TW201448521A - 網路設備性能測試方法及測試裝置和測試系統 - Google Patents

網路設備性能測試方法及測試裝置和測試系統 Download PDF

Info

Publication number
TW201448521A
TW201448521A TW102120653A TW102120653A TW201448521A TW 201448521 A TW201448521 A TW 201448521A TW 102120653 A TW102120653 A TW 102120653A TW 102120653 A TW102120653 A TW 102120653A TW 201448521 A TW201448521 A TW 201448521A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
test
module
error rate
bit error
time
Prior art date
Application number
TW102120653A
Other languages
English (en)
Inventor
sheng-cun Zheng
He-Dong Lv
hong-lian Huang
Original Assignee
Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hon Hai Prec Ind Co Ltd filed Critical Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Publication of TW201448521A publication Critical patent/TW201448521A/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L1/00Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
    • H04L1/20Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector
    • H04L1/203Details of error rate determination, e.g. BER, FER or WER

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
  • Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)

Abstract

一種電子產品的網路設備的測試方法,包括步驟:a,執行誤碼率測試程式,測試網路設備的誤碼率;b,獲取當前時間;c,獲取BER測試程式的測試資料;d,記錄當前時間以及測試資料於一測試結果記錄文檔中;e,判斷距離上一次生成測試結果記錄文檔的時間間隔是否達到一預設值,若是,則返回步驟b;若否,繼續步驟e。本發明還提供一種用於測試電子產品的網路設備的測試裝置與測試系統。

Description

網路設備性能測試方法及測試裝置和測試系統
本發明涉及一種網路設備性能測試領域,尤其涉及一種能自動存儲測試資料的網路設備性能測試方法及測試裝置和測試系統。
通常伺服器、電腦以及移動終端等電子產品中都設有網路設備,例如網卡等。為了保證網路設備的性能,具有該網路設備的電子產品在出廠之前都需要進行性能測試,誤碼率(Bit Error Rate,BER)測試是其中重要的專案。
電子產品中傳統的BER測試大致是,向電子產品傳輸預設的資料,通過電子產品的網路介面讀出其接收到的資料,並輸出給BER專用統計設備如誤碼分析儀等,由BER專用統計設備通過比較自身預先存儲的電子產品應該接受的資料與從網路介面讀出的接收到的資料,來統計該電子產品的BER。目前這種BER測試需要額外增加特殊的連接和BER統計設備。
另外,BER測試通常需要在不同的溫度條件下進行長時間的測試,例如在高溫50℃下,測試6小時;然後在低溫0℃下,測試6小時,而且通常BER測試是在恒溫箱容器中進行的,長時間的測試時間和隔離的測試空間致使測試人員無法及時的記錄測試資料,同時由於電子產品在BER測試中,經常出現中斷和死機的現象,導致測試完成後發現測試資料已然丟失。
有鑒於此,有必要提供一種能自動存儲測試資料的網路設備性能測試方法及測試裝置和測試系統。
一種電子產品的網路設備的測試方法,包括步驟:
a,執行誤碼率測試程式,測試網路設備的誤碼率;
b,獲取當前時間;
c,獲取BER測試程式的測試資料;
d,記錄當前時間以及測試資料於一測試結果記錄文檔中;
e,判斷距離上一次生成測試結果記錄文檔的時間間隔是否達到一預設值,若是,則返回步驟b;若否,繼續步驟e。
一種用於測試電子產品的網路設備的測試裝置,所述測試裝置包括處理器以及在操作上與處理器連接的記憶體,所述處理器可用來執行記憶體中的指令模組,所述模組包括:
測試模組,用於執行誤碼率測試程式,測試網路設備的誤碼率;
時間獲取模組,用於獲取當前時間;
測試資料獲取模組,用於獲取誤碼率測試程式的測試資料;
記錄模組,用於記錄當前時間以及測試資料,並生成一測試結果記錄文檔;
間隔判斷模組,用於判斷距離上一次生成測試結果記錄文檔的時間間隔是否達到預設值;
所述記錄模組還用於在時間判斷模組判斷當前時間距離上一次生成測試結果記錄文檔的時間間隔達到預設值時,再次記錄當前時間以及測試資料在測試結果記錄文檔中。
一種用於測試電子產品的網路設備的測試系統,所述電子產品包括處理器以及在操作上與處理器連接的記憶體,所述測試系統運行於所述電子產品上,該測試系統包括存儲於記憶體中的指令模組,處理器用於執行記憶體中的指令模組。該指令模組包括:
測試模組,用於執行誤碼率測試程式,測試網路設備的誤碼率;
時間獲取模組,用於獲取當前時間;
測試資料獲取模組,用於獲取誤碼率測試程式的測試資料;
記錄模組,用於記錄當前時間以及測試資料,並生成一測試結果記錄文檔;
時間判斷模組,用於判斷距離上一次生成測試結果記錄文檔的時間間隔是否達到預設值;
所述記錄模組還用於在時間判斷模組判斷當前時間距離上一次生成測試結果記錄文檔的時間間隔達到預設值時,再次記錄當前時間以及測試資料在測試結果記錄文檔中。
使用測試系統對電子產品進行誤碼率測試,即使在測試過程中出現中斷和死機的現象,測試資料仍然留有記錄。
100...電子產品
10...網路設備
20...處理器
21...時鐘單元
31...暫存單元
32...存儲單元
110...測試系統
201...測試模組
202...時間獲取模組
203...測試資料獲取模組
204...記錄模組
205...時間判斷模組
206...測試判斷模組
S1,S2,S3,S4,S5,S6...步驟
圖1為本發明一實施方式中的電子產品的模組結構示意圖。
圖2為本發明一實施方式中的用於測試圖1中電子產品的網路設備的測試方法流程圖。
圖3為為本發明一實施方式中的用於測試圖1中電子產品的網路設備的測試系統模組結構示意圖。
下面將結合附圖,對本發明作進一步的詳細說明。
請參閱圖1,電子產品100包括設置於主板上的網路設備10,處理器20,時鐘單元21,暫存單元31以及在操作上與處理器20連接的存儲單元32,其中,存儲單元32上安裝有作業系統。其中,所述作業系統可為Linux系統、Windows系統、蘋果IOS系統等。
請參閱圖2,為本發明一實施方式中的用於測試電子產品100的網路設備10的測試方法流程圖,其中,所述測試方法包括步驟:
S1,執行BER測試程式,測試網路設備10的誤碼率。
S2,獲取當前時間。
S3,獲取BER測試程式的測試資料。
S4,記錄當前時間以及測試資料於一測試結果記錄文檔中。
S5,判斷距離上一次生成測試結果記錄文檔的時間間隔是否達到一預設值,若是,則返回步驟S2;若否,繼續步驟S5。
其中,該方法還包括步驟S6:判斷BER測試程式是否結束,若是,則結束;若否,返回步驟S5。
請參閱圖3,其為本發明一實施方式中的用於測試具有網路設備10的電子產品100的測試系統110的模組結構示意圖。
在本實施方式中,所述測試系統110使用電子產品100主板上的處理器20,暫存單元31以及存儲單元32來進行BER測試,將網路設備10的網路介面101與電子產品100主板上的網路介面40連接。其中,所述處理器20可用來執行存儲單元32中的指令模組,所述模組包括:
測試模組201,用於執行BER測試程式,測試網路設備10的網路介面101與電子產品100主板上的網路介面40的網路連接來獲取網路設備10的誤碼率;
時間獲取模組202,用於從時鐘單元21獲取當前時間;
測試資料獲取模組203,用於獲取BER測試程式的測試資料;
記錄模組204,用於記錄時間獲取模組202獲取的當前時間以及測試資料獲取模組203獲取的測試資料,並生成一測試結果記錄文檔;
間隔判斷模組205,用於判斷距離上一次生成測試結果記錄文檔的時間間隔是否達到預設值;
所述記錄模組204還用於在時間判斷模組205判斷當前時間距離上一次生成測試結果記錄文檔的時間間隔達到預設值時,再次記錄當前時間以及測試資料在測試結果記錄文檔中。
在本實施方式中,所述指令模組還包括測試判斷模組206,用於判斷BER測試程式是否已經測試完成,若是測試已經完成則該網路設備10的BER測試流程結束,若BER測試程式尚未測試完成,時間判斷模組205進一步判斷當前時間距離上一次生成測試結果記錄文檔的時間間隔是否達到預設值。
在其他實施方式中,所述測試系統110可以使用BER專用統計設備如誤碼分析儀等,該專用統計設備也包括相應的處理器,暫存單元以及存儲單元。
使用測試系統110對電子產品100進行BER測試,即使在測試過程中出現中斷和死機的現象,測試資料仍然留有記錄。
本技術領域的普通技術人員應當認識到,以上的實施方式僅是用來說明本發明,而並非用作為對本發明的限定,只要在本發明的實質精神範圍之內,對以上實施例所作的適當改變和變化都落在本發明要求保護的範圍之內。
S1,S2,S3,S4,S5,S6...步驟

Claims (6)

  1. 一種電子產品的網路設備的測試方法,其改良在於,包括步驟:
    a,執行誤碼率測試程式,測試網路設備的誤碼率;
    b,獲取當前時間;
    c,獲取BER測試程式的測試資料;
    d,記錄當前時間以及測試資料於一測試結果記錄文檔中;
    e,判斷距離上一次生成測試結果記錄文檔的時間間隔是否達到一預設值,若是,則返回步驟b;若否,繼續步驟e。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之測試方法,其中,所述方法還包括步驟:判斷所述誤碼率測試程式是否結束,若是,則結束;若否,則進入步驟e。
  3. 一種用於測試電子產品的網路設備的測試裝置,所述測試裝置包括處理器以及在操作上與處理器連接的記憶體,其改良在於,所述處理器可用來執行記憶體中的指令模組,所述模組包括:
    測試模組,用於執行誤碼率測試程式,測試網路設備的誤碼率;
    時間獲取模組,用於獲取當前時間;
    測試資料獲取模組,用於獲取誤碼率測試程式的測試資料;
    記錄模組,用於記錄當前時間以及測試資料,並生成一測試結果記錄文檔;
    間隔判斷模組,用於判斷距離上一次生成測試結果記錄文檔的時間間隔是否達到預設值;
    所述記錄模組還用於在時間判斷模組判斷當前時間距離上一次生成測試結果記錄文檔的時間間隔達到預設值時,再次記錄當前時間以及測試資料在測試結果記錄文檔中。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之測試裝置,其中,所述指令模組還包括測試判斷模組,用於判斷誤碼率測試程式是否已經測試完成,若是測試已經完成則該網路設備的誤碼率測試流程結束;若誤碼率測試程式尚未測試完成,時間判斷模組進一步判斷當前時間距離上一次生成測試結果記錄文檔的時間間隔是否達到預設值。
  5. 一種用於測試電子產品的網路設備的測試系統,所述電子產品包括處理器以及在操作上與處理器連接的記憶體,其改良在於,所述測試系統運行於所述電子產品上,該測試系統包括存儲於記憶體中的指令模組,處理器用於執行記憶體中的指令模組,該指令模組包括:
    測試模組,用於執行誤碼率測試程式,測試網路設備的誤碼率;
    時間獲取模組,用於獲取當前時間;
    測試資料獲取模組,用於獲取誤碼率測試程式的測試資料;
    記錄模組,用於記錄當前時間以及測試資料,並生成一測試結果記錄文檔;
    時間判斷模組,用於判斷距離上一次生成測試結果記錄文檔的時間間隔是否達到預設值;
    所述記錄模組還用於在時間判斷模組判斷當前時間距離上一次生成測試結果記錄文檔的時間間隔達到預設值時,再次記錄當前時間以及測試資料在測試結果記錄文檔中。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之測試系統,其中,所述指令模組還包括測試判斷模組,用於判斷誤碼率測試程式是否已經測試完成,若是測試已經完成則該網路設備的誤碼率測試流程結束;若誤碼率測試程式尚未測試完成,時間判斷模組進一步判斷當前時間距離上一次生成測試結果記錄文檔的時間間隔是否達到預設值。
TW102120653A 2013-06-06 2013-06-11 網路設備性能測試方法及測試裝置和測試系統 TW201448521A (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310222066.0A CN104243222A (zh) 2013-06-06 2013-06-06 网络设备性能测试方法及测试装置和测试系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW201448521A true TW201448521A (zh) 2014-12-16

Family

ID=52005449

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW102120653A TW201448521A (zh) 2013-06-06 2013-06-11 網路設備性能測試方法及測試裝置和測試系統

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20140362895A1 (zh)
CN (1) CN104243222A (zh)
TW (1) TW201448521A (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108809771A (zh) * 2018-08-10 2018-11-13 锐捷网络股份有限公司 Sdn网络数据流监控方法、sdn控制器、交换设备及系统
CN109460334B (zh) * 2018-11-13 2022-02-18 郑州云海信息技术有限公司 一种网卡误码率自动化测试装置及方法

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6388259B1 (en) * 2000-06-08 2002-05-14 The Boeing Company Radiation detection method and apparatus
US20020126784A1 (en) * 2001-03-07 2002-09-12 Alain Brazeau Adaptive optical line rate clock and data recovery
US6823466B2 (en) * 2001-09-28 2004-11-23 Agilent Technologies, Inc. Circuit and method for adjusting the clock skew in a communications system
US6973599B2 (en) * 2001-09-28 2005-12-06 Agilent Technologies, Inc. Method of and system for constructing valid data for memory-based tests
US6961317B2 (en) * 2001-09-28 2005-11-01 Agilent Technologies, Inc. Identifying and synchronizing permuted channels in a parallel channel bit error rate tester
US6898033B2 (en) * 2001-10-05 2005-05-24 Seagate Technology Llc Anticipating media decay in a disc drive
GB2383240B (en) * 2001-12-17 2005-02-16 Micron Technology Inc DVi link with parallel test data
US7519874B2 (en) * 2002-09-30 2009-04-14 Lecroy Corporation Method and apparatus for bit error rate analysis
US20050086563A1 (en) * 2003-10-16 2005-04-21 International Business Machines Corporation Channel-based testing of communication link
US7944876B2 (en) * 2004-06-02 2011-05-17 Integrated Device Technology, Inc Time slot interchange switch with bit error rate testing
US20050270870A1 (en) * 2004-06-02 2005-12-08 Sangho Shin Time slot interchange switch with cache
KR100667300B1 (ko) * 2005-01-03 2007-01-12 삼성전자주식회사 기록방식 튜닝영역이 구분된 광디스크, 이를 이용하는광기록재생장치 및 그 방법
JP2006237780A (ja) * 2005-02-23 2006-09-07 Casio Hitachi Mobile Communications Co Ltd 放送通信連携制御装置および放送通信連携制御方法
US20070091814A1 (en) * 2005-10-21 2007-04-26 Leung Hung F Testing system and method for testing functions of wireless devices
US7555039B2 (en) * 2005-12-29 2009-06-30 Lsi Corporation Simultaneous display of eye diagram and jitter profile during device characterization
US7856330B2 (en) * 2006-02-27 2010-12-21 Advantest Corporation Measuring apparatus, testing apparatus, and electronic device
US7908522B2 (en) * 2007-10-24 2011-03-15 Inventec Corporation Network card testing method
JP5166924B2 (ja) * 2008-03-11 2013-03-21 株式会社日立製作所 信号再生回路
US8094705B2 (en) * 2009-03-12 2012-01-10 Oracle America, Inc. Fast SERDES I/O characterization
US8006141B2 (en) * 2009-06-30 2011-08-23 Freescale Semiconductor, Inc. Method for speeding up serial data tolerance testing
KR101187571B1 (ko) * 2010-12-28 2012-10-05 주식회사 실리콘웍스 Bert 기능이 추가된 타이밍 컨트롤러와 소스 드라이버 사이의 데이터 전송 방법 및 장치
TWI444636B (zh) * 2011-02-18 2014-07-11 Realtek Semiconductor Corp 內建抖動測試功能之時脈與資料回復電路及其方法
US8788890B2 (en) * 2011-08-05 2014-07-22 Apple Inc. Devices and methods for bit error rate monitoring of intra-panel data link
US9319908B2 (en) * 2011-10-12 2016-04-19 Apple Inc. Methods for reducing path loss while testing wireless electronic devices with multiple antennas
US9679664B2 (en) * 2012-02-11 2017-06-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Method and system for providing a smart memory architecture
US9158642B2 (en) * 2012-12-20 2015-10-13 Litepoint Corporation Method of testing multiple data packet signal transceivers concurrently

Also Published As

Publication number Publication date
US20140362895A1 (en) 2014-12-11
CN104243222A (zh) 2014-12-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109558282B (zh) 一种pcie链路检测方法、系统及电子设备和存储介质
US8661306B2 (en) Baseboard management controller and memory error detection method of computing device utilized thereby
US20140068350A1 (en) Self-checking system and method using same
CN110992992B (zh) 一种硬盘测试方法、设备以及存储介质
US20150067316A1 (en) Electronic device and testing method
CN107076797B (zh) 基于所执行的访问命令对半导体存储功耗的测试
CN104268076A (zh) 一种适用各处理器平台的自动测试内存带宽的测试方法
CN104518924A (zh) 自动化测试及结果比对方法及系统
CN103186439A (zh) 服务器测试系统及服务器稳定性测试方法
US8839180B1 (en) Dielectric reliability assessment for advanced semiconductors
CN111145826B (zh) 一种存储器内建自测试方法、电路及计算机存储介质
CN107193699A (zh) 一种通过rdma方式自动测试hca卡带宽延时方法
US20120266030A1 (en) Watchdog timer test system and method
US20140244203A1 (en) Testing system and method of inter-integrated circuit bus
CN110908920A (zh) 一种接口功能测试方法、装置及相关组件
US10571515B2 (en) Frequency guard band validation of processors
CN116340076A (zh) 硬盘性能测试方法、装置及介质
US20110093746A1 (en) System and mehtod for determining display function of bios error information
CN109918221B (zh) 一种硬盘报错解析方法、系统、终端及存储介质
CN107391036B (zh) 一种存储的vpd信息访问方法及系统
TW201448521A (zh) 網路設備性能測試方法及測試裝置和測試系統
TW201516665A (zh) 伺服器之系統錯誤資訊偵測系統及方法
CN106933858B (zh) 页面来源统计方法及视图控制器
US9411695B2 (en) Provisioning memory in a memory system for mirroring
US9218260B2 (en) Host device and method for testing booting of servers