TW201934523A - 陶瓷／鋁－碳化矽複合材料接合體之製造方法、及附散熱塊之功率模組用基板之製造方法 - Google Patents

Abstract

本發明之陶瓷/鋁-碳化矽複合材料接合體之製造方法，鋁-碳化矽複合材料，具有由矽含量為0.1原子百分比以上之鋁-矽合金所構成的鋁材，具備：於陶瓷構件及前述鋁－碳化矽複合材料之中的至少一方的表面，形成厚度0.1μm以上10μm以下的鎂層的步驟、及中介著前述鎂層而層積前述陶瓷構件與前述鋁-碳化矽複合材料，得到層積體之步驟、以及藉由把前述層積體在550℃以上575℃以下之溫度範圍加熱，接合前述陶瓷構件與前述鋁-碳化矽複合材料之步驟。

Description

陶瓷／鋁－碳化矽複合材料接合體之製造方法、及附散熱塊之功率模組用基板之製造方法

本發明係關於陶瓷構件與鋁-碳化矽(亦表示為Al-SiC)複合材料被接合而成的陶瓷/鋁-碳化矽複合材料接合體之製造方法，及功率模組用基板之陶瓷基板與鋁-碳化矽複合材料所構成的散熱塊被接合而成的附散熱塊功率模組用基板之製造方法。

為了控制風力發電、電動車、油電混合車等而使用的大電力控制用之功率半導體元件，發熱量很多，所以搭載此之基板，例如，從前即已廣泛地使用具備AlN(氮化鋁)、Al₂ O₃ (氧化鋁)等所構成的陶瓷基板，以及於此陶瓷基板之一方之面接合導電性優異的金屬板而形成的電路層之電力模組用基板。此外，為了使搭載於電路層的半導體元件等所產生的熱有效率地發散，也提供在陶瓷基板的另一方之面接合散熱塊之附散熱塊功率模組用基板。

作為散熱塊的材料，已知具有由碳化矽構成的多孔質體，與被含浸於此多孔質體的鋁或鋁合金構成的鋁材之鋁-碳化矽複合材料(也稱為鋁基複合材料)。

例如，於專利文獻1，揭示著頂板部以鋁-碳化矽複合材料構成的散熱塊，接合於陶瓷基板的附散熱塊功率模組用基板。於此專利文獻1，作為接合陶瓷基板與鋁-碳化矽複合材料的方法，使鋁-碳化矽複合材料之鋁材為純度99.98%以上的鋁(純鋁)，使用鋁-矽系焊料，接合陶瓷基板與鋁-碳化矽複合材料的方法。此外，作為接合陶瓷基板與鋁-碳化矽複合材料的其他方法，使鋁-碳化矽複合材料之鋁材為融點600℃以下的鋁合金(鋁-矽合金)，於該鋁-碳化矽複合材料之陶瓷基板側部分形成由鋁-矽合金構成的皮層，使該皮層的一部分熔融的方法。 [先前技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]日本特開2010-98058號公報

[發明所欲解決之課題]

然而，如專利文獻1所記載的，使用鋁-矽系之焊料接合陶瓷基板與鋁材為純度99.98%以上的鋁之鋁-碳化矽複合材料的場合，必須要使接合溫度為比600℃還高的溫度。 　　另一方面，使鋁-碳化矽複合材料的皮層的一部分熔融而接合被形成融點為600℃以下的鋁-矽合金構成的皮層之鋁-碳化矽複合材料與陶瓷基板的場合，可以使接合溫度降低到600℃以下。然而，要僅使鋁-碳化矽複合材料的皮層的一部分熔融是困難的，使皮層熔融的話，鋁-碳化矽複合材料中的鋁合金也熔融，其一部分會熔出，而有在鋁-碳化矽複合材料中產生空隙(空孔)之虞。在鋁-碳化矽複合材料中產生空隙的話，會成為使鋁-碳化矽複合材料的導熱性降低的重要原因。

本發明係有鑑於前述情形而完成之發明，目的在於提供藉由在比較低溫的加熱，不使鋁-碳化矽複合材料中的鋁材熔出，而且可以高強度地接合陶瓷構件與鋁-碳化矽複合材料之陶瓷/鋁-碳化矽複合材料接合體之製造方法、以及附散熱塊之功率模組用基板之製造方法。 [供解決課題之手段]

為了解決這樣的課題達成前述目的，本發明之一態樣之陶瓷/鋁-碳化矽複合材料接合體之製造方法，係接合陶瓷構件，以及具有由碳化矽構成的多孔質體及含浸於此多孔質體的矽含量為0.1原子百分比以上之鋁-矽合金所構成的鋁材之鋁-碳化矽複合材料；特徵為具備：於前述陶瓷構件及前述鋁－碳化矽複合材料之中的至少一方的表面，形成厚度0.1μm以上10μm以下的鎂層的步驟、及中介著前述鎂層而層積前述陶瓷構件與前述鋁-碳化矽複合材料，得到層積體之步驟、以及藉由把前述層積體在550℃以上575℃以下之溫度範圍加熱，接合前述陶瓷構件與前述鋁-碳化矽複合材料之步驟。

根據此構成之陶瓷/鋁-碳化矽複合材料接合體之製造方法，鋁-碳化矽複合材料之鋁材，以矽含量為0.1原子百分比以上之鋁-矽合金所構成，被配置於陶瓷構件與鋁-碳化矽複合材料之間的鎂層與鋁-矽合金接觸，所以可藉由550℃以上575℃以下之比較低溫的加熱，接合陶瓷構件與鋁-碳化矽複合材料。 　　亦即，鎂層之鎂除去陶瓷構件或鋁-碳化矽複合材料表面的氧化覆膜的同時，往鋁-碳化矽複合材料之鋁材擴散，在陶瓷構件與鋁-碳化矽複合材料之間，藉由鋁、鎂、矽、以及擴散來的鎂與矽之反應而形成的Mg₂ Si，形成固相與液相混合存在的固液共存區域。接著，藉由此固液共存區域凝固，陶瓷構件與鋁-碳化矽複合材料，中介著含鋁與鎂與矽的接合部接合。此外，藉由這些氧化覆膜與鎂之反應而產生鎂氧化物。 　　接著，藉由此液相凝固的部分(接合部)，可以使陶瓷構件與鋁-碳化矽複合材料高強度地接合。

此外，是使形成固液共存區域而接合陶瓷構件與鋁-碳化矽複合材料，所以鋁-碳化矽複合材料中的鋁材不會被熔出，而可以接合陶瓷基板與鋁-碳化矽複合材料。進而，因為鋁-碳化矽複合材料中的鋁材不熔出，所以可抑制鋁-碳化矽複合材料之鋁材流出導致的空隙(空孔)的發生，或是鋁-碳化矽複合材料之開裂。

在此，鋁-碳化矽複合材料之鋁材之矽含量為未滿0.1原子百分比的話，固液共存區域之液相量變少，陶瓷基板與鋁-碳化矽複合材料之接合性有降低之虞。 　　此外，鎂層的厚度未滿0.1μm的場合，加熱時產生的Mg₂ Si量變少而使陶瓷基板與鋁-碳化矽複合材料之接合性降低。另一方面，鎂層厚度超過10μm的場合，固液共存區域中的液相變多，使接合性降低。 　　進而，加熱溫度未滿550℃的場合，固液共存區域中的液相量變少，所以接合強度降低。超過575℃的場合，發生散熱塊母材之熔融。

在此，於本發明之一態樣之陶瓷/鋁-碳化矽複合材料接合體之製造方法，於前述層積體，由前述鋁-碳化矽複合材料之與前述陶瓷構件之接合面的表面起算到厚度50μm為止的範圍所存在的前述鋁-矽合金中的矽量，與存在於前述鎂層的鎂量之比(Si/Mg)，以原子比計算為0.01以上99.0以下之範圍內為較佳。

在此場合，藉由加熱產生的固液共存區域中變得容易產生Mg₂ Si，所以可確實地接合陶瓷構件與鋁-碳化矽複合材料。

本發明之一態樣之附散熱塊之功率模組用基板之製造方法，係接合具有陶瓷基板與被接合於此陶瓷基板之一方之面的電路層之功率模組用基板之前述陶瓷基板，以及具有由碳化矽構成的多孔質體及含浸於此多孔質體的矽含量為0.1原子百分比以上之鋁-矽合金所構成的鋁材之鋁-碳化矽複合材料所構成的散熱塊；特徵為具備：於前述陶瓷基板及前述鋁－碳化矽複合材料之中的至少一方的表面，形成厚度0.1μm以上10μm以下的鎂層的步驟、及中介著前述鎂層而層積前述陶瓷基板與前述鋁-碳化矽複合材料，得到層積體之步驟、以及藉由把所得到的前述層積體在550℃以上575℃以下之溫度範圍加熱，接合前述陶瓷基板與前述鋁-碳化矽複合材料之步驟。

根據此構成之附散熱塊之功率模組用基板之製造方法，與前述陶瓷/鋁-碳化矽複合材料接合體之製造方法的場合同樣，藉由使陶瓷基板與鋁-碳化矽複合材料，在550℃以上575℃以下之比較低溫下加熱，可以不使鋁-碳化矽複合材料中的鋁材熔出，而且以高強度接合。

在此，本發明之一態樣之附散熱塊之功率模組用基板之製造方法，於前述層積體，由前述鋁-碳化矽複合材料之與前述陶瓷基板之接合面的表面起算到厚度50μm為止的範圍所存在的前述鋁-矽合金中的矽量，與存在於前述鎂層的鎂量之比(Si/Mg)，以原子比計算為0.01以上99.0以下之範圍內為較佳。

在此場合，與前述之陶瓷/鋁-碳化矽複合材料接合體之製造方法的場合同樣，固液共存區域中變得容易產生Mg₂ Si，所以可確實地接合陶瓷基板與鋁-碳化矽複合材料。 [發明之效果]

根據本發明，可以提供藉由在比較低溫的加熱，不使鋁-碳化矽複合材料中的鋁材熔出，而且可以高強度地接合陶瓷構件與鋁-碳化矽複合材料之陶瓷/鋁-碳化矽複合材料接合體之製造方法、以及附散熱塊之功率模組用基板之製造方法。

以下，參照圖式，說明本發明之陶瓷/鋁-碳化矽複合材料接合體之製造方法、及附散熱塊功率模組用基板之製造方法。又，於以下所示之各實施型態，係為了使本發明的要旨更容易理解而具體說明之例，在沒有特別指定的情況下，並不能用來限定本發明之範圍。此外，以下說明所使用的圖式，亦有為了使本發明的特徵容易理解，而方便上擴大顯示重要部位的部份的場合，各構成要素的尺寸比率不限於與實際上相同。

首先，參照圖1與圖2A及圖2B說明藉由本發明的實施型態之附散熱塊功率模組用基板之製造方法而得之附散熱塊功率模組用基板的構成。

於圖1，附散熱塊功率模組用基板1，具備功率模組用基板10，與散熱塊20。 　　功率模組用基板10，具備：陶瓷基板11、與被接合於此陶瓷基板11之一方之面(圖1之上面)之電路層12。 　　陶瓷基板11，係防止電路層12與散熱塊20之間的導電連接，以絕緣性及散熱性優異的Si₃ N₄ (氮化矽)、AlN(氮化鋁)、Al₂ O₃ (氧化鋁)等陶瓷構成。在本實施型態，以AlN構成。陶瓷基板11的厚度，設定在0.2～1.5mm之範圍內，在本實施型態，被設定在0.635mm。

電路層12，藉由在陶瓷基板11之一方之面被接合鋁或鋁合金構成的鋁構件而形成。作為鋁構件，可以使用純度99質量百分比以上的鋁(2N鋁)或是純度99.99質量百分比以上之鋁(4N鋁)。在本實施型態，使用4N鋁之壓延板。電路層12的厚度，被設定在，0.1mm以上1.0mm以下之範圍內，在本實施型態，被設定於0.4mm。電路層12與陶瓷基板11，例如藉由Al-Si系焊料接合。

散熱塊20，係供散熱功率模組用基板10側之熱者。於此散熱塊20，設有供冷卻用流體流通之用的流道21。

散熱塊20，以Al-SiC複合材料(所謂的AlSiC)30構成。Al-SiC複合材料30，具有由碳化矽構成的多孔質體31，與被含浸於此多孔質體31的鋁或鋁合金構成的鋁材32。鋁材32可以使用純度99質量百分比以上的鋁(2N鋁)或純度99.99質量百分比以上的鋁(4N鋁)等純鋁，或者具有Al:80質量百分比以上99.99質量百分比以下、Si:0.01質量百分比以上13.5質量百分比以下、Mg:0.03質量百分比以上5.0質量百分比以下、其餘部分為不純物的組成之鋁合金。此外，也可以使用ADC12或A356等鋁合金。 　　Al-SiC複合材料30亦可具有皮層33。此皮層33，在成為多孔質體31的SiC使鋁材32熔融含浸而製造Al-SiC複合材料時，是此鋁材32的一部分滲出至表面而形成之層。亦即，皮層33，為與鋁材32相同的組成。皮層33的厚度，藉由切削加工滲出的鋁材而調整。 　　散熱塊20的厚度可以為0.5mm～5.0mm。又，散熱塊20的厚度在被形成皮層的場合為包含該皮層的厚度。此外，皮層之相當於單面的厚度，以散熱塊20的厚度的0.01倍～0.1倍為佳。 　　又，本實施型態之附散熱塊功率模組用基板1，散熱塊20的面積，設定為與陶瓷基板11的面積相同，或者是更大。

在此，使用圖2A及圖2B說明陶瓷基板11與散熱塊20的接合部分的構造。

於圖2A及圖2B，陶瓷基板11與散熱塊20之Al-SiC複合材料30，係中介著接合部40接合的。圖2A為Al-SiC複合材料30具有皮層33的場合，接合部40被形成於皮層33內。圖2B為Al-SiC複合材料30不具有皮層33的場合，接合部40被形成於Al-SiC複合材料30的鋁材32內。

接合部40包含鋁與鎂與矽。接合部40，於後述之附散熱塊功率模組用基板之製造方法，是藉由加熱使陶瓷基板11與Al-SiC複合材料30中介著鎂層層積之層積體而產生的，包含鋁與鎂與矽的固液共存區域凝固形成之層。

於接合部40，析出鎂氧化物41。鎂氧化物41，析出於陶瓷基板11與接合部40之接合界面附近。鎂氧化物41，通常為氧化鎂(MgO)、尖晶石(MgAl₂ O₄ )及這些的複合物。鎂氧化物41，於後述之附散熱塊功率模組用基板之製造方法，係藉由分別存在於陶瓷基板11的表面，與Al-SiC複合材料30的表面之氧化覆膜，與鎂層中的鎂進行反應而產生的產物。於接合部40亦有析出Mg₂ Si的場合。

其次，參照圖3及圖4說明本實施型態之附散熱塊功率模組用基板1之製造方法。本實施型態之附散熱塊功率模組用基板1之製造方法，如圖3所示，具有電路層接合步驟S01與散熱塊接合步驟S02。

首先，如圖4所示，於陶瓷基板11之一方之面，中介著焊料52層積成為電路層12之鋁構件51。接著，藉由在層積方向加壓同時加熱，於陶瓷基板11接合電路層12。 　　藉由以上的電路層接合步驟S01，製造本實施型態之功率模組用基板10。

(散熱塊接合步驟S02) 　　其次，接合功率模組用基板10之陶瓷基板11，與成為散熱塊20的Al-SiC複合材料30，製造附散熱塊功率模組用基板1。此散熱塊接合步驟S02，如圖3所示，具有鎂層形成步驟S21與層積步驟S22與接合步驟S23。

於鎂層形成步驟S21，如圖4所示，在陶瓷基板11及Al-SiC複合材料30之中的至少一方之表面形成鎂層53。在本實施型態，鎂層53被形成於Al-SiC複合材料30的表面。

鎂層53以鎂濃度達80原子百分比以上為較佳，為90原子百分比以上特佳。鎂層53的鎂濃度達80原子百分比以上的話，於後述之接合步驟S23，容易產生固液共存區域，此外於固液共存區域中容易產生Mg₂ Si。

鎂層53的厚度在0.1μm以上10μm以下(被形成於陶瓷基板11及Al-SiC複合材料30雙方的場合為合計的厚度)之範圍。鎂層53的厚度太薄的話，於後述之接合步驟S23，產生的Mg₂ Si量變少而使陶瓷基板11與Al-SiC複合材料30之接合強度降低。另一方面，鎂層53的厚度太厚的話，於後述之接合步驟S23，固液共存區域中液相會產生過剩，而有使陶瓷基板11與Al-SiC複合材料30之接合性降低之虞。

作為鎂層53之形成方法，可以使用濺鍍法、蒸鍍法、塗布鎂粉末之糊而乾燥的方法。

接著，在層積步驟S22，使陶瓷基板11與Al-SiC複合材料30中介者鎂層53層積，得到層積體。

所得到的層積體，由Al-SiC複合材料30之與陶瓷基板11的接合面之由表面起算到厚度50μm為止的範圍所存在的鋁-矽合金中的矽量，與存在於鎂層53的鎂量之比(Si/Mg)，以原子比計算為0.01以上99.0以下之範圍內。矽與鎂之存在量在前述範圍內的話，於後述之接合步驟S23，接合陶瓷基板11與Al-SiC複合材料30所必要的Mg₂ Si變得容易產生，可以確實地接合陶瓷基板11與Al-SiC複合材料30。Si/Mg以1.1以上6.7以下的範圍內為佳。 　　在此，存在於鎂層53的鎂量，可以由鎂層53的純度與厚度與密度來求出。由Al-SiC複合材料30的表面起算至厚度50μm為止的範圍之矽量，可以由Al-SiC複合材料30的矽含量來求出。又，Al-SiC複合材料30具有皮層的場合，Al-SiC複合材料30的矽含量，包含皮層33中的矽量。

接著，在接合步驟S23，把得到的接合體在層積方向上加壓同時在550℃以上575℃以下之溫度範圍進行加熱。藉由此加熱，鎂層53之鎂除去陶瓷基板11或Al-SiC複合材料30表面存在的氧化覆膜，同時擴散至Al-SiC複合材料30之鋁材32，在陶瓷基板11與Al-SiC複合材料30之間，藉由鋁、鎂、矽、以及擴散來的鎂與矽之反應而形成的Mg₂ Si，形成固液共存區域。接著，藉由固液共存區域凝固，如圖2A及圖2B所示，陶瓷基板11與Al-SiC複合材料30，中介著含鋁與鎂與矽的接合部40接合。 　　又，Al-SiC複合材料30具有皮層33的場合，接合部40被形成於皮層33內之陶瓷基板11側。不具有皮層33的場合，接合部40，被形成於鋁材32內之陶瓷基板11側。 　　此外，鎂氧化物41藉由這些氧化覆膜與鎂之反應而產生。此外，在接合溫度高的場合或保持時間長的場合，於接合部40亦有幾乎觀察不到Mg₂ Si的場合。又，固液共存區域的凝固，亦可為根據冷卻的凝固，亦可藉由鎂的擴散等而使固液共存區域中的液相的融點上升，在保持加熱溫度下凝固，亦即所謂的等溫凝固。

在本實施型態，作為前述接合體的接合條件，係使層積方向的荷重為0.1MPa以上3.5MPa以下(1kgf/cm² 以上35kgf/cm² 以下)之範圍內，接合溫度在550℃以上575℃以下之範圍內，保持時間在15分鐘以上180分鐘以下之範圍內。接合溫度太低的話，固液共存區域有不產生之虞。另一方面，接合溫度太高的話，會有產生Al-SiC複合材料30的母材熔融之虞。又，接合溫度，為了抑制Al-SiC複合材料30的鋁材32的流出，以比鋁材32的融點更低的溫度為佳。 　　此外，賦予的荷重太低的話，固液共存區域不容易接觸到Al-SiC複合材料30，有變成接觸不良之虞。賦予的荷重變得太高的話，電路層12、陶瓷基板11或Al-SiC複合材料30有產生龜裂或破損之虞。

根據如以上構成的本實施型態之附散熱塊功率模組用基板1之製造方法，於散熱塊接合步驟S02，使鎂層53的鎂擴散至Al-SiC複合材料30中的鋁-矽合金，形成固液共存區域而接合功率模組用基板10之陶瓷基板11與成為散熱塊20的Al-SiC複合材料30，所以Al-SiC複合材料30中的鋁材32不會被熔出，而可以高強度地接合陶瓷基板11與Al-SiC複合材料30。此外，Al-SiC複合材料中的鋁材不熔出，所以可抑制Al-SiC複合材料之鋁材流出導致的空隙(空孔)的發生，或是Al-SiC複合材料之開裂。

進而，在本實施型態，Al-SiC複合材料30之與陶瓷基板11的接合面之由表面起算到厚度50μm為止的範圍所存在的鋁-矽合金中的矽量，與存在於鎂層53的鎂量之比(Si/Mg)，以原子比計算為0.01以上99.0以下之範圍內，所以為接合陶瓷基板11與Al-SiC複合材料30所必要的Mg₂ Si變得容易產生，可以確實地接合陶瓷基板11與Al-SiC複合材料30。

亦即，藉由在本實施型態之製造方法所得到的附散熱塊功率模組用基板1，使陶瓷基板11與散熱塊20(Al-SiC複合材料30)之接合強度很高，此外，散熱塊中的空隙(空孔)很少，所以熱循環可信賴性很優異。

以上說明了本發明之實施型態，但本發明並不以此為限，在不逸脫本發明的技術思想的範圍可以適當地變更。 　　例如，在本實施型態，以附散熱塊功率模組用基板為例做了說明，但並不以此為限，只要是接合陶瓷構件與Al-SiC複合材料之陶瓷/Al-SiC複合材料接合體即可。

此外，在本實施型態，以4N鋁之壓延板被接合而形成電路層12，但不限於此，亦可藉由把銅或銅合金板接合於陶瓷基板11，而形成銅或銅合金構成的電路層(厚度0.3mm～3.0mm)。在此場合，把銅或銅合金板接合於陶瓷基板11的場合，可以適切地使用根據Ag-Cu-Ti或Ag-Ti焊料材之活性金屬焊接法。 　　進而，電路層亦可由鋁與銅(或者這些的合金)之層積體來構成。在此場合，於陶瓷基板上被形成鋁層，於鋁層上被形成銅層。 [實施例]

說明供確認本發明的有效性而進行之確認實驗。

[本發明例1～16，比較例1～5] 　　如表1所示，準備：電路層形成用金屬板、陶瓷基板(40mm×40mm、AlN及Al₂ O₃ 的場合:厚度0.635mm、SiN的場合:0.32mm)、Al-SiC複合材料(AlSiC)之板材(50mm×60mm×厚度5mm(有皮層的場合:皮層被形成於雙面，單面的厚度為0.2mm))、與焊料。 　　又，Al-SiC複合材料之鋁材融點，ADC12為570℃、4N鋁為660℃、3N鋁為655℃、2N鋁為650℃。

把電路層形成用金屬板與陶瓷基板以如下所述接合，得到被形成電路層的陶瓷基板。 　　電路層形成用金屬板為4N-Al的場合，於陶瓷基板之一方之面，把電路層形成用金屬板(37mm×37mm×厚度0.4mm)中介著焊料(Al-7.5質量百分比Si、厚度:12μm)而層積。接著，藉由在層積方向加壓同時加熱，於陶瓷基板接合電路層形成用金屬板，得到被形成電路層的陶瓷基板。又，層積方向的荷重為0.6MPa，接合溫度為645℃，保持時間為45分鐘。 　　電路層形成用金屬板為銅的場合，於陶瓷基板之一方之面把無氧銅構成的銅板(37mm×37mm×厚度0.6mm)，中介著焊料(Ag-9.8質量百分比Ti)而層積，以荷重0.6MPa、接合溫度830℃、保持時間30分鐘之條件接合，得到被形成電路層的陶瓷基板。

接著，如表1所示，在被接合電路層的陶瓷基板及Al-SiC複合材料之中的一方，以表1所示的厚度形成鎂層。鎂層，藉由蒸鍍法(離子鍍(ion plating)法)形成。

形成的鎂層的純度，與由Al-SiC複合材料之與陶瓷構件的接合面之由表面起算到厚度50μm為止的範圍所存在的鋁材(鋁-矽合金)中的矽量，與存在於鎂層的鎂量之比(Si/Mg)，顯示於下列的表1。又，Si/Mg藉由以下的方法測定。

(Si/Mg之測定方法) 　　鎂層的鎂量，係測定鎂層的純度與厚度，以鎂層的密度為1.74g/cm³ 而求出。鎂層的純度使用EPMA測定，厚度藉由剖面SEM觀察而測定。 　　Al-Si合金中的矽量，在有皮層的Al-SiC複合材料的場合，藉由測定皮層的矽濃度而求出。沒有皮層的Al-Si複合材料的場合，藉由測定Al-Si複合材料內的矽濃度而求出。矽濃度使用EPMA測定。 　　接著，由求出的鎂量與矽量求出矽與鎂之比(Si/Mg)。

接著，使陶瓷基板與Al-SiC複合材料中介者鎂層層積，得到層積體。接著，藉由在層積方向加壓同時加熱，於陶瓷基板接合Al-SiC複合材料(散熱塊)，製作了評估用試樣(附散熱塊之功率模組用基板)。接合條件如表1所述。

[從前例1～4] 　　與本案發明例1同樣接合電路層後，於被形成電路層的陶瓷基板之另一方之面，把Al-SiC複合材料中介著表1記載的Al-Si系焊料箔而層積，接著藉由在層積方向加壓同時加熱，製作了評估用試樣(附散熱塊功率模組用基板)。

(初期接合性) 　　使用所得到的評估用試樣，測定陶瓷基板與散熱塊之接合率，評估了初期接合性。 　　具體而言，使用超音波探傷裝置(Insight公司製造之INSIGHT-300)進行評估，由以下公式算出。在此，所謂初期接合面積，是接合前之應接合面積，亦即陶瓷基板的面積(40mm×40mm)。在把超音波探傷影像二值化處理之後的影像，剝離以接合部內的白色部來顯示，所以此白色部的面積為剝離面積。評估結果顯示於表1。 　　(接合率)={(初期接合面積)-(非接合部面積)}/(初期接合面積)×100

(冷熱循環後之接合性) 　　冷熱循環後之接合性，係使用冷熱衝擊試驗機Espec公司製造之TSB-51，對前述之評估用試樣，在液相(Fluorinert™ (電子化學液))，實施-40℃下10分鐘與175℃下10分鐘的2000個循環，以與前述相同的方法測定、評估了接合率。評估結果顯示於表1。

(母材熔融之評估) 　　目視觀察所得到的評估用試樣之Al-SiC複合材料表面，把確認了母材熔融導致的鋁的流出或破裂之試樣評估為「B」，未被確認的試樣評估為「A」。又，圖5A及圖5B，係發生了母材熔融的Al-SiC複合材料之一例之側面照片。圖5A為發生了母材熔融導致的鋁的流出之Al-SiC複合材料的側面照片。圖5B係發生了母材熔融導致的破裂之Al-SiC複合材料的角部之側面照片。如圖5A所示，發生了母材熔融導致的鋁的流出的場合，鋁在Al-SiC複合材料表面存在為球狀。

使用Al-Si焊料箔或Al-Si-Mg焊料箔，在610℃接合之從前例1及從前例2，於Al-SiC複合材料被確認了母材熔融。在560℃接合的從前例3及從前例4，接合率很低。 　　鎂層厚度未滿0.1μm的薄的比較例1，鎂層的膜厚比10μm更厚的比較例2，Al-SiC複合材料的鋁材的矽濃度未滿0.1原子百分比的比較例3，接合溫度低的比較例4，接合率都變低。接合溫度高的比較例5，發生了母材熔融。

另一方面，在本發明例所得到的附散熱塊功率模組用基板，確認了都沒有發生母材熔融，陶瓷基板與Al-SiC複合材料(散熱塊)之接合率也顯示高的值。 [產業上利用可能性]

根據本發明，可以提供藉由在比較低溫的加熱，不使鋁-碳化矽複合材料中的鋁材熔出，而且可以高強度地接合陶瓷構件與鋁-碳化矽複合材料之陶瓷/鋁-碳化矽複合材料接合體之製造方法、以及附散熱塊之功率模組用基板之製造方法。

1‧‧‧附散熱塊功率模組用基板

10‧‧‧功率模組用基板

11‧‧‧陶瓷基板

12‧‧‧電路層

20‧‧‧散熱塊

21‧‧‧流道

30‧‧‧鋁-碳化矽複合材料

31‧‧‧多孔質體

32‧‧‧鋁材

33‧‧‧皮層

40‧‧‧接合部

41‧‧‧鎂氧化物

51‧‧‧鋁構件

52‧‧‧焊料

53‧‧‧鎂層

圖1係藉由本發明的實施型態之附散熱塊功率模組用基板之製造方法而得之附散熱塊功率模組用基板之剖面圖。 　　圖2A係藉由本發明的實施型態之附散熱塊功率模組用基板之製造方法而得之附散熱塊功率模組用基板之陶瓷基板與金屬層被接合的部分之擴大剖面圖。 　　圖2B係藉由本發明的實施型態之附散熱塊功率模組用基板之製造方法而得之附散熱塊功率模組用基板之陶瓷基板與金屬層被接合的部分之擴大剖面圖。 　　圖3係顯示本發明的實施型態之附散熱塊功率模組用基板之製造方法之流程圖。 　　圖4係顯示本發明的實施型態之附散熱塊功率模組用基板之製造方法之說明圖。 　　圖5A係說明實施例之發生了母材熔融的鋁-碳化矽複合材料之照片。 　　圖5B係說明實施例之發生了母材熔融的鋁-碳化矽複合材料之照片。

Claims (4)

1. 一種陶瓷/鋁-碳化矽複合材料接合體之製造方法，係接合陶瓷構件，以及具有由碳化矽構成的多孔質體及含浸於此多孔質體的矽含量為0.1原子百分比以上之鋁-矽合金所構成的鋁材之鋁-碳化矽複合材料；其特徵為具備： 　　於前述陶瓷構件及前述鋁－碳化矽複合材料之中的至少一方的表面，形成厚度0.1μm以上10μm以下的鎂層的步驟、及 　　中介著前述鎂層而層積前述陶瓷構件與前述鋁-碳化矽複合材料，得到層積體之步驟、以及 　　藉由把前述層積體在550℃以上575℃以下之溫度範圍加熱，接合前述陶瓷構件與前述鋁-碳化矽複合材料之步驟。
2. 如申請專利範圍第1項之陶瓷/鋁-碳化矽複合材料接合體之製造方法，其中 　　於前述層積體，由前述鋁-碳化矽複合材料之與前述陶瓷構件之接合面的表面起算到厚度50μm為止的範圍所存在的前述鋁-矽合金中的矽量，與存在於前述鎂層的鎂量之比(Si/Mg)，以原子比計算為0.01以上99.0以下之範圍內。
3. 一種附散熱塊之功率模組用基板之製造方法，係接合具有陶瓷基板與被接合於此陶瓷基板之一方之面的電路層之功率模組用基板之前述陶瓷基板，以及具有由碳化矽構成的多孔質體及含浸於此多孔質體的矽含量為0.1原子百分比以上之鋁-矽合金所構成的鋁材之鋁-碳化矽複合材料所構成的散熱塊；其特徵為具備： 　　於前述陶瓷基板及前述鋁－碳化矽複合材料之中的至少一方的表面，形成厚度0.1μm以上10μm以下的鎂層的步驟、及 　　中介著前述鎂層而層積前述陶瓷基板與前述鋁-碳化矽複合材料，得到層積體之步驟、以及 　　藉由把所得到的前述層積體在550℃以上575℃以下之溫度範圍加熱，接合前述陶瓷基板與前述鋁-碳化矽複合材料之步驟。
4. 如申請專利範圍第3項之附散熱塊之功率模組用基板之製造方法，其中 　　於前述層積體，由前述鋁-碳化矽複合材料之與前述陶瓷基板之接合面的表面起算到厚度50μm為止的範圍所存在的前述鋁-矽合金中的矽量，與存在於前述鎂層的鎂量之比(Si/Mg)，以原子比計算為0.01以上99.0以下之範圍內。