TWI712809B

TWI712809B - 測試設備

Info

Publication number: TWI712809B
Application number: TW108132627A
Authority: TW
Inventors: 徐彥國; 朱健名
Original assignee: 英業達股份有限公司
Priority date: 2019-09-10
Filing date: 2019-09-10
Publication date: 2020-12-11
Also published as: TW202111341A

Abstract

本發明提供一種測試設備，用以承載一待測電路板。測試設備包含一基座、一第一板體、一第二板體、一支架以及一檢測模組。基座包含一承載面。承載面用以承載一待測電路板。第一板體設置於基座。第二板體樞接於第一板體並疊設於第一板體遠離基座的一側。支架固定於第二板體。檢測模組滑動地設置於支架而靠近或遠離承載面。當第二板體相對第一板體樞轉時，第二板體透過支架帶動檢測模組靠近或遠離承載面。

Description

測試設備

本發明係關於一種測試設備，特別是用來測試電路板的測試設備。

一般而言，用來進行電路電性測試(In-circuit test，ICT)的測試設備包含基座及上模。待測試的電路板承載於基座的承載面。上模設置有測試探針，且測試探針凸出於上模中面對承載面的測試面。此外，上模滑動地設置於基座而遠離或靠近基座，藉以使測試探針電性連接或分離於待測試的電路板。

然而，由於上模相對基座滑動至最遠離基座的位置時，基座的承載面及上模的測試面之間的空間仍不足以供維修人員更換或維修測試探針。因此，維修人員便需將上模的蓋體拆除並將上模中設有測試探針的電路板取出才能進行測試探針的更換或維修，進而使維修人員無法以方便且有效率的方式更換或維修測試探針。

本發明在於提供一種測試設備，以令檢測模組中的電連接件以方便且有效率的方式被更換或維修。

本發明之一實施例所揭露之測試設備，用以承載一待測電路板。測試設備包含一基座、一第一板體、一第二板體、一支架以及一檢測模組。基座包含一承載面。承載面用以承載一待測電路板。第一板體設置於基座。第二板體樞接於第一板體並疊設於第一板體遠離基座的一側。支架固定於第二板體。檢測模組滑動地設置於支架而靠近或遠離承載面。當第二板體相對第一板體樞轉時，第二板體透過支架帶動檢測模組靠近或遠離承載面。

根據上述實施例所揭露之測試設備，由於檢測模組滑動地設置於固定在第二板體的支架，且第二板體樞接於固定在基座的第一板體，因此第二板體相對第一板體樞轉時會帶動檢測模組遠離基座的承載面。當第二板體相對第一板體樞轉而帶動檢測模組遠離承載面時，檢測模組與承載面之間便具有足夠的空間使得維修人員以方便且有效率的方式更換或維修檢測模組中的電連接件。

以上關於本發明內容的說明及以下實施方式的說明係用以示範與解釋本發明的原理，並且提供本發明的專利申請範圍更進一步的解釋。

以下在實施方式中詳細敘述本發明之詳細特徵以及優點，其內容足以使任何熟習相關技藝者了解本發明之技術內容並據以實施，且根據本說明書所揭露之內容、申請專利範圍及圖式，任何熟習相關技藝者可輕易地理解本發明相關之目的及優點。以下之實施例係進一步詳細說明本發明之觀點，但非以任何觀點限制本發明之範疇。

請參閱圖1。圖1為待測電路板以及根據本發明一實施例之測試設備的側視圖。

本實施例提供一種測試設備10，用以承載一待測電路板20。測試設備10包含一基座100、一滑軌120、一滑動件150、一第一板體200、一凸件250、一第一定位結構260、一第二定位結構270、一第二板體300、一鎖固件350、二樞接件400、一支架450、一檢測模組500、滑塊520、滑桿550、以及一把手600。

基座100包含一承載面101。承載面101用以承載一待測電路板20。滑軌120設置於承載面101。滑動件150滑動地設置於滑軌120，且第一板體200設置於滑動件150背對基座100的一側。也就是說，第一板體200透過滑動件150及滑軌120滑動地設置於基座100的承載面101。

然，第一板體200並不限於設置在基座100的承載面101。於其他實施例中，第一板體亦可設置於基座中與承載面相鄰的側面，進一步來說，在第一板體設置在基座中與承載面相鄰的側面之實施例中，滑軌改設置於此側面。

然，測試設備10並不限於包含滑軌120及滑動件150，於其他實施例中，測試設備不包含滑軌及滑動件，而改透過設置於承載面之齒條搭配設置於第一板體的齒輪，來令第一板體滑動地設置於基座。

請參閱圖1、圖2及圖3。圖2為圖1中的測試設備之第一板體、凸件、第二板體、鎖固件及樞接件的立體圖。圖3為圖2中的第一板體、凸件、第二板體、鎖固件及樞接件之分解圖。

凸件250凸出於第一板體200的一側，並例如與第一板體200為一體成形。第一定位結構260及第二定位結構270分別凸出於該凸件250的相對兩側，且例如為定位凸柱。

第二板體300疊設於第一板體200遠離基座100的一側。鎖固件350鎖固於第一板體200及第二板體300。

測試設備10並不限於包含一鎖固件350，於其他實施例中，測試設備包含二或更多個鎖固件。此外，於再另一實施例中，測試設備不包含鎖固件。

二樞接件400各包含一第一固定部401、一第二固定部402及一樞接軸部403。每一樞接件400中，第一固定部401固定於第一板體200，第二固定部402固定於第二板體300，且樞接軸部403的相對兩側分別樞接於第一固定部401及第二固定部402。也就是說，第一板體200透過二樞接件400樞接於第二板體300。

然，測試設備10並不限於包含二樞接件400。於其他實施例中，測試設備僅包含一樞接件，或者，於再其他實施例中，測試設備不包含樞接件，而改以任何其他合適的手段令第一板體樞接於第二板體。

請再次參閱圖1。支架450固定於第二板體300。此外，當第二板體300疊設於第一板體200時，支架450位於第二板體300遠離第一板體200的一側，但本發明並不以此為限，於其他實施例中，當第二板體疊設於第一板體時，支架與樞接件位於第二板體的同一側。

本實施例中，檢測模組500包含一殼體501、一電路板502及多個電連接件503。殼體501透過滑塊520及滑桿550滑動地設置於支架450而靠近或遠離承載面101。電路板502設置於殼體501。電連接件503設置於電路板502中面對承載面101的一側面504，且例如為測試探針。

把手600設置於檢測模組500的殼體501以供使用者握持。本發明並不以把手600的結構為限，於其他實施例中，把手包含一握持件及一定位桿，其中定位桿的不同側分別設置於檢測模組的殼體及滑塊而用以定位殼體，且握持件則設置於定位桿。

請參閱圖1、圖4及圖5。圖4為圖1中的測試設備之上視圖的局部放大圖。圖5為沿圖4中的割面線5-5所繪示的側剖示意圖之局部放大圖。

本實施例中，測試設備10更包含一第三定位結構650及一第四定位結構700。第三定位結構650及第四定位結構700位於基座100的承載面101。本實施例中，第三定位結構650與第四定位結構700例如為定位凹槽，且第一定位結構260及第二定位結構270分別匹配於第三定位結構650與第四定位結構700。

此外，本實施例中，測試設備10更包含一定位柱800。定位柱800包含相連的一寬徑段801及一窄徑段802。寬徑段801的直徑D1大於窄徑段802的直徑D2，且窄徑段802活動地穿設於凸件250的一穿孔251，而令寬徑段801承靠於凸件250遠離基座100的一側。基座100更包含一第一定位孔102及一第二定位孔103。

如圖4及圖5所示，當滑動件150帶動第一板體200滑動至一第一位置時，第一定位結構260與第三定位結構650相卡合，且窄徑段802位於第一定位孔102，而使得第一板體200定位於基座100。

須注意的是，由於第一板體200於第二位置定位於基座100的方式相似於第一板體200於第一位置定位於基座100的方式，因此於圖式中僅示例性呈現第一板體200位於第一位置的態樣。

當滑動件150帶動第一板體200滑動至一第二位置時，第二定位結構270與第四定位結構700相卡合，且窄徑段802位於第二定位孔103，而使得第一板體200定位於基座100。

然，本發明並不以第一定位結構260、第二定位結構270、第三定位結構650及第四定位結構700的結構為限。於其他實施例中，第一定位結構及第二定位結構為定位凹槽，而第三定位結構及第四定位結構為定位凸塊。

此外，測試設備10不限於包含一凸件250。於其他實施例中，測試設備包含二凸件，於此情況中，第一定位結構、第二定位結構、第三定位結構、第四定位結構、定位柱、第一定位孔及第二定位孔的數量相應調整為兩個，而使得第一板體的相對兩側分別透過二凸件定位於基座。此外，於再另一實施例中，測試設備不包含凸件，於此情況中，測試設備也無須包含第一定位結構、第二定位結構、第三定位結構、第四定位結構及定位柱，且基座無須包含第一定位孔及第二定位孔。

請參閱圖6。圖6為圖1中的測試設備之第二板體沿開啟方向相對第一板體樞轉時的側視圖。為了使第二板體300相對第一板體200樞轉，首先須先移除鎖固件350。接著沿開啟方向A相對第一板體200樞轉第二板體300。如圖6所示，當第二板體300沿開啟方向A相對第一板體200樞轉時，第二板體300透過支架450帶動檢測模組500遠離承載面101，藉以加大檢測模組500與承載面101之間的空間。

雖然本發明以前述之諸項實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習相像技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之專利保護範圍須視本說明書所附之申請專利範圍所界定者為準。

10:測試設備 100:基座 101:承載面 102:第一定位孔 103:第二定位孔 120:滑軌 150:滑動件 200:第一板體 250:凸件 251:穿孔 260:第一定位結構 270:第二定位結構 300:第二板體 350:鎖固件 400:樞接件 401:第一固定部 402:第二固定部 403:樞接軸部 450:支架 500:檢測模組 501:殼體 502:電路板 503:電連接件 504:側面 520:滑塊 550:滑桿 600:把手 650:第三定位結構 700:第四定位結構 800:定位柱 801:寬徑段 802:窄徑段 20:待測電路板 D1、D2:直徑 A:開啟方向

圖1為待測電路板以及根據本發明一實施例之測試設備的側視圖。圖2為圖1中的測試設備之第一板體、凸件、第二板體、鎖固件及樞接件的立體圖。圖3為圖2中的第一板體、凸件、第二板體、鎖固件及樞接件之分解圖。圖4為圖1中的測試設備之上視圖的局部放大圖。圖5為沿圖4中的割面線5-5所繪示的側剖示意圖之局部放大圖。圖6為圖1中的測試設備之第二板體沿開啟方向相對第一板體樞轉時的側視圖。

10:測試設備

100:基座

101:承載面

120:滑軌

150:滑動件

200:第一板體

250:凸件

300:第二板體

400:樞接件

450:支架

500:檢測模組

501:殼體

502:電路板

503:電連接件

504:側面

520:滑塊

550:滑桿

600:把手

800:定位柱

20:待測電路板

A:開啟方向

Claims

一種測試設備，用以承載一待測電路板，該測試設備包含：一基座，包含一承載面，該承載面用以承載該待測電路板；一第一板體，設置於該基座；一第二板體，樞接於該第一板體並疊設於該第一板體遠離該基座的一側；一支架，固定於該第二板體；以及一檢測模組，滑動地設置於該支架而靠近或遠離該承載面，該檢測模組包含一殼體、一電路板及多個電連接件，該殼體滑動地設置於該支架，該電路板設置於該殼體，該些電連接件設置於該電路板中面對該承載面的一側面；其中，當該第二板體相對該第一板體樞轉時，該第二板體透過該支架帶動該檢測模組靠近或遠離該承載面。
如申請專利範圍第1項所述之測試設備，更包含一鎖固件，該鎖固件鎖固於該第一板體及該第二板體。
如申請專利範圍第1項所述之測試設備，其中該第一板體設置於該基座的該承載面。
如申請專利範圍第1項所述之測試設備，其中當該第二板體疊設於該第一板體時，該支架位於該第二板體遠離該第一板體的一側。
如申請專利範圍第1項所述之測試設備，更包含二樞接件，該二樞接件各包含一第一固定部、一第二固定部及一樞接軸部，各個該二樞接件中，該第一固定部固定於該第一板體，該第二固定部固定於該第二板體，該樞接軸部的相對兩側分別樞接於該第一固定部及該第二固定部。
如申請專利範圍第1項所述之測試設備，更包含一滑軌及一滑動件，該滑軌設置於該承載面，該滑動件設置於該第一板體面對該基座的一側並滑動地設置於該滑軌。
如申請專利範圍第6項所述之測試設備，更包含一凸件、一第一定位結構、一第二定位結構、一第三定位結構及一第四定位結構，該凸件凸出於該第一板體，且該第一定位結構及該第二定位結構分別位於該凸件的相對兩側，該第三定位結構及該第四定位結構位於該基座，當該滑動件帶動該第一板體滑動至一第一位置時，該第一定位結構與該第三定位結構相卡合，當該滑動件帶動該第一板體滑動至一第二位置時，該第二定位結構與該第四定位結構相卡合。
如申請專利範圍第7項所述之測試設備，更包含一定位柱，該定位柱包含相連的一寬徑段及一窄徑段，該寬徑段的直徑大於該窄徑段的直徑，該窄徑段活動地穿設於該凸件的一穿孔，而令該寬徑段承靠於該凸件遠離該基座的一側，該基座更包含一第一定位孔及一第二定位孔，當該第一板體位於該第一位置時，該窄徑段位於該第一定位孔，當該第一板體位於該第二位置時，該窄徑段位於該第二定位孔。
如申請專利範圍第1項所述之測試設備，更包含一把手，該把手設置於該檢測模組。