CN116340076A - 硬盘性能测试方法、装置及介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开了硬盘性能测试方法、装置及介质，方法包括：基于第一温度对样本硬盘进行RDT测试；在样本硬盘通过RDT测试的情况下，对样本硬盘进行分区得到第一分区、第二分区以及第三分区；对第一分区设定第一存储测试模式，对第二分区设定第二存储测试模式，对第三分区进行数据写入操作；启动第一存储测试模式、第二存储测试模式，并对第三分区进行只读测试，同时基于预设的时间间隔对第一存储测试、第二存储测试以及只读测试中的至少一个触发异常掉电测试；当异常掉电测试结果满足预设的测试条件，对样本硬盘进行格式化测试，直至满足预设的格式化次数。根据本申请的技术方案，能够提供更为全面的硬盘测试过程，提高对SSD测试的准确性。

Description

硬盘性能测试方法、装置及介质

技术领域

本申请涉数据处理技术领域，尤其是一种硬盘性能测试方法、装置及介质。

背景技术

固态硬盘（Solid State Disk，SSD）为用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘，由控制单元和存储单元组成。固态硬盘的接口规范和定义、功能及使用方法上与普通硬盘的完全相同，在产品外形和尺寸上也完全与普通硬盘一致。固态硬盘被广泛应用于军事、车载、工控、视频监控、电力、医疗、航空等领域。随着固态硬盘的广泛使用，对固态硬盘进行测试的方法和技术也提出了新的要求。为了确保SSD在上市后仍能保持高性能和高稳定性，常需要在SSD出厂前对SSD进行测试，例如，对SSD进行工艺测试、电压测试、温度测试等等。目前有很多用于测试SSD的测试软件，这些测试软件功能各不相同，各有优缺点，但都是对硬盘进行基础测试，不能直接通过模拟真实应用中的复杂情形进行自动化测试，无法模拟SSD使用过程中真正的工作负载，针对部分高端SSD产品无法保证其更高的一致性。

发明内容

本申请实施例提供了一种硬盘性能测试方法、装置及介质，提供更为全面的测试过程，提高对SSD测试的准确性。

第一方面，本申请实施例提供了一种硬盘性能测试方法，包括：

基于预设的第一温度对样本硬盘进行RDT（Resource Director Technology，资源使用监控和调节技术）测试；

在所述样本硬盘通过RDT测试的情况下，对所述样本硬盘进行分区操作，得到第一分区、第二分区以及第三分区；

对所述第一分区设定第一存储测试模式，对所述第二分区设定第二存储测试模式，并基于第一测试工具对所述第三分区进行数据写入操作，其中，所述第一存储测试模式用于对所述第一分区进行第一存储测试，所述第二存储测试模式用于对所述第二分区进行第二存储测试；

启动所述第一存储测试模式、所述第二存储测试模式，并对所述第三分区进行只读测试，同时基于预设的时间间隔对第一存储测试、第二存储测试以及只读测试中的至少一个触发异常掉电测试；

当异常掉电测试结果满足预设的测试条件，对所述样本硬盘进行格式化测试，直至满足预设的格式化次数；

其中，所述格式化测试包括：

将所述样本硬盘格式化为一分区，得到目标分区；

将所述目标分区放入温箱，并基于预设的测试参数对所述目标分区进行第二存储测试；

当第二存储测试结果通过，在常温下对所述样本硬盘进行性能测试。

在一些实施例中，所述基于预设的第一温度对样本硬盘进行RDT测试，包括：

获取所述样本硬盘的PCB（Printed Circuie Board，印制线路板）版本以及固件版本；

根据所述PCB版本以及所述固件版本对所述样本硬盘进行RDT开卡操作；

将开卡操作后的所述样本硬盘放入温箱，并将所述温箱的温度调节至所述第一温度；

基于预设的第一测试周期在所述温箱中对开卡操作后的样本硬盘进行第一高温测试。

在一些实施例中，在所述对所述第一分区设定第一存储测试模式，对所述第二分区设定第二存储测试模式之前，还包括：

在所述第一分区、所述第二分区以及所述第三分区上安装不同的操作系统。

在一些实施例中，在所述启动所述第一存储测试模式、所述第二存储测试模式之后，还包括：

启动所述第一存储测试模式以基于第一存储测试算法对所述第一分区的一部分存储单元的位进行第一存储测试；

启动所述第二存储测试模式以基于第二存储测试算法对所述第二分区的所有存储单元的位进行第二存储测试。

在一些实施例中，所述基于预设的时间间隔对第一存储测试、第二存储测试以及只读测试中的至少一个触发异常掉电测试，包括：

在预设的第二测试周期内，根据所述时间间隔对第一存储测试、第二存储测试以及只读测试的至少一个进行随机重启操作；

记录每次进行随机重启操作的所述样本硬盘的信息。

在一些实施例中，所述测试参数包括测试温度区间、累加温度值以及温度持续时长；所述基于预设的测试参数对所述目标分区进行第二存储测试，包括：

根据所述测试温度区间确定第一温度值以及第二温度值，其中，所述第一温度值为测试的初始温度值，所述第二温度值为测试的终止温度值；

将所述温箱的温度调节至所述第一温度值，并基于所述温度持续时长对所述目标分区进行第二存储测试；

在所述第一温度值的情况下对所述目标分区进行第二存储测试后，根据所述累加温度值对所述温箱的温度调节，并基于预设的温度持续时长继续对所述目标分区进行第二存储测试，直至所述温箱的当前温度值到达所述第二温度值。

在一些实施例中，所述在常温下对所述样本硬盘进行性能测试，包括：

将所述样本硬盘从所述温箱中取出，并静置预设的冷却时长；

基于第二测试软件对所述样本硬盘进行性能测试；

基于第三测试软件对所述样本硬盘进行健康状态测试。

在一些实施例中，在所述在常温下对所述样本硬盘进行性能测试之后，还包括：

获取所述第二测试软件对所述样本硬盘进行性能测试生成的性能参数以及所述第三测试软件对所述样本硬盘进行健康状态测试生成的健康参数；

根据所述性能参数以及所述健康参数生成样本测试结果；

将所述样本测试结果与初始硬盘的初始性能参数进行对比，得到参数差值；

当所述参数差值满足预设的估计误差，确定所述样本硬盘性能测试通过。

第二方面，本申请实施例还提供了一种硬盘性能测试装置，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述的硬盘性能测试方法。

第三方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行如第一方面所述的硬盘性能测试方法。

本申请实施例至少有如下有益效果：首先，基于第一温度对样本硬盘进行RDT测试，从而监控硬盘上各个资源的使用情况，在样本硬盘通过RDT测试的情况下，对样本硬盘进行分区操作，得到第一分区、第二分区以及第三分区，便于后续在不同的分区进行不同测试，提供更为全面的测试过程，对第一分区以及第二分区分别设定第一存储测试模式和第二存储测试模式，并基于第一测试工具对第三分区进行数据写入操作，之后启动第一存储测试模式、第二存储测试模式，并对第三分区进行只读测试，同时在进行上述三种测试的过程中，基于预设的时间间隔对三种测试中的至少一个触发异常掉电测试，从而测试硬盘的稳定性和可靠性，提高硬盘的性能和效率，当异常掉电测试结果满足预设的测试条件，将样本硬盘重新格式化为一分区，得到目标分区，将目标分区放入温箱，并基于预设的测试参数对目标分区进行第二存储测试，提高硬盘中数据的安全性和可靠性，实现对硬盘中故障的检测，当第二存储测试结果通过，在常温下对样本硬盘进行性能测试，直至满足预设的格式化次数从而提供更为完整严格的测试过程，提高对硬盘测试的准确性，提高硬盘质量。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

图1是本发明一个实施例提供的硬盘性能测试方法的流程图；

图2是本发明一个实施例提供的格式化测试的流程图；

图3是图2中步骤S101的具体方法的流程图；

图4是本发明另一个实施例提供的硬盘性能测试方法的流程图；

图5是本发明另一个实施例提供的硬盘性能测试方法的流程图；

图6是图1中步骤S104的具体方法的流程图；

图7是图2中步骤S1052的具体方法的流程图；

图8是图2中步骤S1053的具体方法的流程图；

图9是本发明另一个实施例提供的硬盘性能测试方法的流程图；

图10是本发明另一个实施例提供的硬盘性能测试装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

需要说明的是，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

需要注意的是，在本发明实施例的描述中，说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。“至少一个”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示单独存在A、同时存在A和B、单独存在B的情况。其中A，B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。虽然在装置示意图中进行了功能模块划分，在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于装置中的模块划分，或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。

此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。

固态硬盘（Solid State Disk，SSD）为用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘，由控制单元和存储单元组成。固态硬盘的接口规范和定义、功能及使用方法上与普通硬盘的完全相同，在产品外形和尺寸上也完全与普通硬盘一致。固态硬盘被广泛应用于军事、车载、工控、视频监控、电力、医疗、航空等领域。随着固态硬盘的广泛使用，对固态硬盘进行测试的方法和技术也提出了新的要求。为了确保SSD在上市后仍能保持高性能和高稳定性，常需要在SSD出厂前对SSD进行测试，例如，对SSD进行工艺测试、电压测试、温度测试等等。目前有很多用于测试SSD的测试软件，这些测试软件功能各不相同，各有优缺点，但都是对硬盘进行基础测试，不能直接通过模拟真实应用中的复杂情形进行自动化测试，无法模拟SSD使用过程中真正的工作负载，针对部分高端SSD产品无法保证其更高的一致性。

为了解决上述问题，本发明提供了一种硬盘性能测试方法、装置及介质，首先，基于第一温度对样本硬盘进行RDT测试，从而监控硬盘上各个资源的使用情况，在样本硬盘通过RDT测试的情况下，对样本硬盘进行分区操作，得到第一分区、第二分区以及第三分区，便于后续在不同的分区进行不同测试，提供更为全面的测试过程，对第一分区以及第二分区分别设定第一存储测试模式和第二存储测试模式，并基于第一测试工具对第三分区进行数据写入操作，之后启动第一存储测试模式、第二存储测试模式，并对第三分区进行只读测试，同时在进行上述三种测试的过程中，基于预设的时间间隔对三种测试中的至少一个触发异常掉电测试，从而测试硬盘的稳定性和可靠性，提高硬盘的性能和效率，当异常掉电测试结果满足预设的测试条件，将样本硬盘重新格式化为一分区，得到目标分区，将目标分区放入温箱，并基于预设的测试参数对目标分区进行第二存储测试，提高硬盘中数据的安全性和可靠性，实现对硬盘中故障的检测，当第二存储测试结果通过，在常温下对样本硬盘进行性能测试，直至满足预设的格式化次数从而提供更为完整严格的测试过程，提高对硬盘测试的准确性，提高硬盘质量。

下面结合附图，对本申请实施例作进一步阐述。

参考图1，图1是本发明一个实施例提供的硬盘性能测试方法的流程图，该硬盘性能测试方法包括但不限于有步骤S101和步骤S105。

步骤S101：基于预设的第一温度对样本硬盘进行RDT测试；

在一些实施例的步骤S101中，基于预设的第一温度对样本硬盘进行RDT测试，从而得到第一温度环境下硬盘的测试性能，提高硬盘的可扩展性，更加全面地了解硬盘的性能和稳定性。

需要说明的是，RDT开卡指的是在处理器上启用资源使用监控和调节技术所需要的操作。RDT旨在为云计算等大规模部署场景提供资源管理和应用性能调优支持，通过启用RDT，可以监控处理器上各个资源（如缓存、带宽等）的使用情况，并对其进行调节。这样就可以更好地管理各种工作负载，根据应用程序的需求进行调整，提高资源利用率，优化系统性能。

可以理解的是，第一温度可以为65摄氏度、70摄氏度、75摄氏度等等，本实施例中为70摄氏度。

步骤S102：在样本硬盘通过RDT测试的情况下，对样本硬盘进行分区操作，得到第一分区、第二分区以及第三分区；

在一些实施例的步骤S102中，在样本硬盘通过RDT测试的情况下，对样本硬盘进行分区操作，得到第一分区、第二分区以及第三分区，便于后续对不同分区进行不同的测试过程，从而实现对硬盘的全面测试。

需要说明的是，样本硬盘通过RDT测试包括但不限于包括测试过程中没有坏块增加、传输稳定等等。

步骤S103：对第一分区设定第一存储测试模式，对第二分区设定第二存储测试模式，并基于第一测试工具对第三分区进行数据写入操作；

需要说明的是，第一存储测试模式用于对第一分区进行第一存储测试，第二存储测试模式用于对第二分区进行第二存储测试。

在一些实施例的步骤S103中，对第一分区设定第一存储测试模式，对第二分区设定第二存储测试模式，并基于第一测试工具对第三分区进行数据写入操作，将第三分区写满，从而实现对不同分区的不同测试，提供更为严格的测试流程。

需要说明的是，第一测试工具为H2test软件，H2test软件可以用来测试U盘、SD卡、TF卡、硬盘、SSD等存储设备的读写速度、容量、坏道、以及数据完整性等。H2test软件测试完成后，会显示测试结果。如果存储设备的容量和测试出的容量差别较小，测试速度也比较接近存储设备的宣传速度，且没有出现错误信息，则存储设备的品质较好；如果测试结果与宣传容量相差较大、测试速度偏慢或出现坏块信息，则存储设备可能存在质量问题，以实现对样本硬盘的全面覆盖测试。

步骤S104：启动第一存储测试模式、第二存储测试模式，并对第三分区进行只读测试，同时基于预设的时间间隔对第一存储测试、第二存储测试以及只读测试中的至少一个触发异常掉电测试；

在一些实施例的步骤S104中，启动第一存储测试模式、第二存储测试模式，并对写满后的第三分区进行只读测试，同时基于预设的时间间隔对第一存储测试、第二存储测试以及只读测试三个测试过程中的至少一个触发异常掉电测试，以测试样本硬盘的稳定性和可靠性，提高样本硬盘的性能和效率。

需要说明的是，本实施例中第一存储测试为对样本硬盘进行BIT_butterfly校验，第二存储测试为对样本硬盘进行BIT_default测试，从而能够通过不同的校验方法对样本硬盘进行测试，提高测试的精准度。

值得注意的是，对样本硬盘进行异常掉电测试包括但不限于包括对数据持久性、数据一致性、容错性、写入性能、读取性能、稳定性能等性能进行测试，本实施例不做具体限制。

步骤S105：当异常掉电测试结果满足预设的测试条件，对样本硬盘进行格式化测试，直至满足预设的格式化次数。

在一些实施例的步骤S105中，当异常掉电测试结果满足预设的测试条件，对样本硬盘进行格式化测试，直至满足预设的格式化次数，实现对硬盘的整体性测试，其中，格式化次数可以根据使用者的需要自行设置，例如，测试八次、九次、十次等等，本实施例不做具体限制。

需要说明的是，异常掉电测试结果满足测试条件的情况包括但不限于包括如下：

硬盘在掉电异常情况下，能够保持数据持久性，即在掉电后能够保持数据的完整性和一致性；

硬盘在掉电异常情况下，能够保持数据一致性，即在掉电后是否能够保持数据一致，避免数据损坏或丢失；

硬盘在掉电异常情况下，能够启用电源故障检测、电源故障保护和电源重启等功能，以确保SSD在掉电异常情况下能够及时恢复；

硬盘在掉电异常情况下能够自动恢复数据或者提供备份数据。

可以理解的是，在对样本硬盘进行性能测试的过程中，可以以固定的样本批次进行测试，例如，每批测试10件硬盘、每批测试20件硬盘、每批测试30件硬盘等等。

参考图2，图2是本发明一个实施例提供的格式化测试的流程图，该垃圾回收测试包括但不限于有步骤S1051和步骤S1053。

步骤S1051：将样本硬盘格式化为一分区，得到目标分区；

步骤S1052：将目标分区放入温箱，并基于预设的测试参数对目标分区进行第二存储测试；

步骤S1053：当第二存储测试结果通过，在常温下对样本硬盘进行性能测试。

在一些实施例的步骤S1051至步骤S1053中，在对样本硬盘进行格式化测试的过程中，首先，将样本硬盘重新格式化为一分区，得到目标分区，再将目标分区放入温箱进行第二存储测试，经过一段时间后，将样本硬盘从温箱中取出，当第二存储测试结果通过，在常温下将样本硬盘静置，并对静置后的样本硬盘进行性能测试，从而提高对样本硬盘测试的精准性，提高硬盘质量。

参照图3，图3是图2中步骤S101的一种具体方法流程图，是对步骤S101的进一步说明，步骤S101包括但不限于步骤S201至步骤S204。

步骤S201：获取样本硬盘的PCB版本以及固件版本；

步骤S202：根据PCB版本以及固件版本对样本硬盘进行RDT开卡操作；

步骤S203：将开卡操作后的样本硬盘放入温箱，并将温箱的温度调节至第一温度；

步骤S204：基于预设的第一测试周期在温箱中对开卡操作后的样本硬盘进行第一高温测试。

在一些实施例的步骤S201至步骤S204中，在对样本硬盘进行RDT测试的过程中，首先确认样本硬盘的PCB版本以及固件版本等信息，再根据PCB版本以及固件版本对样本硬盘进行RDT开卡操作，之后将开卡操作后的样本硬盘放入温箱，并将温箱的温度调节至第一温度，按照预设的第一测试周期对开卡操作后的样本硬盘进行第一高温测试，从而能够实时监控硬盘的资源使用情况和性能表现，提高硬盘的整体性能。

需要说明的是，第一测试周期可以为开卡操作后的样本硬盘在温箱中测试一圈、测试两圈、测试三圈等等，并且在进行第一高温测试的过程中，RDT可以实时监测样本硬盘的资源使用情况和性能表现，以帮助用户更全面地了解SSD的性能和稳定性。具体来说，第一高温测试的包括但不限于包括对样本硬盘进行CMT（Cache Monitoring Technology，缓存监控技术）测试、MBM（Memory Bandwidth Monitoring，内存带宽监控）测试、MBA（MemoryBandwidth Allocation，内存带宽分配）测试等等。

可以理解的是，通过CMT监测处理器缓存中的读/写请求，来了解在高负荷状态下对SSD缓存的访问情况，进一步了解SSD的读/写性能和缓存命中率，从而优化SSD的性能表现；通过MBM监测SSD所占用的内存带宽以了解SSD和内存之间的数据传输效率和稳定性；通过MBA可以帮助用户更好地分配系统资源，提高系统的整体性能和稳定性。

参照图4，图4是本发明另一个实施例提供的硬盘性能测试方法的流程图，该硬盘性能测试方法包括但不限于有步骤S301。

需要说明的是，步骤S301发生在对第一分区设定第一存储测试模式，对第二分区设定第二存储测试模式之前。

步骤S301，在第一分区、第二分区以及第三分区上安装不同的操作系统。

在一些实施例的步骤S301中，在第一分区、第二分区以及第三分区上安装不同的操作系统，例如，Windows 11、Windows 10等等，从而能够在不同操作系统的情况下，对不同分区进行测试，增加测试的多样性，提高硬盘的应用范围。

需要说明的是，本实施例中可以在第一分区以及第二分区上安装Windows 10，第三分区上安装Windows 11；在第一分区上安装Windows 11、第二分区以及第三分区上安装Windows 10，本实施例不做具体限制。

参照图5，图5是本发明另一个实施例提供的硬盘性能测试方法的流程图，该硬盘性能测试方法包括但不限于有步骤S401至步骤S402。

步骤S401，启动第一存储测试模式以基于第一存储测试算法对第一分区的一部分存储单元的位进行第一存储测试；

在一些实施例的步骤S401中，第一存储测试算法为BIT_butterfly算法，启动第一存储测试以基于BIT_butterfly算法对第一分区的一部分存储单元的位进行第一存储测试，从而可以有效地检测和修复测试过程中的错误和故障，提高硬盘的稳定性和可靠性。

需要说明的是，在测试过程中，BIT_butterfly算法会对存储设备中的每一个位进行读写。如果某个位出现误差，测试程序会标记这个位，并在测试结束后输出测试报告。

步骤S402，启动第二存储测试模式以基于第二存储测试算法对第二分区的所有存储单元的位进行第二存储测试。

在一些实施例的步骤S402中，第二存储测试算法为BIT_default算法，启动第二存储测试模式以基于BIT_default算法对第二分区的所有存储单元的位进行第二存储测试，能够全面的对存储单元的位进行测试，提高硬盘的稳定性和可靠性。

需要说明的是，在测试过程中，BIT_default算法会对存储设备中的所有位进行读写操作，以检测出测试过程中的任何错误或缺陷。

值得注意的是，BIT_default测试涵盖了硬盘的所有存储单元，可以检测出硬盘中的所有错误和缺陷，BIT_butterfly测试范围只包含了硬盘中的以下部分存储单元，可以检测出硬盘中某些位的错误和缺陷，因此，本实施例同时采用上述两种测试方案，实现对硬盘的全面检测，能够对不同种类的硬盘进行校验测试。

参照图6，图6是图1中步骤S104的一种具体方法流程图，是对步骤S104的进一步说明，步骤S104包括但不限于步骤S501至步骤S502。

步骤S501：在预设的第二测试周期内，根据时间间隔对第一存储测试、第二存储测试以及只读测试的至少一个进行随机重启操作；

步骤S502：记录每次进行随机重启操作的样本硬盘的信息。

在一些实施例的步骤S501至步骤S502中，在第二测试周期内，根据时间间隔对第一存储测试、第二存储测试以及只读测试中的至少一个测试过程进行随机重启操作，观察并记录每次进行随机重启操作的样本硬盘的信息，以测试样本硬盘的稳定性和可靠性，提高样本硬盘的性能和效率。

需要说明的是，本实施例可以在第一存储测试、第二存储测试以及只读测试进行测试的过程中，随机对上述三个测试进行随机重启操作，并且第二测试周期为进行异常掉电测试的时间周期，时间间隔为在第二测试周期内进行随机重启操作的间隔，第二测试周期可以为10天、15天、16天等等，时间间隔可以在40分钟至80分钟之间即可，例如40分钟、50分钟、80分钟等等。

值得注意的是，在进行随机重启操作的过程中需要每天进行检查，并观察测试情况，记录每次进行随机重启操作的样本硬盘的信息，其中，样本硬盘的信息包括但不限于包括样本硬盘的数据信息、固件版本、启动时间、运行温度、运行速度、缓存使用情况等等，本实施例不做具体限制。

参照图7，图7是图2中步骤S1052的一种具体方法流程图，是对步骤S1052的进一步说明，步骤S1052包括但不限于有步骤S601至步骤S603。

需要说明的是，测试参数包括测试温度区间、累加温度值以及温度持续时长，其中，累加温度值为每次发生变化的温度值，例如，每次升高五摄氏度、升高十摄氏度、降低五摄氏度等等；温度持续时长为在当前温度值下对样本硬盘测试的时长，例如，每个温度值持续一个小时、两个小时、三个小时等等。

步骤S601：根据测试温度区间确定第一温度值以及第二温度值；

需要说明的是，第一温度值为测试的初始温度值，第二温度值为测试的终止温度值。

在一些实施例的步骤S601中，根据测试温度区间确定测试过程中的初始温度值以及终止温度值，例如，测试温度区间为0-70摄氏度，则可以选取第一温度值为0摄氏度，第二温度值为70摄氏度，或者选取第一温度值为20摄氏度，第二温度值为40摄氏度等等。

步骤S602：将温箱的温度调节至第一温度值，并基于温度持续时长对目标分区进行第二存储测试；

步骤S603：在第一温度值的情况下对目标分区进行第二存储测试后，根据累加温度值对温箱的温度调节，并基于预设的温度持续时长继续对目标分区进行第二存储测试，直至温箱的当前温度值到达第二温度值。

在一些实施例的步骤S602至步骤S603中，将温箱的温度调节至第一温度值，并在温度持续时长内对目标分区进行第二存储测试，即进行BIT_default测试，在第一温度值的情况下对目标分区进行第二存储测试后，根据累加温度值对温箱的温度调节，并基于预设的温度持续时长继续对目标分区进行第二存储测试，直至温箱的当前温度值到达第二温度值，从而得到不同温度值下的硬盘的性能表现，提高硬盘在不同场景下的测试准确性。

参照图8，图8是图2中步骤S1053的一种具体方法流程图，是对步骤S1053的进一步说明，步骤S1053包括但不限于有步骤S701至步骤S703。

步骤S701：将样本硬盘从温箱中取出，并静置预设的冷却时长；

在一些实施例的步骤S701中，将样本硬盘从温箱中取出，并在常温下静止预设的冷却时长，其中，冷却时长可以为两个小时、三个小时、一个小时等等，使用者可以根据需求自行进行调节，以避免温度的影响。

步骤S702：基于第二测试软件对样本硬盘进行性能测试；

在一些实施例的步骤S702中，通过第二测试软件对样本硬盘的读写速度、访问时间等性能进行性能测试，其中，对样本硬盘进行性能测试包括不限于包括对样本硬盘的性能进行测试、对样本硬盘的耐久性进行测试等等，从而便于评估硬盘的性能表现以及耐久性，便于用户选择更加稳定和可靠的存储设备。

需要说明的是，第二测试软件为CrystalDiskMark软件，可以测量SSD的读写速度，以及随机读写、顺序读写等不同模式下的性能表现。

步骤S703：基于第三测试软件对样本硬盘进行健康状态测试。

在一些实施例的步骤S703中，基于第三测试软件对样本硬盘进行健康状态测试，其中，健康状态测试包括但不限于包括对样本硬盘的健康状态进行测试、对样本硬盘的噪音和温度进行测试、对样本硬盘的读取速度进行测试等，便于后续对硬盘的维护和优化，提高硬盘的稳定性和性能表现。

需要说明的是，第三测试软件为HDTune软件，可以用于进行对硬盘的健康状态检查和诊断，运行磁盘错误扫描等功能。

参照图9，图9是本发明另一个实施例提供的硬盘性能测试方法的流程图，包括但不限于包括步骤S801至步骤S804；

需要说明的是，步骤S801至步骤S804发生在常温下对样本硬盘进行性能测试之后。

步骤S801：获取第二测试软件对样本硬盘进行性能测试生成的性能参数以及第三测试软件对样本硬盘进行健康状态测试生成的健康参数；

在一些实施例的步骤S801中，获取第二测试软件对样本硬盘进行性能测试生成的性能参数以及第三测试软件对样本硬盘进行健康状态测试生成的健康参数，其中，性能参数包括但不限于包括多种模式下的读写速度、样本硬盘的耐久度、样本硬盘的访问时间，健康参数包括但不限于包括坏道信息、CRC（Cyclic Redundancy Check，循环冗余检查）错误、转速信息、噪声信息、传输延迟、传输效率、CPU使用率等等，从而实现对样本硬盘的全面测试。

步骤S802：根据性能参数以及健康参数生成样本测试结果；

在一些实施例的步骤S802中，对性能参数以及健康参数进行整理，生成样本测试结果。

步骤S803：将样本测试结果与初始硬盘的初始性能参数进行对比，得到参数差值；

在一些实施例的步骤S803中，将样本测试结果与初始硬盘的初始性能参数进行对比，得到参数差值，其中，初始硬盘为未做过任何测试的硬盘，初始性能参数为未做过任何测试的性能数据。

步骤S804：当参数差值满足预设的估计误差，确定样本硬盘性能测试通过。

在一些实施例的步骤S804中，当参数差值满足预设的估计误差，确定样本硬盘性能测试通过，从而实现对硬盘的全方位检测，得到高质量的硬盘，其中，估计误差可以根据使用者的需求自行设置，例如，估计误差设置为10%、5%、8%等等，本实施例不做具体限制。

为了更加清楚、明白地说明本实施的硬盘性能测试方法，下面以具体示例进行说明：

示例一：

选取新开的，并且未经任何测试的硬盘，进行如下测试：

步骤S1：对硬盘进行样品检测，确认每片样品硬盘的PCB版本，FW（Firmware，固件）版本等信息，并做RDT开卡操作；

步骤S2：对开卡操作后的硬盘进行高温RDT测试：

步骤S21：将开好卡的盘，放入环境温度为70°温箱进行高温RDT测试3圈；

步骤S3：检测硬盘的高温RDT测试结果；

步骤S4：将SSD格式化为三分区，并分别安装win10/win11（覆盖不同的主板）；

步骤S41：分区一测试BIT_butterfly，分区二测试BIT_default，分区三使用H2Test写满并进行只读测试，并且在测试过程中随机进行reboot/系统异常掉电操作（间隔时间40-80min），上述测试进行16天；

步骤S5：观察测试情况及测试log信息；

步骤S6：对硬盘进行温度测试：将SSD重新格式化为一分区，测试内容为BIT_default模式，测试温度在0-70°范围，每次改变5°，每个温度保持2H，测试96H；

步骤S7：步骤S6测试完成后，进行格式化测试10次；

步骤S8：对硬盘进行性能测试：将步骤S7样品取出，在常温下静止2小时，进行CrystalDiskMark及HDTune性能测试（与未做过任何测试的盘性能数据进行比对）。

在一些实施例中，通过本示例提供的操作流程，能够实现对硬盘的全方位检测，实现硬盘质量的严格监控，提高硬盘的存储性能以及稳定性。

请参阅图10，图10示意了另一实施例的硬盘性能测试装置的硬件结构，硬盘性能测试装置包括：

处理器1001，可以采用通用的CPU(Central Processing Unit，中央处理器)、微处理器、应用专用集成电路(Application SpecificIntegrated Circuit，ASIC)、或者一个或多个集成电路等方式实现，用于执行相关程序，以实现本申请实施例所提供的技术方案；

存储器1002，可以采用只读存储器（Read Only Memory，ROM）、静态存储设备、动态存储设备或者随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)等形式实现。存储器1002可以存储操作系统和其他应用程序，在通过软件或者固件来实现本说明书实施例所提供的技术方案时，相关的程序代码保存在存储器1002中，并由处理器1001来调用执行本申请实施例的硬盘性能测试方法；

输入/输出接口1003，用于实现信息输入及输出；

通信接口1004，用于实现本设备与其他设备的通信交互，可以通过有线方式（例如USB、网线等）实现通信，也可以通过无线方式（例如移动网络、WIFI、蓝牙等）实现通信；

总线1005，在设备的各个组件（例如处理器1001、存储器1002、输入/输出接口1003和通信接口1004）之间传输信息；

其中处理器1001、存储器1002、输入/输出接口1003和通信接口1004通过总线1005实现彼此之间在设备内部的通信连接。

此外，本发明的一个实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被一个处理器或控制器执行，例如，被上述系统实施例中的一个处理器执行，可使得上述处理器执行上述实施例中的硬盘性能测试方法。

本申请实施例描述的实施例是为了更加清楚的说明本申请实施例的技术方案，并不构成对于本申请实施例提供的技术方案的限定，本领域技术人员可知，随着技术的演变和新应用场景的出现，本申请实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。

本领域技术人员可以理解的是，图1-9中示出的技术方案并不构成对本申请实施例的限定，可以包括比图示更多或更少的步骤，或者组合某些步骤，或者不同的步骤。

以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。

本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、设备中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。

本申请的说明书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

应当理解，在本申请中，“至少一个(项)”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，用于描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，“A和/或B”可以表示：只存在A，只存在B以及同时存在A和B三种情况，其中A，B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“以下至少一项(个)”或其类似表达，是指这些项中的任意组合，包括单项(个)或复数项(个)的任意组合。例如，a，b或c中的至少一项(个)，可以表示：a，b，c，“a和b”，“a和c”，“b和c”，或“a和b和c”，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，上述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括多指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例的方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，简称ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，简称RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序的介质。

以上参照附图说明了本申请实施例的优选实施例，并非因此局限本申请实施例的权利范围。本领域技术人员不脱离本申请实施例的范围和实质内所作的任何修改、等同替换和改进，均应在本申请实施例的权利范围之内。

Claims (10)

1.一种硬盘性能测试方法，其特征在于，包括：

基于预设的第一温度对样本硬盘进行RDT测试；

在所述样本硬盘通过RDT测试的情况下，对所述样本硬盘进行分区操作，得到第一分区、第二分区以及第三分区；

对所述第一分区设定第一存储测试模式，对所述第二分区设定第二存储测试模式，并基于第一测试工具对所述第三分区进行数据写入操作，其中，所述第一存储测试模式用于对所述第一分区进行第一存储测试，所述第二存储测试模式用于对所述第二分区进行第二存储测试；

启动所述第一存储测试模式、所述第二存储测试模式，并对所述第三分区进行只读测试，同时基于预设的时间间隔对第一存储测试、第二存储测试以及只读测试中的至少一个触发异常掉电测试；

当异常掉电测试结果满足预设的测试条件，对所述样本硬盘进行格式化测试，直至满足预设的格式化次数；

其中，所述格式化测试包括：

将所述样本硬盘格式化为一分区，得到目标分区；

将所述目标分区放入温箱，并基于预设的测试参数对所述目标分区进行第二存储测试；

当第二存储测试结果通过，在常温下对所述样本硬盘进行性能测试。

2.根据权利要求1所述的硬盘性能测试方法，其特征在于，所述基于预设的第一温度对样本硬盘进行RDT测试，包括：

获取所述样本硬盘的PCB版本以及固件版本；

根据所述PCB版本以及所述固件版本对所述样本硬盘进行RDT开卡操作；

将开卡操作后的所述样本硬盘放入温箱，并将所述温箱的温度调节至所述第一温度；

基于预设的第一测试周期在所述温箱中对开卡操作后的样本硬盘进行第一高温测试。

3.根据权利要求1所述的硬盘性能测试方法，其特征在于，在所述对所述第一分区设定第一存储测试模式，对所述第二分区设定第二存储测试模式之前，还包括：

在所述第一分区、所述第二分区以及所述第三分区上安装不同的操作系统。

4.根据权利要求1所述的硬盘性能测试方法，其特征在于，在所述启动所述第一存储测试模式、所述第二存储测试模式之后，还包括：

启动所述第一存储测试模式以基于第一存储测试算法对所述第一分区的一部分存储单元的位进行第一存储测试；

启动所述第二存储测试模式以基于第二存储测试算法对所述第二分区的所有存储单元的位进行第二存储测试。

5.根据权利要求1所述的硬盘性能测试方法，其特征在于，所述基于预设的时间间隔对第一存储测试、第二存储测试以及只读测试中的至少一个触发异常掉电测试，包括：

在预设的第二测试周期内，根据所述时间间隔对第一存储测试、第二存储测试以及只读测试的至少一个进行随机重启操作；

记录每次进行随机重启操作的所述样本硬盘的信息。

6.根据权利要求1所述的硬盘性能测试方法，其特征在于，所述测试参数包括测试温度区间、累加温度值以及温度持续时长；所述基于预设的测试参数对所述目标分区进行第二存储测试，包括：

根据所述测试温度区间确定第一温度值以及第二温度值，其中，所述第一温度值为测试的初始温度值，所述第二温度值为测试的终止温度值；

将所述温箱的温度调节至所述第一温度值，并基于所述温度持续时长对所述目标分区进行第二存储测试；

在所述第一温度值的情况下对所述目标分区进行第二存储测试后，根据所述累加温度值对所述温箱的温度调节，并基于预设的温度持续时长继续对所述目标分区进行第二存储测试，直至所述温箱的当前温度值到达所述第二温度值。

7.根据权利要求1所述的硬盘性能测试方法，其特征在于，所述在常温下对所述样本硬盘进行性能测试，包括：

将所述样本硬盘从所述温箱中取出，并静置预设的冷却时长；

基于第二测试软件对所述样本硬盘进行性能测试；

基于第三测试软件对所述样本硬盘进行健康状态测试。

8.根据权利要求7所述的硬盘性能测试方法，其特征在于，在所述在常温下对所述样本硬盘进行性能测试之后，还包括：

获取所述第二测试软件对所述样本硬盘进行性能测试生成的性能参数以及所述第三测试软件对所述样本硬盘进行健康状态测试生成的健康参数；

根据所述性能参数以及所述健康参数生成样本测试结果；

将所述样本测试结果与初始硬盘的初始性能参数进行对比，得到参数差值；

当所述参数差值满足预设的估计误差，确定所述样本硬盘性能测试通过。

9.一种硬盘性能测试装置，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至8任意一项所述的硬盘性能测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行权利要求1至8任意一项所述的硬盘性能测试方法。

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