TW201728926A - 偏光板之製造方法 - Google Patents

Abstract

本發明提供一種耐久性優異之偏光板。 本發明之偏光板之製造方法包括：準備具有偏光元件11、與配置於偏光元件11之至少單側之保護膜21、22的偏光膜積層體10；及使偏光膜積層體10收縮。

Description

偏光板之製造方法

本發明係關於一種偏光板之製造方法。

於行動電話、筆記型個人電腦等圖像顯示裝置(例如液晶顯示裝置)中使用有偏光板。近年來，期待於汽車之儀錶顯示部或智能手錶等中使用偏光板，且期待將偏光板製成矩形以外之形狀或於偏光板形成通孔。然而，於採用此種形態之情形時，容易產生耐久性之問題。為了提高耐久性，例如提出有將偏光元件於95℃以上之溫度下進行熱處理，並於經熱處理之偏光元件積層保護膜而獲得偏光板之方法(參照專利文獻1)，但要求進一步提高耐久性。 [先前技術文獻] [專利文獻] [專利文獻1]日本專利特開平07-333425號公報

[發明所欲解決之問題] 本發明係為了解決上述問題而完成者，其主要目的在於提供一種耐久性優異之偏光板。 [解決問題之技術手段] 本發明之偏光板之製造方法包括：準備具有偏光元件、與配置於該偏光元件之至少單側之保護膜的偏光膜積層體；及使偏光膜積層體收縮。 於一實施形態中，於上述偏光元件之透過軸方向使上述偏光膜積層體收縮0.2%以上。 於一實施形態中，上述製造方法進而包括將上述偏光膜積層體切斷。 根據本發明之另一態樣，提供一種偏光板。該偏光板可藉由上述製造方法獲得。 [發明之效果] 根據本發明，藉由使偏光元件及保護膜積層而獲得之偏光膜積層體收縮，可獲得耐久性優異之偏光板。

以下，對本發明之實施形態進行說明，但本發明並不限定於該等實施形態。 本發明之偏光板之製造方法包括：準備具有偏光元件、與配置於該偏光元件之至少單側之保護膜的偏光膜積層體；及使偏光膜積層體收縮。 A. 偏光膜積層體 圖1係本發明之一實施形態之偏光膜積層體之剖視圖。偏光膜積層體10包含偏光元件11、配置於偏光元件11之單側之第1保護膜21、及配置於偏光元件11之另一側之第2保護膜22。雖未圖示，但代表性而言，保護膜21、22係經由接著劑層貼合於偏光元件11之表面。於本圖示例中，於偏光元件之兩側配置有保護膜，但亦可僅於單側配置有保護膜。 A-1. 偏光元件 上述偏光元件代表性而言係包含含有二色性物質之樹脂膜。作為二色性物質，例如可例舉的是碘、有機染料。該等可單獨使用或組合兩種以上使用。較佳為使用碘。 作為形成上述樹脂膜之樹脂，可使用任意之適當之樹脂。較佳為使用親水性樹脂(例如聚乙烯醇(PVA)系樹脂)。作為PVA系樹脂，例如可例舉的是：聚乙烯醇、乙烯-乙烯醇共聚物。聚乙烯醇可藉由將聚乙酸乙烯酯皂化而獲得。乙烯-乙烯醇共聚物可藉由將乙烯-乙酸乙烯酯共聚物皂化而獲得。PVA系樹脂之皂化度通常為85莫耳%～100莫耳%，較佳為95.0莫耳%以上，更佳為99.0莫耳%以上，尤佳為99.93莫耳%以上。皂化度可根據JIS K 6726-1994求出。藉由使用此種皂化度之PVA系樹脂，可獲得耐久性優異之偏光元件。 PVA系樹脂之平均聚合度可根據目的進行適當選擇。平均聚合度通常為1000～10000，較佳為1200～6000，更佳為2000～5000。再者，平均聚合度可根據JIS K 6726-1994求出。 偏光元件較佳為於波長380 nm～780 nm之範圍顯示吸收二色性。偏光元件之單體透過率(Ts)較佳為40%以上，更佳為41%以上，進而較佳為42%以上，尤佳為43%以上。再者，單體透過率之理論上限為50%，實用上限為46%。又，上述單體透過率(Ts)係藉由JIS Z 8701之2度視野(C光源)實施測定並進行可見度修正而得之Y值，例如可使用分光光度計(日本分光製造，V7100)進行測定。偏光元件之偏光度較佳為99.8%以上，更佳為99.9%以上，進而較佳為99.95%以上。 偏光元件之厚度可設定為任意之適當之值。厚度代表性而言為1 μm～80 μm，較佳為3 μm～40 μm。 代表性而言，偏光元件可藉由對上述樹脂膜實施膨潤處理、延伸處理、利用上述二色性物質之染色處理、交聯處理、洗淨處理、乾燥處理處理等處理而獲得。各處理之次數、順序、時間等可進行適當設定。於實施各處理時，樹脂膜可為形成於基材上之樹脂層。 上述交聯處理例如係藉由使樹脂膜接觸硼酸溶液(例如硼酸水溶液)而進行。又，於延伸處理中採用濕式延伸方式之情形時，較佳為使樹脂膜一面接觸硼酸溶液一面進行延伸。就獲得優異之偏光特性之觀點而言，通常將樹脂膜單軸延伸3～7倍。延伸處理中之延伸方向能夠相當於獲得之偏光元件之吸收軸方向。於一實施形態中，將長條狀之樹脂膜一面於其長度方向上搬送一面於該搬送方向(MD)上進行延伸。於該情形時，所獲得之偏光元件之吸收軸方向可成為長度方向(MD)，透過軸方向可成為寬度方向(TD)。 A-2. 保護膜 作為上述保護膜之形成材料，例如可例舉的是：二乙醯纖維素、三乙醯纖維素(TAC)等纖維素系樹脂、(甲基)丙烯酸系樹脂、環烯烴系樹脂、聚丙烯等烯烴系樹脂、聚對苯二甲酸乙二酯系樹脂等酯系樹脂、聚醯胺系樹脂、聚碳酸酯系樹脂、該等之共聚物樹脂等。再者，所謂「(甲基)丙烯酸系樹脂」係指丙烯酸系樹脂及/或甲基丙烯酸系樹脂。 保護膜之厚度較佳為10 μm～200 μm。於保護膜之單側(未配置偏光元件之側)可形成有表面處理層。具體而言，可實施硬塗處理或抗反射處理、旨在擴散或防眩之處理。又，保護膜亦可作為相位差膜發揮功能。再者，於如圖示例般在偏光元件之兩側分別配置保護膜之情形時，兩者之構成(形成材料、厚度等)可為相同之構成，亦可為不同之構成。 A-3. 其他 作為保護膜之貼合時使用之接著劑，可採用任意之適當之接著劑。例如可使用水系接著劑、溶劑系接著劑、活性能量線硬化型接著劑等。作為水系接著劑，可較佳地使用含有PVA系樹脂之接著劑。 B. 收縮 使上述偏光膜積層體收縮。藉由使偏光膜積層體收縮，可獲得耐久性優異之偏光板。具體而言，收縮之偏光板因外部環境變化所產生之形狀變化非常小，於經由黏著劑層貼合於其他構件(例如液晶單元等玻璃基板)時，對鄰接之黏著劑層之影響非常小。因此，因外部環境變化所產生之黏著劑層之形狀變化得到抑制，可防止各構件間產生應力(例如於低溫下黏著劑層之彈性模數增大時產生之應力)。其結果，偏光板不會產生龜裂，偏光板可具有極優異之耐久性。 作為收縮方法，代表性而言，可例舉的是對偏光膜積層體進行加熱之方法。加熱溫度例如為50℃～120℃，較佳為70℃～90℃。若為此種該範圍，則可確保偏光膜積層體之光學特性(例如色相、透過率、偏光度)並且有效率地使其收縮。加熱時間例如為1小時～100小時，較佳為2小時以上，更佳為10小時以上。加熱可以一個階段進行，或者可以多階段進行。又，加熱溫度可實質上保持一定，亦可連續變化或階段地變化。 收縮率例如於偏光膜積層體所包含之偏光元件之透過軸方向上，較佳為0.2%以上，更佳為0.3%以上。另一方面，於透過軸方向上之收縮率例如為0.6%以下。若為此種收縮率，則可判斷已使偏光膜積層體收縮至充足之程度。再者，偏光膜積層體其吸收軸方向上之收縮程度可大於透過軸方向，因此於收縮之初期階段，表觀上而言，存在偏光膜積層體之透過軸方向之尺寸暫時增加之情況。於該情形時，隨著收縮之進行，透過軸方向之尺寸亦有可能自收縮開始時(加熱開始時)之尺寸減少。 偏光膜積層體於吸收軸方向上之收縮率較佳為0.3%以上，更佳為0.4%以上。另一方面，吸收軸方向上之收縮率例如為1.0%以下。再者，收縮率可藉由下述式求出。 收縮率(%)＝{1－(加熱後之尺寸/加熱前之尺寸)}×100 C. 切斷 本發明之偏光板由於具有優異之耐久性，故而可成形為所需之形狀。作為成形為所需形狀之成形方法，代表性而言可例舉的是將上述偏光膜積層體切斷(沖切)之方法。切斷可於偏光膜積層體之收縮前進行，亦可於收縮後進行。再者，無論於收縮前抑或收縮後進行切斷，均可獲得優異之耐久性。就更精密地成形為所需形狀之觀點而言，較佳為於收縮後進行切斷。 作為切斷(沖切)方法，可採用任意之適當之方法。例如可例舉的是：照射雷射光之方法、使用湯姆生(Thomson)刀或維氏刀等切割刀(沖切模)之方法。藉由雷射光照射，可獲得光滑之切斷面，可抑制龜裂起點(初始龜裂)之產生，可有助於耐久性之進一步提昇。即便於使用切割刀(假設產生初始龜裂)之情形時，藉由收縮亦可獲得優異之耐久性。 作為上述雷射，只要可切斷偏光膜積層體(偏光板)，則可採用任意之適當之雷射。較佳為使用可射出150 nm～11 μm範圍內之波長之光之雷射。作為具體例，可例舉的是CO₂ 雷射等氣體雷射；YAG雷射等固體雷射；半導體雷射。較佳為使用CO₂ 雷射。 雷射光之照射條件例如可根據所使用之雷射，設定為任意之適當之條件。於使用CO₂ 雷射之情形時，輸出條件較佳為10 W～1000 W，更佳為100 W～400 W。 D. 偏光板 圖2係本發明之一實施形態之偏光板之俯視圖。偏光板100可較佳地用於汽車之儀錶板。偏光板100係連續設置第1顯示部50與第2顯示部60而構成，且於各顯示部之中心附近分別形成有用以固定各儀錶指針之通孔51、61。通孔之直徑例如為0.5 mm～100 mm。顯示部50、60之外緣形成為沿儀錶指針之旋轉方向之圓弧狀。 於如圖示例般形成通孔之情形時，通孔之位置例如可根據偏光板之用途而適當地設定。上述龜裂容易以通孔之周緣為起點而產生，且通孔之位置越遠離偏光板之外緣，則該傾向就可能越顯著。其結果，通孔之位置越遠離偏光板之外緣(例如，距離偏光板之外緣為15 mm以上)，則可更顯著地獲得藉由上述收縮所表現出之耐久性提昇效果。再者，如各顯示部之邊界部41、42般之外緣於面方向內側為凸之V字形狀(包括圓弧狀)之部位亦與通孔之周緣同樣，容易成為龜裂之起點。 本發明之偏光板不限定於上述圖示例中之構成，可適當地變更。例如，偏光板之形狀、通孔之有無、通孔之形狀或尺寸、通孔之個數及形成位置可適當地變更。 本發明之偏光板例如係經由黏著劑層貼合於其他構件(例如液晶單元等玻璃基板)。黏著劑層之厚度較佳為4 μm～50 μm。作為形成黏著劑層之黏著劑，可較佳地使用丙烯酸系黏著劑。 [實施例] 以下，藉由實施例對本發明進行具體說明，但本發明並不限定於該等實施例。再者，尺寸變化率係藉由下述式而算出之值。 尺寸變化率(%)＝{(加熱後之尺寸/加熱前之尺寸)－1}×100 [實施例1] (偏光膜積層體片材之製作) 作為偏光元件，使用使長條狀之PVA系樹脂膜含有碘且於長度方向(MD)上進行單軸延伸而獲得之膜(厚度28 μm)。 將PVA系接著劑以乾燥後之厚度成為100 nm之方式塗佈於上述偏光元件之單側，並以長度方向彼此對齊之方式貼合長條狀且厚度40 μm之TAC膜。 繼而，將PVA系接著劑以乾燥後之厚度成為100 nm之方式塗佈於上述偏光元件之另一側，並以長度方向彼此對齊之方式貼合長條狀且厚度30 μm之丙烯酸系膜。 如此，獲得具有TAC膜/偏光元件/丙烯酸系膜之構成之偏光膜積層體片材。 使用CO₂ 雷射(波長：9.35 μm，輸出：150 W)將所獲得之偏光膜積層體片材切斷，獲得於距離其外緣55 mm之部位形成有直徑2 mm之通孔之尺寸112 mm×112 mm之切片。 將所得切片於85℃之環境下放置50小時而獲得偏光板。加熱前後之吸收軸方向之尺寸變化率為-0.74%(收縮率為0.74%)，透過軸方向之尺寸變化率為-0.44%(收縮率為0.44%)。該加熱前後之尺寸變化率係藉由另外準備自偏光膜積層體片材切出之尺寸100 mm×100 mm之切片(於該切片未形成通孔)，並測定切片之角之位置而求出。此處，切片之切出係以使相對向之一組邊對應於偏光元件之透過軸方向，相對向之另一組邊對應於偏光元件之吸收軸方向之方式進行。 [實施例2] 將所獲得之切片於85℃之環境下放置5小時，除此以外，以與實施例1相同之方式獲得偏光板。經與實施例1相同之方法測得之加熱前後之吸收軸方向之尺寸變化率為-0.45%(收縮率為0.45%)，透過軸方向之尺寸變化率為-0.37%(收縮率為0.37%)。 [實施例3] 將所獲得之切片於85℃之環境下放置2.5小時，除此以外，以與實施例1相同之方式獲得偏光板。經與實施例1相同之方法測得之加熱前後之吸收軸方向之尺寸變化率為-0.34%(收縮率為0.34%)，透過軸方向之尺寸變化率為-0.25%(收縮率為0.25%)。 [實施例4] 將切片之尺寸設為52 mm×52 mm，且於距離外緣25 mm之部位形成通孔，除此以外，以與實施例1相同之方式獲得偏光板。 [比較例1] 不對切片進行加熱，除此以外，以與實施例1相同之方式獲得偏光板。 [比較例2] 不對切片進行加熱，除此以外，以與實施例4相同之方式獲得偏光板。 藉由熱循環試驗(HS)評價所獲得之偏光板之耐久性。具體而言，使用丙烯酸系黏著劑(厚度20 μm)將所獲得之偏光板貼合於玻璃板上，獲得試驗用樣品。將其於-40℃之環境下放置30分鐘後，於85℃之環境下放置30分鐘。將該操作設為一次循環，重複循環100次後，確認偏光板是否產生龜裂。 圖3係利用光學顯微鏡(OLYMPUS製造，MX61，倍率：5倍)觀察HS試驗後實施例1～3及比較例1之偏光板之通孔周邊所得之觀察照片。比較例1中，確認出目視時可明顯視認之程度之龜裂，相對於此，實施例1中未確認出產生龜裂(包括微小龜裂)。實施例2、3中，雖確認出目視時無法清晰視認之程度之微小龜裂，但與比較例1相比，龜裂之產生得到抑制。再者，龜裂沿延伸方向上產生。 實施例4中，與實施例1同樣，未確認到龜裂(包括微小龜裂)之產生。比較例1中，龜裂以通孔為起點延伸至偏光板端邊，相對於此，比較例2中，龜裂長度為12 mm。 圖4表示實施例1之HS試驗後之試驗用樣品之偏光板端部之狀態，圖5表示比較例1之HS試驗後之試驗用樣品之偏光板端部之狀態。比較例1中，形成有將偏光板貼合於玻璃板時所使用之黏著劑層發生剝離之區域。 [產業上之可利用性] 本發明之偏光板不僅可應用於矩形之圖像顯示裝置(液晶顯示裝置、有機EL裝置)中，亦可較佳地使用於例如以汽車之儀錶顯示部或智能手錶為代表之異形之圖像顯示部。

10‧‧‧偏光膜積層體
11‧‧‧偏光元件
21‧‧‧保護膜
22‧‧‧保護膜
41‧‧‧邊界部
42‧‧‧邊界部
50‧‧‧第1顯示部
51‧‧‧通孔
60‧‧‧第2顯示部
61‧‧‧通孔
100‧‧‧偏光板

圖1係本發明之一實施形態之偏光膜積層體之剖視圖。 圖2係本發明之一實施形態之偏光板之俯視圖。 圖3(a)係表示熱循環試驗後實施例1之偏光板之通孔周邊之照片，(b)係表示熱循環試驗後實施例2之偏光板之通孔周邊之照片，(c)係表示熱循環試驗後實施例3之偏光板之通孔周邊之照片，(d)係表示熱循環試驗後比較例1之偏光板之通孔周邊之照片。 圖4(a)表示熱循環試驗後實施例1之試驗用樣品之沿透過軸方向之偏光板端邊周邊之狀態，(b)表示沿吸收軸方向之偏光板端邊周邊之狀態。 圖5(a)表示熱循環試驗後比較例1之試驗用樣品之沿透過軸方向之偏光板端邊周邊之狀態，(b)表示沿吸收軸方向之偏光板端邊周邊之狀態。

10‧‧‧偏光膜積層體

11‧‧‧偏光元件

21‧‧‧保護膜

22‧‧‧保護膜

Claims (5)

1. 一種偏光板之製造方法，其包括： 準備具有偏光元件、與配置於該偏光元件之至少單側之保護膜的偏光膜積層體；及 使上述偏光膜積層體收縮。
2. 如請求項1之製造方法，其中於上述偏光元件之透過軸方向上，使上述偏光膜積層體收縮0.2%以上。
3. 如請求項1之製造方法，其進而包括將上述偏光膜積層體切斷。
4. 如請求項2之製造方法，其進而包括將上述偏光膜積層體切斷。
5. 一種偏光板，其係藉由如請求項1之製造方法獲得。