TW202035968A - 微粒偵測裝置 - Google Patents

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吳錦銓
陳智凱
林景松
黃啟峰
韓永隆
陳宣愷
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Abstract

一種微粒偵測裝置,包含:基座,包含偵測部件承載區、微型泵承載區、偵測通道、光束通道及光陷阱區,其中光陷阱區設有光陷阱結構,設置對應到光束通道;偵測部件,包含微處理器、微粒傳感器及雷射光器,雷射光器設置於基座之偵測部件承載區,微粒傳感器設置在偵測通道與光束通道正交位置;當微粒傳感器及雷射光器受微處理器控制而被驅動運作時,雷射光器發射投射光源在光束通道,微粒傳感器偵測偵測通道內流通氣體中所含懸浮微粒之大小及濃度,投射光源於通過偵測通道後投射在光陷阱結構上,減少雜散光直接反射回光束通道中。

Description

微粒偵測裝置
本案關於一種微粒偵測裝置,尤指一種可組配於薄型可攜式裝置進行氣體監測的微粒偵測裝置。
懸浮微粒是指於氣體中含有的固體顆粒或液滴,由於其粒徑非常細微,容易通過鼻腔內的鼻毛進入人體的肺部,因而引起肺部的發炎、氣喘或心血管的病變,若是其他汙染物依附於懸浮微粒上,更會加重對於呼吸系統的危害。近年來,氣體汙染問題漸趨嚴重,尤其是細懸浮微粒(例如:PM2.5)之濃度數據常常過高,因此,氣體懸浮微粒濃度之監測漸受重視,但由於氣體會隨風向、風量不定量的流動,而目前檢測懸浮微粒的氣體品質監測站大都為定點,所以根本無法確認當下周遭的懸浮微粒濃度,因此需要一個微型且方便攜帶的氣體偵測裝置來供使用者無時無刻、隨時隨地的檢測周遭的懸浮微粒濃度。
有鑑於此,要如何能夠隨時隨地監測懸浮微粒的濃度,實為目前迫切需要解決之問題。
本案之主要目的係提供一種微粒偵測裝置,利用在薄型基座之中區隔出偵測通道及光束通道,以及配置定位偵測部件之雷射光器及微粒傳感器及微型泵在基座中,搭配微型泵在一直線氣體流通路徑之偵測通道內傳輸氣體,促使導入氣體得以很平穩、平順地通過偵測通道與光束通道的正交位置,藉以偵測出氣體中所含懸浮微粒之大小及濃度。更利用光陷阱區之光陷阱結構的拋物面結構,以及光陷阱結構接收雷射光器之投射光源之位置與光束通道保持大於3 mm以上之光陷阱距離之設計,促使雷射光器之投射光源在光陷阱結構之拋物面結構上形成聚焦點,減少雜散光直接反射回光束通道之發生,達到更精準之微粒偵測效益。更且,偵測通道外部進氣端又有防護膜封蓋之設計,以使偵測通道得以導氣又具備防水防塵之功效,盡量不影響偵測通道之偵測精準度及使用壽命。如此本發明裝置微粒偵測裝置非常適合應用組裝於可攜式電子裝置及穿戴配件上,以形成移動式微粒偵測裝置,供使用者無時無刻、隨時隨地地監測周遭的懸浮微粒濃度。
本案之一廣義實施態樣為一種微粒偵測裝置,包含:一基座,內部區隔出一偵測部件承載區、一微型泵承載區、一偵測通道、一光束通道及光陷阱區,其中該偵測通道及該光束通道為正交位置之設置,且該光束通道為正交穿透該偵測通道而連通該光陷阱區,該偵測通道為一直線氣體流通之路徑,而該微型泵承載區連通該偵測通道,該光陷阱區設有具一拋物面結構之一光陷阱結構,設置對應到該光束通道;一偵測部件,包含一微處理器、一微粒傳感器及一雷射光器,該雷射光器定位設置於該基座之該偵測部件承載區,以發射一投射光源於該光束通道至該光陷阱區中,以及該微粒傳感器設置在該偵測通道與該光束通道正交位置,以偵測該偵測通道內所流通氣體中所含懸浮微粒之大小及濃度;其中當該微粒傳感器及該雷射光器受該微處理器控制而受驅動運作時,該雷射光器發射投射光源在該光束通道,該微粒傳感器偵測該偵測通道內所流通氣體中所含懸浮微粒之大小及濃度,該雷射光器所發射之該投射光源於通過該偵測通道後投射在該光陷阱結構之該拋物面結構上,減少雜散光直接反射回該光束通道中。
體現本案特徵與優點的一些典型實施例將在後段的說明中詳細敘述。應理解的是本案能夠在不同的態樣上具有各種的變化,其皆不脫離本案的範圍,且其中的說明及圖示在本質上當作說明之用,而非用以限制本案。
請參閱第1圖至第4C圖所示,本案提供一種微粒偵測裝置,包含一基座1、一偵測部件2、一微型泵3、一驅動控制板4、一外蓋板件5及一防護膜6。上述之基座1具有一第一表面1a及一第二表面1b,第一表面1a及第二表面1b為相對設置之兩個表面,內部區隔出一偵測部件承載區11、一微型泵承載區12、一偵測通道13、一光束通道14及光陷阱區15,其中偵測通道13及光束通道14為正交之位置設置,且光束通道14正交穿透偵測通道13而連通到光陷阱區15。驅動控制板4封蓋於基座1之第二表面1b上,並使偵測通道13被封蓋構成一直線氣體流通之路徑。防護膜6封蓋於偵測通道13外部進氣端,防護膜6為一防水、防塵且可供氣體穿透之膜狀結構,以使偵測通道13得以導氣又具備防水防塵之功效,以過濾外部空氣所含較大顆粒之微粒,避免其進入偵測通道13中造成汙染。藉此,只讓較小懸浮微粒(例如:PM2.5)被導入偵測通道13中進行偵測,可盡量不影響偵測通道13中之偵測精準度及使用壽命。偵測部件2封裝定位於驅動控制板4上並與其電性連接,且設置於偵測部件承載區11。微型泵3與驅動控制板4電性連接以受驅動運作(未圖示)。微型泵承載區12底部設有一承置框槽121及一進氣通口122,以及頂部一側設置一排氣口123連通外部。進氣通口122連通於偵測通道13與承置框槽121之間,使微型泵3承置定位於承置框槽121上。微型泵3可在受驅動運作時在與承置框槽121連通之偵測通道13產生一吸力,該吸力可將偵測通道13外部之氣體導入偵測通道13內,其後,再透過微型泵3的傳輸將該氣體導入承置框槽121上方,復由排氣口123排出於外部,俾完成氣體偵測之導引(如第4B圖箭頭所指之路徑導引)。又,光陷阱區15設有一光陷阱結構151,設置對應到光束通道14。光陷阱結構151為一拋物面結構,用以使光束通道14所發射之投射光源L在此拋物面結構上形成聚焦點,藉以減少雜散光,且光陷阱結構151所接收之投射光源L之位置與光束通道14保持有一光陷阱距離W(如第4C圖所示)。須強調的是,此光陷阱距離W需大於3 mm以上,因當光陷阱距離W小於3 mm時,會導致投射在光陷阱結構151上之投射光源L於反射後,有過多的雜散光直接反射回光束通道14中,因而造成偵測精度的失真。如此光陷阱結構151為一拋物面結構且光陷阱距離W需大於3 mm以上之設計,有別習知光陷阱結構151採以45度傾角且未考慮光陷阱距離W知設計,可有效解決習知技術無法避免有過多雜散光直接反射回光束通道14中,進而影響偵測精準度之問題。
請參閱第4A圖、第4B圖及第4C圖所示,上述偵測部件2包含有一微處理器21、一微粒傳感器22及一雷射光器23。其中微處理器21、微粒傳感器22及雷射光器23封裝於驅動控制板4上。雷射光器23對應設置於偵測部件承載區11中,並能發射投射光源L於光束通道14中。微粒傳感器22對應設置到偵測通道13與光束通道14正交位置。如此微處理器21控制雷射光器23及微粒傳感器22之驅動運作,使雷射光器23之投射光源L照射於光束通道14中,並通過偵測通道13與光束通道14正交位置,以照射偵測通道13中的通過氣體中所含懸浮微粒(例如:PM2.5),並能使被照射氣體中所含懸浮微粒產生投射光點,以投射於微粒傳感器22進行偵測計算。微粒傳感器22可以偵測氣體中所含懸浮微粒之大小及濃度,並輸出偵測訊號。微處理器21接收微粒傳感器22所輸出偵測訊號進行分析,以輸出偵測數據。其中微粒傳感器22為PM2.5傳感器。
再請參閱第1圖及第2圖所示,上述之外蓋板件5包括有一上蓋板件5a及一下蓋板件5b。其中上蓋板件5a覆蓋基座1之第一表面1a,且對應到基座1之偵測通道13外部進氣端的位置上設有一進氣入口51a,對應到微型泵承載區12之排氣口123的位置上也具有一排氣出口52a。而下蓋板件5b覆蓋基座1之第二表面1b,並與上蓋板件5a相互嵌合以密封基座1,且對應到上蓋板件5a之進氣入口51a之區域設置一進氣開口51b,對應到上蓋板件5a之排氣出口52a之區域設置一排氣開口52b。如此微粒偵測裝置外部氣體可以由進氣開口51b、進氣入口51a導入基座1之偵測通道13中,而基座1之偵測通道13中氣體可由微型泵承載區12之排氣口123位置排出,再經過排氣出口52a、排氣開口52b排出於微粒偵測裝置外部。
請參閱第2圖、第4A圖、第4B圖、第4C圖、第5圖、第6A圖、第6B圖及第7A圖所示,上述之微型泵3承載於基座1之微型泵承載區12之承置框槽121上,係由依序由下而上堆疊的一進氣板31、一共振片32、一壓電致動器33、一絕緣片34、一導電片35所組構而成。其中進氣板31具有至少一進氣孔31a、至少一匯流排孔31b及一匯流腔室31c。上述之進氣孔31a與匯流排孔31b其數量相同,於本實施例中,進氣孔31a與匯流排孔31b以數量4個作舉例說明,並不以此為限。4個進氣孔31a分別貫通4個匯流排孔31b,且4個匯流排孔31b匯流到匯流腔室31c。上述之共振片32可透過貼合方式組接於進氣板31上,且共振片32上具有一中空孔32a、一可動部32b及一固定部32c。中空孔32a位於共振片32的中心處,並與進氣板31的匯流腔室31c對應,而設置於中空孔32a的周圍且與匯流腔室31c相對的區域為可動部32b,設置於共振片32的外周緣部分而貼固於進氣板31上的區域則為固定部32c。上述之壓電致動器33,包含有一懸浮板33a、一外框33b、至少一連接部33c、一壓電元件33d、至少一間隙33e及一凸部33f。其中,懸浮板33a為一正方型懸浮板,具有第一表面331a及相對於第一表面331a的一第二表面332a。外框33b環繞設置於懸浮板33a的周緣,且外框33b具有一組配表面331b及一下表面332b。至少一連接部33c連接於懸浮板33a與外框33b之間,以提供彈性支撐懸浮板33a的支撐力。其中懸浮板33a的第一表面331a與外框33b的組配表面331b兩者形成共平面,懸浮板33a的第二表面332a與外框33b的下表面332b兩者形成共平面,而間隙33e為懸浮板33a、外框33b與連接部33c之間的空隙,用以供氣體通過。此外,懸浮板33a的第一表面331a具有凸部33f。凸部33f於本實施例中係在凸部33f的周緣至懸浮板33a與連接部33c的連接處之區域實施蝕刻製程,使其下凹,來使懸浮板33a的凸部33f的凸部表面331f高於第一表面331a,以形成階梯狀結構。另外,外框33b環繞設置於懸浮板33a之外側,且具有一向外凸設之導電接腳333b,用以供電性連接之用,但不以此為限。
上述之共振片32與壓電致動器33係透過一填充材g相互堆疊組接,以在共振片32與壓電致動器33之間構成一腔室空間36。而填充材g可為一導電膠,但不以此為限,係用以使共振片32與壓電致動器33之間具有一間距h,亦即使共振片32與壓電致動器33之懸浮板33a上之凸部33f的凸部表面331f之間維持間距h之深度,進而可導引氣流更迅速地流動,且因懸浮板33a之凸部33f與共振片32保持適當距離,使彼此接觸干涉減少,促使噪音產生被降低。
於另一些實施例中,如第7B圖所示,上述之共振片32與壓電致動器33係透過一填充材g相互堆疊組接,以在共振片32與壓電致動器33之間構成一腔室空間36,另外,更藉由對懸浮板33a實施一沖壓成形製程,使其向下凹陷而形成腔室空間36,且其下陷距離可由沖壓成形於懸浮板33a與外框33b之間之至少一連接部33c所調整。藉此,懸浮板33a的第一表面331a與外框33b的組配表面331b兩者形成非共平面,亦即懸浮板33a的第一表面331a將低於外框33b的組配表面331b,且懸浮板33a的第二表面332a低於外框33b的下表面332b。其中,懸浮板33a上的凸部33f的凸部表面331f亦可選擇性地低於外框33b的組配表面331b。又,壓電元件33d貼附於懸浮板33a的第二表面332a,與凸部33f相對設置。壓電元件33d被施加驅動電壓後,由於壓電效應而產生形變,進而帶動懸浮板33a振動。利用於外框33b的組配表面331b上塗佈少量填充材g,以熱壓方式使壓電致動器33貼合於共振片32的固定部32c,主要係使得壓電致動器33得以與共振片32組配結合。而由於懸浮板33a之第一表面331a與共振片32之間形成之間距h會影響微型泵3的傳輸效果,故維持一固定的間距h,對於微型泵3提供穩定的傳輸效率十分重要。因此,本案對微型泵3之懸浮板33a使用沖壓方式,使其向下凹陷,讓懸浮板33a的第一表面331a與外框33b的組配表面331b兩者為非共平面,亦即懸浮板33a的第一表面331a將低於外框33b的組配表面331b,且懸浮板33a的第二表面332a低於外框33b的下表面332b,使得壓電致動器33之懸浮板33a凹陷形成一空間而得與共振片32保持一可調整之間距h。透過上述方式使壓電致動器33之懸浮板33a凹陷構成一間距h的結構改良,如此一來,所需的間距h得以直接透過調整壓電致動器33之懸浮板33a成形凹陷距離來完成,有效地簡化了調整間距h的結構設計,同時也達成簡化製程、縮短製程時間等優點。
請參閱第6A圖及第8圖所示,上述之絕緣片34及導電片35皆為框型的薄型片體,依序堆疊結合於壓電致動器33上。於本實施例中,絕緣片34貼附於壓電致動器33之外框33b的下表面332b,而導電片35堆疊結合於絕緣片34上。且其形態大致上對應於壓電致動器33之外框33b之形態。於一些實施例中,絕緣片34即由可絕緣之材質所構成,例如:塑膠,但不以此為限,以進行絕緣之用;於另一些實施例中,導電片35即由可導電之材質所構成,例如:金屬,但不以此為限,以進行電性導通之用。於本實施例中,導電片35上亦可設置一導電接腳351a,以進行電性導通之用。而壓電致動器33之壓電元件33d的兩驅動電極,習知所使用的方式不外乎使用一條導電線,利用焊接方式將其固定在壓電元件33d上以達到導出電極的電性連接作用,但因要將壓電元件33d上的電極導出需要使用治具將其固定,且依照不同工序要有不同對位,故這些習知電極的設計大大造成組裝上的複雜程度。為解決此問題,本發明利用導電片35提供一導電內引腳351b作為壓電元件33d的兩驅動電極之其中之一電極,以克服上述電極以導線導出之方式進行電性連接之缺陷。導電內引腳351b由導電片35一體沖壓製出,且導電內引腳351b可在導電片35框架的任一邊上向內延伸出一導電位置,且可為任意形狀,用於外部連接電極使用。此導電內引腳351b在導電片35框架的任一邊上向內構成具有彎折角度θ及彎折高度H之一延伸部3511b,而延伸部3511b更具有一分岔部3512b。分岔部3512b與導電片35框架保持該彎折高度H,此彎折高度H最佳高度為與壓電元件33d之厚度保持貼合之高度,以達到良好接觸效果。於本實施例中,分岔部3512b中間間隔距離P透過熔融合金、導電膠、導電墨水、導電樹酯等介質與壓電元件33d之表面結合固定,以達到更好接著效果。
請繼續參閱第9A圖至第9C圖,該些圖為第7A圖所示之微型泵3的作動示意圖。請先參閱第9A圖,壓電致動器33的壓電元件33d被施加驅動電壓後,產生形變帶動懸浮板33a向上位移,同時共振片32受到共振原理影響而被同步向上位移,此時連帶增加了腔室空間36的容積提升,於是腔室空間36內形成了負壓,微型泵3外部氣體便經由進氣孔31a被汲取,經過匯流排孔31b而進入匯流腔室31c內,再經過中空孔32a進入腔室空間36內。請再參閱第9B圖,當壓電元件33d帶動懸浮板33a向下位移,壓縮腔室空間36,迫使腔室空間36內的氣體通過間隙33e向上傳輸,達到傳輸氣體的效果,同時共振片32同樣因與懸浮板33a共振而向下位移,同步促使匯流腔室31c內的氣體往腔室空間36移動,使共振片32的可動部32b向下位移,讓氣體暫時無法經由進氣孔31a汲取。最後請參閱第9C圖,當懸浮板33a再被向上帶動,而懸浮板33a恢復不作動時保持之水平位置時,此時共振片32的可動部32b也同時被帶動而向上位移,共振片32將使壓縮腔室空間36內的氣體向間隙33e移動,並且提升匯流腔室31c內的容積,讓氣體能夠持續地通過進氣孔31a、匯流排孔31b再匯聚於匯流腔室31c內。如此透過不斷地重複上述第9A圖至第9C圖之作動,使微型泵3能夠連續將氣體自進氣孔31a進入,再由間隙33e向上傳輸,以不斷地汲取氣體,即構成微型泵3之傳輸氣體運作。
由上述說明可知,本案所提供一種微粒偵測裝置在具體實施中,微型泵3承載於基座1之微型泵承載區12之承置框槽121上,使進氣板31之進氣孔31a封閉於承置框槽121內,與進氣通口122連通,當微型泵3、微粒傳感器22以及雷射光器23受微處理器21控制而運作,微型泵3促使在承置框槽121連通之偵測通道13產生一吸力,將偵測通道13外部氣體導入偵測通道13內,且由於偵測通道13為一直線氣體流通之路徑,如此導入氣體得以很平穩、平順地流通於偵測通道13內,並通過偵測通道13與光束通道14正交位置,受雷射光器23之投射光源L照射而投射光點至微粒傳感器22上,微粒傳感器22即可偵測氣體中所含懸浮微粒大之小及濃度。而光束通道14所發射之投射光源L經過偵測通道13並最終投射到光陷阱區15之光陷阱結構151上,且藉由在光陷阱結構151之拋物面結構上形成聚焦點,以減少雜散光,更且,光陷阱結構151所接收之投射光源L之位置與光束通道14保持有一光陷阱距離W,該光陷阱距離W為大於3 mm以上,可避免有過多雜散光直接反射回光束通道14中影響偵測精準度之失真問題,達到更精準之微粒偵測效益。偵測通道13外部進氣端具有防護膜6封蓋之設計,使偵測通道13得以導氣又具備有防水防塵之功效,以避免外部空氣所含較大顆粒之微粒進入偵測通道13中影響汙染,藉此,只讓較小懸浮微粒(例如:PM2.5)被導入偵測通道13中進行偵測,可盡量不影響偵測通道13之偵測精準度及使用壽命。如此本案所提供微粒偵測裝置可應用組裝於可攜式電子裝置上,以形成移動式微粒偵測裝置。其中可攜式裝置為一手機、一平板電腦、一穿戴式裝置及一筆記型電腦之其中之一。或者本案所提供微粒偵測裝置可應用組裝於穿戴配件上,以形成移動式微粒偵測裝置。其中該穿戴配件為一吊飾、一鈕扣、一眼鏡及一手錶之其中之一。
綜上所述,本案所提供之微粒偵測裝置,利用在薄型基座之中區隔出偵測通道及光束通道,以及配置定位偵測部件之雷射光器及微粒傳感器及微型泵在基座中,搭配微型泵在一直線氣體流通路徑之偵測通道內傳輸氣體,促使導入氣體得以很平穩、平順地通過偵測通道與光束通道的正交位置,藉以偵測出氣體中所含懸浮微粒之大小及濃度。更利用光陷阱區之光陷阱結構的拋物面結構,以及光陷阱結構接收雷射光器之投射光源之位置與光束通道保持大於3 mm以上之光陷阱距離之設計,促使雷射光器投射光源在光陷阱結構之拋物面結構上形成聚焦點,減少雜散光直接反射回光束通道之發生,達到更精準之微粒偵測效益。更且,偵測通道外部進氣端又有防護膜封蓋之設計,以使偵測通道得以導氣又具備防水防塵之功效,盡量不影響偵測通道之偵測精準度及使用壽命。如此本發明裝置微粒偵測裝置非常適合應用組裝於可攜式電子裝置及穿戴配件上,以形成移動式微粒偵測裝置,供使用者無時無刻、隨時隨地地監測周遭的懸浮微粒濃度,極具產業利用性及進步性。
1:基座 1a:第一表面 1b:第二表面 11:偵測部件承載區 12:微型泵承載區 121:承置框槽 122:進氣通口 123:排氣口 13:偵測通道 14:光束通道 15:光陷阱區 151:光陷阱結構 2:偵測部件 21:微處理器 22:微粒傳感器 23:雷射光器 3:微型泵 31:進氣板 31a:進氣孔 31b:匯流排孔 31c:匯流腔室 32:共振片 32a:中空孔 32b:可動部 32c:固定部 33:壓電致動器 33a:懸浮板 331a:第一表面 332a:第二表面 33b:外框 331b:組配表面 332b:下表面 333b:導電接腳 33c:連接部 33d:壓電元件 33e:間隙 33f:凸部 331f:凸部表面 34:絕緣片 35:導電片 351a:導電接腳 351b:導電內引腳 3511b:延伸部 3512b:分岔部 36:腔室空間 4:驅動控制板 5:外蓋板件 5a:上蓋板件 51a:進氣入口 52a:排氣出口 5b:下蓋板件 51b:進氣開口 52b:排氣開口 6:防護膜 g:填充材 h:間距 θ:彎折角度 H:彎折高度 P:中間間隔距離 L:投射光源 W:光陷阱距離
第1圖所示為本案微粒偵測裝置之外觀示意圖。 第2圖所示為本案微粒偵測裝置之相關構件之分解結構示意圖。 第3圖所示為本案微粒偵測裝置之基座結構示意圖。 第4A圖所示為本案微粒偵測裝置之基座組配微型泵時之結構示意圖。 第4B圖所示為本案微粒偵測裝置之偵測時氣體流動實施示意圖。 第4C圖所示為本案微粒偵測裝置之偵測時氣體流動及光源投射實施示意圖。 第5圖所示為本案微粒偵測裝置之微型泵立體結構示意圖。 第6A圖所示為本發明微型泵之正面方向視得分解結構示意圖。 第6B圖所示為本發明微型泵之背面方向視得分解結構示意圖。 第7A圖所示為本發明微型泵之剖面結構示意圖。 第7B圖所示為本發明微型泵另一較佳實施例之剖面結構示意圖。 第8圖所示為本發明微型泵之導電內引腳處局部放大示意圖。 第9A圖至第9C圖所示為第7A圖中微型泵之實施作動示意圖。
1:基座
1a:第一表面
1b:第二表面
11:偵測部件承載區
12:微型泵承載區
123:排氣口
13:偵測通道
14:光束通道
15:光陷阱區
151:光陷阱結構
2:偵測部件
21:微處理器
23:雷射光器
3:微型泵
4:驅動控制板
5:外蓋板件
5a:上蓋板件
51a:進氣入口
52a:排氣出口
5b:下蓋板件
51b:進氣開口
52b:排氣開口
6:防護膜

Claims (19)

  1. 一種微粒偵測裝置,包含: 一基座,內部區隔出一偵測部件承載區、一微型泵承載區、一偵測通道、一光束通道及一光陷阱區,其中該偵測通道及該光束通道為正交位置之設置,且該光束通道為正交穿透該偵測通道而連通該光陷阱區,該偵測通道為一直線氣體流通之路徑,而該微型泵承載區連通該偵測通道,該光陷阱區設有具一拋物面結構之一光陷阱結構,設置對應到該光束通道;以及 一偵測部件,包含一微處理器、一微粒傳感器及一雷射光器,該雷射光器定位設置於該基座之該偵測部件承載區,以發射一投射光源於該光束通道至該光陷阱區中,以及該微粒傳感器設置在該偵測通道與該光束通道正交位置,以偵測該偵測通道內所流通氣體中所含懸浮微粒之大小及濃度; 當該微粒傳感器及該雷射光器受該微處理器控制而被驅動運作時,該雷射光器發射投射光源在該光束通道,該微粒傳感器偵測該偵測通道內所流通氣體中所含懸浮微粒之大小及濃度,該雷射光器所發射之該投射光源於通過該偵測通道後投射在該光陷阱結構之該拋物面結構上,減少雜散光直接反射回該光束通道中。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之微粒偵測裝置,其中該光陷阱結構所接收之該投射光源之位置與該光束通道保持一光陷阱距離。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之微粒偵測裝置,其中該光陷阱距離大於3 mm。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之微粒偵測裝置,其中該微粒傳感器為PM2.5傳感器。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之微粒偵測裝置,其中進一步包含有一防護膜,封蓋於該偵測通道之外部進氣端,該防護膜為一防水、防塵且可供氣體穿透之膜狀結構。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之微粒偵測裝置,其中該微粒傳感器偵測氣體中所含懸浮微粒之大小及濃度並輸出偵測訊號,而該微處理器接收該微粒傳感器所輸出該偵測訊號進行分析,並輸出該偵測數據。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之微粒偵測裝置,進一步包括一微型泵,承置定位於該微型泵承載區,以連通並傳輸該偵測通道內之氣體,而該基座之該微型泵承載區底部設有一承置框槽及一進氣通口,以及頂部一側設置一排氣口,以連通外部,該進氣通口連通於該偵測通道與該承置框槽之間,該微型泵承置定位於該承置框槽上並受驅動運作,促使在與該承置框槽連通之該偵測通道產生吸力,將該偵測通道外部之氣體導入該偵測通道內,再透過該微型泵的傳輸將氣體導入該承置框槽上方,復由該排氣口排出於外部,完成氣體偵測之氣流導引。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之微粒偵測裝置,進一步包括一驅動控制板,封蓋於該基座之底部,且該驅動控制板上分別封裝定位並電性連接該微處理器、該微粒傳感器及該雷射光器,且該微粒傳感器及該雷射光器受該微處理控制而受驅動運作,以及該微型泵與該驅動控制板電性連接以受該微處理器控制而受驅動運作,其中該微型泵、該微粒傳感器及該雷射光器受該微處理器控制而被驅動運作,促使該偵測通道產生吸力而將外部氣體導入該偵測通道內,此時氣體通過該偵測通道與該光束通道的正交位置,並受該雷射光器之該投射光源所投射,以產生光點至該微粒傳感器上進行懸浮微粒大小及濃度之偵測。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之微粒偵測裝置,其中該基座具有一第一表面及一第二表面,而該驅動控制板封蓋於該基座之該第二表面。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之微粒偵測裝置,進一步包含有一外蓋板件,該外蓋板件包括有一上蓋板件及一下蓋板件,其中該上蓋板件覆蓋該基座之該第一表面,且對應到該基座之該偵測通道外部進氣端的位置上設有一進氣入口,對應到該微型泵承載區之該排氣口的位置上也具有一排氣出口,而該下蓋板件覆蓋該基座之該第二表面,並與該上蓋板件相互嵌合以密封該基座,且對應到該上蓋板件之該進氣入口之區域設置一進氣開口,對應到該上蓋板件之該排氣出口之區域設置一排氣開口,外部氣體由該進氣開口、該進氣入口導入該基座之該偵測通道中,而該基座之該偵測通道中之氣體由該微型泵承載區之該排氣口位置排出,再經過該排氣出口、該排氣開口排出於外部。
  11. 如申請專利範圍第7項所述之微粒偵測裝置,其中該微型泵包含: 一進氣板,具有至少一進氣孔、至少一匯流排孔及一匯流腔室,其中至少一該進氣孔供導入氣體,至少一該進氣孔對應至少一該匯流排孔,至少一該匯流排孔對應連通該匯流腔室,且引導進入至少一該進氣孔之氣體匯流至該匯流腔室內; 一共振片,貼合組接於該進氣板,具有一中空孔、一可動部及一固定部,該中空孔位於該共振片中心處,並與該進氣板之該匯流腔室相對應; 一壓電致動器,透過一填充材組接結合於該共振片上,構成一腔室空間於該壓電致動器與該共振片之間,該壓電致動器包含有一懸浮板、一外框、至少一連接部、一壓電元件、至少一間隙,至少一該連接部連接於該懸浮板及該外框之間提供彈性支撐,至少一該間隙設置於該懸浮板及該外框之間並供氣體流通,而該壓電元件貼合於該懸浮板; 一絕緣片,結合於該壓電致動器之一側;以及 一導電片,與該絕緣片相結合,具有一體沖壓製出之一導電內引腳,由該導電片框架之任一邊上向內延伸出一導電位置,供以與該壓電元件之表面接觸並定位連接; 其中,當該壓電致動器受驅動時,氣體由該進氣板之至少一該進氣孔導入,經至少一該匯流排孔匯集至該匯流腔室,再流經該共振片之該中空孔導入該腔室空間內,再經該壓電致動器共振作用傳輸氣體。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之微粒偵測裝置,其中該導電內引腳在該導電片框架任一邊上向內構成具有一彎折角度及一彎折高度之一延伸部,該延伸部具有一分岔部,該分岔部與該導電片外框保持該彎折高度之高度,且該彎折高度係等於與該壓電元件之厚度保持貼合之高度,使該分岔部貼附於該壓電元件之表面,透過一介質讓該分岔部與該壓電元件結合固定。
  13. 如申請專利範圍第11項所述之微粒偵測裝置,其中該壓電致動器之該懸浮板包括有一第一表面及一第二表面,該第二表面相對該第一表面,且該壓電元件貼合於該懸浮板之該第二表面上,該壓電致動器之該外框具有一組配表面及一下表面。
  14. 如申請專利範圍第13項所述之微粒偵測裝置,其中該懸浮板之該第一表面與該外框之該組配表面兩者形成共平面。
  15. 如申請專利範圍第13項所述之微粒偵測裝置,其中至少一該連接部沖壓成形於該懸浮板與該外框之間,並使該懸浮板之該第一表面與該外框之該組配表面形成為非共平面,且使該懸浮板之該第一表面與該共振板之一間距得以利用至少一該連接部沖壓成形來調整。
  16. 如申請專利範圍第11項所述之微粒偵測裝置,其中該共振片之該可動部設置於該中空孔之周圍,且與該匯流腔室相對的區域。
  17. 如申請專利範圍第11項所述之微粒偵測裝置,其中該共振片之該固定部設置於該共振片之外周緣部分,且貼固於該進氣板上。
  18. 如申請專利範圍第11項所述之微粒偵測裝置,其中該填充材為一導電膠。
  19. 如申請專利範圍第11項所述之微粒偵測裝置,其中該外框設有一導電接腳,且該導電片也設有一導電接腳,供以進行電性導通之用。
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CN114171362A (zh) * 2022-02-09 2022-03-11 之江实验室 微粒转移装置以及应用

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI724386B (zh) * 2019-03-15 2021-04-11 研能科技股份有限公司 微粒偵測裝置
US11463021B2 (en) * 2019-09-27 2022-10-04 Microjet Technology Co., Ltd. Gas detecting module
TWI708934B (zh) * 2019-09-27 2020-11-01 研能科技股份有限公司 微粒偵測模組
TWI697173B (zh) * 2019-10-09 2020-06-21 研能科技股份有限公司 具氣體偵測之行動電源裝置
TWI720649B (zh) * 2019-10-09 2021-03-01 研能科技股份有限公司 氣體偵測模組
US11733143B2 (en) * 2019-12-06 2023-08-22 Microjet Technology Co., Ltd. External gas detecting device

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3155397A1 (en) * 2014-06-10 2017-04-19 Koninklijke Philips N.V. Aerosol sensor and sensing method

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114171362A (zh) * 2022-02-09 2022-03-11 之江实验室 微粒转移装置以及应用
CN114171362B (zh) * 2022-02-09 2022-05-24 之江实验室 微粒转移装置以及应用

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