TW201413214A - 傾斜角度及置放位置之光學檢測系統及其檢測方法 - Google Patents

Abstract

本發明係揭露一種傾斜角度及置放位置之光學檢測系統及其檢測方法。傾斜角度及置放位置之光學檢測系統包含影像擷取模組及處理模組。影像擷取模組擷取檢測影像。處理模組將檢測影像進行處理，且偵測複數個檢測邊緣點，再以處理模組進行線性迴歸運算，以取得檢測多重直線方程式，且處理模組依據檢測多重直線方程式及預設直線方程式產生待測物傾斜角度。其中，檢測待測物之前，光學檢測系統需檢測注有液體之透明盒體，以取得液面傾斜角度，並依據液面傾斜角度調整影像擷取模組之置放位置。

Description

傾斜角度及置放位置之光學檢測系統及其檢測方法

本發明是有關於一種傾斜角度及置放位置之光學檢測系統，特別是有關於一種適用於非接觸式檢測待測物之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統及其檢測方法。

目前，光電元件待測物的相關檢測研究中，為不破壞待測物之週遭光線投影，大多運用光學影像技術進行檢測監控。因此，需用非接觸之檢測方式進行檢測監控，以減少待測物週遭之光線干擾及避免碰撞導致待測物損壞，進而降低檢測監控的誤差。

以檢測待測物之水平置放狀態為例，先以影像處理法之邊緣點偵測法偵測邊緣點，再針對邊緣點作運算以取得運算數據，最後依據運算數據判別待測物之水平置放狀態。

然，在執行邊緣點偵測過程中，常受到燈光或週遭環境影響，導致邊緣點範圍分布太廣，影響運算數據之可靠度，亦或是相關檢測裝置擺放位置有所偏差，皆可能導致無法精準檢測之情況發生。

綜觀前述問題，本發明之發明人思索並設計一種傾斜角度及置放位置之光學檢測系統及其檢測方法，以針對現有技術之缺失加以改善，進而增進產業上之實施利用。

有鑑於上述習知技藝之問題，本發明之目的就是在提供一種傾斜角度及置放位置之光學檢測系統及其檢測方法，以降低檢測時發生誤判的機率。

根據本發明之一目的，提出一種傾斜角度及置放位置之光學檢測系統，適用於以非接觸式方式檢測待測物，其包含：影像擷取模組及處理模組。影像擷取模組可對待測物擷取檢測影像。處理模組可連接於影像擷取模組，由影像二值化法從檢測影像中分離出檢測目標影像，並從檢測目標影像中偵測複數個檢測邊緣點，再將其分為三檢測邊緣點群，進而對三檢測邊緣點群進行線性迴歸運算，以取得三檢測直線方程，並將對應三檢測直線方程式之三迴歸後檢測邊緣點群平移合併為合併檢測邊緣點群，再對合併檢測邊緣點群進行多重線性迴歸運算，以取得檢測多重直線方程式，並依據檢測多重直線方程式及預設直線方程式產生待測物傾斜角度。其中，在檢測待測物之前，先以影像擷取模組對注入液體之透明盒體擷取校正影像，再以處理模組由影像二值化法從校正影像中分離出校正目標影像，並從校正目標影像中偵測複數個校正邊緣點，再將其分為二校正邊緣點群，進而對二校正邊緣點群進行線性迴歸運算，以取得二校正直線方程式，並將對應二校正直線方程式之二迴歸後校正邊緣點群平移合併為合併校正邊緣點群，再對合併校正邊緣點群進行多重線性迴歸運算，以取得校正多重直線方程式，並依據校正多重直線方程式及預設直線方程式產生液面傾斜角度，以對應液面傾斜角度校正影像擷取模組之置放位置。

較佳地，處理模組可具有臨界值，其與待測物傾斜角度或液面傾斜角度進行比對，以對應產生待測物置放狀態或液面傾斜狀態。

較佳地，液面傾斜狀態為傾斜狀態時，校正影像擷取模組之置放位置，並再次擷取校正影像以運算取得液面傾斜狀態。

較佳地，傾斜角度及置放位置之光學檢測系統可更包含顯示單元，可接收影像擷取模組之影像訊號，以及接收處理模組對應檢測多重直線方程式產生之直線方程式訊號，以顯示對應影像訊號之顯示影像及對應直線方程式訊號之直線。

較佳地，傾斜角度及置放位置之光學檢測系統可更包含顯示單元，可接收處理模組對應至少一待測物資訊之至少一資訊訊號，以顯示至少一相關訊息。

較佳地，影像擷取模組可具有自動光圈，以控制影像擷取模組之進光量。

根據本發明之再一目的，提出一種傾斜角度及置放位置之光學檢測系統之檢測方法，適用於傾斜角度及置放位置之光學檢測系統，其包含下列步驟：利用影像擷取模組對注入液體之透明盒擷取校正影像；藉由處理模組以影像二值化法由校正影像中分離出校正目標影像；利用處理模組從校正目標影像中偵測複數個校正邊緣點，以將其分為二校正邊緣點群；藉由處理模組對二校正邊緣點群進行線性迴歸運算，以取得二校正直線方程式，並將對應二校正直線方程式之二迴歸後校正邊緣點群平移合併為合併校正邊緣點群；利用處理模組對合併校正邊緣點群進行多重線性迴歸運算，以取得校正多重直線方程式；藉由處理模組依據校正多重直線方程式及預設直線方程式產生液面傾斜角度；依據液面傾斜角度校正影像擷取模組之置放位置；利用影像擷取模組對待測物擷取檢測影像；藉由處理模組以影像二值化法由檢測影像中分離出檢測目標影像；利用處理模組從檢測目標影像中偵測複數個檢測邊緣點，以將其分為三檢測邊緣點群；藉由處理模組對三檢測邊緣點群進行線性迴歸運算，以取得三檢測直線方程式，並將對應三檢測直線方程式之三迴歸後檢測邊緣點群平移合併為合併檢測邊緣點群；利用處理模組對合併檢測邊緣點群進行多重線性迴歸運算，以取得檢測多重直線方程式；藉由處理模組依據檢測多重直線方程式及預設直線方程式產生待測物傾斜角度。

較佳地，取得液面傾斜角度後，可更包含下列步驟：比對液面傾斜角度對及處理模組之臨界值，以產生液面傾斜狀態；當液面傾斜狀態為傾斜狀態時，校正影像擷取模組之置放位置，並再次擷取校正影像以運算取得液面傾斜狀態。

較佳地，處理模組對二校正邊緣點群或三檢測邊緣點群進行線性迴歸運算後，可更包含下列步驟：計算線性迴歸運算後取得之二比較前校正直線方程式相距對應二比較前校正直線方程式之二校正邊緣點群之距離，或線性迴歸運算後取得之三比較前檢測直線方程式相距對應三比較前檢測直線方程式之三檢測邊緣點群之距離；去除與二比較前校正直線方程式或三比較前檢測直線方程式相距大於第一預設距離之複數個校正邊緣點或複數個檢測邊緣點；取得二比較後校正邊緣點群或三比較後檢測邊緣點群，以供處理模組再次進行線性迴歸運算。

較佳地，處理模組對合併校正邊緣點群或合併檢測邊緣點群進行多重線性迴歸運算後，可更包含下列步驟：計算多重線性迴歸運算後取得之比較前校正多重直線方程式相距對應比較前校正多重直線方程式之合併校正邊緣點群之距離，或多重線性迴歸運算後取得之比較前檢測多重直線方程式相距對應比較前檢測多重直線方程式之合併檢測邊緣點群之距離；去除與比較前校正多重直線方程式或比較前檢測多重直線方程式相距大於第二預設距離之複數個合併校正邊緣點或複數個合併檢測邊緣點；取得比較後合併校正邊緣點群或比較後合併檢測邊緣點群，以供處理模組再次進行多重線性迴歸運算。

承上所述，依本發明之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統及其檢測方法，其可具有一或多個下述優點：
(1) 此傾斜角度及置放位置之光學檢測系統可藉由多重線性迴歸運算以取得待測物之多重直線方程式，藉此提高判別待測物置放狀態之準確度。
(2) 此傾斜角度及置放位置之光學檢測系統可藉由檢測注有液體之透明盒體，以校正影像擷取模組之置放位置，藉此可解決影像擷取模組置放位置不正確而影響判別待測物置放狀態之結果。

以下將參照相關圖式，說明依本發明之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統及其檢測方法之實施例，為使便於理解，下述實施例中之相同元件係以相同之符號標示來說明。

請參閱第1圖及第2圖，第1圖係為本發明之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統之方塊圖；第2圖係為太陽能板放置架之示意圖。如圖所示，本發明之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統1適用於以非接觸式方式檢測待測物，待測物可為相關光電元件(如太陽能板端、晶圓等)，其包含影像擷取模組11及處理模組12。影像擷取模組11用以擷取檢測影像，在本實施例中待測物以太陽能板放置架2(如晶舟)為例，但應不以此為限；影像擷取模組11可包含自動光圈111，以使光學檢測系統1可適應不同的環境光源進行檢測，降低光源造成之干擾；另，影像擷取模組11更包含可分別包含鏡頭，如定焦鏡、感光元件，如互補式金氧半導體元件(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor, CMOS)或電荷耦合元件(Charge-Coupled-Device, CCD)、類比/數位電路及影像處理器，而此為所屬技術領域人員所熟知，於此便不再贅述。處理模組12連結影像擷取模組11，藉由影像二值化法從檢測影像中分離出檢測目標影像，並由檢測目標影像中偵測複數個檢測邊緣點，將其分為三檢測邊緣點群，進而對三檢測邊緣點群進行線性迴歸運算，以取得三檢測直線方程式；將對應三檢測直線方程式之三迴歸後檢測邊緣點群合併為合併檢測邊緣點群(如第3圖所示)，再對合併檢測邊緣點群進行多重線性迴歸運算，以取得檢測多重直線方程式；簡單地說，光學檢測系統1可針對分群後之三檢測邊緣點群作線性迴歸運算，以取得對應之三檢測直線方程式，再將三檢測直線方程式合而為一以執行線性迴歸運算，最終取得檢測多重直線方程式，亦為最佳之直線方程式；而處理模組12在此可為中央處理器(Central Processing Unit, CPU)、微處理器(Micro-Processing Unit)、微控制器、可程式邏輯閘陣列或具有可程式化之積體電路。其中，影像二值化法及相關影像處理法係為所屬技術領域中具通常知識者所習知，故於此不再贅述。

承上所述，處理模組12進一步可依據檢測多重直線方程式及預設直線方程式產生待測物傾斜角度，預設直線方程式可為水平直線方程式，但不以此為限；詳言之，預設直線方程式以水平直線方程式為例，處理模組12可依據求得之檢測多重直線方程式之座標組，求出檢測多重直線方程式之直線與水平直線之夾角，亦為太陽能板放置架2(待測物)之傾斜角度。

此外，請一併參閱第4圖，其係為檢測注入液體之透明盒體之示意圖。如圖所示，本發明之另一重點係為在檢測待測物之前，先以影像擷取模組11對注入液體之透明盒體3擷取校正影像，再以處理模組12由影像二值化法從校正影像中分離出校正目標影像，並從校正目標影像中偵測複數個校正邊緣點，再將其分為二校正邊緣點群，進而對二校正邊緣點群進行線性迴歸運算，以取得二校正直線方程式(如第4圖所示之第一校正直線方程式41及第二校正直線方程式42)，並將對應二校正直線方程式之二迴歸後校正邊緣點群平移合併為合併校正邊緣點群，再對合併校正邊緣點群進行多重線性迴歸運算，以取得校正多重直線方程式，並依據校正多重直線方程式及預設直線方程式產生液面傾斜角度，以對應液面傾斜角度校正影像擷取模組之置放位置。換言之，是在檢測太陽能板置放架2之前，先進行影像擷取模組11之校正動作，因無論透明盒體擺放處是否水平，透明盒體中之液體液面仍維持水平，故，可以液體之液面作為校正用之檢測目標，並將取得的液面傾斜角度作為調整影像擷取模組11位置之依據。

再進一步地說，當處理模組求出待測物傾斜角度時，可與處理模組12之臨界值進行比較，如待測物傾斜角度大於臨界值，則可推得太陽能板放置架2處於傾斜之放置狀態；進而可採取後續警示或處理步驟，但在此不予以贅述。而當液面傾斜角度大於臨界值時，因盒體中之液面應為水平，不可能產生傾斜，故，可得知應為影像擷取模組11擺放位置有偏差，進而須調整影像擷取模組11之位置，並再一次對透明盒體3進行檢測，直到取得的液面傾斜角度不再大於臨界值時，方能確保影像擷取模組11之位置擺放正確。

再請一併參閱第5及6圖，第5圖係為太陽能板放置架之中央正常擷取影像示意圖；第6圖係為太陽能板放置架之局部傾斜擷取影像之示意圖。如圖所示，本發明之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統2更可包含顯示單元13，顯示單元13可接收影像擷取模組11所傳之影像訊號，以顯示對應影像訊號之影像131，影像131可為即時影像、擷取影像或其組合，不予以限制。顯示單元13更可接收處理模組12對應檢測多重直線方程式及待測物資訊所產生之直線方程式訊號或資訊訊號，當顯示單元13接收直線方程式訊號之後，則可顯示表示該直線方程式之直線132於顯示單元顯示之影像131之上；當顯示單元13接收資訊訊號之後，則可顯示對應該資訊訊號之相關訊息133，如角度1332、臨界值1331或水平置放狀態1333等；圖中，顯示單元13所顯示之畫面資訊，便可從影像131與直線132之相對位置，並配合顯示之相關訊息1333得知太陽能置放架2之水平置放狀態是為正常或傾斜。另，顯示單元13理所當然地可以顯示注有液體之透明盒體3之相關影像、相關訊息及對應依據校正多重直線方程式產生之直線方程式訊號之直線。其中，第5及6圖中所示之箭頭係為三檢測直線方程式平移之示意表示。

儘管前述在說明本發明之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統1的過程中，亦已同時說明本發明之檢測方法的概念，但為求清楚起見，以下另繪示流程圖詳細說明。

請參閱第7A及7B圖、第8至10圖，第7A圖係為本發明之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統之檢測方法之第一流程圖之ㄧ；第7B圖係為本發明之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統之檢測方法之第一流程圖之二；第8圖係為本發明之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統之檢測方法之第二流程圖；第9圖係為本發明之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統之檢測方法之第三流程圖；第10圖係為本發明之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統之檢測方法之第四流程圖。如圖所示，本發明之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統之檢測方法，適用於傾斜角度及置放位置之光學檢測系統，其包含下列步驟：利用影像擷取模組對注入液體之透明盒擷取校正影像(S701)。藉由處理模組以影像二值化法由校正影像中分離出校正目標影像(S702)。利用處理模組從校正目標影像中偵測複數個校正邊緣點，以將其分為二校正邊緣點群(S703)。藉由處理模組對二校正邊緣點群進行線性迴歸運算，以取得二校正直線方程式，並將對應二校正直線方程式之二迴歸後校正邊緣點群平移合併為合併校正邊緣點群(S704)。利用處理模組對合併校正邊緣點群進行多重線性迴歸運算，以取得校正多重直線方程式(S705)。藉由處理模組依據校正多重直線方程式及預設直線方程式產生液面傾斜角度(S706)。依據液面傾斜角度校正影像擷取模組之置放位置(S707)。利用影像擷取模組對待測物擷取檢測影像(S708)。藉由處理模組以影像二值化法由檢測影像中分離出檢測目標影像(S709)。利用處理模組從檢測目標影像中偵測複數個檢測邊緣點，以將其分為三檢測邊緣點群(S710)。藉由處理模組對三檢測邊緣點群進行線性迴歸運算，以取得三檢測直線方程式，並將對應三檢測直線方程式之三迴歸後檢測邊緣點群平移合併為合併檢測邊緣點群(S711)。利用處理模組對合併檢測邊緣點群進行多重線性迴歸運算，以取得檢測多重直線方程式(S712)。藉由處理模組依據檢測多重直線方程式及預設直線方程式產生待測物傾斜角度(S713)。

承上所述，如第8圖所示，本發明針對取得液面傾斜角度後，其更可包含下列步驟：比對液面傾斜角度對及處理模組之臨界值，以產生液面傾斜狀態(S801)。當液面傾斜狀態為傾斜狀態時，校正影像擷取模組之置放位置，並再次擷取校正影像以運算取得液面傾斜狀態(S802)。若再次取得之何體制放狀態仍為傾斜狀態時，則繼續校正影像擷取模組之置放位置，並持續上述步驟直至液面傾斜狀態為正常狀態為止。

然，利用邊緣點偵測所檢測出來的邊緣點也可能因為取像的不良，或相似的遮罩的邊緣點，導致進行檢測時造成錯誤偵測的產生，而使我們在進行線性迴歸運算時無法有效精準的將直線依目標邊緣進行迴歸。

為了將檢測錯誤的邊緣點消除，我們在進行相關線性迴歸運算之步驟(如步驟S704、步驟S705、步驟S711、步驟S712)後，將距離和直線方程式較接近的邊緣點擷取出來再進行一次線性迴歸運算得到新的直線方程式。舉例而言，針對線性迴歸運算計算後所取得的直線方程式，對全部邊緣點一一進行比較，若該邊緣點與線性迴歸運算直線方程式間的距離d大於或等於預設閥值γ，則將該邊緣點移除，再進行第二次線性迴歸運算，則可得較為精準之直線方程式並以下式所示：
　　(1)

因此，如第9圖所示，本發明之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統之檢測方法於處理模組對二校正邊緣點群或三檢測邊緣點群進行線性迴歸運算後，更可包含下列步驟：計算線性迴歸運算後取得之二比較前校正直線方程式相距對應二比較前校正直線方程式之二校正邊緣點群之距離，或線性迴歸運算後取得之三比較前檢測直線方程式相距對應三比較前檢測直線方程式之三檢測邊緣點群之距離(S901)。去除與二比較前校正直線方程式或三比較前檢測直線方程式相距大於第一預設距離之複數個校正邊緣點或複數個檢測邊緣點(S902)。取得二比較後校正邊緣點群或三比較後檢測邊緣點群，以供處理模組再次進行線性迴歸運算(S903)。

接著，如第10圖所示，本發明之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統之檢測方法於處理模組對合併校正邊緣點群或合併檢測邊緣點群進行多重線性迴歸運算後，更可包含下列步驟：計算多重線性迴歸運算後取得之比較前校正多重直線方程式相距對應比較前校正多重直線方程式之合併校正邊緣點群之距離，或多重線性迴歸運算後取得之比較前檢測多重直線方程式相距對應比較前檢測多重直線方程式之合併檢測邊緣點群之距離(S101)。去除與比較前校正多重直線方程式或比較前檢測多重直線方程式相距大於第二預設距離之複數個合併校正邊緣點或複數個合併檢測邊緣點(S102)。取得比較後合併校正邊緣點群或比較後合併檢測邊緣點群，以供處理模組再次進行多重線性迴歸運算(S103)。

本發明之相關運算係於下述中詳細說明。然，下述說明僅為舉例，不應以此為限。

首先，針對待測物進行邊緣點偵測並將所偵測出之邊緣點分成三群，分別以m, n, p個邊緣點表示。

首先利用上述邊緣所偵測出來的三個群集的邊緣點，先個別進行線性迴歸運算計算，再將相聚較遠之邊緣點去除，在進行一次線性規劃，以並求得對應三群邊緣點之直線方程式，其亦分別對應第2圖及第3圖中之第一水平線21、第二水平線22及第三水平線23，如下所示：
　　 (2)
　　(3)
　　(4)

接著，將代表公式(1)之第一水平線21及代表公式(3)之第一水平線23所對應之邊緣點群平移至代表公式(2)之第一水平線22之對應邊緣點群，係將三群邊緣點群平移合併(如第3圖所示之箭頭所指方向平移)，並令此三條直線方程式與三群邊緣點群之邊緣點的距離平方合為最小，以進行多重線性迴歸運算，如下所示：
　　(5)

分別將 用 代入式(6) ：
　　(6)

將 S 對a, b微分，並令為零，以求得a, b之值：
　　(7)

　　(8)

整理之後得：
　　　　(9)

　　　　(10)

　　　 (11)

　　　 (12)

即可求得：


(13)

　　
(14)

此時我們從利用三群邊緣點群之邊緣點所推算出之三重線性迴歸方程式為中，將相距較遠的邊緣點去除，再進行第二次線性迴歸運算，進而取得最佳三重線性迴歸方程式為：
　　(15)

最後，處理模組便可依據公式(15)之直線方程式判斷太陽能置放架之水平置放狀態。

以上所述僅為舉例性，而非為限制性者。任何未脫離本發明之精神與範疇，而對其進行之等效修改或變更，均應包含於後附之申請專利範圍中。

1．．．光學檢測系統

11．．．影像擷取模組

111．．．自動光圈

12．．．處理模組

13．．．顯示單元

131．．．影像

132．．．直線

133．．．相關訊息

1331．．．臨界值

1332．．．角度

1333．．．水平置放狀態

2．．．太陽能置放架

21．．．第一水平線

22．．．第二水平線

23．．．第三水平線

3．．．透明盒體

41．．．第一校正直線方程式

42．．．第二校正直線方程式

S101至S103、S701至S713、S801至S802、S901至S903．．．步驟

第1圖係為本發明之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統之方塊圖。
第2圖係為太陽能板放置架之示意圖。
第3圖係為三迴歸後檢測邊緣點群之平移合併示意圖。
第4圖係為檢測注入液體之透明盒體之示意圖。
第5圖係為太陽能板放置架之中央正常擷取影像示意圖。
第6圖係為太陽能板放置架之局部傾斜擷取影像之示意圖。
第7A圖係為本發明之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統之檢測方法之第一流程圖之ㄧ。
第7B圖係為本發明之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統之檢測方法之第一流程圖之二。
第8圖係為本發明之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統之檢測方法之第二流程圖。
第9圖係為本發明之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統之檢測方法之第三流程圖。
第10圖係為本發明之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統之檢測方法之第四流程圖。

1．．．光學檢測系統

11．．．影像擷取模組

111．．．自動光圈

12．．．處理模組

13．．．顯示單元

2．．．太陽能置放架

Claims (10)

1. 一種傾斜角度及置放位置之光學檢測系統，適用於以非接觸式方式檢測一待測物，其包含：
   一影像擷取模組，係對該待測物擷取一檢測影像；以及
   一處理模組，係連接於該影像擷取模組，係由一影像二值化法從該檢測影像中分離出ㄧ檢測目標影像，並從該檢測目標影像中偵測複數個檢測邊緣點，再將其分為三檢測邊緣點群，進而對該三檢測邊緣點群進行線性迴歸運算，以取得三檢測直線方程式，並將對應該三檢測直線方程式之三迴歸後檢測邊緣點群平移合併為一合併檢測邊緣點群，再對該合併檢測邊緣點群進行多重線性迴歸運算，以取得一檢測多重直線方程式，並依據該檢測多重直線方程式及一預設直線方程式產生一待測物傾斜角度；
   其中，在檢測該待測物之前，先以該影像擷取模組對一注入液體之透明盒體擷取一校正影像，再以該處理模組由該影像二值化法從該校正影像中分離出ㄧ校正目標影像，並從該校正目標影像中偵測複數個校正邊緣點，再將其分為二校正邊緣點群，進而對該二校正邊緣點群進行線性迴歸運算，以取得二校正直線方程式，並將對應該二校正直線方程式之二迴歸後校正邊緣點群平移合併為一合併校正邊緣點群，再對該合併校正邊緣點群進行多重線性迴歸運算，以取得一校正多重直線方程式，並依據該校正多重直線方程式及該預設直線方程式產生一液面傾斜角度，以對應該液面傾斜角度校正該影像擷取模組之一置放位置。
2. 如申請專利範圍第1項所述之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統，其中該處理模組係具有一臨界值，其與該待測物傾斜角度或該液面傾斜角度進行比對，以對應產生一待測物置放狀態或一液面傾斜狀態。
3. 如申請專利範圍第2項所述之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統，其中當該液面傾斜狀態為傾斜狀態時，校正該影像擷取模組之該置放位置，並再次擷取該校正影像以運算取得該液面傾斜狀態。
4. 如申請專利範圍第1項所述之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統，其中更包含一顯示單元，係接收該影像擷取模組之一影像訊號，以及接收該處理模組對應該檢測多重直線方程式產生之一直線方程式訊號，以顯示對應該影像訊號之ㄧ顯示影像及對應該直線方程式訊號之一直線。
5. 如申請專利範圍第1項所述之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統，其中更包含一顯示單元，係接收該處理模組對應至少一待測物資訊之至少一資訊訊號，以顯示至少一相關訊息。
6. 如申請專利範圍第1項所述之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統，其中該影像擷取模組具有一自動光圈，以控制該影像擷取模組之進光量。
7. 一種傾斜角度及置放位置之光學檢測系統之檢測方法，適用於一傾斜角度及置放位置之光學檢測系統，其包含下列步驟：
   利用一影像擷取模組對一注入液體之透明盒擷取一校正影像；
   藉由一處理模組以一影像二值化法由該校正影像中分離出ㄧ校正目標影像；
   利用該處理模組從該校正目標影像中偵測複數個校正邊緣點，以將其分為二校正邊緣點群；
   藉由該處理模組對該二校正邊緣點群進行線性迴歸運算，以取得二校正直線方程式，並將對應該二校正直線方程式之二迴歸後校正邊緣點群平移合併為一合併校正邊緣點群；
   利用該處理模組對該合併校正邊緣點群進行多重線性迴歸運算，以取得一校正多重直線方程式；
   藉由該處理模組依據該校正多重直線方程式及一預設直線方程式產生一液面傾斜角度；以及
   依據該液面傾斜角度校正該影像擷取模組之置放位置；
   利用該影像擷取模組對一待測物擷取一檢測影像；
   藉由該處理模組以該影像二值化法由該檢測影像中分離出ㄧ檢測目標影像；
   利用該處理模組從該檢測目標影像中偵測複數個檢測邊緣點，以將其分為三檢測邊緣點群；
   藉由該處理模組對該三檢測邊緣點群進行線性迴歸運算，以取得三檢測直線方程式，並將對應該三檢測直線方程式之三迴歸後檢測邊緣點群平移合併為一合併檢測邊緣點群；
   利用該處理模組對該合併檢測邊緣點群進行多重線性迴歸運算，以取得一檢測多重直線方程式；以及
   藉由該處理模組依據該檢測多重直線方程式及該預設直線方程式產生一待測物傾斜角度。
8. 如申請專利範圍第7項所述之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統之檢測方法，其中取得該液面傾斜角度後，更包含下列步驟：
   比對該液面傾斜角度對及該處理模組之一臨界值，以產生一液面傾斜狀態；以及
   當該液面傾斜狀態為傾斜狀態時，校正該影像擷取模組之該置放位置，並再次擷取該校正影像以運算取得該液面傾斜狀態。
9. 如申請專利範圍第7項所述之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統之檢測方法，其中該處理模組對該二校正邊緣點群或該三檢測邊緣點群進行線性迴歸運算後，更包含下列步驟：
   計算線性迴歸運算後取得之二比較前校正直線方程式相距對應該二比較前校正直線方程式之該二校正邊緣點群之距離，或線性迴歸運算後取得之三比較前檢測直線方程式相距對應該三比較前檢測直線方程式之該三檢測邊緣點群之距離；
   去除與該二比較前校正直線方程式或該三比較前檢測直線方程式相距大於一第一預設距離之該複數個校正邊緣點或該複數個檢測邊緣點；以及
   取得二比較後校正邊緣點群或三比較後檢測邊緣點群，以供該處理模組再次進行線性迴歸運算。
10. 如申請專利範圍第7項所述之傾斜角度及置放位置之光學檢測系統之檢測方法，其中該處理模組對該合併校正邊緣點群或該合併檢測邊緣點群進行多重線性迴歸運算後，更包含下列步驟：
    計算多重線性迴歸運算後取得之ㄧ比較前校正多重直線方程式相距對應該比較前校正多重直線方程式之該合併校正邊緣點群之距離，或多重線性迴歸運算後取得之ㄧ比較前檢測多重直線方程式相距對應該比較前檢測多重直線方程式之該合併檢測邊緣點群之距離；
    去除與該比較前校正多重直線方程式或該比較前檢測多重直線方程式相距大於一第二預設距離之複數個合併校正邊緣點或複數個合併檢測邊緣點；以及
    取得一比較後合併校正邊緣點群或一比較後合併檢測邊緣點群，以供該處理模組再次進行多重線性迴歸運算。