TW201324174A - 調試系統及方法 - Google Patents

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Abstract

一種調試系統包括一電腦及一調試裝置，調試裝置包括一SPI讀寫模組、一第一控制模組、一信號收發模組及一檢測模組，電腦包括一第二控制模組及一顯示模組，第二控制模組用於發送一寫命令給第一控制模組，第一控制模組用於根據寫命令藉由SPI讀寫模組寫入資料於SPI設備中，檢測模組用於在資料未寫入SPI設備之情況下及資料之寫入次數大於一預設次數後，發送一寫入失敗資訊給第一控制模組，第一控制模組還用於發送寫入失敗資訊給第二控制模組，第二控制模組還用於顯示寫入失敗資訊於顯示模組上。本發明還提供一種調試方法。

Description

調試系統及方法
本發明涉及一種調試系統及方法，尤指一種SPI（serial peripheral interface，串列外設介面）匯流排之調試系統及方法。
SPI匯流排系統是一種同步串列外設介面，它可使MCU（Micro Control Unit，微控制單元）與各種週邊設備以串列方式進行通信以交換資訊。SPI匯流排主要用於連接微控制器於周邊設備以使測試人員可對各周邊設備進行讀寫處理。傳統之調試方法是測試人員藉由示波器或邏輯分析儀去分析SPI匯流排中之資料，示波器或邏輯分析儀分析資料極為繁瑣，且不便於輸入命令來讀取或寫入於連接之周邊設備。
鑒於以上內容，有必要提供一種方便寫入資料之調試系統及方法。
一種調試系統，所述調試系統包括一電腦及一調試裝置，所述調試裝置包括一SPI讀寫模組、一第一控制模組、一信號收發模組及一檢測模組，所述電腦包括一第二控制模組及一顯示模組，所述SPI讀寫模組用於連接一SPI設備，所述第二控制模組用於藉由所述信號收發模組發送一輸入之寫命令給所述第一控制模組，所述第一控制模組用於根據所述寫命令藉由所述SPI讀寫模組寫入資料於所述SPI設備中，所述檢測模組用於在所述資料未寫入所述SPI設備之情況下及所述資料之寫入次數大於一預設次數後，發送一寫入失敗資訊給所述第一控制模組，所述第一控制模組還用於藉由所述信號收發模組發送所述寫入失敗資訊給所述第二控制模組，所述第二控制模組還用於顯示所述寫入失敗資訊於所述顯示模組上。
一種調試方法，應用於一調試系統中，所述調試系統包括一調試裝置及一電腦，所述調試裝置連接一SPI設備，所述調試方法包括：
所述電腦發送一輸入之寫命令給所述調試裝置；
所述調試裝置根據所述寫命令寫入對應所述寫命令之資料於所述SPI設備中；
所述調試裝置判斷所述資料未寫入所述SPI設備後判斷所述資料之寫入次數是否大於一預設次數，若是，發送一寫入失敗資訊給所述電腦；
所述電腦顯示所述寫入失敗資訊。
與習知技術相比，於上述系統及方法中，電腦將一輸入之寫命令發給調試裝置，調試裝置根據所述寫命令對所述SPI設備進行寫入資料處理，並顯示寫入結果，簡單方便。
請參閱圖1，本發明較佳實施例調試系統包括一調試裝置10及一電腦20。
所述調試裝置10包括一控制晶片11、一連接所述控制晶片11之第一無線模組13及一連接所述控制晶片11之指示模組15。於一實施例中，所述控制晶片11為一微控制單元（Micro Control Unit，MCU），所述第一無線模組13為型號PRT2000之IC晶片，所述指示模組15為一LED（light-emitting diode）燈。所述指示模組15用於指示所述控制晶片11之工作狀態。
所述控制晶片11包括一SPI讀寫模組111、一第一存儲模組113、一第一控制模組115及一信號收發模組。於一實施例中，所述信號收發模組可為一UART模組（Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，通用非同步收發模組）117，所述第一存儲模組113為一隨機記憶體（RAM）。所述SPI讀寫模組111用於連接一SPI設備119，例如，唯讀記憶體。
所述電腦20包括一命令生成模組21、一設置模組22、一第二控制模組23、一顯示模組25、一第二無線模組27及一第二存儲模組29。於一實施例中，所述第二控制模組23為一中央處理器，所述顯示模組25為一液晶顯示器（LCD），所述第二存儲模組29為一硬碟機。所述第二無線模組27與所述第一無線模組13之間用於傳輸信號。檢修人員藉由一寫入裝置，例如鍵盤，寫入讀命令或寫命令於所述命令生成模組21中，所述讀命令包括一讀指令及一SPI設備位元址，所述寫命令包括一寫指令、一SPI設備位元址及寫入資料。檢修人員藉由所述設置模組22設置所述UART模組117之資料傳輸速度。
請參閱圖1及圖2，本發明之寫入資料之調試方法包括如下步驟：
S201，於設置完所述UART模組117之資料傳輸速度後，所述電腦20將一輸入之寫命令藉由所述第二無線模組27發送給所述調試裝置10之第一無線模組13。所述第一無線模組13將所述寫命令傳送給所述UART模組117，所述UART模組117將所述寫命令傳送給所述第一控制模組115；
S202，所述調試裝置10之第一控制模組115根據所述寫命令將所述寫命令中之寫入資料藉由所述SPI讀寫模組111寫入所述SPI設備119中；
S203，所述調試裝置10之檢測模組112判斷所述寫入資料是否寫入所述SPI設備，若是，轉向步驟S204，若否，轉向步驟S206；
S204，所述SPI讀寫模組111發送一寫入完成資訊給所述第一控制模組115，所述第一控制模組115將所述寫入完成資訊藉由所述UART模組117及所述第一無線模組13發送給所述電腦20之第二無線模組27，所述第二無線模組27將所述寫入完成資訊發送給所述電腦20之第二控制模組23。
S205，所述電腦之第二控制模組23顯示所述寫入完成資訊於所述顯示模組25上。
S206，所述調試裝置10之檢測模組112判斷所述寫入資料之寫入次數是否大於預設次數，若是，繼續步驟S202，若否，轉向步驟S207；
S207，所述SPI讀寫模組111發送一寫入失敗資訊給所述第一控制模組115，所述第一控制模組115將所述寫入失敗資訊藉由所述UART模組117及所述第一無線模組13發送給所述電腦20之第二無線模組27，所述第二無線模組27將所述寫入失敗資訊發送給所述電腦20之第二控制模組23。
S208，所述電腦之第二控制模組23顯示所述寫入失敗資訊於所述顯示模組25上。
綜上所述，本發明確已符合發明專利要求，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，舉凡熟悉本發明技藝之人士，爰依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。
10．．．調試裝置
11．．．控制晶片
111．．．SPI讀寫模組
112．．．檢測模組
113．．．第一存儲模組
115．．．第一控制模組
117．．．UART模組
119．．．SPI設備
13．．．第一無線模組
15．．．指示模組
20．．．電腦
21．．．命令生成模組
22．．．設置模組
23．．．第二控制模組
25．．．顯示模組
27．．．第二無線模組
29．．．第二存儲模組
圖1係本發明較佳實施例調試系統之示意圖。
圖2係本發明較佳實施例寫入資料之調試方法之流程圖。
10．．．調試裝置
11．．．控制晶片
111．．．SPI讀寫模組
112．．．檢測模組
113．．．第一存儲模組
115．．．第一控制模組
117．．．UART模組
119．．．SPI設備
13．．．第一無線模組
15．．．指示模組
20．．．電腦
21．．．命令生成模組
22．．．設置模組
23．．．第二控制模組
25．．．顯示模組
27．．．第二無線模組
29．．．第二存儲模組

Claims (9)

  1. 一種調試系統，所述調試系統包括一電腦及一調試裝置，其改進在於：所述調試裝置包括一SPI讀寫模組、一第一控制模組、一信號收發模組及一檢測模組，所述電腦包括一第二控制模組及一顯示模組，所述SPI讀寫模組用於連接一SPI設備，所述第二控制模組用於藉由所述信號收發模組發送一輸入之寫命令給所述第一控制模組，所述第一控制模組用於根據所述寫命令藉由所述SPI讀寫模組寫入資料於所述SPI設備中，所述檢測模組用於在所述資料未寫入所述SPI設備之情況下及所述資料之寫入次數大於一預設次數後，發送一寫入失敗資訊給所述第一控制模組，所述第一控制模組還用於藉由所述信號收發模組發送所述寫入失敗資訊給所述第二控制模組，所述第二控制模組還用於顯示所述寫入失敗資訊於所述顯示模組上。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之調試系統，其中所述檢測模組還用於在判斷所述資料寫入所述SPI設備成功後發送一寫入完成資訊給所述第一控制模組，所述第一控制模組還用於藉由所述信號收發模組發送所述寫入完成資訊給所述第二控制模組，所述第二控制模組還用於顯示所述寫入完成資訊於所述顯示模組上。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之調試系統，其中所述調試裝置包括一控制晶片，所述控制晶片包括所述SPI讀寫模組、所述第一存儲模組、所述第一控制模組及所述信號收發模組。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之調試系統，其中所述控制晶片為一微控制單元。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之調試系統，其中所述調試裝置還包括一連接所述信號收發模組之第一無線模組，所述電腦還包括一連接所述第二控制模組之第二無線模組，所述對應之資料用於藉由所述第一無線模組傳送給所述第二無線模組。
  6. 一種調試方法，應用於一調試系統中，所述調試系統包括一調試裝置及一電腦，所述調試裝置連接一SPI設備，其改進在於：所述調試方法包括：
    所述電腦發送一輸入之寫命令給所述調試裝置；
    所述調試裝置根據所述寫命令寫入對應所述寫命令之資料於所述SPI設備中；
    所述調試裝置判斷所述資料未寫入所述SPI設備後判斷所述資料之寫入次數是否大於一預設次數，若是，發送一寫入失敗資訊給所述電腦；
    所述電腦顯示所述寫入失敗資訊。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之調試方法，其中所述調試裝置於判斷所述資料寫入所述SPI設備成功後發送一寫入完成資訊給所述電腦，所述電腦顯示所述寫入完成資訊。
  8. 如申請專利範圍第6項所述之調試方法，其中所述調試裝置包括一微控制單元，所述微控制單元寫入所述資料於所述SPI設備中。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之調試方法，其中所述調試裝置包括一用於指示所述微控制單元之工作狀態之LED燈。
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