TW201316689A - 震盪器校正裝置以及震盪器校正方法 - Google Patents

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Abstract

一震盪器校正裝置包含有一計數器、一比較器以及一調整單元。該計數器係用來接收一第一時脈訊號以及一第二時脈訊號，且使用該第一時脈訊號來對該第二時脈訊號進行取樣以得到至少一計數值，其中該第一時脈訊號由一第一震盪器所產生，且該第二時脈訊號由不同於該第一震盪器之一第二震盪器所產生；該比較器耦接於該計數器，且用來比較該計數值與一預定值以產生至少一校正訊號；該調整單元係耦接於該比較器，且用來依據該校正訊號以調整該第二震盪器的頻率。

Description

震盪器校正裝置以及震盪器校正方法
本發明係有關於一種震盪器校正裝置，尤指一種應用於使用兩個震盪器來進行操作之電子裝置的震盪器校正裝置。
在一些使用像素記憶體(Memory In Pixel，MIP)技術或是主動矩陣有機發光二極體(Active Matrix Organic Light Emitting Diode，AMOLED)面板的行動電話中，內建於其中的驅動積體電路會具有兩個用來產生不同頻率的震盪器，其中具有較快頻率的震盪器(例如10MHz)通常是使用於行動電話的一正常模式操作，而具有較慢頻率的震盪器(例如10KHz)通常是使用於行動電話的一省電模式操作，例如MIP驅動積體電路中的保持模式(hold mode)或是AMOLED驅動積體電路中的調暗低功率模式(dimmed low power mode)。
由於半體體製程上的不穩定因素，驅動積體電路中的震盪器必須要經過校正後才能交貨給客戶，但由於校正具有較低頻率的震盪器需要很多的時間，因此，會增加驅動積體電路的測試時間成本。
因此，本發明的目的之一在於提供一種震盪器校正裝置以及相關方法，其可以使用具有較快頻率的震盪器來校正具有較慢頻率的震盪器，因此，具有較慢頻率的震盪器便不需要由製造商來進行校正，以解決上述有關於測試時間成本的問題。
依據本發明一實施例，一震盪器校正裝置包含有一計數器、一比較器以及一調整單元。該計數器係用來接收一第一時脈訊號以及一第二時脈訊號，且使用該第一時脈訊號來對該第二時脈訊號進行取樣以得到至少一計數值，其中該第一時脈訊號由一第一震盪器所產生，且該第二時脈訊號由不同於該第一震盪器之一第二震盪器所產生；該比較器耦接於該計數器，且用來比較該計數值與一預定值以產生至少一校正訊號；該調整單元係耦接於該比較器，且用來依據該校正訊號以調整該第二震盪器的頻率。
依據本發明另一實施例，一震盪器校正方法包含有：接收一第一時脈訊號以及一第二時脈訊號，且使用該第一時脈訊號來對該第二時脈訊號進行取樣以得到至少一計數值，其中該第一時脈訊號由一第一震盪器所產生，且該第二時脈訊號由不同於該第一震盪器之一第二震盪器所產生；比較該計數值與一預定值以產生至少一校正訊號；以及依據該校正訊號以調整該第二震盪器的頻率。
在說明書及後續的申請專利範圍當中使用了某些詞彙來指稱特定的元件。所屬領域中具有通常知識者應可理解，硬體製造商可能會用不同的名詞來稱呼同一個元件。本說明書及後續的申請專利範圍並不以名稱的差異來作為區分元件的方式，而是以元件在功能上的差異來作為區分的準則。在通篇說明書及後續的請求項當中所提及的「包含」係為一開放式的用語，故應解釋成「包含但不限定於」。此外，「耦接」一詞在此係包含任何直接及間接的電氣連接手段，因此，若文中描述一第一裝置耦接於一第二裝置，則代表該第一裝置可直接電氣連接於該第二裝置，或者透過其他裝置或連接手段間接地電氣連接至該第二裝置。
請參考第1圖，第1圖為依據本發明一實施例之一震盪器校正裝置100的示意圖。如第1圖所示，震盪器校正裝置100包含有一計數器130、一比較器140、一設定單元150以及一調整單元。於本實施例中，震盪器校正裝置100係設置於應用於一行動電路的一驅動積體電路中。
於本實施例中，震盪器校正裝置100耦接於一第一震盪器110以及一第二震盪器120，其中第一震盪器110用來產生一第一時脈訊號OSC_F，且第一時脈訊號OSC_F具有較快的頻率(約10MHz)，而第二震盪器120用來產生一第二時脈訊號OSC_S，且第二時脈訊號OSC_S具有較慢的頻率(約10KHz)。此外，第一震盪器110在工廠階段便已經被校正過，因此具有精確的頻率；而第二震盪器120在工廠階段並沒有被校正過，因此其頻率可能並非是所需的頻率。
另外，於本實施例中，從第一震盪器110所產生的第一時脈訊號OSC_F係使用於行動電話的一正常模式操作，例如用來提供邏輯時脈、抽送時脈(pumping clock)以及背光源時脈等等；另外，從第二震盪器120所產生的第二時脈訊號OSC_S則使用於行動電話的一省電模式操作，例如MIP驅動積體電路中的保持模式(hold mode)或是AMOLED驅動積體電路中的調暗低功率模式(dimmed low power mode)。
在震盪器校正裝置100的操作上，計數器130接收第一時脈訊號OSC_F與第二時脈訊號OSC_S，且使用第一時脈訊號OSC_F來對第二時脈訊號OSC_S進行取樣操作以產生一計數值CV。請參考第2圖，第2圖為依據本發明一實施例之利用第一時脈訊號OSC_F來對第二時脈訊號OSC_S進行取樣的示意圖，如第2圖所示，計數器130可以計算在時間T1或是時間T2內有多少個第一時脈訊號OSC_F週期來決定出計數值CV。
比較器140比較計數值CV與一預定值α以產生一校正訊號Vcal，其中預定值α為一理想的計數值CV。舉例來說，假設第一震盪器110與第二震盪器120的頻率分別為10MNz與10KHz，則預定值α應該被設為“1000”。
調整單元160接收校正訊號Vcal，並依據校正訊號Vcal以產生一控制訊號ADJ以調整第二震盪器120的頻率。舉例來說，如果校正訊號Vcal指出第二震盪器120的頻率低於理想的頻率(亦即計數值CV小於預定值α)，則調整單元160產生控制訊號ADJ以增加第二震盪器120的頻率；若是校正訊號Vcal指出第二震盪器120的頻率高於理想的頻率(亦即計數值CV大於預定值α)，則調整單元160產生控制訊號ADJ以降低第二震盪器120的頻率。
於另一實施例中，為了避免雜訊干擾，計數器130會重複上述的計數步驟(亦即使用第一時脈訊號OSC_F來取樣第二時脈訊號OSC_S)多次以產生複數個計數值CV，接著，比較器140分別將複數個計數值CV與預定值α作比較，以產生複數個校正訊號Vcal，而調整單元160再參考複數個校正訊號Vcal來調整第二震盪器120的頻率，亦即調整單元160在接收到複數個校正訊號Vcal之前不會調整第二震盪器120的頻率。
上述用來校正第二震盪器120之頻率的步驟在行動電話每次開機時都會執行一次，換句話說，上述校正步驟係於行動電話的一開機流程(power on flow，約120ms的時間長度)中被執行。
此外，在某些情況下，面板製造商或是行動電話製造商會自己去調整第一震盪器110的頻率，例如將頻率從10MHz調整至11MHz，而在這種情況下，比較器140的操作需要被改變以避免產生錯誤的校正訊號。為了解決此問題，設定單元150提供了一比例參數K至比較器140，其中比例參數K係關聯於第一震盪器110的頻率，舉例來說，假設第一震盪器110的頻率由10MHz被調整為11MHz，則比例參數K則會被設為“1.1”；而假設第一震盪器110的頻率由10MHz被調整為12MHz，則比例參數K則會被設為“1.2”，以此類推。接著，比較器140使用比例參數K來調整計數值CV以產生一調整後計數值(例如，將計數值CV除以比例參數K來得到調整後計數值)，並比較調整後計數值與預定值α以產生校正訊號Vcal。
需注意的是，上述關於比例參數K與調整後計數值的計算步驟僅為一範例說明，而並非作為本發明的限制。
請參考第3圖，第3圖為依據本發明一實施例之震盪器校正方法的流程圖。參考第3圖，流程如下所示：步驟300：接收一第一時脈訊號以及一第二時脈訊號，且使用該第一時脈訊號來對該第二時脈訊號進行取樣以得到至少一計數值，其中該第一時脈訊號由一第一震盪器所產生，且該第二時脈訊號由不同於該第一震盪器之一第二震盪器所產生；步驟302：比較該計數值與一預定值以產生至少一校正訊號；步驟304：依據該校正訊號以調整該第二震盪器的頻率。
簡要歸納本發明，於本發明之震盪器校正裝置與相關方法中，在行動電話每一次開機的時候，一校正過且具有較快頻率的震盪器係被用來校正另一個具有較慢頻率的震盪器，因此，具有較慢頻率的震盪器不需要在工廠階段被校正，因此可以節省時間成本。
以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。
100．．．震盪器校正電路
110．．．第一震盪器
120．．．第二震盪器
130．．．計數器
140．．．比較器
150．．．設定單元
160．．．調整單元
300~304．．．步驟
第1圖為依據本發明一實施例之一震盪器校正裝置的示意圖。
第2圖為依據本發明一實施例之利用第一時脈訊號來對第二時脈訊號進行取樣的示意圖。
第3圖為依據本發明一實施例之震盪器校正方法的流程圖。
100．．．震盪器校正電路
110．．．第一震盪器
120．．．第二震盪器
130．．．計數器
140．．．比較器
150．．．設定單元
160．．．調整單元

Claims (10)

  1. 一種震盪器校正裝置，包含有一計數器，用來接收一第一時脈訊號以及一第二時脈訊號，且使用該第一時脈訊號來對該第二時脈訊號進行取樣以得到至少一計數值，其中該第一時脈訊號由一第一震盪器所產生，且該第二時脈訊號由不同於該第一震盪器之一第二震盪器所產生；一比較器，耦接於該計數器，用來比較該計數值與一預定值以產生至少一校正訊號；以及一調整單元，耦接於該比較器，用來依據該校正訊號以調整該第二震盪器的頻率。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之震盪器校正裝置，其中該計數器使用該第一時脈訊號來對該第二時脈訊號進行取樣以得到複數個計數值，該比較器分別將該複數個計數值與該預定值作比較以得到複數個校正訊號，且該調整單元在該複數個校正訊號被產生前不會調整該第二震盪器的頻率。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之震盪器校正裝置，其中該比較器使用一比例參數來調整該計數值以得到一調整後計數值，且該比較器比較該調整後計數值與該預定值以產生該校正訊號。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之震盪器校正裝置，另包含有：一設定單元，耦接於該比較器，用來依據該第一時脈訊號的頻率來設定該比例參數。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之震盪器校正裝置，其中該震盪器校正裝置係應用於一行動電話，以及當該行動電話每一次開機時，該震盪器校正裝置均會調整該第二震盪器的頻率。
  6. 一種震盪器校正方法，包含有接收一第一時脈訊號以及一第二時脈訊號，且使用該第一時脈訊號來對該第二時脈訊號進行取樣以得到至少一計數值，其中該第一時脈訊號由一第一震盪器所產生，且該第二時脈訊號由不同於該第一震盪器之一第二震盪器所產生；比較該計數值與一預定值以產生至少一校正訊號；以及依據該校正訊號以調整該第二震盪器的頻率。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之震盪器校正方法，其中使用該第一時脈訊號來對該第二時脈訊號進行取樣以得到該至少一計數值的步驟包含有：使用該第一時脈訊號來對該第二時脈訊號進行取樣以得到複數個計數值；以及比較該計數值與該預定值以產生該至少一校正訊號的步驟包含有：分別將該複數個計數值與該預定值作比較以得到複數個校正訊號；以及依據該校正訊號以調整該第二震盪器的頻率的步驟包含有：在該複數個校正訊號被產生前不會調整該第二震盪器的頻率。
  8. 如申請專利範圍第6項所述之震盪器校正方法，其中比較該計數值與該預定值以產生該至少一校正訊號的步驟包含有：使用一比例參數來調整該計數值以得到一調整後計數值；以及比較該調整後計數值與該預定值以產生該校正訊號。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之震盪器校正方法，另包含有：依據該第一時脈訊號的頻率來設定該比例參數。
  10. 如申請專利範圍第6項所述之震盪器校正方法，係應用於一行動電話，以及當該行動電話每一次開機時，均會調整該第二震盪器的頻率。
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