TW201337304A - 具雙電源的通訊測試設備及其通訊測試方法 - Google Patents

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Abstract

一種具雙電源的通訊測試設備，適用於通訊基板的測試作業，具雙電源的通訊測試設備包含設備本體、第一電源模組以及第二電源模組。設備本體包含第一供電埠、第二供電埠以及與第一供電埠和第二供電埠電性連接且用以配置通訊基板的通訊測試區；第一電源模組電性連接至第一供電埠；第二電源模組電性連接至第二供電埠；其中第一電源模組透過通訊測試區提供第一電源至通訊基板，並同時對第二電源模組進行充電作業。本發明亦提供一種運用雙電源的通訊測試方法。

Description

具雙電源的通訊測試設備及其通訊測試方法
本發明是有關於一種通訊測試設備及其通訊測試方法，且特別是有關於一種具雙電源的通訊測試設備及其通訊測試方法。
隨著網通產業的進步，市面上出現多種網路通訊的產品。在這些網路通訊產品販售前，其內部的通訊基板勢必先在產線上經過通訊測試設備的校準、整合或天線等相關的通訊測試作業，方能確保這些網路通訊產品之後的產品品質。例如，在校準的通訊測試作業時，往往會由於通訊測試設備的電源供應不穩定而影響校準作業(如影響無線射頻(RF)的校準功率)。
因此，研發一種可改善通訊基板於通訊測試作業的技術，勢必能夠為網通產業帶來更多的優質產品。
有鑑於此，本發明提供一種具雙電源的通訊測試設備及其通訊測試方法。
依據上述之目的，本發明提供一種具雙電源的通訊測試設備，適用於通訊基板的測試作業，所述具雙電源的通訊測試設備包含設備本體、第一電源模組以及第二電源模組。設備本體包含第一供電埠、第二供電埠以及與此第一供電埠和此第二供電埠電性連接且用以配置通訊基板的通訊測試區。第一電源模組電性連接至第一供電埠。第二電源模組電性連接至第二供電埠；其中，第一電源模組透過通訊測試區提供第一電源至通訊基板，並同時對第二電源模組進行充電作業。
依照本發明的實施例所述具雙電源的通訊測試設備，上述通訊基板可為電路板。詳言之，第二電源模組更包含電容(Capacitor)，當第一電源模組透過通訊測試區提供第一電源至通訊基板時，第一電源模組同時對電容進行充電作業，並於第一電源模組瞬間無法順利提供第一電源時，由此電容提供第二電源至通訊基板。另外，設備本體更包含殼蓋而可用以蓋合通訊測試區。
依照本發明的實施例所述具雙電源的通訊測試設備，上述第一電源模組更包含電性連接至第一供電埠的通用串列匯流排(USB)接頭，第二電源模組更包含電性連接至第二供電埠的探針連接頭(Pogo pin connector)。
依據上述之目的，本發明亦提供一種運用雙電源的通訊測試方法，包含提供具有通訊測試區電性連接第一供電埠與第二供電埠的通訊測試設備；將通訊基板配置在通訊測試區；提供電性連接至第一供電埠的第一電源模組；提供電性連接至第二供電埠的第二電源模組；對通訊基板進行通訊測試作業。
依照本發明的實施例所述運用雙電源的通訊測試方法，上述方法更包含利用第一電源模組提供第一電源至通訊基板時，同時對第二電源模組進行充電作業。詳言之，第二電源模組更包含電容，上述方法更包含當第一電源模組提供第一電源至通訊基板時，第一電源模組同時對此電容進行充電作業，並於第一電源模組瞬間無法順利提供第一電源時，由電容提供第二電源至通訊基板。
運用本發明的特點之一在於：當第一電源模組提供第一電源至通訊基板時，第一電源模組同時對第二電源模組進行充電作業，並於第一電源模組瞬間無法順利提供第一電源時，則由第二電源模組提供第二電源至通訊基板，如此能夠確保通訊基板進行通訊測試作業時的品質。
為讓本發明之上述目的、特徵和特點能更明顯易懂，茲配合圖式將本發明相關實施例詳細說明如下。
請參閱圖1，圖1為本發明一實施例具雙電源的通訊測試設備的示意圖。
由圖1可知，具雙電源的通訊測試設備1包含設備本體10、第一電源模組11以及第二電源模組12。
設備本體10包含第一供電埠101、第二供電埠102以及與第一供電埠101和第二供電埠102電性連接的通訊測試區103。其中，第一電源模組11電性連接至第一供電埠101；第二電源模組12電性連接至第二供電埠102。
詳言之，第一電源模組11可包含電腦單元110以及與電腦單元110電性連接的通用串列匯流排接頭(USB接頭)111。第一電源模組11利用通用串列匯流排接頭111電性連接至第一供電埠101。第二電源模組12更包含電性連接至第二供電埠102的探針連接頭(Pogo pin connector)121。
以及，具雙電源的通訊測試設備1更可包含通訊基板13配置在設備本體10的通訊測試區103，以對此通訊基板13進行測試作業。所述通訊基板13可為電路板(例如一通訊主機板)，且第一電源模組11透過通訊測試區103提供第一電源至通訊基板13，並同時對第二電源模組12進行充電作業。
例如，第二電源模組12可為包含一或多個電容(Capacitor)122的模擬電池。當第一電源模組11透過通訊測試區103提供第一電源至通訊基板13時，第一電源模組11同時對電容122進行充電作業，並於第一電源模組11瞬間無法順利提供第一電源時(例如因電力品質或外界因素干擾而造成第一電源模組11的供電具有不穩定的狀況)，則由電容122提供第二電源至通訊基板13並同時提供第二電源模組12的一靜態電流。
由此可知，當第一電源模組11瞬間無法順利提供第一電源時，第二電源模組12可瞬間補償供電(第二電源)至通訊基板13，如此能夠確保通訊基板13於進行通訊測試作業(如無線射頻(RF)的校準功率)時，不受第一電源不穩定的干擾而影響通訊基板13的通訊測試品質。
另外，設備本體10更可包含殼蓋104。因此當通訊基板13被配置在通訊測試區103時，可利用殼蓋104蓋合通訊測試區103以保護通訊基板13。且第二電源模組12亦可包含一或多個電阻(Resistor)123；探針連接頭121可包含接地線路、溫度檢測線路或電壓線路等，以符合第二電源模組12之電路設計的需求。其中上述電容122可選用330uF即/或1600uF；電阻123可選用34.8K歐姆或75K歐姆，以符合電路設計。當然，隨著實際需求的不同，電容122與電阻123的容量數值不限定於此。
請同時參閱圖1與圖2，圖2為本發明一實施例運用雙電源的通訊測試方法的流程圖。
本發明所提供之運用雙電源的通訊測試方法包含以下步驟：
提供具有通訊測試區電性連接第一供電埠與第二供電埠的通訊測試設備(步驟S100)；將通訊基板配置在通訊測試區(步驟S110)；提供電性連接至第一供電埠的第一電源模組(步驟S120)；提供電性連接至第二供電埠的第二電源模組(步驟S130)；對通訊基板進行通訊測試作業(步驟S140)。
當欲確保通訊基板進行通訊測試作業(如無線射頻的校準功率)的品質時，可提供具有通訊測試區103電性連接第一供電埠101與第二供電埠102的通訊測試設備(具雙電源的通訊測試設備1)(步驟S100)。
接著，一作業者可將通訊基板13配置在通訊測試區103中(步驟S110)。其中，通訊基板13可為電路板(例如一通訊主機板)。
之後作業者可進行提供電性連接至第一供電埠101的第一電源模組11(步驟S120)；提供電性連接至第二供電埠102的第二電源模組12(步驟S130)；對通訊基板進行通訊測試作業(步驟S140)。
於這些步驟中，第一電源模組11可透過通訊測試區103提供第一電源至通訊基板13，並同時對第二電源模組12進行充電作業。例如，第二電源模組12可為包含一或多個電容(Capacitor)122的模擬電池。當第一電源模組11透過通訊測試區103提供第一電源至通訊基板13時，第一電源模組11同時對電容122進行充電作業，並於第一電源模組11瞬間無法順利提供第一電源時(例如因電力品質或外界因素干擾而可能造成第一電源模組11不穩定的供電狀況)，則由電容122提供第二電源至通訊基板13。
由此可知，當第一電源模組11瞬間無法順利提供第一電源時，第二電源模組12可瞬間補償供電(第二電源)至通訊基板13，如此能夠確保通訊基板13於進行通訊測試作業(如無線射頻(RF)的校準功率)時，不受第一電源不穩定的干擾而影響通訊基板13的通訊測試品質。
其中，為了簡明起見，關於通訊測試設備(具雙電源的通訊測試設備1)的相關結構或動作原理之特徵可參考圖1及其說明即可，於此不加贅述。
請參閱圖3，圖3為本發明一實施例運用具雙電源的通訊測試設備及其通訊測試方法之通訊測試作業後的示意圖。
由圖3可知，經過利用本案所提供之具雙電源的通訊測試設備及其通訊測試方法的通訊測試作業結果可知，本案運用雙電源(如上述第一電源與第二電源)的RF校準平均功率(如34.12與34.31)明顯高於習知運用單電源(32.48與32.99)，如此能夠確保通訊基板13進行通訊測試作業時的品質。
由上述可知，本發明所述具雙電源的通訊測試設備及其通訊測試方法，具有下列之特點：
1.當第一電源模組瞬間無法順利提供第一電源時，第二電源模組可瞬間補償供電至通訊基板，如此能夠確保通訊基板進行通訊測試作業(如無線射頻的校準功率)時的品質。
2.利用第二電源模組瞬間補償供電至通訊基板，使得通訊基板的製程良率亦因此被大幅提升。
綜上所述，乃僅記載本發明為呈現解決問題所採用的技術手段之較佳實施方式或實施例而已，並非用來限定本發明專利實施之範圍。即凡與本發明專利申請範圍文義相符，或依本發明專利範圍所做的均等變化與修飾，皆為本發明專利範圍所涵蓋。
1．．．具雙電源的通訊測試設備
10．．．設備本體
101．．．第一供電埠
102．．．第二供電埠
103．．．通訊測試區
104．．．殼蓋
11．．．第一電源模組
111．．．通用串列匯流排接頭
110．．．電腦單元
12．．．第二電源模組
121．．．探針連接頭
122．．．電容
123．．．電阻
13．．．通訊基板
S100~S140．．．步驟
圖1為本發明一實施例具雙電源的通訊測試設備的示意圖；
圖2為本發明一實施例運用雙電源的通訊測試方法的流程圖；以及
圖3為本發明一實施例運用具雙電源的通訊測試設備及其通訊測試方法之通訊測試作業後的示意圖。
S100~S140．．．步驟

Claims (8)

  1. 一種具雙電源的通訊測試設備，適用於一通訊基板的測試作業，該具雙電源的通訊測試設備，包含：一設備本體，包含一第一供電埠、一第二供電埠以及與該第一、第二供電埠電性連接且配置該通訊基板的一通訊測試區；一第一電源模組，電性連接至該第一供電埠；以及一第二電源模組，電性連接至該第二供電埠；其中，該第一電源模組透過該通訊測試區提供一第一電源至該通訊基板，並同時對該第二電源模組進行一充電作業。
  2. 如申請專利範圍第1項所述具雙電源的通訊測試設備，其中該通訊基板為一電路板。
  3. 如申請專利範圍第1項所述具雙電源的通訊測試設備，其中該第二電源模組更包含一電容，當該第一電源模組透過該通訊測試區提供該第一電源至該通訊基板時，該第一電源模組同時對該電容進行該充電作業，並於該第一電源模組瞬間無法順利提供該第一電源時，由該電容提供一第二電源至該通訊基板。
  4. 如申請專利範圍第1項所述具雙電源的通訊測試設備，其中該第一電源模組更包含電性連接至該第一供電埠的一通用串列匯流排接頭，該第二電源模組更包含電性連接至該第二供電埠的一探針連接頭。
  5. 如申請專利範圍第1項所述具雙電源的通訊測試設備，其中該設備本體更包含一殼蓋以蓋合該通訊測試區。
  6. 一種運用雙電源的通訊測試方法，包含：提供具有一通訊測試區電性連接一第一供電埠與一第二供電埠的一通訊測試設備；將一通訊基板配置在該通訊測試區；提供電性連接至該第一供電埠的一第一電源模組；提供電性連接至該第二供電埠的一第二電源模組；以及對該通訊基板進行一通訊測試作業。
  7. 如申請專利範圍第6項所述運用雙電源的通訊測試方法，其中該方法更包含利用該第一電源模組提供一第一電源至該通訊基板時，同時對該第二電源模組進行一充電作業。
  8. 如申請專利範圍第7項所述運用雙電源的通訊測試方法，其中該第二電源模組更包含一電容，該方法更包含當該第一電源模組提供該第一電源至該通訊基板時，該第一電源模組同時對該電容進行該充電作業，並於該第一電源模組瞬間無法順利提供該第一電源時，由該電容提供一第二電源至該通訊基板。
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