TW202226572A - 微發光二極體顯示器及其封裝方法 - Google Patents

微發光二極體顯示器及其封裝方法 Download PDF

Info

Publication number
TW202226572A
TW202226572A TW109146297A TW109146297A TW202226572A TW 202226572 A TW202226572 A TW 202226572A TW 109146297 A TW109146297 A TW 109146297A TW 109146297 A TW109146297 A TW 109146297A TW 202226572 A TW202226572 A TW 202226572A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
micro
led
substrate
light
microstructures
Prior art date
Application number
TW109146297A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI758033B (zh
Inventor
范佳銘
陳伯綸
陳俊達
林柏青
許雅筑
黃乾祐
高秉詳
Original Assignee
大陸商業成科技（成都）有限公司
大陸商業成光電（深圳）有限公司
英特盛科技股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 大陸商業成科技（成都）有限公司, 大陸商業成光電（深圳）有限公司, 英特盛科技股份有限公司 filed Critical 大陸商業成科技（成都）有限公司
Application granted granted Critical
Publication of TWI758033B publication Critical patent/TWI758033B/zh
Publication of TW202226572A publication Critical patent/TW202226572A/zh

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/075—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
    • H01L25/0753—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00 the devices being arranged next to each other
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/15—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission
    • H01L27/153—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars
    • H01L27/156—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars two-dimensional arrays
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/483—Containers
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/52—Encapsulations
    • H01L33/54—Encapsulations having a particular shape
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/52—Encapsulations
    • H01L33/56—Materials, e.g. epoxy or silicone resin
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/58—Optical field-shaping elements
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62—Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008—Processes
    • H01L2933/0033—Processes relating to semiconductor body packages
    • H01L2933/005—Processes relating to semiconductor body packages relating to encapsulations
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/44—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the coatings, e.g. passivation layer or anti-reflective coating

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)

Abstract

一種微發光二極體顯示器及其封裝封法。此微發光二極體顯示器包含基板、數個微發光二極體晶粒、以及封裝膜。基板包含線路。微發光二極體晶粒設於基板之表面上且與線路電性連接。每個微發光二極體晶粒之出光面設有至少一微結構，每個微結構包含頂端。封裝膜包覆這些微發光二極體晶粒，並覆蓋基板之表面。這些微結構之頂端位於封裝膜之出光面中。

Description

微發光二極體顯示器及其封裝方法
本揭露是有關於一種顯示器之封裝技術，且特別是有關於一種微發光二極體顯示器及其封裝方法。
隨著光電產業的蓬勃發展，顯示器技術已從液晶顯示器(LCD)進展到有機發光二極體(OLED)，目前更已進展到新興的微發光二極體顯示器。微發光二極體顯示器的製造流程是將製做好的紅色、綠色、與藍色個別發光二極體晶粒經由巨量轉移技術，而將發光二極體晶粒轉移黏著在佈有電極和驅動線路的基板上。可藉由錫膏與異方性導電膠(ACF)等導電黏著材料來接著發光二極體晶粒之電極與驅動線路。導電黏著材料可同時提供導通電路與固定發光二極體晶粒的功能。
透過巨量轉移技術而轉移到基板上的發光二極體晶粒僅靠其與基板之電極之間的導電黏著層接合。然而，微發光二極體晶粒的尺寸相當微小，因此導電黏著層的尺寸也相當小，使得微發光二極體晶粒對基板之黏附的力量微弱。因此，當發光二極體晶粒於受到外力時，有極高的脫落風險。尤其是當微發光二極體晶粒設置在柔性基板上來作為可撓顯示器的應用時，若無適當的保護層，發光二極體晶粒極易在彎折時脫落。無保護層的發光二極體晶粒在基板經過撓折後脫落，而在基板之導電線路上留下空缺，嚴重影響產品可靠度。因此，微發光二極體顯示器需有適當的封裝設計，以避免微發光二極體晶粒脫落。
在目前常見的微發光二極體顯示器的封裝方式主要可分為兩種。第一種方式係將三顆微發光二極體晶粒封裝成一個較大的模塊，再利用巨量轉移技術將這些模塊黏著至基板的線路上。相較於單顆微發光二極體晶粒，模塊較大而可以較強附著力黏著在基板上，因此可承受外力而不脫落。然而，在基板上模塊與模塊之間具有間隙，這使得顯示器在近距離觀看下，會明顯感受到表面不平整的間隙，因而限制了顯示器的觀看距離。
第二種方式係先利用巨量轉移技術將微發光二極體晶粒黏著至基板之線路上後，再利用塗佈製程將封裝膠塗佈在基板上，封裝膠固化後即可形成保護層。然而，此種封裝方式需要額外的封裝膠塗佈設備與製程，導致成本增加。而且，塗佈製程在軟性基板上不易控制。此外，封裝膠之塗佈厚度不均更會造成微發光二極體顯示器發光不均勻。
因此，本揭露之一目的就是在提供一種微發光二極體顯示器及其封裝方法，其利用壓合軟化之封裝膜來封裝微發光二極體顯示器，藉此可免去額外的封裝膠塗佈製程，降低封裝製程成本，並可使封裝膜與微發光二極體晶粒緊密結合，強化微發光二極體顯示器的結構穩定性，更可使微發光二極體顯示器之表面平整化，提升顯示品質。
根據本揭露之上述目的，提出一種微發光二極體顯示器，其包含基板、數個微發光二極體晶粒、以及封裝膜。基板包含線路。微發光二極體晶粒設於基板之表面上且與線路電性連接。每個微發光二極體晶粒之出光面設有至少一微結構，每個微結構包含頂端。封裝膜包覆這些微發光二極體晶粒，並覆蓋基板之表面。這些微結構之頂端位於封裝膜之出光面中。
依據本揭露之一實施例，上述每個微結構包含圓錐、多邊形角錐、圓弧透鏡、微透鏡、圓平錐、或多邊形平錐。
依據本揭露之一實施例，上述之微結構具有相同形狀與尺寸。
依據本揭露之一實施例，上述每個微結構之折射率大於封裝膜之折射率，且小於每個微發光二極體晶粒之半導體層之折射率。
依據本揭露之一實施例，上述每個微結構之高度為約3μm至約10μm。
依據本揭露之一實施例，上述每個微結構為導光結構，此導光結構包含主體以及反射層覆蓋主體之側壁面。
依據本揭露之一實施例，上述每個微結構包含倒圓平錐結構，此倒圓平錐結構包含反射側壁面。
依據本揭露之一實施例，上述之微結構之材料包含二氧化矽、二氧化鈦、氧化鋁(A 2O 3)、或其任意組合。
依據本揭露之一實施例，上述之封裝膜完全覆蓋基板之表面。
依據本揭露之一實施例，上述之封裝膜包含數個封裝膜塊，這些封裝膜塊彼此分開。
依據本揭露之一實施例，上述之微發光二極體晶粒分成數個群組，且上述封裝膜塊分別包覆這些群組。
依據本揭露之一實施例，上述之封裝膜之材料包含聚乙烯醋酸乙烯酯(EVA)、聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)、丙烯酸、樹脂、橡膠、聚胺甲酸脂、或其任意組合。
依據本揭露之一實施例，上述每個微發光二極體晶粒上之微結構之底面小於或等於微發光二極體晶粒之出光面。
根據本揭露之上述目的，提出一種微發光二極體顯示器之封裝方法。在此方法中，設置數個微發光二極體晶粒於基板之表面上。設置微發光二極體晶粒包含電性連接這些微發光二極體晶粒與基板之線路。每個微發光二極體晶粒之出光面設有至少一微結構。軟化封裝膜。利用加壓板將軟化之封裝膜壓設於基板之表面上，直至每個微結構之頂端與加壓板接觸。
依據本揭露之一實施例，上述之封裝膜包含熱塑性材料，且軟化封裝膜包含加熱封裝膜。
依據本揭露之一實施例，上述軟化封裝膜包含利用加熱板或紅外線加熱器加熱封裝膜。
依據本揭露之一實施例，上述軟化封裝膜包含將封裝膜之溫度升高到約80℃至約150℃。
根據本揭露之上述目的，提出一種微發光二極體顯示器之封裝方法。在此方法中，設置數個微發光二極體晶粒於基板之表面上。設置這些微發光二極體晶粒包含電性連接這些微發光二極體晶粒與基板之線路。這些微發光二極體晶粒分成數個群組。每個微發光二極體晶粒之出光面設有至少一微結構。軟化加壓板上之數個封裝膜塊。利用加壓板將軟化之封裝膜塊壓設於基板之表面上，以使這些封裝膜塊分別對應包覆住微發光二極體晶粒的這些群組。將軟化之封裝膜塊壓設於基板之表面上包含使每個微結構之頂端與這些封裝膜塊之表面齊平。
依據本揭露之一實施例，上述每個封裝膜包含熱塑性材料，且軟化這些封裝膜膜包含加熱這些封裝膜塊。
依據本揭露之一實施例，上述軟化這些封裝膜塊包含利用加熱板或紅外線加熱器加熱這些封裝膜塊。
依據本揭露之一實施例，上述軟化這些封裝膜塊包含透過加壓板加熱這些封裝膜塊。
依據本揭露之一實施例，上述軟化這些封裝膜塊包含將這些封裝膜塊之溫度升高到約80℃至約150℃。
依據本揭露之一實施例，壓設於基板之表面上的這些封裝膜塊彼此分開。
依據本揭露之一實施例，上述將軟化之封裝膜塊壓設於基板之表面上包含使每個微發光二極體晶粒之群組之微發光二極體晶粒之微結構穿過對應之封裝膜塊，直至抵住加壓板。
本揭露之實施方式將具有微結構之微發光二極體晶粒接合於基板後，透過軟化封裝膜、及以加壓板將軟化之封裝膜壓合於基板與微發光二極體晶粒上，來封裝微發光二極體晶粒。由於壓合封裝膜時，微結構可穿過封裝膜而抵住加壓板，因此所有的微發光二極體晶粒可完整地包覆於封裝膜中，而可使封裝膜與微發光二極體晶粒緊密結合，進而可強化微發光二極體晶粒在基板上的穩定性。而且，透過壓合軟化之封裝膜的封裝方式製程容易控制，且可免去額外的封裝膠塗佈製程，因此可減少塗佈設備的成本，降低製程成本。
此外，微發光二極體晶粒上之微結構可與封裝膜之出光面齊平，而可使得微發光二極體顯示器之表面平整化，進而可提升微發光二極體顯示器之顯示品質。另，微發光二極體晶粒之出光面上的微結構可避免微發光二極體晶粒的發光被內部結構侷限，而可增加微發光二極體晶粒的光取出效率。
以下仔細討論本揭露的實施例。然而，可以理解的是，實施例提供許多可應用的概念，其可實施於各式各樣的特定內容中。所討論與揭示的實施例僅供說明，並非用以限定本揭露之範圍。本揭露的所有實施例揭露多種不同特徵，但這些特徵可依需求而單獨實施或結合實施。
另外，關於本文中所使用之「第一」、「第二」、…等，並非特別指次序或順位的意思，其僅為了區別以相同技術用語描述的元件或操作。
本揭露所敘述之二元件之間的空間關係不僅適用於圖式所繪示之方位，亦適用於圖式所未呈現之方位，例如倒置之方位。此外，本揭露所稱二個部件的「連接」、「電性連接」、或之類用語並非僅限制於此二者為直接的連接或電性連接，亦可視需求而包含間接的連接或電性連接。
請參照圖1，其係繪示依照本揭露之一實施方式的一種微發光二極體顯示器的局部剖面示意圖。微發光二極體顯示器100a主要可包含基板110、數個微發光二極體晶粒120、以及封裝膜130。基板110之材料可例如包含玻璃、聚醯亞胺(PI)、聚對苯二甲酸乙二酯(PET)、或聚碳酸酯(PC)。基板110之表面112設有導電之線路114。線路114可與所有的微發光二極體晶粒120電性連接，以驅動點亮這些微發光二極體晶粒120。
這些微發光二極體晶粒120可包含許多發出不同色光的微發光二極體晶粒。在一些例子中，微發光二極體晶粒120包含紅色發光二極體晶粒、綠色發光二極體晶粒、與藍色微發光二極體晶粒。微發光二極體晶粒120所發出之色光可取決於產品需求，本揭露不在此限。每個微發光二極體晶粒120可包含二種不同電性之半導體材料層以及夾設在此二半導體材料層之間的發光層。舉例而言，此二半導體材料層可分別為N型半導體層與P型半導體層，發光層可包含多重量子井(MQW)結構。半導體材料層與發光層之材料可例如為磷化鎵銦(GaInP)或氮化鎵(GaN)。半導體材料層與發光層之材料的折射率可例如為2.4至3.4。
如圖1所示，每個微發光二極體晶粒120具有接合面120a與出光面120b，其中接合面120a與出光面120b分別位於微發光二極體晶粒120的相對二側。每個微發光二極體晶粒120更可包含第一電極122與第二電極124，其中第一電極122與第二電極124設於接合面120a上且彼此分開。微發光二極體晶粒120設於基板110的表面112上，且每個微發光二極體晶粒120可利用導電接合層140與基板110之線路114接合，以與線路114達成電性連接。微發光二極體晶粒120之第一電極122與第二電極124分別透過導電接合層140而與線路114電性連接。舉例而言，導電接合層140可為錫膏或異方性導電膜(ACF)。導電接合層140可為任何適合的導電接著材料，本揭露不在此限。
每個微發光二極體晶粒120之出光面120b上可設置一或多個微結構150。舉例而言，如圖1所示，每個微發光二極體晶粒120之出光面120b可設有一個微結構150。這些微結構150可包含圓錐、多邊形角錐、圓弧透鏡、微透鏡、圓平錐、或多邊形平錐，其中多邊形角錐可例如為三角錐與金字塔形之四角錐等等。微結構150之形狀可取決於產品與製程需求，不在此限。
在一些例子中，這些微發光二極體晶粒120之微結構150具有相同形狀與尺寸。在另一些例子中，這些微發光二極體晶粒120上之微結構150之形狀與尺寸不全然相同，而可有一部分之微發光二極體晶粒120上之微結構150具有相同形狀與尺寸，另一部分之微發光二極體晶粒120上之微結構150的形狀與尺寸不同於該部分之微發光二極體晶粒120。此外，此另一部分之微發光二極體晶粒120上之微結構150之形狀與尺寸可彼此相同亦可不相同。舉例而言，紅光之微發光二極體晶粒120上的微結構150可為圓錐形，綠光之微發光二極體晶粒120上的微結構150可為金字塔形，藍光之微發光二極體晶粒120上的微結構150可為半圓形透鏡。
每個微結構150具有底面152。在每個微發光二極體晶粒120之出光面120b上僅設有單一個微結構150的例子中，微結構150之底面152小於或等於微發光二極體晶粒120之出光面120b。請同時參照圖1與圖2，其中圖2係繪示依照本揭露之一實施方式的一種微發光二極體晶粒的放大立體示意圖。在圖1與圖2的例子中，微結構150並未占滿微發光二極體晶粒120之出光面120b，微結構150之底面152小於微發光二極體晶粒120之出光面120b。在一些示範例子中，微結構150之高度H可為約3μm至約10μm。
每個微發光二極體晶粒120之出光面120b上可設置多個微結構150。在這樣的例子中，一個微發光二極體晶粒120上的這些微結構150可具有相同形狀與相同尺寸、相同形狀與不同尺寸、或不同形狀。舉例而言，當一個微發光二極體晶粒120上設有二個微結構150時，二個微結構150可為相同尺寸之圓平錐結構、一個底面較大之圓平錐結構與另一個底面較小之圓平錐結構、或一個圓平錐結構與另一個金字塔型結構。
每個微結構150具有與底面152相對之頂端154。頂端154可例如為點狀或平面狀。在微結構150為圓錐與角錐等錐狀結構、或圓弧透鏡與微透鏡的例子中，微結構150之頂端154為頂點或切點。在微結構150為平圓錐與平角錐等平錐狀結構的例子中，微結構150之頂端154為平面。微結構150亦具有側壁面156，其中側壁面156自底面152朝內傾斜地延伸至頂端154。
微結構150為可透光材質。為了提高微發光二極體顯示器100a之光取出效率，微結構150可選用折射率小於微發光二極體晶粒120中與其鄰接之半導體層之折射率的材料。此外，微結構150之折射率可大於封裝膜130之折射率。微結構150之折射率可為1至2.4。在一些示範例子中，微結構150之材料包含二氧化矽、二氧化鈦、氧化鋁、或其任意組合。
請參照圖3A，其係繪示依照本揭露之一實施方式的一種微結構的放大立體示意圖。此實施方式之微結構150a為平圓錐結構。微結構150a包含彼此相對之底面152a與頂面154a。底面152a與頂面154a為圓形。底面152a之面積大於頂面154a之面積。在一些示範例子中，底面152a之直徑Ra 1可為約3μm至約30μm，頂面154a之直徑Ra 2可為大於0μm至約30μm。微結構150a之高度Ha可為約3μm至約10μm。底面152a之直徑Ra 1對高度Ha的比值可為約1至約3。
請參照圖3B，其係繪示依照本揭露之一實施方式的一種微結構的放大立體示意圖。此實施方式之微結構150b為圓弧透鏡。微結構150b之底面152b為圓形。在一些示範例子中，底面152b之直徑Rb可為約3μm至約30μm。微結構150b之高度Hb可為約3μm至約10μm。底面152b之直徑Rb對高度Hb的比值可為約1至約3。
請參照圖3C，其係繪示依照本揭露之一實施方式的一種微結構的放大立體示意圖。此實施方式之微結構150c為金字塔形結構。微結構150c之底面152c為四邊形。在一些示範例子中，底面152c之寬度W可為約3μm至約30μm。微結構150c之高度Hc可為約3μm至約10μm。此外，寬度W對高度Hc的比值可為約1至約3。
請繼續參照圖1，封裝膜130設置在基板110之表面112上，且完全包覆所有微發光二極體晶粒120。封裝膜130可完全覆蓋基板110之表面112。在其他例子中，封裝膜130可僅覆蓋基板110之表面112的局部區域。封裝膜130亦包覆所有微結構150，其中微結構150之頂端154裸露出，以利光取出。封裝膜130具有出光面132，且出光面132為平整表面。在一些例子中，封裝膜130之出光面132與這些微結構150之頂端154齊平，亦即這些微結構150之頂端154位於封裝膜130之出光面132中。在一些例子中，微結構150可未穿破封裝膜130，如此封裝膜130可完全包覆微結構150，微結構150之頂端154未裸露出。
封裝膜130可包含熱塑性材料，藉此可利用加熱方式來軟化封裝膜130。此外，封裝膜130可例如選用折射率小於微結構150之折射率的材料。在一些示範例子中，封裝膜130之材料包含聚乙烯醋酸乙烯酯、聚甲基丙烯酸甲酯、丙烯酸、樹脂、橡膠、聚胺甲酸脂、或其任意組合。
在每個微發光二極體晶粒120之出光面120b上設置微結構150，可避免微發光二極體晶粒120的發光被內部結構侷限，因此可提升微發光二極體晶粒120的光取出效率。此外，封裝膜130不僅完整包覆所有的微發光二極體晶粒120，也填滿了微發光二極體晶粒120之間的間隙，因此封裝膜130、微發光二極體晶粒120、與基板110可緊密結合，進而可強化微發光二極體晶粒120在基板110上的穩定性。而且，微發光二極體晶粒120上之微結構150與封裝膜130之出光面132齊平，可使得微發光二極體顯示器100a具有平整的出光表面，藉此可提升微發光二極體顯示器100a之顯示品質。
請參照圖4，其係繪示依照本揭露之一實施方式的一種微發光二極體顯示器的局部剖面示意圖。本實施方式之微發光二極體顯示器100b之架構大致與上述實施方式之微發光二極體顯示器100a的架構相同，二者之間的差異在於微發光二極體顯示器100b之微發光二極體晶粒120之出光面120b上的微結構160為導光結構。
在一些例子中，微結構160可為倒平錐結構，例如倒圓平錐結構或倒多邊形平錐結構。亦即，微結構160具有底面160a與頂面160b，其中頂面160b之面積大於底面160a之面積。微結構160亦具有側壁面160c，其中側壁面160c自底面160a朝外傾斜地延伸至頂面160b。微結構160之側壁面160c為可反射光的壁面，藉此微結構160可形成反射杯，而可有效導引微發光二極體晶粒120所發出之光。
在一些示範例子中，請繼續參照圖4，微結構160包含主體162與反射層164。主體162為倒平錐結構，例如倒圓平錐結構或倒多邊形平錐結構。因此，主體162具有傾斜之側壁面162a。主體162為可透光材質。此外，主體162可選用折射率小於微發光二極體晶粒120中與其鄰接之半導體層之折射率的材料。在一些示範例子中，主體162之材料包含二氧化矽、二氧化鈦、氧化鋁、或其任意組合。反射層164覆蓋在主體162之側壁面162a上，藉此使微結構160形成反射杯。在一些特定例子中，微結構160之主體162之側壁面162a已具有反射光的功能時，可省略反射層164。
請參照圖5，其係繪示依照本揭露之一實施方式的一種微發光二極體顯示器的局部上視示意圖。本實施方式之微發光二極體顯示器100c與上述實施方式之微發光二極體顯示器100a之架構大致相同，二者的差異在於微發光二極體顯示器100c之封裝膜170包含數個彼此實體分開的封裝膜塊172，而非單一連續的封裝膜層。
在微發光二極體顯示器100c中，每個封裝膜塊172包覆住數個微發光二極體晶粒120及其上之微結構150之側壁面156。舉例而言，如圖5所示，每個封裝膜塊172包覆9個微發光二極體晶粒120及其上之微結構150的側壁面156。換句話說，微發光二極體顯示器100c之所有微發光二極體晶粒120可分成數個群組180、182、184、與186，每個群組180、182、184、與186可例如有9個微發光二極體晶粒120。在本揭露中，每個群組中微發光二極體晶粒120的數量需大於1，以使封裝膜塊172及其所包覆之微發光二極體晶粒120對基板110具有較大的附著力。每個群組中微發光二極體晶粒120的數量可依產品與製程需求而調整，本揭露並不限於上述例子。
請參照圖6A至圖6D，其係繪示依照本揭露之一實施方式的一種微發光二極體顯示器之封裝方法的局部剖面流程圖。進行封裝以形成如圖6D所示之微發光二極體顯示器100a時，可先提供數個微發光二極體晶粒120與基板110。微發光二極體晶粒120與基板110之類型、架構、與材料的例子已於上述實施方式中描述，於此不再贅述。
提供微發光二極體晶粒120時，可先於每個微發光二極體晶粒120之出光面120b上設置一或多個微結構150。微結構150之形狀、材質、安排、與尺寸的例子已於上述實施方式中描述，於此不再贅述。此外，亦可以圖4所示之微結構160來取代本實施方式之微結構150。
接著，將這些微發光二極體晶粒120設置在基板110之表面112上。舉例而言，如圖6A所示，可利用導電接合層140來將微發光二極體晶粒120之電極第一電極122與第二電極124分別接合在基板110之表面112上的線路114，以電性連接微發光二極體晶粒120與線路114。
將微發光二極體晶粒120接著於基板110之表面112上的線路114後，可提供封裝膜130，並對封裝膜130進行軟化處理。在一些例子中，可透過加熱封裝膜130的方式來軟化封裝膜130。在這樣的例子中，封裝膜130可包含熱塑性材料，例如聚乙烯醋酸乙烯酯、聚甲基丙烯酸甲酯、丙烯酸、樹脂、橡膠、聚胺甲酸脂、或其任意組合。利用加熱方式來軟化封裝膜130時，可將封裝膜130的溫度提升到約80℃至約150℃。
軟化封裝膜130時，可利用例如加熱板或紅外線加熱器來加熱封裝膜130。在一些示範例子中，可透過後續壓合封裝膜130之加壓板200來加熱封裝膜130。在這樣的例子中，加壓板200本身可具有加熱功能，或者加壓板200不具加熱功能而是利用額外之加熱裝置經由加壓板200來對封裝膜130間接加熱。請參照圖6B，可先將封裝膜130設置在加壓板200之表面202上。加壓板200之表面202可例如為平坦面，以利後續壓合封裝膜130之步驟的進行。接著，可利用加壓板200直接加熱封裝膜130，或透過其他加熱裝置經由加壓板200來間接加熱封裝膜130，藉以將封裝膜130軟化。
本揭露並不限於利用加熱方式來軟化封裝膜130，可根據封裝膜130之材料特性來選擇任何適合的軟化封裝膜130方式。
請繼續參照圖6B，待封裝膜130軟化後，可利用加壓板200承載封裝膜130，並對軟化之封裝膜130施加壓力使封裝膜130貼合在基板110之表面112上。將封裝膜130壓合在基板110之表面112時，微結構150可穿刺軟化之封裝膜130直至其頂端154接觸而抵頂加壓板200之表面202，如圖6C所示。此時，封裝膜130可完整包覆在微發光二極體晶粒120與基板110之表面112上，且封裝膜130之出光面132平整。因此，封裝膜130之出光面132與微結構150之頂端154齊平，即微結構150之頂端154位於封裝膜130之出光面132中。而且，封裝膜130可填滿微發光二極體晶粒120之間的空間。在一些例子中，微結構150可未穿破封裝膜130，如此微結構150可被封裝膜130完全包覆，使得微結構150之頂端154未裸露出。
接著，將加壓板200移除，即大致完成微發光二極體顯示器100a的封裝。如圖6D所示，由於在加壓板200的壓制下，封裝膜130之出光面132平整，且與微發光二極體晶粒120上的微結構150的頂端154齊平，因此微發光二極體顯示器100a之表面平整且無間隙。
本實施方式之封裝方法可使封裝膜130填滿微發光二極體晶粒120之間的空間，而可使封裝膜130與微發光二極體晶粒120緊密結合，更可增加封裝膜130與基板110之表面112的接合面積。因此，可強化微發光二極體晶粒120在基板110上的穩定性，有效提升微發光二極體顯示器100a的良率。此外，此封裝方式可使微發光二極體顯示器100a具平整無間隙之表面，因此可大幅提升顯示品質。而且，此封裝方式可免除額外的封裝膠塗佈製程，因此可減少塗佈設備的成本，有效降低製程成本。
請參照圖7A至圖7D，其係繪示依照本揭露之一實施方式的一種微發光二極體顯示器之封裝方法的局部剖面流程圖。進行封裝以形成如圖7D所示之微發光二極體顯示器100c時，可先提供數個微發光二極體晶粒120與基板110。微發光二極體晶粒120與基板110之類型、架構、與材料的例子已於上述實施方式中描述，於此不再贅述。
提供微發光二極體晶粒120時，可先設置一或多個微結構150在每個微發光二極體晶粒120之出光面120b上。微結構150之形狀、材質、安排、與尺寸的例子已於上述實施方式中描述，於此不再贅述。同樣可以圖4所示之微結構160來取代本實施方式之微結構150。
接下來，如圖7A所示，可利用導電接合層140來將這些微發光二極體晶粒120接合在基板110之表面112上。微發光二極體晶粒120之電極第一電極122與第二電極124可分別透過導電接合層140而固定在基板110之表面112上的線路114上，藉此電性連接微發光二極體晶粒120與線路114。
在本實施方式中，將接合在基板110之表面112上的微發光二極體晶粒120分成數個群組，如圖5所示之群組180、182、184、與186。圖7A僅繪示圖5中之二個群組180與182。每個群組180、182、184、與186中微發光二極體晶粒120的數量需大於1。舉例而言，如圖5所示，每個群組180、182、184、與186包含9顆微發光二極體晶粒120。每個群組中微發光二極體晶粒120的數量可依產品與製程需求而調整，本揭露不在此限。每個群組180、182、184、與186之微發光二極體晶粒120位於同一區域中，以利封裝。
接著，可提供封裝膜170，並將這些封裝膜170放置在加壓板200之表面202上。封裝膜170包含數個封裝膜塊172。封裝膜塊172之數量與微發光二極體晶粒120之群組數量相同。此外，如圖7B所示，將這些封裝膜塊172排列在加壓板200之表面202上，以使這些封裝膜塊172的位置分別對應於基板110之表面112上的微發光二極體晶粒120的群組180與182。
在加壓板200上，這些封裝膜塊172彼此實體分開。如圖7B所示，加壓板200之表面202可例如為一平坦表面。在一些例子中，加壓板之承載表面亦可非一平坦表面，而可包含數個相隔開的平坦部以分別承載封裝膜塊172。這些平坦部的面積大於封裝膜塊172的面積，以使封裝膜塊172壓合後之表面172(請先參照圖7C)為平坦面。
隨後，對加壓板200上的這些封裝膜塊172進行軟化處理。在一些例子中，可透過加熱方式來軟化封裝膜塊172。同樣地，封裝膜塊172可包含熱塑性材料，例如聚乙烯醋酸乙烯酯、聚甲基丙烯酸甲酯、丙烯酸、樹脂、橡膠、聚胺甲酸脂、或其任意組合。軟化封裝膜塊172時，可將封裝膜塊172的溫度提升到約80℃至約150℃。
在一些例子中，可利用加熱板或紅外線加熱器來加熱這些封裝膜塊172。對這些封裝膜塊172加熱時，可利用加熱板或紅外線加熱器等加熱裝置，經由加壓板200來對封裝膜塊172間接加熱。若加壓板200本身具有加熱功能時，可利用加壓板200直接對其上之封裝膜塊172加熱。同樣地，本揭露並不限於利用加熱方式來軟化封裝膜塊172，而是可根據封裝膜塊172之材料特性來選擇任何適合的軟化。
如圖7B所示，將封裝膜塊172朝向基板110之表面112，並利用加壓板200對軟化之封裝膜塊172施加壓力，以使封裝膜塊172分別對應包覆住微發光二極體晶粒120的群組180與182並貼合在基板110之表面112上。如圖7C所示，將封裝膜塊172壓合在基板110之表面112時，微結構150可穿過對應之軟化封裝膜塊172直至其頂端154接觸而抵頂加壓板200之表面202。在本實施方式中，所有封裝膜塊172之表面172a平整，且彼此齊平。此外，封裝膜塊172之表面172a亦與微結構150之頂端154齊平，如此微結構150之頂端154位於對應之封裝膜塊172的表面172a中。
壓合後，每個封裝膜塊172可完整包覆住對應群組180或182中的所有微發光二極體晶粒120，並覆蓋群組180或182所在之基板110之表面112的區域上。而且，封裝膜塊172可填滿對應群組180或182中之微發光二極體晶粒120之間的空間。在一些例子中，壓合在基板110之表面112上的這些封裝膜塊172可彼此分開，而呈島狀封裝結構，如圖7C所示。然，基板110之表面112上的這些封裝膜塊172亦可全部或部分接合在一起。
然後，可將加壓板200移除，而大致完成微發光二極體顯示器100c的封裝。如圖7D所示，在加壓板200的壓制下，所有封裝膜塊172之表面172a平整且彼此齊平，也與微發光二極體晶粒120上的微結構150的頂端154齊平，因此微發光二極體顯示器100c之表面平整。
由上述之實施方式可知，本揭露之一優點就是因為本揭露將具有微結構之微發光二極體晶粒接合於基板後，透過軟化封裝膜、及以加壓板將軟化之封裝膜壓合於基板與微發光二極體晶粒上，來封裝微發光二極體晶粒。由於壓合封裝膜時，微結構可穿過封裝膜而抵住加壓板，因此所有的微發光二極體晶粒可完整地包覆於封裝膜中，而可使封裝膜與微發光二極體晶粒緊密結合，進而可強化微發光二極體晶粒在基板上的穩定性。而且，透過壓合軟化之封裝膜的封裝方式製程容易控制，且可免去額外的封裝膠塗佈製程，因此可減少塗佈設備的成本，降低製程成本。
由上述之實施方式可知，本揭露之另一優點就是因為本揭露之微發光二極體晶粒上的微結構可與封裝膜之出光面齊平，而可使得微發光二極體顯示器之表面平整化，進而可提升微發光二極體顯示器之顯示品質。另，微發光二極體晶粒之出光面上的微結構可避免微發光二極體晶粒的發光被內部結構侷限，而可增加微發光二極體晶粒的光取出效率。
以上概述了數個實施例的特徵，因此熟習此技藝者可以更了解本揭露的態樣。熟習此技藝者應了解到，其可輕易地把本揭露當作基礎來設計或修改其他的製程與結構，藉此實現和在此所介紹的這些實施例相同的目標及/或達到相同的優點。熟習此技藝者也應可明白，這些等效的建構並未脫離本揭露的精神與範圍，並且他們可以在不脫離本揭露精神與範圍的前提下做各種的改變、替換與變動。
100a:微發光二極體顯示器 100b:微發光二極體顯示器 100c:微發光二極體顯示器 110:基板 112:表面 114:線路 120:微發光二極體晶粒 120a:接合面 120b:出光面 122:第一電極 124:第二電極 130:封裝膜 132:出光面 140:導電接合層 150:微結構 150a:微結構 150b:微結構 150c:微結構 152:底面 152a:底面 152b:底面 152c:底面 154:頂端 154a:頂面 156:側壁面 160:微結構 160a:底面 160b:頂面 160c:側壁面 162:主體 162a:側壁面 164:反射層 170:封裝膜 172:封裝膜塊 172a:表面 180:群組 182:群組 184:群組 186:群組 200:加壓板 202:表面 H:高度 Ha:高度 Hb:高度 Hc:高度 Ra 1:直徑 Ra 2:直徑 Rb:直徑 W:寬度
從以下結合所附圖式所做的詳細描述，可對本揭露之態樣有更佳的了解。需注意的是，根據業界的標準實務，各特徵並未依比例繪示。事實上，為了使討論更為清楚，各特徵的尺寸都可任意地增加或減少。 ［圖1］係繪示依照本揭露之一實施方式的一種微發光二極體顯示器的局部剖面示意圖； ［圖2］係繪示依照本揭露之一實施方式的一種微發光二極體晶粒的放大立體示意圖； ［圖3A］係繪示依照本揭露之一實施方式的一種微結構的放大立體示意圖； ［圖3B］係繪示依照本揭露之一實施方式的一種微結構的放大立體示意圖； ［圖3C］係繪示依照本揭露之一實施方式的一種微結構的放大立體示意圖； ［圖4］係繪示依照本揭露之一實施方式的一種微發光二極體顯示器的局部剖面示意圖； ［圖5］係繪示依照本揭露之一實施方式的一種微發光二極體顯示器的局部上視示意圖； ［圖6A］至［圖6D］係繪示依照本揭露之一實施方式的一種微發光二極體顯示器之封裝方法的局部剖面流程圖；以及 ［圖7A］至［圖7D］係繪示依照本揭露之一實施方式的一種微發光二極體顯示器之封裝方法的局部剖面流程圖。
國內寄存資訊(請依寄存機構、日期、號碼順序註記) 無 國外寄存資訊(請依寄存國家、機構、日期、號碼順序註記) 無
100a:微發光二極體顯示器
110:基板
112:表面
114:線路
120:微發光二極體晶粒
120a:接合面
120b:出光面
122:第一電極
124:第二電極
130:封裝膜
132:出光面
140:導電接合層
150:微結構
152:底面
154:頂端
156:側壁面
H:高度

Claims (24)

  1. 一種微發光二極體顯示器，包含： 一基板，包含一線路； 複數個微發光二極體晶粒，設於該基板之一表面上且與該線路電性連接，其中每一該些微發光二極體晶粒之一出光面設有至少一微結構，每一該些微結構包含一頂端；以及 一封裝膜，包覆該些微發光二極體晶粒，並覆蓋該基板之該表面，其中該些微結構之該些頂端位於該封裝膜之一出光面中。
  2. 如請求項1所述之微發光二極體顯示器，其中每一該些微結構包含圓錐、多邊形角錐、圓弧透鏡、微透鏡、圓平錐、或多邊形平錐。
  3. 如請求項1所述之微發光二極體顯示器，其中該些微結構具有相同形狀與尺寸。
  4. 如請求項1所述之微發光二極體顯示器，其中每一該些微結構之折射率大於該封裝膜之折射率，且小於每一該些微發光二極體晶粒之一半導體層之折射率。
  5. 如請求項1所述之微發光二極體顯示器，其中每一該些微結構之高度為3μm至10μm。
  6. 如請求項1所述之微發光二極體顯示器，其中每一該些微結構為一導光結構，該導光結構包含一主體以及一反射層覆蓋該主體之一側壁面。
  7. 如請求項1所述之微發光二極體顯示器，其中每一該些微結構包含一倒圓平錐結構，該倒圓平錐結構包含一反射側壁面。
  8. 如請求項1所述之微發光二極體顯示器，其中該些微結構之材料包含二氧化矽、二氧化鈦、氧化鋁、或其任意組合。
  9. 如請求項1所述之微發光二極體顯示器，其中該封裝膜完全覆蓋該基板之該表面。
  10. 如請求項1所述之微發光二極體顯示器，其中該封裝膜包含複數個封裝膜塊，該些封裝膜塊彼此分開。
  11. 如請求項10所述之微發光二極體顯示器，其中該些微發光二極體晶粒分成複數個群組，且該些封裝膜塊分別包覆該些群組。
  12. 如請求項1所述之微發光二極體顯示器，其中該封裝膜之材料包含聚乙烯醋酸乙烯酯、聚甲基丙烯酸甲酯、丙烯酸、樹脂、橡膠、聚胺甲酸脂、或其任意組合。
  13. 如請求項1所述之微發光二極體顯示器，其中每一該些微發光二極體晶粒上之該至少一微結構之一底面小於或等於該微發光二極體晶粒之該出光面。
  14. 一種微發光二極體顯示器之封裝方法，包含： 設置複數個微發光二極體晶粒於一基板之一表面上，其中設置該些微發光二極體晶粒包含電性連接該些微發光二極體晶粒與該基板之一線路，其中每一該些微發光二極體晶粒之一出光面設有至少一微結構； 軟化一封裝膜；以及 利用一加壓板將軟化之該封裝膜壓設於該基板之該表面上，直至每一該些微結構之一頂端與該加壓板接觸。
  15. 如請求項14所述之方法，其中該封裝膜包含一熱塑性材料，且軟化該封裝膜包含加熱該封裝膜。
  16. 如請求項14所述之方法，其中軟化該封裝膜包含利用一加熱板或一紅外線加熱器加熱該封裝膜。
  17. 如請求項14所述之方法，其中軟化該封裝膜包含將該封裝膜之溫度升高到80℃至150℃。
  18. 一種微發光二極體顯示器之封裝方法，包含： 設置複數個微發光二極體晶粒於一基板之一表面上，其中設置該些微發光二極體晶粒包含電性連接該些微發光二極體晶粒與該基板之一線路，該些微發光二極體晶粒分成複數個群組，且每一該些微發光二極體晶粒之一出光面設有至少一微結構； 軟化一加壓板上之複數個封裝膜塊；以及 利用該加壓板將軟化之該些封裝膜塊壓設於該基板之該表面上，以使該些封裝膜塊分別對應包覆住該些群組，其中將軟化之該些封裝膜塊壓設於該基板之該表面上包含使每一該些微結構之一頂端與每一該些封裝膜塊之一表面齊平。
  19. 如請求項18所述之方法，其中每一該些封裝膜包含一熱塑性材料，且軟化該些封裝膜膜包含加熱該些封裝膜塊。
  20. 如請求項18所述之方法，其中軟化該些封裝膜塊包含利用一加熱板或一紅外線加熱器加熱該些封裝膜塊。
  21. 如請求項18所述之方法，其中軟化該些封裝膜塊包含透過該加壓板加熱該些封裝膜塊。
  22. 如請求項18所述之方法，其中軟化該些封裝膜塊包含將該些封裝膜塊之溫度升高到80℃至150℃。
  23. 如請求項18所述之方法，其中壓設於該基板之該表面上之該些封裝膜塊彼此分開。
  24. 如請求項18所述之方法，其中將軟化之該些封裝膜塊壓設於該基板之該表面上包含使每一該些群組之該些微發光二極體晶粒之該些微結構穿過對應之該封裝膜塊，直至抵住該加壓板。
TW109146297A 2020-12-22 2020-12-25 微發光二極體顯示器及其封裝方法 TWI758033B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011527843.9 2020-12-22
CN202011527843.9A CN112652642B (zh) 2020-12-22 2020-12-22 微发光二极体显示器及其封装方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TWI758033B TWI758033B (zh) 2022-03-11
TW202226572A true TW202226572A (zh) 2022-07-01

Family

ID=75359178

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW109146297A TWI758033B (zh) 2020-12-22 2020-12-25 微發光二極體顯示器及其封裝方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US11527516B2 (zh)
CN (1) CN112652642B (zh)
TW (1) TWI758033B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI792432B (zh) * 2021-07-22 2023-02-11 錼創顯示科技股份有限公司 微型發光顯示裝置
TWI825846B (zh) * 2022-07-13 2023-12-11 力成科技股份有限公司 封裝結構及其製造方法

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI424251B (zh) * 2009-12-31 2014-01-21 Ind Tech Res Inst 發光單元陣列、用以製造其之方法及成像裝置
US20150268490A1 (en) * 2013-02-20 2015-09-24 Lg Chem, Ltd. Packaging film for display device
KR101589373B1 (ko) * 2013-05-21 2016-01-28 주식회사 엘지화학 유기전자장치
CN105976725B (zh) * 2016-06-20 2019-04-02 深圳市华星光电技术有限公司 微发光二极管显示面板
CN109387889A (zh) * 2017-08-03 2019-02-26 京东方科技集团股份有限公司 抗反射结构、显示装置及抗反射结构制作方法
US11404400B2 (en) * 2018-01-24 2022-08-02 Apple Inc. Micro LED based display panel
JP7079106B2 (ja) * 2018-01-24 2022-06-01 シャープ株式会社 画像表示素子、及び画像表示素子の製造方法
CN108321281A (zh) * 2018-03-30 2018-07-24 南方科技大学 一种微led显示面板及微led显示装置
WO2020040483A1 (en) * 2018-08-20 2020-02-27 Samsung Electronics Co., Ltd. Display apparatus and manufacturing method thereof
CN109256484B (zh) * 2018-08-31 2021-08-17 云谷（固安）科技有限公司 一种显示面板及其制备方法、显示器
CN109256456B (zh) * 2018-09-19 2020-04-10 福州大学 一种实现Micro-LED显示出光效率提升和窜扰降低的微结构及其制造方法
US11527683B2 (en) * 2018-10-11 2022-12-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Laser printing of color converter devices on micro LED display devices and methods
KR102126130B1 (ko) * 2018-10-23 2020-06-23 에스케이씨 주식회사 면봉지층을 포함하는 디스플레이모듈과 이의 제조방법
TW202213311A (zh) * 2020-09-18 2022-04-01 許華珍 一種顯示裝置

Also Published As

Publication number Publication date
US20220199586A1 (en) 2022-06-23
TWI758033B (zh) 2022-03-11
CN112652642B (zh) 2023-03-24
CN112652642A (zh) 2021-04-13
US11527516B2 (en) 2022-12-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6790899B2 (ja) 発光モジュールの製造方法及び発光モジュール
US10600941B2 (en) Electronic device and method for fabricating the same
TWI758033B (zh) 微發光二極體顯示器及其封裝方法
JP6912730B2 (ja) 発光モジュールの製造方法
US10753567B2 (en) Car lamp using semiconductor light emitting device
CN113130466A (zh) Led显示模组及其制作方法
JP6753438B2 (ja) 発光モジュールおよびその製造方法
CN113725346A (zh) Mini LED背光源、背光模组及其制作方法
JP7116331B2 (ja) 発光モジュールの製造方法及び発光モジュール
US10026757B1 (en) Micro-light emitting display device
TWI426480B (zh) 顯示裝置及其製造方法
CN107403862B (zh) 发光二极管封装结构的制作方法
JP6825608B2 (ja) 発光モジュールの製造方法
JP6963183B2 (ja) 発光モジュールの製造方法
KR101086997B1 (ko) 발광 소자 패키지와 그의 제조 방법 및 그를 이용한 카메라 플래시 모듈
TW202034410A (zh) 封裝結構及其製造方法、與電子裝置
JP2020027774A (ja) 発光モジュールおよびその製造方法
TWI726648B (zh) 畫素陣列基板及其製造方法
CN112106210B (zh) 使用半导体发光元件的灯及其制造方法
TWI801756B (zh) 發光模組與由發光模組拼接而成的發光裝置
TWI850567B (zh) 發光顯示裝置的封裝方法及封裝結構
CN216597633U (zh) Mini LED背光源、背光模组
JP6848942B2 (ja) 発光モジュールの製造方法
JP7140987B2 (ja) 発光モジュール及び発光モジュールの製造方法
JP7068594B2 (ja) 発光モジュールの製造方法及び発光モジュール