TW201346217A - 螺絲槽深度檢測裝置 - Google Patents

Abstract

一種螺絲槽深度檢測裝置，包括校準件及測試件，所述測試件包括量測表及測試頭，所述量測表包括表體及測試桿；當所述校準件之校準部按壓於一待測工件上時，所述測試件朝向所述待測工件運動，直至所述測試頭抵持於所述校準部上，並將所述量測表之讀數歸零，當所述校準部脫離所述待測工件時，所述測試件繼續朝向所述待測工件運動，直至所述測試頭抵持於所述待測工件之螺絲槽底部，並記錄所述量測表之讀數，進而根據所述量測表之讀數及所述校準部之厚度獲得所述待測工件之螺絲槽深度。

Description

螺絲槽深度檢測裝置

本發明涉及一種機械檢測裝置，尤其涉及一種用於測試螺絲槽深度之檢測裝置。

於伺服器、臺式電腦機箱以及各種鈑金製造工藝中，各組合件要經常用到各種連接緊固螺絲。為確保緊固螺絲合格，通常需要測量該緊固螺絲上之螺絲槽深度是否符合規範。

習知之測量方法一般有兩種。具體而言，對於體積較大之緊固螺絲，使用卡尺進行檢測。對於體積較小之緊固螺絲，則將所述待測之緊固螺絲進行剖切後投影送檢。然而，於使用卡尺檢測時，常因檢測位置、操作習慣及手法不同等因素之影響，造成量測結果誤差較大、準確度較低。而採用剖切法檢測時，亦因加工過程中產生毛刺，以至於剖切深度不易掌握、剖切過深或過淺等因素，造成量測結果誤差較大，準確度較低。

鑒於上述內容，有必要提供一種準確度較高之螺絲槽深度檢測裝置。

一種螺絲槽深度檢測裝置，用於檢測一待測工件之螺絲槽深度，包括承載件，用於承載所述待測工件；校準件，包括校準部，所述校準部可旋轉地按壓於所述待測工件上；及測試件，包括量測表及測試頭，所述量測表包括表體及可相對於所述表體伸縮運動之測試桿，所述測試頭之一端收容於所述測試桿內，另一端與待測工件之螺絲槽之底部相抵觸，從而使得所述測試桿可於待測工件螺絲槽底部之抵持下產生伸縮；當所述校準部按壓於所述待測工件上時，所述測試件朝向所述待測工件運動，直至所述測試頭抵持於所述校準部上，並將所述量測表之讀數歸零；當所述校準部脫離所述待測工件時，所述測試件繼續朝向所述待測工件運動，直至所述測試頭抵持於所述待測工件之螺絲槽底部，並記錄所述量測表之讀數，進而根據所述量測表之讀數及所述校準部之厚度獲得所述待測工件之螺絲槽深度。

上述螺絲槽深度檢測裝置僅需將所述待測工件放入並固定於該承載件上，再利用所述測試件深入所述待測工件之螺絲槽內，便可根據所述量測表之讀數獲得所述待測工件之螺絲槽之深度。與習知技術相比，上述螺絲槽深度檢測裝置之檢測範圍廣、通用性強、且可快速調節，其檢測效率及精度均較高。另外，所述螺絲槽深度檢測裝置不需要對所述待測工件進行剖切處理，可有效節省測試成本。

請參閱圖1，本發明較佳實施方式提供一種螺絲槽深度檢測裝置100，包括底板10、承載件20、支撐件30、測試件40、夾持件50及校準件60。

該底板10上設置有二導向塊11。該導向塊11大致呈矩形長條狀，二者相對且相互平行設置。該導向塊11面向彼此之一側分別設置有一卡持塊111。所述卡持塊111相對設置，且分別與對應之導向塊11垂直設置。所述導向塊11、卡持塊111及底板10共同圍成一導向槽113。所述底板10上還設置有導向孔13。

請一併參閱圖2，該承載件20裝設於該導向槽113內，且可於所述導向槽113滑動。所述承載件20包括滑動部21、裝配部23、二承載部25及調節部27。所述滑動部21大致呈凸台狀，其具體形狀及結構與該導向槽113相配合，用於裝設於該導向槽113內，且沿所述導向槽113滑動。所述裝配部23裝設於所述滑動部21之頂部。該裝配部23之頂部開設有大致呈矩形之第一裝配孔231。所述裝配部23之一側開設有第二裝配孔233，所述第二裝配孔233與所述第一裝配孔231相貫通。每一承載部25均包括本體251及承載塊253。所述本體251裝設於所述第一裝配孔231內，且其一側面開設有與所述第二裝配孔233相對應之穿設孔2511。所述承載塊253分別固定於相應之本體251上。每一承載塊253面向彼此之一側均開設有複數大致呈三角形之缺口2531。二承載塊253上之缺口2531分別對應設置，進而共同圍成多個承載槽2533（見圖3）。該承載槽2533之具體形狀及結構與待測工件（例如螺釘）相對應，用於卡持並固定所述待測工件。該調節部27包括調節桿271、手柄273及鎖持件275。所述調節桿271之表面設置有複數方向相同或相反之螺紋。藉由將所述調節桿271穿過所述第二裝配孔233，並將所述二本體251分別套設於該調節桿271之兩端，進而將所述二承載部25裝設於所述第一裝配孔231內。接著，將所述手柄273套設於所述調節桿271露出該裝配部23之一端，並利用該鎖持件275將所述手柄273裝設於該調節桿271上。如此，藉由操作所述手柄273，可使得二承載部25相對或者背向運動，進而調節所述承載槽2533之大小，以適應不同類型及尺寸之待測工件。

所述支撐件30包括支柱31及支架33。所述支柱31大致呈圓柱狀，其與所述導向孔13相對應。藉由將所述支柱31穿設於該導向孔13內，且與該導向孔13過盈配合，進而將所述支柱31較穩固地安裝於底板10上。所述支架33包括第一支撐部331及第二支撐部333。所述第一支撐部331大致呈矩形條狀，其一側開設有第一支撐孔3311、支撐槽3313及鎖固孔3315。所述第一支撐孔3311與所述支柱31相配合。藉由將所述支柱31遠離底板10之一端穿設於該第一支撐孔3311內，且與該第一支撐孔3311過盈配合，進而將所述支架33裝設於該支柱31上。所述支撐槽3313大致呈矩形，其自該第一支撐部331之端部向所述第一支撐孔3311貫通。所述鎖固孔3315設置於所述第一支撐部331之側面，且與該支撐槽3313相貫通。所述第一支撐部331中與該第一支撐孔3311相對之另一端設置有第二支撐孔3317及鎖持孔3319。所述鎖持孔3319設置於所述第一支撐部331之側面，且與該第二支撐孔3317相貫通。所述第二支撐部333設置於所述第一支撐部331上，且與該第一支撐部331大致垂直設置，進而與該第一支撐部331構成大致呈“T”型之結構。所述第二支撐部333遠離第一支撐部331之端部之兩側分別延伸有一夾持臂3331，所述夾持臂3331相對設置。每一夾持臂3331上均開設有相應之夾持孔3333。

所述測試件40包括量測表41、測試頭43及保護套45。所述量測表41包括表體411、第一固定套413、測試桿415、第二固定套417及伸縮桿419。所述第一固定套413設置於測試桿415之外壁且與表體411固定連接，所述測試桿415與表體411之內部相互連接。所述第二固定套417大致呈圓柱狀，其設置於所述表體411之頂部。所述伸縮桿419裝設於第二固定套417內，並與所述測試桿415相連，且可沿所述第二固定套417伸縮運動。所述測試頭43包括頭部431及尾部433。所述頭部431之表面設置有螺紋，用於穿設於所述測試桿415內，且與該測試桿415螺紋配合。所述尾部433大致呈三菱柱狀，其用於與所述待測工件上之螺絲槽相接觸，進而測試所述待測工件之螺絲槽深度。所述保護套45外觀呈圓筒狀，其上設置有一沿著其延伸方向開設之卡持槽451。所述量測表41之第一固定套413容置於保護套45內。藉由將所述保護套45放置於所述第二支撐孔3317內，且使得一第一鎖固件453，例如螺釘依次穿過所述鎖持孔3319，並卡持於所述卡持槽451內，進而使得所述量測表41固定於所述支撐件30上。

所述夾持件50包括壓板51及掛鉤53。所述壓板51之底部設置有安裝部511，所述安裝部511上開設有相應之安裝孔5111。該安裝部511可裝設於該夾持臂3331之間，且該安裝孔5111對準該夾持孔3333。藉由將一安裝柱513依次穿過該夾持孔3333及對應之安裝孔5111，以將所述壓板51裝設於該支撐件30上。所述壓板51之一側開設有大致呈U型之夾持槽515，所述夾持槽515與該伸縮桿419相配合，用於卡持該伸縮桿419之周壁，進而卡持該量測表41。該壓板51中與設置有夾持槽515相對之另一側設置有卡持孔517。所述掛鉤53大致呈矩形條狀，其一端開設有配合孔531。所述壓板51設置有配合孔531之一端裝設於所述支撐槽3313內，且該配合孔531對準該鎖固孔3315。藉由將一第二鎖固件533，例如螺釘依次穿過該鎖固孔3315及配合孔531，進而將所述掛鉤53裝設於該支架33之一側。所述掛鉤53中與所述配合孔531相對之一端設置有鉤部535。該鉤部535與該卡持孔517相配合，藉由旋轉該掛鉤53，以將所述鉤部535卡持所述卡持孔517之周壁，進而固定所述壓板51。

該校準件60包括固定部61、拉桿63、校準部65、彈簧67、擋片68及第三鎖固件69。該固定部61固定裝設於該承載件20之一側，其上開設有對應之第一固定孔611。所述拉桿63大致呈圓柱狀，其與該第一固定孔611相配合，用以裝設於該第一固定孔611內。所述拉桿63遠離該固定部61之一端開設有盲孔631。所述校準部65之一端開設有與該第一固定孔611及拉桿63相對應之第二固定孔651。藉由將所述第二固定孔651穿設於該拉桿63上，使得所述校準部65可繞所述拉桿63旋轉。所述彈簧67套設於該拉桿63上。所述擋片68裝設於該彈簧67之頂部。該第三鎖固件69穿過該擋片68，並穿設於該盲孔631內，進而為該校準部65之旋轉提供彈力。

可理解，所述螺絲槽深度檢測裝置100還包括止位件70，所述止位件70包括止位螺絲71及鎖緊螺母73。所述支柱31之一側開設有與該止位螺絲71相配合之止位孔311。藉由將該止位螺絲71穿設於該止位孔311內，且調整所述止位螺絲71於該止位孔311內之位置，並使得該止位螺絲71抵持該承載件20，以調整該承載件20於該導向槽113內之位置。所述鎖緊螺母73穿設於該止位螺絲71上，用以固定所述止位螺絲71之位置。

請一併參閱圖3，使用該螺絲槽深度檢測裝置100時，首先按壓所述壓板51，以使得所述夾持槽515夾持該伸縮桿419，並使得所述伸縮桿419向上運動，以抬起該測試件40。接著旋轉該掛鉤53，使得該掛鉤53繞第二鎖固件533旋轉，進而卡持該卡持孔517之側壁，以固定該測試件40之位置。如此，所述測試件40與承載件20之間之距離拉大，以方便待測工件80之取放操作。接著，拉動所述承載件20，以將所述承載件20從所述導向槽113拖出。將一待測工件80，例如螺釘裝設於其中一承載槽2533內。操作該手柄273，使得所述二承載部25相向或背向運動，進而夾緊所述待測工件80。請一併參閱圖4，反向推動該裝設有待測工件80之承載件20，使得所述承載件20沿所述導向槽113滑動，直至抵持該止位件70。旋轉所述校準部65，使得所述校準部65繞所述拉桿63旋轉，並按壓於該待測工件80上。將所述鉤部535與該卡持孔517相互脫離，使得所述測試件40朝向所述待測工件80運動，直至所述測試頭43抵持於所述校準部65上。此時，將所述量測表41之讀數歸零。請參閱圖5，再次操作該壓板51，以抬起所述測試頭43，所述校準部65於該彈簧67之彈性作用下重定。停止操作所述壓板51，使得所述測試頭43再次朝向所述待測工件80運動，並使得所述測試頭43之尾部433沿著所述待測工件80之螺絲槽81運動，並抵持於所述待測工件80之螺絲槽81之底部。記錄所述量測表41此時之讀數H1。如此，操著者可根據該讀數H1及所述校準部65之厚度H2，獲得所述待測工件80之螺絲槽81之深度H，即所述待測工件80之螺絲槽81之深度H=H1-H2。最後，再次操作壓板51，以抬起該測試頭43，並使得該鉤部535與所述卡持孔517相互卡持，以固定該測試件40之位置。拉出所述承載件20，並反向操作該手柄273，以將所述待測工件80取出。放入下一待測工件80，並重複上述操作過程，以對下一待測工件80之螺絲槽深度進行檢測。

顯然，上述螺絲槽深度檢測裝置100僅需將所述待測工件80放入並固定於該承載件20上，再利用所述測試件40深入所述待測工件80之螺絲槽81內，便可根據所述量測表41之讀數獲得所述待測工件80之螺絲槽81之深度。與習知技術相比，上述螺絲槽深度檢測裝置100之檢測範圍廣、通用性強、且可快速調節，其檢測效率及精度均較高。另外，所述螺絲槽深度檢測裝置100不需要對所述待測工件80進行剖切處理，可有效節省測試成本。

綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，舉凡熟悉本案技藝之人士，於爰依本發明精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。

100．．．螺絲槽深度檢測裝置

10．．．底板

11．．．導向塊

111．．．卡持塊

113．．．導向槽

13．．．導向孔

20．．．承載件

21．．．滑動部

23．．．裝配部

231．．．第一裝配孔

233．．．第二裝配孔

25．．．承載部

251．．．本體

253．．．承載塊

2511．．．穿設孔

2531．．．缺口

2533．．．承載槽

27．．．調節部

271．．．調節桿

273．．．手柄

275．．．鎖持件

30．．．支撐件

31．．．支柱

311．．．止位孔

33．．．支架

331．．．第一支撐部

333．．．第二支撐部

3311．．．第一支撐孔

3313．．．支撐槽

3315．．．鎖固孔

3317．．．第二支撐孔

3319．．．鎖持孔

40．．．測試件

41．．．量測表

411．．．表體

413．．．第一固定套

415．．．測試桿

417．．．第二固定套

419．．．伸縮桿

43．．．測試頭

431．．．頭部

433．．．尾部

45．．．保護套

451．．．卡持槽

50．．．夾持件

51．．．壓板

511．．．安裝部

5111．．．安裝孔

513．．．安裝柱

515．．．夾持槽

517．．．卡持孔

53．．．掛鉤

531．．．配合孔

533．．．第二鎖固件

535．．．鉤部

60．．．校準件

61．．．固定部

611．．．第一固定孔

63．．．拉桿

631．．．盲孔

65．．．校準部

651．．．第二固定孔

67．．．彈簧

68．．．擋片

69．．．第三鎖固件

70．．．止位件

71．．．止位螺絲

73．．．鎖緊螺母

80．．．待測工件

81．．．螺絲槽

圖1為本發明較佳實施方式之螺絲槽深度檢測裝置之分解示意圖。

圖2為圖1螺絲槽深度檢測裝置中承載件之分解示意圖。

圖3為圖1螺絲槽深度檢測裝置之部分組裝示意圖。

圖4為圖3所示螺絲槽深度檢測裝置中測試件按壓於校準部上之狀態示意圖。

圖5為圖3所示螺絲槽深度檢測裝置中測試件按壓於待測工件上之狀態示意圖。

100．．．螺絲槽深度檢測裝置

10．．．底板

11．．．導向塊

111．．．卡持塊

21．．．滑動部

23．．．裝配部

253．．．承載塊

273．．．手柄

275．．．鎖持件

31．．．支柱

411．．．表體

433．．．尾部

51．．．壓板

517．．．卡持孔

53．．．掛鉤

65．．．校準部

80．．．待測工件

Claims (11)

1. 一種螺絲槽深度檢測裝置，用於檢測一待測工件之螺絲槽深度，包括：
   承載件，用於承載所述待測工件；
   校準件，包括校準部，所述校準部可旋轉地按壓於所述待測工件上；及
   測試件，包括量測表及測試頭，所述量測表包括表體及可相對於所述表體伸縮運動之測試桿，所述測試頭之一端收容於所述測試桿內，另一端與待測工件之螺絲槽之底部相抵觸，從而使得所述測試桿可於待測工件螺絲槽底部之抵持下產生伸縮；當所述校準部按壓於所述待測工件上時，所述測試件朝向所述待測工件運動，直至所述測試頭抵持於所述校準部上，並將所述量測表之讀數歸零；當所述校準部脫離所述待測工件時，所述測試件繼續朝向所述待測工件運動，直至所述測試頭抵持於所述待測工件之螺絲槽底部，並記錄所述量測表之讀數，進而根據所述量測表之讀數及所述校準部之厚度獲得所述待測工件之螺絲槽深度。
2. 如申請專利範圍第1項所述之螺絲槽深度檢測裝置，其中所述螺絲槽深度檢測裝置還包括底板，所述底板上設置有二導向塊，該二導向塊相對且相互平行設置，所述二導向塊面向彼此之一側分別設置有一卡持塊，所述導向塊、卡持塊及底板共同圍成一導向槽，所述承載件裝設於所述導向槽內，且於所述導向槽內滑動。
3. 如申請專利範圍第2項所述之螺絲槽深度檢測裝置，其中所述承載件包括滑動部、裝配部及二承載部，所述滑動部之形狀及結構與該導向槽相配合，用於裝設於該導向槽內，且沿所述導向槽滑動，所述裝配部裝設於所述滑動部之頂部，該裝配部之頂部開設有第一裝配孔，所述二承載部均裝設於所述第一裝配孔內，且於第一裝配孔內相對或背向滑動，每一承載部上面向彼此之一側均開設有複數缺口，所述複數缺口共同圍成多個承載槽，用於卡持並固定所述待測工件。
4. 如申請專利範圍第3項所述之螺絲槽深度檢測裝置，其中所述承載件還包括調節部，所述裝配部之一側開設有與所述第一裝配孔相貫通之第二裝配孔，每一承載部均包括本體及承載塊，所述本體之一側面開設有與所述第二裝配孔相對應之穿設孔，所述承載塊分別固定於相應之本體上，該調節部包括調節桿、手柄及鎖持件，所述調節桿穿過所述第二裝配孔，所述二本體分別套設於該調節桿之兩端，進而將所述二承載部裝設於所述第一裝配孔內，所述手柄套設於所述調節桿露出該裝配部之一端，並利用該鎖持件將所述手柄裝設於該調節桿上，藉由操作所述手柄，使得二承載部相對或者背向運動，進而調節所述承載槽之大小。
5. 如申請專利範圍第2項所述之螺絲槽深度檢測裝置，其中所述螺絲槽深度檢測裝置還包括支撐件，所述支撐件固定於所述底板之一側，用於支撐所述測試件。
6. 如申請專利範圍第5項所述之螺絲槽深度檢測裝置，其中所述支撐件包括支柱，所述底板上還設置有導向孔，所述支柱穿設於該導向孔內，且與該導向孔過盈配合，進而將所述支柱安裝於底板上。
7. 如申請專利範圍第6項所述之螺絲槽深度檢測裝置，其中所述支撐件還包括支架，所述支架包括第一支撐部，所述第一支撐部之一側開設有第一支撐孔，所述支柱遠離底板之一端穿設於該第一支撐孔內，且與該第一支撐孔過盈配合，進而將所述支架裝設於該支柱上。
8. 如申請專利範圍第7項所述之螺絲槽深度檢測裝置，其中所述第一支撐部中與該第一支撐孔相對之另一端設置有第二支撐孔及與該第二支撐孔相貫通之鎖持孔，所述測試件還包括保護套，所述保護套上設置有一沿著其延伸方向開設之卡持槽，所述量測表還包括第一固定套，所述第一固定套設置於所述測試桿之外壁且與表體固定連接，所述第一固定套容置於所述保護套內，所述保護套容納於所述第二支撐孔內，藉由將一第一鎖固件依次穿過所述鎖持孔，並卡持於所述卡持槽內，進而使得所述量測表固定於所述支撐件上。
9. 如申請專利範圍第7項所述之螺絲槽深度檢測裝置，其中所述支撐件還包括第二支撐部，所述第二支撐部設置於所述第一支撐部上，所述第二支撐部遠離第一支撐部之端部之兩側分別延伸有一夾持臂，每一夾持臂上均開設有相應之夾持孔，所述螺絲槽深度檢測裝置還包括夾持件，所述夾持件包括壓板及掛鉤，所述壓板之底部設置有安裝部，所述安裝部上開設有相應之安裝孔，該安裝部裝設於該夾持臂之間，且該安裝孔對準該夾持孔，藉由將一安裝柱依次穿過該夾持孔及對應之安裝孔，以將所述壓板裝設於該支撐件上，所述壓板之一側開設有夾持槽，所述量測表還包括第二固定套及伸縮桿，所述第二固定套設置於所述表體之頂部，所述伸縮桿可伸縮地裝設於第二固定套內，且與所述測試桿相連接，所述夾持槽用以卡持該伸縮桿，進而夾持該量測表，該壓板中與設置有夾持槽相對之另一側設置有卡持孔，所述第一支撐部設置有第一支撐孔之一側還開設有支撐槽及與所述支撐槽相貫通之鎖固孔，所述掛鉤之一端開設有配合孔，所述掛鉤設置有配合孔之一端裝設於所述支撐槽內，且該配合孔對準該鎖固孔，藉由將一第二鎖固件依次穿過該鎖固孔及配合孔，進而將所述掛鉤裝設於該支架之一側，所述掛鉤中與所述配合孔相對之一端設置有鉤部，該鉤部與該卡持孔相配合，藉由旋轉該掛鉤，以使得所述鉤部卡持所述卡持孔之周壁，進而固定所述壓板。
10. 如申請專利範圍第1項所述之螺絲槽深度檢測裝置，其中該校準件還包括固定部、拉桿、彈簧、擋片及第三鎖固件，該固定部固定裝設於該承載件之一側，其上開設有對應之第一固定孔，所述拉桿裝設於該第一固定孔內，所述拉桿遠離該固定部之一端開設有盲孔，所述校準部之一端開設有與該第一固定孔及拉桿相對應之第二固定孔，藉由將所述第二固定孔穿設於該拉桿上，使得所述校準部繞所述拉桿旋轉，所述彈簧套設於該拉桿上，所述擋片裝設於該彈簧之頂部，該第三鎖固件穿過該擋片，並穿設於該盲孔內，進而為該校準部之旋轉提供彈力。
11. 一種螺絲槽深度檢測裝置，用於檢測一待測工件之螺絲槽深度，包括：
    承載件，用於承載所述待測工件；
    校準件，包括校準部，所述校準部可旋轉地按壓於所述待測工件上；及
    測試件，包括量測表及測試頭，所述量測表包括表體及可相對於所述表體伸縮運動之測試桿，所述測試頭之一端收容於所述測試桿內，另一端與待測工件之螺絲槽之底部相抵觸，從而使得所述測試桿可於待測工件螺絲槽底部之抵持下產生伸縮；所述測試件先藉由所述校準部清零，然後再抵持於所述螺絲槽之底部，進而藉由該量測表之讀數及所述校準部之厚度之差獲得所述待測工件之螺絲槽深度。