TW201324126A - 調試系統及方法 - Google Patents

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Hon Hai Prec Ind Co Ltd
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    • G06F11/3656—Software debugging using additional hardware using a specific debug interface

Abstract

一種調試系統，所述調試系統包括一電腦及一調試裝置，所述調試裝置包括一IIC讀寫模組、一第一控制模組及一信號收發模組，所述電腦包括一第二控制模組，所述IIC讀寫模組用於連接一IIC設備，所述第二控制模組用於藉由所述信號收發模組發送一輸入之命令給所述第一控制模組，所述第一控制模組用於根據所述命令藉由所述IIC讀寫模組讀取或寫入資料於所述IIC設備。本發明還提供一種調試方法。

Description

調試系統及方法
本發明涉及一種調試系統及方法，尤指一種基於IIC（Inter－Integrated Circuit）匯流排之調試系統及方法。
IIC是一種新型匯流排標準，具有控制方式簡單、通信速率高等優點，近年來於微電子、通信控制及伺服器管理等領域被廣泛應用。IIC匯流排主要用於連接微控制器於周邊設備以使測試人員可對各周邊設備進行讀寫處理。傳統之調試方法是測試人員藉由示波器或邏輯分析儀去分析IIC匯流排中之資料，示波器或邏輯分析儀分析資料極為繁瑣，且不便於輸入命令來讀取或寫入於連接之周邊設備。
鑒於以上內容，有必要提供一種方便讀取或寫入資料之調試系統及方法。
一種調試系統，所述調試系統包括一電腦及一調試裝置，所述調試裝置包括一IIC讀寫模組、一第一控制模組及一信號收發模組，所述電腦包括一第二控制模組，所述IIC讀寫模組用於連接一IIC設備，所述第二控制模組用於藉由所述信號收發模組發送一輸入之命令給所述第一控制模組，所述第一控制模組用於根據所述命令藉由所述IIC讀寫模組讀取或寫入資料於所述IIC設備。
一種調試方法，應用於一調試系統中，所述調試系統包括一調試裝置及一電腦，所述調試裝置連接一IIC設備，所述調試方法包括：
所述電腦發送一輸入之讀命令給所述調試裝置；
所述調試裝置根據所述讀命令讀取所述IIC設備上之資料並存儲所述資料；
所述調試裝置發送所述資料給所述電腦；
所述電腦存儲所述資料並顯示所述資料。
與習知技術相比，於上述系統及方法中，電腦將一輸入之命令發給調試裝置，調試裝置根據所述命令對所述IIC設備進行讀取或寫入，簡單方便。
請參閱圖1，本發明較佳實施例調試系統包括一調試裝置10及一電腦20。
所述調試裝置10包括一控制晶片11、一連接所述控制晶片11之第一無線模組13及一連接所述控制晶片11之指示模組15。於一實施例中，所述控制晶片11為一微控制單元（Micro Control Unit，MCU），所述第一無線模組13為型號PRT2000之IC晶片，所述指示模組15為一LED（light-emitting diode）燈。所述指示模組15用於指示所述控制晶片11之工作狀態。
所述控制晶片11包括一IIC讀寫模組111、一第一存儲模組113、一第一控制模組115及一信號收發模組。於一實施例中，所述信號收發模組可為一UART模組（Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，通用非同步收發模組）117，所述第一存儲模組113為一雙口隨機記憶體（DPRAM）。所述IIC讀寫模組111用於連接一個或多個IIC設備119，例如，溫度感測器。所述IIC讀寫模組111用在於接收到一讀命令時，從IIC設備119中讀取資料並存儲於所述第一存儲模組113中。
所述電腦20包括一命令生成模組21、一第二控制模組23、一顯示模組25、一第二無線模組27及一第二存儲模組29。於一實施例中，所述第二控制模組23為一中央處理器，所述顯示模組25為一液晶顯示器（LCD），所述第二存儲模組29為一硬碟機。所述第二無線模組27與所述第一無線模組13之間用於傳輸信號。檢修人員藉由一寫入裝置，例如鍵盤，寫入讀命令或寫命令於所述命令生成模組21中，所述讀命令包括一讀指令及一IIC設備位元址，所述寫命令包括一寫指令、一IIC設備位元址及寫入資料。
請參閱圖1及圖2，本發明之讀取資料之調試方法包括如下步驟：
S201，所述電腦20將一讀命令藉由所述第二無線模組27發送給所述調試裝置10之第一無線模組13。所述第一無線模組13將所述讀命令傳送給所述UART模組117，所述UART模組117將所述讀命令傳送給所述第一控制模組115；
S202，所述調試裝置10之第一控制模組115根據所讀命令從所述第一存儲模組113中讀取對應所述命令之資料；於本實施例中，所述IIC讀寫模組111讀取完所述資料並存儲於所述第一存儲模組113中，然後發送一讀取完成之信號給所述第一控制模組115，所述第一控制模組115於接收到所述讀取完成之信號後從所述第一存儲模組113中獲取所述資料；
S203，所述調試裝置10之第一控制模組115將所述資料藉由所述UART模組117及所述第一無線模組13發送給所述電腦20之第二無線模組27，所述第二無線模組27將所述資料發送給所述電腦20之第二控制模組23。
S204，所述電腦之第二控制模組23存儲所述資料於所述第二存儲模組29並將所述資料顯示於所述顯示模組25上。
請參閱圖1及圖3，本發明之寫資料之調試方法包括如下步驟：
S301，所述電腦20將一寫命令藉由所述第二無線模組27發送給所述調試裝置10之第一無線模組13。所述第一無線模組13將所述寫命令傳送給所述UART模組117，所述UART模組117將所述寫命令傳送給所述第一控制模組115；
S302，所述調試裝置10之第一控制模組115根據所述寫命令將所述寫命令中之寫入資料藉由所述IIC讀寫模組111寫入所述IIC設備119中；
S303，所述IIC讀寫模組111將所述寫入資料寫入所述IIC設備119後發送一寫入完成信號給所述第一控制模組115，所述第一控制模組115將所述寫入完成信號藉由所述UART模組117及所述第一無線模組13發送給所述電腦20之第二無線模組27，所述第二無線模組27將所述寫入完成信號發送給所述電腦20之第二控制模組23。
S304，所述電腦之第二控制模組23顯示所述寫入完成信號於所述顯示模組25上。
綜上所述，本發明確已符合發明專利要求，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，舉凡熟悉本發明技藝之人士，爰依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。
10．．．調試裝置
11．．．控制晶片
111．．．IIC讀寫模組
113．．．第一存儲模組
115．．．第一控制模組
117．．．UART模組
119．．．IIC設備
13．．．第一無線模組
15．．．指示模組
20．．．電腦
21．．．命令生成模組
23．．．第二控制模組
25．．．顯示模組
27．．．第二無線模組
29．．．第二存儲模組
圖1係本發明較佳實施例調試系統之示意圖。
圖2係本發明較佳實施例讀取資料之調試方法之流程圖。
圖3係本發明較佳實施例寫入資料之調試方法之流程圖。
10．．．調試裝置
11．．．控制晶片
111．．．IIC讀寫模組
113．．．第一存儲模組
115．．．第一控制模組
117．．．UART模組
119．．．IIC設備
13．．．第一無線模組
15．．．指示模組
20．．．電腦
21．．．命令生成模組
23．．．第二控制模組
25．．．顯示模組
27．．．第二無線模組
29．．．第二存儲模組

Claims (10)

  1. 一種調試系統，所述調試系統包括一電腦及一調試裝置，其改進在於：所述調試裝置包括一IIC讀寫模組、一第一控制模組及一信號收發模組，所述電腦包括一第二控制模組，所述IIC讀寫模組用於連接一IIC設備，所述第二控制模組用於藉由所述信號收發模組發送一輸入之命令給所述第一控制模組，所述第一控制模組用於根據所述命令藉由所述IIC讀寫模組讀取或寫入資料於所述IIC設備。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之調試系統，其中所述調試裝置還包括一第一存儲模組，所述電腦還包括一第二存儲模組及一顯示模組，所述命令為一讀命令，所述IIC讀寫模組用於讀取所述資料並存儲所述資料於所述第一存儲模組中，所述第一控制模組還用於藉由所述信號收發模組發送所述資料給所述第二控制模組，所述第二控制模組還用於存儲所述資料於所述第二存儲模組並顯示所述資料於所述顯示模組上。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之調試系統，其中所述IIC讀寫模組用在於讀取完所述資料後發送一讀取完成之信號給所述第一控制模組，所述第一控制模組用在於接收到所述讀取完成之信號後從所述第一存儲模組中獲取所述資料併發送給所述第二控制模組。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之調試系統，其中所述命令為一寫命令，所述寫命令包括一寫指令、一對應所述IIC設備之位元址及一寫入資料，所述第一控制模組用於寫入所述寫入資料於所述IIC設備中。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之調試系統，其中所述電腦還包括一顯示模組，所述IIC讀寫模組還用在於寫入所述寫入資料於所述IIC設備後發送一寫入完成信號給所述第一控制模組，所述第一控制模組還用於將所述寫入完成信號藉由所述信號收發模組發送給所述第二控制模組，所述第二控制模組還用於顯示所述寫入完成信號於所述顯示模組上。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之調試系統，其中所述調試裝置還包括一連接所述信號收發模組之第一無線模組，所述電腦還包括一連接所述第二控制模組之第二無線模組，所述對應之資料用於藉由所述第一無線模組傳送給所述第二無線模組。
  7. 一種調試方法，應用於一調試系統中，所述調試系統包括一調試裝置及一電腦，所述調試裝置連接一IIC設備，其改進在於：所述調試方法包括：
    所述電腦發送一輸入之讀命令給所述調試裝置；
    所述調試裝置根據所述讀命令讀取所述IIC設備上之資料並存儲所述資料；
    所述調試裝置發送所述資料給所述電腦；
    所述電腦存儲所述資料並顯示所述資料。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之調試方法，其特徵在於：所述調試裝置藉由無線方式發送所述資料給所述電腦。
  9. 如申請專利範圍第7項所述之調試方法，其中所述調試裝置包括一微控制單元，所述微控制單元從所述IIC設備上讀取所述資料。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之調試方法，其中所述調試裝置包括一用於指示所述微控制單元之工作狀態之LED燈。
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