TW200838134A - Input/output port circuit - Google Patents
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- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims description 8
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 10
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 208000003251 Pruritus Diseases 0.000 description 1
- 241001122767 Theaceae Species 0.000 description 1
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 230000009993 protective function Effects 0.000 description 1
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- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
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Description
200838134 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 流功皐電路,尤指1有阻卻外部漏電 【先前技術】 曰日片主要是透過設置於該晶W之—輪出人璋電 輪所產生之信號以及接收由外部電路輸人至晶片戈 然而在某些情況下,晶片外部電路所產生之靜制 电(Electrostatic Discharge,ESD)會經 入至_曰y 輸出入槔電路济 曰片二 片形成永久性的破壞,進而影塑 曰日片的功能,最終使得晶片無法正常工作。 办曰 請參閱第―圖,其為—制具有靜電防護裝 曰片2路之:電路示例圖。該輸出入埠電路H),設置= 卿。而輸出入璋電路〗。屬於— ,一>梅有—下峨^:路(:如 防護功能之一 Ρ型電曰#lu ^ 及具咿電放電 極、間極與基極分別;;生連接二=型電晶^ 型電晶體MP的汲極電性連接至下:=:,此外P 與外部電路14。 &⑽4 16、内部電路u 如弟一圖所示,P型電晶體鄉可使得外部電路14輿 200838134 驅動電壓源VPP間形成-電流路經(CurrentPath)。當外 部電路Η鼓-外部靜電時,外部靜電能藉由電流路二而 被導引至驅動電麼源WP,而不致於傷害晶片12。因此, 為了避免卩型包曰曰體Μρ本身或是驅動電壓源νρρ影響晶
片12原有的魏,Ρ型電晶體吻必需一直保持在;;關^ 狀態(OFF)。 J 如第ffl所示,由於p型電晶體的源極和閉極共 同電性連接至驅動電壓源vpp,因此不論鶴電壓源^
準或是低位準’ P型電晶體Mp永遠處於關閉狀態 ’因此P型電晶.體Mp本身或是 並不會影響晶片12原本的功能。 电VPP 然而’由於p型電晶體_的汲極與基極為一 p_N接 ,因此會形成一寄生二極體。在某此 當晶片12處於-斷電模J寸殊!月況下’例如 驅動電壓源wpHi MQde) (_# 驅動電_ VPP的^2 4的電齡準將高過 外部電流可能、_ p\t 魏14所產生的 寄生二極體r^至^ 極與基極所形成的 (―,心產生漏電流 輸出用置t有靜電防護裝置之輸出入埠電路,當 M。屻而晶片外=片處於斷電模式(P—- 200838134 流至驅動電壓源VPP,進而遂 選而產生漏電流(Leakage Current) 現象,是本案發展的主要目的。 【發明内容】 本I?提t、輸出入槔電路,使得晶片處 pP_HMGde)而μ外部電路處於工作模式 (Power Mode)時造成之漏電 獲得解決。 电巩(Leakage Current)現象 路門本入4電路連接於—外部電路與—内部電 及内部::門.接:電放電防護裝置,連接於外部電路以 汉π 口I电路間,接收一驅動雷 蔣一夕Μβ如恭言μ 原,用以形成一電流路徑 、引至該驅動電壓源;以及—受_單θ導通 電路’連接於外部^早向¥通 動知電放電防護裝置間,接受驅 敗IV、H以形成—單向電流路徑,使得外部電 源。 田早向電流路徑流至該驅動電壓 本發明料提出1㈣人魏操作枝 =一:部電路以及-外部電路之-輸出入電路;3 輪出入电路接收一驅動電壓 /、中 路操作方法包含有:於外部紐。本备明之輪出入電 單向電流路徑,使得外部電:產間形成-電流路徑流至驅動電壓源。 4電流經由單向 200838134 【實施方式】 能方,其係為本發3狀輸4人埠電路20之功 輪出岐,本發日狀輸出人埠電路2G為—開沒極 並經由一钤中Pen — —設置於-晶片22上 晶片内部1‘點驗連接至晶片外部之—外部電路Μ與 壓於一驅=電路2卜本發明之輸出入谭電路20偏 ''下拉電h Ρ ""及接地電壓源咖間,包含有 電防護裝置2/及—靜電放電防護裝置26。其中靜電放 外,本發明之〆經由輸出,點驗連接至下拉電路36。此 t連接〜卜人埠電路Μ更包含—受控單向導通電路 认早向導通電略28包含有: ,、中 導通元件34。 又控開關32以及一單向 早向導通元件34不作用。假設晶片22為斷電 亦即假設該驅動電義VPP_位準(例如:接 卜,路24為工作模式時,本發明之受控_ ^開啟, 传二向導通元件34在驅動電壓源vpp與外部電路^門 、、^―單向電流路徑,用以將外部電路24所產生之外部‘ 向電流路徑而流至驅輯壓源vpp (此時驅動電 二 位準>如此可使得外部電流不會經由靜電放電防 衣置26内部之寄生二極體而流入驅動電壓源v冲,進而 200838134 防止I產生漏電流(LeakageCurrent)的現象。 茶閱第三圖,其為本發明輸出人琿電路 本發明之輸出入痒電路4 =出亀連接於一晶片内部電路^ =曰體1\本發明之輸出入璋電路40包含有:―第= 及-=二:二ρ型電晶體Μρ2、一二_ di以 之早向導通元件34 ;第一 p s ΰ所不 -闰仏- i私日日體Mpl即為本發明裳 —圖所不之靜魏電_裝置26 n 3月弟 即為树明第二圖所示之受控開關32。 ^體Μρ2 如弟二圖所示,者曰Η 壓源VPP為古㈣: 4乍极式’亦即該驅動電 〜位準時’第二Ρ型電晶體Μρ2關閉 而第一 Ρ型雷曰鰣u Ρ呢闭IOFF), 斷電模式,Gt1亦為關閉(〇FF)。當晶片42處於 時,此時第!=動電壓源VPP為低位準(例如:接地) 體咖開啟(0N)’第—p型電晶 準,所以壓位耗等於外部電路44的電壓位 形成-卿祕VPP與外部魏44間會 路徑产至難,使得外部電流可料此單向電产 仏慨至驅動電壓源νρρ。 I爪 式,第由不論晶片42是在工作模式或是_電模 通電—會對該靜電放電防4置: 了衫響。亦㈣論驅動電壓源VPP的電壓位準為 s 9 200838134 何,受控單向導通電路28皆不會改 26所處的工作狀態。 變該靜電放電防護裝
此外,#⑸42騎電L外部電路Μ為工作模 ^々特殊情況時’亦即當驅動源vpp為低位準而外部 =44之電壓咼於低位準時,可使得第二 触_,並在驅動電虔源vpp與外部電路44間產p生 =向電流路徑,使得外部電流可從外部電路 電壓源VPP,谁而防+了洋止 的現象。 ,1 (Leakage Current) 所豸透過本發明之輪出入埠電路,使得習用之 '入埠電路在晶片處於斷電模式(p〇鮮
Mode) /亥晶片外部電路處於工作模式(P_rMode)時,晶片 』电路所產生的外部電流可能經由靜電防縣置而流至 =電壓源WP,進㈣生漏錢(1^嗯cu麵〇現 ^可後得解決。本發明得由熟習此技藝之人士任施匠思 又修然皆不脫如附φ請專利範圍所欲保護者。 【圖式簡單說明】 奸—本案得藉由下列圖式及朗,俾得—找人之了解: 弟圖係、為-習用具有靜電防護裝置之輸出入埠電路之 一電路示例圖。 ^圖,係為本案之輪出人埠電路之魏方塊示意圖。 弟二圖’係為本案之輪出人埠電路之-電路示例圖。 200838134 【主要元件符號說明】
本案圖式中所包含之各元件列示如下: 輸出入埠電路10、20、40 晶片 12、22、42 下拉電路16、36、46 内部電路11、21、41 外部電路14、24、44 靜電放電防護裝置26 受控單向導通電路28 受控開關32 單向導通元件34 P型電晶體Mp、Mpl、Mp2 二極體D1 驅動電壓源VPP 接地電壓源GND 11
Claims (1)
- 200838134 十、申請專利範圍: 1. 一輸出入埠電路,連接於一外部電路與一内部電路間, 而該輸出入埠電路包含: ~ 一靜電放電防護裝置,連接於該外部電路以及該内部 ^ 電路間,接收一驅動電壓源,用以形成一電流路徑將一外 部靜電導引至該驅動電壓源;以及 一受控單向導通電路,連接於該外部電路以及該靜電 f 放電防護裝置,接受該驅動電壓源之偏壓,用以形成一單 向電流路徑,使得該外部電路產生之一外部電流經由該單 向電流路徑流至該驅動電壓源。 2. 如申請專利範圍第1項所述之輸出入埠電路,其中更包 含一下拉電路連接於該内部電路,該外部電路以及該靜電 放電防護裝置間。 3. 如申請專利範圍第1項所述之輸出入埠電路,其中該受 控單向導通電路包含: (^ 一受控開關,接受該驅動電壓源之控制;以及 一單向導通元件,連接至該受控開關,用以形成該單 ^ 向電流路徑; ^ 其中當該驅動電壓源之電壓位準為低位準,而該外部 電路之電壓位準高於低位準時,該受控開關開啟使得該外 部電路產生之該外部電流經由該單向電流路徑流至該驅動 電壓源。 4. 如申請專利範圍第3項所述之輸出入埠電路,其中當該 12 200838134 驅動電壓源之電壓位準與該外部電路之電壓位準皆為高位 準時,該受控開關關閉。 5.如申請專利範圍第3項所述之輸出入埠電路,其中該單 向導通元件為一二極體。 • 6.如申請專利範圍第3項所述之輸出入埠電路,其中該受 . 控開關為一 P型電晶體。 7.如申請專利範圍第1項所述之輸出入埠電路,其中該靜 電放電防護裝置為一 P型電晶體。 " 8.如申請專利範圍第1項所述之輸出入埠電路,其中該單 向電流路徑位於該外部電路以及該驅動電壓源間。 9. 如申請專利範圍第1項所述之輸出入埠電路,其中該輸 出入埠電路為一開汲極輸出入埠電路。 10. 如申請專利範圍第1項所述之輸出入埠電路,其中該 輸出入埠電路置於一晶片中。 11. 一種輸出入電路操作方法,應用於連接於一内部電路 以及一外部電路之一輸出入電路中,該輸出入電路接收一 /. 1 驅動電壓源之偏壓,該方法包含有: 於該外部電路以及該驅動電壓源間形成一單向電流路 - 徑,使得該外部電路產生之一外部電流經由該單向電流路 ^ 徑流至該驅動電壓源。 12. 如申請專利範圍第11項之輸出入電路操作方法,其中 當該驅動電壓源之電壓位準為低位準,而該外部電路之電壓 位準高於低位準時,形成該單向電流路徑,使得該外部電路 產生之該外部電流經由該單向電流路徑流至該驅動電壓源。 13
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW096108077A TWI412228B (zh) | 2007-03-08 | 2007-03-08 | 輸出入埠電路及其操作方法 |
US12/037,301 US8018698B2 (en) | 2007-03-08 | 2008-02-26 | I/O circuit with ESD protecting function |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW096108077A TWI412228B (zh) | 2007-03-08 | 2007-03-08 | 輸出入埠電路及其操作方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW200838134A true TW200838134A (en) | 2008-09-16 |
TWI412228B TWI412228B (zh) | 2013-10-11 |
Family
ID=39740758
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW096108077A TWI412228B (zh) | 2007-03-08 | 2007-03-08 | 輸出入埠電路及其操作方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8018698B2 (zh) |
TW (1) | TWI412228B (zh) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI412228B (zh) * | 2007-03-08 | 2013-10-11 | Via Tech Inc | 輸出入埠電路及其操作方法 |
WO2010131078A1 (en) * | 2009-05-14 | 2010-11-18 | Freescale Semiconductor, Inc. | Integrated circuit and integrated circuit package |
US8918138B2 (en) * | 2010-08-13 | 2014-12-23 | Broadcom Corporation | Receive band selection and electrostatic discharge protection in a transceiver |
US8436418B2 (en) * | 2011-06-20 | 2013-05-07 | United Microelectronics Corp. | High-voltage semiconductor device with electrostatic discharge protection |
US11586798B1 (en) | 2021-08-13 | 2023-02-21 | International Business Machines Corporation | Avoiding electrostatic discharge events from cross-hierarchy tie nets |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5895758A (en) * | 1997-06-10 | 1999-04-20 | Bio-Energy Systems | Strain of lactobacillus Plantarum |
TW535275B (en) | 2002-01-24 | 2003-06-01 | Taiwan Semiconductor Mfg | Electrostatic discharge circuit for bearing high frequency and analog high voltage |
TW586266B (en) * | 2003-01-21 | 2004-05-01 | Taiwan Semiconductor Mfg | Input/output circuit having electrostatic discharge protection function |
TWI224391B (en) * | 2004-02-10 | 2004-11-21 | Univ Nat Chiao Tung | Electrostatic discharge protection circuit |
US7692905B2 (en) * | 2006-11-28 | 2010-04-06 | Smartech Worldwide Limited | Electrostatic discharge protection circuit for output buffer |
TWI412228B (zh) * | 2007-03-08 | 2013-10-11 | Via Tech Inc | 輸出入埠電路及其操作方法 |
US20090154035A1 (en) * | 2007-12-18 | 2009-06-18 | Maurizio Galvano | ESD Protection Circuit |
-
2007
- 2007-03-08 TW TW096108077A patent/TWI412228B/zh active
-
2008
- 2008-02-26 US US12/037,301 patent/US8018698B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8018698B2 (en) | 2011-09-13 |
US20080217656A1 (en) | 2008-09-11 |
TWI412228B (zh) | 2013-10-11 |
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