TW201606321A - 光學顯示裝置之檢查方法及光學部件之圖案認識方法 - Google Patents

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Abstract

本發明的光學顯示裝置之檢查方法係貼合有具備相位差層之光學部件以及具有複數列畫素列的光學顯示零件之光學顯示裝置的檢查方法，其中圖案化相位差層3具有帶狀的複數個第1區域3R以及帶狀的複數個第2區域3L，而複數個第1區域3R及複數個第2區域3L被交互配置在與第1區域3R及第2區域3L的延伸方向交叉之方向，而該光學顯示裝置的檢查方法具有，測量在第1區域3R與第2區域3L之間所檢測之交界線BL與在相鄰之畫素列之間的區域沿著畫素列而設定之基準線FL之俯視角的距離D之測量步驟，以及根據距離D來判定光學顯示裝置的好壞之判定步驟。

Description

光學顯示裝置之檢查方法及光學部件之圖案認識方法
本發明係有關光學顯示裝置的檢查方法及光學部件的圖案認識方法。
本申請案係根據2014年7月1日在日本提出申請之專利申請2014-135741號主張優先權，在此引用其內容。
近幾年，開發有一種稱為FPR(Film Patterned Retarder，偏光式薄膜技術)方式之被動方式的3D(3 Dimension)液晶顯示裝置。
在此方式之3D液晶顯示裝置(顯示裝置)中，例如，在液晶面板的顯示面側配置偏光板層，並且在辨識側配置圖案化相位差層。此外，在液晶面板的背光板側配置偏光薄膜。
偏光板層係具有從液晶面板側入射之光中，將與偏光板層的吸收軸平行的振動面之偏光成分予以吸收，而讓正交之振動面的偏光成分穿透之光學功能的層。穿透偏光板層之後的穿透光為直線偏光之光線。
圖案化相位差層一般而言形成在基材薄膜上。圖案化相位差層具備有第1區域與第2區域。第1區域與第2區域各別形成為帶狀，且對應形成為矩陣狀之液晶面板的畫素排列，交互地排列著。
第10圖係用以說明3D液晶顯示裝置之液晶面板P與圖案化相位差層3之對準的平面圖。
如第10圖所示，在液晶面板P中，沿著長邊(第10圖中之液晶面板P之左右方向：寬度方向)，以周期性地排列之方式配置有紅色畫素R、綠色畫素G、藍色畫素B。然後，各色的畫素R、G、B沿著左右方向而以多數排列，而成為畫素列L，且此畫素列L跨越液晶面板P的顯示區域之上下(第10圖中之液晶面板P的縱方向)而排列有多數列。
另一方面，圖案化相位差層3具有沿著圖案化相位差層3的長邊(第10圖中之左右：寬度方向)而延伸之複數個第1區域3R及複數個第2區域3L。第1區域3R及第2區域3L係對應液晶面板P的各畫素列L而以跨越上下(第10圖中之縱方向)之方式而排列多數區域。例如，在顯示右眼影像之畫素列L的辨識側配置第1區域3R，且於顯示左眼影像之畫素列L的辨識側配置第2區域3L。在第1區域3R與第2區域3L在相位差的方向有所不同，且在右眼影像與左眼影像中，成為彼此不同的偏光狀態並且被顯示在辨識側(例如，參照專利文獻1)。
圖案化相位差層3係以第1區域3R與第2 區域3L之交界線K位於各畫素列L之間的方式被貼合於液晶面板P，而構成使用有液晶面板P之FPR方式的3D液晶顯示裝置。
使用者透過介由具備有右眼鏡片與左眼鏡片的光學特性不同的光學元件，即所謂的偏光眼鏡來看顯示影像，而各別利用右眼選擇性地辨識右眼影像，且利用左眼選擇性地辨識左眼影像。藉此方式使用者可辨識融合有兩眼的像之立體影像。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本特開2012-212033號公報
於進行如上述之FPR方式的3D液晶顯示裝置之製造時，各別正確地使圖案化相位差層的第1區域與液晶面板的畫素列，或第2區域與畫素列對應，將包含圖案化相位差層與偏光板層之光學部件貼合於液晶面板。此時，對於1個畫素列，圖案化相位差層的第1區域及第2區域的兩者重疊時，會產生本來僅以右眼該辨識之右眼影像亦可由左眼辨識之所謂的串音干擾(cross talk)，而可能使立體顯示影像之畫質降低。
針對所製造之3D液晶顯示裝置的檢查，至今為止，係不進行立體顯示，而沿用對一般的液晶顯示裝 置所進行之檢查方法，進行液晶面板與光學部件之貼合的狀態之檢查。具體而言，藉由針對液晶面板以對準記號與黑矩陣為基準，而針對光學部件以光學部件的端部為基準，來確認各基準彼此的相對位置，來確認液晶面板與光學部件之平面上的相對位置以進行製造檢查。
但是，在沿用上述般的習知的檢查方法之方法中，無法進行各畫素列與第1區域及第2區域是否以1對1重疊與否之檢查。例如，，即使乍看之下為液晶面板與光學部件係按照設計被貼合的樣子的3D液晶顯示裝置，於各畫素列與第1區域及第2區域沒以1對1重疊時，亦產生串音干擾而被判斷為不良品。但是，在如上述之習知的檢查方法中，無法檢測此種不良品，且難以擔保立體顯示影像的畫質。
本發明鑑於此種問題而研創者，其目的係在提供一種光學顯示裝置的檢查方法，其係可進行可靠度高的品質檢查。此外，提供一種可精準地辨識圖案化相位差層的第1區域與第2區域的交界之光學部件的圖案認識方法，將此一併作為本發明的目的。
為解決上述課題，本發明的一態樣係貼合有具備相位差層之光學部件以及具有複數列畫素列之光學顯示零件的檢查方法，而前述相位差層具有複數個第1區域與複數個第2區域，其中複數個第1區域係於一方向延伸成帶狀，且使入射之直線偏光改變成第1偏光狀態，而 複數個第2區域係於與前述第1區域的延伸方向同方向延伸成帶狀，且使入射的直線偏光改變成第2偏光狀態，且前述複數個第1區域及前述複數個第2區域係於與前述第1區域及前述第2區域的延伸方向交叉之方向交互地被配置，其中該光學顯示裝置的檢查方法具有，測量在鄰接之前述第1區域與前述第2區域之間所檢測之交界與在相鄰之前述畫素列之間的區域沿著前述畫素列而設定的基準線之於俯視角的距離之測量步驟，以及根據前述距離來判定前述光學顯示裝置的好壞之判定步驟。
在具備上述構成的本發明之一態樣中，亦可設為於前述光學顯示零件之顯示區域的中央，進行前述測量步驟與前述判定步驟之方法。
在具備上述構成之本發明的一態樣中，亦可設為於前述延伸方向之前述光學部件的周邊部，進行前述測量步驟與前述判定步驟之方法。
在具備上述構成之本發明的一態樣中，亦可設為於前述交叉的方向之前述光學部件的周邊部，進行前述測量步驟與前述判定步驟之方法。
在具備上述構成之本發明的一態樣中，亦可設為一種方法，其係在前述測量步驟之前，根據在前述交叉的方向之前述光學部件的周邊部所檢測之前述第1區域與前述第2區域的交界與前述相位差層的設計值，估算從在前述周邊部所檢測的前述交界分離之交界的位置，且將最靠近前述所估算之交界的位置之前述第1區域與前述 第2區域的交界予以檢測。
在具備上述構成之本發明的一態樣中，亦可設為一種方法，其係於相鄰之前述畫素列上在彼此相對面之側部，檢測被包含在前述畫素列之複數個畫素之端部的座標，且按各個前述畫素列，根據所檢測之複數個前述座標來近似對應前述側部之直線，而在所得到之2條近似線之間，來設定前述基準線。
在具備上述構成之本發明的一態樣中，亦可設為一種方法，其係在相鄰之2個前述畫素列中，相對一側的畫素列，於與另一側的畫素列相對面之側部檢測複數個畫素的端部之座標，並根據所檢測之複數個前述座標來近似對應前述側部之直線，且根據所得到之近似線與光學顯示零件的設計值來設定前述基準線。
在具備上述構成之本發明的一態樣中，亦可設為一種方法，其係跨越相鄰之前述第1區域與前述第2區域，來設定直線狀的檢測區域，並沿著前述檢測區域在複數點檢測前述第1區域與前述第2區域之亮度，且根據所檢測之複數點的前述亮度來檢測前述交界。
在具備上述構成之本發明的一態樣中，亦可設為一種方法，其係在複數個前述檢測區域中檢測複數個前述交界，且根據所檢測之複數個前述交界的座標來近似對應前述交界的直線。
此外，本發明的一態樣係具備相位差層之光學部件之圖案認識方法，其中前述相位差層具有複數個 第1區域與複數個第2區域，其中複數個第1區域係於一方向延伸成帶狀，且使入射之直線偏光改變成第1偏光狀態，而複數個第2區域係於與前述第1區域的延伸方向同方向延伸成帶狀，且使入射的直線偏光改變成第2偏光狀態，且前述複數個第1區域及前述複數個第2區域係於與前述第1區域及前述第2區域的延伸方向交叉之方向交互地被配置，且該光學部件之圖案認識方法具有下列步驟：根據在前述交叉的方向之前述光學部件的周邊部所檢測之前述第1區域與前述第2區域的交界與前述相位差層的設計值，估算前述交叉的方向之前述光學部件的中央之前述第1區域與前述第2區域的交界之位置，且檢測最靠近所估算之前述交界的位置之前述第1區域與前述第2區域之交界。
依據本發明，可提供可進行可靠度高的品質檢查之光學顯示裝置的檢查方法。此外，可提供可精準地辨識圖案化相位差層的第1區域與第2區域的交界之光學部件的圖案認識方法。
1‧‧‧光學部件
3‧‧‧圖案化相位差層(相位差層)
3L‧‧‧第2區域
3R‧‧‧第1區域
100‧‧‧顯示裝置(光學顯示裝置)
AL1、AL2‧‧‧近似線
BL、BL1、BL2、BL3‧‧‧交界線(交界)
BP‧‧‧交界點(交界)
D‧‧‧距離
DA‧‧‧檢測區域
E1、E2‧‧‧端部
FL、FL1、FL2、FL3‧‧‧基準線
L、La、Lb、Lc‧‧‧畫素列
P‧‧‧液晶面板(光學顯示零件)
P4‧‧‧顯示區域
R、G、B‧‧‧畫素
第1圖係表示顯示裝置的概略構成之平面圖。
第2圖係表示顯示裝置的概略構成之剖面圖。
第3圖係圖案化相位差層之平面示意圖。
第4A圖係著眼於顯示裝置的顯示區域與光學部件的 位置關係之概略平面圖。
第4B圖係著眼於顯示裝置的顯示區域與光學部件的位置關係之概略平面圖。
第5A圖係本實施形態之光學裝置的檢查方法之說明圖。
第5B圖係本實施形態之光學裝置的檢查方法之說明圖。
第6A圖係本實施形態之光學裝置的檢查方法之說明圖。
第6B圖係本實施形態之光學裝置的檢查方法之說明圖。
第7圖係本實施形態之光學裝置的檢查方法之說明圖。
第8圖係本實施形態之光學裝置的檢查方法之說明圖。
第9圖係本實施形態之光學裝置的檢查方法之說明圖。
第10圖係用以說明3D液晶顯示裝置之液晶面板與圖案化相位差層的對準之平面圖。
以下，一邊參照圖示，一邊就本實施形態之光學顯示裝置的檢查方法及光學部件之圖案認識方法加以說明。此外，在以下的說明所參照之所有的圖示中，為了使圖示容易觀看，係適當使各構成要素的尺寸與比率等 不同。
<光學顯示裝置>
第1圖至第4圖係表示利用本實施形態之光學顯示裝置的檢查方法進行檢查之顯示裝置(光學顯示裝置)100的說明圖。
第1圖係表示顯示裝置100的概略構成之平面圖。第2圖係第1圖的線段II-II之顯示裝置100的剖面圖。本實施形態之顯示裝置100係FPR方式的3D液晶顯示裝置。如第1圖或第2圖所示，顯示裝置100具有液晶面板(光學顯示零件)P與偏光薄膜F11以及光學部件1。
液晶面板P係如第1圖及第2圖所示，具備：第1基板P1，係於俯視角為長方形狀；第2基板P2，係為與第1基板P1相對而配置之形成較小形的長方形狀；以及液晶層P3，係被封入到第1基板P1與第2基板P2之間。液晶面板P係於俯視角為沿著第1基板P1的外形之長方形狀，且將於俯視角為收納在液晶層P3的外周之內側的區域設為顯示區域P4。
於液晶面板P之俯視角的四角落，設置有定位用之對準記號Am。在第1圖中，係表示於所有的四角落都設置有對準記號Am，而例如亦可在四角落中之3個角落合計設置3個對準記號，或亦可在四角落之對角的位置合計設置2個對準記號。
於液晶面板P的背光板側，貼合有偏光薄 膜F11。偏光薄膜F11透過未圖示之黏著劑層被貼合於液晶面板P。偏光薄膜F11係從入射之光中，將與吸收軸平行之振動面的偏光成分予以吸收，從而具有使正交的振動面之偏光成分穿透的光學功能。穿透偏光薄膜F11之瞬後的穿透光為直線偏光之光線。
另一方面，於此液晶面板P之顯示面側，貼合有光學部件1。光學部件1具有偏光板層2與圖案化相位差層(相位差層)3，且以偏光板層2側面向液晶面板P之方式被貼合於液晶面板P。形成光學部件1之偏光板層2及圖案化相位差層3係各別可利用以往一般熟知的製造方法來製造。
偏光板層2係將從液晶面板P側入射之光中，與吸收軸平行的振動面之偏光成分予以吸收，而具有使正交之振動面的偏光成分穿透之光學功能。穿透偏光板層2之後的穿透光為直線偏光之光線。
偏光薄膜F11及光學部件1係以偏光薄膜F11與光學部件1的偏光板層2成為正交偏光鏡(Crossed Nicols)的方式而被貼合在液晶面板P。
第3圖係光學部件1所具有的圖案化相位差層3之俯視角的平面示意圖。圖案化相位差層3具有複數個第1區域3R及複數個第2區域3L。此外，圖案化相位差層3俯視角為矩形的部件。
第1區域3R係使透過偏光板層2射出之直線偏光，例如，變化為右旋的圓偏光(第1偏光狀態)。第2 區域3L係透過由偏光板層2射出之直線偏光，例如，變化為左旋的圓偏光(第2偏光狀態)。
第1區域3R及第2區域3L係於圖案化相位差層3的長邊方向延伸成帶狀而形成，且於與第1區域3R及第2區域3L的延伸方向交叉的方向交互地被配置。第1區域3R及第2區域3L的寬度係按照貼合之液晶面板P的畫素之大小而設定，例如為400μm至500μm左右。
在以下的說明中，有時將圖案化相位差層3之第1區域3R及第2區域3L的延伸方向，稱為圖案化相位差層3之「長邊方向」，且將第1區域3R及第2區域3L的排列方向，稱為圖案化相位差層3的「寬度方向」。亦即，上述之「長邊方向」，對應本發明之「延伸方向」，而「寬度方向」對應本發明之「交叉的方向」。
圖案化相位差層3係在顯示裝置100中，與液晶面板P的顯示區域P4在平面上重疊時，在顯示裝置100的寬度方向上以具有從與顯示區域P4的重疊部分露出之「剩餘區域」的方式，而在俯視角形成得比顯示區域P4更大。第1區域3R及第2區域3L係不僅在與顯示區域P4重疊的部分有設置，甚至在剩餘區域亦有設置。在此，在本發明中所敘述之「圖案化相位差層(相位差層)3與液晶面板(光學顯示零件)P的顯示區域P4在平面上重疊」，例如，如第2圖所示，係指於圖案化相位差層3與液晶面板P之間，亦包含復隔著別的層(偏光板層2)之情況。
第4圖A及第4圖B係著眼於顯示裝置100 的顯示區域P4與光學部件1的位置關係之概略平面圖。第4圖A係整體圖，第4圖B係部分擴大圖。
在以下的說明中，有時使用以俯視角顯示區域時之顯示區域的左上作為原點之螢幕座標系統，來表示位置與座標。在螢幕座標系統中，顯示區域P4的横方向為X軸方向，而顯示區域P4的縱方向為Y軸方向。在X軸中，從左朝右之方向為正方向，而在Y軸中，從上朝下之方向為正方向。
如第4圖A所示，顯示裝置100在顯示區域P4以周期性地排列之方式將複數個紅色畫素R、綠色畫素G、藍色畫素B予以配置，而形成畫素列L。各畫素列排列於顯示區域P4的Y軸方向。在第4圖A中，針對排列於Y軸方向之各畫素列，從原點開始計算將第1個畫素列表示為符號L1，而將第2個畫素列表示為符號L2，按順序將第2n個畫素列表示為符號L2n，表示於顯示區域P4包含2n列的畫素列L。在顯示裝置100中，將右眼影像與左眼影像，各別使用n列的畫素列予以顯示。
如第4圖B所示，於各畫素列L，係第1區域3R或第2區域3L以1對1在平面上重疊之方式而設計。第1區域3R與第2區域3L之交界線BL重疊在相鄰的2個畫素列L之間的畫素間區域。在第4圖B中，表示在畫素間區域設置有格子狀的遮光部件(黑矩陣)BM。
返回第2圖，亦可設為於光學部件1的圖案化相位差層3側之表面，貼合有未圖示之保護薄膜。保護 薄膜係保護光學部件1的表面之透明樹脂薄膜，其係剝離自如地被設置在光學部件1。
貼合有偏光薄膜F11及光學部件1之液晶面板P復藉由嵌入未圖示的驅動電路與背光板單元等，而成為顯示裝置100。
關於液晶面板P之驅動方式，例如，TN(Twisted Nematic，扭曲向列)，STN(SuperTwisted Nematic，超級扭曲向列)，VA(Vertical Alignment，垂直校準)，IPS(In-Plane Switching，平面方向轉換)，OCB(Optically Compensated Bend，光學補償彎曲)等，可採用在此領域一般熟知的各種模式。其中，亦可適當地使用IPS方式的液晶面板P。
利用本實施形態之光學裝置的檢查方法檢查之顯示裝置100成為以上般的構成。
<光學顯示裝置的檢查方法>
第5圖至第9圖係本實施形態的光學顯示裝置之檢查方法的說明圖。在本實施形態中，檢測光學部件的第1區域3R與第2區域3L的交界，且將所檢測之交界設為光學部件側的基準。此外，在液晶面板之相鄰的畫素列L之間的畫素間區域中，設定成為液晶面板側的基準之基準線。測量上述光學部件側的基準與液晶面板側的基準之距離(測量步驟)，且根據所測量的距離，進行光學部件的第1區域3R與液晶面板的畫素列以及第2區域3L與液晶面板 的畫素列是否各別適當地對應而被貼合之好壞判定(判定步驟)，來進行光學顯示裝置的檢查。
(第1區域與第2區域之交界的檢測)
第5圖A及第5圖B係就第1區域3R與第2區域3L之交界的檢測方法表示一例之說明圖。在本實施形態之光學顯示裝置的檢查方法中，亦可設為具有利用下述方法檢測第1區域3R與第2區域3L的交界之步驟。
第1區域3R與第2區域3L的交界之檢測係就顯示裝置100而根據所攝影的影像來進行。於此時的攝影影像，包含光學部件1與液晶面板P的兩者，而在第5圖A及第5圖B中，為說明的方便，僅表示有光學部件1。
首先，如第5圖A所示，首先，利用攝影裝置(未圖示)將包含檢測對象之第1區域3R與第2區域3L的交界之區域予以攝影。此時，第1區域3R與第2區域3L的交界與液晶面板的遮光區域在平面上重疊，故若需要為進行攝影之照明，係從與攝影裝置相同之側，將光照射到攝影之區域。
接著，跨越相鄰之第1區域3R與第2區域3L，設定直線狀之檢測區域DA。在所攝影之影像中，第1區域3R與第2區域3L之色調與亮度看起來不同，故可區別第1區域3R與第2區域3L。
接著，在所攝影之影像中，沿著檢測區域 DA在複數點將第1區域3R與第2區域3L之亮度予以檢測。亮度之檢測亦可沿著檢測區域DA而連續性地在複數點進行，亦可離散地在複數點進行。在第5圖A中，表示沿著檢測區域DA，於檢測區域DA內所示之箭頭符號方向，連續性地在複數點進行亮度的檢測。
如第5圖A的圖所示，第1區域3R的亮度為a，第2區域3L的亮度為b時，可能在所攝影之影像的第1區域3R與第2區域3L之交界附近，亮度慢慢地從a變化到b。此時，可將亮度顯示a與b的中間值之點(表示(a+b)/2之點)，作為第1區域3R與第2區域3L的交界點BP予以檢測。
當然，交界點BP並非表示亮度為a與b的中間值之點，在亮度表示a與b之範圍內，亦可設為依照事先決定之決定方法所檢測之點。
此外，亦可設為以灰階表示所攝影之影像，且針對此灰階影像，利用上述方法檢測第1區域3R與第2區域3L的交界點BP。
此外，針對所攝影之影像，無需在複數點檢測亮度，亦可以預定的亮度作為閾值而將所攝影之影像予以二值化，來檢測交界。
以此方式所檢測之交界點BP，對應本發明之第1區域3R與第2區域3L之交界。
此外，如第5圖B所示，亦可在複數個檢測區域DA中檢測複數個交界點BP，且根據所檢測之複數 個交界點BP的座標，來近似且求得對應第1區域3R與第2區域3L的交界之直線(交界線BL)。作為此時的近似方法而言，可使用一般為人熟知的統計學的手法。例如，針對複數個交界點BP的座標，可舉出求得使用有最小平方法之回歸直線(近似直線)之近似方法。
(相鄰的畫素列之間的基準線之設定)
第6圖A及第6圖B係就畫素列L之間的基準線之設定方法表示一例之說明圖。關於本實施形態之光學顯示裝置的檢查方法，亦可設為具有利用下述方法設定相鄰之畫素列L之間的基準線之步驟。
基準線的設定係就顯示裝置100根據所攝影之影像來進行。於此時的攝影影像，包含光學部件1與液晶面板P的兩方，而在第6圖A及第6圖B中，為了說明的方便，僅表示有液晶面板P。
例如，如第6圖A所示，就畫素列L根據所攝影之影像，來檢測被包含在畫素列之複數個畫素R、G、B的端部之座標。在第6圖A中，於畫素列La的畫素中，將與畫素列Lb相對面之側的端部表示為符號E1。再者，在畫素列Lb之畫素中，將與畫素列La相對面之側的端部表示為符號E2。檢測之端部E1、E2亦可為複數。
接著，根據所檢測之複數個端部E1的座標，近似對應複數個端部E1(對應畫素列的側部)之直線。在第6圖A中，將以此方式求得之近似線表示為符號AL1。
作為上述的近似方法而言，可使用一般熟知的統計學的手法。例如，針對複數個端部E1的座標，可舉出求得使用有最小平方法之回歸直線(近似直線)之近似方法。此外，操作者確認攝影影像，且可判斷複數個端部E1排列在相同的直線上時，亦可在檢測過座標之複數個端部E1內，選擇任意2點(例如，兩端的2點)，而將連結此2點之直線設為近似線AL1。
此外，亦可利用複數個端部E2來進行相同的處理，來求得近似線AL2。
接著，在所得到之2條近似線AL1、AL2之間，設定基準線。基準線最好為設定在近似線AL1、AL2的中間位置，但亦可從中間位置偏向於近似線AL1、AL2的任一側。在第6圖A中，表示從近似線AL1、AL2所求得之近似線AL1、AL2之間的距離為W，且在近似線AL1、AL2的中間位置(距離近似線AL1在W/2之位置)設定基準線FL。
或者，如第6圖B所示，利用上述方法僅求得近似線AL1，而Y方向的畫素間之設計值為α時，亦可從近似線AL1於Y方向在α/2的位置設定基準線FL。
(光學部件與光學顯示零件之相對位置的測量)
接著，從攝影影像，測量利用第5圖A及第5圖B所示之方法所檢測之第1區域3R與第2區域3L的交界(交界點BP或交界線BL)與利用第6圖A及第6圖B所示的方 法設定的基準線FL之距離。在以下的說明中，表示求得第1區域3R與第2區域3L的交界線BL。
在攝影影像中，如第7圖所示，將光學部件1的交界線BL與液晶面板P的基準線FL以重疊的方式予以求得。因此，根據影像，可求得俯視角之交界線BL與基準線FL的距離D。
在此，作為第1區域3R與第2區域3L的交界求得交界線BL時，所謂「距離D」係指就交界線BL上之複數個任意點，從此任意點畫有朝基準線FL的垂線時之從垂線與基準線FL之交點到上述任意點為止之距離的平均值。
此外，求得作為第1區域3R與第2區域3L的交界之交界點BP時，所謂「距離D」係指從交界點BP畫有朝向基準線FL的垂線時之從垂線與基準線FL的交點到交界點BP之距離。
(好壞判定)
接著，根據所求得的距離，進行顯示裝置100的好壞判定。具體而言，事先設定可判定為良品之距離的數值範圍，若在設定有距離的測量值之數值範圍以內判定為為良品，若為比所設定的數值範圍更大的測量值判定為不良品。
(光學部件之圖案認識方法)
在本實施形態的光學顯示裝置之檢查方法中，將利用 上述元件技術進行之好壞判定在液晶面板P之顯示區域P4的中央進行。此時，必須判定第1區域3R與第2區域3L是否以1對1對應的方式而適當地被貼合於顯示區域之中央的畫素列(例如，第n個畫素列Ln與第(n+1)個畫素列L(n+1))。
在此，考慮貼合不良與光學部件的製造誤差.變形等時，重疊在第n個畫素列Ln之區域，無法保證係確實為從對應第1個畫素列之圖案(例如，第1區域3R)算起的第n個圖案(第2區域3L)。
因此，將液晶面板P側的基準作為設定在第n個畫素列Ln與第(n+1)個畫素列L(n+1)之間的區域之基準線時，不僅要在辨識對應上述畫素列之第n個第2區域3L與第(n+1)個第1區域3R，亦必須檢測該成為光學部件1側的基準之第1區域3R與第2區域3L的交界。
在此係透過以下所示之光學部件的圖案認識方法，將對應顯示區域P4的中央之第n個第2區域3L與第(n+1)個第1區域3R予以辨識，且利用上述方法將上述第2區域3L與第1區域3R之間的交界予以檢測。
第8圖係表示本實施形態的光學部件之圖案認識方法的說明圖。首先，在寬度方向之光學部件1的周邊部上，檢測第1區域3R與第2區域3L之交界。此時的交界之檢測方法可使用上述方法。
在此，所謂上述「周邊部」係指在光學部件1中可為與顯示區域P4在平面上重疊之部分，或在光學 部件1中亦可為與顯示區域P4的外側之剩餘區域DM在平面上重疊之部分。亦即，檢測之交界可為重疊於第1個畫素列L1之第1區域3R與重疊於第2個畫素列L2之第2區域3L的交界，或亦可為配置在顯示區域P4的外側之剩餘區域DM之第1區域3R與第2區域3L的交界。在第8圖中，表示於剩餘區域DM中將第1區域3R與第2區域3L的交界線BL x予以檢測。
其次，根據在剩餘區域DM所檢測之交界線BL x與圖案化相位差層3的設計值，將從交界線BL x分離之第n個第2區域3L與第(n+1)個第1區域3R之交界的位置予以估算。亦即，從第1區域3R的寬度之設計值及第2區域3L的寬度之設計值，將以交界線BL x為基準之第n個第2區域3L與第(n+1)個第1區域3R之交界的位置予以估算。在圖中，將經估算求得之位置表示為估算點CP。
接著，將第1區域3R與第2區域3L的交界且最靠近估算點CP之交界，設為第n個第2區域3L與第(n+1)個第1區域3R的交界，且利用上述方法來檢測交界。在第8圖中，表示檢測交界線BL1。
依據此種方法，可精準地檢測光學部件1的寬度方向之任意的位置之交界。
(光學顯示裝置之檢查方法)
第9圖係表示本實施形態的光學顯示裝置之檢查方法 的說明圖。在本實施形態之光學顯示裝置的檢查方法中，具有下列測量步驟與判定步驟，其中測量步驟係於液晶面板P之顯示區域P4的中央之第1判定區域AR1上，在相鄰之畫素列Ln及畫素列L(n+1)之間的區域，將沿著畫素列而設定的基準線之基準線FL1與作為第1區域3R與第2區域3L之交界而檢測的交界(交界線BL1)之於俯視角之距離予以測量，而判定步驟係根據所測量的距離進行顯示裝置100的好壞判定。
由於顯示裝置的使用者會最深切觀注地觀察顯示區域的中心附近，故在顯示區域的中心產生串音干擾時，使用者會容易察覺。因此，如本實施形態的檢查方法，能夠進行藉由在顯示區域的中心(第1判定區域AR1)中檢查貼合精確度，而將使用者的滿足度高的顯示裝置判定作為良品之檢查。
而且，亦可設為具有下列之測量步驟與判定步驟，其中測量步驟係在光學部件1之長邊方向的周邊部之第2判定區域AR2上，在相鄰之畫素列Ln及畫素列L(n+1)之間的區域，測量沿著畫素列而設定的基準線之第2基準線FL2與作為第1區域3R與第2區域3L之交界而檢測的交界(交界線BL2)之於俯視角之距離，而判定步驟亦可設為根據所測量的距離進行顯示裝置100的好壞判定。
可藉由使用第1判定區域AR1之好壞判定結果與第2判定區域AR2之好壞判定結果，確認光學部件1的寬度方向之收縮。亦即，在第1判定區域AR1上被判 定為良品之顯示裝置100在第2判定區域AR2上被判定為不良品時，推測係因為透過光學部件1的寬度方向之收縮而在第2判定區域AR2中被判定為不良品，從而可謀求光學部件1的品質之確認與光學部件1之處理方法的檢討。
此外，亦可設為具有下列之測量步驟與判定步驟，其中測量步驟係在光學部件1之寬度方向的周邊部之第3判定區域AR3上，於相鄰之2個畫素列(在第9圖中，畫素列L1、L2或畫素列L(2n-1)、L2n)之間的區域，將沿著畫素列而設定的基準線之基準線FL3與第1區域3R與作為第2區域3L的交界而檢測之交界(交界線BL3)之俯視角之距離予以測量，而判定步驟係根據所測量的距離進行顯示裝置100的好壞判定。
藉由第1判定區域AR1之好壞判定結果與第3判定區域AR3之好壞判定結果的比較，或長邊方向之兩端的第3判定區域AR3之好壞判定結果的比較，可進行對液晶面板P之光學部件1的傾斜之確認。藉此方式，亦可謀求光學部件1與液晶面板P之貼合方法的檢討。
本實施形態的光學顯示裝置之檢查方法係可於第1判定區域、第2判定區域及第3判定區域中之至少1個區域進行測量步驟及判定步驟，而最好在第1判定區域、第2判定區域及第3判定區域中之2個區域進行，更佳的是在第1判定區域、第2判定區域及第3判定區域之全部區域來進行。
依據如以上之構成的光學顯示裝置之檢查 方法，可進行信賴度高的品質檢查。再者，依據如以上之構成的光學部件之圖案認識方法，可精準地辨識圖案化相位差層之第1區域與第2區域之交界。
以上，一邊參照附屬圖示一邊就本發明之適當的實施形態例作了說明，本發明當然不限定於上述例子。在上述的例中所示之各構成部件的諸形狀與組合等為一例，在不脫離本發明的主旨之範圍內可根據設計要求等作種種變更。
[產業上之利用可能性]
依據本發明之光學顯示裝置的檢查方法及光學部件之圖案認識方法，可提供可進行可靠度高的品質檢查之光學顯示裝置的檢查方法，再者，可提供可精準地辨識圖案化相位差層的第1區域與第2區域的交界之光學部件的圖案認識方法。
1‧‧‧光學部件
3‧‧‧圖案化相位差層(相位差層)
3L‧‧‧第2區域
3R‧‧‧第1區域
BL‧‧‧交界線(交界)
D‧‧‧距離
FL‧‧‧基準線
La、Lb、Lc‧‧‧畫素列
P‧‧‧液晶面板(光學顯示零件)

Claims (10)

  1. 一種光學顯示裝置之檢查方法，其係貼合有具備相位差層之光學部件以及具有複數列畫素列之光學顯示零件的檢查方法，其中前述相位差層具有複數個第1區域與複數個第2區域，其中複數個第1區域係於一方向延伸成帶狀，且使入射之直線偏光改變成第1偏光狀態，而複數個第2區域係於與前述第1區域的延伸方向同方向延伸成帶狀，且使入射的直線偏光改變成第2偏光狀態，前述複數個第1區域及前述複數個第2區域係於與前述第1區域及前述第2區域的延伸方向交叉之方向交互地被配置，其中該光學顯示裝置的檢查方法具有，測量在將在鄰接之前述第1區域與前述第2區域之間所檢測之交界線與在相鄰之前述畫素列之間的區域沿著前述畫素列而設定的基準線之於俯視角的距離之測量步驟，以及根據前述距離來判定前述光學顯示裝置的好壞之判定步驟。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之光學顯示裝置之檢查方法，其中，於前述光學顯示零件之顯示區域的中央，進行前述測量步驟與前述判定步驟。
  3. 如申請專利範圍第1項或第2項所述之光學顯示裝置之 檢查方法，其中，在前述延伸方向之前述光學部件的周邊部上，進行前述測量步驟與前述判定步驟。
  4. 如申請專利範圍第1項至第3項中任一項所述之光學顯示裝置之檢查方法，其中，於前述交叉的方向之前述光學部件的周邊部上，進行前述測量步驟與前述判定步驟。
  5. 如申請專利範圍第2項或第4項所述之光學顯示裝置之檢查方法，其中，在前述測量步驟之前，根據在前述交叉的方向之前述光學部件的周邊部所檢測之前述第1區域與前述第2區域的交界與前述相位差層的設計值，估算從在前述周邊部所檢測的前述交界分離之交界的位置估算，將最靠近前述所估算之交界的位置之前述第1區域與前述第2區域的交界予以檢測。
  6. 如申請專利範圍第1項至第5項中任一項所述之光學顯示裝置之檢查方法，其中，係於相鄰之前述畫素列上在彼此相對面之側部，檢測被包含在前述畫素列之複數個畫素之端部的座標，按各個前述畫素列，根據所檢測之複數個前述座標來近似對應前述側部之直線，在所得到之2條近似線之間，設定前述基準線。
  7. 如申請專利範圍第1項至第5項中任一項所述之光學顯示裝置之檢查方法，其中， 在相鄰之2個前述畫素列中，相對一側的畫素列，於與另一側的畫素列相對面之側部檢測複數個畫素的端部之座標，根據所檢測之複數個前述座標來近似對應前述側部之直線，根據所得到之近似線與光學顯示零件的設計值來設定前述基準線。
  8. 如申請專利範圍第1項至第7項中任一項所述之光學顯示裝置之檢查方法，其中，跨越相鄰之前述第1區域與前述第2區域，來設定直線狀的檢測區域，沿著前述檢測區域在複數點檢測前述第1區域與前述第2區域之亮度，根據所檢測之複數點的前述亮度來檢測前述交界。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之光學顯示裝置之檢查方法，其中，在複數個前述檢測區域中檢測複數個前述交界，根據所檢測之複數個前述交界的座標來近似對應前述交界的直線。
  10. 一種光學部件之圖案認識方法，係具有相位差層之光學部件之圖案認識方法，其中前述相位差層具有複數個第1區域與複數個第2區域，其中複數個第1區域係於一方向延伸成帶狀，且使入射之直線偏光改變成第1偏光狀態，而複數 個第2區域係於與前述第1區域的延伸方向同方向延伸成帶狀，且使入射的直線偏光改變成第2偏光狀態，前述複數個第1區域及前述複數個第2區域係於與前述第1區域及前述第2區域的延伸方向交叉之方向交互地被配置，且具有下列步驟：根據在前述交叉的方向之前述光學部件的周邊部所檢測之前述第1區域與前述第2區域的交界與前述相位差層的設計值，估算前述交叉的方向之前述光學部件的中央之前述第1區域與前述第2區域的交界之位置，檢測最靠近所估算之前述交界的位置之前述第1區域與前述第2區域之交界。
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