TW201643628A - 避免顯示雜訊的觸控偵測系統及方法 - Google Patents

避免顯示雜訊的觸控偵測系統及方法 Download PDF

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Abstract

本發明提出一種避免顯示雜訊的觸控偵測系統及方法，一觸控驅動偵測積體電路依據一顯示驅動積體電路輸出的一垂直同步訊號，用以在垂直空白間隔對對一觸控顯示面板進行觸碰位置掃描，並產生一第一組觸碰位置資料，進而避開顯示雜訊的影響，以及在非垂直空白間隔對對該觸控顯示面板進行至少一次觸碰位置掃描，進而產生一第二組觸碰位置資料，其中觸控驅動偵測積體電路分別對第一組觸碰位置資料、二組觸碰位置資料執行一運算，用以提高第二組觸碰位置資料的信號雜訊比及回報率。

Description

避免顯示雜訊的觸控偵測系統及方法
本發明係關於觸控之技術領域，尤指一種避免顯示雜訊的觸控偵測系統及方法。
觸控面板的技術原理是當手指或其他介質接觸到螢幕時，依據不同感應方式，偵測電壓、電流、聲波或紅外線等，進而測出觸壓點的座標位置。例如電阻式觸控感測技術即為利用上、下電極間的電位差，用以計算施壓點位置檢測出觸碰點所在。電容式觸控感測技術是利用排列之透明電極與人體之間的靜電結合所產生之電容變化，從所產生之電流或電壓來檢測其座標。電容式觸控感測技術是使用電容的微量變化來偵測是否有產生觸控點。
電容觸控感測技術是以偵測手指接觸面板的電容變化量來當作觸控與否的技術，圖1係電容觸控感測技術的示意圖。如圖1所示，在沒有雜訊干擾的前提下，手指與感應電極110會產生一個感應電容Cp。透過感測電路120偵測這個該感應電容Cp電容值的變化，來達到觸控位置的資訊，由於該感應電容Cp電容值的變化量微弱，容易受雜訊影響及誤判，因此當觸控面板貼於液晶顯示面板上時，便很容易受到顯示面板所產生的雜訊影響。
習知的電容式觸控系統在計算座標時，必須經由感測電路120量測觸控面板上電容值的變化，以得到觸控位置等資訊，藉此計算使用者觸摸位置座標。然而在取得觸控資料的過程中，極可能因為感測電路、觸控面板單元乃至驅動電路端受到雜訊干擾、外部雜訊對地干擾、顯示面板或積體電路內部所產生的雜訊干擾，使得觸控資料失真飄移，造成如圖2中所示雜點出現的情形或是真實觸碰點消失或座標偏移等現象。圖2係一雜訊干擾之示意圖。如圖2所示，真實觸控位置係位於D6-S1交接處，由於雜訊干擾，電容式觸控系統會將D2-S1及D2-S3交接處亦回報為觸控位置，而產生錯誤。
於觸碰位置偵測時，對於顯示面板的雜訊干擾往往無法避免。當有外部雜訊干擾如顯示雜訊干擾時，易使偵測出來的觸控資訊錯誤，針對此問題，許多廠商已經有多項方法以降低顯示雜訊的影響。
一般直接的解決方法是在觸控面板和顯示面板中間多加一層隔離層。圖3係一習知降低雜訊之示意圖。如圖3所示，其係於一觸控感應層310與液晶層320之間增加一電場屏蔽層330，以隔絕液晶驅動電極層340驅動液晶層320所產生的雜訊，如此可以避免雜訊干擾到觸控感應層310。此種方法的缺點在於無法降低成本，以及產生架構上的限制。圖4係一使用電場屏蔽層330之示意圖。如圖4所示，因新增電場屏蔽層330，會使整個觸控顯示系統的厚度增加，也會使產品的厚度增加影響小型電子產品的攜帶性。同時，在內嵌式(In Cell)或半內嵌式(On Cell)觸控顯示面板中，由於觸控元件係設置於顯示面板內部，無法於顯示面板內部新增該電場屏蔽層330，所以無法透過該電場屏蔽層330將雜訊阻絕。
圖5係一使用空氣間隙(air gap)以隔絕雜訊的示意圖，其係由觸控積體電路廠商Maxim?所提出。如圖5所示，其係在X方向觸碰感應器與顯示模組之間使用襯墊(gasket)510，以形成一空氣間隙(air gap)，藉以隔絕顯示模組所產生的雜訊。然而此技術仍有前述之問題。
針對前述之問題，有廠商提出全平面貼合式(non-air-gap)技術。全平面貼合技術是將面板直接用膠水黏貼上外層玻璃（或觸控面板），由於中間為真空狀態，面板雜訊便不會影響觸控面板的動作，由於需全平面貼合，故此一技術良率不高，顯示面板尺寸越大越難貼合，當貼合失敗便會造成龐大損失。另外若是使用半內嵌式或內嵌式電容觸控，便無法使用上述之方法，因為一般的內嵌式電容觸控感應元件是在液晶層內，完全無法使用上述的方法，否則便會破壞液晶面板的特性。
另外可以使用濾波器將雜訊濾除。此種方法雖然適用於各種型態的觸控面板，但是由於需要模擬雜訊情形，反而會耗費大量時間在研發濾波器的效果，另外也會造成積體電路成本變高等缺點。
另一種方法係以加大電壓提高雜訊比(SNR)的方式來抑制顯示雜訊(display noise)。此種方法確實可以增加觸碰偵測的準確性，但是雜訊依然無法抑制。
由於市場上的需求，可攜式裝置除了需具備觸碰偵測的功能外，往往要求亦需具備懸浮偵測的功能。圖6係一懸浮偵測的示意圖。如圖6所示，其需於手指在觸控面板上方且未碰觸觸控面板的條件下，能準確地偵測手指在觸控面板對應處的位置。此時，因手指接近觸控面板上方而引起的感應電容Cp電容值的變化量更為微弱，感測電路感測到的觸碰訊號的位準與雜訊位準接近的話，那麼就會造成觸碰偵測困難。亦即，若是連顯示雜訊(display noise)都無法避免，那麼要做到懸浮偵測勢必更難。
為達到懸浮偵測，在架構上便有提出內嵌式(In Cell)觸控偵測方式，其內嵌式(In Cell)架構如下圖7所示。由於觸控元件係設置於顯示面板內部，在觸控偵測時必然是避開顯示面板的畫面變換的時間，所以並不會受到顯示雜訊影響，因此在此架構下顯示雜訊基本上是可以被忽視的，但由於觸控元件Sensor需設置於顯示面板內部，故良率問題還未克服。因此，習知避免顯示雜訊的觸控偵測系統及方法實仍有改善的空間。
本發明之目的主要係在提供一避免顯示雜訊的觸控偵測系統及方法，可無需增加觸控偵測系統的厚度，且不必遷就於半內嵌式或是內嵌式觸控技術，便可以避開顯示雜訊(Display Noise)的影響，提昇觸碰偵測的準確度，更可有效降低成本。
依據本發明之一特色，本發明提出一種避免顯示雜訊的觸控偵測方法，其係用於一觸控顯示系統，該觸控顯示系統具有一觸控顯示面板、一顯示驅動積體電路、及一觸控驅動偵測積體電路，該顯示驅動積體電路驅動該觸控顯示面板，用以進行畫面顯示，該觸控驅動偵測積體電路依據該顯示驅動積體電路中的一垂直同步訊號，用以驅動該觸控顯示面板，進而偵測該觸控顯示面板上的至少一個觸碰位置，該觸控偵測方法包含(A) 該觸控驅動偵測積體電路偵測該垂直同步訊號，用以判斷是否為一垂直空白間隔；(B) 當步驟(A)中判定為該垂直空白間隔時，該觸控驅動偵測積體電路對該觸控顯示面板進行觸碰位置掃描，進而產生一第一組觸碰位置資料；(C) 該觸控驅動偵測積體電路判斷是否輸出該第一組觸碰位置資料；(D) 當步驟(C)中判定輸出該第一組觸碰位置資料時，該觸控驅動偵測積體電路將該第一組觸碰位置資料與一第二組觸碰位置資料執行一第一運算，用以更新該第一組觸碰位置資料，並將其輸出；(E) 當該觸控驅動偵測積體電路處於非為該垂直空白間隔(時，對該觸控顯示面板進行觸碰位置掃描，進而產生一組觸碰位置資料，並將該組觸碰位置資料更新為該第二組觸碰位置資料；(F) 該觸控驅動偵測積體電路將該第二組觸碰位置資料與該第一組觸碰位置資料執行一第二運算，進而更新並輸出該第二組觸碰位置資料；(G) 該觸控驅動偵測積體電路依據步驟(D)輸出的該第一組觸碰位置資料計算位於該垂直空白間隔時的觸碰位置座標，並依據步驟(F)輸出的該第二組觸碰位置資料計算於非為該垂直空白間隔時的觸碰位置座標；(H) 該觸控驅動偵測積體電路輸出該觸碰位置座標；(I) 該觸控驅動偵測積體電路判斷是否執行完非為該垂直空白間隔時的觸碰偵測，若是，重新執行步驟(A)。
依據本發明之另一特色，本發明提出一種避免顯示雜訊的觸控偵測系統，其包含一觸控顯示面板、一顯示驅動積體電路、及一觸控驅動偵測積體電路。該觸控顯示面板用以顯示畫面及偵測觸碰位置。該顯示驅動積體電路連接至該觸控顯示面板，依據一顯示像素訊號及一顯示驅動訊號，用以驅動對應之畫素電晶體及該畫素電容，進而執行顯示操作。該觸控驅動偵測積體電路連接至該觸控顯示面板及該顯示驅動積體電路；其中，該觸控驅動偵測積體電路依據該顯示驅動積體電路中的一垂直同步訊號，用以在垂直空白間隔時進行觸碰位置偵測，進而產生一第一組觸碰位置資料，並在非垂直空白間隔時進行觸碰位置偵測，進而產生一第二組觸碰位置資料，該觸控驅動偵測積體電路並依據該第一組觸碰位置資料修改該第二組觸碰位置資料。
圖8係本發明一種避免顯示雜訊的觸控偵測系統800之方塊圖，其包含一觸控顯示面板810、一顯示驅動積體電路820、及一觸控驅動偵測積體電路830。
該觸控顯示面板810用以顯示畫面及偵測觸碰位置。該顯示驅動積體電路820連接至該觸控顯示面板810，依據一顯示像素訊號及一顯示驅動訊號，以驅動對應之畫素電晶體及該畫素電容，進而執行顯示操作。該觸控驅動偵測積體電路830連接至該觸控顯示面板810及該顯示驅動積體電路820；其中，該觸控驅動偵測積體電路830依據該顯示驅動積體電路820的一垂直同步訊號(Vsync)，用以在垂直空白間隔(Vertical Blanking Interval, VBI)時進行觸碰位置偵測，進而產生一第一組觸碰位置資料，以及在非垂直空白間隔(non-VBI)時進行觸碰位置偵測，進而產生一第二組觸碰位置資料，該觸控驅動偵測積體電路830並依據第一組觸碰位置資料修改第二組觸碰位置資料。
該觸控驅動偵測積體電路830係將該第二組觸碰位置資料中的資料與該第一組觸碰位置資料的對應資料相加再除以2，用以更新該第二組觸碰位置資料中的資料。該觸控驅動偵測積體電路830在垂直空白間隔(VBI)時，執行互容式單條逐步掃描觸碰位置偵測，以及在非垂直空白間隔(non-VBI)時，進行互容式差分逐步掃描觸碰位置偵測。
圖9係本發明一種避免顯示雜訊的觸控偵測方法之流程圖。該避免顯示雜訊的觸控偵測方法其係用於如圖8所示之觸控顯示系統800，該觸控顯示系統800具有一觸控顯示面板810、一顯示驅動積體電路820、及一觸控驅動偵測積體電路830，該顯示驅動積體電路820驅動該觸控顯示面板810，以進行畫面顯示。該觸控驅動偵測積體電路830依據該顯示驅動積體電路820的一垂直同步訊號(Vsync)，用以驅動該觸控顯示面板810，俾進行偵測該觸控顯示面板810上的至少一個觸碰位置。於該方法中，首先於步驟(A)中，該觸控驅動偵測積體電路830偵測該垂直同步訊號(Vsync)，用以判斷是否為垂直空白間隔(Vertical Blanking Interval, VBI)。該垂直同步訊號(Vsync)平常為低電位，當垂直空白間隔(VBI)時，該垂直同步訊號(Vsync)變為為低電位，以指示為垂直空白間隔(VBI)。
當步驟(A)中判定為垂直空白間隔(VBI)時，該觸控驅動偵測積體電路830則於步驟(B)中對該觸控顯示面板810進行觸碰位置掃描，並產生一第一組觸碰位置資料Data1。當步驟(A)中判定非為垂直空白間隔(non-VBI)時，則重新執行步驟(A)。
該觸控驅動偵測積體電路830進行觸控顯示面板810偵測必須連結顯示驅動積體電路820的垂直同步訊號(Vsync)，該觸控驅動偵測積體電路830必須等待顯示驅動積體電路820傳送垂直同步訊號(Vsync)時，才能在垂直空白間隔(VBI)執行觸控偵測。此時，觸控偵測方式可以是自容式、互容式或電磁式等偵測觸控面板之方式。
於本實施例中，該觸控驅動偵測積體電路830是以互容式觸控偵測。而互容式觸控偵測技術又可分為單條逐步掃描、差分逐步掃描及多條逐次掃描等偵測模式。本實施例是以單條逐步掃描及差分逐步掃描混合使用。於其他實施例中，可以自容式搭配互容式偵測等方式達成濾除顯示雜訊(display noise)效果。
於本實施例中，該垂直同步訊號(Vsync)為高電位時，用以指示一垂直空白間隔(VBI)。本實施例中，當觸控驅動偵測積體電路830接收到高電位的該垂直同步訊號(Vsync)，即進行觸控偵測。圖10係本發明觸控驅動偵測的示意圖，在垂直空白間隔(VBI)，觸控偵測方式是以單條逐步掃描方式，其中在垂直空白間隔(VBI)中，觸控偵測的掃描次數不限於一次，可以依據回報率(report rate)來調整觸控偵測的掃描次數，且不限於一種型態的觸控偵測，可與其他觸控方式混搭，本實施例是在垂直空白間隔(VBI)中執行一次單條逐步掃描。
掃描的結果(第一組觸碰位置資料Data1)予以保留並作為計算觸碰點的座標。保留的資料可以在非垂直空白間隔(non-VBI)時做雜訊濾除的功用。
當步驟(A)中判定非為垂直空白間隔(VBI)時，該觸控驅動偵測積體電路830則重新執行步驟(A)。
於步驟(C)中，該觸控驅動偵測積體電路830判斷是否輸出該第一組觸碰位置資料Data1。
當步驟(C)中判定輸出該第一組觸碰位置資料時，該觸控驅動偵測積體電路830於步驟(D)中將該第一組觸碰位置資料Data1與一第二組觸碰位置資料Data2執行一第一運算，以更新該第一組觸碰位置資料Data1，並將該第一組觸碰位置資料Data1輸出。當步驟(C)中判定不輸出該第一組觸碰位置資料時，則執行步驟(E)。
當步驟(B)中單條逐步掃描結束後，該觸控驅動偵測積體電路830保存資料為該第一組觸碰位置資料Data1，可以於步驟(C)中判斷是否輸出座標。若要輸出觸碰位置的座標時會執行資料比對。此時會對該第一組觸碰位置資料Data1與該第二組觸碰位置資料Data2執行一第一運算。於執行一第一運算後並更新該第一組觸碰位置資料Data1，該第二組觸碰位置資料Data2為上個觸碰偵測圖框(touch detecting frame)中的最後資料。於本實施例中，係使用該垂直同步訊號(Vsync)作為擷取該第一組觸碰位置資料Data1的指示訊號，故觸碰偵測圖框(touch detecting frame)會與顯示圖框(display frame)同步。
該第一運算係將該第一組觸碰位置資料Data1的一資料與該第二組觸碰位置資料Data2的一對應資料相加再除以2，以更新該第一組觸碰位置資料Data1的該資料。
相對於在非為垂直空白間隔(non-VBI)下所獲得的該第二組觸碰位置資料Data2，垂直空白間隔(VBI)的該第一組觸碰位置資料Data1受雜訊影響較小，所以該第一運算已可忽略該第二組觸碰位置資料Data2，直接輸出該第一組觸碰位置資料Data1。亦即，亦可以直接使用垂直空白間隔(VBI)的該第一組觸碰位置資料Data1作座標計算，不執行資料比對而直接進行座標計算並輸出座標。
於步驟(E)中，該觸控驅動偵測積體電路830於非垂直空白間隔(non-VBI)時，對該觸控顯示面板810進行觸碰位置掃描，並產生一組觸碰位置資料，且將該組觸碰位置資料更新為該第二組觸碰位置資料Data2。
當垂直空白間隔(VBI)結束後進入非垂直空白間隔(non-VBI)，觸控驅動偵測積體電路830會執行差分逐步掃描，差分逐步掃描執行並不一定落在垂直同步訊號(Vsync)由高電位轉為低電位時，亦可在兩個垂直同步訊號(Vsync)為高電位區間做掃描，差分逐步掃描次數並不限於一次，可以多次掃描，且不限於一種型態的觸控偵測，可與其他觸控方式混搭。在本實施例中為一次差分掃描。當執行完差分逐步掃描，所得到的為一組觸碰位置資料，並更新為該第二組觸碰位置資料Data2。
於步驟(F)中，該觸控驅動偵測積體電路830將該第二組觸碰位置資料Data2與該第一組觸碰位置資料Data1執行一第二運算，以更新該第二組觸碰位置資料Data2，並將其輸出。該第二運算係將該第二組觸碰位置資料Data2的一資料與該第一組觸碰位置資料Data1的一對應資料相加再除以2，以更新該第二組觸碰位置資料Data2的該資料。
圖11A-圖11C係本發明觸控驅動偵測執行運算的示意圖。圖11A係本發明該第一組觸碰位置資料Data1的示意圖、圖11B係本發明該第二組觸碰位置資料Data2的示意圖、圖11C係本發明該第一組觸碰位置資料Data1與該第二組觸碰位置資料Data2執行運算的示意圖。如圖11C所示，其係對該第一組觸碰位置資料Data1的一資料與該第二組觸碰位置資料Data2的一對應資料相加再除以2。
於圖11B中，D3-S5交接處係為假點，經過運算後，其數值降低，而不再被視為是觸碰點。由於在非垂直空白間隔(non-VBI)期間，顯示驅動積體電路820驅動該觸控顯示面板810以進行畫面顯示，故雜訊在非垂直空白間隔(non-VBI)期間會比較明顯，本發明技術會直接將雜訊訊號的大小減半，故訊號雜訊比(SNR)至少會上升50%。
於步驟(G)中，該觸控驅動偵測積體電路830依據步驟(D)輸出的該第一組觸碰位置資料Data1計算於垂直空白間隔(VBI)時的觸碰位置座標，並依據步驟(F)輸出的該第二組觸碰位置資料Data2計算於非垂直空白間隔(VBI)時的觸碰位置座標。
於步驟(H)中，該觸控驅動偵測積體電路830輸出觸碰位置座標。於步驟(I)中，該觸控驅動偵測積體電路判斷是否執行完非垂直空白間隔(non-VBI)時的觸碰偵測，若是，重新執行步驟(A)。當步驟(I)中判定並未執行完非垂直空白間隔(VBI)時的觸碰偵測，則重新執行步驟(E)。
由前述說明可知，於步驟(B)及步驟(E)中，該觸控驅動偵測積體電路830係使用下列其中之一方法：自容式方法、互容式方法、電磁式方法、及電阻式方法。而當該觸控驅動偵測積體電路830使用互容式方法時，該觸控驅動偵測積體電路830可使用下列其中之一掃描方式：單條逐步掃描、差分逐步掃描、及多條逐次掃描。
由圖11A-11C可知，差分逐次掃描在非垂直空白間隔(non-VBI)，掃描的資料所產生的假點(fake point)在經過資料處理後，已大幅下降其雜訊(Noise)程度。此運算後的資料於步驟(F)中予以保存，以留做下個觸碰偵測圖框(touch detecting frame)中的步驟(D)中，將此資料作為與該第一組觸碰位置資料Data1執行第一運算的該第二組觸碰位置資料Data2。於步驟(G)中且將該第二組觸碰位置資料Data2作座標計算，即可得到比較準確的報點座標。
由前述說明可知，本發明技術可無需增加觸控偵測系統800的厚度，且不必遷就於半內嵌式或是內嵌式觸控技術，只需將驅動顯示驅動積體電路上的垂直同步訊號(Vsync)連接至觸控驅動偵測積體電路做同步訊號使用，便可以避開顯示雜訊(Display Noise)的影響，進而提昇觸碰偵測的準確度，更可有效降低成本。本發明技術亦可在非垂直空白間隔(non-VBI)進行觸碰偵測，可有效提昇回報率(report rate)。
上述實施例僅係為了方便說明而舉例而已，本發明所主張之權利範圍自應以申請專利範圍所述為準，而非僅限於上述實施例。
110‧‧‧感應電極
120‧‧‧感測電路
310‧‧‧觸控感應層
320‧‧‧液晶層
330‧‧‧電場屏蔽層
340‧‧‧液晶驅動電極層
510‧‧‧襯墊
800‧‧‧避免顯示雜訊的觸控偵測系統
810‧‧‧觸控顯示面板
820‧‧‧顯示驅動積體電路
830‧‧‧觸控驅動偵測積體電路
步驟(A)-步驟(I)
圖1係習知電容觸控感測技術的示意圖。 圖2係一雜訊干擾之示意圖。 圖3係一習知降低雜訊之示意圖。 圖4係一使用電場屏蔽層之示意圖 圖5係一使用空氣間隙以隔絕雜訊的示意圖。 圖6係一懸浮偵測的示意圖。 圖7係內嵌式架構之示意圖。 圖8係本發明一種避免顯示雜訊的觸控偵測系統之方塊圖。 圖9係本發明一種避免顯示雜訊的觸控偵測方法之流程圖。 圖10係本發明觸控驅動偵測的示意圖。 圖11A-圖11C係本發明觸控驅動偵測執行運算的示意圖。
步驟(A)-步驟(I)

Claims (12)

  1. 一種避免顯示雜訊的觸控偵測方法，其係用於一觸控顯示系統，該觸控顯示系統具有一觸控顯示面板、一顯示驅動積體電路、及一觸控驅動偵測積體電路，該顯示驅動積體電路驅動該觸控顯示面板，用以進行畫面顯示，該觸控驅動偵測積體電路依據該顯示驅動積體電路中的一垂直同步訊號，用以驅動該觸控顯示面板，進而偵測該觸控顯示面板上的至少一個觸碰位置，該觸控偵測方法包含： (A) 該觸控驅動偵測積體電路偵測該垂直同步訊號，用以判斷是否為一垂直空白間隔； (B) 當步驟(A)中判定為該垂直空白間隔時，該觸控驅動偵測積體電路對該觸控顯示面板進行觸碰位置掃描，進而產生一第一組觸碰位置資料； (C) 該觸控驅動偵測積體電路判斷是否輸出該第一組觸碰位置資料； (D) 當步驟(C)中判定輸出該第一組觸碰位置資料時，該觸控驅動偵測積體電路將該第一組觸碰位置資料與一第二組觸碰位置資料執行一第一運算，用以更新該第一組觸碰位置資料，並將其輸出； (E) 當該觸控驅動偵測積體電路處於非為該垂直空白間隔時，對該觸控顯示面板進行觸碰位置掃描，進而產生一組觸碰位置資料，並將該組觸碰位置資料更新為該第二組觸碰位置資料； (F) 該觸控驅動偵測積體電路將該第二組觸碰位置資料與該第一組觸碰位置資料執行一第二運算，進而更新並輸出該第二組觸碰位置資料； (G) 該觸控驅動偵測積體電路依據步驟(D)輸出的該第一組觸碰位置資料計算位於該垂直空白間隔時的觸碰位置座標，並依據步驟(F)輸出的該第二組觸碰位置資料計算於非為該垂直空白間隔時的觸碰位置座標； (H) 該觸控驅動偵測積體電路輸出該觸碰位置座標；以及 (I) 該觸控驅動偵測積體電路判斷是否執行完該非垂直空白間隔時的觸碰偵測，若是，重新執行步驟(A)。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之避免顯示雜訊的觸控偵測方法，其中，當步驟(I)中判定並未執行完非為該垂直空白間隔時的觸碰偵測，則重新執行步驟(E)。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之避免顯示雜訊的觸控偵測方法，其中，當步驟(C)中判定不輸出該第一組觸碰位置資料時，則執行步驟(E)。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之避免顯示雜訊的觸控偵測方法，其中，當步驟(A)中判定非為該垂直空白間隔時，則重新執行步驟(A)。
  5. 如申請專利範圍第4所述之避免顯示雜訊的觸控偵測方法，其中，於步驟(B)及步驟(E)中，該觸控驅動偵測積體電路係使用自容式方法、互容式方法、電磁式方法、或電阻式方法。
  6. 如申請專利範圍第4項所述之避免顯示雜訊的觸控偵測方法，其中，於步驟(B)及步驟(E)中，該觸控驅動偵測積體電路係使用互容式方法時，該觸控驅動偵測積體電路係使用下列其中之一掃描方式：單條逐步掃描、差分逐步掃描、及多條逐次掃描。
  7. 如申請專利範圍第4項所述之避免顯示雜訊的觸控偵測方法，其中，於步驟(D)中，該第一運算係將該第一組觸碰位置資料中的一資料與該第二組觸碰位置資料中的一對應資料相加再除以2，用以更新該第一組觸碰位置資料中的該資料。
  8. 如申請專利範圍第4項所述之避免顯示雜訊的觸控偵測方法，其中，於步驟(D)中，該第一運算係忽略該第二組觸碰位置資料，用以直接輸出該第一組觸碰位置資料。
  9. 如申請專利範圍第4項所述之避免顯示雜訊的觸控偵測方法，其中，於步驟(F)中，該第二運算係將該第二組觸碰位置資料中的一資料與該第一組觸碰位置資料中的一對應資料相加再除以2，用以更新該第二組觸碰位置資料的該資料。
  10. 一種避免顯示雜訊的觸控偵測系統，其包含： 一觸控顯示面板，用以顯示畫面及偵測觸碰位置； 一顯示驅動積體電路，連接至該觸控顯示面板，依據一顯示像素訊號及一顯示驅動訊號，用以驅動對應之畫素電晶體及該畫素電容，進而執行顯示操作；以及 一觸控驅動偵測積體電路，連接至該觸控顯示面板及該顯示驅動積體電路； 其中，該觸控驅動偵測積體電路依據該顯示驅動積體電路中的一垂直同步訊號，用以在垂直空白間隔時進行觸碰位置偵測，進而產生一第一組觸碰位置資料，並在非垂直空白間隔時進行觸碰位置偵測，進而產生一第二組觸碰位置資料，該觸控驅動偵測積體電路並依據該第一組觸碰位置資料修改該第二組觸碰位置資料。
  11. 如申請專利範圍第10項所述之避免顯示雜訊的觸控偵測系統，其中，該觸控驅動偵測積體電路係將該第二組觸碰位置資料中的一資料與該第一組觸碰位置資料中的一對應資料相加再除以2，用以更新該第二組觸碰位置資料的該資料。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之避免顯示雜訊的觸控偵測系統，其中，該觸控驅動偵測積體電路在該垂直空白間隔時執行互容式單條逐步掃描觸碰位置偵測，在該非垂直空白間隔時進行互容式差分逐步掃描觸碰位置偵測。
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