CN210269930U - 一种电路板测试装置 - Google Patents

Abstract

一种电路板测试装置，包括：底座、固定机构、夹持机构、第一测试探针和第二测试探针，所述底座开设有置板槽，固定机构包括若干第一螺杆和若干第二螺杆，第一螺杆的一端设置有第一锁紧组件，第二螺杆的一端设置有第二锁紧组件，夹持机构包括若干第一夹持组件和若干第二夹持组件，第一测试探针设置在第一夹持组件上，第二测试探针设置在第二夹持组件上。设置有第一螺杆和第二螺杆，调节第一锁紧组件和第二锁紧组件位置，将待测试的电路板锁紧固定在置板槽中，通过底座两端活动设置的第一夹持组件和第二夹持组件，调节第一测试探针和第二测试探针的位置，对电路板两个面进行检测，避免测试一面再测试另一面，提高了测试效率，方便了测试人员操作。

Description

一种电路板测试装置

技术领域

本实用新型涉及测试设备技术领域，特别涉及一种板测电路板测试装置。

背景技术

电路板是电子元器件的支撑体，时重要的电子部件，在对电子产品进行测试时，通常是对电子产品中的电路板的功能和性能进行检测，印制板从单层发展到双面、多层和挠性，并且仍旧保持着各自的发展趋势，现有的电路板大多是双面板，在测试时，需要对电路板的两面进行检测，但是，现有的测试装置一般只能进行单面测试，在测试双面电路板时，需要先测试一面后，进行翻转后再测试另一面，不便于测试人员操作，同时，也容易损坏电路板，造成不必要的损失。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种电路板测试装置。

本实用新型解决上述技术问题的技术方案如下：一种电路板测试装置，包括：底座、固定机构、夹持机构、若干第一测试探针和若干第二测试探针，所述底座开设有置板槽，所述底座的一端开设有若干第一锁紧孔，所述底座的另一端开设有若干第二锁紧孔，所述固定机构包括若干第一螺杆和若干第二螺杆，所述第一螺杆和所述第一锁紧孔的内侧壁螺纹连接，所述第一螺杆的一端设置有第一锁紧组件，所述第二螺杆和所述第二锁紧孔的内侧壁螺纹连接，所述第二螺杆的一端设置有第二锁紧组件，所述夹持机构包括若干第一夹持组件和若干第二夹持组件，若干所述第一夹持组件活动设置在所述底座的一端上，若干所述第二夹持组件活动设置在所述底座的另一端上，所述第一测试探针设置在所述第一夹持组件上，所述第二测试探针设置在所述第二夹持组件上。

进一步地，所述底座的一端设置有第一滑轨，所述底座的另一端设置有第二滑轨，所述第一夹持组件包括第一滑块、第一夹持块、第一连接杆和第二连接杆，所述第一滑块滑动设置在所述第一滑轨上，所述第一连接杆的一端和所述第一滑块枢接，所述第一连接杆的另一端和所述第二连接杆的一端枢接，所述第二连接杆的另一端和所述第一夹持块枢接，所述第一夹持块开设有第一安装孔，所述第一测试探针通过所述第一安装孔穿设在所述第一夹持块上。

进一步地，所述第二夹持组件包括第二滑块、第二夹持块、第三连接杆和第四连接杆，所述第二滑块滑动设置在所述第二滑轨上，所述第三连接杆的一端和所述第二滑块枢接，所述第三连接杆的另一端和所述第四连接杆的一端枢接，所述第四连接杆的另一端和所述第二夹持块枢接，所述第二夹持块开设有第二安装孔，所述第二测试探针通过所述第二安装孔穿设在所述第二夹持块上。

进一步地，还包括第一螺栓和第二螺栓，所述第一滑块开设有第一螺纹通孔，所述第一螺栓和所述第一螺纹通孔的内侧壁螺纹连接，所述第二滑块开设有第二螺纹通孔，所述第二螺栓和所述第二螺纹通孔的内侧壁螺纹连接。

进一步地，所述第一锁紧组件包括第一连接块和第一夹紧板，所述第一连接块开设有第一螺纹孔，所述第一螺杆的一端和所述第一螺纹孔的内侧壁螺纹连接，所述第一夹紧板和所述第一连接块连接。

进一步地，所述第二锁紧组件包括第二连接块和第二夹紧板，所述第二连接块开设有第二螺纹孔，所述第二螺杆的一端和所述第二螺纹孔的内侧壁螺纹连接，所述第二夹紧板和所述第二连接块连接。

进一步地，所述第一夹紧板设置有第一海绵垫。

进一步地，所述第二夹紧板设置有第二海绵垫。

本实用新型的有益效果是：底座的两端分别设置有若干第一螺杆和若干第二螺杆，第一螺杆和第二螺杆相对设置，通过分别旋转第一螺杆和第二螺杆，可以调节第一锁紧组件和第二锁紧组件的位置，将待测试的电路板垂直锁紧固定在底座的置板槽中，然后通过底座两端活动设置的第一夹持组件和第二夹持组件，可以灵活调节第一测试探针和第二测试探针的位置，分别对电路板的两个面进行检测，避免测试一面后再测试另一面，节省了时间，提高了测试效率，也方便了测试人员操作，同时也避免电路板换面时损坏电路板的现象。

附图说明

图1为一个实施例的一种电路板测试装置的结构示意图；

图2为一个实施例的一种电路板测试装置的俯视图。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。以下将结合本实用新型实施例的附图，对本实用新型的技术方案做进一步描述，本实用新型不仅限于以下具体实施方式。

需要理解的是，实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件。在本实用新型的描述中，需要理解的是，若有术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。

如图1至图2所示，在一个实施例中，一种电路板测试装置，包括：底座100、固定机构200、夹持机构300、若干第一测试探针400和若干第二测试探针500，所述底座100开设有置板槽101，所述底座100的一端开设有若干第一锁紧孔，所述底座100的另一端开设有若干第二锁紧孔，具体的，所述置板槽101开设在所述底座100的顶部，应该理解的是，所述底座100的顶部为底座100的上表面，所述第一锁紧孔和所述第二锁紧孔均与所述置板槽101连通，所述第一锁紧孔和所述第二锁紧孔一一相对设置。

所述固定机构200包括若干第一螺杆210和若干第二螺杆220，所述第一螺杆210和所述第一锁紧孔的内侧壁螺纹连接，所述第一螺杆210的一端设置有第一锁紧组件230，所述第二螺杆220和所述第二锁紧孔的内侧壁螺纹连接，所述第二螺杆220的一端设置有第二锁紧组件240，具体的，所述第一螺杆210和所述第一锁紧孔相适配，所述第一螺杆210通过所述第一锁紧孔穿设在所述底座100的一端上，且所述第一螺杆210的一端设置在所述置板槽101中，所述第一锁紧组件230设置在所述第一螺杆210靠近所述置板槽101的一端，从而将所述第一锁紧组件230设置在所述置板槽101中，所述第二螺杆220和所述第二锁紧孔相适配，所述第二螺杆220通过所述第二锁紧孔穿设在所述底座100的另一端上，且所述第二螺杆220的一端设置在所述置板槽101中，所述第二锁紧组件240设置在所述第二螺杆220靠近所述置板槽101的一端，从而将所述第二锁紧组件240设置在所述置板槽101中，所述第一锁紧组件230和所述第二锁紧组件240左右相对设置，从而从左右两面对待检测的电路板进行夹紧固定。

所述夹持机构300包括若干第一夹持组件310和若干第二夹持组件320，若干所述第一夹持组件310活动设置在所述底座100的一端上，若干所述第二夹持组件320活动设置在所述底座100的另一端上，所述第一测试探针400设置在所述第一夹持组件310上，所述第二测试探针500设置在所述第二夹持组件320上。具体的，所述第一夹持组件310设置在所述底座100开设有所述第一锁紧孔的一端，所述第二夹持组件320设置在所述底座100开设有所述第二锁紧孔的一端。

一个实施例中，所述底座100的一端设置有第一滑轨110，所述底座100的另一端设置有第二滑轨120，所述第一夹持组件310包括第一滑块311、第一夹持块312、第一连接杆313和第二连接杆314，所述第一滑块311滑动设置在所述第一滑轨110上，所述第一连接杆313的一端和所述第一滑块311枢接，所述第一连接杆313的另一端和所述第二连接杆314的一端枢接，所述第二连接杆314的另一端和所述第一夹持块312枢接，所述第一夹持块312开设有第一安装孔，所述第一测试探针400通过所述第一安装孔穿设在所述第一夹持块312上。具体的，所述底座100开设有所述第一锁紧孔的一端设置有所述第一滑轨110，所述底座100开设有所述第二锁紧孔的一端设置有所述第二滑轨120，所述第一滑轨110和所述第二滑轨120左右相对设置，所述第一滑块311滑动设置在所述第一滑轨110上，带动设置在所述第一滑块311上的所述第一连接杆313移动，从而带动与所述第一连接杆313枢接的所述第二连接杆314移动，从而带动与所述第二连接杆314枢接的所述第一夹持块312移动，从而实现所述第一测试探针400的移动，本实施例中，所述第一连接杆313的一端和所述第一滑块311通过销钉实现枢接，所述第一连接杆313的另一端和所述第二连接杆314的一端通过销钉实现枢接，所述第二连接杆314的另一端和所述第一夹持块312通过销钉实现枢接，本实用新型中枢接采用的装置可以为现有技术中可获得的可以实现枢接的装置，不局限于实施例中提及的装置，本实施例中，不累赘描述。

一个实施例中，所述第二夹持组件320包括第二滑块321、第二夹持块322、第三连接杆323和第四连接杆324，所述第二滑块321滑动设置在所述第二滑轨120上，所述第三连接杆323的一端和所述第二滑块321枢接，所述第三连接杆323的另一端和所述第四连接杆324的一端枢接，所述第四连接杆324的另一端和所述第二夹持块322枢接，所述第二夹持块322开设有第二安装孔，所述第二测试探针500通过所述第二安装孔穿设在所述第二夹持块322上。具体的，所述第二滑块321滑动设置在所述第二滑轨120上，带动设置在所述第二滑块321上的所述第三连接杆323移动，从而带动与所述第三连接杆323枢接的所述第四连接杆324移动，从而带动与所述第四连接杆324枢接的所述第二夹持块322移动，从而实现所述第二测试探针500的移动，本实施例中，所述第三连接杆323的一端和所述第二滑块321通过销钉实现枢接，所述第三连接杆323的另一端和所述第四连接杆324的一端通过销钉实现枢接，所述第四连接杆324的另一端和所述第二夹持块322通过销钉实现枢接，本实用新型中枢接采用的装置可以为现有技术中可获得的可以实现枢接的装置，不局限于实施例中提及的装置，本实施例中，不累赘描述。

具体的，将待测试的电路板垂直放置在所述置板槽101中，根据待检测电路板的大小，选择合适的所述第一螺杆210和第二螺杆220，往电路板方向扭动所述第一螺杆210和所述第二螺杆220，带动所述第一锁紧组件230和所述第二锁紧组件240往电路板方向移动，从而从左右两个方向将待检测的电路板夹紧固定在所述置板槽101中，然后通过移动所述第一滑块311的位置，同时转动所述第一连接杆313和所述第二连接杆314，可以调节所述第一测试探针400的位置，将所述第一测试探针400移动到待检测电路板一面上方指定的位置，通过移动所述第二滑块321的位置，同时转动所述第三连接杆323和所述第四连接杆324，可以调节所述第二测试探针500的位置，将所述第二测试探针500移动到待检测电路板另一面上方指定的位置，通过转动所述第一夹持块312还可以调节所述第一测试探针400与电路板接触的角度，转动所述第二夹持块322可以调节所述第二测试探针500与所述电路板接触的角度，避免出现接触不良现象，根据具体测试需要，调节好各个所述第一测试探针400和各个所述第二测试探针500的位置，通过所述第一测试探针400和所述第二测试探针500对电路板进行检测。底座100的两端分别设置有若干第一螺杆210和若干第二螺杆220，第一螺杆210和第二螺杆220相对设置，通过分别旋转第一螺杆210和第二螺杆220，可以调节第一锁紧组件230和第二锁紧组件240的位置，将待测试的电路板垂直锁紧固定在底座100的置板槽101中，然后通过底座100两端活动设置的第一夹持组件310和第二夹持组件320，可以灵活调节第一测试探针400和第二测试探针500的位置，分别对电路板的两个面进行检测，避免测试一面后再测试另一面，节省了时间，提高了测试效率，也方便了测试人员操作，同时也避免电路板换面时损坏电路板的现象。

在一个实施例中，还包括第一螺栓600和第二螺栓700，所述第一滑块311开设有第一螺纹通孔，所述第一螺栓600和所述第一螺纹通孔的内侧壁螺纹连接，所述第二滑块321开设有第二螺纹通孔，所述第二螺栓700和所述第二螺纹通孔的内侧壁螺纹连接。具体的，所述第一螺纹通孔轴向垂直于所述第一滑轨110，所述第一滑轨110具有第一滑动槽，所述第一螺栓600通过所述第一螺纹通孔和所述第一滑动槽的底部活动抵接，当所述第一滑块311滑动到需要的位置时，可以拧紧所述第一螺栓600，使所述第一螺栓600和所述第一滑动槽的底部抵接，将所述第一滑块311固定住，所述第二螺纹通孔轴向垂直于所述第二滑轨120，所述第二滑轨120具有第二滑动槽，所述第二螺栓700通过所述第二螺纹通孔和所述第二滑动槽的底部活动抵接，当所述第二滑块321滑动到需要的位置时，可以拧紧所述第二螺栓700，使所述第二螺栓700和所述第二滑动槽的底部抵接，将所述第二滑块321固定住，设置了所述第一螺栓600和所述第二螺栓700，可以防止移位，可以更好固定好所述第一测试探针400和所述第二测试探针500的位置，从而提高了检测的准确性。

在一个实施例中，所述第一锁紧组件230包括第一连接块231和第一夹紧板232，所述第一连接块231开设有第一螺纹孔，所述第一螺杆210的一端和所述第一螺纹孔的内侧壁螺纹连接，所述第一夹紧板232和所述第一连接块231连接。具体的，所述第一连接块231通过所述第一螺纹孔螺接在所述第一螺杆210上，从而将所述第一夹紧板232设置在所述第一螺杆210上，通过设置了所述第一连接块231，可以更好地将所述第一夹紧板232安装在所述第一螺杆210上，使得连接更牢固，不容易损坏，提高所述电路板测试装置的使用寿命。

在一个实施例中，所述第二锁紧组件240包括第二连接块241和第二夹紧板242，所述第二连接块241开设有第二螺纹孔，所述第二螺杆220的一端和所述第二螺纹孔的内侧壁螺纹连接，所述第二夹紧板242和所述第二连接块241连接。具体的，所述第二连接块241通过所述第二螺纹孔螺接在所述第二螺杆220上，从而将所述第二夹紧板242设置在所述第二螺杆220上，通过设置了所述第二连接块241，可以更好地将所述第二夹紧板242安装在所述第二螺杆220上，使得连接更牢固，不容易损坏，提高所述电路板测试装置的使用寿命。

在一个实施例中，所述第一夹紧板232设置有第一海绵垫。所述第二夹紧板242设置有第二海绵垫。设置了第一海绵垫和第二海绵垫，可以起到一定的缓冲作用，避免所述第一夹紧板232和待测试电路板直接接触，避免所述第二夹紧板242和待测试电路板直接接触，避免硬性接触，从而避免损坏待测的电路板，对电路板起到保护作用，降低了不良率，同时也可以起到绝缘作用，避免出现触电的现象，安全性高。

显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种电路板测试装置，其特征在于，包括：底座、固定机构、夹持机构、若干第一测试探针和若干第二测试探针，所述底座开设有置板槽，所述底座的一端开设有若干第一锁紧孔，所述底座的另一端开设有若干第二锁紧孔，所述固定机构包括若干第一螺杆和若干第二螺杆，所述第一螺杆和所述第一锁紧孔的内侧壁螺纹连接，所述第一螺杆的一端设置有第一锁紧组件，所述第二螺杆和所述第二锁紧孔的内侧壁螺纹连接，所述第二螺杆的一端设置有第二锁紧组件，所述夹持机构包括若干第一夹持组件和若干第二夹持组件，若干所述第一夹持组件活动设置在所述底座的一端上，若干所述第二夹持组件活动设置在所述底座的另一端上，所述第一测试探针设置在所述第一夹持组件上，所述第二测试探针设置在所述第二夹持组件上。

2.如权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于，所述底座的一端设置有第一滑轨，所述底座的另一端设置有第二滑轨，所述第一夹持组件包括第一滑块、第一夹持块、第一连接杆和第二连接杆，所述第一滑块滑动设置在所述第一滑轨上，所述第一连接杆的一端和所述第一滑块枢接，所述第一连接杆的另一端和所述第二连接杆的一端枢接，所述第二连接杆的另一端和所述第一夹持块枢接，所述第一夹持块开设有第一安装孔，所述第一测试探针通过所述第一安装孔穿设在所述第一夹持块上。

3.如权利要求2所述的电路板测试装置，其特征在于，所述第二夹持组件包括第二滑块、第二夹持块、第三连接杆和第四连接杆，所述第二滑块滑动设置在所述第二滑轨上，所述第三连接杆的一端和所述第二滑块枢接，所述第三连接杆的另一端和所述第四连接杆的一端枢接，所述第四连接杆的另一端和所述第二夹持块枢接，所述第二夹持块开设有第二安装孔，所述第二测试探针通过所述第二安装孔穿设在所述第二夹持块上。

4.如权利要求3所述的电路板测试装置，其特征在于，还包括第一螺栓和第二螺栓，所述第一滑块开设有第一螺纹通孔，所述第一螺栓和所述第一螺纹通孔的内侧壁螺纹连接，所述第二滑块开设有第二螺纹通孔，所述第二螺栓和所述第二螺纹通孔的内侧壁螺纹连接。

5.如权利要求1所述的电路板测试装置，其特征在于，所述第一锁紧组件包括第一连接块和第一夹紧板，所述第一连接块开设有第一螺纹孔，所述第一螺杆的一端和所述第一螺纹孔的内侧壁螺纹连接，所述第一夹紧板和所述第一连接块连接。

6.如权利要求5所述的电路板测试装置，其特征在于，所述第二锁紧组件包括第二连接块和第二夹紧板，所述第二连接块开设有第二螺纹孔，所述第二螺杆的一端和所述第二螺纹孔的内侧壁螺纹连接，所述第二夹紧板和所述第二连接块连接。

7.如权利要求6所述的电路板测试装置，其特征在于，所述第一夹紧板设置有第一海绵垫。

8.如权利要求7所述的电路板测试装置，其特征在于，所述第二夹紧板设置有第二海绵垫。

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