TW201118392A - Testing device for a passive component embedded in SIP - Google Patents

Description

201118392 々、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於-種内嵌於系統級封裝之被動元件測試装 置，特別是關於-種内巍於系統級封裝之被動元件測試裝置， 其可利用-環型振盡器及-計數器連接測試一被動元件。 【先前技術】 一般而言，習⑽試方法只能依賴設備麵所提供的測 试機進行測試產品。對於目前測試系統縣技術内部的基底， 設備薇商所提供的職顧〔如撕卡〕必須是依據顧客的 特疋規格需求進行特別設計。因此，每—批新產品皆需要一组 ^的測試顧，因而導剌試成本偏高，特別是測 本偏高。 在測試作業上，KGD、KGES、KGEM指標 :試〔wafer test〕’但是晶圓測試一般都是測試成本比:昂 貝。若針對RF基底之被動元件〔如遽波器〕進行測試時，每 種〜十規格的濾波器就需要一種Μ探針卡〔即p論 獅〕。事實上’肝探針卡的成本都相當昂責，蚁由於每 =定規格探針卡只能使軸單—特定產品，因此其測試成本 居Γ5^不下。 為了降低職成本’縣元件在每次更換產品規格時， 必須避免錢_元_試«整侧賴ϋ。，目前 業界存麵纽正賴脑的f求，縣顿度修正測試儀

C:\Top World Patent & TM 〇mce\P〇9〇45TW 201118392 =，甚至紅整個職儀ϋ，以便單—_元_試裝置可適 用於被動元件的多種規格。—旦單—被動元件測試裝置可適用 於被航件的多種規格時，即可改善以往_需要更換測試設 備的問題。 有關被動元件測試技術僅揭示於部分專彻容。例如， 中華民國專利公告第1227099號之、、可測試被動元件電性之晶 片承载件及其測試方法，，、中華民國專利公告第別號之 • 、、可測試触元件電性H峨件及麵試方法〃、中華民 國專利公綠12號之 '、可對被動元件作電性測試之晶片 承載件及其測試方法'中華民國專利公告第·%號之、'可 測試被動元件電性之晶片承載件及其測試方法'中華民國專 利a σ第345713说之翻於積體電路電性測試之測試鍵與 探針卡的連接架構〃及美國專利第7，119,565號之、'啊 and method for testing electrical performance of passive # =Ρ〇1^。前述諸專利僅為本發明技術背景之參考及說明目 剛技術發展狀態而已，其並非用以限制本發明之範圍。 有鑑於此，本發明為了滿足上述需求，其提供一種内鼓 於系統級雜之被動元件測試裝置，其—環型振盪器及一 計數器連·m-被動元件，並糊該環型振盪器之振盡訊號 響應該被動元件’且計數該環型振盤器之振盤訊號之頻率，以 達成測試被動元件之目的。 【發明内容】

4 C:\Top World Patent & TM Office\P〇9〇45TW 201118392 —本發明之主要目的係提供-種内嵌於系統級封裝之被動 兀件測置，其湘至少—雖物f元件在水下接觸吸附一 可磁吸目標物，且該磁性物質树連接-舰，以達成水下標 定目標物之目的。 為了達成上述目的’本㈣健實補之内嵌於系統級 封裝<被動元件測試裝置包含： -振盈益’其連接顺—待啦路，麟測電路包含一 被動元件’以便綱該紐器之振盪訊號響應該被動元件； 十數單元其連接至该振盪器，以便計數該振盈器之 振盈訊號之頻率；及 -控制電路’其連接至該振B，以便控制該振盈器； /、中利用$振in之振盈訊號之鮮之正常或不正常可 決定該被動元件之良品或不良品。 本毛明較佳實施例之該振盈器選自一環型振I器。 本發明較佳實施例之該環型振盪器包含數個反相器，且 數個該反相器之間進行串接。 本發明較㈣補之該控魏路連接錄麵反相器之 —· 〇 本發明較佳實施例之該計數單元選自一計數器。 本發明較佳實施例之該計數器為一非同步計數器。 本發明較佳實施例之該控制電路採用一有限狀態機。 本發明較佳實施例之該振盪器及待測電路之間連接一電

5 C:\Top World Patent & TM Office\P09045TW 201118392 阻。 本發明較佳實施例之該紐ϋ及待測之間 阻及一電感。 【實施方式】 為了充分瞭解本發明，於下謂例舉較佳實施例並配合 所附圖式作詳細說明，且其並非用以限定本發明。 本發明較佳實施例之内嵌於系統級封裂之被動元件測試 • 裝置可適當組裝於被動元件測試裳置或被動元件測試平台，但 其並非用以限定本發明之應用範圍。另外，本發明較佳實施例 之内嵌於級級封裝之被動元件測試裝置亦可組裝應用於其 它元件或待測電路之測試褒置，但其並非用以限定本發明之岸 用範圍。 第1圖揭示本發明第一較佳實施例之内般於系統級封裝 之被動it侧試裝置之架構示意圖；第2關示本發明第一較 Φ ㈣施例之内敢於系統級封裳之被動元件測試裝置及制電 ★ p Under test ’ CUT〕之架構示意圖；第3圖揭示本發明 "彳實〜例之内肷於系統級封裝之被動元件測試裝置及 ^^，接自動測試機〔_喊ie test equipment，鎖之 ’〜圖…曰示本發明第一較佳實施例結合於自動測試設 備之2術手段，但其並_崎定本發明之範圍。 />…苐1及2圖所示，本發明第一較佳實施例之内嵌 、、系4及封裝之被動几件測試袭置包含一振蓋器卜一計數器 r ί~· -*

6 C:\Top World Patent & TM Office\P09045TW 201118392 〔即計數單幻2及-控制電路3，且該振抑丨連接至一待 測電路，該待測電路包含一被動元件。該内欲於系統級封裝之 被動το件測試裝置用以測試該待測電路，但其並非用以限定本 發明之範圍。 晴再參照第1及2圖所示，本發明第—較佳實施例之該 振盪器1連接測試該被動元件，該被動元件位於該待測電路， 以便利用該振4器1之振盤訊號響應該被動元件。本發明較佳 鲁實施例之該振盪器1選自i型振盈器〔ring 〇sdllat〇r〕。本 發明較佳實施例之該麵紐II包含數個反相器，其為奇數個 反相态，且數個該反相器〔inverter〕10之間進行串接，但其 並非用以限定本發明之範圍。 睛再參照第1及2圖所示，本發明第一較佳實施例之該 计數為2連接至該振盪器丨’以便計數該振盪器丨之振盪訊號 之頻率。利用該計數器2計數該振盪頻率是否發生變化，以便 _ 判疋補^|彳電路及㈣元件是否正常。糊該減器I之振盈 訊號之頻率之正常或不正常可決定該被動元件之良品或不良 品，但其並非用以限定本發明之範圍。本發明較佳實施例之該 汁數單元選自一般計數器或等效計數單元。本發明較佳實施例 之°亥。十數器2為一非同步計數器〔aSynchronous c〇unter〕。 5月再參照第1及2圖所示，本發明第一較佳實施例之該 控制電路3採用一有限狀態機 〔Finite State Machine〕。請參 ’、、、第1、2及3圖所示，本發明第一較佳實施例之内嵌於系統

7 C:\Top World Patent & TM 〇ffice\P09045TW 201118392 級封裝之被動元件測試展置結合於一探針卡〔pr〇be card〕， 並連接一自動測試機’如第3圖所示。 6月再參照第2及3圖所示，該控制電路3只需提供開 〔ON〕與關〔GFF〕兩個動作’因此其只需要兩個狀態訊號 及一個重置〔reset〕訊號。每一次的測試皆經由職t訊號控 制’將4有限狀，錢之時脈〔dQek〕設定為測試所需時間， 經過-個聊之後’即送出—個_訊號至練盪器丨，以便 關閉該振盪器1。 請再參照第3圖所示，將該控制電路3之時脈訊號〔clk〕 及重置訊號〔_〕由自動測試機傳輸至探針卡，將該計數器 2之輸出〔counter 0utput〕訊號〔n〕自探針卡傳輸至自動測 試機。 請參照第4圖所示，本發明第二較佳實施例之内鼓於系 祕封裝之被動元件職裝置另包含—餘4。她於本發明 第-較佳實補’本翻第二較佳實施狀職盪器】及待測 電路之間連接該電阻4。 / %再參照第4圖所示，本發明第二較佳實補之内嵌於 糸統級封f之被動元件測試衫之其它_對應於第—較佳 實施例’於此併人參考，不轉細贅述。 月 > “、、第5圖所示，本發明第三較佳實施例之内嵌於系 驗封裝之被航件職裝置純含—餘4及-電感5。相 車乂於本發㈣—麵實關，本發明第三触實_之該振盈 Γ ··

8 C:Vr〇P worl<* Patent & TM Office\P〇9〇45TW 201118392 器i及待親樓_阻4纖5， 詳細贅述。 前述較佳實施罐舉例朗本發明及其技觸徵，該實 施例之技術仍可適當進行各種實質等效修飾及/或替換方式二 以實施；.因此，本發明之權利範圍須視後附申請專利範圍所界 定之範圍為準。

9 C:\Top World Patent & TM Office\P09045TW 201118392 【圖式簡單說明】 第1圖：本發明第-較佳實施例之内嵌於 被動元件測試裝置之架構示意圖。 、4、，及封裝之 第2圖··本發明第一較佳實施例之 被動元件測試裝置及待測電路〔CUT〕之級封裝之 第3圖··本發明第—較佳實施例之内嵌於 \ 試裝置及待測電路連接自動測試機〔：〕ί; 被動二===崎級封裝 第5圖：本發明笛：， 被動元件_錄㈣統級封裝 之 【主要元件符號說明】 1 2 3 4 振盛器 計數器 控制電路 電阻 電感 10 反相器

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Claims (1)

1. 201118392 七、申請專利範圍： 卜-種内嵌於系統級封I之被動元件顧裝置，其包含： 一減器’其連接測試—待測電路，該待測電路包含一被 動元件，以制_振盪n之縫峨㈣該被動元件； 一計數單it，其連接至該振㈣，以便計數該振盈器之振 盪訊號之頻率；及 控制電路’其連接至該振盡器，以便控制該振篮器； • 其中利用該振盤器之振藍訊號之頻率之正常或不正常可決 定該被動元件之良品或不良品。 2、 依申請專利範圍第1項所述之内嵌㈣統級封裝之被動元 件測試裝置，其中該振i器選自一環型振盪器。 3、 依申請專利翻第丨項所述之内嵌於系統級封裝之被動元 件測試裝置’其中該環型缝器包含數個反相器，且數個該反 相器之間進行串接。 • 4、依申請專利範圍第3項所述之内嵌於系統級封裝之被動元 件測試裝置，其中該控制電路連接至數麵反相器之一。 5、 依申請專利細第i項所述之内嵌於純級封裝之被動元 件測試裝置，其中該計數單元選自一計數器。 6、 依申請專利範圍第5項所述之内嵌於系統級封裝之被動元 件測試裝置’其巾該計數H為—非同步計數器。 7、 依申請專概㈣1項所述之内嵌於彡統級縣之被動元 件測試裝置，其中該控制電路採用一有限狀態機。 r Π C:\Top World Patent & TM 〇ff,Ce\P09045TW 201118392 電阻 感 9、依申請專利翻第1項所述之岐於系統級封I之被動元 件測試裝置，其中該振盪器及待測電路之間連接—電阻及一電

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