TW201337304A - 具雙電源的通訊測試設備及其通訊測試方法 - Google Patents

具雙電源的通訊測試設備及其通訊測試方法 Download PDF

Info

Publication number
TW201337304A
TW201337304A TW101114911A TW101114911A TW201337304A TW 201337304 A TW201337304 A TW 201337304A TW 101114911 A TW101114911 A TW 101114911A TW 101114911 A TW101114911 A TW 101114911A TW 201337304 A TW201337304 A TW 201337304A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
power supply
communication
power
communication test
power module
Prior art date
Application number
TW101114911A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI479172B (zh
Inventor
Will Wang
Original Assignee
Inventec Appliances Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Inventec Appliances Corp filed Critical Inventec Appliances Corp
Publication of TW201337304A publication Critical patent/TW201337304A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI479172B publication Critical patent/TWI479172B/zh

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/30—Structural combination of electric measuring instruments with basic electronic circuits, e.g. with amplifier
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
    • G06F1/266—Arrangements to supply power to external peripherals either directly from the computer or under computer control, e.g. supply of power through the communication port, computer controlled power-strips

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Charge And Discharge Circuits For Batteries Or The Like (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Transceivers (AREA)

Abstract

一種具雙電源的通訊測試設備，適用於通訊基板的測試作業，具雙電源的通訊測試設備包含設備本體、第一電源模組以及第二電源模組。設備本體包含第一供電埠、第二供電埠以及與第一供電埠和第二供電埠電性連接且用以配置通訊基板的通訊測試區；第一電源模組電性連接至第一供電埠；第二電源模組電性連接至第二供電埠；其中第一電源模組透過通訊測試區提供第一電源至通訊基板，並同時對第二電源模組進行充電作業。本發明亦提供一種運用雙電源的通訊測試方法。

Description

具雙電源的通訊測試設備及其通訊測試方法
本發明是有關於一種通訊測試設備及其通訊測試方法，且特別是有關於一種具雙電源的通訊測試設備及其通訊測試方法。
隨著網通產業的進步，市面上出現多種網路通訊的產品。在這些網路通訊產品販售前，其內部的通訊基板勢必先在產線上經過通訊測試設備的校準、整合或天線等相關的通訊測試作業，方能確保這些網路通訊產品之後的產品品質。例如，在校準的通訊測試作業時，往往會由於通訊測試設備的電源供應不穩定而影響校準作業(如影響無線射頻(RF)的校準功率)。
因此，研發一種可改善通訊基板於通訊測試作業的技術，勢必能夠為網通產業帶來更多的優質產品。
有鑑於此，本發明提供一種具雙電源的通訊測試設備及其通訊測試方法。
依據上述之目的，本發明提供一種具雙電源的通訊測試設備，適用於通訊基板的測試作業，所述具雙電源的通訊測試設備包含設備本體、第一電源模組以及第二電源模組。設備本體包含第一供電埠、第二供電埠以及與此第一供電埠和此第二供電埠電性連接且用以配置通訊基板的通訊測試區。第一電源模組電性連接至第一供電埠。第二電源模組電性連接至第二供電埠；其中，第一電源模組透過通訊測試區提供第一電源至通訊基板，並同時對第二電源模組進行充電作業。
依照本發明的實施例所述具雙電源的通訊測試設備，上述通訊基板可為電路板。詳言之，第二電源模組更包含電容(Capacitor)，當第一電源模組透過通訊測試區提供第一電源至通訊基板時，第一電源模組同時對電容進行充電作業，並於第一電源模組瞬間無法順利提供第一電源時，由此電容提供第二電源至通訊基板。另外，設備本體更包含殼蓋而可用以蓋合通訊測試區。
依照本發明的實施例所述具雙電源的通訊測試設備，上述第一電源模組更包含電性連接至第一供電埠的通用串列匯流排(USB)接頭，第二電源模組更包含電性連接至第二供電埠的探針連接頭(Pogo pin connector)。
依據上述之目的，本發明亦提供一種運用雙電源的通訊測試方法，包含提供具有通訊測試區電性連接第一供電埠與第二供電埠的通訊測試設備；將通訊基板配置在通訊測試區；提供電性連接至第一供電埠的第一電源模組；提供電性連接至第二供電埠的第二電源模組；對通訊基板進行通訊測試作業。
依照本發明的實施例所述運用雙電源的通訊測試方法，上述方法更包含利用第一電源模組提供第一電源至通訊基板時，同時對第二電源模組進行充電作業。詳言之，第二電源模組更包含電容，上述方法更包含當第一電源模組提供第一電源至通訊基板時，第一電源模組同時對此電容進行充電作業，並於第一電源模組瞬間無法順利提供第一電源時，由電容提供第二電源至通訊基板。
運用本發明的特點之一在於：當第一電源模組提供第一電源至通訊基板時，第一電源模組同時對第二電源模組進行充電作業，並於第一電源模組瞬間無法順利提供第一電源時，則由第二電源模組提供第二電源至通訊基板，如此能夠確保通訊基板進行通訊測試作業時的品質。
為讓本發明之上述目的、特徵和特點能更明顯易懂，茲配合圖式將本發明相關實施例詳細說明如下。
請參閱圖1，圖1為本發明一實施例具雙電源的通訊測試設備的示意圖。
由圖1可知，具雙電源的通訊測試設備1包含設備本體10、第一電源模組11以及第二電源模組12。
設備本體10包含第一供電埠101、第二供電埠102以及與第一供電埠101和第二供電埠102電性連接的通訊測試區103。其中，第一電源模組11電性連接至第一供電埠101；第二電源模組12電性連接至第二供電埠102。
詳言之，第一電源模組11可包含電腦單元110以及與電腦單元110電性連接的通用串列匯流排接頭(USB接頭)111。第一電源模組11利用通用串列匯流排接頭111電性連接至第一供電埠101。第二電源模組12更包含電性連接至第二供電埠102的探針連接頭(Pogo pin connector)121。
以及，具雙電源的通訊測試設備1更可包含通訊基板13配置在設備本體10的通訊測試區103，以對此通訊基板13進行測試作業。所述通訊基板13可為電路板(例如一通訊主機板)，且第一電源模組11透過通訊測試區103提供第一電源至通訊基板13，並同時對第二電源模組12進行充電作業。
例如，第二電源模組12可為包含一或多個電容(Capacitor)122的模擬電池。當第一電源模組11透過通訊測試區103提供第一電源至通訊基板13時，第一電源模組11同時對電容122進行充電作業，並於第一電源模組11瞬間無法順利提供第一電源時(例如因電力品質或外界因素干擾而造成第一電源模組11的供電具有不穩定的狀況)，則由電容122提供第二電源至通訊基板13並同時提供第二電源模組12的一靜態電流。
由此可知，當第一電源模組11瞬間無法順利提供第一電源時，第二電源模組12可瞬間補償供電(第二電源)至通訊基板13，如此能夠確保通訊基板13於進行通訊測試作業(如無線射頻(RF)的校準功率)時，不受第一電源不穩定的干擾而影響通訊基板13的通訊測試品質。
另外，設備本體10更可包含殼蓋104。因此當通訊基板13被配置在通訊測試區103時，可利用殼蓋104蓋合通訊測試區103以保護通訊基板13。且第二電源模組12亦可包含一或多個電阻(Resistor)123；探針連接頭121可包含接地線路、溫度檢測線路或電壓線路等，以符合第二電源模組12之電路設計的需求。其中上述電容122可選用330uF即/或1600uF；電阻123可選用34.8K歐姆或75K歐姆，以符合電路設計。當然，隨著實際需求的不同，電容122與電阻123的容量數值不限定於此。
請同時參閱圖1與圖2，圖2為本發明一實施例運用雙電源的通訊測試方法的流程圖。
本發明所提供之運用雙電源的通訊測試方法包含以下步驟：
提供具有通訊測試區電性連接第一供電埠與第二供電埠的通訊測試設備(步驟S100)；將通訊基板配置在通訊測試區(步驟S110)；提供電性連接至第一供電埠的第一電源模組(步驟S120)；提供電性連接至第二供電埠的第二電源模組(步驟S130)；對通訊基板進行通訊測試作業(步驟S140)。
當欲確保通訊基板進行通訊測試作業(如無線射頻的校準功率)的品質時，可提供具有通訊測試區103電性連接第一供電埠101與第二供電埠102的通訊測試設備(具雙電源的通訊測試設備1)(步驟S100)。
接著，一作業者可將通訊基板13配置在通訊測試區103中(步驟S110)。其中，通訊基板13可為電路板(例如一通訊主機板)。
之後作業者可進行提供電性連接至第一供電埠101的第一電源模組11(步驟S120)；提供電性連接至第二供電埠102的第二電源模組12(步驟S130)；對通訊基板進行通訊測試作業(步驟S140)。
於這些步驟中，第一電源模組11可透過通訊測試區103提供第一電源至通訊基板13，並同時對第二電源模組12進行充電作業。例如，第二電源模組12可為包含一或多個電容(Capacitor)122的模擬電池。當第一電源模組11透過通訊測試區103提供第一電源至通訊基板13時，第一電源模組11同時對電容122進行充電作業，並於第一電源模組11瞬間無法順利提供第一電源時(例如因電力品質或外界因素干擾而可能造成第一電源模組11不穩定的供電狀況)，則由電容122提供第二電源至通訊基板13。
由此可知，當第一電源模組11瞬間無法順利提供第一電源時，第二電源模組12可瞬間補償供電(第二電源)至通訊基板13，如此能夠確保通訊基板13於進行通訊測試作業(如無線射頻(RF)的校準功率)時，不受第一電源不穩定的干擾而影響通訊基板13的通訊測試品質。
其中，為了簡明起見，關於通訊測試設備(具雙電源的通訊測試設備1)的相關結構或動作原理之特徵可參考圖1及其說明即可，於此不加贅述。
請參閱圖3，圖3為本發明一實施例運用具雙電源的通訊測試設備及其通訊測試方法之通訊測試作業後的示意圖。
由圖3可知，經過利用本案所提供之具雙電源的通訊測試設備及其通訊測試方法的通訊測試作業結果可知，本案運用雙電源(如上述第一電源與第二電源)的RF校準平均功率(如34.12與34.31)明顯高於習知運用單電源(32.48與32.99)，如此能夠確保通訊基板13進行通訊測試作業時的品質。
由上述可知，本發明所述具雙電源的通訊測試設備及其通訊測試方法，具有下列之特點：
1.當第一電源模組瞬間無法順利提供第一電源時，第二電源模組可瞬間補償供電至通訊基板，如此能夠確保通訊基板進行通訊測試作業(如無線射頻的校準功率)時的品質。
2.利用第二電源模組瞬間補償供電至通訊基板，使得通訊基板的製程良率亦因此被大幅提升。
綜上所述，乃僅記載本發明為呈現解決問題所採用的技術手段之較佳實施方式或實施例而已，並非用來限定本發明專利實施之範圍。即凡與本發明專利申請範圍文義相符，或依本發明專利範圍所做的均等變化與修飾，皆為本發明專利範圍所涵蓋。
1．．．具雙電源的通訊測試設備
10．．．設備本體
101．．．第一供電埠
102．．．第二供電埠
103．．．通訊測試區
104．．．殼蓋
11．．．第一電源模組
111．．．通用串列匯流排接頭
110．．．電腦單元
12．．．第二電源模組
121．．．探針連接頭
122．．．電容
123．．．電阻
13．．．通訊基板
S100~S140．．．步驟
圖1為本發明一實施例具雙電源的通訊測試設備的示意圖；
圖2為本發明一實施例運用雙電源的通訊測試方法的流程圖；以及
圖3為本發明一實施例運用具雙電源的通訊測試設備及其通訊測試方法之通訊測試作業後的示意圖。
S100~S140．．．步驟

Claims (8)

  1. 一種具雙電源的通訊測試設備，適用於一通訊基板的測試作業，該具雙電源的通訊測試設備，包含：一設備本體，包含一第一供電埠、一第二供電埠以及與該第一、第二供電埠電性連接且配置該通訊基板的一通訊測試區；一第一電源模組，電性連接至該第一供電埠；以及一第二電源模組，電性連接至該第二供電埠；其中，該第一電源模組透過該通訊測試區提供一第一電源至該通訊基板，並同時對該第二電源模組進行一充電作業。
  2. 如申請專利範圍第1項所述具雙電源的通訊測試設備，其中該通訊基板為一電路板。
  3. 如申請專利範圍第1項所述具雙電源的通訊測試設備，其中該第二電源模組更包含一電容，當該第一電源模組透過該通訊測試區提供該第一電源至該通訊基板時，該第一電源模組同時對該電容進行該充電作業，並於該第一電源模組瞬間無法順利提供該第一電源時，由該電容提供一第二電源至該通訊基板。
  4. 如申請專利範圍第1項所述具雙電源的通訊測試設備，其中該第一電源模組更包含電性連接至該第一供電埠的一通用串列匯流排接頭，該第二電源模組更包含電性連接至該第二供電埠的一探針連接頭。
  5. 如申請專利範圍第1項所述具雙電源的通訊測試設備，其中該設備本體更包含一殼蓋以蓋合該通訊測試區。
  6. 一種運用雙電源的通訊測試方法，包含：提供具有一通訊測試區電性連接一第一供電埠與一第二供電埠的一通訊測試設備；將一通訊基板配置在該通訊測試區；提供電性連接至該第一供電埠的一第一電源模組；提供電性連接至該第二供電埠的一第二電源模組；以及對該通訊基板進行一通訊測試作業。
  7. 如申請專利範圍第6項所述運用雙電源的通訊測試方法，其中該方法更包含利用該第一電源模組提供一第一電源至該通訊基板時，同時對該第二電源模組進行一充電作業。
  8. 如申請專利範圍第7項所述運用雙電源的通訊測試方法，其中該第二電源模組更包含一電容，該方法更包含當該第一電源模組提供該第一電源至該通訊基板時，該第一電源模組同時對該電容進行該充電作業，並於該第一電源模組瞬間無法順利提供該第一電源時，由該電容提供一第二電源至該通訊基板。
TW101114911A 2012-03-06 2012-04-26 具雙電源的通訊測試設備及其通訊測試方法 TWI479172B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2012100560911A CN103312550A (zh) 2012-03-06 2012-03-06 具双电源的通讯测试设备及其通讯测试方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201337304A true TW201337304A (zh) 2013-09-16
TWI479172B TWI479172B (zh) 2015-04-01

Family

ID=49113550

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW101114911A TWI479172B (zh) 2012-03-06 2012-04-26 具雙電源的通訊測試設備及其通訊測試方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9529015B2 (zh)
CN (1) CN103312550A (zh)
TW (1) TWI479172B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111552655A (zh) * 2020-04-28 2020-08-18 上海龙旗科技股份有限公司 一种兼容PogoPin、Y-cable与USB的方法与设备

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1280301A (zh) * 1999-07-09 2001-01-17 华仪电子股份有限公司 直流耐压测试/绝缘阻抗测试之输出开路检测方法及其装置
CN101101313A (zh) * 2002-01-30 2008-01-09 佛姆费克托公司 受测试集成电路的预测性自适应电源
CN2565191Y (zh) * 2002-08-06 2003-08-06 何昭树 备用电源装置结构
CN1303495C (zh) * 2003-11-20 2007-03-07 英业达股份有限公司 检测单一不断电系统及多个服务器的电源监控管理方法
US7173438B2 (en) * 2005-05-18 2007-02-06 Seagate Technology Llc Measuring capacitance
CN1908680B (zh) * 2005-08-05 2011-03-23 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 浪涌电流测试电路
CN200950147Y (zh) * 2006-01-23 2007-09-19 英业达股份有限公司 印刷电路板的电源插槽测试治具
KR101604696B1 (ko) * 2009-08-12 2016-03-18 엘지전자 주식회사 이동 단말기 및 이것의 전원 제어 방법
JP2011058803A (ja) * 2009-09-04 2011-03-24 Advantest Corp 試験装置および電源装置
TW201210256A (en) * 2010-08-24 2012-03-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Apparatus and method for testing SNMP card
US8909955B2 (en) * 2011-07-07 2014-12-09 Blackberry Limited Method and apparatus for providing characteristics information of a peripheral device to an electronic device by encoding the characteristic information into a power signal
TWM418327U (en) * 2011-08-05 2011-12-11 Zippy Tech Corp Multi-source power system

Also Published As

Publication number Publication date
US9529015B2 (en) 2016-12-27
CN103312550A (zh) 2013-09-18
US20130234751A1 (en) 2013-09-12
TWI479172B (zh) 2015-04-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI452947B (zh) 電路板
US9635492B2 (en) Systems and methods for performing radio-frequency testing on near-field communications circuitry
TWI572090B (zh) 電子裝置及測試系統
TW201317586A (zh) 靜電場干擾測試裝置與其方法
TWI479172B (zh) 具雙電源的通訊測試設備及其通訊測試方法
US8963569B2 (en) Semiconductor chip probe and the conducted EME measurement apparatus with the semiconductor chip probe
WO2016127558A1 (zh) 连接检测方法、装置及射频连接器
CN206353652U (zh) Usb传输线、移动终端
CN105891620A (zh) 一种可用于测试cmc芯片电磁兼容辐射特性的测试系统
TW201617626A (zh) 測試座
CN206497183U (zh) 一种集成电路测试接口装置
US20130127445A1 (en) Test fixture with load
CN104714063A (zh) 探针模块
CN206311670U (zh) 介质材料测量装置
TWI557539B (zh) 插拔結構及其電子裝置
CN204302384U (zh) 外置接口接触阻抗的测试装置
US10234489B2 (en) Method for managing assembling process of electrical product
CN102279290B (zh) 一种测试机台吸盘
KR100801288B1 (ko) 평면 회로 기판〔ｐｃｂ〕전력 공급 장치
EP2665123B1 (en) Wireless communication device and method for manufacturing said device
CN207301135U (zh) 一种可远距离实时测量的高压钳形电流表
CN203589393U (zh) 一种信号传输装置
TWI499361B (zh) 具有防靜電干擾之電路板、具有該電路板之電子裝置及製造防靜電干擾之電路板的方法
CN106486796A (zh) 电连接器
CN205581279U (zh) 一种便于测试的锂电池保护电路板