TW200909812A - Testing means for use in loading fixture of elements - Google Patents

Testing means for use in loading fixture of elements Download PDF

Info

Publication number
TW200909812A
TW200909812A TW96130639A TW96130639A TW200909812A TW 200909812 A TW200909812 A TW 200909812A TW 96130639 A TW96130639 A TW 96130639A TW 96130639 A TW96130639 A TW 96130639A TW 200909812 A TW200909812 A TW 200909812A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
pick
component
inspector
sensing device
light
Prior art date
Application number
TW96130639A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI342950B (en
Inventor
Ming-Da Xie
Original Assignee
Hon Tech Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hon Tech Inc filed Critical Hon Tech Inc
Priority to TW96130639A priority Critical patent/TWI342950B/zh
Publication of TW200909812A publication Critical patent/TW200909812A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI342950B publication Critical patent/TWI342950B/zh

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Description

200909812 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 ^本發明係提供一種可便利於取放器内裝設檢查器而不佔機台 二間=並使檢查器精確檢查承載治具之承載狀態及電子元件擺置 狀態是否異常’達到更加便魏置及提升使用制性之 治具之感測裝置。 【先前技術】 ,現今’電子元件如IG、記針、電子機板···等,於生產過 =或於完成製倾it行制健,其鱗細麵手臂取放於 ί載ϊί上進行輸送健’以逐站進行各項的加王作*或檢測作 ί在逐ί進行各項加讀#或檢測作業時,由於機械手 ίίίϊΐί牛的過程中,並非每次均能精確將電子元件置入 2載b具中’亦或將電子元件精準平置於承載治具中,若發生 Ι 件或電子元件傾斜擺置等異常情形,且又没有即時 進仃異吊排除,當承載治具位移至下一工作站 豆 站作業流程將會發生作動異常之_,因此,目前^子= 之會設置感測器,以感測承載治具承載= 1疋否異巾’亦或奸耕之缝如發 «月參閱第1、2圖’目則機台上應用之承載 式的定位料或為移減__纟,可為固定 感測端32,以感測電子元件2對於發射 =為接收 遮光量異常時,立即將感測訊號傳輸量,若 進行異常排除;惟,此—檢查承茲,以控制機台停機 下缺失: 傾/σ具之方式’於使用上具有如 200909812 1由於光政式感測器係以一發射光源31發射光束,並搭配另 一接收感測端3 2接收光束,以致業者於機台上裝配光散式 感測器時,必須將發射光源31及接收感測端3 2之裝設位 置及使用高度作一精準對位’造成裝配作業繁瑣不便之缺失。
2 ·業者為確實檢查承載治具丄之各定位槽丄否承載異常及 電子元件2是否擺置異常,係於機台上相對應各定位槽工工 之兩側方均配置有一組由發射光源3丄及接收感測端3 2組 成之光政式感測器,右承載治具1之定位槽11數量繁多, 則光散式感測器之配置數量也相對增加,以致相當佔^機台 空間’造成不利機台相關裝置配置之缺失。 口 3.由於各工作站可能依作業需求而分別設置承載治且1,若 破實檢查各卫作站承載治具!之各定位槽丨i是^承載異常 及電子7G件2是麵置異常,則必須於各卫伽之各承載户 具1側方配置相對應定位射i數量之紐式感測器,以^ 整個機器設備所f裝配之光散式❹指數量相t繁多 組裝耗時’更加耗費成本。 、 =,如何設計-種可制設置檢查器,而不佔機台空間,並 3 狀態,及大崎低成本之感測 【發明内容】 之·!的—,係提供_種元件承载治具之制裝置,該 ίίϊϊϊϊ 承載元件之定⑽,以餘放11取放元件, 於該取放器之内部震設有檢查器,該檢查器係以線路連 絲承載元件之承載治具定位槽時,該檢 G,亦,而檢妓位槽承載元件是否 =異=於==設檢查器,使檢査器=檢=治 置控制機台停機進行異常排除,達到更 200909812 本發明之目的一,係提供一種元件承載治具之感測裝置,該 承載治具係設有用以承載元件之定位槽,以供取放^取放元件, 其主要,於喊n與承载治具之定位制财—姉互配合使用 之檢查器,該檢查器係以裝設於取放器上之投光元件,其投射至 ,載治具定位,上之光束衫被物件雜,使受光元件將受光訊 號傳輸至控制器;藉此,可便利於取放器與承載治具之定位槽間 裝設一^相配合使用之檢查器,並使檢查器精確檢查承载治具之 異常狀態’❼由控制器控制機台停機進行異常 利組裝配置之實用效益。 本發明之㈣三,顧職置係練放紅|設檢查器,並 ^取放器對應至承載治具之定位槽時,崎查器檢查定位槽之显 Ιί大態、,,因此,、毋須視承載治具之定位槽數量而繁瑣於機台上設 置數組絲式感測器’使感測裳置之配置不侣空 台空間配置之實収益。 % 的四’該感測裝置係於取放11上裝設檢查器,使 軸至不同工細,峨查該站承載治具之異 於各卫作站均裝設光散式感測器,而可使檢 應用於不同工作站,達到節省成本之實用效益。 心,4委_本發明作更進—步之瞭解,兹舉一較佳 實施例並配合圖式,詳述如后: 閱ϋ圖所示,本發明可應用於1 c、記憶卡、電子機 通试分類機,該測試分類機係設有可作至少一軸向 1,並於承架41上震設至少一用以取放電子元件 該取放器4 2之内部係具有通氣道42 1,而通 ^端係貫通至取放器4 2底面,並於側方設有氣體 定位件41 器,2之通氣道4 2 1内部頂面以 (微型二ΪΓ 該檢查器可為-CCD43 (微型化電响合器)之影像感絲,並使C CD 4 3位於通氣 200909812 以置,且以線路連接用以判別及分析資料之控 電子該;試分類機之工作站係設有用以承載 位移至ΐ載電子70件6 〇,於承架4 1帶動取放器4 2 C C D1具51之上方’並對應於其定位槽51 1時,由於 2 ^裝設於取放器42之内部,而隨取放器42同步移 511少傻用^ D 4 3由上向下取像承載治具51之定位槽 柄,並將影像資料傳輸至控制器,由控制器作一_分 早-二,治具5 t之定位槽5 1 1影像資料判斷為正常承载電 工疋从。Q ’控制11再控制取放114 2取出定位槽5 11中之電 疋咬会0 ’並將電子祕6 ◦移載至下—預設位置接續作業。 雷^;^第5圖所示,#承載治具5 1之定位槽5 1 1未承載 時’該C c D 4 3於取像承載治具5丄找位彳 ίϊί丄即將影像龍傳輸至控制器,控制器亦作—判別分析十 及料^槽5 1 1為承載異常之情形’控制器係控制機台停機 辈it:以告知操作人員進行異常排除,而避免後續作 業發生錯誤,達到有效提升作業之順暢性。 f參閱第6、7圖所示,本發明感崎置之檢查器 感應器’其具有-雷射投光元件4 4 i及受光元件4 4 2,^ 路連接至控制器,當承架4丨帶動取放料2位移至承 杜二·! 1之上方,並對應於其定位槽5 1 1時,該雷射投光元 件441係以雷射光束照射定位槽511, ==受光元件442,該受光元件4二 、貝4(如反射之入光置或反射之距離)傳輸至控制器,該控制 200909812 :〇 T若ί別二以判斷定位槽511是否正常承載電子元件 子,位槽⑴中之電 操作人員進行異常排除,進而避免後續作業 七生,’達到有效提升作業之順暢性。 4 〇_示’係為本發明感測裝置於取放器 之實二:、仏之定位槽5 1 1間設置一組不同類型檢查器 威器可為—透過型光電感應器,該透過型光電 心 =4 2之内部設置投光元件4 5 1,並以線路連 件^ J、於t載^具5 1之各粒槽5 1 1下方裝設受光元 蔣ί ^ i Γ路連接控制器’於承架41帶動取放器4 2位 技!ΐ 51之上方’並對應於其定位槽511時,該投光 5 1係發射光束照射定位槽5 i i,若光束被物件遮住, 以具5 1下方之受光元件4 5 2未接收到光束,則受光 5 2係傳輸職至控制n,該控制器即判斷承載治具5工 槽5 1 1正常承載電子元件6 Q,並控制取放器4 2取出 =位槽5 1 1中之電子树6 〇,而移載至下—預設位置接續作 業,反之,若光束未被物件遮住,以致承載治具5丄下方之受光 元件4 $ 2接收到光束’該受光元件4 5 2亦傳輸訊號至控制器 ’控制器即判斷承載治具51係為未承載電子元件6 〇之異常狀 態,即控制機台停機及發出警告顯示,以告知操作人員進行異常 排除’進而避免後續作業發生錯誤,達到有效提升作業之順暢性。 請參閱第11、12圖所示,係為本發明感測裝置於取放器 42與承載治具50之定位槽511間設置一組不同類型檢查器 之實施例’該組檢查器可為-組鏡面反射型光電感應器,該鏡面 反射型光電感應器係於取放器42之内部設置有投光元件46工 200909812 及受光元件4 6 2,並各以祕輕控制 2定位槽5 1 1上裝設反射鏡4 6 3,於承治具5 1 4 2位移至承載治具5 1之上方,並對應於動取放器 114 6 1之投光元件4 6 1係發射光&照射H ^ ’ ’若光束被物件遮住,以致反射鏡4 6 3未射、θ 5 1 1 件4 6 2,則受光元件4 6 2係傳輸==反=元 判斷承載治具5 1之雜槽5 1 1正常承载電=件=制器即 制取放器4 2取出定位槽5丄丄中之電子=件=控 -預雜置接續作業’反之,若光束未被物件雜,以致反射^ 4 6 3將*束反射至受光元件4 6 2,則受光元件4 6 2於接= 到反射光後,亦傳輸訊號至控制器,控制器即判斷承載治具5工 之定位槽51 1係為未承載電子元件6 Q之異常狀態,即控制機 台停機及發出警告顯示,以告知操作人員進行異常排除,進而避 免後續作業發生錯誤,達到有效提升作業之順暢性。 據此,本發明可便利於取放器上裝設檢查器而不佔機台空間 ,以利機台空間配置’並使檢查器變換應用於不同工作站而可節 省成本’實為一深具實用性及進步性之設計,然未見有相同之產 品及刊物公開,從而允符發明專利申請要件,爰依法提出申請。 【圖式簡單說明】 第1圖:習式承載治具感測裝置之架構圖。 第2圖:習式承載治具感測裝置之感測示意圖。 第3圖:本發明承載治具感測裝置之架構圖。 第4圖:本發明感測裝置第一種檢查器於檢查承載治具之承載狀 態正常示意圖。 第5圖:本發明感測裝置第一種檢查器於檢查承載治具之承載狀 態異常示意圖。 第6圖:本發明第二種檢查器於檢查承載治具之承載狀態正常示 意圖。 第7圖:本發明第二種檢查器於檢查承載治具之承載狀態異常示 200909812 意圖。 第8圖本發明第—種檢查器於檢查電子元件擺置狀態異— 圖。 中不意 第9圖:明第三種檢查器於檢查承載治具之承载狀態正常示 第1 0圖:本翻第三種檢查紗檢絲絲具之承載狀綠 示意圖。 …、币 第1 1圖:本巧細纖查器於檢絲載治具之 態 不意圖。 第12圖:本發明第四種檢查器於檢查承戴治具之承載狀態異常 示意圖。 【主要元件符號說明】 〔習式〕 承載治具:1 定位槽:1 1 電子元件:2 發射光源: λ 1 接收感測端:3 2 〔本發明〕 承架:4 1 取放器:4 2 通氣道:4 21 氣體管路: 4 2 2 定位件:4 2 3 C CD : 4 3 雷射投光元件:4 41 受光元件: 4 4 2 投光元件:4 51 受光元件: 4 5 2 投光元件·· 4 6 1 受光元件: 4 R 9 反射鏡:4 6 3 承載治具:51 定位槽:5 11 電子元件:6 0

Claims (1)

  1. 200909812 、申請專利範圍: 1 2 4 7 器’該檢査器並以i路連接控於ΐί 位槽時,查器檢查:: ,申請專利範圍第1項所述之树承載治呈之 中’該取放器之内部係設有通氣道,Lit氣 以定位件裝設檢查ϋ。 现逍㈣之㈣頂面 t申範圍第1項所述之元件承載治具之感測裝置,A 中,該取放器係裝設於一可移動式之承架上。 八 Γΐίΐ範圍第1項所述之元件承載^具之感測裝置,其 係為—影佩應11,該影像感應11係為-微型 化電荷耦合器(c C D )。 =申請專利翻第1摘述之元件承載治具之_裝置,盆 中,該檢查器係為一雷射感測器。 ,申》η專利範圍第5項所述之元件承载治具之感測裝置,盆 中,該雷射感應器係具有-雷射投光元件及受光元件。八 依申請專麵圍第1項所述之元件承條具之感測裝置,其 中,該檢查器係為一透過型光電感應器,其係於取放器之^ 部裝设投光元件’並於承載治具之定位槽下方裝設受光元件。 依申請專利範圍第7項所述之元件承載治具之感測裝置,其 中,該取放器係於内部開設有通氣道,並於通氣道之内部頂 面以定位件裝設檢查器之投光元件。 依申請專利範圍第1項所述之元件承載治具之感測装置,其 中,該檢查器係為一鏡面反射型光電感應器,其係於取放器 之内部裝設投光元件及受光元件,並於承載治具之定位槽上 裝設反射鏡。 •依申請專利範圍第9項所述之元件承載治具之感測裝置, 12 10 200909812 其中,該取放器係於内部開設有通氣道,並於通氣道之内 部頂面以定位件裝設投光元件及受光元件。 13
TW96130639A 2007-08-17 2007-08-17 Testing means for use in loading fixture of elements TWI342950B (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW96130639A TWI342950B (en) 2007-08-17 2007-08-17 Testing means for use in loading fixture of elements

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW96130639A TWI342950B (en) 2007-08-17 2007-08-17 Testing means for use in loading fixture of elements

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200909812A true TW200909812A (en) 2009-03-01
TWI342950B TWI342950B (en) 2011-06-01

Family

ID=44724142

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW96130639A TWI342950B (en) 2007-08-17 2007-08-17 Testing means for use in loading fixture of elements

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWI342950B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2017037844A1 (ja) * 2015-08-31 2018-06-14 株式会社ハッピージャパン Ic試験システム

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2017037844A1 (ja) * 2015-08-31 2018-06-14 株式会社ハッピージャパン Ic試験システム
EP3346280A4 (en) * 2015-08-31 2019-05-08 Happyjapan, Inc. TESTING SYSTEM FOR INTEGRATED CIRCUIT
US10527669B2 (en) 2015-08-31 2020-01-07 Happyjapan, Inc. IC test system

Also Published As

Publication number Publication date
TWI342950B (en) 2011-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008076126A (ja) 測光装置及び測光方法
WO2012077881A1 (ko) 엘이디 칩 검사장치
JP2011232262A (ja) 電子部品動作機能測定装置および電子部品動作機能測定方法
JP2012004306A (ja) 部品実装機の吸着ノズル検査装置
US4200393A (en) Method of positioning a semiconductor member by examining it and a die bonding apparatus using the same
KR102393237B1 (ko) 도전성 볼 검사 리페어 장치
JP2010217109A (ja) 発光素子測定装置
KR101150865B1 (ko) 엘이디 검사장치
CN207300547U (zh) 一种全自动光斑热点测试机台
CN219996121U (zh) 一种翘料检测装置
KR101505547B1 (ko) 3차원 측정기가 구비된 인쇄회로기판 검사장치 및 이를 이용한 인쇄회로기판 검사방법
TW200909812A (en) Testing means for use in loading fixture of elements
KR101380700B1 (ko) 태양 전지 모듈을 구비한 발광소자 측정 장치 및 측정 방법
KR101632144B1 (ko) Led 패키지 검사 장치 및 방법
JPH02273485A (ja) コネクタへの電気導体の接続検査装置及び該接続検査装置を備えた自動接続装置
KR20150006955A (ko) 엘이디모듈 테스트장치
JP3835271B2 (ja) 部品検出方法、部品検出装置、icハンドラ及びic検査装置
CN107335629B (zh) 一种led打标分光机及分光测量方法
KR100479535B1 (ko) 반도체 패키지의 리드촬영장치
TWI321216B (en) Planeness measuring device and method
CN115088060A (zh) 晶片棱角缺陷检查装置和检查方法
JP3553855B2 (ja) 光半導体素子の検査装置
JP3012939B2 (ja) 半田ブリッジ検査方法およびこの方法を実施する装置
TWI755942B (zh) 測試作業機、測試機及測試設備
KR102475787B1 (ko) 혈당측정 및 진단키트용 시트의 슬리팅 및 보틀링 장치