TW202121741A - 外殼及應用該外殼的無線裝置 - Google Patents

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Abstract

一種無線裝置，包含一外殼及一陣列天線；該外殼配置一低反射結構；該陣列天線，設置於該外殼內，以及該低反射結構位於該陣列天線經波束掃描後的輻射範圍內；其中，該低反射結構包含週期性排列的複數個槽孔；藉由本發明的無線裝置的外殼的低反射結構設計，可有效降低無線裝置因外殼造成的反射損耗，進而增強陣列天線的輻射效率與降低功耗。

Description

外殼及應用該外殼的無線裝置
本發明涉及一種外殼及應用該外殼的無線裝置，特別是有關於一種應用該外殼之毫米波天線。
隨著無線通訊資訊服務量的急遽成長，人們對通訊品質的要求越來越高，下一世代(即第五代行動通訊，簡稱5G)的無線通信技術應滿足高速率、高容量與高品質等運作需求。然而頻寬要增加並不是很容易，因為目前常用的頻譜已經非常壅擠，很難再找到尚未使用的大頻帶來滿足所需要傳輸速率的要求。因此必須往更高頻的(> 6 GHz)頻帶去選擇。為達到為來對5G的要求與展望，目前世界各研究組織與通訊研發大廠皆將原有使用的無線微波(micro wave)波段(即厘米波段，如2 GHz與5 GHz等頻段)轉移至較高頻段(> 6 GHz)之毫米波段。在此類頻段中，由於無過度開發，單一系統頻寬可較為寬闊(例如可達500 MHz至2 GHz)，以有效提升資料傳輸容量與系統效能。另一優點為毫米波頻段的波長小，前端元件易微型化。
在毫米波通訊應用上，外殼或裝置外殼是一大挑戰。這是由於毫米波波長與外殼厚度接近，易受外殼厚度與材料影響，產生反彈，造成能量衰減、旁波瓣生成與電磁干擾等問題。圖1是電磁波於陣列天線2與外殼1間作用示意圖，其中，圖1A為電磁波正向入射外殼1的示意圖，圖1B為電磁波斜向入射外殼1的示意圖；當電磁波正向輻射與斜向入射外殼時，皆會因為有外殼(絕緣介質)產生反射現象。主因為電磁波在穿透不同介質間時，在介面間可能產生阻抗不匹配，造成部分透射及部分反射之現象。此現象會使輻射能量受到損耗，另外反射訊號更可能在行動裝置內竄流，產生電磁相容之問題，造成別的電子器件無法正常工作。因此，為了減少因為外殼屏蔽造成輻射功率或能量的浪費，外殼的妥善設計是一重要課題，尤其應用毫米波頻段以上。
絕緣材質之外殼在低頻(sub-6GHz)中，由於厚度與波長相差甚遠，所以過去在外殼屏蔽電磁波的問題較不明顯；但來到毫米波頻段(28-39GHz)時，電磁波最大可被外殼屏蔽5dB以上，能量損耗將十分顯著。因此，本發明提出的改善方式，分別針對一般絕緣材料、玻璃、金屬三種不同屬性的介質材料的外殼，減少電磁波於界面反射而產生之能量損耗，進而增加輻射效率與降低功耗。
以下介紹本發明的基礎理論。圖2是電磁波於三介質材料中傳遞的示意圖。圖2描述電磁波入射三介質材料之情形，其中包含二介面，分別為介於第一介質材料到第二介質材料之間，及第二介質材料到第三介質材料之間；第一介質材料的本質阻抗為η1 ，第二介質材料的本質阻抗η2 ，第三介質材料的本質阻抗為η3 ；d為第二介質材料的厚度(即為本發明中外殼的厚度)；從第一介質材料到第二介質材料介面的輸入阻抗Z2 (0)可表示為
Figure 02_image001
(1)
如要在介面無反射，即η1 =Z2 (0)，又η1 =η3 = Z2 (0)，故只要
Figure 02_image003
(2)  即成立。因此，
Figure 02_image005
(3)
其中λg為電磁波於第二介質材料中之波長，λg可表示為
Figure 02_image007
(4)
其中，
Figure 02_image009
為介質的介電常數，c為光速，f為電磁波的頻率，因此，若能有效控制第二介質材料之厚度，則第二介質材料之效應(例如阻抗不匹配)可忽略。
在毫米波頻段，由於波長與外殼厚度相仿，其介質材料將影響電磁波傳遞的效果，過去習知之方法即是調整外殼厚度，使其與半波長之整數波相同(例如調整圖1中外殼1的厚度為
Figure 02_image011
)；藉由有效控制第二介質之厚度，以忽略外殼對電磁波之影響；然而，調整外殼厚度有可能使得外殼變更薄，損害外殼的機械強度。由方程式(3)與(4)得知，除了調整厚度可外，另一可調整的重要參數即是介電常數
Figure 02_image009
(即第二介質的介電常數)；介電常數為材料本身之特性，而且置換外殼材料不易，因此本發明提出一種種外殼及應用該外殼的無線裝置，其中包含具備低反射結構之外殼結構。
本揭露提供一種無線裝置，包括一外殼，配置一低反射結構；一陣列天線，設置於該外殼內，該低反射結構位於該陣列天線經波束掃描後的一輻射範圍內；其中，該低反射結構包含週期性排列的複數個槽孔。
藉由本發明的外殼，可有效降低陣列天線的反射損耗，進而增強陣列天線的輻射效率與降低功耗。進一步，在毫米波天線的通訊應用中，習知作法上，為了降低反射損耗而須降低外殼厚度，造成了外殼的機械損耗，而本發明所揭露的具週期性槽孔的外殼結構可無須改變外殼厚度，亦能達到降低反射損耗的效果，進而增強毫米波陣列天線的輻射效率與降低功耗。
為讓本揭露的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
實施方式中所提到的方向用語，例如：「上」、「下」、「前」、「後」、「左」、「右」等，僅是參考附圖的方向。因此，使用的方向用語是用來說明，而並非用來限制本發明。在附圖中，各圖式繪示的是特定示範實施例中所使用的方法、結構及/或材料的通常性特徵。然而，這些圖式不應被解釋為界定或限制由這些示範實施例所涵蓋的範圍或性質。舉例來說，為了清楚起見，各膜層、區域及/或結構的相對尺寸、厚度及位置可能縮小或放大。
在實施方式中，相同或相似的元件將採用相同或相似的標號，且將省略其贅述。此外，不同示範實施例中的特徵在沒有衝突的情況下可相互組合，且依本說明書或申請專利範圍所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本專利涵蓋之範圍內。另外，本說明書或申請專利範圍中提及的「第一」、「第二」等用語僅用以命名分立（discrete）的元件或區別不同實施例或範圍，而並非用來限制元件數量上的上限或下限，也並非用以限定元件的製造順序或設置順序。
圖3是本發明中陣列天線與配置低反射結構的外殼之相對位置關係圖。圖3a為本案之無線裝置3，無線裝置3包含外殼10，配置低反射結構11；外殼10設置於陣列天線20上，陣列天線20與電子元件30設置於一基板40上；圖3b為外殼10的俯視圖，外殼10配置低反射結構11，及非低反射結構12；圖3c為低反射結構11位於該陣列天線20經波束掃描(beam sweeping)後的輻射範圍內，其中，該低反射結構包含週期性排列的複數個槽孔，該些槽孔為複數個被移除之孔洞，可貫穿或未貫穿低反射結構11；在圖3c中，電磁波由陣列天線20輻射後，即可經由第一介質材料穿透第二介質材料後在第三介質材料中傳遞，在本發明中，第一介質材料以及第三介質材料為空氣，第二介質材料為外殼10之介質材料；圖3d為本案之陣列天線20的一實施例，陣列天線20可為多天線陣列，具備複數個天線單元21，例如39GHz的8乘8毫米波陣列，但不以此為限；陣列天線20的波束掃描的可掃描範圍為至少±60度。
圖4是本發明一實施例中低反射結構設置於一介質外殼上的結構圖，請同時參照圖3；圖4a的外殼10配置低反射結構11a，陣列天線20配置於該外殼10內(如圖4a所示，外殼10可完全覆蓋陣列天線20)，低反射結構11a位於該陣列天線20經波束掃描後的輻射範圍內，且陣列天線20設置於低反射結構11a的垂直投影範圍內；其中，該低反射結構11a包含週期性排列的複數個的槽孔13a，該些槽孔13a為複數個經移除而貫穿該外殼10 的孔洞(圖4b)。
由圖4b所示，槽孔13a的形狀為圓形，但不以此為限，在其他實施例中，槽孔13a的形狀可為方形或多邊形，槽孔13a中可填入介電材料或空氣，在一優選實施例中，槽孔13a中可填入空氣，但不以此為限；槽孔13a的半徑大小及週期為可改變的，改變槽孔13a之半徑大小及週期將改變外殼10中低反射結構11a的等效介電常數，在一實施例中，槽孔13a的週期為0.5λ，半徑大小為1/8~1/3 λ，但不以此為限，其中λ為陣列天線20在介質中輻射之電磁波波長。
由圖4c所示，本實施例中的介質外殼10的材質為絕緣材料，例如一般塑料、樹脂等易塑性材料(
Figure 02_image009
約為3.5)；外殼10具備一厚度值d，在無具備週期性排列的複數個的槽孔的外殼的情況下，當厚度值d為2.3mm時，造成陣列天線20的反射損耗為最小，當厚度值d為1.2mm時，造成陣列天線20的反射損耗為最大；然而在本發明的實施例中，在具備週期性排列的複數個的槽孔的外殼的情況下，當厚度值d為1.2mm時，可造成陣列天線20的反射損耗為最小；進一步，本實施例可依據外殼10的厚度調整適當的槽孔13a的半徑大小與週期，以調整外殼10在低反射結構11a的等效介電常數；亦可在槽孔13a中填入介電材料或空氣，以調整外殼10在低反射結構11a等效介電常數。
圖5是本發明一實施例中陣列天線透過圖4之低反射結構之外殼輻射而產生波鋒強度與掃描角度的關係圖，由圖5所示之陣列天線20在波束成形的波束掃描中可發現，配置週期性槽孔的外殼，相較無週期性槽孔的外殼可有效提升峰增益與降低反射損耗，尤其是在大角度掃描時(例如靠近±55度)，有週期性槽孔結構的外殼可提升約3dB的峰增益(peak gain)。
據此，本實施例中藉由配置於介質外殼中的低反射結構11a，可調整低反射結構11的等效介電常數，可有效降低陣列天線20的反射損耗，進而增強陣列天線20的輻射效率。相較於無具備週期性排列的複數個的槽孔的外殼，透過週期性排列的複數個貫穿槽孔的外殼，可有效降低陣列天線20的反射損耗；本實施例的無線裝置還可不受外殼厚度限制，且依據外殼10的厚度調整適當的槽孔13a的半徑大小與週期，以及在槽孔13a中填入介電材料或空氣，以調整外殼10在低反射結構11a的等效介電常數，進一步降低陣列天線20的反射損耗；另一方面，在槽孔13a中填入介電材料還可使外殼達到氣密之效果。
在一些外殼材料下，例如玻璃，不易進行物理性的結構改變，例如鑽週期性槽孔。因此，在本案中提出另一方法來改善外殼造成的電磁波反射。在本發明另一實施例中，如圖6所示本發明一實施例中具備低反射層之低反射結構的結構圖，圖6a的低反射結構11b包含外殼10及低反射層50；低反射層50表面包含週期性排列的該複數個槽孔13b，且該複數個槽孔13b係設置於該反射層表面上的一金屬層51中，該些槽孔13b為複數個未貫穿該低反射結構11b的孔洞；在一實施例中，外殼10的材質為玻璃(
Figure 02_image009
約為6.8)；外殼10具備一厚度值d，在無具備週期性排列的複數個槽孔的外殼的情況下，當厚度值d為1.5mm時，造成陣列天線20的反射損耗為最小；當厚度值d為0.8mm時，造成陣列天線20的反射損耗為最大；然而在本發明中，在具備週期性排列的複數個槽孔的低反射層50的情況下，當厚度值d為0.8mm時，低反射結構11b造成陣列天線20的反射損耗為最小。
據此，在玻璃外殼10下增加低反射層50，可使電磁波在玻璃與空氣間減少反射。低反射層50可為印刷電路板或軟板；在一實施例中，低反射層50為軟板，可由軟性電路板(flexible printed circuit, FPC)製程在軟板表面的金屬層51印製週期性排列的槽孔結構製作成網印結構；本實施例中，週期性排列的槽孔13b形狀為環形，但不以此為限；在其他實施例中，週期性排列的槽孔13b形狀可為圓形、多邊形、多邊環形或十字型，但不以此為限。軟板由於可撓性，具有比起一般印刷電路板具有可貼合於玻璃外殼上的優點。
圖7是本揭露的一實施例中陣列天線透過配置圖6之低反射結構之外殼輻射而產生波鋒強度與波束掃描角度的關係圖。由圖7所示之陣列天線20在波束成形的波束掃描中可發現，配置週期性槽孔的低反射層的玻璃外殼，相較無低反射層的玻璃外殼可有效提升峰增益與降低反射損耗，尤其是在大角度掃描時，有低反射層的玻璃外殼可提升約3dB的峰增益(peak gain)；由於本實施例不需對玻璃外殼鑽週期性槽孔，因此還可降低製作外殼所造成的機械損耗。
據此，本實施例中藉由具備低反射層之低反射結構11b，可調整低反射結構11的等效介電常數，可有效降低陣列天線20的反射損耗，進而增強陣列天線20的輻射效率。相較於無具備週期性排列的複數個的槽孔的外殼，透過週期性排列的複數個未貫穿槽孔的外殼，有效降低陣列天線20的反射損耗；本實施例的無線裝置還可不受外殼厚度限制，進一步降低陣列天線20的反射損耗。
在一些實施例中，外殼如為金屬材質，電磁波會被屏蔽而難以穿透至外界，尤其是在無線裝置操作於低頻段(例如毫米波)時。圖8是本發明一實施例中低反射結構設置於金屬外殼上的結構圖。圖8a的外殼10配置低反射結構11c，陣列天線20配置於該外殼10內(如圖8a所示，外殼10可完全覆蓋陣列天線20)，該低反射結構11c位於該陣列天線20經波束掃描後的輻射範圍內，且陣列天線20設置於低反射結構11c的垂直投影範圍內；其中，該低反射結構11c包含週期性排列的複數個槽孔13c，該些槽孔13c 為複數個經移除而貫穿該外殼10 的孔洞(圖8b)。
由圖8b所示，在本實施例中，槽孔13c的形狀為圓形，但不以此為限；在其他實施例中，槽孔13c的形狀可為方形或多邊形，但不以此為限；槽孔13c中可為中空或填入介電材料以增加密閉性，在一優選實施例中，槽孔13c中填入介電常數為3.5的介電材料，但不以此為限；槽孔13c的半徑大小及週期為可改變的，改變槽孔13c之半徑大小及週期將改變外殼10中低反射結構11c的等效介電常數；在一些實施例中，槽孔13c的週期為0.5λ~0.6λ，半徑大小為1/8~1/2 λ，其中λ為陣列天線20在介質(在本實施例中為金屬)中輻射之電磁波波長。
圖9是本發明一實施例中陣列天線透過配置圖8之低反射結構之外殼輻射而產生波鋒強度與掃描角度的關係圖，由圖9可證明39GHz之電磁波可有效穿過金屬外殼，而不會被金屬外殼屏蔽。
據此，本實施例中藉由配置於金屬外殼中的低反射結構11c，以調整低反射結構11的等效介電常數，可有效降低陣列天線20的反射損耗，使得電磁波可有效穿過金屬外殼，進而增強陣列天線20的輻射效率。
綜上所述，相較於無具備週期性排列的複數個槽孔的外殼，本發明的無線裝置藉由配置週期性排列的複數個貫穿或未貫穿槽孔的外殼以將外殼的中低反射結構的介電常數調整成等效介電常數，可有效降低陣列天線的反射損耗；本發明的無線裝置還可不受外殼厚度限制，且依據外殼的厚度調整適當的槽孔的半徑大小與週期，以及在槽孔中填入介電材料或空氣，以調整低反射結構的等效介電常數，可進一步有效降低反射損耗，進而降低外殼本身對於輻射訊號之衰減，有效提升陣列天線輻射的峰增益，尤其是在大角度掃描時，配置週期性槽孔結構的外殼可提升約3dB的峰增益(peak gain)。
進一步，在毫米波天線的通訊應用中，習知作法上，為了降低反射損耗而須降低外殼厚度，造成了外殼的機械損耗，而本發明所揭露的具週期性槽孔結構的外殼可無須改變外殼厚度，亦能達到降低反射損耗的效果；藉由本發明無線裝置的外殼的低反射結構設計，可有效降低毫米波陣列天線因外殼造成的反射損耗，進而增強毫米波陣列天線的輻射效率與降低功耗。
雖然本揭露已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本揭露，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本揭露的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本揭露的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
1、10:外殼 2、20:陣列天線 3:無線裝置 11、11a、11b、11c:低反射結構 12:非低反射結構 21:天線單元 30:電子元件 40:基板 50:低反射層 51:金屬層 13a、13b、13c:槽孔 d:厚度
圖1是電磁波作用於陣列天線與外殼間的示意圖。 圖2是電磁波於三介質材料中傳遞的示意圖。 圖3是本發明中陣列天線與配置低反射結構的外殼之相對位置關係圖。 圖4是本發明一實施例中低反射結構設置於介質外殼上的結構圖。 圖5是本發明一實施例中陣列天線透過配置圖4之低反射結構輻射之外殼而產生波鋒強度與掃描角度的關係圖。 圖6是本發明一實施例中具備低反射層的低反射結構的結構圖。 圖7是本發明一實施例中陣列天線透過配置圖6之低反射結構之外殼輻射而產生波鋒強度與掃描角度的關係圖。 圖8是本發明一實施例中低反射結構設置於金屬外殼上的結構圖。 圖9是本發明一實施例中陣列天線透過配置圖8之低反射結構之外殼輻射而產生波鋒強度與掃描角度的關係圖。
3:無線裝置
10:外殼
11:低反射結構
20:陣列天線
30:電子元件

Claims (14)

  1. 一種無線裝置，包括： 一外殼，配置一低反射結構； 一陣列天線，設置於該外殼內，該低反射結構位於該陣列天線經波束掃描後的一輻射範圍內； 其中，該低反射結構包含週期性排列的複數個槽孔。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的無線裝置，其中，該陣列天線為毫米波陣列天線。
  3. 如申請專利範圍第1項所述的無線裝置，其中該陣列天線設置於該低反射結構的垂直投影範圍內。
  4. 如申請專利範圍第1項所述的無線裝置，其中，該外殼具備一厚度，且該外殼之一部份為該低反射結構。
  5. 如申請專利範圍第1項所述的無線裝置，其中，該槽孔形狀為圓形、方形或多邊形。
  6. 如申請專利範圍第1或5項所述的無線裝置，其中該外殼可為金屬或絕緣材料。
  7. 如申請專利範圍第1項所述的無線裝置，其中，該槽孔中可填入介電材料或空氣。
  8. 如申請專利範圍第1項所述的無線裝置，其中，該外殼可為玻璃，該低反射結構包含一低反射層，該低反射層包含週期性排列的該複數個槽孔，且該複數個槽孔係設置於該低反射層表面上的一金屬層中。
  9. 如申請專利範圍第8項所述的無線裝置，其中，該複數個槽孔的形狀可為環形、圓形、多邊形、多邊環形或十字型。
  10. 如申請專利範圍第8項所述的無線裝置，其中，該低反射層可為印刷電路板或軟板，該軟板包含一網印結構。
  11. 如申請專利範圍第1或4項所述的無線裝置，其中該低反射結構的介電常數可調整為等效介電常數。
  12. 如申請專利範圍第11項所述的無線裝置，其中，該槽孔的半徑大小為可調整的。
  13. 如申請專利範圍第11項所述的無線裝置，其中，該槽孔的週期為可調整的。
  14. 如申請專利範圍第1項所述的無線裝置，其中，該些槽孔為複數個被移除之孔洞，可貫穿或未貫穿該低反射結構。
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