TW202111329A - 測試治具 - Google Patents
測試治具 Download PDFInfo
- Publication number
- TW202111329A TW202111329A TW108132808A TW108132808A TW202111329A TW 202111329 A TW202111329 A TW 202111329A TW 108132808 A TW108132808 A TW 108132808A TW 108132808 A TW108132808 A TW 108132808A TW 202111329 A TW202111329 A TW 202111329A
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- pivotal
- locks
- pivot
- members
- test fixture
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本發明揭露一種測試治具,用以透過至少一檢測裝置測試一電路板。測試治具包含一第一治具以及一第二治具。第一治具包含一承載座、二第一樞接鎖具以及二第二樞接鎖具。承載座用以承載電路板。二第一樞接鎖具及二第二樞接鎖具分別設置於承載座的相對兩側。第二治具包含一蓋體、二第一樞接件以及二第二樞接件。檢測裝置用以設置於承載座或蓋體。二第一樞接件及二第二樞接件分別設置於蓋體的相對兩側。蓋體透過二第一樞接件樞接於二第一樞接鎖具或透過二第二樞接件樞接於二第二樞接鎖具而沿相反的二開啟方向自一閉合位置樞轉至一開啟位置。
Description
本發明係關於一種測試治具,特別是一種透過檢測模組測試電路板的測試治具。
一般而言,用來檢測電路板的自動測試設備(Automatic Test Equipment,ATE)包含上治具、下治具以及分別設置於上治具及下治具的二檢測模組。檢測機台控制自動測試設備檢測電路板時,維修人員及檢測機台係位於自動測試設備的相對兩側。並且,上治具須相對下治具開啟才能供檢測機台或維修人員使用或維修檢測模組。因此,為了方便檢測機台及維修人員使用或維修自動測試設備,上治具的相對兩側皆須設置樞接鎖具,而令上治具選擇地以相反的二開啟方向相對下治具樞轉。此外,下治具中的檢測模組除了探針外還包含有彈性元件,其中彈性元件於上治具閉合於下治具時用於支撐上治具。
然而,由於上治具的相對兩側皆設置有樞接鎖具,因此上治具閉合於下治具時,彈性元件需承受上治具及樞接鎖具的重量。如此一來,彈性元件的使用壽命便因承受過大的重量而縮短。
本發明在於提供一種測試治具,透過將樞接鎖具設置於第一治具,使得設置於第一治具中的檢測裝置之彈性元件在第二治具閉合於第一治具時僅需承受第二治具的重量。
本發明之一實施例所揭露之測試治具,用以透過至少一檢測裝置測試一電路板。測試治具包含一第一治具以及一第二治具。第一治具包含一承載座、二第一樞接鎖具以及二第二樞接鎖具。承載座用以承載電路板。二第一樞接鎖具及二第二樞接鎖具分別設置於承載座的相對兩側。第二治具包含一蓋體、二第一樞接件以及二第二樞接件。檢測裝置用以設置於承載座或蓋體。二第一樞接件及二第二樞接件分別設置於蓋體的相對兩側。蓋體透過二第一樞接件樞接於二第一樞接鎖具或透過二第二樞接件樞接於二第二樞接鎖具而沿相反的二開啟方向自一閉合位置樞轉至一開啟位置。
根據上述實施例所揭露的測試治具,由於二第一樞接鎖具及二第二樞接鎖具設置於承載座而不是蓋體,因此蓋體位於閉合位置時,承載座中的檢測裝置之彈性元件便僅需承受蓋體的重量而無需承受樞接鎖具的重量。如此一來,承載座中的檢測裝置之彈性元件便具有較長的使用壽命。
以上關於本發明內容的說明及以下實施方式的說明係用以示範與解釋本發明的原理,並且提供本發明的專利申請範圍更進一步的解釋。
以下在實施方式中詳細敘述本發明之詳細特徵以及優點,其內容足以使任何熟習相關技藝者了解本發明之技術內容並據以實施,且根據本說明書所揭露之內容、申請專利範圍及圖式,任何熟習相關技藝者可輕易地理解本發明相關之目的及優點。以下之實施例係進一步詳細說明本發明之觀點,但非以任何觀點限制本發明之範疇。
請參閱圖1及圖2。圖1為根據本發明一實施例之測試治具的立體圖。圖2為電路板、第一檢測裝置、第二檢測裝置及圖1中的測試治具之分解圖。
本實施例提供一種測試治具10,用以透過第一檢測裝置20、及第二檢測裝置25來測試一電路板30。
測試治具10包含一第一治具100、一第二治具200及一支撐桿300。
第一治具100包含一承載座101、二第一樞接鎖具102、102a以及二第二樞接鎖具103、103a。承載座101用以承載電路板30。第一檢測裝置20設置於承載座101,且例如包含一載板(未繪示)、多個探針(未繪示)及多個彈性元件(未繪示)。第一檢測裝置20的載板用以承載電路板30,也就是說,承載座101係透過第一檢測裝置20的載板來承載電路板30。第一檢測裝置20的探針設置於第一檢測裝置20的載板並用於電性連接電路板30。第一檢測裝置20的各個彈性元件之相對兩端分別抵靠於第一檢測裝置20的載板及承載座101。二第一樞接鎖具102、102a及二第二樞接鎖具103、103a分別設置於承載座101的相對兩側。承載座101介於二第一樞接鎖具102、102a之間,並介於二第二樞接鎖具103、103a之間。
第二治具200包含一蓋體201、二第一樞接件202、202a以及二第二樞接件203、203a。第二檢測裝置25設置於蓋體201。二第一樞接件202及二第二樞接件203分別設置於蓋體201的相對兩側。蓋體201透過二第一樞接件202樞接於二第一樞接鎖具102或透過二第二樞接件203樞接於二第二樞接鎖具103。
支撐桿300的相對兩側分別設置於承載座101及蓋體201,並例如為液壓桿而用以驅動蓋體201相對承載座101樞轉。
然,測試治具10並不限於包含支撐桿300。於其他實施例中,測試治具不包含支撐桿,並透過外部驅動裝置來驅動蓋體相對承載座樞轉。
由於二第一樞接鎖具102、102a及二第二樞接鎖具103、103a於結構上相似,因此以下僅示例性說明一個第一樞接鎖具102的細部結構。
請參閱圖3及圖4。圖3為位於承載體同一側的第一樞接鎖具及第二樞接鎖具之立體圖。圖4為圖3中的第一樞接鎖具之分解圖。
第一樞接鎖具102包含一樞接座1020、一止擋件1021、一承載件1022、一彈性元件1023及一感測器1024。
樞接座1020包含一安裝槽1025、一滑槽1026、一容置槽1027及一卡扣槽1028。
安裝槽1025的相對兩側分別連通於滑槽1026及卡扣槽1028。容置槽1027於樞接座1020的一壁面1029連通於滑槽1026。
止擋件1021滑動地設置於滑槽1026而包含一止擋位置及一釋放位置。止擋件1021包含一滑動部10210、一操作部10211及一卡扣部10212。請額外參閱圖2,操作部10211設置於滑動部10210且凸出樞接座1020遠離承載座101的一側而顯露於外,以方便維修人員觀察止擋件1021的位置狀態。卡扣部10212凸出於滑動部10210的一側。滑動部10210滑動地設置於壁面1029。操作部10211選擇地位於樞接座1020的一第一定位孔10200或一第二定位孔10201而分別令止擋件1021定位於止擋位置或釋放位置。當止擋件1021位於止擋位置時,止擋件1021的卡扣部10212位於安裝槽1025及卡扣槽1028,且止擋件1021的操作部10211位於第一定位孔10200。當止擋件1021位於釋放位置時,止擋件1021的卡扣部10212分離於安裝槽1025及卡扣槽1028,且止擋件1021的操作部10211位於第二定位孔10201。
承載件1022設置於安裝槽1025。彈性元件1023的相對兩端分別底靠承載件1022及樞接座1020。如此一來,當蓋體201閉合於承載座101時,承載座101中的第一檢測裝置20之彈性元件及彈性元件1023便共同承受蓋體201的重量,而減輕第一檢測裝置20之彈性元件的負擔。
整個感測器1024位於與滑槽1026相連通的容置槽1027中,藉以防止感測器1024於止擋件1021活動時受止擋件1021撞擊。
對於滑動地位在滑槽1026的止擋件1021以及位在與滑槽1026相連通的容置槽1027之感測器1024來說,當止擋件1021位於止擋位置時,止擋件1021會脫離感測器1024的感測範圍,而當止擋件1021位於釋放位置時,止擋件1021會位於感測器1024的感測範圍。
當止擋件1021位於止擋位置時,第一樞接件202承靠於承載件1022,且止擋件1021的卡扣部10212透過卡扣槽1028定位於安裝槽1025而防止第一樞接件202脫離於安裝槽1025。當止擋件1021位於釋放位置時,止擋件1021的卡扣部10212脫離於卡扣槽1028及安裝槽1025而使得第一樞接件202得以脫離於安裝槽1025。
然,第一樞接鎖具102並不限於以止擋件1021將第一樞接件202止擋於樞接座1020。於其他實施例中,第一樞接鎖具以磁吸或任何合適的方式將第一樞接件止擋於樞接座。
此外,樞接座1020並不限於包含安裝槽1025。於其他實施例中,樞接座不包含安裝槽,且第一樞接件承靠於固定在樞接座表面的承載件。
再者,樞接座1020並不限於包含滑槽1026。於其他實施例中,止擋件滑動地設置於樞接座的表面。
再者,第一樞接鎖具102並不限於包含彈性元件1023。於其他實施例中,第一樞接鎖具不包含彈性元件,而僅以承載件承載第一樞接件。
再者,樞接座1020並不限於包含卡扣槽1028。於其他實施例中,樞接座不包含卡扣槽,而改以任何合適的方式將止擋件定位於止擋位置。
再者,感測器1024並不限於整個位於容置槽1027中。於其他實施例中,感測器的部份位於滑槽,且藉由加大滑槽的體積來避免止擋件撞擊感測器。
再者,第一樞接鎖具102並不限於包含感測器1024。於其他實施例中,第一樞接鎖具不包含感測器。
同理,對於第二樞接鎖具103來說,當止擋件1031位於止擋位置時,第二樞接件203承靠於承載件1032,且止擋件1031的卡扣部10312透過卡扣槽1038定位於安裝槽1035而防止第二樞接件203脫離於安裝槽1035。當止擋件1031位於釋放位置時,止擋件1031的卡扣部10312脫離於卡扣槽1038及安裝槽1035而使得第二樞接件203得以脫離於安裝槽1035。
此外,如圖3所示,位於承載座101同一側的第一樞接鎖具102之樞接座1020及第二樞接鎖具103之樞接座1030為一體成形,以降低第一樞接件202及第二樞接件203之間的組裝公差,但本發明並不以此為限。於其他實施例中,位於同一側的第一樞接鎖具之樞接座及第二樞接座具之樞接座為組合式結構,並額外設置定位結構來降低第一樞接件及第二樞接件之間的組裝公差。
請參閱圖5及圖6。圖5為圖1中的測試治具之第二治具沿第一開啟方向樞轉至開啟位置的立體圖。圖6為圖1中的測試治具之第二治具沿第二開啟方向樞轉至開啟位置的立體圖。
須注意的是,為了方便描述,圖5及圖6僅呈現第一樞接鎖具102、第二樞接鎖具103、第一樞接件202及第二樞接件203,而省略圖2中的第一樞接鎖具102a、第二樞接鎖具103a、第一樞接件202a及第二樞接件203a。
圖5呈現當蓋體201透過第一樞接件202樞接於第一樞接鎖具102,並例如由維修人員朝第一開啟方向D1開啟的狀態。如圖5所示,在蓋體201朝第一開啟方向D1開啟的狀態中,第一樞接鎖具102的止擋件1021位於止擋位置,且第一樞接件202承靠於承載件1022。也就是說,止擋件1021的卡扣部10212透過卡扣槽1028定位於安裝槽1025而防止第一樞接件202脫離於安裝槽1025。同時,第二樞接鎖具103的止擋件1031位於釋放位置,且第二樞接件203分離於承載件1032。也就是說,止擋件1031的卡扣部10312脫離於卡扣槽1038及安裝槽1035,且第二樞接件203脫離於安裝槽1035。
圖6呈現蓋體201透過第二樞接件203樞接於第二樞接鎖具103並例如受支撐桿300驅動而朝相反於第一開啟方向D1之第二開啟方向D2開啟的狀態。如圖6所示,在蓋體201朝第二開啟方向D2開啟的狀態中,第一樞接鎖具102的止擋件1021位於釋放位置,且第一樞接件202脫離於承載件1022。也就是說,止擋件1021的卡扣部10212脫離於卡扣槽1028及安裝槽1025,且第一樞接件202脫離於安裝槽1025。同時,第二樞接鎖具103的止擋件1031位於止擋位置,且第二樞接件203承靠於承載件1032。也就是說,止擋件1031的卡扣部10312透過卡扣槽1038定位於安裝槽1035而防止第二樞接件203脫離於安裝槽1035。
根據上述實施例所揭露的測試治具,由於二第一樞接鎖具及二第二樞接鎖具設置於承載座而不是蓋體,因此蓋體位於閉合位置時,承載座中的檢測裝置之彈性元件便僅需承受蓋體的重量而無需承受樞接鎖具的重量。如此一來,承載座中的檢測裝置之彈性元件便具有較長的使用壽命。
雖然本發明以前述之諸項實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何熟習相像技藝者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作些許之更動與潤飾,因此本發明之專利保護範圍須視本說明書所附之申請專利範圍所界定者為準。
10:測試治具
100:第一治具
101:承載座
102、102a:第一樞接鎖具
1020:樞接座
10200:第一定位孔
10201:第二定位孔
1021:止擋件
10210:滑動部
10211:操作部
10212:卡扣部
10213:表面
1022:承載件
1023:彈性元件
1024:感測器
1025:安裝槽
1026:滑槽
1027:容置槽
1028:卡扣槽
1029:壁面
103、103a:第二樞接鎖具
1030:樞接座
1031:止擋件
10312:卡扣部
1032:承載件
1035:安裝槽
1038:卡扣槽
200:第二治具
201:蓋體
202、202a:第一樞接件
203、203a:第二樞接件
300:支撐桿
20:第一檢測裝置
25:第二檢測裝置
30:電路板
D1:第一開啟方向
D2:第二開啟方向
圖1為根據本發明一實施例之測試治具的立體圖。
圖2為電路板、第一檢測裝置、第二檢測裝置及圖1中的測試治具之分解圖。
圖3為位於承載體同一側的第一樞接鎖具及第二樞接鎖具之立體圖。
圖4為圖3中的第一樞接鎖具之分解圖。
圖5為圖1中的測試治具之第二治具沿第一開啟方向樞轉至開啟位置的立體圖。
圖6為圖1中的測試治具之第二治具沿第二開啟方向樞轉至開啟位置的立體圖。
10:測試治具
100:第一治具
101:承載座
102、102a:第一樞接鎖具
103:第二樞接鎖具
200:第二治具
201:蓋體
202:第一樞接件
203:第二樞接件
300:支撐桿
Claims (10)
- 一種測試治具,用以透過至少一檢測裝置測試一電路板,該測試治具包含: 一第一治具,包含一承載座、二第一樞接鎖具以及二第二樞接鎖具,該承載座用以承載該電路板,該二第一樞接鎖具及該二第二樞接鎖具分別設置於該承載座的相對兩側;以及一第二治具,包含一蓋體、二第一樞接件以及二第二樞接件,該檢測裝置用以設置於該承載座或該蓋體,該二第一樞接件及該二第二樞接件分別設置於該蓋體的相對兩側,該蓋體透過該二第一樞接件樞接於該二第一樞接鎖具或透過該二第二樞接件樞接於該二第二樞接鎖具而沿相反的二開啟方向自一閉合位置樞轉至一開啟位置。
- 如申請專利範圍第1項所述之測試治具,其中該二第一樞接鎖具及該二第二樞接鎖具各包含一樞接座及一止擋件,該四止擋件分別活動地設置於該四樞接座,該二第一樞接件分別受該二第一樞接鎖具的該二止擋件止擋而位於該二第一樞接鎖具的該二樞接座,或是該二第二樞接件分別受該二第二樞接鎖具的該二止擋件止擋而位於該二第一樞接鎖具的該二樞接座。
- 如申請專利範圍第2項所述之測試治具,其中該四樞接座各包含一安裝槽,該二第一樞接件及該二第二樞接件分別設置於該四安裝槽,該二第一樞接件分別受該二第一樞接鎖具的該二止擋件止擋而位於該二第一樞接鎖具的該二樞接座的該二安裝槽,或是該二第二樞接件分別受該二第二樞接鎖具的該二止擋件止擋而位於該二第一樞接鎖具的該二樞接座的該二安裝槽。
- 如申請專利範圍第3項所述之測試治具,其中該二第一樞接鎖具及該二第二樞接鎖具各更包含一承載件及一彈性元件,各個該二第一樞接鎖具或該二第二樞接鎖具中,該承載件設置於該安裝槽中,該彈性元件之相對兩端分別抵靠於該承載件及該樞接座,該二第一樞接件及該二第二樞接件分別設置於該四承載件,且當該蓋體位於該閉合位置時,該四承載件分別承載該二第一樞接件及該二第二樞接件而分別令該四彈性元件受壓縮。
- 如申請專利範圍第3項所述之測試治具,其中該四樞接座更包含一滑槽,該四滑槽分別連通於該四安裝槽,該四止擋件分別滑動地設置於該四滑槽。
- 如申請專利範圍第5項所述之測試治具,其中該二第一樞接鎖具及該二第二樞接鎖具各更包含一感測器,且該四樞接座更包含一容置槽,該四容置槽分別連通於該四滑槽,且該四感測器分別容置於該四容置槽,而分別用以偵測該四止擋件的位置。
- 如申請專利範圍第6項所述之測試治具,其中該四樞接座各包含一壁面,該四壁面分別位於該四滑槽的一側,該四止擋件分別滑動地位於該四壁面,該四感測器分別整個位於該四容置槽。
- 如申請專利範圍第2項所述之測試治具,其中該四止擋件各包含一滑動部及一操作部,該四滑動部分別活動地設置於該四樞接座,該四操作部分別設置於該四滑動部,該承載座介於該二第一樞接鎖具之間,並介於該二第二樞接鎖具之間,且各個該第一樞接鎖具及該第二樞接鎖具中,該操作部凸出於該樞接座遠離該承載座的一側而顯露於外。
- 如申請專利範圍第2項所述之測試治具,其中位於該承載座同一側的該二樞接座為一體成形。
- 如申請專利範圍第1項所述之測試治具,更包含一支撐桿,該支撐桿的相對兩側分別設置於該承載座及該蓋體。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW108132808A TWI716104B (zh) | 2019-09-11 | 2019-09-11 | 測試治具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW108132808A TWI716104B (zh) | 2019-09-11 | 2019-09-11 | 測試治具 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TWI716104B TWI716104B (zh) | 2021-01-11 |
TW202111329A true TW202111329A (zh) | 2021-03-16 |
Family
ID=75237422
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW108132808A TWI716104B (zh) | 2019-09-11 | 2019-09-11 | 測試治具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
TW (1) | TWI716104B (zh) |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA2470986C (en) * | 2003-06-19 | 2014-04-22 | Rematek Inc. | Vacuum-actuated test fixture for testing printed circuit boards |
US9182444B2 (en) * | 2012-12-10 | 2015-11-10 | Dell Products, L.P. | System and methods for memory installation in functional test fixture |
CN205562738U (zh) * | 2015-10-10 | 2016-09-07 | 珠海市博杰电子有限公司 | 一种可进行三段式检测的治具 |
CN205210254U (zh) * | 2015-10-10 | 2016-05-04 | 珠海市博杰电子有限公司 | 一种具有铝框式分段检测的治具 |
TWI627018B (zh) * | 2017-07-10 | 2018-06-21 | 英業達股份有限公司 | 雙開式治具 |
-
2019
- 2019-09-11 TW TW108132808A patent/TWI716104B/zh active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI716104B (zh) | 2021-01-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4786408B2 (ja) | 電気部品用ソケット | |
US9958476B2 (en) | Floating nest for a test socket | |
KR102406617B1 (ko) | 검사 장치 | |
US7253653B2 (en) | Test tray for handler for testing semiconductor devices | |
US7666029B2 (en) | Burn-in socket | |
TWI716104B (zh) | 測試治具 | |
KR100894734B1 (ko) | 전자부품 수납 장치 및 이를 구비한 전자부품 테스트용핸들러 | |
KR20240027655A (ko) | 전자부품 테스트용 핸들러의 테스트트레이 | |
KR101570215B1 (ko) | 전자 디바이스의 검사장치 | |
TWI712799B (zh) | 兩段式行程之檢測裝置及使用該檢測裝置的檢測平台 | |
KR101369263B1 (ko) | 반도체 테스트용 수동/자동 겸용 소켓커버와, 이를 이용한 반도체 자동 핸들러 장치 | |
US6929255B2 (en) | Two-stage actuation clamp for electrical device under test (DUT) with DUT-linked double action | |
KR100610779B1 (ko) | 반도체 소자 테스트용 핸들러의 테스트 트레이 | |
KR101825815B1 (ko) | 반도체 패키지를 수납하기 위한 인서트 조립체 및 이를 포함하는 테스트 트레이 | |
US6894523B2 (en) | System and method for testing semiconductor devices | |
KR101082242B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 핸들러 장비의 캐리어 모듈 | |
CN112462224A (zh) | 测试治具 | |
JP4786409B2 (ja) | 電気部品用ソケット | |
KR101001772B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 핸들러 장비의 캐리어 모듈 | |
KR100610778B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 | |
JP2005055244A (ja) | テストトレイ | |
KR101332656B1 (ko) | 반도체 모듈 테스트용 반도체칩 접속 디바이스 | |
TWI712809B (zh) | 測試設備 | |
KR100465372B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 | |
KR102012439B1 (ko) | 반도체 칩 테스트 소켓 |