TW201606339A - 微細凹凸構造體、抗反射物品、顯示器以及汽車用構件 - Google Patents

Abstract

一種微細凹凸構造體，其在表面具有微細凹凸構造，且微細凹凸構造包含活性能量線硬化性組成物的硬化物，具有相鄰接的凸部的間隔為50nm以上、400nm以下的多個凸部，凸部的縱橫比為0.6～1.5，形成微細凹凸構造的硬化物的在25℃時的彈性係數為15MPa～140MPa，硬化物的具有多個凸部的表面的紅外線吸收光譜中的在3700cm-1 ～3100cm-1 的區域具有吸收極大值的峰值面積A1、與在3100cm-1 ～2700cm-1 的區域具有吸收極大值的峰值面積A2之比（A1/A2）為0.01～0.35。

Description

微細凹凸構造體

本發明是有關於一種微細凹凸構造體。 本申請案主張基於2014年7月11日在日本申請的日本專利特願2014-142811號的優先權，並將其內容引用至本文中。

已知，表面具有相鄰的凸部或凹部的間隔為可見光的波長以下的尺寸的微細凹凸構造的微細凹凸構造體，藉由折射率連續性地變化而表現出抗反射性能。另外，所述微細凹凸構造體亦可藉由蓮花效應（lotus effect）而表現出撥水性能。

在將此種微細凹凸構造體用於人手接觸的顯示器表面時，指紋（皮脂污漬）會附著在微細凹凸構造體上，而無法容易地除去。其原因是，污漬進入微細的凹凸間，僅擦拭表面無法除去凹凸間的污漬。在微細的凹凸間充滿污漬的結果是原本的抗反射性能受損。 因此，為了解決此種問題，例如在專利文獻1中提出，藉由使微細凹凸構造體變為親水性，而在污漬附著時進行濕擦，從而使污漬自樹脂表面浮出而去除的方法。另外，在專利文獻2中記載，藉由使用為疏水性且具有適度的柔軟性的硬化樹脂形成微細凹凸構造體，而利用乾擦將污漬擦去的方法；或使微細凹凸構造體表面含有氟或矽的方法。 [現有技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]國際公開第2011/115162號 [專利文獻2]日本專利特開2011-76072號公報

[發明所欲解決之課題]

然而，在專利文獻1所記載的方法中存在如下問題：在電子設備的顯示器等有可能因水而引起故障等的用途中的使用受到限制。另外，在專利文獻2所記載的方法中，本發明者等進行研究的結果是發現存在如下問題：未必表現出優異的防污性。 本發明鑒於所述的各種情況而成。即，本發明的目的在於提供一種解決所述問題點，並且兼顧優異的防污性與抗反射性能的微細凹凸構造體。 [解決課題之手段]

即，本發明如以下所述。 （1）一種微細凹凸構造體，其在表面具有微細凹凸構造，且 所述微細凹凸構造包含活性能量線硬化性組成物的硬化物，具有相鄰接的凸部的間隔為50 nm以上、400 nm以下的多個凸部， 所述凸部的縱橫比為0.6～1.5， 形成所述微細凹凸構造的硬化物的在25℃時的彈性係數為15 MPa～140 MPa， 所述硬化物的具有所述多個凸部的表面的紅外線吸收光譜中的在3700 cm^-1 ～3100 cm^-1 的區域具有吸收極大值的峰值面積A1、與在3100 cm^-1 ～2700 cm^-1 的區域具有吸收極大值的峰值面積A2之比（A1/A2）為0.01～0.35。 （2）如（1）所記載的微細凹凸構造體，其中所述峰值面積A1、與所述峰值面積A2之比（A1/A2）為0.32以下。 （3）如（2）所記載的微細凹凸構造體，其中所述峰值面積A1、與所述峰值面積A2之比（A1/A2）為0.30以下。 （4）如（1）至（3）中任一項所記載的微細凹凸構造體，其中形成所述微細凹凸構造的所述硬化物的在25℃時的彈性係數為70 MPa～140 MPa。 （5）如（4）所記載的微細凹凸構造體，其中形成所述微細凹凸構造的所述硬化物的在25℃時的彈性係數為90 MPa～140 MPa。 （6）如（1）至（4）中任一項所記載的微細凹凸構造體，其中在將所述活性能量線硬化性組成物所含的聚合性成分的合計設為100質量份時，在側鏈的末端具有羥基、醯胺基、及胺甲酸酯（carbamate）基的至少一種的聚合性單體成分的含量為30質量份以下。 （7）如（1）至（6）中任一項所記載的微細凹凸構造體，其中所述活性能量線硬化性組成物包含：含有氧伸烷基的聚合性成分、及含有矽酮的成分；在將聚合性成分的合計設為100質量份時，所述含有矽酮的成分的含有率Y（質量份）、與聚合性成分中的氧伸烷基的含有率X（質量份）滿足：   -1.4X+14 ≦Y≦-1.4X+70。   （8）如（7）所記載的微細凹凸構造體，其中包含0.1質量份～25質量份的所述含有矽酮的成分。 （9）如（7）或（8）所記載的微細凹凸構造體，其中包含20質量份～40質量份的所述含有氧伸烷基的聚合性成分。 （10）如（1）所記載的微細凹凸構造體，其中相鄰接的凸部的間隔為150 nm以上、300 nm以下。 （11）一種抗反射物品，其具備：如（1）所記載的微細凹凸構造體。 （12）一種顯示器，其具備：如（1）所記載的微細凹凸構造體及圖像顯示裝置或對象物。 （13）一種汽車用構件，其具備：如（1）所記載的微細凹凸構造體及汽車用構件。 [發明的效果]

根據本發明，可提供一種兼顧優異的防污性與抗反射性能的微細凹凸構造體。

[微細凹凸構造體] 圖1A及圖1B是表示本發明的微細凹凸構造體的實施形態的示意性剖面圖。圖1A所示的微細凹凸構造體10是在基材11上積層有作為本發明的活性能量線硬化性組成物的硬化物的層（表層）12者。層12的表面具有微細凹凸構造。在微細凹凸構造體中，形成微細凹凸構造的硬化物是指微細凹凸構造體的表層。微細凹凸構造是圓錐狀凸部13、與凹部14分別以等間隔w1而形成。凸部的形狀較佳為垂直面的剖面積自頂點側向基材側連續地增大的形狀。藉由設為此種形狀，而可使折射率自凸部的頂點側向基材側連續地增大。其結果，可抑制因波長引起的反射率的變動（波長依存性），抑制可見光的散射，而使微細凹凸構造體變為低反射率。 凸部的間隔w1（或凹部的間隔）較佳為可見光的最短波長（380）以下。所謂凸部的間隔，是指自凸部的最高的位置至相鄰的凸部的最高的位置為止的距離，所謂凹部的間隔，是指自凹部的最深部至相鄰的凹部的最深部為止的距離。若凸部的間隔w1為380 nm以下，則可抑制可見光的散射，並可作為抗反射膜而較佳地用於光學用途。凸部的間隔w1為50 nm以上、400 nm，較佳為100 nm以上、380 nm以下，更佳為150 nm以上、300 nm以下。 另外，凸部的高度或凹部的深度、即凹部的最深部14a與凸部的頂部13a的垂直距離d1，較佳為設為可抑制反射率因波長而變動的大小。具體而言，垂直距離d1較佳為120 nm以上，更佳為150 nm以上，特佳為180 nm以上。另外，垂直距離d1較佳為120 nm以上、450 nm以下，更佳為150 nm以上、380 nm以下，特佳為180 nm以上、300 nm以下。此處，w1及d1是利用場發射型掃描電子顯微鏡藉由加速電壓為3.00 kV的圖像的測定而得的任意的10點的測定值的算術平均值。 凸部的高度越高，則可見光區域中的最高反射率與最低反射率的差變得越小。但是，若使凸部的高度變得過高，則有凸部的機械強度降低，而凸部容易折斷的擔憂。另外，若使凸部變得過高，則有相鄰接的凸部合而為一（凸部彼此挨著），而微細凹凸構造體的反射率上升的情況。藉由將垂直距離d1設為450 nm以下，而相鄰的凸部可彼此合而為一，或可較佳地維持凸部的機械強度。

本發明的微細凹凸構造體的凸部的縱橫比為0.6～1.5。在凸部的間隔w1為300 nm時，若凸部的高度d1為180 nm，則可獲得充分的抗反射性能，因此凸部的縱橫比成為0.6。在凸部的間隔w1為120 nm時，若凸部的高度d1為180 nm，則可獲得充分的抗反射性能，因此凸部的縱橫比成為1.5。若凸部的縱橫比為1.5以下，則藉由相鄰的凸部彼此貼近，而可避免抗反射性能降低等現象。另外，若凸部的縱橫比為0.6以上，則可獲得充分的抗反射性能。 另外，凸部的縱橫比是將以如上所述的方式求出的凸部的高度d1除以凸部的間隔w1而得的值。凹部的縱橫比亦同樣是將凹部的深度d1除以凹部的間隔w1而得的值。

凸部可為如圖1B所示的凸部的頂部13b為曲面的吊鐘狀，此外，亦可採用垂直面的剖面積自頂點側向基材側連續地增大的形狀。 微細凹凸構造並不限定於圖1A、圖1B所示的實施形態，可形成於基材的單面或整個面、或整體或一部分。另外，為了有效地發揮出撥水性能，較佳為凸部的突起的前端細，在水滴存在於具有微細凹凸構造的表面狀時，較佳為微細凹凸構造體與水滴的接觸面的硬化物所佔有的面積儘可能少的形狀。 另外，在基材11與表層12之間，可設置用以提高耐擦傷性或接著性等各物性的中間層。

作為基材，若為可支撐具有微細凹凸構造的硬化物者，則可為任意者，在將微細凹凸構造體應用於顯示器構件時，較佳為透明基材、即透射可見光的成形體。作為構成透明基材的材料，例如可列舉：甲基丙烯酸甲酯（共）聚合物、聚碳酸酯、苯乙烯（共）聚合物、甲基丙烯酸甲酯-苯乙烯共聚物、二乙酸纖維素、三乙酸纖維素、乙酸丁酸纖維素、聚對苯二甲酸乙二酯、聚乳酸等聚酯，聚醯胺、聚醯亞胺、聚醚碸、聚碸、聚乙烯、聚丙烯、聚甲基戊烯、聚氯乙烯、聚乙烯縮醛、聚醚酮、聚胺基甲酸酯、所述物質的複合物（聚甲基丙烯酸甲酯與聚乳酸的複合物、聚甲基丙烯酸甲酯與聚氯乙烯的複合物等）、玻璃。基材可包含一種所述材料，亦可包含兩種以上。在將本發明的微細凹凸構造體用於顯示器或汽車用構件時，微細凹凸構造體較佳為具有耐衝擊性，因此較佳為基材包含聚碳酸酯。此處，（共）聚合物表示聚合物或共聚物。 基材的形狀可為片狀、膜狀等任一種，其製造方法例如亦可使用藉由射出成形、擠出成形、澆鑄成形等任一種製法而製造者。而且，為了改良密著性、抗靜電性、耐擦傷性、耐候性等特性，而在透明基材的表面可實施塗佈或電暈處理。

基材的厚度並無特別限定。基材的厚度較佳為38 μm以上，更佳為80 μm以上，尤佳為125 μm以上，特佳為400 μm以上。基材的厚度的上限並無特別限定，基材的厚度較佳為38 μm以上、1 mm以下，更佳為80 μm以上、500 μm以下，尤佳為125 μm以上、300 μm以下。再者，基材的厚度是使用測微計測定基材任意5個部位的厚度所得測定值的平均值。 此種微細凹凸構造體可適合用作抗反射膜，可獲得高的耐擦傷性、與優異的指紋除去性等效果。

（彈性係數） 本發明的微細凹凸構造體中，形成微細凹凸構造的硬化物的在25℃時的彈性係數為15 MPa～140 MPa。 硬化物的彈性係數可根據JIS K 7161而測定。作為一例，將硬化性組成物流入至2片玻璃板之間，在夾持厚度約0.2 mm的間隔物的狀態下，使其硬化而成形為板狀，將由所述板衝壓成既定的啞鈴形狀者作為拉伸試驗用試驗片。 所述拉伸試驗使用通常的拉伸試驗機以試驗速度1 mm/分鐘的速度進行。拉伸彈性係數亦稱為楊氏模量。在本申請案中，所謂「彈性係數」，是指拉伸彈性係數。是將單位剖面積的拉伸應力除以拉伸應變而得的值，通常在拉伸伸長率為1%～2%時計算。所謂拉伸應變，是將拉伸伸長率除以試樣片的長度而得的值，若為既定的啞鈴形狀的試驗片，則通常採用將拉伸伸長率除以標線間距離而得的值。本發明的彈性係數是指在25℃的環境下測定的值。 彈性係數亦可使用通常的微壓痕儀（例如菲希爾測試儀器（Fischer Instruments）公司製造的菲希爾斯科普（Fischerscope）HM2000等）、或通常的黏彈性測定裝置（例如精工電子（Seiko Instruments）公司製造的「DMS110」等）進行測定。 另外，可使用微小擠入硬度試驗機，獲得微細凹凸構造體的表層部分的擠入彈性係數的值。此處所得的擠入彈性係數與拉伸彈性係數、即楊氏模量存在相關性。關於擠入彈性係數與楊氏模量的相關性的說明記載於：「材料試驗技術」（Vol.43, NO.2, P148-152, 1998年4月號）中揭示的「藉由通用硬度試驗進行材料特性值的評價」（庫耐麗赫馬特、迪特戴傑（Cornelia Heermant, Dieter Dengel））共著, 片山繁雄, 佐藤茂夫 共譯）。 使用微小擠入硬度測定器，測定微細凹凸構造體的表層部分的擠入彈性係數的方法，以如下方式進行。即，在積層構造體的基材側的表面，經由光學黏著劑貼附透明的玻璃板，並將其作為樣品。使用微小擠入硬度試驗機測定樣品的擠入彈性係數。壓頭使用維氏壓頭（四面鑽石錐體），評價是在溫度25℃、濕度50%下進行。評價程式以[擠入（100 mN/s、5秒鐘]→[蠕變（100 mN、10秒）]→[徐荷（100 mN/s、5秒鐘）]進行。 在將微細凹凸構造體作為試樣而用於測定時，可將微細凹凸構造體切割成可設置於試驗機的大小而使用。作為透明的玻璃板，可使用：松浪硝子工業股份有限公司製造、「大型載玻片、件號：S9112」、76 mm×52 mm尺寸。作為微小擠入硬度試驗機，可使用：裝置名：菲希爾斯科普（Fischerscope）HM2000XYp、菲希爾測試儀器製造。另外，作為解析軟體，可使用：WIN-HCU、菲希爾測試儀器製造。 若彈性係數為15 MPa以上，則在凸部的縱橫比為0.6～1.5的微細凹凸構造中，不會出現因凸部彼此的合而為一而抗反射性能受損。另外，若彈性係數為140 MPa以下，則可藉由乾擦而良好地除去指紋污漬。本發明的微細凹凸構造體的彈性係數為15 MPa～140 MPa，較佳為60 MPa～140 MPa，更佳為70 MPa～140 MPa，尤佳為90 MPa～140 MPa，最佳為100 MPa～130 MPa。

（紅外線吸收光譜） 本發明的微細凹凸構造體中，硬化物表面的紅外線吸收光譜中的在3700 cm^-1 ～3100 cm^-1 的區域具有吸收極大值的峰值面積A1與在3100 cm^-1 ～2700 cm^-1 的區域具有吸收極大值的峰值面積A2之比（A1/A2）為0.01～0.35。 紅外線吸收光譜中的在3700 cm^-1 ～3100 cm^-1 的區域具有吸收極大值的吸收曲線，是反映源自羥基或醯胺基的氫鍵的形成狀態者。 紅外線吸收光譜中的在3100 cm^-1 ～2700 cm^-1 的區域具有吸收極大值的吸收曲線，是源自除了羥基或醯胺基以外的作為分子末端的甲基或乙基等烷基的峰值。 指紋的成分大部分為水分，實際上以指紋痕跡殘留者是脂肪酸酯或游離脂肪酸。特別是藉由游離脂肪酸與對象物表面的官能基相互作用，而變得難以除去。即，若在硬化物的表面存在大量的羥基、醯胺基等形成氫鍵的官能基，則有難以除去指紋的傾向。 若A1/A2為0.35以下，則可在表面形成氫鍵的官能基少，而容易除去指紋成分。A1/A2較佳為0.01～0.32，更佳為0.05～0.3，尤佳為0.1～0.3。 為了使A1/A2變為0.35以下，較佳為減少包含羥基、醯胺基、胺甲酸酯基（胺基甲酸酯鍵）的任一者的單體成分的含量。在將聚合性單體成分的合計設為100質量份時，包含羥基、醯胺基、胺甲酸酯基的聚合性單體成分較佳為20質量份以下，更佳為10質量份以下，尤佳為5質量份以下，最佳為0質量份。另外，較佳為亦減少含有表現出與羥基類似的性質的硫醇基的單體成分，在將聚合性單體成分的合計設為100質量份時，包含硫醇基、羥基、醯胺基、胺甲酸酯基的聚合性單體成分較佳為20質量份以下，更佳為10質量份以下，尤佳為5質量份以下，最佳為0質量份。

作為評價硬化物表面的紅外線吸收光譜的方法，已知有紅外分光法。 紅外分光法是對試樣照射紅外線，並測定相當於分子的振動的能量吸收的方法，全反射法（Attenuated Total Reflection，ATR法）是使高折射率介質（稜鏡）與試樣密著，利用在介質與試樣的界面引起的紅外線的全反射。全反射法是測定藉由在反射時紅外線極少量滲入試樣內部而產生的衰減（evanescent）波者，用於試樣的表面的構造解析等。

作為試樣，使用在溫度調整為23℃、相對濕度調整為50%的室內靜置一晝夜以上者。在將微細凹凸構造體作為試樣而用於測定時，將微細凹凸構造體切割成可設置於測定裝置的大小（例如一條邊為50 mm的試驗片），並將使所述試樣在溫度調整為23℃、相對濕度調整為50%的室內靜置一晝夜以上者用於測定即可。 作為裝置，只要為可測定紅外線吸收光譜的裝置即可，例如可列舉：尼高力（Nicolet）公司的FT-IR Avater330。 測定是將試樣的形成有微細凹凸構造的面作為測定的對象而進行。 測定是使用鑽石製稜鏡，安裝既定的夾具，藉由ATR法在測定波數4000 cm^-1 ～700 cm^-1 、分解能4 cm^-1 、累計次數64次的條件下進行。 根據所得的紅外線吸收光譜，使用OMNIC E.S.P.軟體封裝的峰值面積工具，求出C-H伸縮振動的峰值面積（SC-H）與OH伸縮振動的峰值面積（SOH）之比（SOH/SC-H）。C-H伸縮振動的峰值面積設為在3100 cm^-1 ～2700 cm^-1 的區域具有吸收極大值的吸收曲線的面積，OH伸縮振動的峰值面積設為在3700 cm^-1 ～3100 cm^-1 的區域具有吸收極大值的吸收曲線的面積。基線設為將各吸收曲線的兩側的下擺或與另外吸收曲線之間的谷連結的線。

此處，C-H伸縮振動的峰值面積（SC-H）與源自OH伸縮振動的峰值面積（SOH）之比（SOH/SC-H），成為定量反映表面的氫鍵形成能的值。

為了使A1/A2變為0.35以下，簡便的是在硬化物12的材料（組成物）中不含羥基或醯胺基、胺甲酸酯基（胺基甲酸酯鍵）。例如使用：側鏈的末端為烷基或芳香環、脂肪環的聚合性單體成分、聚酯(甲基)丙烯酸酯或聚醚(甲基)丙烯酸酯等多官能單體。

作為用以獲得在側鏈的末端具有烷基的聚合物的單體成分，例如可列舉：具有烷基的(甲基)丙烯酸酯。作為具有烷基的(甲基)丙烯酸酯，例如可列舉：(甲基)丙烯酸甲酯、(甲基)丙烯酸乙酯、(甲基)丙烯酸2-丙酯、(甲基)丙烯酸正丁酯、(甲基)丙烯酸異丁酯、(甲基)丙烯酸第三丁酯、(甲基)丙烯酸辛酯、(甲基)丙烯酸月桂酯、(甲基)丙烯酸鯨蠟酯等。作為用以獲得在側鏈的末端具有芳香環、或脂肪環的聚合物的單體成分，可列舉：(甲基)丙烯酸苄酯、(甲基)丙烯酸苯酯、(甲基)丙烯酸苯氧基乙酯、(甲基)丙烯酸乙氧基化苯氧基乙酯、(甲基)丙烯酸異冰片酯、(甲基)丙烯酸金剛烷酯、(甲基)丙烯酸二環戊酯、(甲基)丙烯酸二環戊烯酯等。 另外，作為聚酯(甲基)丙烯酸酯或聚醚(甲基)丙烯酸酯等多官能單體，可列舉：聚乙二醇二(甲基)丙烯酸酯、聚丙二醇二(甲基)丙烯酸酯、聚四亞甲基二醇二(甲基)丙烯酸酯、三羥甲基丙烷三(甲基)丙烯酸酯、季戊四醇四(甲基)丙烯酸酯、二-三羥甲基丙烷四(甲基)丙烯酸酯、二季戊四醇六(甲基)丙烯酸酯、另外所述的乙氧基化改質者或丙氧基化改質者。 作為市售品，可列舉：東亞合成（股）製造的阿羅尼庫斯（Aronix）（註冊商標）系列、新中村化學工業（股）製造的NK酯（NK Ester）（註冊商標）系列等。

[微細凹凸構造體的製造方法] 本發明的微細凹凸構造體的製造方法是用於製造微細凹凸構造體的方法，所述微細凹凸構造體是將活性能量線硬化性組成物塗佈於基材後，在經塗佈的面上被覆具有微細凹凸構造的反轉構造的模具，使活性能量線硬化性組成物硬化，然後自模具脫模而成，相鄰接的凸部或凹部的間隔為可見光的波長以下，凸部或凹部的縱橫比為0.6～1.5；且形成微細凹凸構造的硬化物的在25℃時的彈性係數為15 MPa～140 MPa，硬化物表面的紅外線吸收光譜中在3700 cm^-1 ～3100 cm^-1 的區域具有吸收極大值的峰值面積A1、與在3100 cm^-1 ～2700 cm^-1 的區域具有吸收極大值的峰值面積A2之比（A1/A2）為0.01～0.35。

在模具（mould）上形成微細凹凸構造的反轉構造的方法並無特別限定，作為其具體例，可列舉：電子束微影法、雷射光干涉法。例如在適當的支撐基板上塗佈適當的光阻膜，藉由紫外線雷射、電子束、X射線等光進行曝光，並顯影，藉此獲得形成有微細凹凸構造的模具，亦可將所述模具直接用作模具（mould）。另外，亦可藉由經由光阻層利用乾式蝕刻選擇性地蝕刻支撐基板，並將抗蝕劑層除去，而在支撐基板本身直接形成微細凹凸構造。 另外，亦可利用陽極氧化多孔氧化鋁作為模具（mould）。例如可利用以20 nm～200 nm的間隔形成有多個細孔的細孔構造作為模具，所述細孔構造是將草酸、硫酸、磷酸等作為電解液，在既定的電壓下將鋁進行陽極氧化而形成。根據所述方法，在恆定電壓下將高純度鋁進行長時間陽極氧化後，暫時將氧化皮膜除去，並再次進行陽極氧化，藉此可自組地形成規則性非常高的細孔。而且，在第二次進行陽極氧化的步驟中，藉由將陽極氧化處理與孔徑擴大處理相組合，而亦可形成剖面不是矩形而是三角形或吊鐘型的微細凹凸構造。另外，藉由適當調節陽極氧化處理與孔徑擴大處理的時間或條件，而亦可使細孔最深部的角度變得尖銳。 而且，可藉由電鑄法等由具有微細凹凸構造的原模具製作複製模具，並使用其作為模具。 模具本身的形狀並無特別限定，例如可為平板狀、帶狀、輥狀的任一種。特別是若設為帶狀或輥狀，則可連續地轉印微細凹凸構造，並可進一步提高生產性。

在此種模具與基材間配置所述組成物。作為在模具與基材間配置組成物的方法，可利用如下的方法等：於在模具與基材間配置組成物的狀態下將模具與基材擠壓，藉此在成型模腔中注入組成物。 作為對基材與模具間的組成物照射活性能量線進行聚合硬化的方法，較佳為藉由紫外線照射的聚合硬化。作為照射紫外線的燈，例如可使用：高壓水銀燈、金屬鹵化物燈、熔融燈。 紫外線的照射量只要根據聚合起始劑的吸收波長或含量進行確定即可。通常其累計光量較佳為400 mJ/cm² ～4000 mJ/cm² ，更佳為400 mJ/cm² ～2000 mJ/cm² 。若累計光量為400 mJ/cm² 以上，則可使組成物充分硬化而抑制因硬化不足引起的耐擦傷性降低。另外，若累計光量為4000 mJ/cm² 以下，則可防止硬化物的著色或基材的劣化。照射強度亦無特別限制，較佳為抑制為不導致基材的劣化等的程度的輸出。 在聚合、硬化後，將模具剝離，而獲得具有微細凹凸構造的硬化物，從而獲得微細凹凸構造體。 另外，在所述基材為立體形狀的成形體等時，亦可將所形成的微細凹凸構造體貼附於另外成形的立體形狀的成形體。 如此而得的微細凹凸構造體在其表面以鑰匙與鑰匙孔的關係轉印模具的微細凹凸構造，而兼具撥水性，並且藉由折射率連續性地變化而可表現出優異的抗反射性能，而適合作為膜、或立體形狀的成形品的抗反射膜。

[活性能量線硬化性組成物] 本發明的活性能量線硬化性組成物在硬化後的硬化物的在25℃時的彈性係數為15 MPa～140 MPa，硬化物表面的紅外線吸收光譜中的在3700 cm^-1 ～3100 cm^-1 的區域具有吸收極大值的峰值面積A1、與在3100 cm^-1 ～2700 cm^-1 的區域具有吸收極大值的峰值面積A2之比（A1/A2）為0.01～0.35。 如上所述般，若硬化後的硬化物為所述範圍，則適於形成具有優異的防污性、特別是指紋除去性、或耐擦傷性等效果的微細凹凸構造。 本發明的活性能量線硬化性組成物較佳為包含聚合性單體成分與活性能量線聚合起始劑。

＜聚合性單體成分＞ 作為聚合性單體成分，可列舉：在分子中具有自由基聚合性鍵及/或陽離子聚合性鍵的單體、寡聚物、反應性聚合物等。 具有自由基聚合性鍵的單體成分可列舉：單官能單體成分及多官能單體成分，並且可列舉各種(甲基)丙烯酸酯及其衍生物。

作為具有自由基聚合性鍵的單官能單體，可列舉：(甲基)丙烯酸甲酯、(甲基)丙烯酸乙酯、(甲基)丙烯酸丙酯、(甲基)丙烯酸正丁酯、(甲基)丙烯酸異丁酯、(甲基)丙烯酸第二丁酯、(甲基)丙烯酸第三丁酯、(甲基)丙烯酸2-乙基己酯、(甲基)丙烯酸月桂酯、(甲基)丙烯酸烷基酯、(甲基)丙烯酸十三烷基酯、(甲基)丙烯酸硬脂酯、(甲基)丙烯酸環己酯、(甲基)丙烯酸苄酯、(甲基)丙烯酸苯氧基乙酯、(甲基)丙烯酸異冰片酯、(甲基)丙烯酸縮水甘油酯、(甲基)丙烯酸四氫糠酯、(甲基)丙烯酸烯丙酯、(甲基)丙烯酸2-羥基乙酯、(甲基)丙烯酸羥基丙酯、(甲基)丙烯酸2-甲氧基乙酯、(甲基)丙烯酸2-乙氧基乙酯等(甲基)丙烯酸酯衍生物；(甲基)丙烯酸、(甲基)丙烯腈；苯乙烯、α-甲基苯乙烯等苯乙烯衍生物；(甲基)丙烯醯胺、N-二甲基(甲基)丙烯醯胺、N-二乙基(甲基)丙烯醯胺、二甲基胺基丙基(甲基)丙烯醯胺等(甲基)丙烯醯胺衍生物等。所述可單獨使用一種，亦可將兩種以上加以組合而使用。

作為具有自由基聚合性鍵的多官能單體，可列舉：乙二醇二(甲基)丙烯酸酯、三丙二醇二(甲基)丙烯酸酯、異三聚氰酸環氧乙烷改質二(甲基)丙烯酸酯、三乙二醇二(甲基)丙烯酸酯、二乙二醇二(甲基)丙烯酸酯、新戊二醇二(甲基)丙烯酸酯、1,6-己二醇二(甲基)丙烯酸酯、1,5-戊二醇二(甲基)丙烯酸酯、1,3-丁二醇二(甲基)丙烯酸酯、聚丁二醇二(甲基)丙烯酸酯、2,2-雙(4-(甲基)丙烯醯氧基聚乙氧基苯基)丙烷、2,2-雙(4-(甲基)丙烯醯氧基乙氧基苯基)丙烷、2,2-雙(4-(3-(甲基)丙烯醯氧基-2-羥基丙氧基)苯基)丙烷、1,2-雙(3-(甲基)丙烯醯氧基-2-羥基丙氧基)乙烷、1,4-雙(3-(甲基)丙烯醯氧基-2-羥基丙氧基)丁烷、二羥甲基三環癸烷二(甲基)丙烯酸酯、雙酚A的環氧乙烷加成物二(甲基)丙烯酸酯、雙酚A的環氧丙烷加成物二(甲基)丙烯酸酯、羥基特戊酸新戊二醇二(甲基)丙烯酸酯、二乙烯苯、亞甲基雙丙烯醯胺等二官能性單體；季戊四醇三(甲基)丙烯酸酯、三羥甲基丙烷三(甲基)丙烯酸酯、三羥甲基丙烷環氧乙烷改質三(甲基)丙烯酸酯、三羥甲基丙烷環氧丙烷改質三丙烯酸酯、三羥甲基丙烷環氧乙烷改質三丙烯酸酯、異三聚氰酸環氧乙烷改質三(甲基)丙烯酸酯等三官能單體；琥珀酸/三羥甲基乙烷/丙烯酸的縮合反應混合物、二季戊四醇六(甲基)丙烯酸酯、二季戊四醇五(甲基)丙烯酸酯、二-三羥甲基丙烷四丙烯酸酯、四羥甲基甲烷四(甲基)丙烯酸酯等四官能以上的單體；二官能以上的丙烯酸胺基甲酸酯、二官能以上的聚酯丙烯酸酯等。所述可單獨使用一種，亦可將兩種以上加以組合而使用。

作為具有陽離子聚合性鍵的單體成分，可列舉：具有環氧基、氧雜環丁基、噁唑基、乙烯基氧基等的單體，較佳為具有環氧基的單體。

作為在分子中具有自由基聚合性鍵及/或陽離子聚合性鍵的寡聚物或反應性聚合物，可列舉：不飽和二羧酸與多元醇的縮合物等不飽和聚酯類；聚酯(甲基)丙烯酸酯、聚醚(甲基)丙烯酸酯、多元醇(甲基)丙烯酸酯、環氧(甲基)丙烯酸酯、(甲基)丙烯酸胺基甲酸酯、陽離子聚合型環氧化合物、在側鏈具有自由基聚合性鍵的所述單體的均聚合或共聚合聚合物等。

特別是就指紋除去性的觀點而言，較佳為使用：在側鏈末端具有烷基的單體、具有脂肪環結構的單體、具有聚二甲基矽氧烷骨架的單體、具有氟化烷基鏈的單體。 作為具有烷基的單體，可列舉：具有碳數12以上的烷基的(甲基)丙烯酸酯。例如可列舉：(甲基)丙烯酸月桂酯、(甲基)丙烯酸鯨蠟酯、(甲基)丙烯酸硬脂酯、(甲基)丙烯酸山崳酯等。 作為具有脂肪環結構的單體，可列舉：(甲基)丙烯酸異冰片酯、(甲基)丙烯酸金剛烷酯、(甲基)丙烯酸二環戊烯酯、(甲基)丙烯酸二環戊酯等具有脂肪環結構的(甲基)丙烯酸酯。 作為具有聚二甲基矽氧烷骨架的單體，例如可列舉反應性矽酮系界面活性劑等。市售品中可列舉：塞依拉普萊（Silaplane）系列（商品名、智索（Chisso）（股）製造）等。 作為具有氟化烷基鏈的單體，例如可列舉：具有聚氟烷基鏈的化合物、(甲基)丙烯酸2,2,3,3-四氟丙酯、(甲基)丙烯酸1,1,2,2-四氟丙酯、(甲基)丙烯酸2,2,3,3,4,4,5,5-八氟戊酯、(甲基)丙烯酸1,1,2,2,3,3,4,4-八氟戊酯、(甲基)丙烯酸1,1,2,2,3,3,4,4,5,5,6,6-十二氟庚酯等具有含有氟的烷基的(甲基)丙烯酸酯等。另外，作為氟系化合物，亦可使用：使氟化醇與具有異三聚氰酸基的化合物反應而得的氟化胺基甲酸酯化合物。

另外，就指紋除去性的觀點而言，較佳為使用含有氧伸烷基的單體。藉由使用含有氧伸烷基的成分，而可使微細凹凸構造體變得柔軟，並可較佳地保持指紋污漬的除去性。氧伸烷基在全部聚合性單體成分中所佔的質量的比例較佳為10%以上、70%以下，更佳為12%以上、50%以下，尤佳為15%以上、40%以下。藉由氧伸烷基的比例設為70%以下，而可抑制微細凹凸構造體的表面變為親水性，並可藉由乾擦而更容易地除去指紋污漬所含的親水性成分。藉由氧伸烷基設為10%以上，而可較佳地維持微細凹凸構造體的柔軟性，並可抑制在除去污漬時微細凹凸構造體表面受傷，並且在擦去後微細凹凸構造體的形狀容易進行彈性恢復。

氧伸烷基的比例的計算方法按以下方式計算。首先，計算氧伸烷基含有率、即包含氧伸烷基的單體中的氧伸烷基的分子量相對於包含氧伸烷基的單體的分子量的比例（氧伸烷基的分子量/包含氧伸烷基的單體的分子量）。繼而，將各單體的氧伸烷基含有率、與組成中的包含含有所述氧伸烷基的單體的比例的積，作為組成中的源自所述單體的氧伸烷基含有率。將組成中的全部的包含氧伸烷基的單體的、源自單體的組成中的氧伸烷基含有率的和，作為所述組成物的氧伸烷基含有率。

作為構成形成本發明的微細凹凸構造的組成物的多官能單體，較佳為使用具有聚伸烷基二醇骨架的聚醚(甲基)丙烯酸酯或聚酯(甲基)丙烯酸酯。作為二官能單體，可列舉：1,4-丁二醇二(甲基)丙烯酸酯、1,6-己二醇二(甲基)丙烯酸酯、1,9-壬二醇二(甲基)丙烯酸酯、1,10-癸二醇二(甲基)丙烯酸酯、聚乙二醇二(甲基)丙烯酸酯、聚丙二醇二(甲基)丙烯酸酯、聚四亞甲基二醇二(甲基)丙烯酸酯、雙酚A的環氧乙烷加成物二(甲基)丙烯酸酯等。作為三官能以上的單體，可列舉：三羥甲基丙烷三(甲基)丙烯酸酯、季戊四醇四(甲基)丙烯酸酯、二-三羥甲基丙烷四(甲基)丙烯酸酯、二季戊四醇四(甲基)丙烯酸酯、另外所述的乙氧基改質化物或丙氧基化改質物等。 關於所述多官能單體的使用量，為了設定硬化樹脂的彈性係數，而為可適當設計者，在將聚合性單體成分總量設為100質量份時，較佳為使用30質量份以上的二官能單體。 三官能以上的單體未必是必須使用的成分，理想為使用60質量份以下。若使用60質量份以下，則微細凹凸構造體不會變得過硬，而可表現出指紋污漬的除去性。 在構成組成物的多官能單體僅為二官能單體時，較佳為包含雙酚A的環氧乙烷加成物二(甲基)丙烯酸酯。 形成本發明的微細凹凸構造的組成物的一個側面是：在將組成物中所含的聚合性單體成分總量設為100質量份時，包含乙氧基化季戊四醇四丙烯酸酯30質量份～60質量份、乙氧基化三羥甲基丙烷三丙烯酸酯5質量份～40質量份、二官能單體30質量份～50質量份，且乙氧基化季戊四醇四丙烯酸酯、乙氧基化三羥甲基丙烷三丙烯酸酯、及二官能單體的總量為100質量份的組成物。 形成本發明的微細凹凸構造的組成物的另一個側面是：組成物中所含的聚合性單體成分為選自由1,6-己二醇二丙烯酸酯、乙氧基化雙酚A二丙烯酸酯、及聚乙二醇二丙烯酸酯所組成的組群的一種以上化合物的組成物。

另外，除了所述化合物以外，為了表現出撥水性，亦可使用具有氫化聚丁二烯結構的丙烯酸酯等。市售品中例如可使用：聚丁二烯丙烯酸酯「TEAI-1000」（商品名、日本曹達（股）製造）等。所述可使用一種，亦可併用兩種以上。 另外，亦可在微細凹凸構造的表面蒸鍍氟化合物等，而表現出撥水性。進而，較佳為表層具有適度的柔軟性。作為使表層具有適度的柔軟性的方法，可列舉：降低交聯密度的方法、使用分子的運動性高的化合物的方法。

另外，如上所述般為了使A1/A2變為0.35以下，較佳為減少包含羥基、醯胺基、胺甲酸酯基（胺基甲酸酯鍵）的任一種的聚合性單體成分的含量。另外，較佳為亦減少含有表現出與羥基類似的性質的硫醇基的單體成分。在將聚合性單體成分的合計設為100質量份時，包含羥基、醯胺基、胺甲酸酯基（胺基甲酸酯鍵）的聚合性單體成分較佳為20質量份以下，更佳為10質量份以下，尤佳為5質量份以下，最佳為0質量份。另外，關於包含硫醇基的聚合性單體成分，在將聚合性單體成分的合計設為100質量份時，包含羥基、醯胺基、胺甲酸酯基的任一種的聚合性單體與包含硫醇基的聚合性單體成分的合計較佳為20質量份以下，更佳為10質量份以下，尤佳為5質量份以下，最佳為0質量份。在難以將包含羥基、醯胺基、胺甲酸酯基（胺基甲酸酯鍵）的任一種的聚合性單體成分及包含硫醇基的聚合性單體成分的含量設為0質量份時，可將包含羥基、醯胺基、胺甲酸酯基（胺基甲酸酯鍵）的任一種的聚合性單體成分及包含硫醇基的聚合性單體成分的含量的下限分別設為1質量份。

＜活性能量線聚合起始劑＞ 作為活性能量線聚合起始劑，可使用公知的聚合起始劑，可根據使活性能量線硬化性組成物硬化時所用的活性能量線的種類而適當選擇。 例如在利用光硬化反應時，作為光聚合起始劑，可列舉：安息香、安息香甲醚、安息香乙醚、安息香異丙醚、安息香異丁醚、苯偶醯、二苯甲酮、對甲氧基二苯甲酮、2,2-二乙氧基苯乙酮、α,α-二甲氧基-α-苯基苯乙酮、苯甲醯甲酸甲酯、苯甲醯甲酸乙酯、4,4'-雙(二甲基胺基)二苯甲酮、2-羥基-2-甲基-1-苯基丙烷-1-酮等羰基化合物；一硫化四甲基秋蘭姆、二硫化四甲基秋蘭姆等硫化合物；2,4,6-三甲基苯甲醯基二苯基氧化膦、苯甲醯基二乙氧基氧化膦等。所述可單獨使用一種，亦可併用兩種以上。

在利用電子束硬化反應時，作為聚合起始劑，可列舉：二苯甲酮、4,4-雙(二乙基胺基)二苯甲酮、2,4,6-三甲基二苯甲酮、鄰苯甲醯基苯甲酸甲酯、4-苯基二苯甲酮、第三丁基蒽醌、2-乙基蒽醌、2,4-二乙基噻噸酮、異丙基噻噸酮、2,4-二氯噻噸酮等噻噸酮；二乙氧基苯乙酮、2-羥基-2-甲基-1-苯基丙烷-1-酮、苄基二甲基縮酮、1-羥基環己基-苯基酮、2-甲基-2-嗎啉基(4-硫甲基苯基)丙烷-1-酮、2-苄基-2-二甲基胺基-1-(4-嗎啉基苯基)-丁酮等苯乙酮；安息香甲醚、安息香乙醚、安息香異丙醚、安息香異丁醚等安息香醚；2,4,6-三甲基苯甲醯基二苯基氧化膦、雙(2,6-二甲氧基苯甲醯基)-2,4,4-三甲基戊基氧化膦、雙(2,4,6-三甲基苯甲醯基)-苯基氧化膦等醯基氧化膦；苯甲醯基甲酸甲酯、1,7-雙吖啶基庚烷、9-苯基吖啶等。所述可單獨使用一種，亦可併用兩種以上。 相對於聚合性單體成分100質量份，活性能量線硬化性組成物中的聚合起始劑的含量較佳為0.1質量份～10質量份。藉由聚合起始劑為0.1質量份以上，而聚合充分地進行。藉由聚合起始劑為10質量份以下，而樹脂層（微細凹凸構造）不著色，並獲得充分的機械強度。

＜其他成分＞ 組成物可包含非反應性聚合物、活性能量線溶膠凝膠反應性組成物。作為非反應性聚合物，可列舉：丙烯酸系樹脂、苯乙烯樹脂、聚胺基甲酸酯樹脂、纖維素樹脂、聚乙烯丁醛樹脂、聚酯樹脂、熱塑性彈性體等。所述可使用一種，亦可併用兩種以上。 作為活性能量線溶膠凝膠反應性組成物，例如可列舉：烷氧基矽烷化合物、矽酸烷基酯化合物等。作為烷氧基矽烷化合物，可列舉：以RxSi(OR')y表示的化合物。R及R'表示碳數1～10的烷基，x及y為滿足x+y=4的關係的整數。具體可列舉：四甲氧基矽烷、四-異丙氧基矽烷、四-正丙氧基矽烷、四-正丁氧基矽烷、四-第二丁氧基矽烷、四-第三丁氧基矽烷、甲基三乙氧基矽烷、甲基三丙氧基矽烷、甲基三丁氧基矽烷、二甲基二甲氧基矽烷、二甲基二乙氧基矽烷、三甲基乙氧基矽烷、三甲基甲氧基矽烷、三甲基丙氧基矽烷、三甲基丁氧基矽烷等。所述可使用一種，亦可併用兩種以上。

作為矽酸烷基酯化合物，可列舉：以R¹ O[Si(OR³ )(OR⁴ )O]zR² 表示的化合物。R¹ ～R⁴ 分別表示碳數1～5的烷基，z表示3～20的整數。具體可列舉：矽酸甲酯、矽酸乙酯、矽酸異丙酯、矽酸正丙酯、矽酸正丁酯、矽酸正戊酯、乙醯基矽酸酯等。所述可使用一種，亦可併用兩種以上。 組成物中根據需要可含有：紫外線吸收劑、抗氧化劑、脫模劑、潤滑劑、塑化劑、抗靜電劑、光穩定劑、阻燃劑、阻燃助劑、聚合抑制劑、填充劑、矽烷偶合劑、著色劑、強化劑、無機填料、耐衝擊性改良劑等添加劑。

特別是存在以下情況：添加矽酮化合物會使指紋除去性、特別是指紋乾擦性變得更優異。矽酮化合物亦已知有難以殘留黏著劑等糊的效果，具有即便對指紋亦難以附著的效果、且容易擦去除去的效果。即便是氟系化合物亦可期待同樣的效果，在不與聚合性成分分離地混合時，多數情況下矽酮化合物為優異。另外，用以容易混合的改質矽酮化合物亦多有市售而容易獲得。

相對於聚合性單體成分100質量份，較佳為包含0.1質量份～25質量份的所述矽酮化合物等含有矽酮的成分，更佳為0.1質量份～20質量。藉由包含0.1質量份以上的所述矽酮化合物等含有矽酮的成分，而可使微細凹凸構造的表面的指紋乾擦性變得良好。藉由所述矽酮化合物等含有矽酮的成分設為25質量份以下，而可避免微細凹凸構造變得過軟，且在製造成本方面亦較佳。 矽酮化合物可列舉：具有聚二甲基矽氧烷骨架，作為疏水性的甲基、與作為親水性的Si-O的鍵結採取Si-O的主鏈變為螺旋狀，使甲基向外側的結構的化合物。 作為矽酮化合物，例如可列舉：東麗·道康寧（Toray·Dow Corning）公司製造的「SH3746FLUID」、「FZ-77」，信越化學工業（股）製造的「KF-355A」、「KF-6011」等。另外，作為具有聚合反應性部位者，可列舉：智索（股）製造的塞依拉普萊（Silaplane）系列或信越化學工業（股）製造的矽酮二丙烯酸酯「x-22-164」等、日本畢克化學（BYK-Chemie Japan）公司製造的「BYK-UV3570」等。所述可單獨使用一種，亦可併用兩種以上。就抑制矽酮化合物的滲出或經時劣化而言，較佳為具有聚合反應性部位。

在添加矽酮化合物時，較佳為將所述氧伸烷基的含量與矽酮化合物的含量的比例設為既定範圍。在氧伸烷基的比例多時，微細凹凸構造體的表面容易變為親水性，但藉由添加矽酮化合物而可抑制表面變為親水性。另一方面，在氧伸烷基的比例多時，微細凹凸構造體變得柔軟的情況多，但若添加更多的矽酮化合物，則有微細凹凸構造體變得過於柔軟的情況。若微細凹凸構造體變得過軟，則存在如下的情況：在擦去指紋污漬後微細凹凸構造體的形狀難以進行彈性恢復，或在擦去指紋污漬時微細凹凸構造體的表面容易受傷。因此，氧伸烷基所佔的比例X與矽酮化合物的含量Y較佳為以滿足 -1.4X+14 ≦Y≦-1.4X+70的比例使用。

＜組成物的物性＞ 在形成表層的步驟中，在將組成物流入至壓模使其硬化時，就作業性的觀點而言，組成物的在25℃時的藉由旋轉式B型黏度計測定的黏度較佳為10000 mPa·s以下，更佳為5000 mPa·s以下，尤佳為2000 mPa·s以下。但即便是在組成物的黏度超過10000 mPa·s的情況下，若在流入至壓模時可預先將組成物加溫而降低黏度，則可在不損害作業性的情況下使用。組成物的在70℃時的藉由旋轉式B型黏度計測定的黏度較佳為5000 mPa·s以下，更佳為2000 mPa·s以下。 另外，在形成表層的步驟中，在使用帶狀或輥狀壓模連續生產時，就作業性的觀點而言，組成物的在25℃時的藉由旋轉式B型黏度計測定的黏度較佳為100 mPa·s以上，更佳為150 mPa·s以上，尤佳為200 mPa·s以上。藉由所述黏度為所述範圍內，而在將壓模擠壓的步驟中組成物難以超出壓模的寬度而向側邊漏出，並且容易任意地調整硬化物的厚度。 組成物的在25℃時的藉由旋轉式B型黏度計測定的黏度較佳為100 mPa·s以上、10000 mPa·s以下，更佳為150 mPa·s以上、5000 mPa·s以下，尤佳為200 mPa·s以上、2000 mPa·s以下。 再者，組成物的黏度可藉由調節聚合性單體成分的種類或含量而調整。具體而言，在使用大量的包含氫鍵等具有分子間相互作用的官能基或化學結構的單體時，組成物的黏度變高。另一方面，在使用大量的分子間相互作用低的低分子量的單體時，組成物的黏度變低。

＜硬化後的組成物的物性＞ 本發明的活性能量線硬化性組成物的硬化後的硬化物的在25℃時的彈性係數為15 MPa～140 MPa，較佳為60 MPa～140 MPa，更佳為80 MPa～130 MPa，特佳為100 MPa～130 MPa。若硬化後的組成物為15 MPa以上，則在自壓模剝離時或剝離後難以引起奈米尺寸的突起彼此貼近的現象。在奈米的區域中在大的區域如不成為問題的表面張力會顯著地發揮作用，因此若降低表面自由能，則奈米尺寸的突起彼此貼近，欲減小表面積的力發揮作用。若所述力高於組成物的硬度，則突起彼此難以貼近。此種微細凹凸構造有時無法獲得所期望的抗反射性能或撥水性等。藉由所述彈性係數為15 MPa以上，而可抑制突起彼此貼近。 另外，若活性能量線硬化性組成物的硬化後的硬化物的在25℃時的彈性係數為140 MPa以下，則表層包含柔軟的樹脂，即便為微細凹凸構造，亦容易藉由乾擦而除去附著的指紋污漬等，且由於適度的柔軟性而耐擦傷性亦良好。再者，硬化物的彈性係數的測定是藉由後述方法而測定的值。

在使硬化後的組成物變為疏水性時，表層的水接觸角較佳為60°以上，更佳為90°～160°，尤佳為110°～150°。藉由水接觸角為60°以上，而污漬難以附著。另一方面，藉由水接觸角為160°以下，而可獲得與基材的充分的密著性。 水接觸角可在25℃下對微細凹凸構造體滴加1 μL的離子交換水，使用自動接觸角測定器，藉由θ/2法進行計算。作為自動接觸角測定器，例如可使用協和界面科學公司製造的自動接觸角測定器。

本發明的微細凹凸構造體較佳為用作在表層具有微細凹凸構造的功能性物品。作為此種功能性物品，例如可列舉：具備本發明的微細凹凸構造體的抗反射物品或撥水性物品。特佳為具備本發明的微細凹凸構造體的顯示器或汽車用構件。

[顯示器] 本發明的顯示器具備本發明的微細凹凸構造體。具備本發明的微細凹凸構造的顯示器具有高的防污性（特別是指紋除去性）與良好的抗反射性能。例如可應用於液晶顯示裝置、電漿顯示器面板、電致發光顯示器等顯示器，如陰極管顯示裝置的圖像顯示裝置，透鏡，櫥窗，眼鏡鏡片等對象物的表面。

[汽車用構件] 本發明的汽車用構件具備本發明的微細凹凸構造體。具備本發明的微細凹凸構造的汽車用構件具有高的防污性（特別是指紋除去性）與良好的撥水性，並且具有優異的抗反射性能。例如可在車輛內外裝飾、照明、車輛用窗、車輛用鏡等汽車用構件的表面，應用本發明的微細凹凸構造體。

在所述各對象物品的貼附微細凹凸構造體的部分為立體形狀時，可使用與所述形狀對應的形狀的基材，在基材上形成表層而獲得微細凹凸構造體，並將微細凹凸構造體貼附於對象物品的既定部分。另外，在對象物品為圖像顯示裝置時，並不限定於其表面，亦可對其前面板貼附本發明的微細凹凸構造體，還可由本發明的微細凹凸構造體構成前面板本身。進而，本發明的微細凹凸構造體除了所述用途以外，例如亦可應用於：光波導、凸紋全息圖、透鏡、偏光分離元件等光學用途、或細胞培養片的用途。 [實施例]

以下，列舉實施例對本發明進行具體地說明。但本發明並不限定於所述實施例。在以下的記載中，只要無特別說明，「份」是指「質量份」。另外，各種測定及評價方法如以下所述。 （1）壓模的細孔的測定： 對包含陽極氧化多孔氧化鋁的壓模的一部分的縱剖面進行1分鐘的Pt蒸鍍，利用場發射型掃描電子顯微鏡（製品名：「JSM-7400F」、日本電子（股）製造），藉由加速電壓3.00 kV進行觀察，測定相鄰的細孔的間隔及細孔的深度。分別進行各10處的所述的測定，將其平均值作為測定值。 （2）微細凹凸構造的凹凸的測定： 對微細凹凸構造的縱剖面進行10分鐘Pt蒸鍍，在與所述（1）相同的裝置及條件下，測定相鄰的凸部或凹部的間隔、及凸部的高度。分別進行各10處的所述測定，將其平均值作為測定值。 （3）彈性係數的測定： 於在2片玻璃間夾持厚度為200 μm的間隔物而成的玻璃單元中注入活性能量線硬化性組成物，使用穿透玻璃的熔融燈以1000 mJ/cm² 的能量照射紫外線，使活性能量線硬化性組成物硬化。將包含活性能量線硬化性組成物的硬化物的片自玻璃單元取出，衝壓成標線間距離為10 mm的啞鈴形狀，在試驗速度為1 mm/分鐘、25℃的環境下進行拉伸試驗，測定拉伸彈性係數。 再者，亦可測定擠入彈性係數而計算拉伸彈性係數。

（4）紅外線吸收光譜： 使用尼高力（Nicolet）公司的FT-IR Avater330，藉由ATR法，在測定波數4000 cm^-1 ～700 cm^-1 、分解能4 cm^-1 、累計次數64次的條件下，測定微細凹凸構造體的具有多個凸部的表面的紅外線吸收光譜。作為試樣，使用在溫度調整為23℃、相對濕度調整為50%的室內靜置一晝夜以上者。 根據所得的紅外吸收光譜，使用OMNIC E.S.P.軟體封裝的峰值面積工具，求出酯鍵的C-H伸縮振動的峰值面積（SC-H）與OH伸縮振動的峰值面積（SOH）之比（SOH/SC-H）。OH伸縮振動的峰值面積設為在3700 cm^-1 ～3100 cm^-1 的區域具有吸收極大值的吸收曲線的面積A1，C-H伸縮振動的峰值面積設為在3100 cm^-1 ～2700 cm^-1 的區域具有吸收極大值的吸收曲線的面積A2。基線設為將各吸收曲線的兩側的下擺或與另外的吸收曲線之間的谷連結的線。 （5）反射率的測定： 使用光學接著劑（凡納克（PANAC）製造），將在一個表面具有微細凹凸構造的微細凹凸構造體的與具有微細凹凸構造的表面為相反側的表面，貼合於黑色壓克力板（三菱麗陽（Mitsubishi Rayon）製造），而製作試樣。使用分光光度計（島津製作所製造、UV-2450），在入射角為5°的條件下，對所述試樣測定波長380 nm～780 nm之間的相對反射率。

（6）防污性： 滴加在乙醇99份中溶解了十六烷0.8份、油酸0.2份而得的人工指紋液1 μl，在乙醇乾的狀態下，藉由日本製紙庫來喜（NIPPON PAPER CRECIA）製造的凱多拉（Kaydry）實施乾擦，在螢光燈（1000勒克斯）下向多個方向傾斜進行觀察，判定是否可目視確認滴加的部位、與未滴加的部位的差異。 ○：無論自哪個角度均無法判別 △：自正面無法判別，但若傾斜觀察，則可確認到痕跡 ×：即便自正面亦可確認到痕跡 繼而，對目視評價結果為○者、即污漬難以附著且無法確認滴加痕跡的試樣，以與所述（5）相同的方式測定微細凹凸構造體的反射率。 將400 nm、550 nm、700 nm的波長下的人工指紋液附著前的微細凹凸構造體的反射率、與將人工指紋液附著、乾擦後的微細凹凸構造體的反射率之差的平方進行平均，將其平方根的值作為評價基準來評價指紋乾擦除去性能。 A：差的平均值為±0.06%以內。 B：差的平均值超過±0.06%且為±0.1%以內。 C：差的平均值超過±0.1%。或反射率的曲線發生變化。

[實施例1] （活性能量線硬化性組成物1的製備） 將乙氧基化季戊四醇四丙烯酸酯（商品名：「NK酯（NK Ester） ATM-35E」、新中村化學工業（股）製造）50份、乙氧基化三羥甲基丙烷三丙烯酸酯（商品名：「NK酯（NK Ester）A-TMPT-3EO」、新中村化學工業（股）製造）10份、1,6-己二醇二丙烯酸酯40份、作為活性能量線聚合起始劑的1-羥基環己基苯基甲酮（商品名：「Irgacure184」、巴斯夫（BASF）公司製造）0.5份、2,4,6-三甲基苯甲醯基-二苯基-氧化膦（商品名：「路思靈（Lucirin）TPO」、巴斯夫公司製造）0.2份混合，而獲得活性能量線硬化性組成物1（以下稱為組成物1）。使組成物1硬化而得的硬化物的在25℃時的彈性係數為75 MPa。另外，如表1所示般，矽酮化合物的含量為0%，氧伸烷基在全部聚合性單體中所佔的比例為44%。

（表面具有微細凹凸構造的微細凹凸構造體的形成） 在具有相鄰的凹部的間隔為180 nm、凹部的深度為200 nm的微細凹凸構造的壓模的細孔面上流入組成物1，一邊攤開一邊在其上被覆基材。自基材側使用熔融燈以1000 mJ/ cm² 的能量照射紫外線，將組成物1硬化。然後將壓模剝離，而形成具有微細凹凸構造的表層，藉此獲得微細凹凸構造體。在微細凹凸構造體的表面轉印了壓模的微細凹凸構造，而形成如圖1A所示的相鄰的凸部13的間隔w1為180 nm、凸部13的高度d1為200 nm的大致圓錐形狀的微細凹凸構造。將所得的微細凹凸構造體的各評價結果表示於表1。

[實施例2～實施例7、比較例1～比較例6] 除了採用表1所示的組成物以外，以與實施例1相同的方式製作微細凹凸構造體。將評價結果表示於表1。另外，將各組成物的矽酮化合物的含量、氧伸烷基的比例表示於表1。

[表1]

表1中的縮寫符號如下述所述。 ATM-35E：乙氧基化季戊四醇四丙烯酸酯（商品名：「NK酯（NK Ester） ATM-35E」、新中村化學工業（股）製造） ATM-4E：乙氧基化季戊四醇四丙烯酸酯（商品名：「NK酯（NK Ester）ATM-4E」、新中村化學工業（股）製造） TMPT-3EO：乙氧基化三羥甲基丙烷三丙烯酸酯（商品名：「NK酯（NK Ester）A-TMPT-3EO」、新中村化學工業（股）製造） TMPT-9EO：乙氧基化三羥甲基丙烷三丙烯酸酯（商品名：「A-TMPT-9EO」、新中村化學工業（股）製造） C6DA：1,6-己二醇二丙烯酸酯 A-BPE-4：乙氧基化雙酚A二丙烯酸酯（商品名：「NK酯（NK Ester）A-BPE-4」、新中村化學工業（股）製造） A-BPE-30：乙氧基化雙酚A二丙烯酸酯（商品名：「NK酯（NK Ester）A-BPE-30」、新中村化學工業（股）製造） M240：聚乙二醇二丙烯酸酯（「阿羅尼庫斯（Aronix）M-240」、東亞合成（股）製造） M-260：聚乙二醇二丙烯酸酯（「阿羅尼庫斯（Aronix）M-260」、東亞合成（股）製造） CN2271E：聚酯丙烯酸酯寡聚物（沙多瑪（Sartomer）公司製造） 3PGDA：三伸丙基二丙烯酸酯 LA：丙烯酸月桂酯 MA：丙烯酸甲酯 CN152：單丙烯酸酯寡聚物（沙多瑪公司製造） BYK-UV3570：矽酮丙烯酸酯 環氧丙烷改質新戊二醇二丙烯酸酯稀釋品（日本畢克化學公司製造） IRG184：1-羥基環己基苯基甲酮（商品名：「Irgacure184」、巴斯夫公司製造） TPO：2,4,6-三甲基苯甲醯基-二苯基-氧化膦（商品名：「路思靈（Lucirin）TPO」、巴斯夫公司製造） 1173：2-羥基-2-甲基-1-苯基丙烷-1-酮（商品名：「大羅庫亞（DAROCURE）1173」、巴斯夫公司製造）

根據表1的結果可明瞭，實施例1～實施例7的微細凹凸構造體可藉由乾擦而除去所附著的指紋。 另一方面，比較例1中，成為烷基排列在硬化物的表面的結構而較佳，但硬化物硬，因此無法藉由乾擦而除去指紋。 比較例2中，雖然硬化物柔軟，但表面的官能基容易與指紋成分結合，難以藉由乾擦而除去指紋。 比較例3及比較例4中，雖然硬化物相對較柔軟，但表面的官能基容易與指紋成分結合，難以藉由乾擦而除去指紋。 比較例5及比較例6中，在表面上容易與指紋成分結合的官能基少而較佳，但硬化物並不充分柔軟，因此指紋無法充分除去。 [產業上之可利用性]

本發明的微細凹凸構造體具有優異的防污性及優異的抗反射性能，可用於壁、屋頂等的建材用途，房屋、汽車、電車、船舶等的窗材或鏡，人手可觸的顯示器等，在工業上有用。

10‧‧‧微細凹凸構造體
11‧‧‧基材
12‧‧‧表層
13‧‧‧凸部
13a‧‧‧凸部的頂點
14‧‧‧凹部
14a‧‧‧凹部的最深部
15‧‧‧圖像顯示裝置、對象物或汽車用構件
d1‧‧‧自凹部的最深部至凸部的頂點為止的垂直距離
w1‧‧‧相鄰的凸部的間隔

圖1A是表示本發明的微細凹凸構造體的實施形態的一例的示意性剖面圖。 圖1B是表示本發明的微細凹凸構造體的實施形態的一例的示意性剖面圖。 圖2是具備本發明的微細凹凸構造體的物品的剖面圖。

10‧‧‧微細凹凸構造體

11‧‧‧基材

12‧‧‧表層

13‧‧‧凸部

13a‧‧‧凸部的頂點

14‧‧‧凹部

14a‧‧‧凹部的最深部

d1‧‧‧自凹部的最深部至凸部的頂點為止的垂直距離

w1‧‧‧相鄰的凸部的間隔

Claims (13)

1. 一種微細凹凸構造體，其在表面具有微細凹凸構造，且 所述微細凹凸構造包含活性能量線硬化性組成物的硬化物，具有相鄰接的凸部的間隔為50 nm以上、400 nm以下的多個凸部， 所述凸部的縱橫比為0.6～1.5， 形成所述微細凹凸構造的硬化物的在25℃時的彈性係數為15 MPa～140 MPa， 所述硬化物的具有所述多個凸部的表面的紅外線吸收光譜的在3700 cm^-1 ～3100 cm^-1 的區域具有吸收極大值的峰值面積A1、與在3100 cm^-1 ～2700 cm^-1 的區域具有吸收極大值的峰值面積A2之比（A1/A2）為0.01～0.35。
2. 如申請專利範圍第1項所述的微細凹凸構造體，其中所述峰值面積A1、與所述峰值面積A2之比（A1/A2）為0.32以下。
3. 如申請專利範圍第2項所述的微細凹凸構造體，其中所述峰值面積A1、與所述峰值面積A2之比（A1/A2）為0.30以下。
4. 如申請專利範圍第1項至第3項中任一項所述的微細凹凸構造體，其中形成所述微細凹凸構造的所述硬化物的在25℃時的彈性係數為70 MPa～140 MPa。
5. 如申請專利範圍第4項所述的微細凹凸構造體，其中形成所述微細凹凸構造的所述硬化物的在25℃時的彈性係數為90 MPa～140 MPa。
6. 如申請專利範圍第1項至第4項中任一項所述的微細凹凸構造體，其中在將所述活性能量線硬化性組成物所含的聚合性成分的合計設為100質量份時，在側鏈的末端具有羥基、醯胺基、及胺甲酸酯基的至少一種的聚合性單體成分的含量為30質量份以下。
7. 如申請專利範圍第1項至第6項中任一項所述的微細凹凸構造體，其中所述活性能量線硬化性組成物包含：含有氧伸烷基的聚合性成分、及含有矽酮的成分，在將聚合性成分的合計設為100質量份時，所述含有矽酮的成分的含有率Y（質量份）、與聚合性成分中的氧伸烷基的含有率X（質量份）滿足：   -1.4X+14 ≦Y≦-1.4X+70。
8. 如申請專利範圍第7項所述的微細凹凸構造體，其中包含0.1質量份～25質量份的所述含有矽酮的成分。
9. 如申請專利範圍第7項或第8項所述的微細凹凸構造體，其中包含20質量份～40質量份的所述含有氧伸烷基的聚合性成分。
10. 如申請專利範圍第1項所述的微細凹凸構造體，其中相鄰接的凸部的間隔為150 nm以上、300 nm以下。
11. 一種抗反射物品，其具備如申請專利範圍第1項所述的微細凹凸構造體。
12. 一種顯示器，其具備：如申請專利範圍第1項所述的微細凹凸構造體及圖像顯示裝置或對象物。
13. 一種汽車用構件，其具備：如申請專利範圍第1項所述的微細凹凸構造體及汽車用構件。