TW201800768A - 發光二極體燈絲條測試系統 - Google Patents

Abstract

本發明實施例提供一種發光二極體燈絲條測試系統，發光二極體燈絲條測試系統包括振動供料系統、氣缸系統、供料轉盤系統與量測系統。振動供料系統包括振動供料器與直線送料軌道。振動供料器透過振動方式來輸出複數個燈絲條。直線送料軌道用以接收多個燈絲條並予以傳送至吸附定位點。當燈絲條對應旋轉至量測系統之量測定位點時，量測系統對燈絲條進行量測。

Description

發光二極體燈絲條測試系統

本發明係關於一種測試系統，特別是關於一種發光二極體燈絲條測試系統。

相較於傳統的發光源，發光二極體(Light Emitting Diode,LED)具有重量輕、體積小、污染低、壽命長等優點，其作為一種新型的發光源，已經被越來越廣泛地應用。一般地，發光二極體需要測試其電性參數，以確保發光二極體的良率或按照發光波長範圍對其進行分類。一般的發光二極體測試過程中，提供一個電源，該電源包括有兩個電極，該兩個電極與發光二極體的電極電連接，從而測試發光二極體的電性是否為良。然而當測試發光二極體燈條的電性時，需要對燈條上的複數個發光二極體進行電性測試。因此，需要用該電源重複地對複數個發光二極體進行測試，該種測試方法效率低，耗費人力。

有鑑於此，本揭露內容提供一種發光二極體燈絲條測試系統，能夠展現量測的高效率與穩定的性能。

本發明實施例提供一種發光二極體(LED)燈絲條測試系統，發光二極體(LED)燈絲條測試系統包括振動供料系統、氣缸系統、供料轉盤系統與量測系統。振動供料系統包括振動供料器與直線送料軌道。振動供料器透過振動方式來輸出複數個燈絲條。直線送料軌道連接至振動供料器，直線送料軌道用以接收來自振動供料器之多個燈絲條並予以傳送至一吸附定位點。氣缸系統具有吸嘴與擺動手臂，氣缸系統透過吸嘴吸附位在該吸附定位點之燈絲條並且透過擺動手臂旋轉到進料定位點。供料轉盤系統之邊緣具有複數個凹座且其中心具有伺服步進馬達以帶動供料轉盤系統的位移，其中凹座上具有推進器。量測系統具有複數個量測定位點，並且量測系統用以量測燈絲條之至少一特性值。當位於供料轉盤系統上之凹座之燈絲條對應旋轉至量測系統之量測定位點時，則氣閥控制推進器之壓頭下降且推進器之壓頭上之接觸端子壓接在燈絲條之兩端金屬端子，以讓量測系統對燈絲條進行量測。

在本發明其中一個實施例中，發光二極體(LED)燈絲條測試系統更包括靜電消除器、第一光電偵測器與第二光電偵測器。靜電消除器用以消除於進料中燈絲條上的殘留靜電。第一光電偵測器用以偵測直線送料軌道上之燈絲條是否已經排滿，其中如果燈絲條已經排滿，則自動暫時關閉振動供料器之電源。第二光電偵測器用以在吸附定位點偵測吸嘴是否已經吸附燈絲條。

在本發明其中一個實施例中，發光二極體(LED)燈絲條測試系統更包括電腦。電腦經連接至且控制振動供料系統、氣缸系統、供料轉盤系統與量測系統，其中電腦透過複數個周邊輸 入/輸出卡與複數個續電器以控制振動供料系統、氣缸系統、供料轉盤系統與量測系統。

在本發明其中一個實施例中，其中量測系統包括電性量測裝置與絕緣量測裝置。電性量測裝置用以量測燈絲條處於逆向電壓時之洩漏電流值與定電流時之電壓降值。絕緣量測裝置用以量測燈絲條之絕緣電壓值與絕緣電阻值。

在本發明其中一個實施例中，其中量測系統更包括特殊頻率量測裝置與光特性量測裝置。特殊頻率量測裝置用以量測燈絲條之交流電壓值與交流電流值。光特性量測裝置用以量測燈絲條之光譜功率分布、光波長、色座標值、色溫或光強度。

在本發明其中一個實施例中，其中推進器之壓頭下降使燈絲條沉入積分球之缺口內，以量測燈絲條之光特性。

在本發明其中一個實施例中，其中當供料轉盤系統將燈絲條旋轉至分料定位點時，燈絲條會被吸附且送至指定料槽內。

在本發明其中一個實施例中，其中發光二極體(LED)燈絲條測試系統更包括第三光電偵測器。第三光電偵測器用以偵測凹座內之燈絲條是否已被吸附而離開凹座。

在本發明其中一個實施例中，其中當燈絲條完成量測時，電腦登載其量測順序及特性值之內容。

在本發明其中一個實施例中，其中凹座之間距角度為36度。

綜上所述，本發明實施例所提出之發光二極體(LED)燈絲條測試系統，能夠整合高精度光、電量測數據，並展現高速 分燈絲條的正確且穩定的性能。

為使任何熟習相關技藝者了解本發明之技術內容並據以實施，且根據本說明書所揭露之內容、申請專利範圍及圖式，任何熟習相關技藝者可輕易地理解本發明相關之目的及優點，因此將在實施方式中詳細敘述本發明之詳細特徵以及優點。

100‧‧‧發光二極體燈絲條測試系統

110‧‧‧振動供料系統

112‧‧‧振動供料器

114‧‧‧直線送料軌道

120‧‧‧氣缸系統

122‧‧‧吸嘴

124‧‧‧擺動手臂

126‧‧‧擺動氣缸

127‧‧‧昇降氣缸

128‧‧‧氣缸支撐柱

130‧‧‧供料轉盤系統

132‧‧‧凹座

1321‧‧‧待測體支撐座

1322‧‧‧彈簧

1323‧‧‧彈簧軸

1324‧‧‧螺絲

1325‧‧‧透光區

134‧‧‧馬達

140‧‧‧量測系統

A1‧‧‧電性量測裝置

A2‧‧‧絕緣量測裝置

A3‧‧‧特殊頻率量測裝置

A4‧‧‧光特性量測裝置

LD1‧‧‧第一光電偵測器

LD2‧‧‧第二光電偵測器

LD3‧‧‧第三光電偵測器

LS‧‧‧燈絲條

LA1、LA2、LA3、LA4、LA5、LA6‧‧‧指定料槽

IS‧‧‧積分球

M1、M2、M3‧‧‧伺服步進馬達

T1‧‧‧吸附定位點

T2‧‧‧進料定位點

TA1、TA2、TA3‧‧‧分料系統

PT1、PT2、PT3、PT4‧‧‧量測定位點

PE‧‧‧靜電消除器

PR‧‧‧推進器

SP1、SP2、SP3‧‧‧分料定位點

圖1為根據本發明例示性實施例所繪示之發光二極體燈絲條測試系統之示意圖。

圖2為根據本發明例示性實施例所繪示之振動供料系統與氣缸系統之示意圖。

圖3為根據本發明例示性實施例所繪示之燈絲條進行電性量測時，燈絲條在凹座中，推進器下壓之動作示意圖。

圖4為根據本發明例示性實施例所繪示之氣缸系統之上視圖。

圖5為根據本發明例示性實施例所繪示之供料轉盤系統之凹座結構之上視圖。

圖6為根據本發明例示性實施例所繪示之供料轉盤系統之凹座結構之側視圖。

在下文將參看隨附圖式更充分地描述各種例示性實施例，在隨附圖式中展示一些例示性實施例。然而，本發明概念 可能以許多不同形式來體現，且不應解釋為限於本文中所闡述之例示性實施例。確切而言，提供此等例示性實施例使得本發明將為詳盡且完整，且將向熟習此項技術者充分傳達本發明概念的範疇。在諸圖式中，可為了清楚而誇示層及區之大小及相對大小。類似數字始終指示類似元件。

應理解，雖然本文中可能使用術語第一、第二、第三等來描述各種元件，但此等元件不應受此等術語限制。此等術語乃用以區分一元件與另一元件。因此，下文論述之第一元件可稱為第二元件而不偏離本發明概念之教示。如本文中所使用，術語「及/或」包括相關聯之列出項目中之任一者及一或多者之所有組合。

以下將以多種實施例配合圖式來說明所述發光二極體(LED)燈絲條測試系統，能夠整合高精度光、電量測數據，並展現高速分燈絲條的正確且穩定的性能。然而，下述實施例並非用以限制本發明。

〔發光二極體燈絲條測試系統的實施例〕

請同時參照圖1與圖2，圖1為根據本發明例示性實施例所繪示之發光二極體燈絲條測試系統之示意圖。圖2為根據本發明例示性實施例所繪示之振動供料系統與氣缸系統之示意圖。如圖1所示，發光二極體(LED)燈絲條測試系統100包括振動供料系統110、氣缸系統120、供料轉盤系統130、量測系統140、靜電消除器PE、電腦、第一光電偵測器LD1、第二光電偵測器LD2與分料系統TA1、TA2與TA3。氣缸系統120具有吸嘴122與擺動手臂124。供料轉盤系統130之邊緣具有複數個凹座132且其中 心具有馬達134，凹座132上具有推進器PR。在本實施例中，凹座132之間距角度為36度。

振動供料系統110包括振動供料器112與直線送料軌道114。直線送料軌道114連接至振動供料器112。分料系統TA1、TA2與TA3連接至供料轉盤系統130。電腦經連接至且控制振動供料系統110、氣缸系統120、供料轉盤系統130與量測系統140，其中本實施例之電腦為一工業電腦。

接下來要教示的，是進一步說明發光二極體燈絲條測試系統100的運作機制。為了更詳細地說明本發明所述之發光二極體燈絲條測試系統100的運作機制，以下將舉多個實施例中至少之一來作更進一步的說明。

請同時參照圖1至圖6，圖3為根據本發明例示性實施例所繪示之燈絲條進行電性量測時，燈絲條在凹座中，推進器下壓之動作示意圖。圖4為根據本發明例示性實施例所繪示之氣缸系統之上視圖。圖5為根據本發明例示性實施例所繪示之供料轉盤系統之凹座結構之上視圖。圖6為根據本發明例示性實施例所繪示之供料轉盤系統之凹座結構之側視圖。凹座132之結構包括待測體支撐座1321、彈簧1322、彈簧軸1323與螺絲1324，其中凹座132更具有一透光區1325。量測接觸端子為使用金屬圈圍繞在待測體支撐座1321左右端各一周，並用螺絲1324來固定。在本實施例中，振動供料器112透過振動方式(由於重力及振動因素)自動在下方出口輸出複數個燈絲條LS(亦即待測體)至直線送料軌道114且依序排列於直線送料軌道114，並且直線送料軌道114接收來自振動供料器112之燈絲條LS並予以傳送至吸附定位點 T1。本實施例透過第一光電偵測器LD1來偵測直線送料軌道114上之燈絲條LS是否已經排滿。如果第一光電偵測器LD1偵測到燈絲條LS已經排滿，則第一光電偵測器LD1會將信號傳到電腦以讓電腦控制周邊輸入/輸出卡與續電器(relay)來自動暫時關閉振動供料器112之電源。

接下來，氣缸系統120透過吸嘴122吸附位於吸附定位點T1之燈絲條LS並且透過擺動手臂124旋轉到進料定位點T2。也就是說，電腦控制周邊輸入/輸出卡與續電器使昇降氣缸127下降並用真空之吸嘴122吸取後旋轉到進料定位點T2，並以第二光電偵測器LD2在吸附定位點T1來偵測吸嘴122是否已經吸附燈絲條LS。須說明的是，氣缸系統120更具有擺動氣缸126、昇降氣缸127與氣缸支撐柱128，如圖4所示。此外，靜電消除器PE能夠吹出供氣以用來消除進料過程中之燈絲條LS上的殘留靜電。直線送料軌道114可以微調高度且配合不同直徑的燈絲條LS，其中不同長度的燈絲條LS需更換寬度不同的送料軌道及供料轉盤。

再者，燈絲條LS會被放置於供料轉盤系統130之凹座132(對應於進料定位點T2的位置)，並且供料轉盤系統130會透過馬達134來帶動供料轉盤系統130的位移，其中馬達134為伺服步進馬達。本實施例中，電腦會依照編程且透過周邊輸入/輸出卡與續電器控制馬達134，並使馬達134轉動。

在本實施例中，量測系統140具有複數個量測定位點PT1~PT4，量測系統140用以量測燈絲條LS之至少一特性值。當位於供料轉盤系統130上之凹座132之燈絲條LS對應旋轉至量 測系統140之量測定位點PT1~PT4時，則氣閥控制推進器PR之壓頭下降且推進器PR之壓頭上之接觸端子壓接在燈絲條LS之兩端金屬端子，以讓量測系統140對燈絲條LS進行各種物理特性之量測。須注意的是，不同的量測定位點具有不同的量測裝置，且不同的量測裝置分別量測燈絲條LS不同的物理特性。在本實施例中，電腦會透過複數個周邊輸入/輸出卡與複數個續電器以控制振動供料系統110、氣缸系統120、供料轉盤系統130與量測系統140。

進一步來說，量測系統140包括電性量測裝置A1、絕緣量測裝置A2、特殊頻率量測裝置A3與光特性量測裝置A4。電性量測裝置A1是用以量測燈絲條LS處於逆向電壓時之洩漏電流值與定電流時之電壓降值。換句話說，當供料轉盤系統120將燈絲條LS轉動到量測定位點PT1時，電腦會控制其周邊輸入/輸出卡與續電器使氣閥控制推進器PR之壓頭下降且推進器PR之壓頭上之接觸端子壓接在該燈絲條之兩端金屬端子，並且電腦對程控式精密直流電源下達分析儀器參數設置及量測讀取檢查結果的執行指令以量測逆向電壓時之洩漏電流值與定電流時之電壓降值。之後，當燈絲條LS於量測定位點PT1完成量測時，則電腦登載其量測順序及特性值之內容。

絕緣量測裝置A2用以量測燈絲條LS之絕緣電壓值與絕緣電阻值。換句話說，當供料轉盤系統120將燈絲條LS轉動到量測定位點PT2時，電腦會控制其周邊輸入/輸出卡與續電器使氣閥控制推進器PR之壓頭下降且推進器PR之壓頭上之接觸端子壓接在該燈絲條之兩端金屬端子，並且電腦一樣是對程控式精密 直流電源下達分析儀器參數設置及量測讀取檢查結果的執行指令以量測絕緣電壓值與絕緣電阻值。之後，當燈絲條LS於量測定位點PT2完成量測時，則電腦登載其量測順序及特性值之內容。

特殊頻率量測裝置A3用以量測燈絲條LS之交流電壓值與交流電流值。換句話說，當供料轉盤系統120將燈絲條LS轉動到量測定位點PT3時，電腦會控制其周邊輸入/輸出卡與續電器使氣閥控制推進器PR之壓頭下降且推進器PR之壓頭上之接觸端子壓接在該燈絲條之兩端金屬端子，並且電腦對程控式精密交流電源下達分析儀器參數設置及量測讀取檢查結果的執行指令以量測交流電壓值與交流電流值。之後，當燈絲條LS於量測定位點PT3完成量測時，則電腦登載其量測順序及特性值之內容。

光特性量測裝置A4用以量測燈絲條LS之光譜功率分布、光波長、色座標值、色溫或光強度。當供料轉盤系統120將燈絲條LS轉動到量測定位點PT4時，電腦會控制其周邊輸入/輸出卡與續電器使氣閥控制推進器PR之壓頭下降並使燈絲條LS沉入積分球IS之缺口內，且推進器PR之壓頭上之接觸端子壓接在該燈絲條之兩端金屬端子。如果是直流LED量測，則電腦對程控式精密直流電源下達設置量測參數的指令，並且電腦對微型光譜儀下達分析儀器參數設置及量測讀取檢查結果的執行指令。另一方面，如果是交流LED量測，則電腦對程控式精密交流電源下達設置量測參數的指令，並且電腦對微型光譜儀下達分析儀器參數設置及量測讀取檢查結果的執行指令。藉此，光特性量測裝置A4能夠量測燈絲條LS之光譜功率分布、光波長、色座標值、色溫或光強度。之後，當燈絲條LS於量測定位點PT4完成量測時， 則電腦登載其量測順序及特性值之內容。

在燈絲條LS完成各項物理特性之測試後，供料轉盤系統120會將燈絲條LS分別旋轉至分料系統TA1、TA2與TA3之分料定位點SP1、SP2與SP3時，燈絲條LS會被吸附且送至指定料槽LA1~LA6內，其中分料系統TA1、TA2與TA3分別為被伺服步進馬達M1、M2與M3所驅動。在本實施例中，指定料槽LA1為編號1至32的燈絲條LS的位置，指定料槽LA2為編號33至64的燈絲條LS的位置，指定料槽LA3為編號65至96的燈絲條LS的位置，指定料槽LA4為編號97至128的燈絲條LS的位置，指定料槽LA5為編號129至160的燈絲條LS的位置，指定料槽LA6為編號161至192的燈絲條LS的位置。電腦會根據燈絲條LS的內容範圍來控制其周邊輸入/輸出卡與續電器將位於凹座132內之燈絲條LS吸出。在本實施例中，發光二極體燈絲條測試系統100更包括第三光電偵測器LD3，偵測凹座132內之燈絲條LS是否已被吸附而離開凹座132。

綜上所述，本發明實施例所提出之發光二極體燈絲條測試系統，能夠整合高精度光、電量測數據，並展現高速分燈絲條的正確且穩定的性能。

惟上述各實施例係用以說明本發明之特點，其目的在使熟習該技術者能瞭解本發明之內容並據以實施，而非限定本發明之專利範圍，故凡其他未脫離本發明所揭示之精神而完成之等效修飾或修改，仍應包含在以下所述之申請專利範圍中。

100‧‧‧發光二極體燈絲條測試系統

110‧‧‧振動供料系統

112‧‧‧振動供料器

114‧‧‧直線送料軌道

120‧‧‧氣缸系統

122‧‧‧吸嘴

124‧‧‧擺動手臂

130‧‧‧供料轉盤系統

132‧‧‧凹座

134‧‧‧馬達

140‧‧‧量測系統

A1‧‧‧電性量測裝置

A2‧‧‧絕緣量測裝置

A3‧‧‧特殊頻率量測裝置

A4‧‧‧光特性量測裝置

LD1‧‧‧第一光電偵測器

LD2‧‧‧第二光電偵測器

LD3‧‧‧第三光電偵測器

LS‧‧‧燈絲條

IS‧‧‧積分球

T1‧‧‧吸附定位點

T2‧‧‧進料定位點

PT1、PT2、PT3、PT4‧‧‧量測定位點

PE‧‧‧靜電消除器

SP1、SP2、SP3‧‧‧分料定位點

TA1、TA2、TA3‧‧‧分料系統

Claims (10)

1. 一種發光二極體燈絲條測試系統，包括：一振動供料系統，包括：一振動供料器，透過振動方式來輸出複數個燈絲條；以及一直線送料軌道，連接至該振動供料器，該直線送料軌道用以接收來自該振動供料器之該些燈絲條並予以傳送至一吸附定位點；一氣缸系統，具有一吸嘴與一擺動手臂，該氣缸系統透過該吸嘴吸附位在該吸附定位點之該燈絲條並且透過該擺動手臂旋轉到一進料定位點；一供料轉盤系統，其邊緣具有複數個凹座且其中心具有一伺服步進馬達以帶動該供料轉盤系統的位移，其中該凹座上具有一推進器；以及一量測系統，具有複數個量測定位點，該量測系統用以量測該燈絲條之至少一特性值，其中，當位於該供料轉盤系統上之該凹座之該燈絲條對應旋轉至該量測系統之該量測定位點時，則氣閥控制該推進器之壓頭下降且該推進器之壓頭上之接觸端子壓接在該燈絲條之兩端金屬端子，以讓該量測系統對該燈絲條進行量測。
2. 如請求項第1項所述之發光二極體燈絲條測試系統，更包括：一靜電消除器，用以消除於進料中該燈絲條上的殘留靜電；一第一光電偵測器，用以偵測該直線送料軌道上之該些燈絲條是否已經排滿，其中如果該些燈絲條已經排滿，則自動暫時關閉該振動供料器之電源；以及 一第二光電偵測器，用以在該吸附定位點偵測該吸嘴是否已經吸附該燈絲條。
3. 如請求項第1項所述之發光二極體燈絲條測試系統，更包括：一電腦，經連接至且控制該振動供料系統、該氣缸系統、該供料轉盤系統與該量測系統，其中該電腦透過複數個周邊輸入/輸出卡與複數個續電器以控制該振動供料系統、該氣缸系統、該供料轉盤系統與該量測系統。
4. 如請求項第1項所述之發光二極體燈絲條測試系統，其中該量測系統包括：一電性量測裝置，用以量測該燈絲條處於逆向電壓時之洩漏電流值與定電流時之電壓降值；以及一絕緣量測裝置，用以量測該燈絲條之絕緣電壓值與絕緣電阻值。
5. 如請求項第4項所述之發光二極體燈絲條測試系統，其中該量測系統更包括：一特殊頻率量測裝置，用以量測該燈絲條之交流電壓值與交流電流值；以及一光特性量測裝置，用以量測該燈絲條之光譜功率分布、光波長、色座標值、色溫或光強度。
6. 如請求項第5項所述之發光二極體燈絲條測試系統，其中該推進器之壓頭下降使該燈絲條沉入一積分球之缺口內，以量測該燈絲條之光特性。
7. 如請求項第1項所述之發光二極體燈絲條測試系統，其中當該供料轉盤系統將該燈絲條旋轉至一分料定位點時，該燈絲條會 被吸附且送至一指定料槽內。
8. 如請求項第7項所述之發光二極體燈絲條測試系統，更包括：一第三光電偵測器，用以偵測該凹座內之該燈絲條是否已被吸附而離開該凹座。
9. 如請求項第3項所述之發光二極體燈絲條測試系統，其中當該燈絲條完成量測時，該電腦登載其量測順序及該特性值之內容。
10. 如請求項第1項所述之發光二極體燈絲條測試系統，其中該些凹座之間距角度為36度。