TWI829500B - 測試組裝電路板的固定治具 - Google Patents
測試組裝電路板的固定治具 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI829500B TWI829500B TW112101113A TW112101113A TWI829500B TW I829500 B TWI829500 B TW I829500B TW 112101113 A TW112101113 A TW 112101113A TW 112101113 A TW112101113 A TW 112101113A TW I829500 B TWI829500 B TW I829500B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- slide rail
- circuit board
- test assembly
- assembly circuit
- clamping part
- Prior art date
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 119
- 239000000523 sample Substances 0.000 abstract description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000012812 general test Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000011017 operating method Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
一種測試組裝電路板的固定治具,包括移動裝置、第一滑軌、第二滑軌及定位結構。移動裝置在第一方向上移動。第一滑軌設置於移動裝置上。第二滑軌位於移動裝置的一側。該等定位結構分別設置於第一滑軌與第二滑軌,沿著第一滑軌與第二滑軌在第二方向上移動,並且用以共同固定測試組裝電路板。藉此,該等定位結構能夠固定測試組裝電路板的小區域且不會接觸到靠近測試組裝電路板的邊緣的元件。因此,測試組裝電路板的邊緣具有充足的空間運用作為探針接觸的測試參考點,還可以設置多個元件且該等元件不會干涉與受損,還可固定不同形狀的測試組裝電路板。
Description
本發明是涉及一種治具,特別是一種測試組裝電路板的固定治具。
飛針測試(Flying-Probe)方法是常見的測試組裝電路板的檢測方法,其原理為,通過至少兩根探針同時接觸測試組裝電路板上的各線路的兩個測試參考點並且通電,所獲得的電阻值與設定的電阻值做比較,藉以判斷是否開短路或針對電子元件的值、電氣特性等做電性測試。
在進行飛針測試以前,測試組裝電路板固定在機台上。具體來說,習知的機台包括二滑軌、一固定夾具及一移動夾具,該等滑軌分別設置於機台的左側和右側,固定夾具設置於機台的底端,移動夾具的二端分別設置於該等滑軌。移動夾具沿著該等滑軌在垂直方向上移動於固定夾具與機台的頂端之間。固定夾具夾住測試組裝電路板的整個底部邊緣,移動夾具夾住測試組裝電路板的整個頂部邊緣。
然而,測試組裝電路板的底部邊緣被固定夾具擋住,且測試組裝電路板的頂部邊緣被移動夾具擋住,測試組裝電路板的底部邊緣和頂部邊緣沒有任何空間作為探針接觸的測試參考點,導致靠近測試組裝電路板的底部邊緣和頂部邊緣的元件沒有辦法進行飛針測試。
再者,如果測試組裝電路板的底部邊緣和頂部邊緣設置多個元件,測試組裝電路板的整個底部邊緣的空間將不足以被固定夾具夾住,且測試
組裝電路板的整個頂部邊緣的空間將不足以被移動夾具夾住。即使勉強將固定夾具夾住測試組裝電路板的整個底部邊緣,且勉強將移動夾具夾住測試組裝電路板的整個頂部邊緣,固定夾具會夾傷靠近測試組裝電路板的底部邊緣的元件,且移動夾具會夾傷靠近測試組裝電路板的頂部邊緣的元件,且固定效果大受影響。因此,一般的測試組裝電路板的底部邊緣和頂部邊緣通常是不會設置元件,有利於固定夾具和移動夾具夾持,但卻得犧牲測試組裝電路板的使用面積。
此外,一般的測試組裝電路板為矩形,但也有一些測試組裝電路板應用在特殊環境而製作成其他形狀,例如圓形或不規則形。習知的機台只能固定一種形狀的測試組裝電路板,無法固定其他形狀的測試組裝電路板,因此不同形狀的測試組裝電路板需要客製化的治具固定,製造成本提高,且占空間。
本發明的主要目的在於提供一種測試組裝電路板的固定治具,能夠固定測試組裝電路板的小區域且不會接觸到靠近測試組裝電路板的邊緣的元件。
本發明的又一目的在於提供一種測試組裝電路板的固定治具,能夠固定不同形狀的測試組裝電路板。
為了達成前述的目的,本發明提供一種測試組裝電路板的固定治具,包括一移動裝置、至少一第一滑軌、至少一第二滑軌以及複數個定位結構。該移動裝置在一第一方向上移動。該至少一第一滑軌設置於該移動裝置上。該至少一第二滑軌位於該移動裝置的一側。該等定位結構分別設置於該至少一第
一滑軌與該至少一第二滑軌,沿著該至少一第一滑軌與該至少一第二滑軌在一第二方向上移動,並且用以共同固定一測試組裝電路板。
在一些實施例中,各該定位結構包括一第一定位件及一第二定位件,該第一定位件設置於該至少一第一滑軌或該至少一第二滑軌並且沿著該至少一第一滑軌或該至少一第二滑軌在該第二方向上移動,該第二定位件設置於該第一定位件上並且用以將該測試組裝電路板固定在該第一定位件上。
在一些實施例中,該至少一第一滑軌開設一第一滑槽,該至少一第二滑軌開設一第二滑槽,該第一定位件包括至少一本體及至少一滑塊,該至少一滑塊設置於該至少一本體,位於該第一滑槽或該第二滑槽中,並且沿著該第一滑槽或該第二滑槽在該第二方向上移動,該第二定位件設置於該至少一本體並且用以將該測試組裝電路板固定在該第一定位件上。
在一些實施例中,該至少一第一滑軌開設一第一滑槽,該至少一第二滑軌開設一第二滑槽,該第一定位件包括至少一本體、至少一連結部及至少一滑塊,該至少一本體樞設於該至少一連結部,使得該至少一本體相對該至少一連結部旋轉,該至少一滑塊設置於該至少一連結部,位於該第一滑槽或該第二滑槽中,並且沿著該第一滑槽或該第二滑槽在該第二方向上移動,該第二定位件設置於該至少一本體並且用以將該測試組裝電路板固定在該第一定位件上。
在一些實施例中,該第二定位件包括至少一塊體及至少一第二夾持部,該至少一塊體在一第三方向上移動,該至少一第二夾持部設置於該至少一塊體並且用以將該測試組裝電路板固定在該第一定位件上。
在一些實施例中,該第一定位件包括至少一第一柱體,該至少一第一柱體設置於該至少一本體,該第二定位件包括至少一第二柱體,該至少一第二柱體貫穿該至少一塊體並且固定於該至少一第一柱體,該至少一塊體沿著該至少一第二柱體在該第三方向上移動並且選擇性地抵靠於該至少一第一柱體。
在一些實施例中,該至少一第二柱體包括至少一頭部及至少一桿部,該至少一頭部設置於該至少一桿部的一端,該至少一桿部貫穿該至少一塊體並且其另一端固定於該至少一第一柱體,該第二定位件包括至少一彈性件,該至少一彈性件設置於該至少一桿部並且其二端分別抵靠於該至少一塊體與該至少一頭部。
在一些實施例中,該第一定位件包括至少一第一夾持部,該至少一第一夾持部設置於該至少一本體,該至少一第一夾持部與該至少一第二夾持部的其中之一具有至少一凸塊,該至少一第一夾持部與該至少一第二夾持部的另一者形成至少一凹槽,該至少一凸塊穿設於該測試組裝電路板的至少一固定孔並且插設於該至少一凹槽中,從而該至少一第二夾持部將該測試組裝電路板固定在該至少一第一夾持部上。
在一些實施例中,所述的測試組裝電路板的固定治具更包括一外框、至少一第三滑軌及至少一第四滑軌,該至少一第二滑軌、該至少一第三滑軌與該至少一第四滑軌分別設置於該外框上,該移動裝置的二端分別設置於該至少一第三滑軌和該至少一第四滑軌,且該移動裝置沿著該至少一第三滑軌與該至少一第四滑軌在該第一方向上移動。
本發明的功效在於,該等定位結構固定測試組裝電路板的小區域且不會接觸到靠近測試組裝電路板的邊緣的元件。因此,測試組裝電路板的邊緣具有充足的空間作為探針接觸的測試參考點,還可以設置多個元件且該等元件不會干涉與受損,提升測試組裝電路板的使用面積。
值得一提的是,本發明的測試固定治具能夠固定不同形狀的測試組裝電路板,有效降低製造成本,且不占空間。
10:外框
11:第一側板
12:第二側板
13:第三側板
14:第四側板
20,20A,20B:移動裝置
21:板體
22:緊固件
23:滑塊
30,30A:第一滑軌
31:第一滑槽
40,40A:第二滑軌
41:第二滑槽
50:第三滑軌
51:第三滑槽
60:第四滑軌
61:第四滑槽
70,80:定位結構
71,81:第一定位件
711,811:本體
7111,8111:頭部
7112,8112:柄部
712,812:滑塊
713,813:第一柱體
714,814:第一夾持部
7141,8141:凸塊
715,815:緊固件
816:連結部
8161:固定部
8162:樞接部
817:樞軸
72,82:第二定位件
721,821:塊體
722,822:第二柱體
7221,8221:頭部
7222,8222:桿部
723,823:第二夾持部
7231:凹槽
724,824:彈性件
100,100A,100B,100C:測試組裝電路板
101:固定孔
圖1是本發明的固定治具的第一實施例的立體圖。
圖2是本發明的固定治具的第一實施例的分解圖。
圖3是本發明的固定治具的第一實施例的前視圖。
圖4是本發明的固定治具的第一實施例的後視圖。
圖5是圖4的區域V的示意圖。
圖6是圖4的區域VI的示意圖。
圖7是本發明的單軸定位結構的立體圖。
圖8是本發明的單軸定位結構的分解圖。
圖9是本發明的雙軸定位結構的立體圖。
圖10是本發明的雙軸定位結構的分解圖。
圖11是本發明的固定治具的第一實施例尚未固定矩形測試組裝電路板的後視圖。
圖12是本發明的固定治具的第一實施例預備固定矩形測試組裝電路板的剖面圖。
圖13是本發明的固定治具的第一實施例固定矩形測試組裝電路板的剖面圖。
圖14是本發明的固定治具的第一實施例固定矩形測試組裝電路板的立體圖。
圖15是本發明的固定治具的第一實施例固定長方形測試組裝電路板的示意圖。
圖16是本發明的固定治具的第一實施例固定圓形測試組裝電路板的示意圖。
圖17是本發明的固定治具的第一實施例固定不規則形測試組裝電路板的示意圖。
圖18是本發明的固定治具的第二實施例的立體圖。
圖19是本發明的固定治具的第三實施例的立體圖。
以下配合圖式及元件符號對本發明的實施方式做更詳細的說明,俾使熟習該項技藝者在研讀本說明書後能據以實施。
圖1是本發明的固定治具的第一實施例的立體圖,圖2是本發明的固定治具的第一實施例的分解圖,圖3是本發明的固定治具的第一實施例的前視圖,圖4是本發明的固定治具的第一實施例的後視圖,圖5是圖4的區域V的示意圖,圖6是圖4的區域VI的示意圖。如圖1至圖6所示,本發明提供一種測試組裝電路板的固定治具,包括一外框10、一移動裝置20、一第一滑軌30、一第二滑軌40、一第三滑軌50、一第四滑軌60以及複數個定位結構70、80。
如圖1、圖2及圖3所示,外框10包括一第一側板11、一第二側板12、一第三側板13及一第四側板14,第一側板11與第二側板12的位置相對,第三側板13與第四側板14的位置相對。
如圖1至圖4所示,第一滑軌30設置於移動裝置20上並且開設一第一滑槽31,第二滑軌40設置於第二側板12並且位於移動裝置20的一側並且開設
一第二滑槽41,第三滑軌50設置於第三側板13並且開設一第三滑槽51,第四滑軌60設置於第四側板14並且開設一第四滑槽61。
如圖1至圖5所示,移動裝置20的二端分別設置於第三滑軌50和第四滑軌60,且移動裝置20沿著第三滑軌50和第四滑軌60在一第一方向(即,圖1標示的Y軸方向)上移動於第一側板11與第二側板12之間。更清楚地說,移動裝置20包括一板體21、複數個緊固件22及複數個滑塊23,該等緊固件22將該等滑塊23固定在板體21的二端,該等滑塊23分別位於第三滑槽51與第四滑槽61中。
如圖1至圖4所示,該等定位結構70、80分別設置於第一滑軌30與第二滑軌40並且沿著第一滑軌30與第二滑軌40在一第二方向(即,圖1標示的X軸方向)上移動。更明確地說,各定位結構70、80包括一第一定位件71、81及一第二定位件72、82,第一定位件71、81設置於第一滑軌30或第二滑軌40並且沿著第一滑軌30或第二滑軌40在第二方向上移動,第二定位件72、82設置於第一定位件71、81上。定位結構70、80有兩種實施態樣,第一種實施態樣為單軸定位結構70,第二種實施態樣為雙軸定位結構80,以下將依序介紹單軸定位結構70和雙軸定位結構80。
圖7是本發明的單軸定位結構70的立體圖,圖8是本發明的單軸定位結構70的分解圖。如圖7及圖8所示,首先介紹單軸定位結構70。第一定位件71包括一本體711、一滑塊712、一第一柱體713及一第一夾持部714,滑塊712、第一柱體713與第一夾持部714皆設置於本體711。更詳而言之,第一定位件71包括三緊固件715,本體711包括一頭部7111及一柄部7112,該等緊固件715其中之一將滑塊712鎖固於頭部7111,該等緊固件715的另二者分別將第一柱體713與第一夾持部714鎖固於柄部7112,滑塊712位於本體711的一第一側,且第一柱體713
與第一夾持部714皆位於本體711的一第二側;第一夾持部714具有一凸塊7141。如圖4及圖5所示,滑塊712位於第一滑槽31或第二滑槽41中。如圖7及圖8所示,第二定位件72包括一塊體721、一第二柱體722及一第二夾持部723,第二柱體722貫穿塊體721並且固定於第一柱體713,塊體721沿著第二柱體722在一第三方向(即,圖1標示的Z軸方向)上移動並且選擇性地抵靠於第一柱體713,且第二夾持部723設置於塊體721。具體來說,第二柱體722包括一頭部7221及一桿部7222,頭部7221設置於桿部7222的一端,桿部7222貫穿塊體721並且其另一端固定於第一柱體713;第二定位件72包括一彈性件724,彈性件724設置於桿部7222並且其二端分別抵靠於塊體721與頭部7221;第二夾持部723的一端固定於塊體721,且第二夾持部723的另一端形成一凹槽7231(參見圖12)。
圖9是本發明的雙軸定位結構80的立體圖,圖10是本發明的雙軸定位結構80的分解圖。如圖9及圖10所示,接著介紹雙軸定位結構80。第一定位件81包括一本體811、二滑塊812、一第一柱體813、一第一夾持部814及一連結部816,本體811樞設於連結部816,使得本體811相對連結部816旋轉,該等滑塊812設置於連結部816,第一柱體813與第一夾持部814皆設置於本體811。更詳而言之,第一定位件81包括四緊固件815及一樞軸817,本體811包括一頭部8111及一柄部8112,連結部816包括一固定部8161及一樞接部8162,該等緊固件815的其中之二將該等滑塊812鎖固於固定部8161,該等緊固件815的另二者分別將第一柱體813與第一夾持部814鎖固於柄部8112,樞軸817貫穿頭部8111與樞接部8162,使得頭部8111繞著樞軸817相對樞接部8162旋轉,滑塊812位於本體811的一第一側,且第一柱體813與第一夾持部814皆位於本體811的一第二側;第一夾持部814具有一凸塊8141。如圖4及圖6所示,滑塊812位於第一滑槽31或第二滑
槽41中。如圖9及圖10所示,第二定位件82包括一塊體821、一第二柱體822及一第二夾持部823,第二柱體822貫穿塊體821並且固定於第一柱體813,塊體821沿著第二柱體822在一第三方向(即,圖1標示的Z軸方向)上移動並且選擇性地抵靠於第一柱體813,且第二夾持部823設置於塊體821。具體來說,第二柱體822包括一頭部8221及一桿部8222,頭部8221設置於桿部8222的一端,桿部8222貫穿塊體821並且其另一端固定於第一柱體813;第二定位件82包括一彈性件824,彈性件824設置於桿部8222並且其二端分別抵靠於塊體821與頭部8221;第二夾持部823的一端固定於塊體821,且第二夾持部823的另一端形成一凹槽(圖未示)。
在一些實施例中,定位結構也可以包括多個連結部,多個連結部可相互樞設並能夠互相旋轉,從而定位結構成為多軸定位結構。
以下將介紹本發明的固定治具的第一實施例如何固定不同形狀的測試組裝電路板100、100A、100B、100C。
圖11是本發明的固定治具的第一實施例尚未固定矩形測試組裝電路板100的後視圖,圖12是本發明的固定治具的第一實施例預備固定矩形測試組裝電路板100的剖面圖,圖13是本發明的固定治具的第一實施例固定矩形測試組裝電路板100的剖面圖,圖14是本發明的固定治具的第一實施例固定矩形測試組裝電路板100的立體圖。首先,如圖11所示,板體21受到外力驅動(通常是外接一驅動裝置和一控制裝置或手動操作,圖未示),使得板體21藉由該等滑塊23(參見圖4和圖5)沿著第三滑槽51和第四滑槽61在第一方向上朝向矩形測試組裝電路板100移動,直至板體21靠近矩形測試組裝電路板100為止。接著,如圖11所示,四個單軸定位結構70藉由該等滑塊712(參見圖7和圖8)沿著第一滑
槽31和第二滑槽41在第二方向上朝向矩形測試組裝電路板100移動,直至四個單軸定位結構70靠近矩形測試組裝電路板100的四個角落的固定孔101為止。然後,如圖12所示,拉動塊體721,塊體721沿著桿部7222在第三方向上移動並且遠離第一定位件71,使得彈性件724被塊體721壓縮且第二夾持部723遠離第一夾持部714,且凸塊7141對準並且穿設於矩形測試組裝電路板100的固定孔101。又,如圖13所示,放開塊體721,彈性件724的彈力驅動塊體721沿著桿部7222在第三方向上朝第一定位件71移動,直至塊體721抵靠於第一柱體713為止,凸塊7141插設於凹槽7231中,從而第二夾持部723將矩形測試組裝電路板100固定在第一夾持部714上。最後,如圖14所示,四個單軸定位結構70共同固定於矩形測試組裝電路板100的四個角落的固定孔101。
在一些實施例中,使用者可以選擇四個雙軸定位結構80共同固定於矩形測試組裝電路板100的四個角落的固定孔101,或者選擇單軸定位結構70搭配雙軸定位結構80共同固定於矩形測試組裝電路板100的四個角落的固定孔101。
以上僅為示例,實際上,複數個固定孔101分布在矩形測試組裝電路板100的任何位置(例如,四個角落、左右兩側、頂部邊緣、底部邊緣),使用者可選擇將該等定位結構70、80固定於任何位置的固定孔101。
圖15是本發明的固定治具的第一實施例固定長方形測試組裝電路板100A的示意圖。如圖15所示,四個雙軸定位結構80固定於長方形測試組裝電路板100A的四個角落的固定孔(圖未示),一個單軸定位結構70固定於長方形測試組裝電路板100A的中間的頂部邊緣的固定孔(圖未示),且一個單軸定位結構70固定於長方形測試組裝電路板100A的中間的底部邊緣的固定孔(圖未
示)。更清楚地說,因為長方形測試組裝電路板100A的長度較長,中間較容易變形,所以除了四個角落的固定孔由四個雙軸定位結構80固定之外,中間的頂部邊緣的固定孔和底部邊緣的固定孔均需要多個單軸定位結構70加以固定,才能夠防止長方形測試組裝電路板100A的中間變形。
在一些實施例中,使用者可以選擇多個單軸定位結構70、多個雙軸定位結構80或二者的任意組合共同固定於長方形測試組裝電路板100A的四個角落的固定孔、中間的頂部邊緣的固定孔和底部邊緣的固定孔。
以上僅為示例,實際上,複數個固定孔分布在長方形測試組裝電路板100的任何位置(例如,四個角落、左右兩側、頂部邊緣、底部邊緣),使用者可選擇將該等定位結構70、80固定於任何位置的固定孔101。
圖16是本發明的固定治具的第一實施例固定圓形測試組裝電路板100B的示意圖,圖17是本發明的固定治具的第一實施例固定不規則形測試組裝電路板100C的示意圖。如圖16及圖17所示,並請參考圖9和圖10,頭部8111繞著樞軸817相對樞接部8162旋轉,以調整柄部8112與樞接部8162的角度,使得凸塊8141能夠對準並且穿設於圓形測試組裝電路板100B或不規則組裝電路板100C的固定孔(圖未示)。具體來說,因為圓形測試組裝電路板100B和不規則形測試組裝電路板100C的固定孔的位置並不固定,所以必須透過可調整角度的雙軸定位結構80才能夠固定圓形測試組裝電路板100B或不規則形測試組裝電路板100C。單軸定位結構70的第一定位件71的本體711被緊固件715固定而無法藉由旋轉來調整角度,雙軸定位結構80的第一定位件81的本體811可藉由樞軸817旋轉來調整角度,因此雙軸定位結構80適合固定圓形測試組裝電路板100B或不規則形測試組裝電路板100C。
較佳地,如圖5及圖6所示,該等滑塊23、712、812呈矩形。藉此,該等滑塊23、712、812不會在第一滑槽31、第二滑槽41、第三滑槽51和第四滑槽61中旋轉。
較佳地,該等滑塊23、712、812為矩形螺母。
在一些實施例中,移動裝置20更包括複數個彈簧墊片(圖未示),該等彈簧墊片分別設置在板體21與該等滑塊23之間;定位結構70更包括一彈簧墊片(圖未示),彈簧墊片設置在頭部7111與滑塊712之間;定位結構80更包括一彈簧墊片(圖未示),彈簧墊片設置在固定部8161與滑塊812之間。該等彈簧墊片具有吸收震動力的效果,較不會受到震動力的影響而從第一滑槽31、第二滑槽41、第三滑槽51和第四滑槽61中脫落。
在一些實施例中,第一夾持部714、814形成凹槽,且第二夾持部723、823的另一端具有凸塊,也可以達到相同的功效。
在一些實施例中,因為測試組裝電路板的固定孔的深度與測試組裝電路板的厚度正相關,所以可藉由調整凸塊7141、8141的長度以穿設不同深度的固定孔,使得本發明的固定治具的第一實施例能夠固定不同厚度的測試組裝電路板。
在較佳實施例中,圖1顯示的第一方向是垂直方向且第二方向是水平方向,因此圖1顯示移動裝置20是垂直移動且該等定位結構70、80是水平移動。在一些實施例中,第一方向可以是水平方向,第二方向則是垂直方向,因此移動裝置20是水平移動且該等定位結構70、80是垂直移動。在一些實施例中,第一方向與第二方向都是斜向且互相垂直,因此移動裝置20與該等定位結構
70、80都是斜向移動。以上僅為示例,實際上,第一方向可以是任意方向,第二方向則是不同於第一方向的其他方向。
圖18是本發明的固定治具的第二實施例的立體圖。第二實施例與第一實施例的差異在於:本發明的固定治具進一步包括一移動裝置20A,移動裝置20A的實際結構和設置方式與移動裝置20完全相同,移動裝置20的位置靠近第一側板11,移動裝置20A的位置靠近第二側板12,且第二滑軌40設置於移動裝置20A上。當第二實施例固定測試組裝電路板時,移動裝置20與移動裝置20A同時沿著第三滑槽51和第四滑槽61在第一方向上朝向測試組裝電路板移動,直至移動裝置20靠近測試組裝電路板的頂部且移動裝置20A靠近測試組裝電路板的底部為止,後續操作程序則如第一實施例所述。
圖19是本發明的固定治具的第三實施例的立體圖。第三實施例與第二實施例的差異在於:本發明的固定治具進一步包括一移動裝置20B、一第一滑軌30A及一第二滑軌40A,移動裝置20B的位置靠近第一側板11,移動裝置20位於該等移動裝置20A、20B之間,該等第一滑軌30、30A分別設置於移動裝置20的相對二側,第二滑軌40A設置於該等移動裝置20B上。當第三實施例固定測試組裝電路板且該等測試組裝電路板分別放置在移動裝置20的二側與該等移動裝置20A、20B之間時,該等移動裝置20、20A、20B同時沿著第三滑槽51和第四滑槽61在第一方向上朝向該等測試組裝電路板移動,直至該等移動裝置20、20A、20B靠近該等測試組裝電路板的頂部和底部為止,後續操作程序則如第一實施例所述。
在一些實施例中,第一滑軌30可以由複數個小軌道組成,第一滑軌的該等小軌道彼此獨立,因此該等小軌道中的第一滑槽互不相通。第二滑軌
40可以由複數個小軌道組成,第二滑軌的該等小軌道彼此獨立,因此該等小軌道中的第二滑槽互不相通。該等定位結構70、80設置在第一滑軌的該等小軌道與第二滑軌的該等小軌道。
在一些實施例中,第三滑軌50的數量可為複數個,第四滑軌60的數量可為複數個,移動裝置20的二端分別設置於該等第三滑軌50與該等第四滑軌60。
綜上所述,本發明的固定治具能夠藉由該等定位結構70、80固定測試組裝電路板的小區域,不需要固定測試組裝電路板的整個底部邊緣和整個頂部邊緣,完全不會擋住測試組裝電路板的整個底部邊緣和整個頂部邊緣,且固定效果出色。因此,測試組裝電路板的底部邊緣和頂部邊緣具有充足的空間作為探針接觸的測試參考點,進而測試組裝電路板的底部邊緣和頂部邊緣的元件可以進行飛針測試。再者,該等定位結構70、80不會接觸到靠近測試組裝電路板的底部邊緣和頂部邊緣的元件,因而測試組裝電路板的底部邊緣和頂部邊緣可以設置多個元件且該等元件不會干涉與受損,提升測試組裝電路板的使用面積。
值得一提的是,本發明的固定治具能夠固定不同形狀的測試組裝電路板,使用者不需要針對不同形狀的測試組裝電路板客製化一套治具,有效降低製造成本,且不占空間。
以上所述者僅為用以解釋本發明的較佳實施例,並非企圖據以對本發明做任何形式上的限制,是以,凡有在相同的發明精神下所作有關本發明的任何修飾或變更,皆仍應包括在本發明意圖保護的範疇。
10:外框
20:移動裝置
21:板體
22:緊固件
30:第一滑軌
40:第二滑軌
50:第三滑軌
60:第四滑軌
70,80:定位結構
Claims (3)
- 一種測試組裝電路板的固定治具,包括:一移動裝置,在一第一方向上移動;至少一第一滑軌,設置於該移動裝置上,並且開設一第一滑槽;至少一第二滑軌,位於該移動裝置的一側,並且開設一第二滑槽;以及複數個定位結構,各該定位結構包括一第一定位件及一第二定位件,該第一定位件包括至少一本體、至少一滑塊、至少一第一柱體及至少一第一夾持部,該至少一滑塊設置於該至少一本體,位於該第一滑槽或該第二滑槽中,並且沿著該至少一第一滑軌與該至少一第二滑軌在一第二方向上移動,該至少一第一柱體設置於該至少一本體,該至少一第一夾持部設置於該至少一本體,該第二定位件包括至少一塊體、至少一第二夾持部、至少一第二柱體及至少一彈性件,該至少一第二夾持部設置於該至少一塊體,該至少一第一夾持部與該至少一第二夾持部的其中之一具有至少一凸塊,該至少一第一夾持部與該至少一第二夾持部的另一者形成至少一凹槽,該至少一凸塊穿設於一測試組裝電路板的至少一固定孔並且插設於該至少一凹槽中,從而該至少一第二夾持部將該測試組裝電路板固定在該至少第一夾持部上,該至少一第二柱體包括至少一頭部及至少一桿部,該至少一頭部設置於該至少一桿部的一端,該至少一桿部貫穿該至少一塊體並且其另一端固定於該至少一第一柱體,該至少一塊體沿著該至少一桿部在該第三方向上移動並且選擇性地抵靠於該至 少一第一柱體,該至少一彈性件設置於該至少一桿部並且其二端分別抵靠於該至少一塊體與該至少一頭部。
- 如請求項1所述的測試組裝電路板的固定治具,其中,該第一定位件包括至少一連結部,該至少一本體樞設於該至少一連結部,使得該至少一本體相對該至少一連結部旋轉,該至少一滑塊設置於該至少一連結部。
- 如請求項1所述的測試組裝電路板的固定治具,更包括一外框、至少一第三滑軌及至少一第四滑軌,該至少一第二滑軌、該至少一第三滑軌與該至少一第四滑軌分別設置於該外框上,該移動裝置的二端分別設置於該至少一第三滑軌和該至少一第四滑軌,且該移動裝置沿著該至少一第三滑軌與該至少一第四滑軌在該第一方向上移動。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW112101113A TWI829500B (zh) | 2023-01-10 | 2023-01-10 | 測試組裝電路板的固定治具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW112101113A TWI829500B (zh) | 2023-01-10 | 2023-01-10 | 測試組裝電路板的固定治具 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TWI829500B true TWI829500B (zh) | 2024-01-11 |
Family
ID=90459095
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW112101113A TWI829500B (zh) | 2023-01-10 | 2023-01-10 | 測試組裝電路板的固定治具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
TW (1) | TWI829500B (zh) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN2596713Y (zh) * | 2002-12-25 | 2003-12-31 | 英业达股份有限公司 | 电路板维修固定夹具 |
US20050067464A1 (en) * | 2003-09-30 | 2005-03-31 | Peng-Wei Wang | Fixture for supporting a printed circuit board in a production line |
CN213073251U (zh) * | 2020-10-20 | 2021-04-27 | 江苏烁迈特电子科技有限公司 | 一种应用于smt贴装线的pcb板波峰焊治具 |
-
2023
- 2023-01-10 TW TW112101113A patent/TWI829500B/zh active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN2596713Y (zh) * | 2002-12-25 | 2003-12-31 | 英业达股份有限公司 | 电路板维修固定夹具 |
US20050067464A1 (en) * | 2003-09-30 | 2005-03-31 | Peng-Wei Wang | Fixture for supporting a printed circuit board in a production line |
CN213073251U (zh) * | 2020-10-20 | 2021-04-27 | 江苏烁迈特电子科技有限公司 | 一种应用于smt贴装线的pcb板波峰焊治具 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI829500B (zh) | 測試組裝電路板的固定治具 | |
JP3331755B2 (ja) | リニアガイドレールの高精度取付け方法 | |
US6765402B2 (en) | Back pressure test fixture to allow probing of integrated circuit package signals | |
US20020145438A1 (en) | Robust universal docking system | |
TWM514004U (zh) | 積體電路的檢測裝置及檢測設備 | |
KR100561220B1 (ko) | 인쇄회로 기판 고정용 지그 | |
CN214953919U (zh) | 水平式飞针机的测试头运动机构 | |
CN116399207A (zh) | 转轴组件展平态虚位检测治具 | |
CN213715393U (zh) | 一种便于操作的pcb板测试仪 | |
TWM528569U (zh) | 電路板之整板治具 | |
TWM474140U (zh) | 使用在探針卡上的具高度調整之檢測裝置 | |
CN208079281U (zh) | 一种新型摄像头模组测试固定治具 | |
KR102432815B1 (ko) | 피검사물 지지 장치 및 이를 이용한 검사 방법 | |
CN113155598A (zh) | 一种变角度边缘冲击夹具 | |
CN210269930U (zh) | 一种电路板测试装置 | |
TWI452278B (zh) | 夾持組件及應用該夾持組件的背光模組測試裝置 | |
CN208672502U (zh) | 拉力测试设备 | |
US20050083071A1 (en) | Electronic circuit assembly test apparatus | |
TWM549877U (zh) | 積體電路測試裝置 | |
CN106813641B (zh) | 一种坐标测量机的测试探针的组装方法及其组装治具 | |
CN211206028U (zh) | 一种芯材拉伸样品的粘接工装 | |
TWM530511U (zh) | 電路板之固定裝置 | |
TWI832726B (zh) | 電路板固定治具 | |
CN220961742U (zh) | 用于主控板的固定装置和测试装置 | |
US6037764A (en) | Rotatable mechanical hold-down finger for holding a circuit board in a test fixture |