TW200823465A - Electrical resistance measurement method and component inspection process - Google Patents

Electrical resistance measurement method and component inspection process Download PDF

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TW200823465A TW096134858A TW96134858A TW200823465A TW 200823465 A TW200823465 A TW 200823465A TW 096134858 A TW096134858 A TW 096134858A TW 96134858 A TW96134858 A TW 96134858A TW 200823465 A TW200823465 A TW 200823465A
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    • GPHYSICS
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Description

200823465 九、發明說明: t發明所屬之技術領域3 發明領域 本發明係有關於一種電阻測量方法及組件檢查方法。 5該電阻測量方法係用以測量一表面上形成一薄膜之被測物
的電阻,而組件檢查方法則使用該電阻測量方法。 t jiu 老SL 相f H 發明背景 習用而言,提供預定之強度,且同時容易供給的金屬 10 15 20 板材係普遍使用作為-用於個人電腦之外殼以及用以容納 個人電腦的臺架之原始材料。 第1圖係A圖式’該圖顯示-用以容納諸如-個人電 腦之貧訊處理裝置的臺架之外觀。 巫屬板材係用於第i圖中所示的一箱體以及臺架3 之門件31巾口此’ §金屬板材係用於箱體$峽臺架$的門 件31中了該孟屬板材亦作為—屏蔽構件,以抑制從個人 電誠漏到外界之多餘的輕射。在第!圖中所示的臺架3 中,如果在—門件支撐如及門件之間具有—間隙,則當 ㈣’多餘的輻射便會透過該間隙 觸到外界。因此曾經進行努力,例如將—諸如一導電橡 谬32之錄輻射防止構件插人_中,以便獲得較先前更 佳的屏蔽效果。 在近來的個人電腦當中,由於決定其運作速度之時脈 變南,纽而使㈣之多餘輕射有增加的傾向。因此,金 5 200823465 • _(或是如果價袼夠低則能夠使用具有導電性之有機 板材)係用以作為第1圖中所示的外殼、箱體30以及臺芊之 严1件31,以便加強屏蔽性能。 〃 為了提供如上所述之屏蔽效果,需要事先評估欲作為 -5 外设與$架所需要的金屬板材本身之屏蔽性能。 ^ 在評估金屬板材之屏蔽性能方面,金屬板材之電阻係 使用-符合JIS-C-2550之需求的方法加以測量。接著,該材 料係加以評估進行判定,測量得到電阻越小,則金屬板材 _ 戶斤具有之屏蔽性能越高。然而,至於用以提供個人電腦或 10堂架之金屬板材方面,其係使用容易供給之一般用途鍍鋅 鋼板材料與類似物。各個製造商之間不同的表面處理(諸如 防鏽處理)能夠施加到那些各個鍍鋅鋼板材料與類似 外,即使某些材料係由一相同製造商供應,該等材料可炉 進行過不同的表面處理。所以,當實行上述評估時,便兩 15要測量一包括表面處理之電阻,以便評估包括表面岸 特性。 之 籲 然而,當以一符合JIS-C-2550之阻抗測量方法測旦— 屬板材的電阻時,一形成於該金屬板材之一表面上的薄篇 一 會藉由該方法中所使用之一鋒利邊緣探針加以穿透,且從 20 而測量得到鋼板材料不包含位於該表面上之薄膜的電p且 結果,對於不同的金屬板材而言會得到幾乎相同的p且技^。 因此,提出一種技術,以解決上述問題。在日本專利 申請公開案S57-154069號中,提出一種使用一導電橡膠測 量一電阻,而不會破壞位於表面上之一薄膜的技術。日本 6 200823465 專利申請公開案S57-154069號中係使用導電橡膠作為一導 電材料,其特徵係幾乎與一金屬相同,且係用以充填箱體 單元與門件之間的間隙,如第1圖中所示。或者是,★门曰 本專利申請公開案S56_79262號中所描述,此導電橡膝亦係 5用以作為一構件,該構件使其容易將位於一電路板上之姅 合圖案連接到一無引腳組件的終端。當使用日本專利申請 公開案S57-154069號中所描述的技術時,其能夠評估由不 同的製造商所製造之各個板材、以及那些藉由一單獨製造 商所製造的板材。因皮匕,其能夠立即選擇出一適用於製造 10 一外殼或臺架之板材。 然而,在探討日本專利申請公開案S57_154069號之技 術方面時’多片導電橡膠其中各個導電橡膠係針對各個製 造點加以佈置,以便以-接觸探針對於多片導電橡膠各自 測I板材之各個電阻’由於各個導電橡膠係相當大且具有 彈性,諸如各導電橡膠之壓縮程度的各種情況可能會改變 導電橡膠與被測物之間的電阻。因此,由於導電橡膠之狀 態不穩定,故以日本專利申請公開案S57_丨54069號中所描 述之技術係無法準確地測量包括薄膜的金屬板材之電阻。 【發明内容】 20 發明概要 根據本發明,提供一種測量其表面上形成一薄膜之— 板材的電阻之電阻測蓋方法,以及_種使用該電阻測量方 法之組件檢查方法。 根據本發明,一種測量一被測物表面之電阻的第—電 7 200823465 阻測1法’該電叫量方法包括: 住·=弟一步驟,其中一彈性導電材料係被一對被測物夾
_ 囑 | 卜 L ,、0Ϊ& 一ッ驟,其中係測量夾住彈性導電材料的該對被 5測物之間的電阻。 根據本發日月^►锋 測物係自立工者之Γ电法,在第一步驟中,被 彈㈣』/、 卜側擠壓,以便壓縮位於被測物之間的 側材料’料彈性材料之兩面緊密地與位純測物的内 又面上之薄膜相接觸。, 、^ 10被測物之電阻,甘— 在弟一步驟中係測置各個 '、G括在各表面上面對導電材料之薄膜上 的一電阻。 膠 由於將一彈性導電材料(例如,諸如一導電橡 ΙΓ種其中一海綿係以一片導電布以及-導電彈簧加以 U能、兀’文中後續稱之為一彈性導電材料)保持在一穩定狀 恶’並且加上-探針以及被測物之間的接觸阻抗幾乎等於 零,故能鱗確地測量位於制物之表面上的薄膜之電阻。 換言之,當使用根據本發明之上述第一電阻測量方法 用以測量一被測物的電阻時,該被測物之電阻係準確地加 以测置,其包括形成於被測物之一表面上的一薄膜之電阻。 20 此時,便能夠使用第一電阻測量方法準確地測量被測 物之電阻,其能夠藉著比較經由對於來自各個製造商之被 測物進行測量電阻所獲得的結果評估製造商的品質。此 外,亦能夠藉著比較經由對於來自單一製造商的各種被測 物進行測量電阻所得到的結果進行評估。 8 200823465 此外,當該對處於夾住導電材料狀態的被測物之間的 電阻被測量時,位於與-面對導電材料之表面相反的表面 上之-薄膜能夠合併成為被測物之電阻,其包括位於面對 導電材料之表面上的薄膜之電阻。 5此匕纟帛步驟較佳係為一步驟,其中導電材料以及 -控制該對被測物之間的空隙之隔件係被成對的被測物加 以夹住。 當-壓力施加於爽住導電材料的被測物之間,從而壓 縮導電材料時,該.導電材料之電阻值會隨著壓力改變而產 1〇生變化。因此’當各對被測物之間的空隙係藉由隔件加以 控制時,則導電材料之壓縮能夠保持穩定。所以,能夠增 進測量準確性。 9 此外,導電材料較佳係為彈性導電材料,諸如導電橡 膠,-種其中一海綿係以一片導電布以及 15捲繞的材料,且該導電材料之電阻值係預先獲得。、 此等彈性導電材料已經習用,且其各自展現出某種程 度的穩定電阻值。因此,藉著減掉由測試結果所得到的彈 性導電材料之電阻值,便能夠準確地測量包括形成於被測 物之一表面上的薄膜之電阻的電阻。 2〇 #外,隔件較佳係比處於未壓縮狀態之導電材料的厚 度薄,且該隔件係為一絕緣構件。 因此’厚度較處於未壓縮狀態之導電材料的厚度薄之 絕緣隔件控制了成對被測物之間的空隙,以便實行可重複 的測量’其中該彈性導電材料係處於某種程度的穩定壓^ 9 200823465 狀態。 除此之外’被測物能夠 一薄膜係形成於該表面上,且^核在―金屬表面上, 鋼板、銅板、合金材料、銘/夠由鐘鋅鋼板、不銹鋼板、 外,根攄及樹脂其中—者所製成。此 卜根據本务明,一種測量一$ 阻測量方法,該電阻測量方法包皮:物表面之電阻的第二電 一苐一步驟,其中彈柹道 假被測物夹住;及 ¥讀料係被-被測物以及—
一第二步驟,其中係測 10物與假被測物二者之間的電 夏失住該彈性導電材料的被測 阻。 田使用肖被測物實行電阻測量時,便能獲得該對被 測物之總電阻。所以,使用根據本發明之第二電阻測量方 法,其中-被測物能夠以-假被測物取代,諸如—銅板材, 歧測量僅有-個被測物之電阻,其包括形成於表面上之 15 薄膜的電阻。 另外,根據本發明,-種用以在測量過一被測物表面 的電阻之後,基於—測量結果判定—被測物優良與否之組 件檢查方法,該組件檢查方法包括: • -第-步驟,其中一彈性導電材料係被—對被測物失 彈性導電材料的成對 阻測量方法之各個類 一第二步驟,其中係測量夾住該 被測物之間的一電阻。 此外’組件檢查方法包括上述電 外的特色。 200823465 當根據本發明之電阻測量方法係應用到根據本發明的 組件檢查方法時,諸如一對鍍鋅鋼板材料之被測物能夠藉 著測量該鍍鋅鋼板材料之一表面的電阻,準確地判定其是 否係為具有勝任屏蔽性能的被測物。 • 5 根據本發明係獲得一種電阻測量方法,其中能夠準確 , 地測量一其上係形成一薄膜之板材的電阻。 圖式簡單說明 第1圖係為一圖式,其顯示一用以容納一個人電腦之臺 φ 架的外觀。 10 第2圖係為一說明用圖式,該圖顯示一種用以測量一使 用作為一用於第1圖中所示之臺架與門件的原始材料之金 屬板材的一表面電阻之電阻測量方法。 第3圖係為一圖式,該圖顯示第2圖中所示之一被測物 la、一彈性導電材料10,以及一被測物lb沿著藉由箭號所 15 指的線段A-A所觀視之一橫剖面。 第4圖係為一說明性圖式,該圖顯示欲藉由第2圖與第3 ® 圖中所示之電阻測量方法加以測量的被測物之電阻構成成 分。 - 第5圖係為一圖式,該圖說明一範例,其中根據本發明 20 之電阻測量方法係應用到一組件檢查方法。 第6圖係為一圖式,該圖說明一示範性第二實施例。 I:實施方式2 較佳實施例之詳細說明 以下將參考所附圖式,說明根據本發明之一示範性實 11 200823465 施例的一種電阻測量方法。 • 第2圖係為一說明用圖式,該圖顯示一種用以測量一使 用作為一用於第1圖中所示之臺架與門件的原始材料之金 屬板材的一表面電阻之電阻測量方法。第2圖之部分&與部 ‘ 5分b分別顯示該電阻測量方法的一第一步驟以及—第二: • 驟。此處假設第2圖中所示之金屬板材的此範例係為一錢辞 鋼板材料。 第2圖顯示-範例,其中藉由不同製造商所製造的各個 • 鍍鋅鋼板材料係使用根據本發明之電阻測量方法力p、 Η)量,以評估來自於不同製造商之各鑛辞鋼板材料的 能。 首先,參考第2圖,將說明用於根據本發明之電阻測量 方法所需要的元件。 里 至於實行根據本發明之電阻測量方法所需的元件方 15面,製備來自於Α公司、时司、到N公司的成對鍍辞 • 、域2b、到讀nb。另外,製備各被其中 一對鍍鋅鋼板夾住之彈性導電構件1〇。此外,製備厚户_ 處於未壓縮狀態之彈性導電構件10的厚度薄之隔件 . 賴件11係為矩形框架,各隔件具有-開π,用以接受彈 . 14導讀㈣。這些隔件⑽由—絕緣材料所製成。接著, ,導電構件10係佈置成裝入其中-隔件1卜各個彈性導 :構件10純其巾—對麟金屬板纽,並且壓縮到使其 θ又等於隔件11的厚度,以便進行電阻測量。 如此,對於來自不同公司之各對鍍鋅鋼板材料的電阻 12 200823465 係-個接著-個進行測量,以評估來自 板材料的屏蔽性能。 各製造商之鍍鋅 鋼 在此將描述電阻測量方法。 在第一步驟中,如第2圖之部 (-對鍍鋅鋼板,例如兩個來 :不’兩個被測物 導雨槿株n 术自Aad1的錄鋅鋼板)夾住彈性 ίο 件Π ::Γι件u,該隔件控制兩鍍鋅鋼板 二:隙。彈性導電構件10具有之尺寸能夠裝入第2 圖^的具有框架形狀之隔件11的框架中,以致 於使該對鍍辞_lamb㈣纽彈性導電構仙以 接著,在如同第2圖之部分b中所示的第二步驟中,在 使該對鍍辞鋼灿糾靠向彼此擠壓,以便壓縮該彈性導 φ構件10 ’直到其南度等於隔件n的高度以後,使一探針 接觸該對鍍辞鋼板之各表面,以測量一電阻。 15 #使用此電阻測量方法進行測量時,該對鍍鋅鋼板各 者之間的距離能夠藉由隔件„保持固定,以致於能夠在測 量期間使彈性導電構件10之壓縮狀態保持穩定。因此,能 夠在相同的測量狀況下測量來自不同製造商之各個鋼板材 料的電阻。 20 第3圖係為一圖式,該圖顯示第2圖中所示之一被測物 la、一彈性導電材料10,以及一被測物lb沿著藉由箭號所 寺曰的線#又A-A所觀視之一橫剖面。 在第2圖中所示之電阻測量方法中,為了增進測量準確 性,考慮各個製造商在對於其板材實施表面處理(諸如一防 13 200823465 鏽薄膜)時對於各板材之頂部與底部表面採用相同的 處理。因此,如第3圖中所示,位於表面上之薄膜部分、la2 與lb2係加以到除’使得藉由刮除所形成的區域與探針 觸。接著’則實行—電㈣量,其包細彡成於面對彈性導 電材料10之兩表面上的薄膜lal與lbl之電阻。如此,當广 膜部分la2與脱係如_除用以與探針接觸,錢降= 接觸阻抗時,便能夠準確地測量鍍鋅鋼板lamb之兩阻 其包括形成於面對彈性導電⑽1G之表面的表面上:薄膜 的電阻,即使該電阻係相當低亦然。 / 、 10 15 此處將參考第4圖,描述一種電阻测量方法,其測旦勹 括缚膜之材料的電阻。 '' 第4圖係為一說明性圖式,其說明欲藉由第2圖與第3圖 中所示之電阻測量方法加以測量的被測物之電阻構成二 分。此處假設彈性導電材料之電阻Ri〇係經過預先測量,並 已經獲得。此外,鍍鋅金屬板材料之鋼板材料本身:於: 為一種金屬,故其係假設成具有幾乎為零的電阻。、” 如第3圖中所示,探針在穿透位於兩表面上的個別薄
膜,以實行一測量之同時係與材料相接觸。接著係測量L 串聯阻抗Rs。串聯阻獅係藉著加總作為被測物:鍛: 板的阻抗Ria、鍍鋅鋼板la之薄膜的電阻值汉^ lal ’該薄膜係 面對彈性導電材料1G、彈性導電材料之電阻值、、面對彈 性導電材料狀薄麟電阻值Rlbl,叹_鋼_的電阻 值Rlb所計算而得。 % 在測量過串聯阻抗值Rs之後’彈性導電材料之尺⑺係自 20 200823465 測量所得的串聯電阻值Rs扣除,以計算包括兩個鑛鋅鋼板 之薄膜的電阻之電阻值。
之後’來自於A公司、B公司到N公司之各個鍍鋅鋼板 材料係加以測量,以獲得上述電阻值,來自於各個公司之 5材料的電阻值係進行互相比較,以評估各個鍍鋅鋼板之屏 蔽性能。此處,互相比較來自於A到N公司之電阻值的結 果’當一鍍辞鋼板材料(例如來自於B公司之鍍鋅鋼板)具有 最小電阻值時,則選擇B公司所製造之鍍鋅鋼板做為外殼與 堂架的原始材料。 因此’當對於各個測量而言係在相同條件準確地進行 包括薄膜之電阻的電阻測量時,在進行比較方面便能夠獲 钎較佳的結果’以實行仔細且公平的評估。 如以上所述,本發明係提供用以準確測量其表面上係 形成薄膜之金屬板材的電阻之電阻測量方法。 此外,在上述實施例中,至於一被測物方面係採用其 表面上开》成薄膜之鍍鋅鋼板材料作為範例。然而,被測物 可為其表面上形成薄膜之導電有機材料。 20 然而,即使當選擇廠商作為一材料供應商時,實施例 中所使用之鍍鋅鋼板材料的製造商具有適當的電阻,咳廠 商所製造之鍍鋅鋼板材料可能提供作為一 έ , 1千’其電阻並 不等於在進行選擇期間所得到的適當阻抗。 當使用-具有-與選定的鍍鋅鋼板材料之電 鐘辞鋼板材料製造臺架與外殼時,那些臺架與夕# 有-預㈣屏蔽性能。然*,由於製造商 卜吸月確具 造之鍍鋅鋼 15 200823465 板材料的品質可能會有變化,並非所有的#料都具相同的 進行檢查 阻進行一 於疋’當對於作為一組件之鍍鋅鋼板材料 枯,較佳係基於上述選擇作為一材料所獲得之電 5符合/不符接受條件的判定。 第5圖係為-圖式,該圖說明一範例,其中根據本發明 之電阻測1方法係應用到_組件檢查方法。第5圖顯示一範
例’其中第2圖中所示之電阻測量方法係應用到—組件檢查 方法。 1〇 第5圖之部分&顯示複數個由作為選定製造商之B公司 所提供的鋼板2a到2η。由複數個鋼板仏到如依序取出兩 片’以便使用第2圖中所示之電阻測量方法測量電阻,用以 判定該測量所得之電阻是否係低於一預定值。 僅有在當使用根據本發明之電阻測量方法應用到第5 15圖中所示的組件檢查方法所測量之電阻值係低於一預定值 ^ ’作為被測物之該對鋼板方能通過接受檢查的檢驗,接 文並加以運送到切割加工站作為用於臺架與外殼的原始材 料0 因此’當根據本發明之電阻測量方法係應用到用以接 20受組件的一組件檢查方法時,僅有在鍍鋅鋼板具有一預定 屏蔽性能之電阻時方能接受其用以製造展現預定屏蔽性能 的臺架與外殼。 在以上所述之實施例中,鋼板係以成對方式進行評 估,當該對鋼板無法通過檢驗時,則一對鋼板其中二者皆 16 200823465 • 係判定為具有缺陷。因此,較佳對於無法通過檢驗之各對 鋼板進行單獨測量。在此案例中,能夠使用一假被測物 Dummy取代被測物2a到2η,以實行測量。 弟6圖係為一圖式’該圖說明一示範性第二實施例。 - 5 如第6圖中所示,能夠使用一假被測物Dummy(例如一 。 銅板)取代各對被測物la到2n。 此銅板係以類似導電橡膠之方式針對其電阻值預先進 行測里。此銅板與一片無法通過之被測物2b夾住導電橡膝 ® 1 〇,以測里該被測物处與假被測物Dummy之間的電阻。 10 當其中一對通過測試時,便能夠判定通過測試之被測 物的屏蔽性能係能夠接受。 【圓式《簡导》明】 第1圖係為-圖式,其顯示_用以容納一個人電腦之臺 架的外觀。 15 第2圖係ϋ明用圖式,該圖顯示-種用以測量一使 用作為-用於第1圖中所示之臺架與門件的原始材料之金 ^ 屬板材的一表面電阻之電阻測量方法。 第3圖係為一圖式,該圖顯示第2圖中所示之-被測物 . la、一彈性導電材料1G,以及-被測物lb沿著藉由箭號所 20 指的線段A-A所觀視之一橫剖面。 第4圖係為一說明性圖式,該圖顯示欲藉由第2圖與第3 圖中所不之包阻測里方法加以测量的被測物之電阻構成成 分。 第5圖係為-圖式’該圖說明一範例,其中根據本發明 17 200823465
之電阻測量方法係應用到一組件檢查方法。 第6圖係為一圖式,該圖說明一示範性第二實施例 【主要元件符號說明】 10…彈性導電材料 la…A公司之鍍鋅鋼板 lb…A公司之鍍鋅鋼板 2a…B公司之鍍鋅鋼板 2b…B公司之鑛鋅鋼板 na-"N公司之鍍辞鋼板 nb· · ·Ν公司之鍍辞鋼板 lal···薄膜 la2…薄膜部分 lbl···薄膜 lb2…薄膜部分 2a〜2n…B公司之鑛鋅鋼板 3…臺架 11…隔件 12…阻抗測量裝置 30…箱體 31…門件 32…導電橡膠 Dummy…假被測物 Rla…麟鋼板之阻抗 Rlar··薄膜之阻抗 R1〇…彈性導電材料之阻抗 Rm···薄膜之電阻值 Rib···鍍鋅鋼板之阻抗 18

Claims (1)

  1. 200823465 5 10 15 20 十、申請專利範圍: h 一種測量-被測物表面之電阻的電阻測量方法,該電阻 測量方法包含: -第-步驟,其中-彈性導電材料係被—對被測物 失住;及 -第二步驟,其中係測量該等成對夾住該彈性導電 材料的該等被測物之間的一電阻。 兒 申Μ專利範圍第1項之電阻測量方法,其中該第一步 二系為-步驟,其中該導電材料以及—控制該對被測物 3 ]的工隙之隔件係被該等成對的被測物夾住。 利範圍第1項之電阻測量方法,其中該導電材 料係為一種彈性材料。 4·如申請專利範項之t 5料之-電阻值係預先獲得。以,其中該導電材 5.如申請專利範圍第2項之電阻 _ 較慮# 一 ·±· 去,其中該隔件係 /-未£縮狀態中的該導電材料為薄。 。申請專利範圍第旧之電阻 為-絕緣構件。 里方法’其中該隔件係 7·如申請專利範圍第旧之電阻 具有位於-金屬表面上之薄膜。彳法,其中該被測物 8’如申請專利範圍第i項之電阻測 係由-鍍鋅鋼板、一不錄鋼 中蝴物 金材料、一鋁以;^ 輞板、一銅板、一合 9· 一 . 及一樹腊其中-者所製成。 種測里一被測物表面之電阻 兒阻剛1方法,該電阻 6· 19 200823465 測量方法包含: -第-步驟’其中-彈性導電材料係被—被測物以 及一假被測物夾住; -第二步驟,其中係測量夾住該彈性導電材料的該 5 被測物以及該假被測物二者之間的一電阻。 10.-種用以基於測量過-被測物表面的電阻之後的測量 結果判定一被測物之品質優良與否的組件檢查方法,該 組件檢查方法包含: -第-步驟’其卜彈性導電材料係被—對被測物 10 夾住;及 一第二步驟,其中係測量夾住該彈性導電材料的該 成對被測物之間的一電阻。 15
    20 11. 如申請專利範圍第1G項之組件檢查方法,其中該第一步 驟係為-步驟’其中該導電材料以及—控制該對被測物 之間的空隙之隔件係被該等讀的被測物失住。 12. 如申請專利範圍第陶之組件檢查方法,其巾該導電材 料係為一種彈性材料。 13·如申請專利範圍㈣項植件檢查方法,其巾該導電材 料之一電阻值係預先獲得。 14. 如申請專利範圍第η項之組件檢查方法,其中該隔件係 較處於-未麼縮狀態巾的導電材料為薄。 15. 如申請專利項之組件檢查方法,其中該隔件係 為一種絕緣構件。 16•如申請專利範圍㈣項之組件檢查方法,其中該被測物 20 200823465
    具有位於一金屬表面上之薄膜。 17.如申請專利範圍第10項之組件檢查方法,其中該被測物 係由一鍍鋅鋼板、一不銹鋼板、一鋼板、一銅板、一合 金材料、一紹以及一樹脂其中一者所製成。 21
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