TW201617626A - 測試座 - Google Patents

Abstract

本發明係關於一種測試座，包括座體、承載座、導電板體、複數測試探針以及複數絕緣層。本發明以導電板體取代傳統的塑膠板體，而解決靜電放電的問題，且於測試探針與導電板體之間設置絕緣層而分隔測試探針以及導電板體以避免發生漏電。因此，本發明測試座不但可避免因靜電放電而損壞被測物，且可改善測試準確度下降的問題。

Description

測試座

本發明係關於一種觸控筆，尤其係關於可操控電容式觸控板之觸控筆。

隨著科技之發展，電子裝置已普及化至個人使用者，常見的電子裝置包括桌上型電腦、筆記型電腦、智慧型手機以及平板電腦等，其中，該些電子裝置中皆包含有至少一電路板，且電路板上可設置至少一電子元件，該些電子元件可執行特定的功能，且藉由該些電子元件共同運作，使電子裝置得以被驅動且運作。其中，電路板上包含有複數導電接點，以電性連接於該些電子元件。

對於電子裝置製造商而言，於電子裝置於製造過程中必須經過測試以確保電子裝置可正常工作。而電子裝置之測試包括對電子裝置之電路板的測試以及對製造完成的電子裝置進行完整性的測試，對電路板的測試是為了避免於電子裝置組裝完成之後發現電路板有缺陷存在，必須拆 卸電子裝置來除錯所造成的工時浪費的缺失。

接下來說明測試電路板的測試座之結構。請參閱圖1，其為習知測試座之結構示意圖。習知測試座1包括座體11、承載座12、塑膠板體13以及複數測試探針14，承載座12設置於座體11上，且其功能為承載被測試的電路板10。塑膠板體13設置於座體11上且位於承載座12之上方，塑膠板體13的功能為設置複數測試探針14於其上，其中塑膠板體13可因應使用者的操作而相對於座體11移動，以接近或遠離承載座12。複數測試探針14穿設於塑膠板體13上且複數測試探針14係與塑膠板體14之下表面垂直，使得複數測試探針14可於塑膠板體13接近承載座12時，與承載座12上的電路板10接觸。

當電路板10被放置於承載座12上而欲被測試時，使用者操作而使塑膠板體13往下移動，且複數測試探針14分別與電路板10上所對應的複數電性接點(未顯示於圖中)接觸。之後供電予電路板10以偵測電路板10上的複數電性接點之電性功能(例如電阻值、電容值或電感值等)，最後，擷取該些電性功能的實際數值且與預設的電性數值比較，而判斷該些電性接點正常或異常，以決定電路板10是否通過測試。於測試電路板10的過程中，由於複數測試探針14分別與複數電性接點接觸而造成負電離子的移動而會產生靜電放電效應，其造成電路板10損壞的機率很高。

因此，需要一種可避免靜電放電而損壞被測物之測試座。

本發明之目的在於提供一種避免靜電放電而損壞被測物之測試座。

於一較佳實施例，本發明提供一種測試座，用以測試一被測物，且該被測物上具有一電性接點，該測試座包括一座體、一承載座、一導電板體、一測試探針以及一絕緣層。該承載座設置於該座體上，用以承載該被測物。該導電板體設置於該座體上且位於該承載座之上方，用以相對於該座體移動而接近或遠離該承載座。該測試探針穿設於該導電板體上且該測試探針伸出於該導電板體之一下表面，用以於該導電板體接近該承載座時與該電性接點接觸。該絕緣層設置於該測試探針上或該導電板體上，用以分隔該測試探針以及該導電板體。

簡言之，本發明測試座藉由以導電板體取代傳統的塑膠板體，而解決靜電放電的問題，且於測試探針與導電板體之間設置絕緣層而分隔測試探針以及導電板體，以避免電流由測試探針被傳導至導電板體。因此，本發明測試座可同時解決靜電放電以及漏電的問題，不但不會損壞被測物，且不會發生測試準確度下降的問題。

1、2‧‧‧測試座

10‧‧‧電路板

11、21‧‧‧座體

12、22‧‧‧承載座

13‧‧‧塑膠板體

14、24‧‧‧測試探針

20‧‧‧被測物

23‧‧‧導電板體

25、35‧‧‧絕緣層

26‧‧‧傳輸線

201‧‧‧電性接點

202‧‧‧固定開孔

221‧‧‧固定柱體

231‧‧‧導電板體之下表面

232‧‧‧開孔

241‧‧‧外管

242‧‧‧內管

243‧‧‧彈性元件

244‧‧‧針軸

245‧‧‧連接線

2321‧‧‧開孔之側壁

2411‧‧‧外管之外表面

2441‧‧‧針軸之第一端

2442‧‧‧針軸之第二端

圖1係習知測試座之結構示意圖。

圖2係本發明測試座於第一較佳實施例中之結構示意圖。

圖3係本發明測試座之導電板體及測試探針於第一較佳實施例中之結構分解示意圖。

圖4係本發明測試座於第一較佳實施例中之局部結構示意圖。

圖5係本發明測試座之測試探針於第一較佳實施例中之與被測物接觸之局部結構示意圖。

圖6係本發明測試座之導電板體及測試探針於第二較佳實施例中之結構分解示意圖。

鑑於習知技術之問題，本發明提供一種可解決習知技術問題的測試座。首先簡單說明本發明測試座之結構。請同時參閱圖2以及圖3，圖2係為本發明測試座於一較佳實施例中之結構示意圖，而圖3係為本發明測試座之導電板體及測試探針於第一較佳實施例中之結構分解示意圖。本發明測試座2包括座體21、承載座22、導電板體23、複數測試探針24、對應於複數測試探針24的複數絕緣層25(請參照圖4)以及傳輸線26。承載座22設置於座體11上，且其功能為承載被測物20，導電板體23設置於座體21上且位於承載座22之上方，導電板體23可因應使用者的操作而相對於座體21移動，以接近或遠離承載座22。複數測試探針24穿設於導電板體23上且複數測試探針24伸出於導電板體23之下表面231，使得複數測試探針24於導電板體23接近承載座22時，與承載座22上的被測物20接觸。絕緣層25之功能為分隔複數測試探針24以及導電板體23。傳輸線26之功能為建立測試座2與電腦系統(未顯示於圖中)之間的連接，且傳輸被測物20之測試數據至電腦系統。於本較佳實施例中，導電板體23係以金屬材質所製成，而被測物20為具有複數電性接點201之電路板。

接下來說明本發明測試座2之發明發想。由於習知測試座1會發生靜電放電的問題，故於本發明測試座2中採用以金屬材質所製成的 導電板體23，導電板體23具有可導電之功效，其可引導負電離子移動而避免靜電放電損壞被測物20。然而，導電板體23可導電之功效造成被測物20反而會發生漏電現象，以造成測試準確度下降的問題。為了解決測試準確度下降的問題，於本發明測試座2中設置複數絕緣層25，以阻止漏電現象發生。

請同時參閱圖2~圖4，圖4係為本發明測試座於一較佳實施例中之局部結構示意圖。導電板體23具有對應於複數測試探針24之複數開孔232，圖3僅顯示一支測試探針24以及相對應的開孔232。測試探針24包括外管241、內管242、彈性元件243、針軸244以及連接線245，內管242部份容置於外管241內，彈性元件243容置於內管242內，其功能為提供一彈性力。針軸244部份容置內管242內且針軸244之第一端2441與彈性元件243接觸，而針軸244之第二端2442於導電板體23接近承載座22時與被測物20上之電性接點201接觸。複數絕緣層25係分別設置於相對應的外管241之外表面2411上，連接線245設置於外管241上且電性連接於傳輸線26。於本較佳實施例中，絕緣層25係由絕緣油墨而形成，且以塗佈方式或印刷方式設置於外管241之外表面2411上。藉此，外管241不與導電板體23之開孔232接觸，但可穿過開孔232。而測試探針24穿設於導電板體23之開孔232，且絕緣層25分隔外管241以及開孔232之情形如圖4所示。

接下來說明利用本發明測試座2進行被測物20之測試的運作情形。請同時參閱圖2~圖5，圖5係為本發明測試座之測試探針於第一較佳實施例中之與被測物接觸之局部結構示意圖。當使用者欲測試被測物20時，先放置被測物20於承載座22上，使承載座22上之複數固定柱體221分別穿過被測物20之固定開孔202，以固定被測物20於承載座20上。 接下來，操作而使導電板體23往下移動，且複數針軸244之第二端2442與彈性元件243分別與被測物20上所對應的複數電性接點201接觸。此時，由於被測物20被固定而無法移動，使得電性接點201施加一推抵力至針軸244上，亦即針軸244被電性接點201推抵而可相對於內管242移動，同時，針軸244之第一端2441推抵彈性元件243，使彈性元件243被壓縮而累積彈性力。

於被測物20被固定於承載座20之後，使用者進行供電工作，使被測物20被導電，此時，複數測試探針24可分別偵測到相對應的電性接點201的電性數值(例如電阻值、電容值或電感值等)。之後，該些電性數值可藉由連接線245以及傳輸線26被傳輸至電腦系統。另一方面，電腦系統中安裝有測試程式，其記錄有預設電性數值，當電腦系統接收到電性數值時，可將其與預設電性數值比較而判斷被測物20是否通過測試。其中，當電性數值等於或接近於預設電性數值時，測試程式可判斷電性接點正常，且決定被測物20通過測試。反之，電性數值與預設電性數值差異過大時，測試程式則判斷電性接點異常，且決定被測物20未通過測試。

於被測物20之測試完成之後，使用者操作而控制導電板體23遠離承載座22，以便取出被測物20，同時，複數測試探針24不再被推抵，且因應彈性元件243釋放彈性力而使測試探針24回復至未被推抵前的位置。之後，使用者可放置下一被測物於承載座22上，以進行下一被測物的測試。

需特別說明的有二，第一，於複數測試探針24分別與相對應的電性接點201接觸時，被導電的被測物20所產生的電流藉由電性接點201流至針軸244、內管242以及外管241，最後該電流被外管241上之絕緣層25阻隔，以避免漏電現象發生。因此，本發明測試座2之測試過程中 不但不會受靜電放電影響，不會發生漏電現象。第二，本較佳實施例中，絕緣層25係設置於外管241之外表面2411上，但非以此為限。於另一較佳實施例中，絕緣層35係設置於導電板體23之開孔232的側壁2321上，如圖6所示。當測試探針24穿過開孔232而穿設於導電板體23上時，絕緣層35亦可分隔測試探針24以及導電板體23而避免測試探針24與導電板體23接觸，以避免漏電發生。

根據上述內容可知，本發明測試座藉由以導電板體取代傳統的塑膠板體，而解決靜電放電的問題，且於測試探針與導電板體之間設置絕緣層而分隔測試探針以及導電板體，以避免電流由測試探針被傳導至導電板體。因此，本發明測試座可同時解決靜電放電以及漏電的問題，不但不會損壞被測物，且不會發生測試準確度下降的問題。

以上所述僅為本發明之較佳實施例，並非用以限定本發明之申請專利範圍，因此凡其它未脫離本發明所揭示之精神下所完成之等效改變或修飾，均應包含於本案之申請專利範圍內。

20‧‧‧被測物

23‧‧‧導電板體

24‧‧‧測試探針

25‧‧‧絕緣層

201‧‧‧電性接點

231‧‧‧導電板體之下表面

232‧‧‧開孔

241‧‧‧外管

242‧‧‧內管

244‧‧‧針軸

245‧‧‧連接線

2411‧‧‧外管之外表面

2442‧‧‧針軸之第二端

Claims (10)

1. 一種測試座，用以測試一被測物，且該被測物上具有一電性接點，該測試座包括：一座體；一承載座，設置於該座體上，用以承載該被測物；一導電板體，設置於該座體上且位於該承載座之上方，用以相對於該座體移動而接近或遠離該承載座；一測試探針，穿設於該導電板體上且該測試探針伸出於該導電板體之一下表面，用以於該導電板體接近該承載座時與該電性接點接觸；以及一絕緣層，設置於該測試探針上或該導電板體上，用以分隔該測試探針以及該導電板體。
2. 如申請專利範圍第1項所述之測試座，其中該絕緣層係設置於該測試探針之一外表面上，且分隔該測試探針以及該導電板體而避免漏電現象。
3. 如申請專利範圍第2項所述之測試座，其中該絕緣層係由絕緣油墨而形成，且以塗佈方式或印刷方式設置於該測試探針之該外表面上。
4. 如申請專利範圍第2項所述之測試座，其中該測試探針包括：一外管，該絕緣層設置於該外管之一外表面上；一內管，部份容置於該外管內；一彈性元件，容置於該內管內，用以提供一彈性力；以及一針軸，部份容置該內管內且該針軸之一第一端與該彈性元件接觸，而該針軸之一第二端與該電性接點接觸；其中當該針軸之該第二端與該電性 接點接觸時，該針軸被該電性接點推抵而可相對於該內管移動。
5. 如申請專利範圍第4項所述之測試座，其中當該針軸之該第二端與該電性接點接觸時，該被測物之一電流藉由該電性接點流至該針軸、該內管以及該外管，且該電流被該外管上之該絕緣層阻隔，以避免漏電現象。
6. 如申請專利範圍第1項所述之測試座，其中該導電板體具有一開孔，貫穿該導電板體，且該絕緣層設置於該開孔之一側壁上，以分隔該測試探針以及該導電板體。
7. 如申請專利範圍第6項所述之測試座，其中該絕緣層係絕緣油墨而形成，且以塗佈方式或印刷方式設置於該開孔之該側壁上。
8. 如申請專利範圍第6項所述之測試座，其中當該頂針與該電性接點接觸時，該被測物之一電流藉由該電性接點流至該頂針，且該電流被該開孔上之該絕緣層阻隔，以避免漏電現象。
9. 如申請專利範圍第1項所述之測試座，其中該承載座具有複數固定柱體，用以穿過該被測物中相對應之複數固定開孔，而固定該被測物於該承載座上。
10. 如申請專利範圍第1項所述之測試座，其中該導電板體係以金屬材質所製成。