不利於PCSEL高頻操作。習知PCSEL中，由於電流在各個方向擴散速度不同，注入該主動發光層的電流密度易不均勻。
因此，習知PCSEL亟待改進。
本申請第一方面提供一種光子晶體面射型雷射裝置，包括： 光發射模組，包括： 光子晶體層； 位於所述光子晶體層一側之主動發光層； 第一電極，位於所述主動發光層遠離所述光子晶體層之一側；以及 第二電極，至少部分位於所述主動發光層遠離所述光子晶體層之一側；以及 驅動模組，分別與所述第一電極及所述第二電極遠離所述光子晶體層之表面電接觸，用於輸出驅動訊號至所述第一電極及所述第二電極，以驅動所述主動發光層產生光子，所述光子入射至所述光子晶體層發生布拉格繞射振盪以產生雷射。
本申請第二方面提供一種光學系統，包括： 如上述之光子晶體面射型雷射裝置；以及 控制裝置，電連接所述光子晶體面射型雷射裝置，用於輸出所述驅動訊號至所述光子晶體面射型雷射裝置以驅動所述光子晶體面射型雷射裝置發射雷射。
所述光子晶體面射型雷射裝置，驅動模組與光發射模組整合，有利於提升光子晶體面射型雷射之開關速度；光發射模組在工作過程中會產生熱量，由於本實施例中光發射模組不包括基板，也即光發射模組之第一電極及第二電極與驅動模組直接接合在一起，未經過基板間隔，有利於光發射模組之散熱，故有利於提升光子晶體面射型雷射之發光功率與壽命。
請參閱圖1，本申請之光學系統100包括光子晶體面射型雷射裝置10。光學系統100可為臉部識別感測裝置、雷射雷達等，其可應用於智慧手機、擴增實境(Augmented Reality, AR)眼鏡、虛擬現實(Virtual Reality, VR)眼鏡等各種消費性電子裝置，還可應用於汽車、家居或醫療設備，以及應用於智慧化工廠、自動化倉儲之無人載具等。
光學系統100還包括控制裝置（圖未示），控制裝置電連接光子晶體面射型雷射裝置10。光子晶體面射型雷射裝置10應用於上述各類光學系統100中時，用於根據控制裝置輸出之驅動訊號發射雷射，以使得光學系統100實現互動顯示、安全辨識、室內環境感測或近距感測等功能。本實施例中，控制裝置可為晶片、晶片組、控制主板等。
光子晶體面射型雷射裝置10包括相互電連接之光發射模組2及驅動模組3。驅動模組3用於施加驅動訊號（驅動電壓或驅動電流）至光發射模組2，光發射模組2用於根據該驅動訊號（驅動電壓或驅動電流）發射雷射。
請一併參閱圖2和圖3，本實施例中光發射模組2包括依次層疊之光子晶體層21、主動發光層22、第一披覆層23及布拉格反射鏡24。
光子晶體層21包括層疊之歐姆接觸層211及第二披覆層212，第二披覆層212位於歐姆接觸層211與主動發光層22之間。本實施例中，歐姆接觸層211的材料為P型砷化鎵，第二披覆層212為P型砷化鋁鎵。於其他實施例中，歐姆接觸層211的材料還可為磷化銦或磷化砷銦鎵。光子晶體層21上開設有複數間隔設置之通孔213。每一通孔213貫穿歐姆接觸層211及第二披覆層212。
主動發光層22包括複數量子井主動發光層221及複數能障層222。複數量子井主動發光層221與複數能障層222交錯層疊。亦即，量子井主動發光層221與能障層222交替排列。本實施例中，主動發光層22包括交錯層疊之三個量子井主動發光層221及四個能障層222。每一量子井主動發光層221的材料為砷化銦鎵，每一能障層222的材料為砷化鎵，用於發射波長在905nm至1550nm（包括端點值）之雷射。於其他實施例中，量子井主動發光層221還可為砷化鋁鎵銦或磷化砷銦鎵，能障層222還可為砷化鋁鎵或砷化鋁鎵銦。
主動發光層22用於在該驅動訊號驅動下產生光子。主動發光層22產生之光子向四周傳播，傳播至光子晶體層21中之光子在光子晶體層21中反復震蕩，直至光發射模組2達到增益與損耗平衡狀態時，產生雷射。
第一披覆層23材料可為N型砷化鋁鎵。第一披覆層23與第二披覆層212用於配合鎖住主動發光層22發射之光子，減少光子朝向布拉格反射鏡24方向傳播。本實施例中，第一披覆層23材料為砷化鋁鎵。於其他實施例中，第一披覆層23及第二披覆層212材料還可為砷化鋁銦、磷化銦或磷砷化鎵。
布拉格反射鏡24包括複數第一折射層241及複數第二折射層242。複數第一折射層241及第二折射層242交替層疊。各個第一折射層241折射率相同，各個第二折射層242折射率相同，且第一折射層241與第二折射層242折射率不同。布拉格反射鏡24用於朝向光子晶體層21反射接收到的光子，以回收利用從第一披覆層23逃出之光子，有利於減少光損耗，提升光子晶體面射型雷射裝置10之發光功率。本實施例中，布拉格反射鏡24包括三個第一折射層241及三個第二折射層242，三個第一折射層241及三個第二折射層242交替排列。
請繼續一併參閱圖2和圖3，本實施例中，光發射模組2還包括透明導電層25、透光基板26及導熱膠層27。
導熱膠層27位於透明導電層25與透光基板26之間，用於黏合固定透明導電層25與透光基板26，並用於導出光發射模組2工作過程中產生之熱量。透明導電層25位於光子晶體層21遠離布拉格反射鏡24之一側並填充光子晶體層21中之週期性分佈的複數通孔213。透光基板26位於透明導電層25遠離布拉格反射鏡24之一側。
本實施例中，透明導電層25為氧化銦錫（Indium tin oxide, ITO）。透光基板26可為藍寶石（Sapphire）、砷化鎵（GaAs）、氮化鎵（GaN）、矽（Si）、碳化矽（SiC）及磷化銦（InP）等透光材料構成。光子晶體層21產生之雷射從透光基板26遠離布拉格反射鏡24之表面出射。
本實施例中，光發射模組2還包括相互電絕緣之第一電極28和第二電極29。第一電極28與第二電極29用於接收該驅動訊號。第一電極28及第二電極29為金屬，例如為鈦（Ti）、鍺（Ge）、鎳（Ni）、金（Au）或鉑（Pt）及其合金。本實施例中，第一電極28為N型電極，第二電極29為P型電極。
第一電極28位於布拉格反射鏡24遠離透光基板26之一側且與布拉格反射鏡24直接接觸。第二電極29包括第一導電部291和第二導電部292。
第一導電部291位於布拉格反射鏡24遠離透光基板26之一側。第一導電部291與第一電極28所遠離透光基板26之表面的高度平齊。也即，第一導電部291與第一電極28共平面。
第一導電部291圍合形成一具有一缺口S0之第一收容空間S1。第一電極28包括第三導電部281、第四導電部282及連接第三導電部281與第四導電部282之延伸部283。第三導電部281位於第一收容空間S1之內，第四導電部282位於第一收容空間S1之外，延伸部283藉由缺口S0從第三導電部281延伸至第四導電部282。第三導電部281與第一導電部291間隔以電絕緣。
請一併參閱圖3及圖4，二導電部292由第一導電部291向透光基板26方向延伸形成。第二導電部292為形成有一中空空間S2之筒狀結構。透明導電層25、光子晶體層21、主動發光層22、第一披覆層23及布拉格反射鏡24位於中空空間S2內。導熱膠層27覆蓋第二導電部292靠近透光基板26一側之端面、第二導電部292之部分外表面（遠離中空空間S2之表面）及透明導電層25。第二導電部292靠近透光基板26一側之一端與透明導電層25電接觸。
本實施例中，光發射模組2還包括絕緣層20。絕緣層20可為氮化矽（SiN x）、二氧化矽（SiO 2）或聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）。絕緣層20位於第二導電部292形成之中空空間S2內並部分貼附第二導電部292之內壁2921，且絕緣層20位於光子晶體層21、主動發光層22、第一披覆層23及布拉格反射鏡24與第二導電部292之間。
絕緣層20未貼附第二導電部292之內壁2921的部分與內壁2921之間具有間隙，透明導電層25填充於該間隙中以與第二導電部292電接觸。
絕緣層20還延伸至布拉格反射鏡24遠離透光基板26之一側，並位於第一電極28與第一導電部291之間，以使得第一電極28與第一導電部291間隔以電絕緣。
當第一電極28與第二電極29分別被施加驅動訊號時（第一電極28與第二電極29被施加之驅動訊號大小不同），驅動電流由光子晶體層21靠近透光基板26之一側注入。主動發光層22在驅動電流之驅動下產生光子。主動發光層22產生之光子傳播至光子晶體層21時在光子晶體層21中反復振盪，直至光發射模組2達到增益與損耗平衡時產生雷射，雷射從透光基板26遠離布拉格反射鏡24之一側出射。
在上述過程中，第一披覆層23、第二披覆層212及布拉格反射鏡24皆用於防止光子從遠離透光基板26一側出射，有利於提升光利用率，從而提高光發射模組2之發光功率。
在圖2視角下，第三導電部281、第四導電部282及延伸部283皆為矩形。第一導電部291為與第三導電部281之形狀相適應之具有缺口S0之矩形框。收容空間S1填充有絕緣層20以使得第三導電部281與第一導電部291電絕緣。
於本申請其他實施例中，在圖2視角下，第三導電部281及第一導電部291可為其他形狀。例如圖5中所示，第三導電部281可為圓形，第一導電部291為與第三導電部281之形狀相適應之具有缺口S0之圓環狀。
本實施例中，第三導電部281在圖2視角下之形狀與第三導電部281在主動發光層22上之投影形狀相同。第三導電部281正對光子晶體層21設置，使得第三導電部281在主動發光層22上之投影完全覆蓋光子晶體層21在主動發光層22上之投影。也即，使得第三導電部281在主動發光層22上之投影與光子晶體層21在主動發光層22上之投影面積相同而完全重合，或第三導電部281在主動發光層22上之投影面積大於光子晶體層21在主動發光層22上之投影。
由於光子晶體層21中存在週期性分佈的複數通孔213，光子晶體層21上開設有通孔213之位置阻抗較大，未開設阻抗之位置阻抗較小，光子晶體層21各個位置之阻抗差異可能導致驅動電流在水平方向（以圖3或圖4為基準）擴散不均勻。本實施例中，當第一電極28接收到驅動訊號時，第一電極28之第三導電部281之位置與形狀有利於使得驅動電流在水平方向（以圖3或圖4為基準）均勻擴散。
請參閱圖6和圖7，驅動模組3為一電晶體。本實施例中，驅動模組3為一具有高電子遷移率電晶體（HEMTs）：氮化鎵電晶體。
驅動模組3包括依次層疊之基板31、緩衝層32、通道層33及電極層34。
基板31之材料為藍寶石、矽、氧化矽、碳化矽或金剛石。用於在製程中支撐緩衝層32、通道層33及電極層34。緩衝層22位於基板31之一表面，材料可為氮化鎵或氮化鋁。
通道層33包括依次層疊之P型氮化鎵層331、氮化鋁鎵能障層332及無摻雜氮化鎵通道333。
電極層34的材料可為鈦（Ti）、鋁（Al）、鎳（Ni）、金（Au）或鈀（Pd）。金屬層31包括閘極G、一源極S、一汲極D及一連接電極P。閘極G、一源極S、一汲極D及一連接電極P之間相互間隔以絕緣。本實施例中，驅動模組3還包括絕緣材料層35，絕緣材料層35位於閘極G、一源極S、一汲極D及一連接電極P之間以間隔閘極G、一源極S、一汲極D及一連接電極P。 P型氮化鎵層331與閘極G直接接觸且P型氮化鎵層331通過絕緣材料層35與源極S、汲極D及一連接電極P絕緣。氮化鋁鎵能障層332及無摻雜氮化鎵通道333分別與源極S及汲極D接觸。
汲極D與第一電極28電接觸，以施加負電壓至第一電極28。連接電極P與第二電極29電接觸，以施加正電壓至第二電極29。該正電壓與該負電壓即為上述驅動訊號，該驅動訊號使得第一電極28與第二電極29之間具有電壓差，光發射模組2內形成電流迴路，也即形成驅動電流，以發射雷射。無摻雜氮化鎵通道333作為主要導通半導體通道，P型氮化鎵層331有利於提高氮化鋁鎵能障層332之能障高度至費米能階之上。
汲極D與第一電極28、連接電極P與第二電極29之間，藉由金屬間之接合方式進行固定。金屬間之接合方式例如為金與金面對面接合技術。
於其他實施例中，驅動模組12不包括連接電極P，而第二電極29直接與閘極G電接觸，由閘極G為第二電極29提供驅動訊號。也即，以閘極G上之電壓作為第二電極29之驅動訊號。相較於藉由連接電極P電連接第二電極29，有利於減少形成連接電極P之步驟。
當閘極G上之電壓達到驅動模組3之開啟電壓時，通道層33導通，源極S與汲極D之間電性導通，汲極D施加第一電極28一負電壓（驅動訊號）。連接電極P用於接收一正電壓（驅動訊號），並用於施加該正電壓至第二電極29。光發射模組2在驅動訊號驅動下發射雷射。
前述之光子晶體面射型雷射裝置10，驅動模組3與光發射模組2整合，驅動模組3為氮化鎵電晶體，具有高電子遷移率（於一些實施例中，電子遷移率可為2000 cm 2/V·s以上），有利於提升光子晶體面射型雷射裝置10之開關速度。光發射模組2在工作過程中會產生熱量，由於本實施例中光發射模組2不包括基板，也即光發射模組2之第一電極28及第二電極29與驅動模組3之電極層34之間直接接合在一起，未經過基板間隔，有利於光發射模組2之散熱，故有利於提升光子晶體面射型雷射裝置10之發光功率與壽命。
以下藉由模擬對比例中之光子晶體面射型雷射與本申請中之光子晶體面射型雷射100之散熱效果。
圖8為環境溫度為360K時，光子晶體面射型雷射之工作溫度隨驅動電流之變化曲線圖。圖8中曲線X代表第一對比例中之光子晶體面射型雷射，曲線Y代表第二對比例中之光子晶體面射型雷射，曲線Z代表本申請中之光子晶體面射型雷射。由圖8可知，在相同環境溫度下，驅動電流相等時，曲線Z對應之溫度最小，也即本申請中之光子晶體面射型雷射工作時溫度最小，散熱效果最好。
圖9為第一對比例中之光子晶體面射型雷射的工作溫度隨驅動電流之變化曲線圖。圖9中曲線X1、X2、X3及X4分別為環境溫度Tc=300K、320K、340K及360K時工作溫度隨驅動電流之變化曲線。
圖10為第二對比例中之光子晶體面射型雷射的工作溫度隨驅動電流之變化曲線圖。圖10中曲線Y1、Y2、Y3及Y4分別為環境溫度Tc=300K、320K、340K及360K時工作溫度隨驅動電流之變化曲線。
圖11為本申請實施例中之光子晶體面射型雷射的工作溫度隨驅動電流之變化曲線圖。圖11中曲線Z1、Z2、Z3及Z4分別為環境溫度Tc=300K、320K、340K及360K時工作溫度隨驅動電流之變化曲線。
由此可知，在任意相同環境溫度下，驅動電流相等時，曲線Z（Z1、Z2、Z3及Z4）對應之溫度最小，也即本申請實施例中之光子晶體面射型雷射工作時溫度最小，散熱效果最好。
驅動模組3與光發射模組2整合，且省去基板，也有利於結構小型化。藉由第一電極28與第二電極29共平面設置，無需設置打孔區域實現電連接，還有利於縮小光發射模組2之面積、避免打孔區域產生寄生電容電感。
本技術領域之普通技術人員應當認識到，以上之實施方式僅是用來說明本申請，而並非用作為對本申請之限定，只要於本申請之實質精神範圍之內，對以上實施例所作之適當改變及變化均落於本申請要求保護之範圍之內。
100:光學系統 10:光子晶體面射型雷射裝置 2:光發射模組 20:絕緣層 21:光子晶體層 211:歐姆接觸層 212:第二披覆層 213:通孔 22:主動發光層 221:量子井主動發光層 222:能障層 23:第一披覆層 24:布拉格反射鏡 241:第一折射層 242:第二折射層 25:透明導電層 26:透光基板 27:導熱膠層 28:第一電極 281:第三導電部 282:第四導電部 283:延伸部 29:第二電極 291:第一導電部 292:第二導電部 2921:內壁 3:驅動模組 31:基板 G:閘極 S:源極 D:汲極 P:連接電極 32:緩衝層 33:通道層 331:P型氮化鎵層 332:氮化鋁鎵能障層 333:無摻雜氮化鎵通道 34:電極層 35:絕緣材料層 S0:缺口 S1:收容空間 S2:中空空間 X、Y、Z、X1、X2、X3、X4、Y1、Y2、Y3、Y4、Z1、Z2、Z3、Z4:曲線
圖1為本申請實施例中光學系統之模塊結構示意圖。
圖2為圖1中光發射模組之平面結構示意圖。
圖3為圖2中光發射模組沿Ш-Ш線之剖面結構示意圖。
圖4為圖2中光發射模組沿Ⅳ-Ⅳ線之剖面結構示意圖。
圖5為其他實施例中光子晶體面射型雷射之平面結構示意圖。
圖6為圖1中驅動模組之平面結構示意圖。
圖7為光發射模組及圖6中驅動模組沿Ⅶ-Ⅶ線之剖面結構示意圖。
圖8為複數不同光子晶體面射型雷射在環境溫度為360K時工作溫度隨驅動電流之變化曲線圖。
圖9為第一對比例中光子晶體面射型雷射在不同環境溫度時工作溫度隨驅動電流之變化曲線圖。
圖10為第二對比例中光子晶體面射型雷射在不同環境溫度時工作溫度隨驅動電流之變化曲線圖。
圖11為本申請實施例中光子晶體面射型雷射在不同環境溫度時工作溫度隨驅動電流之變化曲線圖。
2:光發射模組
3:驅動模組
31:基板
G:閘極
S:源極
D:汲極
P:連接電極
32:緩衝層
33:通道層
331:P型氮化鎵層
332:氮化鋁鎵能障層
333:無摻雜氮化鎵通道
34:電極層
35:絕緣材料層

Claims (10)

  1. 一種光子晶體面射型雷射裝置，其改良在於，包括： 光發射模組，包括： 光子晶體層； 主動發光層，位於所述光子晶體層之一側； 第一電極，位於所述主動發光層遠離所述光子晶體層之一側；以及 第二電極，至少部分位於所述主動發光層遠離所述光子晶體層之一側；以及 驅動模組，分別與所述第一電極及所述第二電極遠離所述光子晶體層之表面電接觸，用於輸出驅動訊號至所述第一電極及所述第二電極，以驅動所述主動發光層產生光子，所述光子入射至所述光子晶體層發生布拉格繞射振盪以產生雷射。
  2. 如請求項1所述之光子晶體面射型雷射裝置，其中，所述第二電極包括相互電連接之第一導電部和第二導電部； 所述第一導電部位於所述主動發光層遠離所述光子晶體層之一側，所述第二導電部沿所述第一導電部之外緣朝向所述光子晶體層方向延伸，所述第二導電部為包括一中空空間之筒狀結構，所述光子晶體層及所述主動發光層位於所述中空空間內。
  3. 如請求項2所述之光子晶體面射型雷射裝置，其中，所述光發射模組還包括透明導電層，所述透明導電層位於所述光子晶體層遠離所述主動發光層之一側，並位於所述中空空間內； 所述第二電極之第二導電部靠近所述光子晶體層之一端與所述透明導電層電接觸。
  4. 如請求項2所述之光子晶體面射型雷射裝置，其中，所述第一電極包括第三導電部，所述第三導電部在所述主動發光層上之正投影完全覆蓋所述光子晶體層在所述主動發光層上之正投影。
  5. 如請求項4所述之光子晶體面射型雷射裝置，其中，所述第二電極之第一導電部圍合形成具有一缺口之收容空間，所述第一電極之第三導電部位於所述收容空間內。
  6. 如請求項1至5任一項所述之光子晶體面射型雷射裝置，其中，所述驅動模組為電晶體。
  7. 如請求項6所述之光子晶體面射型雷射裝置，其中，所述驅動模組為氮化鎵電晶體。
  8. 如請求項6所述之光子晶體面射型雷射裝置，其中，所述驅動模組包括一電極層，所述電極層包括相互間隔絕緣之閘極、源極及汲極； 所述閘極電接觸所述第二電極，所述汲極電接觸所述第一電極，所述閘極上之電壓大於所述驅動模組之閾值電壓時，所述源極及所述汲極導通，所述汲極及所述閘極用於施加所述驅動訊號至所述第一電極及所述第二電極。
  9. 如請求項6所述之光子晶體面射型雷射裝置，其中，所述驅動模組包括一電極層，所述電極層包括相互間隔絕緣之閘極、源極、汲極及連接電極； 所述汲極電接觸所述第一電極，所述閘極上之電壓大於所述驅動模組之閾值電壓時，所述源極及所述汲極導通，所述汲極用於施加所述驅動訊號至所述第一電極； 所述連接電極電接觸所述第二電極，用於施加所述驅動訊號至所述第二電極。
  10. 一種光學系統，其改良在於，包括： 光子晶體面射型雷射裝置，如請求項1至9任一項所述；以及 控制裝置，電連接所述光子晶體面射型雷射裝置，用於輸出所述驅動訊號至所述光子晶體面射型雷射裝置以驅動所述光子晶體面射型雷射裝置發射雷射。
TW110140178A 2021-10-28 2021-10-28 光子晶體面射型雷射裝置及光學系統 TW202318748A (zh)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW110140178A TW202318748A (zh) 2021-10-28 2021-10-28 光子晶體面射型雷射裝置及光學系統
CN202210883369.6A CN116053928A (zh) 2021-10-28 2022-07-26 光子晶体面射型激光装置及光学系统
US17/969,906 US20230140206A1 (en) 2021-10-28 2022-10-20 Photonic crystal surface-emitting laser and optical system
EP22202804.5A EP4175078A1 (en) 2021-10-28 2022-10-20 Photonic crystal surface-emitting laser and optical system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW110140178A TW202318748A (zh) 2021-10-28 2021-10-28 光子晶體面射型雷射裝置及光學系統

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW202318748A true TW202318748A (zh) 2023-05-01

Family

ID=83902943

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW110140178A TW202318748A (zh) 2021-10-28 2021-10-28 光子晶體面射型雷射裝置及光學系統

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20230140206A1 (zh)
EP (1) EP4175078A1 (zh)
CN (1) CN116053928A (zh)
TW (1) TW202318748A (zh)

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070248128A1 (en) * 2006-04-25 2007-10-25 Nl Nanosemiconductor Gmbh Double-sided monolithically integrated optoelectronic module with temperature compensation
JP2020047783A (ja) * 2018-09-19 2020-03-26 株式会社東芝 半導体発光デバイスの製造方法及び半導体発光デバイス
US10886702B2 (en) * 2018-11-09 2021-01-05 Facebook Technologies, Llc Vertical-cavity surface-emitting laser for near-field illumination of an eye

Also Published As

Publication number Publication date
US20230140206A1 (en) 2023-05-04
CN116053928A (zh) 2023-05-02
EP4175078A1 (en) 2023-05-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10290993B2 (en) VCSEL illuminator package
US6005262A (en) Flip-chip bonded VCSEL CMOS circuit with silicon monitor detector
US6261859B1 (en) Method for fabricating surface-emitting semiconductor device, surface-emitting semiconductor device fabricated by the method, and display device using the device
WO2021124968A1 (ja) 垂直共振器型面発光レーザ素子、垂直共振器型面発光レーザ素子アレイ、垂直共振器型面発光レーザモジュール及び垂直共振器型面発光レーザ素子の製造方法
JP2006066518A (ja) 半導体発光素子および半導体発光素子の製造方法
US20180115138A1 (en) Semiconductor laser device, photoelectric converter, and optical information processing unit
JP5480192B2 (ja) 半導体発光素子の製造方法
US7221693B2 (en) Surface-emitting type semiconductor laser, optical module, and optical transmission device
JP5387833B2 (ja) 発光装置
JP5170406B2 (ja) 発光装置
JP5115073B2 (ja) 半導体発光装置
JPH10308560A (ja) 半導体発光素子および発光装置
WO2023221943A1 (zh) 光学设备、激光光源及制作方法
TW202318748A (zh) 光子晶體面射型雷射裝置及光學系統
JPH1051078A (ja) 半導体レーザアレイ及びその製造方法
TWM625459U (zh) 光子晶體面射型雷射裝置及光學系統
CN114069391B (zh) 一种垂直腔面发射激光器以及制备方法
TW201743462A (zh) 發光元件
JPH07335975A (ja) 窒化ガリウム系化合物半導体レーザ素子
JP2018032654A (ja) 垂直共振器型発光素子レーザモジュール
JP2002100799A (ja) 半導体受光素子、半導体発光受光装置、およびその作製方法
JPH06244502A (ja) 面発光レーザ装置及びその製造方法
JP2000022285A (ja) 光電融合デバイス
CN110289548B (zh) flip chip型VCSEL芯片及其制造方法
JPH0614574B2 (ja) 半導体レ−ザ