TW202300945A - 提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率系統及其方法 - Google Patents
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Abstract
一種提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率系統及其方法，邊界掃描互連測試工作站分別與第一測試針板以及第二測試針板形成電性連接，邊界掃描互連測試工作站自第一測試針板得到待檢測測點對應的檢測訊號，並依據檢測訊號判定是否導通，邊界掃描互連測試工作站透過第二測試針板得到待檢測電路板的邊界掃描元件的邊界掃描互連測試結果，邊界掃描互連測試工作站將檢測訊號的導通判定結果與邊界掃描互連測試結果統整並生成檢測結果，藉此可以達成提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率的技術功效。
Description
一種測試系統及其方法，尤其是指一種透過不同的測試針板分別對可進行邊界掃描測試且具備電源供應的腳位與不能進行邊界掃描測試且不具備電源供應的腳位進行測試的提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率系統及其方法。
現有的邊界掃描互連測試工作站是提供對待測試電路板上的邊界掃描元件進行測試，通過邊界掃描檢測程式所建立的邊界掃描鏈，以實現在邊界掃描檢測程式進行資料分析與處理，最終形成腳位互連狀態的故障判據。
現有的邊界掃描互連測試工作站可以對於待測試電路板上的各個連接器與邊界掃描晶片互聯測試，可以檢測結構性的故障，例如：故障、短路、開路…等。
現有的邊界掃描互連測試工作站的核心技術即是利用邊界掃描測試技術，然而邊界掃描測試技術是需要在待測線路的兩端皆具備邊界掃描晶片且邊界掃描晶片具備可以控制的移位暫存器（cell），然而對於待測線路的一端無邊界掃描晶片或是邊界掃描晶片沒有可以控制的移位暫存器將無法依據現有邊界掃描測試技術進行測試。
除此之外，在邊界掃描互連測試工作站對待測試電路板進行測試時，待測試電路板是需要有電源供應時進行測試，邊界掃描互連測試工作站仍存在有無法進行待測試電路板不具電源供應時測試的問題。
綜上所述，可知先前技術中長期以來一直存在現有待測試電路板採用邊界掃描測試僅能測得具備電源供應且可控移位暫存器的邊界掃描晶片各腳位檢測的問題，因此有必要提出改進的技術手段，來解決此一問題。
有鑒於先前技術存在現有待測試電路板採用邊界掃描測試僅能測得具備電源供應且可控移位暫存器的邊界掃描晶片各腳位檢測的問題，本發明遂揭露一種提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率系統及其方法，其中：
本發明所揭露的提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率系統，適用於邊界掃描互連測試工作站的檢測，其包含：待檢測電路板、第一測試針板以及第二測試針板。
待檢測電路板由邊界掃描互連測試工作站設定有多個待檢測測點，待檢測測點無法透過邊界掃描互連測試進行檢測；第一測試針板具有多個第一測試針腳，第一測試針腳分別與待檢測測點位置對應，透過邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使第一測試針腳分別與對應的待檢測測點形成電性連接；及第二測試針板提供邊界掃描互連測試工作站對待檢測電路板的邊界掃描元件進行邊界掃描互連測試。
其中，邊界掃描互連測試工作站分別與第一測試針板以及第二測試針板形成電性連接，邊界掃描互連測試工作站自第一測試針板得到待檢測測點對應的檢測訊號，並依據檢測訊號判定是否導通，邊界掃描互連測試工作站透過第二測試針板得到待檢測電路板的邊界掃描元件的邊界掃描互連測試結果，邊界掃描互連測試工作站將檢測訊號的導通判定結果與邊界掃描互連測試結果統整並生成檢測結果。
本發明所揭露的提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率方法，其包含下列步驟：
首先，邊界掃描互連測試工作站設定待檢測電路板上的多個待檢測測點，待檢測測點無法透過邊界掃描互連測試進行檢測；接著，提供具有多個第一測試針腳的第一測試針板，第一測試針板具有多個第一測試針腳，第一測試針腳分別與待檢測測點位置對應；接著，測試針板透過邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使第一測試針腳分別與對應的待檢測測點形成電性連接；接著，第二測試針板提供邊界掃描互連測試工作站對待檢測電路板的邊界掃描元件進行邊界掃描互連測試；接著，邊界掃描互連測試工作站分別與第一測試針板以及第二測試針板形成電性連接；接著，邊界掃描互連測試工作站自第一測試針板得到待檢測測點對應的檢測訊號，並依據檢測訊號判定是否導通；接著，邊界掃描互連測試工作站透過第二測試針板得到待檢測電路板的邊界掃描元件的邊界掃描互連測試結果；最後，邊界掃描互連測試工作站將檢測訊號的導通判定結果與邊界掃描互連測試結果統整並生成檢測結果。
本發明所揭露的系統及方法如上，與先前技術之間的差異在於邊界掃描互連測試工作站分別與第一測試針板以及第二測試針板形成電性連接，邊界掃描互連測試工作站自第一測試針板得到待檢測測點對應的檢測訊號，並依據檢測訊號判定是否導通，邊界掃描互連測試工作站透過第二測試針板得到待檢測電路板的邊界掃描元件的邊界掃描互連測試結果，邊界掃描互連測試工作站將檢測訊號的導通判定結果與邊界掃描互連測試結果統整並生成檢測結果。
透過上述的技術手段，本發明可以達成提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率的技術功效。
以下將配合圖式及實施例來詳細說明本發明的實施方式，藉此對本發明如何應用技術手段來解決技術問題並達成技術功效的實現過程能充分理解並據以實施。
以下首先要說明本發明所揭露的提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率系統，並請參考「第1圖」所示，「第1圖」繪示為本發明提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率系統的系統方塊圖。
本發明所揭露的提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率系統，其包含：適用於邊界掃描互連測試工作站100的檢測，其包含：待檢測電路板10、第一測試針板20以及第二測試針板30。
請參考「第2圖」所示，「第2圖」繪示為本發明提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率的連接架構示意圖。
待檢測電路板10由邊界掃描互連測試工作站100設定有多個待檢測測點11，邊界掃描互連測試工作站100則是將無法透過邊界掃描互連測試進行檢測的電子線路中，進行待檢測測點11的設定，被設定的待檢測測點11即是提供對電子線路的導通進行檢測之用。
第一測試針板20具有多個第一測試針腳21，第一測試針腳21分別與待檢測測點11位置對應，亦即不同型號的待檢測電路板10對於第一測試針板20中多個第一測試針腳21的設置位置可以是不相同、可以是部分相同且部分不相同，也可以是完全相同。
在邊界掃描互連測試工作站100依據待檢測電路板10選用對應的第一測試針板20後，邊界掃描互連測試工作站100藉由夾具的壓合使第一測試針板20的第一測試針腳21分別與待檢測電路板10中對應的待檢測測點11形成電性連接。
由於不同型號的待檢測電路板10因邊界掃描晶片、連接器…等的設置的位置不同，使得邊界掃描互連測試工作站100亦是需要選取與待檢測電路板10相對應的第二測試針板30，藉以使得第二測試針板30提供邊界掃描互連測試工作站100對待檢測電路板10的邊界掃描元件進行邊界掃描互連測試，邊界掃描互連測試工作站100透過第二測試針板30對待檢測電路板10的邊界掃描元件進行邊界掃描互連測試的測試過程請參考現有技術的說明，本發明不再進行贅述。
邊界掃描互連測試工作站100分別與第一測試針板20以及第二測試針板30形成電性連接，邊界掃描互連測試工作站100可以透過由第一測試針板20的第一測試針腳21所延伸的線材形成電性連接，或是第一測試針板20的第一測試針腳21藉由第一測試針板20的線路設計連接到連接器，再透過連接線與連接器的連接使邊界掃描互連測試工作站100與第一測試針板20形成電性連接，第二測試針板30是透過連接器與連接線彼此相連使邊界掃描互連測試工作站100與第二測試針板30形成電性連接。
在邊界掃描互連測試工作站100藉由夾具的壓合使第一測試針板20的第一測試針腳21分別與待檢測電路板10中對應的待檢測測點11形成電性連接時，邊界掃描互連測試工作站100即可自第一測試針板10接收待檢測測點11的電子訊號，將接收到的待檢測測點11的電子訊號轉換為待檢測測點11對應的檢測訊號，使邊界掃描互連測試工作站100可以依據自第一測試針板20所得到待檢測測點11對應的檢測訊號以判定是否導通。
值得注意的是，在邊界掃描互連測試工作站100藉由夾具的壓合使第一測試針板20的第一測試針腳21分別與待檢測電路板10中對應的待檢測測點11形成電性連接時，待檢測電路板10此時是未獲得電源供應。
接著，邊界掃描互連測試工作站100會將第二測試針板30替換第一測試針板20，第二測試針板30的第二測試針腳31與邊界掃描元件12的邊界掃描腳位13形成電性連接，使邊界掃描互連測試工作站100透過第二測試針板30得到待檢測電路板10的邊界掃描元件12的邊界掃描互連測試結果，值得注意的是，邊界掃描互連測試工作站100透過第二測試針板30得到待檢測電路板10的邊界掃描元件的邊界掃描互連測試結果時，待檢測電路板10此時是獲得電源供應。
接著，邊界掃描互連測試工作站100即可將檢測訊號的導通判定結果與邊界掃描互連測試結果統整並生成檢測結果。
接著，以下將以第一個實施例來說明本發明第一實施態樣的運作系統與方法，並請同時參考「第1圖」以及「第2圖」所示，「第2圖」繪示為本發明提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率方法的方法流程圖。
首先，邊界掃描互連測試工作站設定待檢測電路板上的多個待檢測測點，待檢測測點無法透過邊界掃描互連測試進行檢測（步驟101）；接著，提供具有多個第一測試針腳的第一測試針板，第一測試針板具有多個第一測試針腳，第一測試針腳分別與待檢測測點位置對應（步驟102）；接著，測試針板透過邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使第一測試針腳分別與對應的待檢測測點形成電性連接（步驟103）；接著，第二測試針板提供邊界掃描互連測試工作站對待檢測電路板的邊界掃描元件進行邊界掃描互連測試（步驟104）；接著，邊界掃描互連測試工作站分別與第一測試針板以及第二測試針板形成電性連接（步驟105）；接著，邊界掃描互連測試工作站自第一測試針板得到待檢測測點對應的檢測訊號，並依據檢測訊號判定是否導通（步驟106）；接著，邊界掃描互連測試工作站透過第二測試針板得到待檢測電路板的邊界掃描元件的邊界掃描互連測試結果（步驟107）；最後，邊界掃描互連測試工作站將檢測訊號的導通判定結果與邊界掃描互連測試結果統整並生成檢測結果（步驟108）。
綜上所述，可知本發明與先前技術之間的差異在於邊界掃描互連測試工作站分別與第一測試針板以及第二測試針板形成電性連接，邊界掃描互連測試工作站自第一測試針板得到待檢測測點對應的檢測訊號，並依據檢測訊號判定是否導通，邊界掃描互連測試工作站透過第二測試針板得到待檢測電路板的邊界掃描元件的邊界掃描互連測試結果，邊界掃描互連測試工作站將檢測訊號的導通判定結果與邊界掃描互連測試結果統整並生成檢測結果。
藉由此一技術手段可以來解決先前技術所存在現有待測試電路板採用邊界掃描測試僅能測得具備電源供應且可控移位暫存器的邊界掃描晶片各腳位檢測的問題，進而達成提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率的技術功效。
雖然本發明所揭露的實施方式如上，惟所述的內容並非用以直接限定本發明的專利保護範圍。任何本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明所揭露的精神和範圍的前提下，可以在實施的形式上及細節上作些許的更動。本發明的專利保護範圍，仍須以所附的申請專利範圍所界定者為準。
100:邊界掃描互連測試工作站
10:待檢測電路板
11:待檢測測點
12:邊界掃描元件
13:邊界掃描腳位
20:第一測試針板
21:第一測試針腳
30:第二測試針板
31:第二測試針腳
步驟 101:邊界掃描互連測試工作站設定待檢測電路板上的多個待檢測測點，待檢測測點無法透過邊界掃描互連測試進行檢測
步驟 102:提供具有多個第一測試針腳的第一測試針板，第一測試針板具有多個第一測試針腳，第一測試針腳分別與待檢測測點位置對應
步驟 103:測試針板透過邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使第一測試針腳分別與對應的待檢測測點形成電性連接
步驟 104:第二測試針板提供邊界掃描互連測試工作站對待檢測電路板的邊界掃描元件進行邊界掃描互連測試
步驟 105:邊界掃描互連測試工作站分別與第一測試針板以及第二測試針板形成電性連接
步驟 106:邊界掃描互連測試工作站自第一測試針板得到待檢測測點對應的檢測訊號，並依據檢測訊號判定是否導通
步驟 107:邊界掃描互連測試工作站透過第二測試針板得到待檢測電路板的邊界掃描元件的邊界掃描互連測試結果
步驟 108:邊界掃描互連測試工作站將檢測訊號的導通判定結果與邊界掃描互連測試結果統整並生成檢測結果
第1圖繪示為本發明提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率系統的系統方塊圖。
第2圖繪示為本發明提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率的連接架構示意圖。
第3A圖以及第3B圖繪示為本發明提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率方法的方法流程圖。
100:邊界掃描互連測試工作站
10:待檢測電路板
20:第一測試針板
30:第二測試針板
Claims (10)
- 一種提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率系統，適用於一邊界掃描互連測試工作站的檢測，其包含： 一待檢測電路板，所述待檢測電路板由所述邊界掃描互連測試工作站設定有多個待檢測測點，所述待檢測測點無法透過邊界掃描互連測試進行檢測； 一第一測試針板，所述第一測試針板具有多個第一測試針腳，所述第一測試針腳分別與所述待檢測測點位置對應，透過所述邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使所述第一測試針腳分別與對應的所述待檢測測點形成電性連接；及 一第二測試針板，所述第二測試針板提供所述邊界掃描互連測試工作站對所述待檢測電路板的邊界掃描元件進行邊界掃描互連測試； 其中，所述邊界掃描互連測試工作站分別與所述第一測試針板以及所述第二測試針板形成電性連接，所述邊界掃描互連測試工作站自所述第一測試針板得到所述待檢測測點對應的一檢測訊號，並依據所述檢測訊號判定是否導通，所述邊界掃描互連測試工作站透過所述第二測試針板得到所述待檢測電路板的邊界掃描元件的邊界掃描互連測試結果，所述邊界掃描互連測試工作站將所述檢測訊號的導通判定結果與邊界掃描互連測試結果統整並生成一檢測結果。
- 如請求項1所述的提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率系統，其中所述邊界掃描互連測試工作站自所述第一測試針板得到所述待檢測測點對應的所述檢測訊號，並依據所述檢測訊號判定是否導通是所述邊界掃描互連測試工作站自所述第一測試針板接收所述待檢測測點的電子訊號，將接收到的所述待檢測測點的電子訊號轉換為所述待檢測測點對應的所述檢測訊號。
- 如請求項1所述的提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率系統，其中所述邊界掃描互連測試工作站依據所述待檢測電路板選用對應的所述第一測試針板以使所述邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使所述第一測試針腳分別與對應的所述待檢測測點形成電性連接。
- 如請求項1所述的提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率系統，其中所述邊界掃描互連測試工作站自所述第一測試針板得到所述待檢測測點對應的所述檢測訊號，並依據所述檢測訊號判定是否導通，所述待檢測電路板未獲得電源供應。
- 如請求項1所述的提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率系統，其中所述邊界掃描互連測試工作站透過所述第二測試針板得到所述待檢測電路板的邊界掃描元件的邊界掃描互連測試結果，所述待檢測電路板獲得電源供應。
- 一種提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率方法，適用於一邊界掃描互連測試工作站的檢測，其包含下列步驟： 所述邊界掃描互連測試工作站設定一待檢測電路板上的多個待檢測測點，所述待檢測測點無法透過邊界掃描互連測試進行檢測； 提供具有多個第一測試針腳的一第一測試針板，所述第一測試針板具有多個第一測試針腳，所述第一測試針腳分別與所述待檢測測點位置對應； 所述測試針板透過所述邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使所述第一測試針腳分別與對應的所述待檢測測點形成電性連接； 一第二測試針板提供所述邊界掃描互連測試工作站對所述待檢測電路板的邊界掃描元件進行邊界掃描互連測試； 所述邊界掃描互連測試工作站分別與所述第一測試針板以及所述第二測試針板形成電性連接； 所述邊界掃描互連測試工作站自所述第一測試針板得到所述待檢測測點對應的一檢測訊號，並依據所述檢測訊號判定是否導通； 所述邊界掃描互連測試工作站透過所述第二測試針板得到所述待檢測電路板的邊界掃描元件的邊界掃描互連測試結果；及 所述邊界掃描互連測試工作站將所述檢測訊號的導通判定結果與邊界掃描互連測試結果統整並生成一檢測結果。
- 如請求項6所述的提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率方法，其中所述邊界掃描互連測試工作站自所述第一測試針板得到所述待檢測測點對應的一檢測訊號，並依據所述檢測訊號判定是否導通的步驟中所述邊界掃描互連測試工作站自所述第一測試針板接收所述待檢測測點的電子訊號，將接收到的所述待檢測測點的電子訊號轉換為所述待檢測測點對應的所述檢測訊號。
- 如請求項6所述的提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率方法，其中所述測試針板透過所述邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使所述第一測試針腳分別與對應的所述待檢測測點形成電性連接的步驟是所述邊界掃描互連測試工作站依據所述待檢測電路板選用對應的所述第一測試針板以使所述邊界掃描互連測試工作站的夾具壓合使所述第一測試針腳分別與對應的所述待檢測測點形成電性連接。
- 如請求項6所述的提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率方法，其中所述邊界掃描互連測試工作站自所述第一測試針板得到所述待檢測測點對應的一檢測訊號，並依據所述檢測訊號判定是否導通的步驟中所述待檢測電路板未獲得電源供應。
- 如請求項6所述的提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率方法，其中所述邊界掃描互連測試工作站透過所述第二測試針板得到所述待檢測電路板的邊界掃描元件的邊界掃描互連測試結果的步驟中所述待檢測電路板獲得電源供應。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW110123109A TWI773402B (zh) | 2021-06-24 | 2021-06-24 | 提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率系統及其方法 |
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| TW110123109A TWI773402B (zh) | 2021-06-24 | 2021-06-24 | 提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率系統及其方法 |
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|---|---|
| TWI773402B TWI773402B (zh) | 2022-08-01 |
| TW202300945A true TW202300945A (zh) | 2023-01-01 |
Family
ID=83807053
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW110123109A TWI773402B (zh) | 2021-06-24 | 2021-06-24 | 提高邊界掃描測試的腳位測試涵蓋率系統及其方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| TW (1) | TWI773402B (zh) |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TW253097B (zh) * | 1992-03-02 | 1995-08-01 | At & T Corp | |
| US5751737A (en) * | 1997-02-26 | 1998-05-12 | Hewlett-Packard Company | Boundary scan testing device |
| CN102142911A (zh) * | 2010-08-31 | 2011-08-03 | 华为技术有限公司 | 通信设备和通信测试方法 |
| TWI437243B (zh) * | 2010-12-30 | 2014-05-11 | Test Research Inc | 電性連接缺陷模擬測試方法及其系統 |
| WO2017195300A1 (ja) * | 2016-05-11 | 2017-11-16 | Ｗｉｔ株式会社 | 多機能型基板検査装置および多機能型基板検査方法 |
-
2021
- 2021-06-24 TW TW110123109A patent/TWI773402B/zh active
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TWI773402B (zh) | 2022-08-01 |
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