TW201717075A - 用於調整電路符號之方法及系統 - Google Patents

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Abstract

一種方法包括獲得表示第一電路符號的第一資料以及表示第二電路符號的第二資料。該第一電路符號具有多個第一引腳，該第一引腳具有與其關聯的第一位置向量。該第二電路符號具有多個第二引腳，該第二引腳具有與其關聯的第二位置向量，且各該多個第二引腳與該多個第一引腳的其中相應一個對應。確定映射位置向量以變換該位置向量的調整變換。該調整變換最大限度地降低基於一個或多個偏差的誤差測量。各偏差是變換位置向量與關聯該第一引腳的其中一個的該第一位置向量之間的偏差。通過將該調整變換應用於與對應該第一引腳的該第二引腳關聯的該第二位置向量獲得該變換位置向量。

Description

用於調整電路符號之方法及系統
本發明大致關於電路的電腦輔助設計，尤其關於可用於以第二電路符號替代電路原理圖中的第一電路符號的情境中的方法及系統。
在電子電路的電腦輔助設計中，可使用電子設計自動化工具。電子設計自動化工具可以軟體形式提供，該軟體包括指令，該指令可由電腦執行以處理表示電路原理圖的資料。該電路原理圖可包括表示例如電晶體、二極體、電阻器、電容器及電感的電路元件的電路符號。另外，該電路原理圖可包括表示該些電路元件之間的電性連接的導線。
表示電路原理圖的資料可定義電路符號、導線和/或其元素的位置及取向，其定義例如在電腦顯示器和/或電路原理圖的列印輸出上所繪製的電路符號、導線和/或其元素的位置及取向。這些位置通常不同於在電路實際物理實施時所設置的電路元件及電性連接的位置及取向。
各電路符號可包括一個或多個所謂的引 腳，該些引腳可用以定義與電路元件的部分的連接。例如，場效應電晶體的電路符號通常可具有閘極、源極、汲極以及可選的塊體引腳。該些引腳可用以定義電路中與該電路元件的電性連接，其中，當在引腳的位置設置表示電性連接的導線的端部時，尤其是當該導線的該端部與位於引腳的位置的中心的引腳形狀(例如矩形或圓形)接觸時，可認為已經與電路元件的部分形成電性連接。
除引腳外，電路符號還可包括作為表示電子裝置的圖示繪製的原圖(artwork)，以及參數和/或文本。
電路符號及其元素的位置，尤其引腳的位置，可被定義於網格上，該網格確定其佈置的最小細微性(granularity)。
在半導體工業中，製程設計套件(process design kits；PDKs)可由晶圓代工廠提供。除設計規則、電晶體的模擬模型及佈局資訊以外，製程設計套件可定義電路符號以用於電子設計自動化工具中。儘管已嘗試提供製程設計套件中所使用的電路符號的標準化，例如OpenPDK原理圖符號標準(見例如文檔“OpenPDK Schematic Symbol Standard”，V1.0，2012年5月24日，由Silicon Integration Initiative(Si2TM)組織公佈，ISBN：1-882750-63-2)，但其中採用專有電路符號的製程設計套件仍在使用。這些專有電路符號可不同於標準電路符號，尤其就引腳的位置、以及電路符號的尺寸、原點、旋轉和/或反射而言。
當電路原理圖從第一製程設計套件(process design kit)被轉換為第二製程設計套件時，例如從其中使用專有電路符號的製程設計套件轉換為其中使用標準電路符號(例如依據OpenPDK V1.0標準的電路符號)的製程設計套件時，可能發生問題，該些問題尤其可能與引腳的不同位置有關。如上所述，由於引腳的位置與確定裝置的連接相關，因此用具有不同引腳位置的第二製程設計套件的電路符號替代第一製程設計套件的電路符號可能導致連線性喪失。因此，除電路符號的替代以外，進一步的調整可能是必要的。
美國專利公開號2014/0039846披露一種資訊處理方法，其包括：當接收到用第二類別的第二元件替代第一元件的第一指令時，由電腦識別包括於包括多個元件的電路資料中的第一類別的第一元件；生成將要在其上佈置該第二元件的層；獲取該第一元件的引腳與該第二元件的引腳之間的關聯性；以及基於該關聯性用佈置於該些層上的該第二元件替代該第一元件。
將電路原理圖從第一製程設計套件轉換為第二製程設計套件的已知方法通常依賴經驗用戶定義的映射檔或類似查表機制，這些檔或機制的提供可能需要較大量的工作。而且，在一些情況下，對於替代、旋轉、移動和/或重新佈線電路符號，可能需要使用者手動輸入。
本發明提供有助於基本克服或至少減輕上述問題的其中一些或全部的方法及系統。
下面提供本發明的簡要總結，以提供本發明的一些態樣的基本理解。本發明內容並非詳盡概述本發明。其並非意圖識別本發明的關鍵或重要元件或劃定本發明的範圍。其唯一目的在於提供一些簡化的概念，作為後面所討論的更詳細說明的前序。
本文中所述的一種示例方法包括獲得表示第一電路符號的第一資料。該第一電路符號具有多個第一引腳。各第一引腳具有與其關聯的第一位置向量。獲得表示第二電路符號的第二資料。該第二電路符號具有多個第二引腳。各第二引腳具有與其關聯的第二位置向量。各該多個第二引腳與該多個第一引腳的其中相應一個對應。確定將位置向量映射至變換位置向量的調整變換。該調整變換最大限度地降低(minimize)基於一個或多個偏差的誤差測量。各偏差是變換位置向量與關聯該第一引腳的其中一個的該第一位置向量之間的偏差。通過將該調整變換應用於與對應該第一引腳的該第二引腳關聯的該第二位置向量可獲得該變換位置向量。
本文中所述的另一種示例方法包括獲得表示第一電路符號的第一資料。該第一電路符號具有多個第一引腳。各第一引腳具有與其關聯的第一位置向量。獲得表示第二電路符號的第二資料。該第二電路符號具有多個第二引腳。各第二引腳具有與其關聯的第二位置向量。各該多個第二引腳與該多個第一引腳的其中相應一個對應。確定將位置向量映射至變換位置向量的調整變換。該調整 變換的該確定包括計算調整取向矩陣。該調整取向矩陣的該計算包括形成第一引腳位置矩陣及第二引腳位置矩陣。各該第一引腳位置矩陣及該第二引腳位置矩陣具有等於或大於該多個第一引腳的數目及該多個第二引腳的數目的行數。該第一引腳位置矩陣的各該行包括通過自第一組位置向量的相應成員減去包括該多個第一位置向量以及如果該第一引腳位置矩陣及該第二引腳位置矩陣的行數大於該多個第一引腳的數目及該多個第二引腳的數目時，該多個第一位置向量的至少其中一個的至少一個副本的第一組位置向量的平均數所獲得的相應向量的分量。該第二引腳位置矩陣的各該行包括通過自第二組位置向量的相應成員減去包括該多個第二位置向量以及如果該第一引腳位置矩陣及該第二引腳位置矩陣的行數大於該多個第一引腳的數目及該多個第二引腳的數目時，該第二位置向量的至少其中一個的至少一個副本的第二組位置向量的平均數所獲得的相應向量的分量。該調整取向矩陣的該計算還包括計算該第一引腳位置矩陣及該第二引腳位置矩陣的其中一個的偽逆(pseudoinverse)，以及將該第一引腳位置矩陣及該第二引腳位置矩陣的該其中一個的該偽逆與該第一引腳位置矩陣及該第二引腳位置矩陣的其中另一個相乘。
本文中所披露的一種示例系統包括記憶體以及調整變換計算器。該記憶體包括第一資料及第二資料。該第一資料表示第一電路符號。該第一電路符號具有多個第一引腳。各該多個第一引腳具有與其關聯的第一位 置向量。該第二資料表示第二電路符號。該第二電路符號具有多個第二引腳。各該多個第二引腳具有與其關聯的第二位置向量，且各該多個第二引腳與該多個第一引腳的其中相應一個對應。該調整變換計算器確定將位置向量映射至變換位置向量的調整變換。該調整變換最大限度地降低基於一個或多個偏差的誤差測量。各偏差是變換位置向量與關聯該第一引腳的其中一個的該第一位置向量之間的偏差。通過將該調整變換應用於與對應該第一引腳的該第二引腳關聯的該第二位置向量可獲得該變換位置向量。
本文中所披露的另一種示例系統包括用以獲得表示第一電路符號的第一資料的構件。該第一電路符號具有多個第一引腳。各該多個第一引腳具有與其關聯的第一位置向量。該系統另外包括用以獲得表示第二電路符號的第二資料的構件。該第二電路符號具有多個第二引腳。各該多個第二引腳具有與其關聯的第二位置向量，且各該多個第二引腳與該多個第一引腳的其中相應一個對應。該系統還包括用以確定調整變換的構件。該調整變換將位置向量映射至變換位置向量，其中，該調整變換最大限度地降低誤差測量。該誤差測量基於一個或多個偏差。各偏差是變換位置向量與關聯該第一引腳的其中一個的該第一位置向量之間的偏差。通過將該調整變換應用於與對應該第一引腳的該第二引腳關聯的該第二位置向量可獲得該變換位置向量。
本文中所述的示例電腦可讀儲存媒體包括 代碼以使電腦獲得第一資料、獲得第二資料以及確定調整變換。該第一資料表示第一電路符號。該第一電路符號具有多個第一引腳。各第一引腳具有與其關聯的第一位置向量。該第二資料表示第二電路符號。該第二電路符號具有多個第二引腳。各該多個第二引腳具有與其關聯的第二位置向量。各該多個第二引腳與該多個第一引腳的其中相應一個對應。該調整變換將位置向量映射至變換位置向量。該調整變換最大限度地降低基於一個或多個偏差的誤差測量。各偏差是變換位置向量與關聯該第一引腳的其中一個的該第一位置向量之間的偏差。通過將該調整變換應用於與對應該第一引腳的該第二引腳關聯的該第二位置向量可獲得該變換位置向量。
100‧‧‧第一電晶體符號、電晶體符號
100a、100b、200a、200b、501a、501b、502a、502b、700a、800a、1001a、2000a、3000a‧‧‧實例
101、101a、101b、201、201a、201b‧‧‧源極引腳
102、102a、102b、202、202a、202b‧‧‧汲極引腳
103、103a、103b、203、203a、203b‧‧‧閘極引腳
104、104a、104b、204、204a、204b‧‧‧本體引腳
105、301‧‧‧原點
106‧‧‧對齊網格
107‧‧‧網格點
108、320‧‧‧x軸
109、321‧‧‧y軸
200‧‧‧第二電晶體符號、電晶體符號
300‧‧‧電路原理圖
302‧‧‧輸入節點
303‧‧‧輸出節點
304、305‧‧‧源極電位連接
306、307、701、701a、702、702a、703、703a、801、802、803、905、2001a、2002a、2003a、3001a、3002a、3003a‧‧‧引腳
308、309、310、311、312、313、314、315、501、502、906、907、908、909、910、911、1001、4001a、4002a‧‧‧導線
700‧‧‧第一電阻器符號、電阻器符號
800‧‧‧第二電阻器符號、電阻器符號
900‧‧‧電路原理圖
902‧‧‧輸入
903‧‧‧輸出
904‧‧‧源極電位連接
1200‧‧‧系統
1201‧‧‧記憶體
1202‧‧‧調整變換計算器
1203‧‧‧導線插入器
1204‧‧‧電路原理圖修改器
1205‧‧‧連線性檢查器
1300‧‧‧流程圖
1301、1302、1303、1304、1305、1306、1307、1308、1309‧‧‧步驟
參照下面的說明並結合附圖可理解本發明，這些附圖中類似的元件符號代表類似的元件，以及其中：第1及2圖示意顯示電晶體符號；第3圖示意顯示電路原理圖；第4圖顯示第1及2圖的電晶體符號相對電路符號主坐標系統的佈置；第5圖示意顯示第1及2圖的電晶體符號在對其中一個電晶體符號應用調整變換以後相對該電路符號主坐標系統的佈置；第6圖顯示電晶體符號替代以後的第3圖的電路原理 圖；第7及8圖示意顯示電阻器符號；第9圖示意顯示電路原理圖；第10圖顯示對其中一個電阻器符號應用調整變換以後第7及8圖的電阻器符號；第11圖顯示電路符號替代以後的第9圖的電路原理圖；第12圖示意顯示本文中所述的系統；以及第13圖顯示本文中所述的方法的流程圖。
儘管本文中所披露的發明主題容許各種修改及替代形式，但附圖中以示例形式顯示本發明主題的特定實施例，並在此進行詳細說明。不過，應當理解，本文中對特定實施例的說明並非意圖將本發明限於所披露的特定形式，相反，意圖涵蓋落入由申請專利範圍定義的本發明的精神及範圍內的所有修改、等同及替代。
下面說明本發明的各種示例實施例。出於清楚目的，不是實際實施中的全部特徵都在本說明書中進行說明。當然，應當瞭解，在任意此類實際實施例的開發中，必須作大量的特定實施決定以滿足開發者的特定目標，例如符合與系統相關及與商業相關的約束條件，該些約束條件因不同實施而異。而且，應當瞭解，此類開發努力可能複雜而耗時，但其仍然是本領域技術人員借助本發明所執行的常規程式。
現在將參照附圖來說明本發明。附圖中示意各種結構、系統及裝置僅是出於解釋目的以及避免使本發明與本領域技術人員熟知的細節混淆，但仍包括該些附圖以說明並解釋本發明的示例。本文中所使用的詞語和片語的意思應當被理解並解釋為與相關領域技術人員對這些詞語及片語的理解一致。這裡的術語或片語的連貫使用並不意圖暗含特別的定義，亦即與本領域技術人員所理解的通常或慣用意思不同的定義。若術語或片語意圖具有特定意思，亦即不同於本領域技術人員所理解的意思，則此類特別定義會以直接明確地提供該術語或片語的特定定義的定義方式明確表示於說明書中。
本文中披露的實施例提供用於包括具有不同電路符號足印(footprint)的實例主符號的製程設計套件之間的電路原理圖轉換的系統及方法。本文中所述的技術可包括電路符號的實例的反射(鏡像)、旋轉及平移的自動校正，重新定位的實例的重新佈線以重新建立正確的電路連線性，以及/或者網表的比較以驗證連線性保持的其中一種或多種。利用引腳位置矩陣的奇異值分解(singular value decomposition)可自動確定製程設計套件的電路符號足印之間的調整變換。可將座標取整為對齊網格(snap grid)。所得的誤差向量可被計算並轉換成導線座標。
在一些實施例中，儲存於資料庫(例如OpenAccess)中的電路原理圖可包含具有實例變換資訊的電路符號的實例。電路原理圖中的獨立電路元件的符號可 以作為實例主符號的電路符號的實例的形式提供，其中，電路符號的各實例包括實例變換資訊，該實例變換資訊可定義應用於實例主符號以提供電路符號的相應實例的旋轉、反射和/或平移(位移)。
對於第一電路符號的各實例，實例變換資訊可經儲存及恢復以將該第一電路符號的該實例反射、旋轉和/或移動至原點。接著，針對該電路符號的該實例的實例主符號所確定的調整變換可應用於將要替代該第一電路符號的該實例的第二電路符號的實例，其可包括執行該實例的反射、旋轉和/或平移。接著，所儲存的實例變換資訊可用以將已應用調整變換的該第二電路符號的該實例變換至電路原理圖中的目標位置。另外，基於針對主符號計算的導線座標可提供導線，且利用針對該第一電路符號的該實例所儲存的實例變換，可將該些導線變換至電路原理圖中的位置。在這些原理圖處理操作之前及之後，可將電路原理圖轉換成網表，並可使用標準的網表比較工具來驗證電路的連線性的保持狀況。
在一些實施例中，在調整變換的確定以及任意原理圖處理操作之前，可執行電路原理圖及電路符號的縮放以及/或者對齊網格(snap grid)的縮放。在一些實施例中，替代使用符號主座標中的調整變換，以及該調整變換及重新佈線以後的所儲存及重新應用的實例變換，在電路原理圖座標中可確定該第二電路符號的各實例的實例變換。
下面將參照附圖說明有關將電路原理圖從第一製程設計套件轉換為第二製程設計套件的技術的實施例。
第1圖顯示作為N通道場效應電晶體的實例主符號由第一製程設計套件提供的第一電晶體符號100的示意視圖。第一電晶體符號100包括源極引腳101、汲極引腳102、閘極引腳103以及本體引腳104。各引腳101、102、103、104可具有中心點及尺寸。在第1圖中，引腳101、102、103、104的尺寸由方塊示意顯示，其中，引腳101、102、103、104的中心點通常位於該些方塊的中心，是該些方塊的對角線相交的點。
引腳101、102、103、104的中心點可位於對齊網格106的多個網格點處。對齊網格106可為多個網格點的規則方形點陣。在第1圖中，元件符號107示例表示對齊網格106的多個網格點的其中一個。在第1圖的繪製平面中，對齊網格106的第一網格軸(本文中有時表示為“x軸”)沿水準方向延伸，且對齊網格106的第二網格軸(本文中有時表示為“y軸”)沿垂直方向延伸。第1圖中所示的對齊網格106的多個網格點之間的間距僅為示例性質，在一些實施例中，可使用更大或更小的間距。
在第1圖中，元件符號105表示電路符號主坐標系統的原點，該原點可位於對齊網格106的網格點107的其中一個之處。元件符號108、109分別表示該電路符號主坐標系統的x軸及y軸，它們與對齊網格106的x軸及 y軸對應。
引腳101、102、103、104的中心點的位置可由位置向量表示，其中，相應位置向量與各引腳101、102、103、104關聯。該些位置向量可為二維向量，各位置向量具有x分量及y分量，其中，x分量表示沿x軸108的引腳的中心點與原點105之間的距離，且y分量表示沿y軸109的引腳的中心點與原點105之間的距離。例如，與源極引腳101及汲極引腳102關聯的位置向量可分別具有為0的x分量以及與引腳101、102的中心點與原點105之間的相應距離對應的y分量。與閘極引腳103及本體引腳104關聯的位置向量具有為0的y分量以及非零的x分量。
下面，為方便起見，有時會將引腳101、102、103、104的中心點的位置表示為“引腳的位置”。
除引腳101、102、103、104以外，第一電晶體符號100可包括原圖，該原圖用以表示該N通道場效應電晶體的圖示的繪製。另外，依據已知電子設計自動化工具中所使用的已知電路符號，第一電晶體符號100可包括其它元件(第1圖中未顯示)，例如，實例邊界、參數和/或文本。
為提供第一電晶體符號100，該第一製程設計套件可包括表示第一電晶體符號100的資料。
第一電晶體符號100可用以提供電路原理圖。第3圖示意顯示電流鏡電路的電路圖300。電路圖300 包括第一電晶體符號100的兩個實例，該兩個實例由元件符號100a及100b表示，並代表該電流鏡電路的兩個N通道場效應電晶體。
在第3圖中，第一電晶體符號100的實例100a、100b的源極引腳分別由元件符號101a及101b表示，汲極引腳分別由元件符號102a及102b表示，閘極引腳分別由元件符號103a及103b表示，以及本體引腳分別由元件符號104a及104b表示。電路原理圖300可以表示電路原理圖300的資料形式提供，該資料可通過作為電子電路的電腦輔助設計的工具的電腦程式的方式創建。為提供第一電晶體符號100的實例100a、100b，表示電路原理圖300的資料可包括針對各實例100a、100b定義第一電晶體符號100的實例將被列入該電路原理圖中的資料，以及將上面參照第1圖所述的電路符號主坐標系統(其包括原點105及坐標軸108、109)中的位置向量映射至電路原理圖300的原理圖坐標系統中的位置向量的實例變換。在第3圖中，元件符號301表示該原理圖坐標系統的原點。另外，該原理圖坐標系統可具有x軸320及y軸321。在第3圖的繪製平面中，x軸320沿水準方向延伸，且y軸沿垂直方向延伸。
與第一電晶體符號100的實例100a關聯的實例變換定義原理圖坐標系統中的實例100a的元件(例如引腳101a、102a、103a、104a)與作為電路符號主坐標系統中的實例100a的實例主符號的第一電晶體符號100的相應 元件的位置之間的關係。實例變換可為二維剛性變換，該變換可包括反射、旋轉和/或平移(位移)。類似地，第一電晶體符號100的實例100b可具有與其關聯的實例變換，該變換定義原理圖坐標系統中的實例100b的元件的位置(例如實例100b的引腳101b、102b、103b、104b的位置)與電路符號主坐標系統中的第一電晶體符號100的相應元件(例如引腳101、102、103、104)的位置之間的關係。與實例100b關聯的實例變換可為二維剛性變換，其包括通常不同於與實例100a關聯的實例變換的反射、旋轉和/或平移。如此，實例100a、100b可設於電路原理圖300中的不同位置，且它們可具有不同的取向，如第3圖中所示。在第3圖的示例中，與實例100a關聯的實例變換可定義平移以及在y坐標軸321的反射。與實例100b關聯的實例變換可僅定義平移。
在一些實施例中，實例變換可依據下面的式子以實例取向矩陣Ri及實例平移向量ti的形式提供：q k =R i P k +t i (1)其中，pk表示電路符號主坐標系統中的第一電晶體符號100的引腳101、102、103、104的第k個的位置向量，且qk表示原理圖坐標系統中第i個實例的引腳的第k個的位置向量。ti表示與第一電晶體符號100的第i個實例關聯的二維實例平移向量，且Ri表示與第一電晶體符號100的第i個實例關聯的2×2實例取向矩陣，其可定義旋轉和/或反射。實例取向矩陣Ri可表示為反射矩陣si與旋轉矩陣Ri,θ 的積Ri=siRi,θ 。
在第1及3圖的示例中，實例100a可由索引i=1表示，且實例100b可由索引i=2表示。源極引腳101、101a、101b可由索引k=1表示，汲極引腳102、102a、102b可由索引k=2表示，閘極引腳103、103a、103b可由索引k=3表示，以及本體引腳104、104a、104b可由索引k=4表示。
在提供包括不同於電晶體符號的電路符號的電路原理圖的實施例中，該電路原理圖中的該些電路符號也可以實例主符號的實例形式提供，其中，各實例具有與其關聯的實例變換，該實例變換將電路符號主坐標系統中的位置向量映射至原理圖坐標系統中的位置向量，其中，該實例變換以取向矩陣及平移向量的形式提供。下面將詳細說明其中使用不同於電晶體符號的電路符號的示例實施例。
電路原理圖300中的位置可設於具有預定間距的多個網格點107的對齊網格上，與上面參考第1圖所述的對齊網格106類似。為方便起見，在第3圖中已略去該對齊網格。實例變換的平移向量的分量可限於對齊網格的間距的倍數，且實例變換的取向矩陣可限於定義旋轉角度為90°的倍數的旋轉以及圍繞x軸及y軸的反射的矩陣。如此，可確保實例100a、100b的引腳101a、101b、102a、102b、103a、103b、104a、104b的位置位於對齊網格的網格位置。
旋轉矩陣Ri,θ可為具有旋轉角度θ的如下形式的矩陣。
反射矩陣可為定義在x軸的反射的一個矩陣s i =M x =、定義在y軸的反射的一個矩陣s i =M y =以及無反射的二維單位矩陣的其中一個。
因此，當旋轉限於旋轉角度θ為90°的倍數時，實例取向矩陣Ri的各元素具有值-1、0及1的其中一個，從而可避免三角函數sin(θ)及cos(θ)的高代價計算。
針對上述限制可允許的取向的變化可通過總的八個不同的實例取向矩陣說明，這些矩陣可表示為R0、R90、R180、R270、MY、MYR90、MX以及MXR90，其中，後面跟著一個數位的字母R表示旋轉與該數字對應的旋轉角度，MX表示在x軸的反射，以及MY表示在y軸的反射。因此，在第3圖中所示的電路原理圖300中，與實例100a關聯的實例變換可由實例取向矩陣MY及平移向量表示。與實例100b關聯的實例變換可由實例取向矩陣R0及平移向量表示。
在一些實施例中，電路原理圖300、第一電晶體符號100以及可選的其它電路符號可以OpenAccess資料庫格式儲存，該格式可由電子設計自動化工具(例如Cadence Virtuoso或Synopsys Custom Designer)讀取。在此類實施例中，對於電路符號的各實例，實例變換可以OpenAccess字串屬性orient(包括實例取向矩陣名稱R0、 R90、R180、R270、MY、MYR90、MX、MXR90的其中一個以指定實例取向矩陣Ri)以及OpenAccess清單屬性xy(包括實例平移向量ti的x及y分量)的形式儲存。與字串屬性orient的值對應的矩陣可預先定義於OpenAcess資料庫中。
除第一電晶體符號100的實例100a、100b以外，電路原理圖300還可包括輸入節點302、輸出節點303、導線308至315，以及源極電位連接304、305，該源極電位連接表示電流鏡電路與源極電位VSS的連接，該源極電位VSS可約等於體電位(mass potential)。源極電位連接304、305可具有引腳306、307，該引腳具有與第一電晶體符號100的實例100a、100b的引腳101a至104b的特徵類似的特徵。
依據此類電路符號儲存的已知技術可儲存輸入節點302、303，源極電位連接304、305以及導線308至315。
在一些實施例中，可執行縮放以提供電路原理圖300中所有物件的座標的放大，該些物件包括輸入節點302、輸出節點303、導線308至315，以及源極電位連接304、305。而且，可執行第一電晶體符號100的所有座標(包括其引腳101、102、103、104的座標)的縮放以及電路符號100的實例100a、100b的實例平移向量ti的縮放，以提供實例100a、100b的座標的放大。通過將各座標與共同縮放因數相乘可執行座標的縮放。該因數可為對齊網格106的間距及電路原理圖300的對齊網格的整數倍，以保 持電路原理圖300的物件在對齊網格上的佈置以及電路的連線性。
如果第一製程設計套件的實例主符號(包括第一電晶體符號100)的足印的平均尺寸與第二製程設計套件的實例主符號(包括下面將作說明的第二電晶體符號200)的足印的平均尺寸之間有相對地較大差別，則可執行縮放。電路符號的足印區域是包括電路符號的引腳的區域。
例如，如果第一製程設計套件的電路符號的足印的平均尺寸是第二製程設計套件的電路符號的足印的平均尺寸的大約一半，則可執行因數為2的縮放。
在其它實施例中，通過縮放因數的方式可執行網格的調整。例如，在一些實施例中，座標可內部儲存於記憶體中，作為資料庫單元中的整數加上定義資料庫單元與使用者單元之間的轉換的共同縮放因數。在此類實施例中，可調整該共同縮放因數，以執行電路原理圖及電路符號的縮放。
在另外的實施例中，可省略縮放，即使在第一與第二製程設計套件的實例主符號的足印的平均尺寸之間有差別。
為方便起見，下面將省略縮放的詳細說明，且下面提到的座標可表示已縮放的座標以及未縮放的座標。
第2圖顯示第二電晶體符號200的示意視圖。為方便起見，在第1圖中(一方面)以及在第2圖中(另 一方面)，類似的元件符號用以表示類似的元件。除非另外明確說明，否則第1及2圖中由類似的元件符號表示的元件可具有相應的特徵，且有時將省略其詳細說明。
第二電晶體符號200可為由第二製程設計套件提供的N通道場效應電晶體的符號，其中，該第二製程設計套件是與提供上面參照第1圖所述的第一電晶體符號100的第一製程設計套件不同的製程設計套件。例如，該第一製程設計套件可為提供專有電路符號的製程設計套件，且該第二製程設計套件可為依據標準(例如OpenPDK V1.0標準)提供電路符號的製程設計套件。
第二電晶體符號200包括源極引腳201、汲極引腳202、閘極引腳203以及本體引腳204，它們分別與第一電晶體符號100的源極引腳101、汲極引腳102、閘極引腳103以及本體引腳104對應。各引腳201、202、203、204可具有尺寸(其在第2圖中示意顯示為矩形)以及中心點(其可具有與表示該引腳的尺寸的方塊的中心對應的位置)。為方便起見，本文中有時會將引腳201、202、203、204的中心點的位置表示為引腳的位置。
引腳201、202、203、204的位置可由具有原點105及坐標軸108、109的主坐標系統中的位置向量定義，且引腳201、202、203、204的中心點可位於對齊網格106的網格點上，其中，該些網格點的其中一個由第2圖中的元件符號107示意表示。
第1圖中所示的第一電晶體符號100及第2 圖中所示的第二電晶體符號200都可用以表示提供於電子電路的物理實施中的相同或相似類型的場效應電晶體。不過，電晶體符號100、200可具有不同的特徵，該些特徵尤其與相對電路符號主坐標系統的相應引腳的位置有關，通過第4圖作進一步說明。
第4圖中顯示第一電晶體符號100及第二電晶體符號200，其中，第一電晶體符號100由虛線表示，以更清楚地區分第一電晶體符號100與第二電晶體符號200。如第4圖中所示，在第二電晶體符號200中，引腳201、202、203、204的位置通常沿x軸108相對第一電晶體符號100的引腳101、102、103、104的其中相應一個偏移。另外，電晶體符號100、200的引腳的相對佈置也相互不同。儘管在第一電晶體符號100與第二電晶體符號200中，沿x方向的閘極引腳與本體引腳之間的距離基本相等，但在第二電晶體符號200中，本體引腳204設於與源極引腳201及汲極引腳202相同的x座標，而在第一電晶體符號100中，本體引腳104設於比源極引腳101及汲極引腳102大的x座標。
為了將電路原理圖例如第3圖中所示的電路原理圖300自提供第一電晶體符號100的第一製程設計套件轉換為提供第二電晶體符號200的第二製程設計套件，如果僅用第二電晶體符號200替代為用於實例100a、100b的提供實例主符號的第一電晶體符號100，並將實例100a、100b的實例變換應用於第二電晶體符號200，則如 此獲得的第二電晶體符號200的實例將在與第一電晶體符號100的實例100a、100b的引腳101a至104b不同的位置具有引腳。如此，第二電晶體符號200的實例的引腳的位置以及向其提供連接的導線308至315的端部的位置(見第3圖)將不再匹配。
在一些實施例中，可確定調整變換，該調整變換將位置向量映射至變換位置向量。在一些實施例中，該調整變換可經調整以將電路符號主坐標系統中的位置向量變換為電路符號主坐標系統中的變換位置向量，且它可經調整以於利用該調整變換進行變換時，使第二電路符號(例如第二電晶體符號200)的引腳的位置與第一電路符號(例如第一電晶體符號100)的相應引腳的位置接近或者基本相等。在一些實施例中，針對表示特定電路元件的第一製程設計套件與第二製程設計套件的每對電路符號，可分別確定一次調整變換。
為將電路原理圖自包括第一電路符號的第一製程設計套件轉換為包括第二電路符號的第二製程設計套件，對於第一電路符號的各實例，通過將調整變換與第一電路符號的實例的實例變換聯繫，可確定將要替代第一電路符號的實例的第二電路符號的實例的實例變換。第二電路符號的實例的實例變換可與調整變換及第一電路符號的實例的實例變換的組合對應，其中，在第一電路符號的實例變換之前執行調整變換。如此，可提供第二電路符號的實例，其中，電路原理圖中的第二電路符號的實例的引 腳至少接近原始電路圖中第一電路符號的實例的引腳。
如果第二電路符號中的如此獲得的實例的引腳位置與第一電路符號的原始實例的引腳位置之間有差別，則可包括線段於該電路原理圖內，以保持電路的電性連線性。在一些實施例中，針對電路符號主坐標系統中的每個電路符號，可確定一次表示一條或多條線段的資料，並可接著提供其實例，其中，對於各實例，通過第一電路符號的實例變換的方式，將電路符號主坐標系統中所確定的線段的位置變換入原理圖坐標系統中。
而且，在一些實施例中，可執行由電路原理圖表示的電路的連線性的檢查，以確保由電路原理圖表示的電路的連線性不受用第二電路符號的實例替代第一電路符號的實例以及提供線段的實例的負面影響。
下面將參照第12及13圖詳細說明此類技術。
第12圖顯示依據一個實施例的系統1290的示意視圖。系統1200可以一台電腦或者通過網路連接的多台電腦形式提供，該一台或多台電腦配置有一個或多個電腦程式，該電腦程式包括代碼以使該一台或多台電腦依據實施例執行方法。該一個或多個電腦程式可以有形的電腦可讀儲存媒體(例如CD-ROM、DVD-ROM、硬碟和/或固態儲存媒體)的形式提供，或者它們可通過網路連接被提供給該一台或多台電腦。在一些實施例中，該一個或多個電腦程式可利用程式設計語言(例如Cadence SKILL)實施，以 針對電路原理圖的各實例操作於OpenAccess原理圖設計資料庫上。可以C++或者例如TCL、Python和/或Perl等指令碼語言實施的較低級別的OpenAccess功能也可用以操作於原理圖設計資料庫上。在一些實施例中，矩陣計算(下面將作詳細說明)可以例如GNU Octave和/或Matlab等特別適於矩陣計算的程式設計語言實施。經計算的取向矩陣、平移向量和/或誤差向量可被格式化為例如Cadence SKILL語言中的程式指令，以向主原理圖轉換過程輸出副程式、連結和/或外掛程式。
系統1200可包括記憶體1201，其中，例如通過OpenAccess資料庫的方式可儲存表示電路符號及電路原理圖的資料。
系統1200還可包括調整變換計算器1202、導線插入器1203以及電路原理圖修改器1204。另外，系統1200可包括連線性檢查器1205。調整變換計算器1202、導線插入器1203、電路原理圖修改器1204以及連線性檢查器1205可以如上所述實施的電腦程式和/或電腦程式的模組形式提供。
下面將參照第13圖說明可通過系統1200的方式執行的依據實施例的方法，第13圖顯示依據一個實施例的方法的示意流程圖1300。
在步驟1301，可提供第一及第二製程設計套件。各該第一及第二製程設計套件可包括電路元件的一個或多個實例主符號。在一些實施例中，該第一製程設計 套件可包括第1圖中所示的第一電晶體符號100，且該第二製程設計套件可包括第2圖中所示的第二電晶體符號200。另外，各該第一及第二製程設計套件可包括其它電路元件的實例主符號，下面將說明其例子。該些製程設計套件可儲存於系統1200的記憶體1201中。
在步驟1302，依據本文中所披露的至少某些方法可計算調整變換，其中，可針對電路元件的一對或多對的每個計算調整變換，其中，各對電路元件包括第一電路元件(其可為來自該第一製程設計套件的實例主符號)以及第二電路元件(其可為來自該第二製程設計套件的實例主符號)。尤其，第一電晶體符號100與第二電晶體符號200可形成一對電路符號。通過系統1200的調整變換計算器1202可執行調整變換的計算。針對屬於共同符號足印類的電路元件對，例如場效應電晶體、電阻器及電容器，可執行一次調整變換的計算，且無需針對具有不同符號名稱(可用以進一步指定由電路符號所表示的電路元件)的相同符號足印類的電路符號獨立執行調整變換的計算。
在一個實施例中，調整變換可包括反射、旋轉和/或平移，其中，反射和/或旋轉可由取向矩陣Ra表示，且平移可由平移向量ta表示。與上述實例變換的取向矩陣Ri及平移向量ti類似，調整變換的取向矩陣Ra可為2×2矩陣，且調整變換的平移向量ta可為二維向量。
如此，在一個例子中，依據下面的式子可獲得變換位置向量rk'： 其中，pk'表示應用調整變換的位置向量，其可為定義第二電路符號的引腳的第k個的位置的位置向量。在該例子中，其中第二電路符號是第二電晶體符號200，位置向量pk'可定義引腳201、202、203、204的位置，其中，各引腳201、202、203、204由索引k表示。在一些實施例中，索引k=1可表示源極引腳201，索引k=2可表示汲極引腳202，索引k=3可表示閘極引腳203，以及索引k=4可表示本體引腳204。對於電晶體符號100、200的引腳的索引k的分配可經選擇以使電晶體符號100、200的相應引腳具有相同的索引k。本文中，如果引腳表示與具有相同功能的電路符號所表示的電路元件的連接，則將引腳表示為“對應引腳”。例如，第二電晶體符號200的源極引腳201可對應第一電晶體符號的源極引腳101，汲極引腳202可對應汲極引腳102，閘極引腳203可對應閘極引腳103，以及本體引腳204可對應本體引腳104。
取向矩陣Ra及平移向量ta可經調整以最大限度地降低誤差測量E，其中，可依據下式計算誤差測量E：
這裡，n表示第一電路符號及第二電路符號的引腳的數目。在第一電路符號為第一電晶體符號100且第二電路符號為第二電晶體符號200的實施例中，n=4。ek是第一電路符號與第二電路符號的引腳的第k個的誤差向 量，是變換位置向量rk'與定義第一電路符號的第k個引腳的位置的位置向量pk之間的差。因此，誤差測量E包括多個第一引腳的在通過將調整變換應用於與對應第一引腳的第二引腳關聯的第二位置向量所獲得的變換位置向量與關聯第一引腳的第一位置向量之間的偏差之和。該偏差包括在變換位置向量與關聯第一引腳的第一位置向量之間的差的向量範數的平方。
與上述實例變換的取向矩陣及平移向量類似，取向矩陣Ra及平移向量ta可經調整以使變換位置向量rk'與對齊網格106匹配。平移向量ta的分量可為對齊網格106的間距的倍數，且取向矩陣Ra可經調整以提供旋轉角度為90度的倍數的旋轉與在x軸108及y軸109的其中之一上的反射的組合。
因此，調整變換可經調整以在變換位置向量rk'與對齊網格匹配的約束條件下，最大限度地降低誤差測量E。
下面將說明可用以計算調整變換並基於奇異值分解的示例技術。如下面詳細所述，這些技術無需包括誤差測量E的明確計算。不過，這些方法可產生調整變換，該調整變換在變換位置向量rk'與對齊網格匹配的約束條件下最大限度地降低誤差測量E。因此，如下所述計算的調整變換將被理解為最大限度地降低上式3中所定義的誤差測量E的調整變換。
可依據下式計算向量ak： 其中，表示第一位置向量pk的平均數。
另外，可依據下式計算向量bk： 其中，表示位置向量pk'的平均數。
接著，依據下式可使用向量ak及bk形成第一引腳位置矩陣A及第二引腳位置矩陣B：
引腳位置矩陣A及B可為具有兩列以及與第一電路符號及第二電路符號的引腳的數目相等的行數的矩陣。第一引腳位置矩陣A的行包括通過從位置向量pk減去位置向量pk的平均數所獲得的向量的分量，且第二引腳位置矩陣B的行包括通過從第一位置向量pk減去位置向量pk’的平均數所獲得的向量的分量。
在一些實施例中，矩陣A及B可具有大於第一電路符號及第二電路符號的引腳的數目的行數，例如行數等於一加上第一電路符號及第二電路符號的引腳的數目。在全對稱電路符號的某些情況下，對於取向矩陣Ra(旋轉及反射)可具有兩個解，導致相同的誤差測量。在此類情況下，這些解的其中一個，例如，降低電路原理圖中導線 的電性短路的風險的解可通過複製引腳的至少其中一個的位置向量來加強，這可改變位置向量的平均數，從而打破對稱性。
可計算矩陣A及B的其中一個的偽逆，尤其是矩陣A的偽逆A+。在一些實施例中，這可通過矩陣A的奇異值分解的方式來達成，其中，可計算矩陣U、W及V，以使：A=UWV T (8)其中，U為具有n列及兩行的正交矩陣，W為具有兩行及兩列的對角矩陣，以及其中，矩陣W的對角線元素是矩陣A的奇異值，且V是具有兩列及兩行的正交矩陣。
利用計算奇異值分解的已知數值技術可計算矩陣A的奇異值分解。
根據矩陣A的奇異值分解，可依據下式計算偽逆A+：A+=VW+UT (9)其中，W+是具有兩行及兩列的對角矩陣，其中，通過計算基本不同於零的矩陣W的各對角線元素的逆並提供該逆作為矩陣W+的一個對角線元素，以及針對基本等於零的矩陣W的各對角線元素提供矩陣W+的對角線元素，可從矩陣W的對角線元素計算矩陣W+的對角線元素。通過矩陣的奇異值分解的方式計算矩陣的偽逆的技術是已知的。
接著，依據下式可計算預調整取向矩陣Ra,p以及預平移向量ta,p： R a,p =A + B (10)
接著，通過將預調整取向矩陣Ra,p取整為多個預定約束取向變化的其中一個並通過將預調整平移向量ta,p取整為對齊網格106可計算調整變換的調整取向矩陣Ra及調整平移向量ta(見式2)。該多個預定約束取向變化可包括角度為90度的倍數的旋轉以及在x軸108及y軸109的其中一個的反射。
如上詳細所述，當旋轉限於角度為90度的倍數的旋轉時，實例旋轉矩陣的各元素具有值-1、0及1的其中一個。在此類實施例中，通過將預調整取向矩陣Ra,p的各元素取整為與值-1、0及1中最接近的一個可獲得調整取向矩陣Ra。接著，如此獲得的調整取向矩陣Ra可被映射至OpenAccess字串屬性orient的八個預定義取向名稱R0、R90、R180、R270、MY、MYR90、MX、MXR90的其中一個，以儲存於OpenAccess資料庫中。
通過將預調整平移向量ta,p的各分量取整為對齊網格的間距的整數倍數，可自預調整平移向量ta,p獲得調整平移向量ta。
第5圖顯示第一電晶體符號100及第二電晶體符號200，其中，第一電晶體符號100顯示於相對具有原點105及坐標軸108、109的電路符號主坐標系統的原始 位置，而依據本文中所述的調整變換，相對於該電路符號主坐標系統的第二電晶體符號200的佈置已被改變。與第4圖類似，在第5圖中，第一電晶體符號100通過虛線顯示，且第二電晶體符號200通過實線顯示，以更清楚地區分電晶體符號100、200。
通過第5圖與第4圖(其中，兩個電晶體符號100、200都顯示於其相對電路符號主坐標系統的原始位置)的比較可看出，在該示例中，調整變換不包括旋轉但包括與x軸108的方向相反的方向的平移。在相對於電路符號主坐標系統的第二電晶體符號200的原始佈置中，閘極引腳203位於原點105。在將調整變換應用於第二電晶體符號200的元件(包括引腳201、202、203、204)的位置以後，第二電晶體符號200的本體引腳204位於原點105。
如第5圖中所示，該調整變換將定義第二電晶體符號200的源極引腳201及汲極引腳202的位置的電路符號主坐標系統中的位置向量映射至基本等於分別定義第一電晶體符號100的源極引腳101及汲極引腳102的位置向量的變換位置向量。因此，在應用該調整變換以後，源極引腳201的中心點的位置與源極引腳101的中心點的位置匹配，且汲極引腳202的中心點的位置與汲極引腳102的中心點的位置匹配。
不過，由於在第二電晶體符號200中，相對於源極引腳201及汲極引腳202的閘極引腳203及本體引腳204的佈置不同於相對於源極引腳101及汲極引腳102 的閘極引腳103及本體引腳104的佈置，因此即使在應用該調整變換以後，閘極引腳103與閘極引腳203的中心點的位置也不匹配。而且，本體引腳104與本體引腳204的中心點的位置不匹配。
第一電晶體符號100的引腳101、102、103、104的佈置與通過調整變換的方式變換定義其位置的位置向量以後所獲得的第二電晶體符號200的引腳201、202、203、204的佈置之間的匹配可由誤差向量ek表示(見式(2)及(3))。在第5圖中所示的例子中，源極引腳101、201的誤差向量e1及汲極引腳102、202的誤差向量e2可具有等於零的分量。閘極引腳103、203的誤差向量e3是自閘極引腳103的位置指向在應用調整變換後所獲得的閘極引腳203的調整位置的向量，該誤差向量可具有為零的y分量以及與第5圖中所示的引腳203、103之間的距離對應的x分量。本體引腳104、204的誤差向量e4是自本體引腳104的位置指向在應用調整變換後所獲得的本體引腳204的調整位置的向量，該誤差向量可具有為零的y分量以及與第5圖中所示的引腳204、104之間的距離對應的x分量。在第5圖中所示的示例中，誤差向量e3及e4的x分量可具有負值。
進一步參照第13圖，在步驟1303，在一個示例實施例中，基於在應用調整變換以後所獲得的第二電路符號的引腳的位置與第一電路符號的引腳的位置之間的匹配的誤差可形成表示線段的資料。這可通過系統1200 的導線插入器1203來達成。對於包括第一電路符號的一個引腳以及第二電路符號的一個相應引腳的每對引腳，可依據式(2)及(3)計算誤差向量ek。如果誤差向量ek的所有分量都約為零，則無需提供線段。如果誤差向量的分量的至少其中一個不為零，則可針對該對引腳提供導線。該導線可將由變換位置向量(通過將調整變換應用於與第二電路元件的引腳關聯的位置向量獲得)表示的位置與由與第一電路元件的引腳關聯的位置向量表示的位置連接。該導線可具有位於第一電路元件的引腳的位置的第一端點(具有對應於與第一電路元件的引腳關聯的位置向量的座標)以及位於第二電路元件的引腳的位置的第二端點(具有通過向與第一電路元件的引腳關聯的位置向量添加針對該對引腳計算的誤差向量所獲得的座標)。該導線可以一條或兩條線段的形式提供，其中，如果誤差向量的僅其中一個分量不同於零，則可提供連接導線的端點的一條線段；如果誤差向量的兩個分量都不同於零，則可提供兩條線段，其中一條線段沿x軸108的方向延伸且另一條沿y軸109的方向延伸。如此，可提供正交(曼哈頓)佈線。
如果提供兩條線段，則具有兩種可能性來提供佈線。其中一種是在導線的第一端點提供沿x軸的方向延伸的線段，並將該線段與沿y軸的方向延伸的線段連接，使其延伸至導線的第二端點。另一種可能性是在導線的第一端點提供沿y軸的方向延伸的線段，並將該線段與沿x軸的方向延伸的線段連接，以使其延伸至第二端點。 在一些實施例中，可提供用戶的手動輸入以選擇這兩種可能性的其中一種，例如，為了基本避免或減少線段與引腳及導線相交的風險，該相交可能造成電性短路以及電路的連線性的不良變化。
在第5圖的示例中，可提供連接閘極引腳103、203的位置的導線501，且可提供連接本體引腳104、204的位置的導線502。由於閘極引腳103、203及本體引腳104、204的誤差向量e3及e4分別僅具有一個非零分量，因此各導線501、502可包括沿x軸108的方向延伸的單條線段。
請進一步參照第13圖，在步驟1304，可由系統1200接收電路原理圖，例如上面參照第3圖所述的電路原理圖300。如上所述，電路原理圖300可以資料形式提供，該資料針對第一電晶體符號100的各實例100a、100b定義可包括實例取向矩陣Ri及實例平移向量ti的實例變換。
在一個示例實施例中，在步驟1305，可提取電路原理圖300的第一網表。這可通過系統1200的連線性檢查器1205來達成。第一網表可說明電路原理圖的元件之間的連線性，例如，由電路原理圖300說明的電流鏡電路的元件，該電路原理圖300包括兩個N通道場效應電晶體(由第一電晶體符號100的實例100a、100b表示)、電性連接(由導線308及315表示)，以及該電流鏡電路與其它電路的連接(由輸入302、輸出303以及源極電位連接304、 305表示)。不同於電路原理圖300，第一網表不需要包括定義表示電路元件的電路原理圖300的元件的位置的資訊。因此，自訂相同電路的兩個不同電路原理圖提取網表可產生基本相同的網表。
在一個示例實施例中，在步驟1306，可用第二電晶體符號1200的相應實例替代第一電晶體符號100的各實例100a、100b。這可通過系統1200的電路原理圖修改器1204來達成。第6圖顯示用第二電晶體符號200的實例200a替代第一電晶體符號100的實例100a且用第二電晶體符號200的實例200b替代第一電晶體符號100的實例100b以後的電路原理圖300。在第6圖中，元件符號201a、202a、203a、204a表示與第二電晶體符號200的引腳201、202、203、204對應的實例200a的引腳，且元件符號201b、202b、203b、204b表示分別與第二電晶體符號200的引腳201、202、203、204對應的實例200b的引腳。
為執行用第二電晶體符號200的實例200a、200b對第一電晶體100的實例100a、100b的替代，可向第二電晶體符號200的各實例200a、200b提供實例變換。各該實例變換可包括實例取向矩陣Ri'及實例平移向量ti'，其中，索引i表示第二電晶體符號200的實例。例如，依據用以表示第一電晶體符號100的實例100a、100b的索引i，索引i=1可用以表示實例200a，且索引i=2可用以表示實例200b。依據下式，基於在步驟1302計算的調整變換以及第一電晶體符號100的相應實例的實例變換可提供 該實例變換：
這可通過首先儲存並恢復第一電晶體符號100的實例的實例變換，對第二電晶體符號200的實例應用調整變換，並接著對其應用第一電晶體符號100的實例的儲存實例變換來達成。在這樣做時，可獲得調整變換與儲存實例變換的聯繫。
通過使用第二電晶體符號200的實例的實例變換的實例取向矩陣Ri’及實例平移向量ti’，表示包括原點301及坐標軸320、321的原理圖坐標系統中的第二電晶體符號200的實例的引腳的位置的位置向量qk’可依據下式計算：
在第二電晶體符號200的實例200a對第一電晶體符號100的實例100a的替代中，表示實例100a的資料可由表示實例200a的資料(其可包括將要提供第二電晶體符號200的實例的資訊)以及實例200a的實例變換(其可包括依據式(12)及(13)的實例取向矩陣及實例變換向量)替代。
類似地，在第二電晶體符號200的實例200b對第一電晶體符號的實例100b的替代中，可移除表示實例100b的資料，並可提供表示實例200b的資料，該資料可 包括實例200b的實例變換。另外，對於第二電晶體符號200的各實例200a、200b，可在電路原理圖300中提供導線501、502的實例。在第6圖中，元件符號501a及502a表示與第二電晶體符號200的實例200a關聯的導線501、502的實例，且元件符號501b、502b表示與實例200b關聯的導線501、502的實例。
為提供導線501、502的實例501a、502a，針對第一電晶體符號100的實例100a所儲存的實例變換可應用於定義電路符號主坐標系統中的線段導線501、502的端點的位置的位置向量，以獲得定義原理圖坐標系統中的實例501a、502a的線段的端點的位置向量。接著，可基於該位置向量提供定義實例501a、502a的線段的資料。類似地，為提供導線501、502的實例501b、502b，針對第一電晶體100的實例100b所儲存的實例變換可應用於定義電路符號主坐標系統中的導線501、502的端點的位置的位置向量，以獲得定義原理圖坐標系統中的實例501b、501b的線段的端點的位置向量。接著，可基於該位置向量提供定義實例501b、502b的線段的資料。
實例501a、501b可提供引腳203a、203b與導線310之間的連接。導線502a可提供本體引腳204a與導線312之間的連接，且導線502b可提供本體引腳204b與導線313之間的連接。與源極引腳101a、101b設於基本相同的位置的源極引腳201a、201b可分別與導線314及315直接連接。類似地，與汲極引腳202a、202b設於基本相同 的位置的汲極引腳102a、102b可分別與導線308、311直接連接。
因此，第二電晶體符號200的實例200a、200b可以與第一電晶體符號100的實例100a、100b基本相同的方式與電路原理圖300的導線連接，以保持電路的連線性。
請再次參照第13圖，在用第二電晶體符號200的實例200a、200b替代第一電晶體符號100的實例100a、100b以後並在插入導線501a、501b、502a、502b以後，在一些實施例中，在步驟1307，可執行電路原理圖300的清理。電路原理圖300的清理可包括移除僅於一端連接的浮接(外延)線頭。線頭通常不改變電路的連線性。不過，移除線頭可有助於提升使用者對電路原理圖的可讀性。為移除線頭，線頭可通過傳統電子設計自動化工具(例如Cadence SKILL)所提供的功能的方式來標記，並通過電子設計自動化工具所提供的刪除功能來移除。在其它實施例中，電路原理圖300的清理可省略。
請再次參照第13圖，在步驟1308，可提取電路原理圖300的第二網表，其中，該第二網表提取自在用第二電晶體符號200的實例200a、200b替代第一電晶體符號100的實例100a、100b以後且插入導線501a、501b、502a、502b以後且(如果已執行電路原理圖300的清理)在清理電路原理圖300以後所獲得的電路原理圖300。這可通過系統1200的連線性檢查器1205來達成。
隨後，在步驟1309，可比較第一網表與第二網表，以確定是否已在電路原理圖300中引入錯誤或者電路原理圖300是否仍正確地表示電流鏡電路，例如通過連線性檢查器1205的方式。錯誤可由例如電路原理圖中所插入的導線的相交，或者在清理電路原理圖300時意外移除提供電性連接的導線引起。如果存在錯誤，則可執行電路原理圖300的手動編輯，以更正該錯誤。作為附加和/或替代，包括第一電晶體符號100的實例100a、100b的原始電路原理圖300(作為來自第一製程設計套件的第一電路符號的示例)可通過電子設計自動化工具的方式修改，以在實例100a、100b之間提供較大距離。在這樣做時，該電子設計自動化工具可利用傳統方法自動移動與實例100a、100b連接的導線，以保持電路的連線性。接著，基於所修改的電路原理圖可再次執行在步驟1304至1309執行的動作。在實例100a、100b之間提供較大的距離可有助於減少與引起短路發生的導線相交有關的錯誤風險。
下面將參照第7至11圖說明電路符號及電路原理圖的另外例子，其中，可依據實施例的方法執行電路符號的實例的替代。為處理該電路符號及電路原理圖，可使用上面參照第1至6、12及13圖所述的系統及方法。為方便起見，在第1至6圖中(一方面)且在第7至11圖中(另一方面)，類似的元件符號有時用以表示類似的元件，且有時會省略其詳細說明。
第7圖示意說明電阻器符號700的一個示例 實施例。電阻器符號700包括原圖以及引腳701、702、703。針對各引腳701、702、703可提供位置向量，該位置向量定義相對具有原點105、x軸108及y軸109的電路符號主坐標系統的相應引腳的中心點的位置。引腳701、702、703以及可選的第一電阻器符號700的其它元件的中心點的位置可定義於對齊網格106的網格點上。第一電阻器符號700可通過第一製程設計套件提供。
第8圖顯示第二電阻器符號800的一個示例實施例的示意視圖。第二電阻器符號800(可通過第二製程設計套件提供)可包括原圖以及引腳801、802、803。各引腳801、802、803可具有位於對齊網格106的網格點上的中心點。第二電阻器符號800可表示與第一電阻器符號700的類型相同的電阻器。引腳801可與引腳701對應，引腳802可與引腳702對應，以及引腳803可與引腳703對應。各引腳801、802、803可具有與其關聯的位置向量，該位置向量定義相對具有原點105、x軸108及y軸109的電路符號主坐標系統的相應引腳的中心點的位置。
第9圖示意說明低通濾波器的電路原理圖900的一個示例實施例。電路原理圖900可包括第一電阻器符號700的實例700a，其中，第一電阻器符號700為實例700a提供實例主符號。實例700a可具有與其關聯的實例變換，該實例變換將電路符號主坐標系統中的位置向量映射至具有原點301、x軸320及y軸321的原理圖坐標系統中的位置向量。在第7及9圖中所示的例子中，與實例 700a關聯的實例變換可包括x軸320的方向及y軸321的方向二者的平移，其可由具有非零x分量及非零y分量的實例平移向量表示。另外，實例變換可包括實例取向矩陣。在第7圖及9中所示的例子中，該實例取向矩陣可為二維單位矩陣，以使引腳701a、702a、703a的相對取向與第一電阻器符號700的引腳701、702、703的相對取向基本相同。
電路原理圖900還可包括具有引腳2001a、2002a以及2003a的電容器符號(未圖示)的實例2000a。與電阻器符號700的實例700a類似，該電容器符號的實例2000a可具有與其關聯的實例變換。
另外，電路原理圖900可包括導線906、907、908、909、910、911、輸入902、輸出903以及具有引腳905的源極電位連接904。
在一些實施例中，可提供第一及第二製程設計套件。該第一製程設計套件可包括第一電阻器符號700及其它實例主符號，例如針對電容器的實例2000a的實例主符號。在一個示例實施例中，該第二製程設計套件可包括第二電阻器符號800以及其它實例主符號，例如與電容器符號的實例2000a所表示的電容器的類型相同的電容器的實例主符號。這可依據上面參照第13圖的流程圖1300所述的方法中在步驟1301所執行的動作來達成。
接著，在一個示例實施例中，可針對包括來自第一製程設計套件的電路元件的實例主符號以及針對 來自第二製程設計套件的電路元件的相應實例主符號的每對電路符號計算調整變換。尤其，可針對電阻器符號700、800和/或來自第一及第二製程設計套件的電容器的實例主符號計算調整變換。這可依據第3圖的流程圖1300所示的方法中在步驟1302執行的動作來達成。另外，對於每對電路符號，依據流程圖1300所示的方法中在步驟1303執行的動作，基於調整變換的誤差可形成表示線段的資料。
第10圖顯示電阻器符號700、800，其中，通過針對電阻器符號700、800確定的調整變換的方式已變換第二電阻器符號800的元件的位置。為更清楚地區分電阻器符號700、800，通過虛線的方式顯示第一電阻器符號700。
在所示的例子中，調整變換可包括270度的角度的旋轉以及平移，以將第二電阻器符號800的引腳802移至原點105，而在原始第二電阻器符號800中，引腳801位於原點105，如第8圖中所示。在應用調整變換以後，引腳801與701基本處於相同的位置。類似地，引腳702、802基本處於相同的位置。由於引腳703相對第一電晶體符號700的引腳701、702(一方面)以及引腳803相對第二電阻器符號800的引腳801、802(另一方面)的不同的相對佈置，引腳703、803可處於不同的位置。因此，依據第13圖的流程圖1300所示的方法中在步驟1303執行的動作，可提供連接引腳703、803的中心點的位置的導線1001。
接著，在步驟1304，可接收電路原理圖900 以及可選擇地，在步驟1305可提取電路原理圖900的第一網表。
然後，如第11圖中所示，可用第二電阻器符號800的實例800a替代第一電阻器符號700的實例700a，且導線1001的實例1001a可被包括於電路原理圖900中。如上所述，通過將調整變換與第一電阻器符號700的實例700a的實例變換聯繫，可獲得第二電阻器符號800的實例800a的實例變換。類似地，可用具有引腳3001a、3002a、3003a的來自第二製程設計套件的第二電容器符號的實例3000a替代第一電容器符號的實例2000a，且導線4001a、4002a的實例可被包括於電路原理圖900中。
接著，可選擇地，在步驟1307可清理電路原理圖，在步驟1308可提取第二網表，以及在步驟1309可比較該些網表。
本發明不限於實施例，其中，如上所述，在符號主座標中針對包括來自第一製程設計套件的電路元件的符號以及來自第二製程設計套件的電路元件的符號的每對符號確定一次調整變換以及將要包括於電路原理圖中的主導線。在其它實施例中，對於來自第一製程設計套件的第一電路符號的各實例，通過將關聯該第一電路符號的該實例的實例變換應用於定義電路符號主坐標系統中的引腳的位置的電路主坐標系統中的位置向量可提供該實例的各引腳的位置向量。
接著，通過使用與上述技術對應的技術計 算調整變換，可計算將要替代該第一電路符號的實例的第二電路符號的實例的實例變換，其中，使用表示第一電路符號的實例的引腳的位置的位置向量來替代定義電路符號主坐標系統中第一電路符號的引腳的位置的位置向量。
由於本領域的技術人員借助這裡的教導可以很容易地以不同但等同的方式修改並實施本發明，因此上面披露的特定實施例僅為示例性質。例如，可以不同的循序執行上述製程步驟。而且，本發明不限於這裡所示架構或設計的細節，而是如申請專利範圍所述。因此，顯然，可對上面披露的特定實施例進行修改或變更，所有此類變更落入本發明的範圍及精神內。要注意的是，用於說明本說明書以及申請專利範圍中的各種製程或結構的“第一”、“第二”、“第三”或者“第四”等術語的使用僅用作此類步驟/結構的快捷參考，並不一定意味著按排列循序執行/形成此類步驟/結構。當然，依據準確的申請專利範圍語言，可能要求或者不要求此類製程的排列順序。因此，申請專利範圍規定本發明的保護範圍。
1300‧‧‧流程圖
1301、1302、1303、1304、1305、1306、1307、1308、1309‧‧‧步驟

Claims (21)

  1. 一種方法，包括：獲得表示第一電路符號的第一資料，該第一電路符號具有多個第一引腳，各第一引腳具有與其關聯的第一位置向量；獲得表示第二電路符號的第二資料，該第二電路符號具有多個第二引腳，各第二引腳具有與其關聯的第二位置向量，各該多個第二引腳與該多個第一引腳的其中相應一個對應；以及確定將位置向量映射至變換位置向量的調整變換，其中，該調整變換最大限度地降低基於一個或多個偏差的誤差測量，各偏差是變換位置向量與關聯該第一引腳的其中一個的該第一位置向量之間的偏差，通過將該調整變換應用於與對應該第一引腳的該第二引腳關聯的該第二位置向量可獲得該變換位置向量。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的方法，其中，該誤差測量包括該多個第一引腳的通過將該調整變換應用於與對應該第一引腳的該第二引腳關聯的該第二位置向量所獲得的該變換位置向量與關聯該第一引腳的該第一位置向量之間的該偏差之和；以及其中，該變換位置向量與關聯該第一引腳的該第一位置向量之間的該偏差包括該變換位置向量與關聯該第一引腳的該第一位置向量之間的差的向量範數。
  3. 如申請專利範圍第2項所述的方法，其中，該調整變換 的該確定包括基於第一引腳位置矩陣及第二引腳位置矩陣計算調整取向矩陣，各該第一引腳位置矩陣及該第二引腳位置矩陣具有與該第一引腳的數目及該第二引腳的數目相等的行數，該第一引腳位置矩陣的各該行包括通過自該多個第一位置向量的其中相應一個減去該多個第一位置向量的平均數所獲得的向量的分量，該第二引腳位置矩陣的各該行包括通過自該多個第二位置向量的其中相應一個減去該多個第二位置向量的平均數所獲得的向量的分量。
  4. 如申請專利範圍第3項所述的方法，其中，該調整取向矩陣定義旋轉及反射的至少其中一種。
  5. 如申請專利範圍第4項所述的方法，其中，該調整取向矩陣的該計算包括計算該第一引腳位置矩陣及該第二引腳位置矩陣的其中一個的奇異值分解。
  6. 如申請專利範圍第5項所述的方法，其中，該調整變換的該確定還包括基於該調整取向矩陣、該多個第一位置向量的該平均數及該多個第二位置向量的該平均數確定調整平移向量。
  7. 如申請專利範圍第6項所述的方法，其中，該調整變換的該確定還包括：將該調整取向矩陣取整為多個預定約束取向變化的其中一個；以及將該調整平移向量取整為預定對齊網格。
  8. 如申請專利範圍第7項所述的方法，還包括： 對於各該多個第二引腳：通過將該確定的調整變換應用於與該第二引腳關聯的該位置向量來計算變換位置向量；以及如果該計算的變換位置向量不同於與對應該第二引腳的該第一引腳關聯的該第一位置向量，則形成表示連接該變換位置向量所表示的位置及與對應該第二引腳的該第一引腳關聯的該第一位置向量所表示的位置的一條或多條線段的第三資料。
  9. 如申請專利範圍第8項所述的方法，還包括：提供表示電路原理圖的第四資料，該電路原理圖包括該第一電路符號的一個或多個實例，該第一電路符號的各實例具有與其關聯的第一實例變換，該第一實例變換將電路符號主坐標系統中的位置向量映射至原理圖坐標系統中的位置向量；以及用該第二電路符號的相應實例替代該第一電路符號的各實例，該第二電路符號的各實例具有與其關聯的第二實例變換，該第二實例變換將該電路符號主坐標系統中的位置向量映射至該原理圖坐標系統中的位置向量；其中，該第二電路符號的相應實例對該第一電路符號的各實例的該替代包括：針對該第一電路符號的各實例，確定與該第二電路符號的該相應實例關聯的該第二實例變換。
  10. 如申請專利範圍第9項所述的方法，其中，各該第一位 置向量是該電路符號主坐標系統中的位置向量，其定義與該電路符號主坐標系統中的該第一位置向量關聯的該第一引腳的位置，以及其中，各該第二位置向量是該電路符號主坐標系統中的位置向量，其定義與該電路符號主坐標系統中的該第二位置向量關聯的該第二引腳的位置。
  11. 如申請專利範圍第10項所述的方法，其中，該第二實例變換的該確定包括將該調整變換與該第一實例變換聯繫，以使該第二實例變換對應該調整變換與該第一實例變換的組合，其中，該調整變換執行於該第一實例變換之前。
  12. 如申請專利範圍第11項所述的方法，還包括：針對該第一電路符號的各實例，將與該第一電路符號的該實例關聯的該第一實例變換應用於表示一條或多條線段的各該第三資料，以獲得與該第二電路符號的該相應實例相鄰的一條或多條線段，並將該一條或多條線段包括於該第四資料所表示的該電路原理圖中。
  13. 如申請專利範圍第12項所述的方法，還包括：在該第二電路符號的相應實例對該第一電路符號的各該實例的該替代之前，自該電路原理圖提取第一網表；在該第二電路符號的相應實例對該第一電路符號的各該實例的該替代之後，自該電路原理圖提取第二網表；以及 比較該第一網表與該第二網表，以確定該電路原理圖所表示的電路的連線性是否已被該第二電路符號的相應實例對該第一電路符號的各該實例的該替代影響。
  14. 如申請專利範圍第13項所述的方法，其中，該第一電路符號包括第一製程設計套件的電路元件的實例主符號，且該第二電路符號包括第二製程設計套件的電路元件的實例主符號。
  15. 如申請專利範圍第9項所述的方法，其中，針對該第一電路符號的各實例執行該第一及第二資料的該獲得以及該調整變換的該確定；其中，各該第一位置向量是該原理圖坐標系統中的位置向量，其通過將與該第一電路符號的該實例關聯的該實例變換應用於定義該電路符號主坐標系統中的該第一引腳的位置的該電路主坐標系統中的位置向量而獲得；其中，各該第二位置向量是該電路符號主坐標系統中的位置向量，其定義與電路符號主坐標系統中的該第二位置向量關聯的該第二引腳的位置；以及其中，該第二實例變換的該確定包括提供該調整變換作為該第二實例變換。
  16. 一種方法，包括：獲得表示第一電路符號的第一資料，該第一電路符號具有多個第一引腳，各第一引腳具有與其關聯的第一位置向量； 獲得表示第二電路符號的第二資料，該第二電路符號具有多個第二引腳，各第二引腳具有與其關聯的第二位置向量，各該多個第二引腳與該多個第一引腳的其中相應一個對應；確定將位置向量映射至變換位置向量的調整變換，其中，該調整變換的該確定包括計算調整取向矩陣，該調整取向矩陣的該計算包括：形成第一引腳位置矩陣及第二引腳位置矩陣，各該第一引腳位置矩陣及該第二引腳位置矩陣具有等於及大於該多個第一引腳的數目及該多個第二引腳的數目的其中一種的行數，該第一引腳位置矩陣的各該行包括通過自第一組位置向量的相應成員減去包括該多個第一位置向量以及如果該第一引腳位置矩陣及該第二引腳位置矩陣的行數大於該多個第一引腳的數目及該多個第二引腳的數目時，該多個第一位置向量的至少其中一個的至少一個副本的第一組位置向量的平均數所獲得的相應向量的分量，該第二引腳位置矩陣的各該行包括通過自第二組位置向量的相應成員減去包括該多個第二位置向量以及如果該第一引腳位置矩陣及該第二引腳位置矩陣的行數大於該多個第一引腳的數目及該多個第二引腳的數目時，該第二位置向量的至少其中一個的至少一個副本的第二組位置向量的平均數所獲得的相應向量的分量；計算該第一引腳位置矩陣及該第二引腳位置矩陣 的其中一個的偽逆；以及將該第一引腳位置矩陣及該第二引腳位置矩陣的其中一個的該偽逆與該第一引腳位置矩陣及該第二引腳位置矩陣的其中另一個相乘。
  17. 如申請專利範圍第16項所述的方法，其中，計算該第一引腳位置矩陣及該第二引腳位置矩陣的該其中一個的該偽逆包括計算該第一引腳位置矩陣及該第二引腳位置矩陣的該其中一個的奇異值分解。
  18. 如申請專利範圍第17項所述的方法，其中，該調整變換的該確定還包括通過自該多個第一位置向量的該平均數減去該調整取向矩陣與該多個第二位置向量的該平均數的積來計算調整平移向量。
  19. 一種系統，包括：記憶體，該記憶體包括表示第一電路符號的第一資料，該第一電路符號具有多個第一引腳，各該多個第一引腳具有與其關聯的第一位置向量，以及表示第二電路符號的第二資料，該第二電路符號具有多個第二引腳，各該多個第二引腳具有與其關聯的第二位置向量，各該多個第二引腳與該多個第一引腳的其中相應一個對應；以及調整變換計算器，用以確定將位置向量映射至變換位置向量的調整變換，其中，該調整變換最大限度地降低基於一個或多個偏差的誤差測量，各偏差是變換位置向量與關聯該第一引腳的其中一個的該第一位置向量 之間的偏差，通過將該調整變換應用於與對應該第一引腳的該第二引腳關聯的該第二位置向量可獲得該變換位置向量。
  20. 一種系統，包括：用以獲得表示第一電路符號的第一資料的構件，該第一電路符號具有多個第一引腳，各該多個第一引腳具有與其關聯的第一位置向量；用以獲得表示第二電路符號的第二資料的構件，該第二電路符號具有多個第二引腳，各該多個第二引腳具有與其關聯的第二位置向量，各該多個第二引腳與該多個第一引腳的其中相應一個對應；以及用以確定將位置向量映射至變換位置向量的調整變換的構件，其中，該調整變換最大限度地降低基於一個或多個偏差的誤差測量，各偏差是變換位置向量與關聯該第一引腳的其中一個的該第一位置向量之間的偏差，通過將該調整變換應用於與對應該第一引腳的該第二引腳關聯的該第二位置向量可獲得該變換位置向量。
  21. 一種電腦可讀儲存媒體，包括代碼以使電腦：獲得表示第一電路符號的第一資料，該第一電路符號具有多個第一引腳，各第一引腳具有與其關聯的第一位置向量；獲得表示第二電路符號的第二資料，該第二電路符號具有多個第二引腳，各該多個第二引腳具有與其關聯的第二位置向量，各該多個第二引腳與該多個第一引腳 的其中相應一個對應；以及確定將位置向量映射至變換位置向量的調整變換，其中，該調整變換最大限度地降低基於一個或多個偏差的誤差測量，各偏差是變換位置向量與關聯該第一引腳的其中一個的該第一位置向量之間的偏差，通過將該調整變換應用於與對應該第一引腳的該第二引腳關聯的該第二位置向量可獲得該變換位置向量。
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