TW200817676A - System and method for transferring calibration data - Google Patents

Description

200817676 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明-般係關於用於自動校準決定—分析物濃度的儀 器或計量器之自動校準標籤。該等自動校準標鐵係併入單 一化測試條之-封裝上，而該儀器或計量器之—外部部分 係調適用於依據該標籤決定校準資訊。 【先前技術】

在對特定的生理異常進行診斷及維護時，定量決定體液 中的分析物十分重要。例如，對於特定的人，應監視乳酸 鹽、膽固醇及膽紅素。特定言之，糖尿病的人重要的係經 常檢察其體液中的葡萄糖量以便管理其飲食中所攝取的葡 萄糖。此類測試之結果可用於決定需要投與哪些（前提係 存在）胰島素或其他藥物。在一類血糖測試系統中，使用 感測器來測試一血液樣本。 一測試感測器包含與血糖反應之生物感測或試劑材料。 在某些機制中，該感測器之測試端係調適成置入受測試的 流體，例如，在割破手指後已累積於人的手指上之血液。 藉由毛細管作用將該流體吸入在感測器内從該測試端延伸 至該試劑材料之一毛細管通道，以便將欲測試之足夠數量 的流體吸入該感測器。接著該流體與該感測器内的試劑材 料化學反應而產生指示受測試流體中的葡萄糖濃度之電信 號。此信號係經由位於該感測器的後部或接觸端附近之接 觸區域提供給該計量器而變成測量的輸出。在其他機制 中’該感測器具有一試劑區域，在該區域上塗敷該血液。 123262.doc 200817676 所產生的化學反應產生一色彩變化。當該感測器係插入— 儀器時，可以對該色彩變化作光學測量並將其轉換成一相 等的葡萄糖濃度值。 診斷系統（例如血糖測試系統）一般依據一測量的輪出及 用於實行該測試的試劑感測元件（測試感測器）之已知反應 來計算實際的葡萄糖值。可以採取數個形式(包括其輸二 進該儀器之-數字或字符）將該測試感測器之反應或批次 校準資訊給予使用U以校準包含於_封裝内的測試條 之另-方法係將—校準晶片包括於插人該測試儀器之感測 器封褒内。當插入該儀器時’該校準晶片之記憶體元件係 與該儀器之微處理器板電性耦合以直接讀取該儀器所儲存 的校準資訊。 此等方法之缺點係依賴使用者來輸入該校準資訊，盆中 有些使用者可能根本不輸人或可能不正確輸人。在此情況 下:。該測試感測器可能使用錯誤的校準資訊而因此返回一 錯块結果。在將一校準晶片包含於該感測器封裝内之情況 :’可能容易遺失或誤置該校準晶片，而導致無法經由該 校準晶片輸入該感測器資訊。 改良的系統使用貼附於-感測器£之—自動校準標藏。 在將該E載人該計量器時自動讀取該自動校準標籤而不需 要任何額相使用者介人。但是，此—自動 一可以載入該計量器之E，並可以而要 一 了以為储存的感測器之長期 穩疋性提供環境保護，而且复 ' ，、了以獒供對該等感測器之自 在此一S之更簡單形式中將感測器密封於個別的 123262.doc 200817676 隔間内’從而一般極少提供或不提供改變可以封裝的感測 器數目之靈活性而最大值受最大可接受匣尺寸之限制。具 有堆疊於一共同隔間内的感測器之匣可以支援更大且可變 數目的儲存的感測器，但在擷取第一感測器後難以提供_ 良好的環境密封，其具有與自動的感測器接取相關聯之技 術複雜性及成本，而且在更簡單的形式中在可以封裝的感 測器數目方面可能並不靈活。

需要提供一種以一可靠方式將該測試感測器的批次校準 貪訊提供給儀器或計量器而不具有自動匣的複雜性、成 本限制且無需由使用者手動輸入校準資訊而且不需要一 I能遺失的分離校準晶片之裝置及方法。對於設計成與封 l於一瓶或其他容器内的個別感測器結合工作的系統，此 尤其符合需要，該瓶或其他容器係與該儀器分離且在感測 為數目方面具有靈活性，該等感測器可能係、封裝而非在一 專用®(其係載人該儀器用以進行自動的感測器分配）内。 【發明内容】 依據本發明之一具體實施例，揭示一種用以決定在一流 體樣本内之—分析物濃度之測試系統。該測試系統包含一 :測态谷态與一測試裝置。該感測器容器具有一基底與一 ㈣適成將複數個測試感測器封閉於其中。該感測器 括-附接於其之校準標籤，該校準標籤包括位於並 =個電接點。該等電接點係調適成將校準資訊編碼 標籤上。該測試裝置具有—在外部位於其上之自 動权準特徵而係、調適成決定在該流體樣本中的分析物濃 123262.doc 200817676 又。β亥自動校準特徵包括調適成與在該校準標籤上的複數 個電接點通信之複數個校準元件。該測試裝置係調適成回 =寺校準元件與㈣電接點之接合來決定編⑽該校準 、，—準貝3fl。決定經編碼之校準資訊*不用將該感 測器容器或書亥校準標籤插入該測試裝置。 —依據本明之另-具體實施例，揭示-種用以決定一流 體樣本内之—分析物濃度之測試系統。該測試系統包含一 感測器容器盥一淛蚪狀恶 ^ 一 幻试衣置。该感測器容器具有一基底與包 括，接於其之校準標籤之一蓋。該校準標鐵包括位於其上 =數個電接點。該複數個電接點之一第一電接點係經由 V電線路而連接至—第—環，該複數個電接點之一第二 電接點係經由一塞®7々二、圭λα ^ 2蛉電線路而連接至一第二環，而該複數個 ^接點之-第三電接點係與該第一及第二環斷開。依據該 、私接點吳σ亥第一及第二環之連接與斷開將該校準資訊編 碼至該校準標籤上。該測試裝置具有一在外部位於其上之 自動^又準特徵與一在内部位於其中之微處理器。該測試裝 置係，適成決定在該流體樣本中的分析物濃度。該自動校 準特试包括調適成與在該校準標籤上的複數個電接點通信 1數個;^準元件。該微處理器係調適成回應該複數個電 接·、、、占與在该测試裝置外部的複數個校準元件之接合來決定 編碼於該校準標籤上的校準資訊。 一 /本t明之另一具體實施例，揭示一種用以校準一測 = 之方法°言玄方法包括提供具有一基底與一蓋的感測 °、 Γ之動作。该感測器容器係調適成將複數個測試感測 123262.d〇c 200817676 器封閉於其中。該感測器容器包括一 鐵，該校準標鐵具有編碼於其上之校準1接於其之校準標 ^ ^ ^旱貝訊。該方法進一 步包括獒供一具有在外部位於其上 埼狀罢41Α 目動杈準特徵的測 4衣置之動作，並經由該自動校準 寸试决疋編碼於該校準 才示戴上之校準資訊。決定該校準資 +貝汛而不用將該校準標籤 插入該測試裝置。 本發明之以上概述並非意欲代表本發明之各具體實施例 Γ

或每個方面。從下述詳細說明及圖式可明白本發明之額外 特徵及優點。 【實施方式】 器。一記憶體裝置係耦合至該處理器以·儲存預定義的參數 資料值。可以在接收欲測量的流體樣本之前，藉由該處理 器來讀取與該測試感測器相關聯之校準資訊。可以在接收 在-具體實施例中，-儀II或計量器使用—調適成接收 一欲分析之流體樣本之測試感測器與一調適成實行一預定 義測試序列來測量-就義參數值之處理器。在將該測試 感測器插人該計量itm❹容器移除該測試感測 欲測量的流體樣本之前或之後但並非在已決定該分析物的 濃度之後，藉由該處理器來讀取校準資訊。在測量該預定 義參數資料值時使用校準資訊來補償測試感測器之不同特 徵，該等特徵將隨不同批次而變化。該校準資訊係包括於 在該感測器容器外部上之一校準標籤上’且係由位於該計 置裔之一外部部分上之一自動校準特徵決定。 現在來看圖式而首先請看圖1 a至b，解說可以與本發明 123262.doc -10 - 200817676 組合使用之一穑吾 積里為10。该積量器1〇包 血機構14、一測4擔错κ 卜双12、一採 而忒機構16、一顯示器18及一按鈕 注意，該積量哭1 〇孫紋〜 "0。應 里抑10係解祝為調適成用於本 器或計量器之一 r加,e 特疋儀 —— & ，但疋，還可以將能夠對一流體樣太 貫行一分析之j： #禮哭 士丄曰 襄本 明。 ^ °σ、叶$器或測試裝置調適用於本發 μ ”，、員不裔1 8係用於顯示所決定 “ 戌疋之，辰度並向該測試對象提 i、他貝訊。該測試對象可 利用该按鈕組20來與該 積里盗互動。該採血機構14之一外部部分22位於該外殼 12之-測試端24上。該採血機構14係部分封閉於該外殼。 内。亥外成12具有一採血端帽26，該採金端帽係以可移 除方式附接於與該外殼12相對的該採血機構14之外部部分 22。-滑件28位於該外殼12之外部上且係操作地連接至該 採血機構14以使得該採血機構14豎起。 該採血機構14係用於藉由一以可移動方式附接的切刀 3〇(例如，柳葉刀）切開一測試對象之皮膚。該採血端帽％ 具有一中心孔徑並保護該測試對象無意中接觸位於其中之 切刀30。該切刀30係調適成從該測試對象獲得一流體樣 本在使用時，利用該滑件28來讓該採血機構丨4豎起，即 將該切刀30進一步移入該外殼12。在該外殼12之外部上提 供一射出按鈕，其在按下時將射出豎起的採血裝置丨4。可 以令该端帽26之一面34接觸到該測試對象之皮膚。接著可 以射出該採血裝置14(藉由按下該射出按鈕32)而使得該切 刀30從該端帽26延伸並刺穿該測試對象之皮膚。該採血機 123262.doc 200817676 構14與該測試機構16相鄰以便於並行採血與測試 所要求的使用者組件操控位準 ^ 卞W低。如圖1所示， 機構16係成角度地對準於該 、以 一 Μ技沾—、、 Τ里态10上以在需要之時促進 ^、疋點，収。但是，該積量器1G的組件之位置及 ，動可収變，Μ Μ轉本發⑽料難 詳細的說明。 尺 f

I 該測試機構16包括-在該外殼12的測試端2钟形成之— =感測器開口36。該測試感測器開口…系調適成將一測 感測器38固定於其中。該測試感測器38包含位於其上之 至少-試劑，該試劑係調適成與一流體樣本内之—所關 '、主 的分析物反應。可以由該測試對象將該測試感測㈣固定 於該測試感測器開口 36内。一曰6 円 旦固疋，便將該測試感測器 接至在該積量器1〇内的電路80(圖4)，該積量器ι〇係調 適成實行-流體樣本内之_分析物濃度之—電化學決定。 或者’可以將-光學讀取頭連接至該積量器之電路，而可 以在該光學讀取頭附近插入一光學測試感測器以允許從光 學上決定-流體樣本之一分析物濃度。提供一彈出機構4〇 1 允許該測試對象在一旦實行該流體樣本分析之情況下便 k该積量器1 〇移除該測試感測器3 8。 该積量器1G包括在該外殼12之—外部部分“上之一自動 校準特徵64(參見圖lb)。該自動校準特⑽係調適成與位 於—感測器容請0(圖5)上之_校準標籤1〇6(下面圖5至9 所示）互動。該自動校準特徵64包括複數個校準元件，例 如從該自動校準特徵64之—部分略微延伸之校準接針Μ。 123262.doc -12- 2008176/0 此類权準接針6δ可以載有彈 應連接需要橫跨該㈣靠的連接，並且， 置，則此類校準垃 乂 t識106滑入到適當位 干丧針6 8可以係雜 管圖示具體實施例顯示包或圓形以減小干擾。儘 上以一圓形配詈氺π ; μ自動校準特徵64内並實質 若干自動校準it置之十個校準接⑽’則應注意該等 Γ、

針而發生數=:::一示的該些自動校準接 7: 徵64還可以包括位於其中之-感測接針 1 〇6(® 5)„^Ί^ ^- ^ if兮t i » 乂準特倣64。可以採用機械方式實 現忒杈準標籤1〇6之偵 貝 , 、、比如透過閉合一推鈕開關接 Ά 4有抹用電性方-V、，lL , ,. 工 如透過在一感測接點110(圖6b) 與-或夕個電接點108(圖5及6,)之間建立的一電連接。一 =制接觸，該複數個校準接針68便可以決定包含於該 ，父準標鐵106上的自動校準資訊。該自動校準特徵64進一 /匕括為適成辅助使用者藉由該自動校準特徵㈠内的複數 個校準接針68將該校準標籤1〇6定向之一或多個定向特徵 72。將結合圖5至9來詳細說明該校準標籤106。 如上所述’該積量器10包括電路80(圖2)。該電路80包 括用於操作4積1^1()之各種電子元件與電組件。該電路 係連接至該顯示器18以及該測試機構16。丨外，該電路80 係以通信方式耦合至一記憶體裝置84。該記憶體裴置料係 5周適成儲存資訊，例如，所決定的分析物漠度、該流體樣 本疋否係彳文一替代性的測試點收集、日期與時間資訊、針 123262.doc -13 - 200817676 對預定義校準碼之查找表等。該記憶體裝置料―— 揮發性記憶體，例如EPR0M(可抹除可程式化唯讀又^非 或腳臟（電性可抹除可程式化唯讀記憶體）。—電=體） 顯示卜般係用於給該積量器10内的電路及顯示器，（未 電。 i 6供 同樣參考圖2,解說依據本發明之-具體實施 士 r 積量器10的電路80之一方塊圖。該電路8〇包括連同用又= 存程式及使用者資料的相關聯之記憶體裝置 ° 怒ο 〇 — · ^ 倣處理 时2。猎由該微處理器82來操作地控制耦合至該測 杏38之感測器測量電路86以記錄血糖測試值。—電池二1J 功能88係耗合至該微處理器82以㈣—低電池（未顯示皿^ 件。一警告功能90係耦合至該微處理器82以偵測預定7^ ^ 系統條件並針對該積量器1〇的使用者而產生—警告^示的 一資料埠或一通信介面92將資料耦合至—外部裝置' 如’電腦、膝上型電腦、個人數位助理、遠端伺服器、— /、、.’罔路連接的裝置等），或從一外部裝置耦合資料。+亥、雨 信介面92允許該外部裝置至少存取儲存於該記憶體裝= 的分析物濃度。該通信介面92可以係允許該積量器1〇鱼一 =部^置（例如，-標準串列埠、—紅外線射極/侦測器 ^ 、一電話插座、一射頻發射器/接收器埠、一數據機、 可移除記憶卡或裝置等）通信之任何數目的裝置。兮電 路還可包括用以實施程式之R〇M晶片。 ^ —開/關輸入94回應於使用者對該積量器1〇之開/關操作 且係輕合至該微處理器82’以實行該積量器1〇之血液測試 123262.d〇i -14- 200817676 3 j::式、亥感測裔測量電路86還可以偵測-測試感測器 8之插入並驅使該微處理器82實行該血液序列模式 =徵輸人㈣_合至該微處理器82以選擇性地實行該積 :叩1〇,、系統特徵模式。依據本發明之-具體實施例， 自動k準輸入98係輕合至該微處理器82(例如，透過諸 如圖6_斤示之介面電路)以偵測一感測器容器ι〇〇则 上的自動扠準已編碼資訊。該微處理器82包含合適的程式 化以決定應用於該測試感測器38之一流體樣本之一分析物 濃度。

、為決定一流體樣本内的分析物濃度，可以使用—電化學 f測器。需要由該電化學感測器提供可靠而可重製的： 量。現在參考圖3,依據一具體實施例，一測試感測器以 包含一絕緣基底42，在該絕緣基底42上依序印刷（一般係 藉由網版印刷技術）一電導體圖案44、一電極圖案（部分Μ 及48)絕緣（介電質）圖案50及一反應層54。該電化學感 測器之基底為該流體測試樣本提供一流動路徑。圖4中顯 示該測試感測器38’其中該基底42上的所有元件皆係顯示 於相同平面内。 該反應層54之功能係將該流體測試樣本中的葡萄糖或另 一分析物按化學計量轉換成一化學物種，可以藉由該電極 圖案之組件按照由該化學物種產生的電流來對該化學物種 進行電化學測量。該反應層54_般包含—生物感測或試劑 材料，例如酵素及一電子受體。更明確言之，該反應層^ 包含：與該分析物反應之一酵素，用於在該電極圖案上產 123262.doc -15· 200817676 生行動電子；及一電子受骰r Φ ^ ^ ^ (哉貳化鹽），用於將該等行動 電子載送至工作電極之表面。 ,,# ^ ^電子文體可稱為一中介 物’其中回應於该分析物與該 ,…亥酵素之間的一反應而減少該 中介物。可以將反應層中的酸 片1 酵素與一親水聚合物（例如聚 乳化乙稀）組合。可用於與葡s , 、匍萄糖反應之一酵素係葡萄糖 虱化酶。預期可以使用諸如 匍甸糖去虱_之類的其他酵 素0 該電極圖案之兩個部分46、4S拇处，、，+ b 48¼供以電化學方式決定該 分析物所需要之個別工作盥眉 户”反電極。該工作電極46a—般 包έ與δ亥分析物反應之一酵辛纟^ 砰系 β寺工作與反電極可以經

組態成令該反電極術之主要部分位於從—工作電極仏的 曝露部分起之下游(按照流體沿該流動路徑流動之方向）。 此組態允許該測試流體樣本完全覆蓋該卫作電極偏之曝 露部分。 但是，一反電極子元件48a可以係定位於從工作電極上 部元件46a起之上游，以至於足以完全覆蓋該工作電極之 一數量的流體樣本（例如，一全血樣本）進入毛細管空間 時，由於該流體樣本之導電率而在反電極子元件與該 工作電極46a的曝露部分之間形成一電連接。但是，可供 該流體樣本接觸的該反電極之區域很小以至於僅一很微弱 的電流可以從該等電極之間通過並由此穿過電流偵測器。 藉由將該電流伯測器程式化成在接收信號低於一特定的預 定位準時發出一錯誤信號，該感測器裝置可以通知該使用 者到♦達該感測器腔之血液不足而應實施另一測試。 123262.doc -16- 200817676 該等工作及反電極包括電極墨水。該電極墨水一般包含 電化學活性碳。該導體墨水之成分可以係碳與銀之一混合 物，该混合物係選擇用於在該等電極與該計量器之間提供 一低化學抗性路徑，其經由與在該感測器之一尾端56的導 電圖案之接觸而與該計量器形成操作性連接。該反電極可 由銀/氯化銀或碳組成。為提高計量器讀數之可重製性， 該介電圖案將該等電極與該流體測試樣本絕緣，但在該電 極圖案52的中心附近之一已定義區域内除外。在此類電化 车决疋中 已疋義區域很重要，因為測量的電流與該分 析物濃度及曝露於包含分析物的測試樣本之反應層之面積 相關。 典型的介電層5 0包含UV固化型的丙烯酸酯改性聚氨 酉曰 1或覆蓋物5 8係調適成與該基底匹配以形成一空間 來接收該流體樣本，該計數器及工作電極位於該空間中。 該蓋58提供一凹陷空間6〇，而且一般係藉由將一可變形材 料之平坦薄片壓花形成。將該蓋58穿孔以提供通氣孔62, 並在一密封操作中將其與該絕緣基底42接合。可以藉由音 波焊接將該蓋58與該基底42密封在—起。可以藉由在該蓋 之下側上使用一黏合材料來接合壓花的蓋與基底。美國專 利案第5,798,03 1號更全面地說明接合該蓋與基底之方法， 其王邛内容係以引用的方式併入於此。 適用於絕緣基底42之材料包括聚碳酸酯、聚對苯二甲酸 月曰尺寸知疋的乙烯基與丙烯酸聚合物以及諸如聚碳 酉“曰/聚對苯二甲酸乙二脂及金屬箔結構(例如，一尼龍/鋁/ 123262.doc -17· 200817676 聚氯乙烯層壓物）之類的聚合物混合物。該蓋一般係由一 可受形的^合薄片材料（例如聚碳酸g旨）或一可壓花等級的 聚對苯二曱酸乙二脂、乙二醇改性聚對苯二甲酸乙二脂或 一金屬箔組成物（例如，一鋁箔結構）製成。該介電層可由 一丙烯酸酯改性聚胺酯製成，該丙烯酸酯改性聚胺酯可藉 由UV光或濕氣或一可熱固化的乙烯基聚合物來固化。 預期可以將其他電化學感測器用於本發明。可用於測量 Γ: 葡萄糖濃度的電化學感測器之範例係用於Bayer公司的 DEX®、DEX⑽、ELITE⑧及ascensia⑧系統之該些電化 學感測器。關於此類電化學感測器之更多細節可參見美國 專利案第5，120,420及5,320,732號，該等兩個專利案之全部 内容係以引用的方式併入於此。該等電化學感測器之一或 多者可從Matsushita電氣工業公司購得。美國專利案第 5,798,〇31號中揭示另一電化學感測器，其全部内容係以引 用的方式併人。美國專利案第5,429,735號揭示可用於安培 視系、、先之電化學感測器之另一範例。預期可以將其 他生物感測器用於本發明。 已相對於電化學測試系統來說明上述測試感測器以 及積里為10，但應瞭解本發明可結合光學測試系統或其他 m統#作。該等電化學、光學或其他感測器可以係儲 存於一感測器容器（例如瓶或匣）中。 現在來看圖5，解說依據本發明之一具體實施例之一感 測器容器1〇〇。該感測器容器1()()包括n iQ2p Μ 除方式附接的蓋1〇4。該基底1〇2係調適成當該蓋刚係附 I23262.doc 200817676 接於其上時，封閉複數個測試感測器（例如，測試感測考 38)。該感測器容器i嶋助抑制該外部環境對該等測試感 測器38之污染。當一測試對象希望實行—分析物決定時: 將該複數個測試感測器38之一測試感測器從該感測器容器 100移除並將其插人該積量器1G(如圖la^所示）。 該感測器容HH)G還包括位於其上之校準標籤1G6。如圖 所不，該校準標籤106可位於該蓋1〇4之—部分上。或者， 該校準標籤106可位於該基底1〇2或該蓋1〇4之另一部分 上°應瞭解’該校準標籤1G6在該感測器容器⑽上的位^ 可以改變’只要該校準標籤1〇6能夠接觸該積量器⑺之自 動校準特徵64(圖lb)即可。指派用於臨床數值計算以補償 測試感測器38之間的製造變化之校準資訊或碼係編碼於該 校準標籤106上。 該校準標籤1〇6係用於使得傳送校準資訊（例如，針對該 測試感測器38之批次特定試劑校準資訊）之程序自動化以 便可以結合不同的儀器或計量器使用該等測試感測器以。 在令該校準減1G6接觸到該積量㈣之自動校準特徵Μ 時’該複數個自動校準接針68之一或多個接針與該校準標 戴1〇6電性搞合。依據-方法，使用電流讀數及至少一等 式來決定一流體樣本之-分析物濃度。在此方法中，使用 來1該校準標鐵1〇6之校準資訊或碼來識別等式常數。可 以藉由以下方法來識別此等常數：⑷使用—演算法來叶管 該等等式"，或者⑻針對從該校準標讀取之^ 定的預定義校準碼，從-查絲擷取料^常數。可以 123262.doc -19- 200817676 藉由數位或類比技術來實施該校準標籤丨〇 6。在一數位實 施方案中’該積*器10制決定沿選定位置是否存在傳導 性以決定該校準資訊。在一類比實施方案中，該積量器 輔助測量沿選定位置的阻抗來決定該校準資訊。 該校準標籤1〇6包括位於其上的複數個電接點1〇8。如圖 所示，該複數個電接點108-般圍繞—選用感測接點u〇。 在提供-感測接點m之具體實施例中，該感測接點㈣係 調適成接合該自動校準特徵64之感測接針7〇以向該微處理 器82指示能夠決定提供於該校準標鐵1〇6上的自動校準資 訊。可以藉由感測介於感測接針7〇與任何其他電接點⑽ 之間的電連續性來決定該校準標籤1〇6與該自動校準特徵 64之間的接觸。在圖示具體實施例中，該校準標籤包 括位於該複數個電接點108的兩個電接點之間的一索引位 置112。該自動校準特徵64可以利用該索引位置ιΐ2來決定 在可=相對於該自動校準特徵64對該校準標鐵1〇6作一個 以上定向之情況下於何處開始獲得來自該校準標籤1〇6之 自動校準資訊。 該感測器容器100還可以包括-或多個定向特徵m,如 所:。該感測器容器1〇〇之一或多個定向特請係調 適成該自動校準特徵64之定向特徵72(圖叫。如圖所 不，δ亥-或多個定向特徵114係在該感測器容器刚的蓋 1〇4中之凹痕。該等凹痕係調適成接合形成該等自動校準 ㈣的寺自動才又旱 時，將令該感測器容器u。:校準 心仅+‘戴106與該積量器10之 123262.doc -20· 200817676 自動校準特徵64正確料。但是，纽意，可以採取機械 定向特徵之替代性實施方案。 現在來看圖6a ’解說依據本發明之_具體實施例用於— 數位权準方法之一將該微處理器82連才妾至該校準標鐵I% 之數位電子電路130。如圖所示，來自該微處理器82之十 個數位輸出信號（0A至〇J)經由十個場效電晶體 (FET)134(TA至TJ)之一對應電晶體而透過十個驅動器 Ο 132(DA至DJ)連接至十個校準接針68(pA至pj)。該等十個 校準接針68連接至向該微處理器82提供十個數位輸入信號 (IA至⑺之十個接收器⑶似至RJ)。每一接收器具有連^ 至-供應電壓（vcc)之一相關聯之上拉（pu)i38。該等校準 接針68(PA至PJ)電性連接至在該校準標籤上的其他電 接點1 0 8。 為讀取該校準標籤106之一接觸圖案，該微處理器82開 啟该等驅動器132之一，所有其他驅動器132係關閉。受致 能的驅動器132向相關聯的校準接針68提供一低信號。直 接連接至相關聯的校準接針68之受致能的驅動器出 應接收器136讀取為—低信號，因為此特定驅動器132斑接 收器136係直接連接。相關校準接針68同樣係藉由該標籤 圖案而驅動為低位之所有其他接收器136同樣係讀取為一 低信號。所有剩餘的其他接收器136因相關聯的驅動器⑴ 並未開啟而相關聯的上拉138將該接收器電壓拉至4， 故而讀取為一高信號。 ’ 現在參考圖6b，其中顯示一解說本發明之經校準編碼的 123262.doc -21 · 200817676 校準標籤106之一較佳配置。依據一具體實施例，該經校 準編碼的校準標籤106係用於使得關於指派給相關聯 試感測器38的批次特定試劑校準之資訊傳送之程序自動 化。例如，可以將如圖6b所示之自動校準資訊編碼進位於 該感測器容器100上的校準標籤1〇6 ’該感測器容器封 閉具有一共同來源或批次之複數個測試感測器Μ。在任何 角度位置讀取該校準標籤106並藉由該積量器1〇來破解， 而無需使用者作任何介入。經由提供於預定位置的複數個 電接點_來讀取該校準標籤1〇6。該等電接點ι〇8之選定 電接點係藉由-導電線路12()連接至—㈣環Μ。其他電 接點108係藉由―導電線路12()而連接至—外部環⑴，而 其他電接點108未連接至該内部環116或外部環ιΐ8。該（等） 、㈣建立㈣於该自動校準特徵64之該標 戴、疋《 @連接至該内部環丨16及該外部環1 Μ之電接點 1 0 8 了用於編碼校準資料。 干數位與類比配置來定義該校準標鐵㈣。 可精由將導電墨水網版印刷到該基底 離的基板）或感測哭衮^1ΛΛ,θ 係刀 ⑽。可以使用二 (圖5)上來構造該校準標籤 化的黏合:二 感測器容器⑽:定義其：附接構件將-分離基板附接於該 -碳、銀或_碳=校準標鐵⑽之-導電墨水可以係 合物填充的紙或卜該基板爛 在某些具體實施例中係二何印刷可接受的表面’而 '、…、穩定的聚對苯二甲酸乙二酉旨 123262.doc '22- 200817676 t Τ)或ΛΚ妷酸酯。針對-特定的測試感測，批次叮 藉由用一雷射彳态批久，可以 谁—亩 σ — C〇2或Nd:YAG雷射）印刷或切 進行直接編碼央中M k ^ 口1深路 中，可以利用 準編碼。在替代性具體實施例 並可以夢由―：屬膜(例如一薄銘膜)來形成該等線路， 來對其進行切m彡成—校帛® :㈣貧料。可以使用如圖所示及相對於圖7a二 明之一顧μ卜么从 · Η / α王α所成 Γ 、：、、’、、係基於選擇性地位於預定義位置

為線叫並連接至選定接點QU

之測S電阻器。 丁 J 图6^所解兒用於°亥权準標叙106之一範例性線路圖案。如 圖6b所不，該校準標籤1〇6包括三組接點連接 點108，即A、C、卩^ u τ ^ . 电接 ，/、係連接至表示一邏輯 =或路徑；第二電接點^即b、d、Fm，其係連接卜 連tr如邏輯Γ内部環或路徑116;以及第三空接點或無 連接（例如，索引位置112)，表示本地位置或同步。應瞭 解’該等内部及外部環116、118不必係完整的環或圓^ 接點m與形成該等内部及外部環116、118之導電線路120 係由-導電材料製成。該等電接點108之位置係與併入續 積量器H)的自動校準特徵64之校準接針68(顯示於圖順 準Μ形成電接觸。儘管在某些具體實施例中，該校準標籤 二 106可以係定位於多個旋轉位置之任一位置，但是當^取 該校準標籤106時該等電接點⑽將始終與在該積量=上 的校準接針68對準。圖6c之表應用於圖⑪之校準標籤 106° 123262.doc -23- 200817676 該索引位置112可包括與該等電接點ι〇8類似之同步接 點。該同步電接點108並非顯示於該校準標籤1〇6上，因為 其並非連接至該複數個電接點108之任何其他接點。

° J 採取具有多個同步接點之替代實施方案。可以視需要將特 定接點1 08指定用於始終連接至内部環i i 6或外部環丨1 8。 圖6B中，標記為〗的接點係顯示為始終連接至該外部環 118。標記為A至Η之電接點108連接至在一未程式化標籤 ^ 中的兩個環。以所印刷的導電標籤材料來製造一切口以將 該接點與該内部或外部環116、118斷開，以將該校準碼程 式化進該校準標籤106。電接點108八至Η中的每一電接點 可以係連接至任一環，此表示28(即兩百五十六）個可能的 組合。一般不允許：碼0(Α至Η皆係連接至内部環）；碼 127、191、223、239、247、251、253 及 254(μη 中僅一 者係連接至該内部環）及碼皆係連接至外部環）， 因此可以藉由經校準編碼的校準標籤丨〇 6將兩百四十六個 (, 碼程式化。 為決定哪些電接點1〇8係同步接點（例如’索引位置HU 及哪些電接點1G8係連接至該等内部及外部環、⑴， 將處於-時間之一電接點⑽設定為—低輸出（零）。與該低 接點處於同一環116、118上的任何電接點ι〇8亦將標示為 七此係由於在該校準標籤106上的導電線路所提供之電 連接。由於該（等）同步接點並未連接至任一環116、118, 因此其在設定為低時係標示為唯一的低接點。此表示必須 有至^兩個接點連接至該等内部舆外部環116、118二者’ 123262.doc -24- 200817676 否則便無法決定哪些接點係同步接點。 用以決定該自動校準數目之__方法可以使用比該校準標 籤⑽的同步接點數目多兩個之讀數。該等讀數中的每一 讀數係針對該等電接點108之—組電接點：連接至該内部 環m之該組電接點、連接至該外部環ιΐ8之該組電接點， 而一組電接點係針對每一同步接點。在拍頁取此最小數目之 讀數後，可以決定與該等四組電接點中的每一組對應之電 r' 接點108。在利用僅一單-同步位置之情況下，可以採用 少達二個的讀數來實現解瑪 解馬右有兩個同步接點，則需要 四個讀數。決定該等同步接點之位置，並將此與來自連接 至該内部環116之該έ且雷盐& … 系、、且電接點之讀數結合使用以決定該自 &準數目將連接至㈣部環116之電接點⑽視為邏輯 零’而將連接至該外部環116之電接點視為邏輯一。 一選定的預定義之經校準編碼圖案由該等電接點刪且 成’該等電接點1G8係藉由導電的内部及外部環116及118 而互連4擇性地使用在該校準標藏⑽上之電性互連的 各組接點來編碼校準資料。-或多個空接觸位置112係愈 兩核116及118隔離以用作一旋轉位置索引。相對於該同步 :置(表示為接點!)而處於某—已知位置的電接點1〇8之一 電接點連接至該外^ β 皆係邏輯-。μ ’因此與此接點™之所有連接 ^測與該内部環116或外部環118之一連接，需要與該 兩個連接來制連續性。其餘電接點⑽係連接 %<或其他環116及118，該特定連接圖案識別該校準 123262.doc -25· 200817676 馬為使得標籤存貨最小化，有利地使用一單一圖案並隨 後進行打孔或切割以選擇性地將八個墊（位置Α至Η)之每一 墊與該等兩個環116或118之一環隔離。所有電接點1〇8(位 置A至Η，除索引或空位置外）皆係連接至該等兩環11 $、 118中的一環且係僅一環。最少兩個電接點} 係連接至每 一裱110、118。此配置促進進行錯誤檢查，因為必須在兩 個連續性群組之一群組中考量所有該等電接點1〇8(除該索 Γ、

引位置112外）才會將一讀數視為有效。當所有接點皆呈現 為一同步接點時偵測到一丟失的校準標籤1〇6(即，由於該 校準標籤106所提供的連續性丟失而在校準接針68之間沒 有電連接）。 在一數位編碼方法中，將表示〇與1之一系列開放與閉合 電路引入該校準標籤106上。藉由雷射切割或印刷將一數 位校準標籤106編碼成表示由與該内部環丨16的連接決定之 特疋的校準碼編號，例如，其中A表示i，B表示2，C表 示4，D表示8，E表示16，F表示32，Γ·主. 衣不J2，G表不64而H表示 128。圖 6c 中，接點 B、d、F及 i車；& $ # + ^ w 久示連接至该内部環116以 定義該校準碼編號。 該微處理器82將一電接點108或位元組態為低，而其他 剩餘的電接點108為高。電性連接至特定的受驅動電接點 1〇8之所有電接點⑽係壓低，而剩餘的電接點刚係拉 局。精由選擇性地驅動該等電接點1〇8並讀取所產生的輸 入圖案，來決定該互連圖案及相關聯的校準碼。儘管使用 唯一的索引位置112(藉由與另一接點無連接來定義）來決定 123262.doc -26- 200817676 該校準標籤106之旋轉位置 τχ ^ ^ 又J以識別電接點108(Α至 )，仁應瞭解可以使用採用唯一位 ^ rff ±p j,. 圖案之其他組態來編 碼起始位置舆該校準碼。 ^ 針掛且古4门+ 其他二進制編碼方案可以 可用碼有相同數目電接點1〇8之校準碼編號而提供更少的 卜/^及66中分別解說用於對該校準資訊進行編碼之替代 f生的經編碼校準標籤丨〇讣。 任任何杈準標觳106及106b η T ’该寺接點彼此相對之實 貫&實體位置對於解碼該校準標 5亚不重要，只要其處於已知或預定義的位置即 可0 翏考圖6d及6e，十個電接點1()8係表示為接點a至接點 了。如圖6d所示，有接點連接之三個群組或集合，其包括 兩個索引位置112b(同步）、外部環118(外部)及内部環 116(内部）。_係針對具有十個接點之經校準編石馬 的校準標籤lG6b，其中接點；係同步i，接點a係同步2,而 -接點必須係、聯結至外部環而顯示為接則，而剩餘的八 個接點B至Η係連接至該内部環116或該外部環ιΐ8。該等 八個接點Β至J(碼〇至255)表* : 256(28)個可能的連接組 合，減去針對僅一内部環連接之八個組合（碼127、Η/'、 223、239、247、251、253、254)’ 減去針對僅一外部環 連接之一組合（碼0)。該校準標籤丨〇6b提供針對該校準編 之247個唯一的組合或碼。 在一特定校準標籤106上的校準碼還可用於在數種類型 測试感測3 8之間進行區分。假定感測器類型，，A"需要十 123262.doc • 27 - 200817676 個校準碼，感測11類型"B,,需要=十個校準碼’而感測器 類型”c"需要三十個校準碼。可以指派自動校準碼，因此 碼一至十表示具有類刮” Δ，，士丄 令貝t Α扠準碼一至十之一類型，，Α，，感測 ^裇籤碼十一至三十表示具有類型，，Β”校準碼一至二十 之大員型Β”感测器，而標籤碼三十一至六十表示具有類 型”C”校準碼—至三十之—類型”感測器。在此範例中，

該標籤碼指示該感測器類型以及與該感測器類型相關聯之 校準碼。 個剩餘的接點B至Η係連接 七個接點表示：128(27)個可 圖6d中，$等校準標籤1〇6]^之替代性類型卜23及4包 括兩個同步位置112b。在類型i校準標籤上嶋中，使用兩 個相鄰的同步位置。對於類型1校準標籤祕，兩個相鄰 的同步接點係J與A，—接係聯結至該外部環118，而七 至該内部或外部環11 6、11 8。 能的連接組合，減去針對僅一 内部環連接之七個組合’減去針對僅一外部環連接之'组 合。類型1經校準編碼的校準標籤1〇613提供12〇個針對該 準編號之唯一組合。 對於類型2、3及4校準標籤_，該等兩個同步接點之 相對位置可用於提供額外資訊。同步接點組合】與 隙)類型卜如(-間隔之間隙)類型2，c(兩個間隔之 間隙）類型3及聯（三個間隔之間隙）類型何以制貞測為唯 -而用於在四類型校準標籤祕之間進行區分，每 準編碼的校準標籤職對120個唯'组合進行編碼。不:； 對同步接點組合m E、m F、j與G、；與时樓ι作唯 123262.doc •28- 200817676 分 校準標籤l〇6b之四類型 480M*lonw 貝歪1、2、3及4而提供總共 (120)個針對該校準編號之組合。 可以提供其他校準標籤1〇6，苴 接h 4KI /、中使用二個或更多同步 接點之相對位置來產生 1 1 - μ 例如，在連同該外部環 8之二個同步接職—與料部環m聯結之-接點，六 個接點保持連接至該外 、、 點表干… 6 6、118。該等六個接 .，、十四(2)個可能的連接組合，減去針對僅一内 部裱連接之七個組合咸去 人m 減紊針對僅一外部環連接之一組 曰，伙而留下五十六個唯一組 同步接點作唯-的放f.τ Δί ^方法可以對三個 τ η 的放置.J、AWJ、AWJ、_D; ” ’ ” G，J、A與Η ; J、B與D ; j、 B與E等等。對於兩個同步接點，此等同步接點組合可以指 示不同類型的標籤以及（例如）識別欲藉由該積量器1〇 行的多類型分析之一類型。 還參考圖6心’解說依據本發明之—具體實施例之一 數位自動校準編碼標籤版。該校準標籤1〇6c利用僅一單 ，引位置112c來使得能夠編碼至該等電接點職上的資 Λ取大化。在某些具體實施例中，可以利用更多索引位 置在圖不具體實施例中，該感測接點110c係藉由-電線 路120c連接至該内部€ll6e或該外部環之至少一環。 若該感測接點11Ge係壓低，則至少—電接點職係拉低。 在此實施方案中’拉低的至少一電接點1〇8。可用作對該校 準標藏1〇6C與該自動校準特徵64接觸（圖lb)之一指示。依 據八體Λ紅例，该感測接點丨丨〇c係位於與該校準標籤 123262.doc -29- 200817676 l〇6c相對於該自動校準特徵料的定向無關之一位置。 圖7a中解„兒依據一具體實施例之一類比電子電路 15〇。該類比電子電路150係基於測量提供於一校準標籤 麗(如圖7b中顯示得十分清楚）或一校準標鐵驗(如圖％ 中顯示得十分清楚）上的電阻器152之電阻值。電阻器 152(R1兵R2)之電阻值提供該校準值^該中心接點與任何 其他電接點108之間的連續性可用作對該校準標籤购與 該儀器的自動校準特徵64接觸之—指示。儘管可以將該電 阻之類比值與該校準值相關，但典型的配置係印刷具有特 疋值之電阻器152。例& ’為區分五個校準碼，會將五個 不同電阻值（例如，1〇0〇Ω、2000Ω ' 3〇〇〇Ω、4〇〇(^及 5000Ω)之一值網版印刷至該校準標籤1〇6d、ι〇^上。選擇 針對電阻器152(!11與尺2)之電阻值，從而即使在因該等校 準接針68接觸該校準標籤1〇6d、1〇6e之情況下的印刷變化 或接觸電阻變化而可能產生該電阻變化，亦容易將藉由該 微處理器82測量到的電阻值彼此區分開。 圖7a中，解說一已知參考電壓（VREF)與具有一已知參考 電阻（RREF)之電阻器154。一類比至數位轉換器（adc)156 將存在於其輸入處的類比電壓（標記為vmeas)轉換成其輸 出處之數位值（標5己為（IA) ’該數位值係藉由微處理器μ 來讀取。一驅動器158(DA)係藉由該微處理器82透過一信 號線（標記為OA)來控制之一類比開關。該驅動器158控制 一 P通道場效電晶體（FET)160，當該驅動器158關閉時令該 電阻器154 RREF保留於該類比電子電路150中，或者當該 123262.doc -30- 200817676 驅動器158開啟時令該電阻器154 RREF短路。

該等電阻器152(R1及R2)之值可以係決定如下。在該驅 動器158 DA關閉之條件下，該電阻器154 RREF處於該電 路中，因此該等電阻器152(R1與R2)加上該電阻器154 RREF用作一分壓器。接著測量該電壓VMEAS並將其定義 為VOFF。在該驅動器158 DA開啟之條件下，RREF係短 路，因此該等電阻器152(R1及R2)用作一分壓器。接著再 次測量該電壓VMEAS並將其定義為VON 適用的等式係： [等式1] [等式2]

VOFF = R2 + RREF — VREF RI + R2 + RREF VON= ~ —VREF RI + R2 求解等式2以得出R1 :

Rl = R2

VREF - VON VON

[等式3]

將R1代入等式1並求解R2 : [等式4] R2 = R腳WN(VREF-V〇F^ VREF (VOFF - VON) REF及RREF係已知值，而VOFF及VON係測量的值。在等 式3中，代入針對R2、VREF及VON的值來計算R1。此 刻，R1及R2係已知，因此可以決定該校準值。 為區分許多校準碼，可以使用一個以上電阻器。對於具 有πηΓ個電阻器（其中每一電阻器可以係πη"個值之任何值） 123262.doc -31 - 200817676 之—校準標籤l〇6d、l06e，則校準碼之數目為mn。 例2如，印刷兩個電阻器而允許區分二十五 (即5)個校準碼’其中每—電阻器152可具有五個不同電阻 值之。此可以係擴展到三個電阻器丨52並可以提供 125(即53)個校準碼，以此類推。 一考圖7b解说依據一具體實施例之一兩個電阻器丨52 員比板準標鐵106d。可以將一内部I阻器M2㈣與外 β電阻It 152(R1)複製十次（針對該校準標籤i編的每一旋 _ 各人）’而僅需要三個校準接針68 ,如圖7a所 2。將該等校準接針68排成一列放置。一校準接針—A) 胃在所有内部電阻器152(R2)之共同接面⑴處接觸該電接 另—校準接針6_)在該内部電阻器㈣該外部 = 1^52 R1之—接面⑺處接觸該電接點⑽。該第三校 準接針68(PC)在該外部電阻器15 電接點⑽。 益152(R1)之另一端⑼接觸該 、(R2)與—外部電阻器152(ri)，而藉由連續的導電環來 形成與该等校準接針68之接觸。一 衣（未顯不）將處於電阻 态152(R1及R2)之接面⑺之直 於電阻…1之另二= 環(未顯示)將位 之方鳊（〇)之直徑處。該等導電環將出 低電阻材料製成。料校準接針68會 *將由 該等兩個環，正如標鐵】06d之情況。Λ。接點（I)與 圖7c解說另一樣式之一兩個電阻器的校準標籤 樣將該等三個校準接針68排成一列问 仅準接針 123262.doc -32- 200817676 68(PB)會在所有十個電阻器ι52之一接面ι78處接觸該電接 點108。另一校準接針68(PA)會連接至電阻器R1之端m。 第三校準接針68(PC)會與另外兩個校準接針68排成一列並 連接至處於該電阻器R2之端176的電接點1〇8。若針對電阻 R1之該組電阻值（即，nl個值）不同於針對電阻尺2之該組電 阻值（例如，n2個值），則可以區分nl*n2個不同的校準碼。

對於圖7c所示之校準標籤i〇6e，其中該等兩個電阻器 152之值係從同一組”n，，個電阻中選擇，在此情況下由於該 才示籤旋轉而無法區分某些組合（例如，無法將κ1==1〇〇〇Ω及 R2 = 2000Q與R1=2000Q及R2=1000i2區分開）。該樣式的校 準標籤106e之兩個電阻器（其中每一電阻器可以係，，n，，個值 之一）之不同組合之數目係給定為以下等式： [等式5] 同樣參考圖7d，將可以所決定之不同電阻值的數目及不同 才父準碼的數目列表。 現在來看圖8a至e，分別解說依據本發明之某些具體實 她例之複數個校準標籤2〇6&至6。該等校準標籤2〇以至^之 每一標籤包括位於一選用感測接點21(^至e周圍之複數個 電接點208a至e。該等電接點2〇“至e之每一電接點最初係 藉由複數個導電線路220a至e而連接至一内部環2i6a至e與 一外部環21 8a至e。藉由移除該等導電線路22〇&至e之一部 分以將一或多個電接點208&至e與該内部環2丨仏至e、該外 部裱218a至e或兩者斷開，從而將該校準資訊編碼至該校 123262.doc -33 - 200817676 準標籤2〇6山上。藉由移除該等導電線路22〇相將一 (或•多個）導電接點2_至e與該等内部環2 -至e及該等外 部裱21 8a至e斷開，來編碼一同步位置。 r \ 上將該校準標籤2〇6e應用於該自動校準特徵64之複數個校 準接針68。 X 現在參考圖9a至9f，解說依據本發明之各項具體實施例 之複數個校準標籤30仏至f。每一校準標籤3〇以至f包括複 數個電接點308a至f。圖9b、9d及9f中，複數個電接點 3〇8b、308d、308f—般位於一選用感測接點31〇b、31〇d、 3!〇f周圍。該等電接點308a至f之每一電接點最初係藉由複 數個導電線路320a至f而連接至一内部環3 16a至f與一外部 環3 1 ^至f。藉由移除該等導電線路320a至f之一部分以將 ㈣校準標籤2〇6ah之每一標籤具有至少一標籤定向 特徵214a至e。舉例而言’針對每一校準標籤2〇6心，伊 鐵定向特徵214ah之數目改變。若該等標鐵定向特； 川a至d係圍繞該等校準標籤咖…之周邊而對稱定位， 如圖Wd所示，可以讓該等校準標鐵2〇Wd在應用於該 積量器的自動校準特徵64(圖lb)之前旋轉成各種位置。 可以藉由選擇性地將-或多個同步接點與兩個標籤環隔離 :建立此等校準標籤206心相對於該自動校準特徵“之 ，向。或者，纟圖8e中，該校準標籤2Q6e包括在該校準標 織206e周圍不對稱定位之複數個標籤定向特徵21耗。因 此’該等標籤定向特徵214e與在該自動校準特徵M上的複 數個不對稱定向特徵72組合起來輔助確保僅在一特定方位 123262.doc -34- 200817676 一或多個電接點308 仙至«兩者斷開，Γ 16山、該外部環 籤306山上。可'而將该杈準資訊編碼至該校準標 了以错由選擇性地將一或多 兩個標籤環隔離來建立n# 動校準特徵64之定向。 料戴咖⑴相對於該自 已將該等校準;雜+ 兮戴之上述具體實施例解說為一般係圍繞 準“戴而對稱。在替代性具體實施例中，該㈣ 標籤係不對稱而允绊驻士 + β寺杈準 準 、。糟由—積量11的自動校準特徵對該校 料戴作僅-疋‘在此等具體實施財 可進一步包括# Μ宁a # 寺仅半&鐵 ^ ^寺徵以輔助一使用者正確地對準該 ^父準^。或者，該校準標籤之不對稱形狀可以促進正 確對準該校準標籤。 ％ 仗上述具體實施例可羞ψ — j了看出，可以猎由該積量器直接從該 感=器容器讀取並決定包含於該等校準標鐵上的經編碼校 丰貝成’而不用將該感測器容器插入該積量器。因此，上 述設備允許該積量器自動決定針對包含於-感測器容器内 之-測試感測器的校準資訊，其中該感測器容器係調適成 允計-使用者從該感測器容器個別地移除該測試感測器並 將所移除之測試感測器插入該積量器。 該積量器能夠自動決定針對所插入測試感測器之校準資 訊而無需該使用者鍵入該校準資訊或將一校準晶片或其他 I置定位並插入該積量器。由於該感測器容器包括直接在 其上的校準標籤，因此當該使用者開啟該感測器容器以移 除一測試感測器時，該使用者必定會具有該校準標籤。在 123262.doc •35 · 200817676 某i具體實施例中，該積量器係設計成在可以分析一流體 樣本之4但在已將该測試感測器插入該積量器之後需要使 用者讓該校準標籤接觸該自動校準特徵。此可有助於確保 、十對插入.亥積里器之特定測試條而提供正確的校準資訊。 • 如上所述，該感測接點係一電接點，而且可以使用該感 . ;料點與任何其他校準接點m的連續性以在該標籤與該 自動對準特徵之間建立接觸。不在該標籤上使用—接點之 p —替代方法係讓該儀器替代地具有一推鈕狀的開關，當該 容器建立與該自動校準特徵之機械接觸時啟動該開關。對 於任只施方案，該微控制器會重複地嘗試讀取該標籤直 至偵測到一有效的校準碼，或者透過該感測機構，決定該 標籤已經撤回。 以上貫施方案將係讓該校準標籤瞬時接觸到該校準特 j。一旦該微控制器已傳送該校準資訊，便可以撤回該標 籤而由忒计ϊ器來記憶並使用所傳送的資訊。一替代性實 施方案令該瓶咬合或者以其他方式附接於該儀器之外側上 (或者4儀為附接於該瓶）而令該標籤接觸該校準特徵。接 者其可以保持連接直至消耗完所有感測器而將舊瓶替換為 新舐。此不僅會將感測器儲存器與該儀器整合，而且其 遂會使得一測試器在從具有與最後一瓶不同的校準碼之一 21執行一測試之前不讓該標籤與該校準特徵接觸之機會

替代性具體實施例A 種用以決定一流體樣本中之一分析物濃度之測試系 123262.doc •36· 200817676 統，其包含：

一感測器容器 调適成將複數個 括附接於其之一 數個電接點，該 準標籤上；以及 其具有一基底與一蓋，該感測器容器係 測試感測器封閉於其中，該感測器容器包 校準標籤，該校準標籤包括位於其上的複 等電接點係調適成將校準資訊編碼至該校 1试裝置具有—在外部位於其上之自純 =裝置_適成衫在該流體樣本中的分析物濃度，該〆 ::丰特被包括調適成與在該校準標籤上的複數個電接 ”、、占通k之複數個校準元件。 ”中。亥測5式裴置係調適成回應該等校準元件 ^接合來決定編碼於該校準標籤上之校準資訊，在= 絰編碼的校準資訊時不用將該减洌5|容g p 入該測試裝置。 ㈣讀準標籤插

替代性具體實施例Β 曰代性具體實施例Α之測試系統 接於該感測器容器之蓋。 替代性具體實施例C 其中該校準標籤係附

替代性具體實施例A之測試系統， 自動4父準特徵形成一數位電子電路。 替代性具體實施例D 其中該測試裝置與該

替代性具體實施例A之測試系統 自動校準特徵形成一類比電子電路 替代性具體實施例E 其中該測試裝置與該 123262.doc 37 200817676 其中該等校準 元件係

替代性具體實施例A之測試系統 從該自動校準特徵延伸之校準接針 替代性具體實施例F 替代性具體實施例A之測試系統，其中該 包括調適成接合形成於該校準標籤上的―或 ^特徵 特徵之一或多個定向特徵。 ^纖定向

替代性具體實施例G

替代性具體實施例A之測試系統 稱形狀。 其中該校準標籤係對 替代性具體實施例Η 其中該校準標籤係不 替代性具體實施例Α之測試系統 對稱形狀。

替代性具體實施例I 、替代性具體實施例A之測試系統，纟中該複數個 測器係複數個電化學測試感測器。 之

替代性具體實施例J 、替代性具體實施例Α之測試系統，其中該複數個測試感 測器係複數個光學測試感測器。 〜

替代性具體實施例K 一種用以決定一流體樣本中之一分析物濃度之測試系 統，其包含： ' 感測器容器，其具有一基底與一蓋，該感測器容器包 括·一校準標籤，其係附接於該感測器容器，該校準標鐵 包括位於其上的複數個電接點，該複數個電接點之一第— 123262.doc -38- 200817676 電接點係經由-導電線路連接至_第—環，該複數個電接 點之一第二電接點係經由一導電線路連接至一第二環， 該複數個電接點之一第三電接點係與該第一及第二環斷 開，該校準資訊係依據該等電接點與該第一及第二環之連 接及斷開而編碼至該校準標籤上；以及 一測試裝i，其具有一在外部位於其上之自動校準特徵

與-在内部位於其中之微處理器，該測試裝置係調適成I

定在該流體樣本中的分析物濃度，該自動校準特徵包括調 適成與在該校準標籤上的複數個電接點通信之複數個校準 元件，該微處理器係調適成回應於該複數個電接點與 測試裝置外部的複數個校準元件之接合來決定編碼：:: 準標籤上之校準資訊。 、遠杈

替代性具體實施例L 朁代性具體實施例 /、，π π巧展置進一 二包括位於其中之—記憶體裝置，該記憶體1置_ 以❹信’該記憶體裝置係調適成將針對預 碼之查找表儲存於其上。 仪準 替代性具體實施例Μ 替代性具體實施例Κ之測試系統，其中該測試 自動校準特徵形成一數位電子電路。 、直Λ该 替代性具體實施例Ν 替代性具體實施例Κ之測試系統，其中該測試 自動校準特徵形成一類比電子電路。 、Η該 替代性具體實施例〇 123262.doc -39- 200817676 替代性具體實施例K之測試系統，其中該複數個校準元 件係從該自動校準特徵延伸之校準接針。 替代性具體實施例Ρ 替代性具體實施例Κ之測試♦竑 .^ ^ ± ^ 一 飞糸統，其中該校準標籤包括 一感測接點，該複數個電接點— 飯係位於該感測接點周

Lm點㈣適成藉由—形成於該自動校準特徵上 的感測接針來接合，該感測接 ,^ 3與该感測接針係調適成通 知该微處理器該複數個校準元 人。 件正與该稷數個電接點接

替代性具體實施例Q 替代性具體實施例κ之測試季蜞^ 積量器。 m其巾㈣m系統係一

替代性具體實施例R 替代性具體實施例κ之測試系絲 之笙-Φ^ ”、、先’其中該複數個電接點 弟二電接點指示針對該校準 替代性程序s 織之索引位置。 —種用以校準一測試系統 ^ ^ ^ 万去，其包含以下動作·· 係'^成將，：底肖*之一感测器容器，該感測器容器 ==個測試感測器封閉於其中，該感測器容器 之校準資訊厂之校準標鐵’該校準標鐵具有編碼於其上 提供一具有在外部位於其 置 。 之—自動校準特徵的測試裝 經 由A自動Μ特徵決定編碼於該校準標籤上之校準資 123262.doc -40- 200817676 =，在決定該校準資訊時不用將該校準標籤插人該測 置0

替代性程序T 替代性程序S之方法，Α、# _止A 資1h ’、 一 ^匕含依據所決定之校準 貝釩來权準該測試裝置之動作。 A雖然本發明可有各種修改與替代形式，但其特定具體實 施例已藉由範例顯示於附圖令並且詳細說明缺 而應：白，本文無意將本發明限於所揭示的特定形式，反、 之’思欲涵盍申請專利範圍 咖从入* 疋義的本發明之精神及範疇 内的王邛修改、等效物及替代方案。 【圖式簡單說明】 圖 圖U係依據本發明之—具體實施例之—積量器之一側視 圖lb係圖la之積量器之一相對側視圖。 圖2係表示依據本發明之一具體實施例I之積量写之電 路之一方塊圖。 17 圖3係可用於本發明之一方法 電化學感測器之一分解圖。 具體貫施例的 圖惰-感測器基底及直接應用於圖3所示感測 之 涊些元件。 一 带圖^依據本發明之某些具體實施例調適成包含複數個 包化予感測器之一感測器容器。 圖以係表㈣於本發明之—數位自動校準 例性電路之—示意圖。 ^戴之粑 123262.doc -41 - 200817676 圖6b係依據本發明之一具體實施例之一數位自動校準編 碼標籤之一展開圖。 圖6c係解說依據圖牝之一數位自動校準編碼標籤之— 圖。 圖6d係依據本發明之另一具體實施例之複數個數位自動 才父準編碼標籤之一展開圖。 圖6e係解說依據圖6d之數位自動校準編碼標籤之一圖。 广 圖針係依據本發明之另一具體實施例之複數個數位自動 才父準編碼標籤之一展開圖。 圖6g係解說依據圖6f之一數位自動校準編碼標籤之一 圖。 圖7a係表示依據本發明之另一具體實施例用於一類比自 動枚準編碼標籤之範例性電路之一示意圖。 圖7b係可用於本發明之替代性類比自動校準編碼標籤之 '一展開圖。 (，圖7c係可用於本發明之替代性類比自動校準編碼標籤之 一展開圖。 圖7d係解說依據本發明之其他替代性類比自動校準編碼 標籤之一圖。 圖8a至e係依據本發明之某些具體實施例具有定位特徵 之複數個校準標籤之俯視圖。 圖9a至9f係依據本發明之某些其他具體實施例具有定位 特徵之複數個校準標籤之俯視圖。 【主要元件符號說明】 123262.doc -42- 200817676 10 積量器/計量器 12 外殼 14 採血機構 16 測試機構 18 顯示器 20 按紐組 22 採血機構14之一外部部分 24 測試端 26 採血端帽 28 滑件 30 切刀 32 射出按鈕 34 端帽2 6之一面 36 測試感測器開口 38 測試感測器 40 彈出機構 42 絕緣基底 44 電導體圖案 46 電極圖案部分 46a 工作電極/工作電極上部元件 48 電極圖案部分 48a 反電極/反電極子元件 50 絕緣（介電質）圖案/介電層 52 電極圖案 123262.doc -43 - 200817676 54 反應層 56 感測器之一尾端 58 蓋或覆蓋物 60 凹陷空間 62 通氣孔 64 自動校準特徵 66 外殼12之一外部部分 68 校準接針 70 感測接針 72 定向特徵 80 電路 82 微處理器 84 記憶體裝置 86 感測器測量電路 88 電池監視功能 90 警告功能 . 92 通信介面 94 開/關輸入 96 系統特徵輸入 98 自動校準輸入 100 感測器容器 102 基底 104 蓋 106 校準標籤 123262.doc -44- 200817676 106b 經校準編碼的校準標籤 106c 數位自動校準編碼標籤 106d 校準標籤 106e 校準標籤 108 電接點 108c 電接點 110 感測接點 110c \ / 感測接點 112 索引位置/接觸位置 112b 索引位置 112c 索引位置 114 定向特徵 116 内部環 116c 内部環 118 外部環 118c 外部環 120 導電線路 120c 電線路 130 數位電子電路 132 驅動器 134 場效電晶體（FET) 136 接收器 138 上拉（PU) 150 類比電子電路 123262.doc -45 - 200817676 152 電阻器 154 電阻器 156 類比至數位轉換器（ADC) 158 驅動器 160 P通道場效電晶體（FET) 174 電阻器R1之端 176 電阻器R2之端 206a η 校準標籤 206b 校準標籤 206c 校準標籤 206d 校準標籤 206e 校準標籤 208a 電接點 208b 電接點 208c 電接點 () 2 0 8 d 電接點 208e 電接點 210a 選用感測接點 210b 選用感測接點 210c 選用感測接點 210d 選用感測接點 210e 選用感測接點 214a 標籤定向特徵 214b 標籤定向特徵 123262.doc -46- 200817676

214c 標籤定向特徵 214d 標籤定向特徵 214e 標籤定向特徵 216a 内部環 216b 内部環 216c 内部環 216d 内部環 216e 内部環 218a 外部環 218b 外部環 218c 外部環 218d 外部環 218e 外部環 220a 導電線路 220b 導電線路 220c 導電線路 220d 導電線路 3 06a 校準標籤 306b 校準標籤 306c 校準標籤 306d 校準標籤 306e 校準標籤 306f 校準標籤 308a 電接點 123262.doc -47 200817676 308b 電接點 308c 電接點 308d 電接點 308e 電接點 308f 電接點 310b 選用感測接點 310d 選用感測接點 310f 選用感測接點 316a 内部環 316b 内部環 316c 内部環 316d 内部環 316e 内部環 316f 内部環 318a 外部環 318b 外部環 318c 外部環 318d 外部環 318e 外部環 318f 外部環 320a 導電線路 320b 導電線路 320c 導電線路 320d 導電線路 123262.doc -48- 200817676 320e 320f 導電線路 導電線路 123262.doc

Claims (1)

1. 200817676 十、申請專利範圍： 1· 一種用以決定一流體樣本中之一八把从、曲& r ^ 刀析物濃度之測試系 統，其包含： 感測态容器，其具有一美 〆上 负 基底與一盍，該感測器容器 係調適成將複數個測試感測 ^ 4州為封閉於其中，該感測器容 裔包括附接於其之一校準#您 仅早&織’該校準標籤包括位於苴 上的複數個電接點，該等雷接 " 接”、、占係调適成將校準資訊編 碼至该校準標籤上；以及 一測試裝置，其具有一在外 n _ , r σ卩位於其上之自動校準特 被，该測試裝置係調適成決定 榀、曲ώ 心仕成，爪體樣本中的該分析 物浪度，該自動校準特徵包括 m 匕括凋通成與在該校準標籤上 的该複數個電接點通信之複數個校準元件， ’ 其中該測試裝置係調適成回瘅兮笠γ、隹 接载^ & ^ 、 风口應忒專权準元件與該等電 …、接&來決定編碼於該校準;p + 在^ m占 仅旱‘戴上之該校準資訊， 隹决疋该經編碼的校準資訊時 校渠許〜4 用將該感測器容器或該 仅旱織插入該測試裝置。 士明求項1之測試系統，其中該校準標 測器容器之該蓋。 ，、紙係附接於該感 3. 統’其中該測試裝置與該自動校準 W紙小成一數位電子電路。 4. I月求項1之測試系統，其中該測試 特徵形成一類比電子電路。 置與该自動权準 5. 如請求項丨之測試系統，其中該等校 校準特 早疋件係從該自動 干W诫延伸之权準接針。 123262.doc 200817676 •士。月求項1之測試系統，其中該自動校 成與形成於該校準標籤上的一或多個？攻包括調適 之-或多個定向特徵。 ‘〜向特徵接合 7.如請求項1之測試系統， 8·如請求項1之測試系統 狀0 其中該校準標籤係對稱形狀。 ’其中該校準標籤係不對稱形 11. 流體樣本中之一 9·如請求項i之測試系統 數個電化學測試感測器 10·如請求項1之測試系統 數個光學測試感測器。 一種用以決定一 統，其包含： 其中該複數個測試感測器係複 其中該複數個測試感測器係複 分析物濃度之測試系 -感測器容器，其具有一基底與—蓋，該感測器容器 包括-附接於其之校準標籤，該校準標籤包括位於其上 的複數個電接點’該複數個電接點之一第一電接點係經 由一導電線路連接至一第一環，

   該複數個電接點之一第 二電接點係經由一導電線路連接至一第二環，而該複數 個電接點之一第三電接點係與該第一及第二環斷開，該 校準資訊係依據該等電接點與該第一及第二環之連接及 斷開而編碼至該校準標籤上；以及 一測试裝置’其具有一在外部位於其上之自動校準特 徵與一在内部位於其中之微處理器，該測試裝置係調適 成決定在該流體樣本中的該分析物濃度，該自動校準特 徵包括調適成與在該校準標籤上的該複數個電接點通信 123262.doc 200817676 〃數個軚準tl件，該微處理器係調適成回 個電接點與在該測吋驻罢&如a …亥複數 彳w置夕Μ的該複數個校準元件之接 口f疋編碼於該校準標籤上之該校準資訊。 12. ，:試系統，其中該測試裝置進—步包括位 、雨^ H憶體裝置’該記憶體裝置係與該微處理器 :表=置係調適成將針對㈣的校準碼: η’:;::：1::’續系統，其中該測試裝置與該1動校準 特欲形成一數位電子電路。 14.如請求項丨丨之測試系統， 特徵形成-類比電子電路。衣置與该自動校準 15·1=…1:測試系統’其中該複數個校準元件係從該 動扠準特徵延伸之校準接針。 I”:請求額之測試系統，其中該校準標鐵包括一感測接 :’該複數個電接點-般係位於該感測接點周圍，該感 係調適成藉由—形成於該自動校準特徵上的感測 “接合，该感測接點與該感測接針係調適成通知該 微處理器該複數個校準元件正與該複數個電接點接合。 17·如：求項U之測試系統，其中該測試裝置係一積量器。 18.如5月求項u之測試系統，其中該複數個電接點之該第三 電接點指示針對該校準標籤之一索引位置。 19·-㈣以校準一測試系統之方法，其包含以下動作： 提仏具有-基底與-蓋之一感測器容器，該感測器容 …適成將複數個測試感測器封閉於其中，該感測器 123262.doc 200817676 該校準標籤具有編碼 容器包括一附接於其之校準標籤 於其上之校準資訊； 提供一具 裝置； 有在外部位於其上之〜 動校準特徵的測試 、-該自動校準特徵決定編碼^亥 準貧訊，在決定該校準資 將：-戴上之s亥杈 測試裝置。 用將δ亥板準標籤插入該 20. 如請求項19之方法，其進一 + 資訊來校準該測試骏置之動‘匕含依據該所決定之校準 123262.doc